JP3508809B2 - 波形発生回路 - Google Patents

波形発生回路

Info

Publication number
JP3508809B2
JP3508809B2 JP34197596A JP34197596A JP3508809B2 JP 3508809 B2 JP3508809 B2 JP 3508809B2 JP 34197596 A JP34197596 A JP 34197596A JP 34197596 A JP34197596 A JP 34197596A JP 3508809 B2 JP3508809 B2 JP 3508809B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
effect transistor
field effect
negative differential
resistance element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP34197596A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09326677A (ja
Inventor
邦博 荒井
秀昭 松崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP34197596A priority Critical patent/JP3508809B2/ja
Priority to US08/831,995 priority patent/US5770958A/en
Priority to DE69729679T priority patent/DE69729679T2/de
Priority to EP97105559A priority patent/EP0800272B1/en
Publication of JPH09326677A publication Critical patent/JPH09326677A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3508809B2 publication Critical patent/JP3508809B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/357Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bulk negative resistance devices, e.g. Gunn-effect devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/36Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of semiconductors, not otherwise provided for

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力されるCLK
パルス列を所望のパルス列または制御信号列に変換する
動作速度の速い波形発生回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】本発明に近い従来技術例として、図44
に示す回路が知られている(〔文献1〕楳田洋太郎、長
船一雄、榎木孝知、伊藤 弘、石橋忠夫「インジウム
アルミニウム ひ素/インジウム ガリウム ひ素HE
MTを用いたSCFLスタティック分周器」(“SCF
L Static frequency divider using InAlAs/InGaAs/I
nP HEMTs”)、第25回 ヨーロッパマイクロ波
会議 1995 プロシーディングス222頁〜228
頁)。
【0003】本従来回路に於て、GND,IN,V
REF ,VCS,VSS,OUT は、各々接地電位,入力電
位,参照電位,定電流源設定用電位,電源電位,出力電
位である。ここで、電源電位VSSは負の値をとるものと
する。参照電位VREF は、高電位(H)および低電位
(L)の中間の値をとるものとする。本従来回路はスタ
ティック分周器であり、高周波の入力を周波数が1/2
の高周波に変換して出力する機能を有する。
【0004】本従来回路の構成を説明する。本従来回路
は入力バッファ回路、トグルフリップフロップ回路、出
力バッファ回路の三つの部分から構成される。このう
ち、トグルフリップフロップ回路の部分が本回路の主要
部分であり、周波数が入力信号の1/2である高周波を
生成する機能を有する。入力バッファ回路は、高電位
(H)および低電位(L)からなる入力信号を、本回路
の主要部分(トグルフリップフロップ回路)での信号処
理に適合した差動対信号、すなわち(H,L)の対、ま
たは(L,H)の対に変換し、かつ、各々のHまたはL
の信号の電位を所定の値に再生するという機能を有す
る。出力バッファ回路は、本回路の主要部分(トグルフ
リップフロップ回路)での信号処理の結果を受け、信号
の電位を再生した上で外部に送り出す機能を有する。な
お、図44では図面が煩雑になるのを避けるため、各要
素に符号を付すのを省略しているが、一例として抵抗体
をR,ダイオードをD,電界効果トランジスタをFET
として示してある。
【0005】本従来回路の動作原理を説明する。
【0006】先ず、入力バッファ回路の動作原理を図4
4,図45,図46を用いて説明する。図45,図46
中の太線の部分は、電流の流れている経路である。本入
力バッファ回路中には、図44のbiに示すように、電
界効果トランジスタの対が1箇所ある。入力電位(I
N)が高電位(H)のとき、電流は、図45(a)およ
び図46(a)に示すように、左側の電界効果トランジ
スタにのみ流れる。逆に、入力電位(IN)が低電位
(L)のとき、電流は図45(b)および図46(b)
に示すように、右側の電界効果トランジスタにのみ流れ
る。これは、この電界効果トランジスタの対に流れる電
流が、定電流源、即ち電源電位VSSに直近の電界効果ト
ランジスタによって制限されていることによる。入力電
位(IN)が高電位(H)のとき、入力バッファ回路の
出力は、図45(a)および図46(a)に示すよう
に、(L,H)の対となる。入力電位(IN)が低電位
(L)のとき、入力バッファ回路の出力は図45(b)
および図46(b)に示すように、(H,L)の対とな
る。
【0007】次に、本回路の主要部分であるトグルフリ
ップフロップ回路の動作原理を説明する。本トグルフリ
ップフロップ回路中には、図44のx,y,a,b,
c,dで示すように、電界効果トランジスタの対が6箇
所ある。これらの対のうち、x,yのゲート電位は入力
バッファ回路への入力電位(IN)により一意的に定ま
る。即ち、入力電位(IN)が高電位(H)のとき、入
力バッファ回路の出力は、図45(a)および図46
(a)に示すように、(L,H)の対となる為、xのゲ
ート電位は(L,H)の対となり、yのゲート電位は
(H,L)の対となる。また、入力電位(IN)が低電
位(L)のとき、入力バッファ回路の出力は図45
(b)および図46(b)に示すように、(H,L)の
対となる為、xのゲート電位は(H,L)の対となり、
yのゲート電位は(L,H)の対となる。このため、入
力バッファ回路への入力電位(IN)により、電界効果
トランジスタの対x,yの中で電流の流れる経路は切り
替わる。ところで、a,b,c,dの対の電位は、入力
バッファ回路への入力電位(IN)では一意的に決まら
ず、表1に示すように、入力バッファ回路への入力電位
(IN)がHの場合、Lの場合に各々二種の状態をとり
得る。表1で、H,Lは電流が流れている経路上の電界
効果トランジスタの対のゲート電位を、h,lは電流が
流れている経路上にない電界効果トランジスタの対のゲ
ート電位を示した。
【0008】ここで、入力バッファ回路への入力電位
(IN)が、H,L,H,L,,,と変化した場合のト
グルフリップフロップ回路の出力を調べる。
【0009】第一に、入力バッファ回路への入力電位
(IN)が、Hで、a,b,c,dのゲート電位が表1
の1段目に示した状態(図45(a)に対応)にあった
とする。このときは、トグルフリップフロップ回路の出
力は、(l,h)である。このとき、電流の流れる経路
上にあるのは、bとcであり、aとdは、電流の流れる
経路上にない。従って、bとcの状態が、aとdの状態
を定めている。
【0010】
【表1】 第二に、入力バッファ回路への入力電位(IN)が、L
に変わると、a,b,c,dの状態は、表1の3段目に
示した状態(図45(b)に対応)に変わる。これは、
入力バッファ回路への入力電位(IN)が、HからLに
変化すると、電流の流れる経路が変わり、aとdが電流
の流れる経路となり、bとcが電流の流れる経路から外
れる為、aとdは(h,l)から(H,L)に変化し、
これに伴って、bが(L,H)から(h,l)に変化
し、cが(H,L)から(l,h)に変化する為であ
る。即ち、電流の流れる経路上のaとdの状態が、bと
cの状態を定める為である。このときは、トグルフリッ
プフロップ回路の出力は、(L,H)である。
【0011】第三に、入力バッファ回路への入力電位
(IN)が、Hに変わると、a,b,c,dの状態は、
同様の機構により、表1の2段目に示した状態(図45
(a)に対応)に変わる。このときは、トグルフリップ
フロップ回路の出力は、(h,l)である。
【0012】第四に、入力バッファ回路への入力電位
(IN)が、Lに変わると、a,b,c,dの状態は、
同様の機構により、表1の4段目に示した状態(図45
(b)に対応)に変わる。このときは、トグルフリップ
フロップ回路の出力は、(H,L)である。
【0013】さらに、入力バッファ回路への入力電位
(IN)が、Lに変わると、系の状態は、第一に説明し
た状態に戻る。即ち、入力バッファ回路への入力電位
(IN)が、H,L,H,L,,,と変化すると、トグ
ルフリップフロップ回路の出力は、(l,h),(L,
H),(h,l),(H,L)の基本単位を反復する。
lとLは電位としては同じである。従って、本トグルフ
リップフロップ回路は、入力信号の周波数を1/2に変
換する機能を持つことが判る。
【0014】最後に出力バッファ回路の動作原理につい
て説明する。本出力バッファ回路中には、図44のb0
に示すように、電界効果トランジスタの対が1箇所あ
る。本出力バッファ回路への入力は(l,h),(L,
H),(h,l),(H,L)のいずれかである。入力
が(l,h)、または(L,H)のとき、電流は図45
(a)および、図45(b)に示すように、右側の電界
効果トランジスタにのみ流れる。逆に、入力が(h,
l)、または(H,L)のとき、電流は図46(a)お
よび、図46(b)に示すように、左側の電界効果トラ
ンジスタにのみ流れる。これは、この電界効果トランジ
スタの対、b0 を流れる電流が定電流源に、即ち、電源
電位VSSに直近の電界効果トランジスタによって制限さ
れていることによる。入力が(l,h)、または(L,
H)のとき、出力バッファ回路の出力は図45(a)お
よび図45(b)に示すように、(H,L)の対とな
る。入力が(h,l)、または(H,L)のとき、出力
バッファ回路の出力は図46(a)および図46(b)
に示すように、(L,H)の対となる。従って、入力バ
ッファ回路への入力電位(IN)が、H,L,H,
L,,,と変化すると、出力バッファ回路への入力は、
(l,h),(L,H),(h,l),(H,L)の基
本単位を反復するから、出力バッファ回路の出力は、
(H,L),(H,L),(L,H),(L,H)の基
本単位を反復する。また、本回路は、入力電位(IN)
を高電位(H)または低電位(L)に固定した場合、静
的に回路の電気的な状態を維持することができる。
【0015】以上纏めて、本従来回路は、高周波の入
力、H,L,H,L,,,を周波数が1/2の高周波
(H,L),(H,L),(L,H),(L,
H),,,に変換して出力する機能を有するスタティッ
ク分周器として動作する。
【0016】本従来技術のトグルフリップフロップ回路
の部分の動作は、時間に関する漸加式を用いて次のよう
に解析することも可能である。トグルフリップフロップ
回路内の電界効果トランジスタ対、a,b,c,d,
x,yへの入力の状態を、対の左側のゲート電極がH、
対の右側のゲート電極がLのときHとし、逆のときLと
定義する。電界効果トランジスタ対xへの入力はクロッ
ク,CLKである。今、クロックの指数づけを図47の
ように行なう。指数nは整数であり、nが偶数,奇数の
とき、クロックは、各々、L,Hである。電界効果トラ
ンジスタ対a,b,c,dの時刻mにおける電位を、各
々、a(m),b(m),c(m),d(m)のように
表わし、これらの間に成り立つ関係式を求める。但し、
以下の解析では高電位H、低電位Lを各々、1,0で表
わすこととする。
【0017】先ず、電界効果トランジスタ対aとdのゲ
ート電極の配線の仕方、および、電界効果トランジスタ
対bとcのゲート電極の配線の仕方から式[1]〜
[4]が成り立つ。
【0018】
【数1】 a(2n)=d(2n) ・・・[1] c(2n)=1−b(2n) ・・・[2] a(2n+1)=d(2n+1) ・・・[3] c(2n+1)=1−b(2n+1) ・・・[4] 式[1]と[3]は、電界効果トランジスタ対aの右
側,左側のゲート電極が、各々、電界効果トランジスタ
対dの右側,左側のゲート電極と結合していることから
明白である。同様に、式[2]と[4]は、電界効果ト
ランジスタ対bの右側,左側のゲート電極が、各々、電
界効果トランジスタ対cの左側,右側のゲート電極と結
合していることから判る。また、クロックがHのとき式
[5]が成り立つ(図45(a),図46の(a))。
【0019】
【数2】 c(2n+1)=d(2n+1) ・・・[5] 同様に、クロックがLのとき式[6]が成り立つ(図4
5の(b),図46の(b))。
【0020】
【数3】 a(2n)=b(2n) ・・・[6] さらに、図45の(a)と(b)の比較、および図46
の(a)と(b)の比較により式[7],[8]が判
る。また、図45の(b)と図46(a)の比較、およ
び、図46の(b)と図45の(a)の比較により式
[9],[10]が判る。
【0021】
【数4】 a(2n+1)=a(2n+2) ・・・[7] d(2n+1)=d(2n+2) ・・・[8] b(2n)=b(2n+1) ・・・[9] c(2n)=c(2n+1) ・・・[10] 関係式[1]〜[10]より、電界効果トランジスタ対
a,b,c,dの時間依存性を導出する。先ず、式
[1],[2],[6]より、式[11]が導ける。
【0022】
【数5】 a(2n)=d(2n)=b(2n)=1−c(2n) ・・・[11] 同様に、関係式[3],[4],[5]より、式[1
2]が判る。
【0023】
【数6】 a(2n+1)=d(2n+1)=c(2n+1)=1−b(2n+1) ・・・[12] 関係式[7],[12],[10],[11]よりaの
時間発展を記述する方程式[13]が得られる。
【0024】
【数7】 a(2n+2)=1−a(2n) ・・・[13] 導出過程を詳述すると、式[7]より、
【0025】
【数8】a(2n+2)=a(2n+1) 一方、式[12]より、
【0026】
【数9】a(2n+1)=c(2n+1) よって、
【0027】
【数10】a(2n+2)=c(2n+1) さらに、式[10]より、c(2n+1)=c(2n)
だから、
【0028】
【数11】 a(2n+2)=c(2n) ・・・[14] 最後に、c(2n)=1−a(2n)(式[11])を
用いると、方程式[13]が導出できた。
【0029】方程式[13]を解くことにより、電界効
果トランジスタ対、aの時間依存性の一般解として式
[15]が求められる。ここでa(0)はaの初期値で
あり、0または1のいずれかの値をとる。
【0030】
【数12】 a(2n)=(−1)n *(a(0)−0.5)+0.5 a(2n+1)=−(−1)n *(a(0)−0.5)+0.5 ・・・[15] 式[15]は、式[13]から次のようにして導かれ
る。先ず、式[13]の両辺から、0.5を減算して整
理すると次式となる。
【0031】
【数13】a(2n+2)−0.5=(−1)*(a
(2n)−0.5) この式に、この式自身を反復適用すると次式が得られ
る。
【0032】
【数14】 上式の二番目の表式と最後の表式を比較すると式[1
5]の一番目の式が得られる。式[15]のもう一方の
式は、式[7]にa(2n)の表式を用いて求めた。
【0033】本トグルフリップフロップ回路の出力dは
式[1],[3]より式[16]で与えられる。
【0034】
【数15】 d(2n)=(−1)n *(a(0)−0.5)+0.5 d(2n+1)=−(−1)n*(a(0)−0.5)+0.5 ・・・[16] 図47に式[16]から計算したCLKの指数n、およ
びdの時間依存性d(n)を示す。但し、d(n)の周
期τは、CLKの周期τCLK の2倍、*1,*2は初期
値a(0)が各々0および1の場合である。
【0035】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、本
従来技術では電界効果トランジスタ対a,b,c,dが
回路の内部状態を保持/記憶するという、回路動作にと
って本質的な役割を演じている。ところで、各電界効果
トランジスタ対a,b,c,dを含む電流経路は各々、
6個の素子を含む(抵抗体2個、電界効果トランジスタ
4個)。本従来技術では、電界効果トランジスタ,抵抗
体および、レベルシフトダイオードのみを用いて回路を
構成しており、機能性に優れた負性微分抵抗特性を有す
る素子を用いていないため、素子数の低減には限界があ
る。このことが、本従来技術の動作速度の向上,消費電
力の低減を進める上での制約条件となっている。以下に
説明する本発明では、負性微分抵抗特性を有する素子を
用い、その機能性を活用することにより、同等の機能を
4個の素子で実現する。これにより、回路の低電力化,
高速化が可能となる。
【0036】本発明は、負性微分抵抗特性を有する素子
の機能性を活かして所望の波形を簡素な回路構成で発生
することにより、半導体回路の消費電力を低減するとと
もに、動作速度を向上することを目的とする。
【0037】
【課題を解決するための手段】本発明は、負性微分抵抗
素子の非線形電流電圧特性を活用することにより、所望
の波形を従来技術に比べ素子数を数分の一にした簡素な
回路構成で発生することを特徴とする。従来技術では、
負性微分抵抗素子の非線形電流電圧特性を用いないため
回路構成は複雑になる。
【0038】
【発明の実施の形態】
【0039】
【実施例】説明の都合上、請求項9〜18に対応する実
施例、つまり1/2分周器の実施例について説明する。
【0040】本発明の最も典型的な実施例を第1の実施
例として図1に示す(請求項9に対応)。第1の実施例
の回路構成は次の通りである。
【0041】第一の負性微分抵抗素子1のエミッタ電極
を接地し、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電極を
第二の負性微分抵抗素子2のエミッタ電極と繋ぎ、第二
の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極を第一の電界効果
トランジスタ3のソース電極と繋ぎ、第一の電界効果ト
ランジスタ3のドレイン電極を電源に繋ぎ、第二の電界
効果トランジスタ4のソース電極を第一の負性微分抵抗
素子1のエミッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジ
スタ4のドレイン電極を第一の負性微分抵抗素子1のコ
レクタ電極と繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子5のエミッ
タ電極を接地し、第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ
電極を第四の負性微分抵抗素子6のエミッタ電極と繋
ぎ、第四の負性微分抵抗素子6のコレクタ電極を第三の
電界効果トランジスタ7のソース電極と繋ぎ、第三の電
界効果トランジスタ7のドレイン電極を電源に繋ぎ、第
四の電界効果トランジスタ8のソース電極を第三の負性
微分抵抗素子5のエミッタ電極と繋ぎ、第四の電界効果
トランジスタ8のドレイン電極を第三の負性微分抵抗素
子5のコレクタ電極と繋ぎ、第五の電界効果トランジス
タ9のソース電極を接地し、第五の電界効果トランジス
タ9のドレイン電極を第一の抵抗体10の一端に繋ぎ、
第一の抵抗体10の他端を電源に繋ぎ、第一の負性微分
抵抗素子1のコレクタ電極と第四の電界効果トランジス
タ8のゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子5の
コレクタ電極と第五の電界効果トランジスタ9のゲート
電極を繋ぎ、第五の電界効果トランジスタ9のドレイン
電極を、第二の電界効果トランジスタ4のゲート電極に
繋ぐ。
【0042】本実施例を動作するには、次のようにす
る。即ち、第一の電界効果トランジスタ3のゲート電極
に入力の高周波信号を、第三の電界効果トランジスタ7
のゲート電極に該入力信号を反転した信号を入力する。
このとき、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電極、
または第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ電極、また
は第五の電界効果トランジスタ9のドレイン電極の電位
を出力信号とすると、出力信号として、周波数が入力の
高周波の1/2の高周波が得られる。
【0043】本実施例の動作原理について説明する。先
ず、本実施例の基本要素である図11(a)に示す回路
について、電気的な振る舞いを説明する。ここで、rt
d1,rtd2は負性微分抵抗素子、fet1,fet
3は電界効果トランジスタである。rtd1とfet1
の並列接続回路、およびrtd2の電流電圧特性を図1
1(b)に示す。rtd1とfet1の並列接続回路の
電気特性は、fet1のゲート電極の電位Vinが高電位
(H)の場合と、低電位(L)の場合に、図11(b)
に図示したように変化するものとする。即ち、fet1
のゲート電極の電位Vinが高電位(H)の場合には、r
td1とfet1の並列接続回路の電流電圧特性のピー
ク電流がrtd2のピーク電流より大きく、fet1の
ゲート電極の電位Vinが低電位(L)の場合には、rt
d1とfet1の並列接続回路の電流電圧特性のピーク
電流がrtd2のピーク電流より小さくなるよう、素子
パラメタを選択するものとする。これらの電流電圧特性
に於いて、負性微分特性が現れる電圧領域を領域IIと
し、領域IIより低い正の電圧領域を領域Iとし、領域II
より高電圧の領域を、領域III と定義する。
【0044】先ず、Vinが低電位(L)の場合につい
て、図11(a)の回路のfet3を負荷抵抗と見做
し、動作点を求める。図11(c)に、図11(a)の
回路のfet3を除く部分と、fet3の電流電圧特性
を図示した。ここで、折れ線は、図11(a)の回路の
fet3を除く部分の特性であり、曲線はfet3の特
性である。但し、fet3の特性は、電源電圧Vd
0.9ボルトの場合の、負荷特性として描いた。図中、
太い直線は安定状態を、細い直線は不安定状態を示す。
図中の記号、[i,j]はrtd1とfet1の並列接
続回路、rtd2の動作点が、各々前述の領域i,領域
jにあることを示す(i:I,II,III ,j:I,II,
III )。曲線12および曲線13は、fet3の特性を
負荷曲線として描いたものであり、曲線12はfet3
のゲート電位Qが高電位(H)である場合、曲線13は
fet3のゲート電位Qが低電位(L)である場合を示
す。動作点は、図中の太線と曲線の交点で与えられる。
従って、fet3のゲート電位Qが高電位(H)である
場合には、2種の動作点が存在し双安定状態であるのに
対し、fet3のゲート電位Qが低電位(L)である場
合には、1種の動作点のみが存在し単安定状態であるこ
とが判る。
【0045】ここで、fet3のゲート電位Qが高電位
(H)である場合の双安定状態に関し、図11(a)の
回路のV1がどのような値をとるか調べる。図12
(a)は、図11(a)の回路に於いてV1をV2の関
数として描いたものである。いま、双安定状態では、V
2、即ち、図11(a)の回路のfet3を除く部分に
印加される電圧は、図11(c)から判るように約0.
8ボルトである。V2が約0.8ボルトのとき、V1
は、図12(a)より、動作点が[I,III ]ブランチ
にあるときは約0.16ボルト(低電位、L)であり、
動作点が[III ,I]ブランチにあるときは約0.6ボ
ルト(高電位、H)であることが判る。従って、fet
3のゲート電位Qが高電位(H)である場合には、V1
は高電位(H),低電位(L)の何れの状態もとり得る
ことが判る。fet3のゲート電位Qが低電位(L)で
ある場合は、V2、即ち、図11(a)の回路のfet
3を除く部分に印加される電圧は、図11(c)から判
るように約0.1ボルトとなり、V1は、図12(a)
から判るように約0.04ボルト(低電位、L)とな
る。
【0046】ところで、fet3のゲート電位Qが低電
位(L)から高電位(H)に変わった場合、V1は高電
位(H)となる。このことは、図11(c),図12
(a)でブランチ[I,I]がブランチ[III ,I]と
不安定状態を示す細線によって結ばれていることから判
る。以上を纏めると、fet3のゲート電位Qが、H,
L,H,L,,,と変化した場合、V1は表2に示すよ
うに変化する。
【0047】
【表2】(Vinが低電位(L)の場合) inが高電位(H)の場合にも、図12(b),図12
(c)を用いて同様な議論を行なうことにより、fet
3のゲート電位Qが、H,L,H,L,,,と変化した
場合、V1は表3に示すように変化することが判る。
【0048】
【表3】(Vinが高電位(H)の場合) また、fet3のゲート電位Qが高電位(H)ならば、
inが、HからLへ、またはLからHへ変化しても、V
1は変化しないことが、図11(c)と図12(b)か
ら判る。fet3のゲート電位Qが低電位(L)なら
ば、V1は、Vinの値によらず、常に、低電位(L)で
ある。
【0049】以上の基礎データより、図1の第1の実施
例の動作を調べる。
【0050】ここで、左端の電流経路については、第二
の電界効果トランジスタ4のゲート電位が先の議論のV
inに相当し、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電位
が、先の議論のV1に相当する。但し、本実施例では、
第二の電界効果トランジスタ4のゲート電位は、第五の
電界効果トランジスタ9のドレイン電極の電位に等し
い。
【0051】次に、中央の電流経路については、第四の
電界効果トランジスタ8のゲート電極の電位が、先の議
論のVinに相当し、第三の負性微分抵抗素子5のコレク
タ電位が、先の議論のV1に相当する。但し、本実施例
では、第四の電界効果トランジスタ8のゲート電極の電
位は、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電位に等し
い。
【0052】右端の電流経路は、単なるインバータであ
る。従って、第五の電界効果トランジスタ9のゲート電
極の電位が、高電位(H)であれば、第五の電界効果ト
ランジスタ9のドレイン電極の電位は低電位(L)とな
り、逆に、第五の電界効果トランジスタ9のゲート電極
の電位が、低電位(L)であれば、第五の電界効果トラ
ンジスタ9のドレイン電極の電位は高電位(H)とな
る。
【0053】以上、纏めて本実施例の動作を図13の波
形図に示す。第一の電界効果トランジスタ3のゲート電
極に高周波信号Qを、第三の電界効果トランジスタ7の
ゲート電極に該入力信号を反転した信号Q′(バーに代
えて ′を用いる)を入力すると、第一の負性微分抵抗
素子1のコレクタ電極、または第三の負性微分抵抗素子
5のコレクタ電極、または第五の電界効果トランジスタ
9のドレイン電極に、周波数が入力の高周波の1/2の
高周波が現れることから、本実施例が1/2分周器とし
て動作することが判る。以上説明した回路の各状態は、
静的に保持可能なものであるから、本実施例は1/2ス
タティック分周器である。
【0054】本実施例は、負性微分抵抗素子を用いて、
1/2スタティック分周器を素子数10個で実現してい
る。従来技術では、図44に示すように、52個の素子
数を必要とする。本実施例と同等の機能を有する部分、
即ち、入力バッファ回路、トグルフリップフロップ回路
に限定しても、40個の素子数を必要とする。つまり、
本実施例では、素子数を1/4〜1/5に低減すること
ができた。このことにより、動作速度の向上、消費電力
の低減が可能となる。
【0055】本発明の第2の実施例を図2に示す(後述
の図4とともに請求項11に対応)。本実施例は、第1
の実施例と次の点を除いて同じである。即ち、第1の実
施例では、第五の電界効果トランジスタ9のドレイン電
極を、第一の抵抗体10の一端と繋ぎ、第一の抵抗体1
0の他端を電源と繋ぐが、本実施例では、第一の抵抗体
10の他端を、レベルシフトダイオード11のエミッタ
と繋ぎ、レベルシフトダイオード11のコレクタを電源
と繋ぐ。本実施例の特徴は、レベルシフトダイオード1
1により、回路の動作余裕を増大した点である。本実施
例の素子数は11個であり、従来技術の40〜52個に
比べ少ない。
【0056】本発明の第3の実施例を図3に示す(請求
項10に対応)。本実施例は、第1の実施例と次の点を
除いて同じである。即ち、第1の実施例では、第二の電
界効果トランジスタ4のソース電極を第一の負性微分抵
抗素子1のエミッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トラン
ジスタ4のドレイン電極を第一の負性微分抵抗素子1の
コレクタ電極と繋ぎ、第四の電界効果トランジスタ8の
ソース電極を第三の負性微分抵抗素子5のエミッタ電極
と繋ぎ、第四の電界効果トランジスタ8のドレイン電極
を第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ電極と繋ぐが、
本実施例では、第二の電界効果トランジスタ4のソース
電極を第二の負性微分抵抗素子2のエミッタ電極と繋
ぎ、第二の電界効果トランジスタ4のドレイン電極を第
二の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極と繋ぎ、第四の
電界効果トランジスタ8のソース電極を第四の負性微分
抵抗素子6のエミッタ電極と繋ぎ、第四の電界効果トラ
ンジスタ8のドレイン電極を第四の負性微分抵抗素子6
のコレクタ電極と繋ぐ。
【0057】本発明の第4の実施例を図4に示す(請求
項11に対応)。本実施例は、第3の実施例と次の点を
除いて同じである。即ち、第3の実施例では、第五の電
界効果トランジスタ9のドレイン電極を、第一の抵抗体
10の一端と繋ぎ、第一の抵抗体10の他端を電源と繋
ぐが、本実施例では、第一の抵抗体10の他端を、レベ
ルシフトダイオード11のエミッタと繋ぎ、レベルシフ
トダイオード11のコレクタを電源と繋ぐ。
【0058】本発明の第3の実施例、第4の実施例は、
各々、第1の実施例、第2の実施例を多少変形したもの
である。即ち、第1の実施例、第2の実施例では、負性
微分抵抗素子に並列に接続する電界効果トランジスタ
を、各々第一の負性微分抵抗素子、第三の負性微分抵抗
素子、即ち、接地から見て一段目の負性微分抵抗素子に
並列に設けたが、第3の実施例、第4の実施例では、負
性微分抵抗素子に並列に接続する電界効果トランジスタ
を、各々、第二の負性微分抵抗素子、第四の負性微分抵
抗素子、即ち、接地から見て二段目の負性微分抵抗素子
に並列に設けた。この回路構成でも、1/2スタティッ
ク分周器の機能を実現できることに変わりはない。
【0059】本発明の第5の実施例を図5に示す(請求
項12に対応)。第一の負性微分抵抗素子1のエミッタ
電極を接地し、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電
極を第二の負性微分抵抗素子2のエミッタ電極と繋ぎ、
第二の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極を第一の電界
効果トランジスタ3のソース電極と繋ぎ、第一の電界効
果トランジスタ3のドレイン電極を電源に繋ぎ、第二の
電界効果トランジスタ4のソース電極を第一の負性微分
抵抗素子1のエミッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トラ
ンジスタ4のドレイン電極を第一の負性微分抵抗素子1
のコレクタ電極と繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子5のエ
ミッタ電極を接地し、第三の負性微分抵抗素子5のコレ
クタ電極を第四の負性微分抵抗素子6のエミッタ電極と
繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子6のコレクタ電極を第三
の電界効果トランジスタ7のソース電極と繋ぎ、第三の
電界効果トランジスタ7のドレイン電極を電源に繋ぎ、
第四の電界効果トランジスタ8のソース電極を第四の負
性微分抵抗素子6のエミッタ電極と繋ぎ、第四の電界効
果トランジスタ8のドレイン電極を第四の負性微分抵抗
素子6のコレクタ電極と繋ぎ、第一の負性微分抵抗素子
1のコレクタ電極と第四の電界効果トランジスタ8のゲ
ート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ
電極と第二の電界効果トランジスタ4のゲート電極を繋
ぐ。
【0060】本実施例を動作するには、次のようにす
る。第一の電界効果トランジスタ3のゲート電極に入力
の高周波信号を、第三の電界効果トランジスタ7のゲー
ト電極に該入力信号を反転した信号を入力する。このと
き、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電極、または
第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ電極の電位を出力
信号とする。本実施例の動作を説明するための波形図を
図14に示す。これから1/2分周器として動作するこ
とが判る。本実施例の回路の、各々の状態は静的に保持
可能なものであるから、本実施例は1/2スタティック
分周器であることが判る。
【0061】本実施例では、負性微分抵抗素子に並列に
接続する電界効果トランジスタを、各々第一の負性微分
抵抗素子1、第四の負性微分抵抗素子6、即ち、左側の
電流経路では接地から見て一段目の負性微分抵抗素子1
に、右側の電流経路では接地から見て二段目の負性微分
抵抗素子6に、並列に設けたことにより、第1,第2,
第3,第4の実施例で右端の電流経路として設けたイン
バータを不要とした点が特徴である。これにより素子数
は、8個と第1,第2,第3,第4の実施例と比較して
も、さらに少なくできるため、動作速度の向上、消費電
力の低減を一層進めることができる。
【0062】本発明の第11〜第15の実施例について
説明する(請求項17に対応)。なお、第6〜第10の
実施例については後述する。前述した第1〜第5の実施
例では、第二の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極を第
一の電界効果トランジスタ3のソース電極と繋ぎ、第四
の負性微分抵抗素子6のコレクタ電極を第三の電界効果
トランジスタ7のソース電極と繋いでいる。ここで、第
一の電界効果トランジスタ3の機能は、それ自身のゲー
ト電極のゲート電位Qに応じて第二の負性微分抵抗素子
2のコレクタ電極の電位を定めることであり、第三の電
界効果トランジスタ7の機能は、それ自身のゲート電極
の電位Qに応じて第四の負性微分抵抗素子6のコレクタ
電極の電位を定めることである。上述した第1〜第5の
実施例では、入力電位Qと、各コレクタ電位の関係は、
表4のようになっている。
【0063】
【表4】 従って、第一の電界効果トランジスタ3、および第三の
電界効果トランジスタ7を除去し、代わりに、表3に示
した電位を発生する電源、または電源回路を、直接第二
の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極および第四の負性
微分抵抗素子6のコレクタ電極に繋げても、回路動作
上、問題は無い。図15,図16,図17,図18,図
19に、本発明の第11,第12,第13,第14,第
15の実施例として、第1,第2,第3,第4,第5の
実施例において、第一の電界効果トランジスタ3、およ
び第三の電界効果トランジスタ7を除去し、代わりに、
第二の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極、および第四
の負性微分抵抗素子6のコレクタ電極の各々を電源回路
に繋げた例を示す。
【0064】本発明の第11,第12,第13,第1
4,第15の実施例の動作を図15,図16,図17,
図18,図19を用いて説明する。なお、以下、Qを入
力という。入力Qが高電位(H)の場合は、第六の電界
効果トランジスタ15がオン状態となるため、電源電圧
ddの大部分が第二の抵抗体14の両端に印加される
ことになる。従って、第二の負性微分抵抗素子2のコレ
クタ電極の電位は、高電位(H)、即ち、入力Qと同じ
となる。また、第七の電界効果トランジスタ16がオン
状態となるため、電源電圧Vddの大部分が第三の抵抗体
17の両端に印加されることになる。従って、第四の負
性微分抵抗素子6のコレクタ電極の電位は、低電位
(L)即ち、入力電位Qの反転電位Q′と同じとなる。
入力Qが低電位(L)の場合は、第二の負性微分抵抗素
子2のコレクタ電極の電位は、低電位(L)即ち、入力
Qと同じとなり、第四の負性微分抵抗素子6のコレクタ
電極の電位は、高電位(H)即ち、入力Qの反転Q′と
同じとなる。本発明の第11,第12,第13,第1
4,第15の実施例における、入力Qの電位と各コレク
タ電位の関係を、表5に纏める。
【0065】
【表5】 表5は、表4と一致する。従って、第11,第12,第
13,第14,第15の実施例は、第1,第2,第3,
第4,第5の実施例と同じ動作をすることが判る。
【0066】本発明の第11〜第15の実施例では、第
二の抵抗体14、第六の電界効果トランジスタ15、第
七の電界効果トランジスタ16、第三の抵抗体17、お
よび電源を、図15〜図19に示すように結合した電源
回路を用いた。しかし、入力Qの電位と各コレクタ電極
の電位の関係が、表4に示したようになっている限り、
他の、どのような電源回路を使用しても差し支えない。
【0067】本発明の第6の実施例を図6に示す(請求
項13に対応)。第一の電界効果トランジスタ3のソー
ス電極を接地し、第一の電界効果トランジスタ3のドレ
イン電極と第一の負性微分抵抗素子1のエミッタ電極を
繋ぎ、第一の負性微分抵抗素子1のコレクタ電極を第二
の負性微分抵抗素子2のエミッタ電極と繋ぎ、第二の負
性微分抵抗素子2のコレクタ電極を電源と繋ぎ、第二の
電界効果トランジスタ4のソース電極を第一の負性微分
抵抗素子1のエミッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トラ
ンジスタ4のドレイン電極を第一の負性微分抵抗素子1
のコレクタ電極と繋ぎ、第三の電界効果トランジスタ7
のソース電極を接地し、第三の電界効果トランジスタ7
のドレイン電極と第三の負性微分抵抗素子5のエミッタ
電極を繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ電極
を第四の負性微分抵抗素子6のエミッタ電極と繋ぎ、第
四の負性微分抵抗素子6のコレクタ電極を電源と繋ぎ、
第四の電界効果トランジスタ8のソース電極を第三の負
性微分抵抗素子5のエミッタ電極と繋ぎ、第四の電界効
果トランジスタ8のドレイン電極を第三の負性微分抵抗
素子5のコレクタ電極と繋ぎ、第五の電界効果トランジ
スタ9のソース電極を接地し、第五の電界効果トランジ
スタ9のドレイン電極を、第一の抵抗体10の一端と繋
ぎ、第一の抵抗体10の他端を電源と繋ぎ、第一の負性
微分抵抗素子1のコレクタ電極と第四の電界効果トラン
ジスタ8のゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子
5のコレクタ電極と第五の電界効果トランジスタ9のゲ
ート電極を繋ぎ、第五の電界効果トランジスタ9のドレ
イン電極と第二の電界効果トランジスタ4のゲート電極
と繋ぐ。
【0068】本発明の第7の実施例を図7に示す(後述
する図9とともに請求項15に対応)。本実施例は、次
の点を除いて第6の実施例と同じである。即ち、第6の
実施例では、第五の電界効果トランジスタ9のソース電
極を接地するが、本実施例では、レベルシフトダイオー
ド11のエミッタを接地し、レベルシフトダイオード1
1のコレクタを第五の電界効果トランジスタ9のソース
電極と繋ぐ。
【0069】本発明の第8の実施例を図8に示す(請求
項14に対応)。本実施例は、次の点を除いて第6の実
施例と同じである。即ち、第6の実施例では、第二の電
界効果トランジスタ4のソース電極を第一の負性微分抵
抗素子1のエミッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トラン
ジスタ4のドレイン電極を第一の負性微分抵抗素子1の
コレクタ電極と繋ぎ、第四の電界効果トランジスタ8の
ソース電極を第三の負性微分抵抗素子5のエミッタ電極
と繋ぎ、第四の電界効果トランジスタ8のドレイン電極
を第三の負性微分抵抗素子5のコレクタ電極と繋ぐが、
本実施例では、第二の電界効果トランジスタ4のソース
電極を第二の負性微分抵抗素子2のエミッタ電極と繋
ぎ、第二の電界効果トランジスタ4のドレイン電極を第
二の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極と繋ぎ、第四の
電界効果トランジスタ8のソース電極を第四の負性微分
抵抗素子6のエミッタ電極と繋ぎ、第四の電界効果トラ
ンジスタ8のドレイン電極を第四の負性微分抵抗素子6
のコレクタ電極と繋ぐ。
【0070】本発明の第9の実施例を図9に示す(請求
項15に対応)。本実施例は、次の点を除いて、第8の
実施例と同じである。即ち、第8の実施例では、第五の
電界効果トランジスタ9のソース電極を接地するが、本
実施例では、レベルシフトダイオード11のソース電極
を接地し、レベルシフトダイオード11のドレイン電極
を、第五の電界効果トランジスタ9のソース電極と繋
ぐ。
【0071】本発明の第10の実施例を図10に示す
(請求項16に対応)。本実施例は、次の点を除いて第
5の実施例(図5)と同じである。即ち、第5の実施例
では、第一の負性微分抵抗素子1のエミッタ電極を接地
し、第二の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極を第一の
電界効果トランジスタ3のソース電極と繋ぎ、第一の電
界効果トランジスタ3のドレイン電極を電源に繋ぎ、第
三の負性微分抵抗素子5のエミッタ電極を接地し、第四
の負性微分抵抗素子6のコレクタ電極を第三の電界効果
トランジスタ7のソース電極と繋ぎ、第三の電界効果ト
ランジスタ7のドレイン電極を電源に繋ぐが、本実施例
では、第一の電界効果トランジスタ3のソース電極を接
地し、第一の電界効果トランジスタ3のドレイン電極と
第一の負性微分抵抗素子1のエミッタ電極を繋ぎ、第二
の負性微分抵抗素子2のコレクタ電極を電源と繋ぎ、第
三の電界効果トランジスタ7のソース電極を接地し、第
三の電界効果トランジスタ7のドレイン電極と第三の負
性微分抵抗素子5のエミッタ電極を繋ぎ、第四の負性微
分抵抗素子6のコレクタ電極を電源と繋ぐ。
【0072】第6〜第10の各実施例は、各々第1〜第
5の実施例を多少変形したものである。即ち、負性微分
抵抗素子と直列接続する電界効果トランジスタの接続位
置を、第1〜第5の実施例では電源側とした点を変更
し、第6〜第10の実施例では、接地側とした。この構
成でも、第1〜第5の実施例と同様に、1/2分周動作
を実現できる。
【0073】本発明の第16,第17,第18,第1
9,第20の実施例について説明する。
【0074】図20,図21,図22,図23,図24
に、本発明の第16,第17,第18,第19,第20
の実施例を示す(請求項18に対応)。図6〜図10の
第6,第7,第8,第9,第10の実施例において、第
一の電界効果トランジスタ3および第三の電界効果トラ
ンジスタ7を除去し、代わりに、第一の負性微分抵抗素
子1のソース電極、および第三の負性微分抵抗素子5の
ソース電極の各々を電源回路に繋げた例を示す。この電
源回路は、入力信号Qを入力したときに、第6〜第10
の実施例において、第一の負性微分抵抗素子1のソース
電極、および第三の負性微分抵抗素子5のソース電極に
発生する電位と同じ電位を、第16〜第20の実施例の
第一の負性微分抵抗素子1のソース電極、および第三の
負性微分抵抗素子5のソース電極に発生する。従って、
第16〜第20の実施例は、各々第6,第7,第8,第
9,第10の実施例と同じ動作をする。即ち、1/2分
周器として動作する。
【0075】以上の第1〜第20の実施例において、第
一,第二,第三,第四の負性微分抵抗素子1,2,5,
6として、例えば、n型InGaAs半導体層を、エミ
ッタおよびコレクタとし、アンドープAlAs半導体層
を障壁層とする共鳴トンネルダイオードを使用すること
ができる。また、負性微分抵抗素子の他の例として、エ
サキダイオードを用いることができる。さらに、負性微
分抵抗特性のあるものなら、単体素子であれ、回路であ
れ、本発明でいうところの負性微分抵抗素子として使用
することができる。
【0076】以上の第1〜第20の実施例において、第
一,第二,第三の抵抗体10,14,17として、例え
ば、金属薄膜抵抗、半導体薄膜抵抗、ゲート電極とソー
ス電極を繋げた電界効果トランジスタ等、電流を流した
とき電圧降下を生ずるものであればなんでも、本発明で
いうところの抵抗体として使用することができる。
【0077】以上、図1〜図10、および、図15〜図
24による第1〜第20の実施例は1/2分周を行う波
形発生回路であったが、以下にもっと複雑な波形も発生
できる波形発生回路の実施例について述べる。
【0078】本発明の典型である第21の実施例の構成
について説明する。図25は、本発明の第21の実施例
の回路図である。本実施例は、第一の要素回路20,2
2,24等、第二の要素回路21,23,25等および
反転要素回路26から構成される。なお、図25中SC
1は第一の要素回路、SC2は第二の要素回路を示し、
それらに続く−0,・・・,Nは順番を示す。
【0079】第一の要素回路は、図26(a)に示した
様に第一の負性微分抵抗素子27、第二の負性微分抵抗
素子28、電界効果トランジスタ29からなり、第一の
負性微分抵抗素子27のエミッタ電極を接地30し、第
二の負性微分抵抗素子28のコレクタ電極(結節点とも
いう)31を第一の電源に結合し、第一の負性微分抵抗
素子27のコレクタ電極を第二の負性微分抵抗素子28
のエミッタ電極と結合し、電界効果トランジスタ29の
ソース電極,ドレイン電極を各々第一の負性微分抵抗素
子のエミッタ電極,コレクタ電極に繋ぎ、該電界効果ト
ランジスタのゲート電極の電位を入力32とし、該第一
の負性微分抵抗素子27のコレクタ電極の電位を出力3
3とする。第二の要素回路は、第一の要素回路において
第二の負性微分抵抗素子のコレクタを第二の電源に繋げ
ることを除いて第一の要素回路と同一の回路とする。本
実施例は、第一の要素回路と第二の要素回路を各々同数
個ずつ含み(図25は、各々(N+1)個ずつ含む場合
について図示、但し、Nは負でない整数)、反転要素回
路を1個のみ含むものとする。
【0080】第一の要素回路SC1−0の出力は、第二
の要素回路21の入力と結合し、第二の要素回路SC2
−0の出力は、第一の要素回路22の入力と結合し、第
一の要素回路SC1−kの出力は、第二の要素回路SC
2−kの入力と結合し、第二の要素回路SC2−kの出
力は、第一の要素回路SC1−(k+1)の出力と結合
し(但し、kはNより小さい負でない整数)、第二の要
素回路SC2−Nの出力は、反転要素回路の入力と結合
し、反転要素回路の出力は、第一の要素回路SC1−0
の入力に結合するものとする。
【0081】本実施例は、反転要素回路の出力端子の電
位を出力する。
【0082】次に、本実施例の動作原理について説明す
る。先ず、基本となる第一の要素回路の動作を説明す
る。第一の要素回路は、図29(a)に示すようにドラ
イバ部分36,ロード部分37に分けると考えやすい。
ドライバ部分36は共鳴トンネルダイオードと電界効果
トランジスタの並列結合である。ドライバ電流は、図2
9(b)に示すように、該電界効果トランジスタのゲー
ト電極への入力、VinがHのときのドライバのピーク電
流38がロードのピーク電流39より大きく、該電界効
果トランジスタのゲート電極への入力VinがLのときの
ドライバのピーク電流40が、ロードのピーク電流39
より小さくなるように、各素子パラメータを設定してあ
る。
【0083】本要素回路の動作点について説明する。第
一の場合として、本要素回路に印加する電圧(図29
(a)のCLK、または図26で第二の負性微分抵抗素
子のコレクタ電極31に印加する電圧)が、例えば、図
29(c)中のVdd1 のように十分に小さい場合、本要
素回路の動作点は、図29(c)の記号□41で示すよ
うにドライバ,ロードの電流電圧特性の交点として一意
的に与えられる。このときの印加電圧をLとする。ま
た、第二の場合として、本要素回路に印加する電圧(図
29(a)CLK、または、図26(a)で第二の負性
微分抵抗素子のコレクタ電極31に印加する電圧)が例
えば、図29(c)中のVdd2 のように十分に大きいと
きも、図29(c)の記号△42で示すように、本要素
回路の動作点は、ドライバ,ロードの電流電圧特性の交
点として一意的に定まる。ところが、第三の場合とし
て、本要素回路に印加する電圧(第二の負性微分抵抗素
子のコレクタ電極31に印加する場合)が、例えば、図
29(c)中のVdd3 のように、第一の場合より大きく
第二の場合より小さい場合には、本要素回路の動作点
は、図29(c)の記号○で示すように、2つの値4
3,44の2つのうちのどちらの値をとるかは、以下に
説明するように過去の履歴によってきまる。本実施例で
は、本要素回路のこの機能を、情報を一時的に保管する
ために活用する。
【0084】本要素回路の動作について説明する。初期
状態を前述の第一の場合、即ち本要素回路に印加する電
圧(第二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極31に印加
する電圧)が、十分に小さい場合とする。印加電圧を、
前述の第三の場合まで引き上げた場合の本要素回路の応
答は、本要素回路への入力32がLの場合、Hの場合で
全く異なる。先ず、本要素回路への入力32がLの場合
について動作点の変化を検討する。前述のように、この
場合、ドライバの電流電圧特性のピーク電流値は、ロー
ドのそれよりも小さい。図30(a)に計算結果を示
す。図中、ドライバ部分の電流電圧特性と、結節点31
への幾つかの印加電圧に対応するロード部分の負荷曲線
を描いた。動作点は、最初は45であるが、印加電圧の
増大とともに右側に移動し、最終的には、2つの動作点
46と47のうち右側の動作点47が選択される。つま
り、ドライバ部分に高電圧が印加され、ロード部分に低
電圧が印加される状態が実現する。結局、出力33には
Hが出力される。これは、ドライバ部分のピーク電流が
ロード部分のピーク電流より小さいため、ロード部分に
印加される電圧は常にピーク電圧より小さくなるためで
ある。次に、本要素回路への入力32がHの場合の動作
点の変化を図30(b)に示す。前述のように、この場
合、ドライバ側のピーク電流はロード側のそれよりも大
きい。図中、ドライバ部分の電流電圧特性と結節点31
への幾つかの印加電圧に対応するロード部分の負荷曲線
を描いた。動作点は、印加電圧の増大とともに、点45
から右側に移動するが途中で左側に戻るなど複雑な動き
をし、最終的には、2つの動作点のうち左側の動作点、
即ち、図30(c)の46、が選択される。つまり、ド
ライバ部分に低電圧が印加され、ロード部分に高電圧が
印加される状態が実現する。即ち、出力33にLが出力
される。これは、ドライバ部分のピーク電流がロード部
分のピーク部分のピーク電流より大きいため、ドライバ
部分に印加される電圧が常にピーク電圧より小さくなる
ためである。
【0085】次に、本要素回路に印加する電圧(図29
(a)のCLKまたは、図26(a)の第二の負性微分
抵抗素子のコレクタ電極31に印加する電圧)を、高電
位H(=VddH )に固定し、本要素回路への入力32を
変化した場合についての本要素回路の応答を図30
(c)を用いて説明する。まず、本要素回路の出力、即
ち、本要素回路の出力33が最初に高電位Hにあり、動
作点が59であったとする。このときの本要素回路のド
ライバ部の電流電圧特性は曲線49である。ここで、本
要素回路への入力32の値を減少すると、ドライバ部の
電流電圧特性は曲線48のように変化し、該入力32の
値を増大すると、該特性は、50,51のように変化す
る。これに伴い、動作点は、点58,59,60,61
の範囲で変化するが、出力33の値は、高電位Hに留ま
っている。もしも、入力が大きすぎると、ドライバ部の
電流電圧特性は曲線52のようになり、動作点は低電位
Lの点57に移る。入力がこのような大きすぎる値をと
ることがないよう回路を設計すれば、入力32への入力
電位が低電位Lと高電位Hの間で変動しても、本要素回
路に印加する電圧(図29(a)のCLK、または図2
6(a)の第二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極31
に印加する電圧)が、高電位Hである限り、出力33の
電位は高電位Hに保持されることが判る。同様に、本要
素回路の出力が最初に低電位Lにあった場合には、出力
33の電位は低電位Lに保持される。よって、本要素回
路に印加する電圧(図29(a)のCLKまたは、図2
6(a)の第二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極31
に印加する電圧)を、高電位Hに固定した場合には、出
力33の電位は保持されることが判る。
【0086】次に、本要素回路に印加する電圧(図29
(a)のCLKまたは、図26(a)の第二の負性微分
抵抗素子のコレクタ電極31に印加する電圧)が低電位
Lの時の出力について検討する。図30(d)は、この
場合の本要素回路の負荷曲線である。入力32への入力
電位を変えると、ドライバ部の電流電圧特性は、48,
49,50,51のように変化する。しかし、この電圧
印加条件では、ドライバ部に印加されるのは常に低電位
Lであり、高電位Hが印加されることはない。
【0087】以上まとめると、本要素回路(図29
(a))の動作は次のようになる。
【0088】i)CLKが低電位Lの時、出力は入力に
依らず常に低電位L。
【0089】ii)CLKが高電位Hの時、出力は入力の
変動によらず、初期値を維持。
【0090】iii )CLKが低電位Lから高電位Hに変
化した時点での入力の反転が出力となる。
【0091】本要素回路のタイミングダイアグラムを図
31に示す。先ず、i)に記載の通り、CLKが低電位
Lの時は、出力は常に低電位Lである。入力Vinが変化
するときの出力Vout を見ると明らかなように入力の変
化が出力に影響することはない。次に、時間uでは、C
LKが高電位Hの状態で入力が変化している。この場合
は、ii)に記載のとおり、出力は、入力が変化する直前
の値を維持する。図中、t1 〜t6 は、CLKが低電位
Lから高電位Hに変化する時間を示している。時間
1 ,t3 ,t6 ではその時点での入力が高電位Hのた
め出力はiii )に記載のように低電位Lになる。時間t
2 ,t4 ,t5 ではその時点での入力が低電位Lのため
出力はiii )に記載のように高電位Hとなる。
【0092】図25の第21の実施例の動作原理を説明
する(請求項2に対応)。本実施例では、第一の要素回
路と第二の要素回路を交互に配列する。図25では、第
一の要素回路に偶数の指数を付け、その出力をA0 ,A
2 ,・・・,A2Nと表わし、第二の要素回路に奇数の指
数を付け、その出力をA1 ,A3 ,・・・,A2N+1と表
わし、第一の要素回路の入力の電位をa0 ,a2 ,・・
・,a2Nと表わし、第二の要素回路の入力の電位を
1 ,a3 ,・・・,a2N+1と表わした。以下、これを
N次の回路と呼ぶことにする。第一の電源、即ちクロッ
クCLK、および第二の電源、即ちクロックバーCLK
barに、図32(c)に示す様に指数づけを行う。こ
こで、クロックパルス、およびクロックバーパルスのデ
ューティ比は50%以上に選んで、クロックとクロック
バーが同時に高電位Hとなる時間を設けた。これは、説
明の便宜のためであって、後述のように、必ずしも必須
ではない。以下の解析では簡便のため、時刻mにおける
要素回路kの出力の電位、入力の電位を、各々A(k,
m)、a(k,m)のように表わすこととする。
【0093】先ず、回路中の各電位の振る舞いを記述す
る方程式を導出する。先ず、直接配線で結合した結節点
の電位が等しいことから、式[17]〜[19]が成り
立つ。
【0094】
【数16】 A(k,m)=a(k+1,m) ・・・[17] A(2N+1,m)=e(m) ・・・[18] E(m)=a(0,m) ・・・[19] また、第一の電源,第二の電源が各々偶数,奇数で指数
づけされる時刻に低電位Lになることから、式[2
0],[21]が成り立つ。さらに、反転要素回路の特
性により、式[22]が成立する。
【0095】
【数17】 A(2k,2n)=0 ・・・[20] A(2k+1,2n+1)=0 ・・・[21] E(m)=1−e(m) ・・・[22] 第一および第二の要素回路のダイナミックスより、各
々、式[23],[24]が成り立つ。
【0096】
【数18】 A(2k,2n+1)=1−a(2k,2n) ・・・[23] A(2k+1,2n)=1−a(2k+1,2n−1)・・・[24] 式[23]は、図32のクロック立ち上がり時点で、即
ち例えば66,69で、第一の要素回路の入力a(2
k,2n)の反転が当該要素回路の出力となり、クロッ
クバーの立ち上がり時点で、即ち例えば、67,68
で、第二の要素回路の入力a(2k+1,2n−1)の
反転が、当該要素回路の出力A(2k+1,2n)とな
ることを表わす。
【0097】式[17]〜[24]が、本実施例の動作
を記述する方程式の組である。以下に、本方程式の解を
求める。式[17],[23],[24]より、aを消
去すると、式[25],[26]が得られる。
【0098】
【数19】 A(2k,2n+1)=1−A(2k−1,2n) ・・・[25] A(2k+1,2n)=1−A(2k,2n−1) ・・・[26] 式[25],[26]より第一の要素回路のみを含む関
係式を求めると、即ち、奇数の要素回路指数を持つAを
消去すると、
【0099】
【数20】 最左辺と最右辺を比較すると、mを任意の整数として式
[27]が成り立つことが判る。
【0100】
【数21】 A(2k,2n+1)=A(2k−2m,2n+1−2m) ・・・[27] 式[27]によりA(2k,2n+1)の形の結節点電
位は、すべて、A(0,2p+1)の形に還元されるこ
とが判る。以下では、A(0,2p+1)の形の項のみ
を含む方程式を導出し、これを解くことにより、A
(0,2p+1)を具体的に求める。
【0101】式[23]でk=0とおくと、
【0102】
【数22】 A(0,2n+1)=1−a(0,2n) ・・・[28] 一方、式[18],[19],[22]より、
【0103】
【数23】 式[28],[29]よりaを消去すると次式が得られ
る。
【0104】
【数24】A(0,2n+1)=A(2N+1,2n) 式[25]の関係を用いて右辺の時刻2nを左辺の2n
+1に合わせ、式[27]により整理すると、式[3
0]が得られる。
【0105】
【数25】 A(0,2(n+N+1)+1)=1−A(0,2n+1) ・・・[30] 式[30]は、A(0,2p+1)に関する方程式であ
り、具体的な解として式[31]を得ることができる。
【0106】
【数26】 ここで、INT(x)は、xを越えない最大の整数、M
OD(x,y)は、xをyで割り算したときのあまりで
ある。式[31]は、N個のパラメータ、A(0,
1),A(0,3),A(0,5),・・・,A(0,
2N+1)を含む。これらは、本方程式の初期値(また
は、境界条件)である。
【0107】ところで、より一般的な解、A(2k,2
n+1)は、式[27]を用いて式[32]のように書
ける。
【0108】
【数27】 引き数の偶奇がことなる他の解は、式[20],[2
1]および[26]を用いて次のようになる。
【0109】
【数28】 A(2k+1,2n)=1−A(2k,2n−1) ・・・[33] A(2k,2n)=0 ・・・[34] A(2k+1,2n+1)=0 ・・・[35] 以上の検討により、本実施例の各結節点の電位の時間変
化は、[32]〜[35]により記述されることが判っ
た。これらの式より直ちに判ることは次の通りである。
先ず、式[32]より次式が成り立つ。
【0110】
【数29】 よって、A(2k,2n+1)は、2N+2の時間間隔
で反転する。周期が2*(2N+2)の周期関数である
ことがわかった。クロックの周期は、図32(c)に示
したように2だから、本実施例の指数2kの要素回路の
出力、A(2k,2n+1)は周期がクロックの(2N
+2)倍の周期関数になっていることが判る。また、式
[33]より、A(2k+1,2n)もA(2k,2n
+1)と同じ周期を持つ。よって、本実施例は、回路の
次数をN次とすると、1/(2N+2)の分周回路であ
ることが判る。即ち、Nを0,1,2,3,4・・・と
選ぶことにより、簡単な構成で、1/2,1/4,1/
6,1/8,1/10・・・の分周器が製作可能である
ことが判る。以上の議論に、具体的な初期条件(また
は、境界条件)は用いていない。したがって、上記の結
論は、初期条件によらず第21の実施例に関し一般的に
成り立つ。
【0111】以下に、具体的な解の例を挙げて説明す
る。回路の次数Nが0,1,2,3の場合の本実施例の
計算結果を、図35,36,37,38に示す。回路中
のすべての要素回路の出力について計算を行った。表
中、xは要素回路の指数である。即ち、x=0,1,
2,3,4,5,6,7は要素回路A0 ,A1 ,A2
3,A4 ,A5 ,A6 ,A7 の出力を表わす。但し、
本計算例では、式[31]に含まれる初期値は、すべて
0とした。
【0112】先ず、各要素回路の出力の計算結果は、先
に一般論で述べたように、出力の周期がクロックの2*
(N+1)倍、つまり、出力の周波数が、クロックの1
/(2N+2)になっている。次に、各々の要素回路の
出力は、パルス幅がクロックパルスのそれと等しいパル
スを単位周期内に(N+1)個含むパルス列である。さ
らに、複数の要素回路の出力の論理演算結果も示した。
このような論理演算は例えば、図33(a),(b)の
ような回路で得られる。図中、例えばx=0and x
=2は、A0 とA2 の論理積を表わす。複数の要素回路
の出力に論理演算を施すことにより、より多様なパルス
列を得ることができる。例えば、回路の次数Nが2の場
合(図37)、各要素回路の出力は単位周期内に3個の
パルスを含むパルス列だが、適当な論理演算を行うこと
により、単位周期内のパルスの数を、1個または2個と
することができる。論理演算の仕方により、位相のこと
なる同種のパルス列を得ることができる。例えば、図3
7で、(x=0 andx=4)と(x=1 and
x=5)は位相のみが異なる同一のパルス列である。ま
た、A0 とA5 の論理和をとることにより、周期がクロ
ックの6倍(2*(N+1))でデューティ比が50%
のパルス列が得られる。また、本回路を複数個並べ、各
々の要素回路の出力の論理演算を行うことも可能であ
る。一例を、図34に示した(請求項5に対応)。
【0113】本発明の第22の実施例の回路図を図27
に示す(請求項3に対応)。第21の実施例が要素回路
としては、第一および第二の要素回路のみを含むもので
あったのに対し、本実施例は、これらに加えて、第三,
第四の要素回路をも含むことを特徴とする。第一,第三
の要素回路の個数の和は、第二,第四の要素回路の個数
の和と等しくする。第三,第四の要素回路と反転要素回
路の個数の和は奇数でなければならない。
【0114】ここで、第三の要素回路とは、第一の要素
回路と次の一点を除いて同一の回路である。即ち、電界
効果トランジスタのソース電極,ドレイン電極が各々第
二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極,コレクタ電極と
結合している。第一の要素回路では、第一の負性微分抵
抗素子と結合しておりこの点が異なる。また、第四の要
素回路とは、第二の要素回路と次の一点を除いて同一の
回路である。即ち、電界効果トランジスタのソース電
極、ドレイン電極が各々第二の負性微分抵抗素子のエミ
ッタ電極,コレクタ電極と結合している。第二の要素回
路では、第一の負性微分抵抗素子と結合しておりこの点
が異なる。以上、第一,第二,第三,第四の要素回路の
特徴を表6にまとめる。
【0115】
【表6】 図27の第22の実施例では、第四の要素回路21′と
第三の要素回路24′が各々1個ずつ含まれている。第
21の実施例の動作を記述する方程式は、式[17]〜
[24]であった。本実施例を記述する方程式は、式
[23],[24]が、各々式[36],[37]と置
き換わることを除いて、第21の実施例のものと同じで
ある。
【0116】
【数30】
【0117】
【数31】 本実施例の動作は、式[17]〜[22],[36],
[37]により記述される。第21の実施例と類似の手
法で解を求めると、式[38]〜[43]のようにな
る。
【0118】
【数32】
【0119】
【数33】 A(1,2n)=A(0,2n−1) ・・・[39]
【0120】
【数34】 A(2,2n+1)=1−A(0,2n−1) ・・・[40]
【0121】
【数35】 A(3,2n)=A(0,2n−3) ・・・「41」
【0122】
【数36】 A(4,2n+1)=A(0,2n−3) ・・・[42]
【0123】
【数37】 A(5,2n)=A(0,2n+1) ・・・[43] 式[38]について、第21の実施例の説明で式[3
2]について行ったと同様の検討を行うことにより、第
22の実施例の指数0の要素回路の出力、A(0,2p
+1)は、時間間隔(2N+2)で反転する、周期が2
*(2N+2)の周期関数であることが判る(本実施例
では、N=2だから(2N+2)=6)。他の要素回路
も式[39]〜[43]によりA(0,2p+1)の一
次関数であることから、同様の周期関数であることが判
る。クロックの周期が2であることから、本実施例の周
期はクロックの(2N+2)倍である。即ち、本回路
は、周期が1/(2N+2)の分周回路である。
【0124】本発明の第23の実施例を図28に示す
(請求項4に対応)。本実施例は、反転要素回路を含ま
ない点を除いて、第22の実施例と概ね同様である。但
し、第一,第三の要素回路の個数の和は、第二,第四の
要素回路の個数の和と等しくする。第三,第四の要素回
路の個数の和は奇数でなければならない。図28の実施
例では、第三の要素回路を1個、24′、第四の要素回
路を2個、21′,23′用いている。第一,第二の実
施例と同様の解析を行うことにより、本実施例も時間間
隔(2N+2)で反転する、周期2*(2N+2)の周
期関数であることが判る。
【0125】第21〜第23の実施例の各々6個の要素
回路の出力の時間依存性を比較した結果を表7にまとめ
る。指数0の第一の要素回路の出力、A(0,2n+
1)の表式は各要素回路で同一である。他の指数の要素
回路の出力は、相互の比較を容易にするため、A(0,
2n+1)等によって記述した。表7により、第22の
実施例は、指数0,4,5の要素回路の出力が第21の
実施例のそれらと等しく、指数1,2,3の要素回路の
出力が第21の実施例のそれらの反転と等しいことが判
る。同様に第23の実施例は、指数3の要素回路の出力
のみが第21の実施例と等しく、指数0〜5の要素回路
の出力は各々第21の実施例のそれらの反転に等しいこ
とが判る。
【0126】
【表7】 以上の結果は、次のように理解できる。即ち、ある時刻
に指数0の出力に現れた信号の影響は、クロックととも
に図25,図27,図28の右側に向って伝播して行
く。このとき、第21の実施例(図25)では、要素回
路はすべて、入力した信号の反転を出力する。ところ
が、第22,23の実施例(図27,図28)は、第三
の要素回路24′や第四の要素回路21′,23′を含
むため、これらの部分で、第21の実施例とは異なる動
作をする。即ち、入力した信号を反転せずにそのまま出
力する。この違いに着目して指数0の要素回路の出力Q
が、クロックとともに次段以降の要素回路を伝播してゆ
く過程で、どう変化していくかを調べたのが表8であ
る。第21の実施例では、各々の要素回路の出力は常に
入力の反転であるから、各要素回路の出力には、QとQ
barが交互に現れる。ここで、Qbarは、Qの反転
である。第22の実施例は、指数1の位置に第四の要素
回路があり、指数4の位置に第三の要素回路がある。こ
のため、各要素回路の出力は表8に示したものとなる。
ここで、第21の実施例と第22の実施例の出力を比較
する。指数0,4,5の位置の要素回路では両者の出力
は同じであるが、指数1,2,3の位置の要素回路で
は、両者の出力は互いに反転の関係になっていることが
判る。これは、表7に対応している。第21の実施例と
第23の実施例についても、第23の実施例が第三,第
四の要素回路を含むために、両実施例の出力に表7に対
応した差異が生ずることが判る。図39,40,41
に、各々21,22,23の実施例の動作の計算結果を
示す(図39は図37を再掲したもの)。図40,41
には、第21の実施例で出力が1であるが、第22,2
3の実施例では出力が1でない欄を二重枠で囲んで示し
た。図40より、第22の実施例では、指数1,2,3
の要素回路では、第21の実施例を反転した出力が得ら
れていることが判る。例えば、第21の実施例では、指
数1の要素回路(x=1)について調べる。周期が12
であることが判っているので、時刻は0から11の範囲
で考えれば十分である。時刻2,4,6で1を出力して
いるが、第22の実施例では同じ時刻に0を出力してい
る。一方、第21の実施例で0を出力している時刻8,
10,1に関しては、第22の実施例の出力は1であ
る。よって、第21,22の実施例で出力が反転してい
ることが判る。ちなみに、時刻1,3,5,7,9,1
1については、常に0なので、議論は不要である。同様
に、図41より、第23の実施例では、指数が1,2,
4,5の要素回路で、第21の実施例を反転した出力が
得られていることが判る。
【0127】以上の議論より、第22の実施例,第23
の実施例の応答を簡単に計算する手法が判る。即ち、先
ず、対応する第21の実施例、即ち、当該実施例におい
て第三の要素回路を第一の要素回路で置き換え第四の要
素回路を第二の要素回路で置き換えた回路について、回
路の動作を調べる。次に、表8を作成し、当該実施例と
第21の実施例の動作の違いを把握する。最後に、第2
1の実施例の動作において、反転すべき出力を反転すれ
ば、それが当該実施例の動作である。
【0128】
【表8】 図39,40,41,42には、各実施例の各要素回路
の出力の論理演算結果の例も示した。第22,23の実
施例でも第21の実施例と同様に種々のパルス列が得ら
れることが判る。特に、周期がクロックの6倍でパルス
幅がクロックパルスと等しいパルス列や、周期がクロッ
クの6倍でデューティ比が50%のパルス列も得られ
る。但し、これを得るための要素回路の論理演算方法
は、各実施例で必ずしも一致しない。また、パルス列の
位相も各実施例で異なる。従って、各実施例は位相の異
なるパルス列を得るために利用することができる。
【0129】図27の回路はあくまで第22の実施例の
一例であり、第三,第四の要素回路の個数やそれらの配
置が図27の例に制約されるものでないことは当然であ
る。図28の回路はあくまで第23の実施例の一例であ
り、第三,第四の要素回路の個数やそれらの配置が図2
8の例に制約されるものではないことは当然である。
【0130】図43は、以上の第1〜第23の実施例を
抽象化したものである(請求項1に対応)。この図で、
70は第一の要素回路、71は第四の要素回路、72は
第一の要素回路、73は第二の要素回路、74は第三の
要素回路、75は第二の要素回路、76は反転要素回
路、77は第一の部分回路、78は第一の部分回路の電
源端子、79は第一の部分回路の入力端子、80は第一
の部分回路の出力端子、81は第二の部分回路、82は
第二の部分回路の電源端子、83は第二の部分回路の入
力端子、84は第二の部分回路の出力端子である。な
お、入力端子,出力端子は入力,出力と、電源端子は電
源ともいう。第一の部分回路77の基本動作を次の様な
ものとする。
【0131】i)電源78の電位が低電位Lのとき、出
力80は、入力79によらず低電位L。
【0132】ii)電源78の電位が高電位Hのとき、出
力80は、入力79の変動によらず、初期値を維持。
【0133】iii)電源78が低電位Lから高電位Hに
変化した時点での入力79の電位の反転が、出力80の
電位となる。第二の部分回路81の基本動作は、i),
ii)および、次のiii)′とする。
【0134】iii)′電源82が低電位Lから高電位H
に変化した時点での入力83の電位が、出力84の電位
となる。第一,第二の部分回路は、先に述べたように負
性微分抵抗素子と電界効果トランジスタを用いて構成可
能である。しかし、上記の基本動作を行う回路であれ
ば、これらの以外の構成法のものも同様に使用可能であ
る。CLKを電源とする第一,第二の部分回路を、各々
第一,第三の要素回路とし、CLKbarを電源とする
第一,第二の部分回路を、各々、第二,第四の要素回路
とする。第一および第三の要素回路の個数の和と第二お
よび第四の要素回路の個数の和を等しく(N+1)個と
する(Nは負でない整数)。第三,第四の要素回路およ
び反転要素回路の個数の和は奇数とする。第一,第二,
第三、および、第四の要素回路および反転要素回路の出
力と入力を互いに結合し一つの電気的なループを形成す
る。このとき、電源を同じくする回路同士(例えば電源
が共にCLK)は、直接には結合しないものとする。こ
の回路も、実施例21,22,23と同様に、周期がC
LKの2(N+1)倍の高周波を発生する。先に述べた
ように、第一,第二の部分回路が上記の条件を満たしさ
えすれば、各々の部分回路の具体的な構成法によらず上
記の機能の発現が可能となる。
【0135】以上の、第1〜第23の実施例において、
第一,第二,第三、第四、第五、第六、第七の電界効果
トランジスタとして、例えば、アンドープInGaAs
半導体層をチャネル層とし、InAlAs層を障壁層と
する高移動度電界トランジスタ(HEMT)を使用する
ことができる。更に、金属−半導体電界効果トランジス
タ(MESFET)、接合ゲート電界効果トランジスタ
(JFET)等、電界効果トランジスタとして動作する
ものならなんでも、本発明でいうところの電界効果トラ
ンジスタとして使用することができる。また、電界効果
トランジスタの代わりにバイポーラトランジスタを使用
することも可能である(請求項23に対応)。
【0136】なお、上記の各実施例において、各電源端
子には同一の電圧Vddが印加されているが、各電源端子
に異なる電源電位を印加することも可能である。
【0137】
【発明の効果】以上述べたように、本発明では、負性微
分抵抗特性を有する素子の機能性を活かすことにより、
クロック信号から種々のパルス列を発生する機能を、従
来技術に比べ少ない素子数と簡単な回路構成で実現する
ものであり、回路の低消費電力化,高速化に資するもの
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる波形発生回路の第1の実施例を
示す回路図である。
【図2】本発明にかかる波形発生回路の第2の実施例を
示す回路図である。
【図3】本発明にかかる波形発生回路の第3の実施例を
示す回路図である。
【図4】本発明にかかる波形発生回路の第4の実施例を
示す回路図である。
【図5】本発明にかかる波形発生回路の第5の実施例を
示す回路図である。
【図6】本発明にかかる波形発生回路の第6の実施例を
示す回路図である。
【図7】本発明にかかる波形発生回路の第7の実施例を
示す回路図である。
【図8】本発明にかかる波形発生回路の第8の実施例を
示す回路図である。
【図9】本発明にかかる波形発生回路の第9の実施例を
示す回路図である。
【図10】本発明にかかる波形発生回路の第10の実施
例を示す回路図である。
【図11】本発明の第1の実施例の動作原理説明図であ
る。
【図12】本発明の第1の実施例の動作原理説明図であ
る。
【図13】本発明の第1の実施例の動作原理を説明する
ための波形図である。
【図14】本発明の第5の実施例の動作原理を説明する
ための波形図である。
【図15】本発明にかかる波形発生回路の第11の実施
例を示す回路図である。
【図16】本発明にかかる波形発生回路の第12の実施
例を示す回路図である。
【図17】本発明にかかる波形発生回路の第13の実施
例を示す回路図である。
【図18】本発明にかかる波形発生回路の第14の実施
例を示す回路図である。
【図19】本発明にかかる波形発生回路の第15の実施
例を示す回路図である。
【図20】本発明にかかる波形発生回路の第16の実施
例を示す回路図である。
【図21】本発明にかかる波形発生回路の第17の実施
例を示す回路図である。
【図22】本発明にかかる波形発生回路の第18の実施
例を示す回路図である。
【図23】本発明にかかる波形発生回路の第19の実施
例を示す回路図である。
【図24】本発明にかかる波形発生回路の第20の実施
例を示す回路図である。
【図25】本発明にかかる波形発生回路の第21の実施
例を示す回路図である。
【図26】本発明の第21の実施例の要素回路図であ
る。
【図27】本発明にかかる波形発生回路の第22の実施
例を示す回路図である。
【図28】本発明にかかる波形発生回路の第23の実施
例を示す回路図である。
【図29】本発明の第21の実施例の動作原理を説明す
る図である。
【図30】本発明の第21の実施例の要素回路の動作原
理の説明図である。
【図31】本発明の第21の実施例の要素回路のタイミ
ングダイアグラムである。
【図32】本発明の第21の実施例の第一,第二の要素
の組に関するタイミングダイアグラムである。
【図33】本発明の第21の実施例の変形例を示す図で
ある。
【図34】本発明の第21の実施例の変形例を示す図で
ある。
【図35】本発明の第21の実施例の動作の要素回路数
に応じた計算結果を示す図である。
【図36】本発明の第21の実施例の動作の要素回路数
に応じた計算結果を示す図である。
【図37】本発明の第21の実施例の動作の要素回路数
に応じた計算結果を示す図である。
【図38】本発明の第21の実施例の動作の要素回路数
に応じた計算結果を示す図である。
【図39】本発明の第21の実施例の動作の計算結果を
示す図である。
【図40】本発明の第22の実施例の動作の計算結果を
示す図である。
【図41】本発明の第23の実施例の動作の計算結果を
示す図である。
【図42】本発明の第21〜23の実施例の動作の計算
結果を示す図である。
【図43】本発明の各実施例を抽象化して技術思想を示
した回路図である。
【図44】従来の波形発生回路の一例を示す回路図であ
る。
【図45】図44の従来の波形発生回路の動作を説明す
るための図である。
【図46】図44の従来の波形発生回路の動作を説明す
るための図である。
【図47】図44の従来の波形発生回路の動作を説明す
るための図である。
【符号の説明】
1 第一の負性微分抵抗素子 2 第二の負性微分抵抗素子 3 第一の電界効果トランジスタ(FET) 4 第二の電界効果トランジスタ 5 第三の負性微分抵抗素子 6 第四の負性微分抵抗素子 7 第三の電界効果トランジスタ 8 第四の電界効果トランジスタ 9 第五の電界効果トランジスタ 10 第一の抵抗体 11 レベルシフトダイオード 12 負荷としての電界効果トランジスタ特性(ゲート
電位:H) 13 負荷としての電界効果トランジスタ特性(ゲート
電位:L) 14 第二の抵抗体 15 第六の電界効果トランジスタ 16 第七の電界効果トランジスタ 17 第三の抵抗体 20 第一の要素回路 21 第二の要素回路 21′ 第四の要素回路 22 第一の要素回路 23 第二の要素回路 23′ 第四の要素回路 24 第一の要素回路 24′ 第三の要素回路 25 第二の要素回路 26 反転要素回路 27 第一の負性微分抵抗素子 28 第二の負性微分抵抗素子 29 電界効果トランジスタ 30 接地 31 コレクタ電極 32 第一の要素回路の入力 32′ 第三の要素回路の入力 33 第一の要素回路の出力 33′ 第三の要素回路の出力 34 第一の要素回路 35 第三の要素回路 36 第一の要素回路のドライバ部分 37 第一の要素回路のロード部分 38 ドライバ部の電流電圧特性(入力:高電位) 39 ロード部の電流電圧特性 40 ドライバ部の電流電圧特性(入力:低電位) 41 要素回路の動作点(印加電圧:低電位) 42 要素回路の動作点(印加電圧:過大) 43 要素回路の第一の動作点(印加電圧:高電位) 44 要素回路の第二の動作点(印加電圧:高電位) 45 要素回路の動作点(初期値) 46 要素回路の動作点(低電位) 47 要素回路の動作点(高電位) 48 ロード部の電流電圧特性 49 ロード部の電流電圧特性 50 ロード部の電流電圧特性 51 ロード部の電流電圧特性 52 ロード部の電流電圧特性 53 動作点(低電位L) 54 動作点(低電位L) 55 動作点(低電位L) 56 動作点(低電位L) 57 動作点 58 動作点(高電位H) 59 動作点(高電位H) 60 動作点(高電位H) 61 動作点(高電位H) 62 第二の要素回路の入力 63 第二の要素回路の出力 64 第一の要素回路 65 第二の要素回路 66 クロック(第一の電源)の立ち上がり 67 クロック(第二の電源)の立ち上がり 68 クロック(第二の電源)の立ち上がり 69 クロック(第一の電源)の立ち上がり 70 第一の要素回路 71 第四の要素回路 72 第一の要素回路 73 第二の要素回路 74 第三の要素回路 75 第二の要素回路 76 反転要素回路 77 第一の部分回路 78 第一の部分回路の電源端子 79 第一の部分回路の入力端子 80 第一の部分回路の出力端子 81 第二の部分回路 82 第二の部分回路の電源端子 83 第二の部分回路の入力端子 84 第二の部分回路の出力端子 101 出力バッファ 102 AND回路 103 OR回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−273608(JP,A) 特開 平6−177402(JP,A) 特開 平8−79022(JP,A) 特開 昭62−12211(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 3/313 H03K 17/56 H03K 19/08

Claims (23)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源端子,接地端子,入力端子,出力端
    子を各々1つずつ有し、かつ、電源端子への印加電圧が
    低電位(L)の場合には、入力によらず低電位を出力
    し、また、電源端子への印加電圧が高電位(H)の場合
    には、電源端子への印加電圧が低電位(L)から高電位
    (H)に変化する時点での入力信号の反転信号が出力さ
    れ、電源端子への印加電圧が高電位の間は、入力信号が
    変化しても出力電位は変化しない第一の部分回路と、 電源端子,接地端子,入力端子,出力端子を各々1つず
    つ有し、かつ、電源端子への印加電圧が低電位(L)の
    場合には、入力によらず低電位を出力し、また、電源端
    子への印加電圧が高電位(H)の場合には、電源端子へ
    の印加電圧が低電位(L)から高電位(H)に変化する
    時点での入力信号に等しい信号が出力され、電源端子へ
    の印加電圧が高電位の間は、入力信号が変化しても出力
    電位は変化しない第二の部分回路と、 各々1つの電源端子,接地端子,入力端子,出力端子を
    有し、電源端子が1つの固定電源に接続され、また、入
    力端子に印加された信号の反転信号が出力端子から出力
    される反転要素回路と、 振動電圧を出力する第一の電源と、該第一の電源とは逆
    位相の振動電圧を出力する第二の電源よりなり、 前記第一および第二の部分回路のうち、電源端子を前記
    第一の電源に接続したものを、それぞれ第一および第三
    の要素回路とし、また、前記第一および第二の部分回路
    のうち、電源端子を前記第二の電源に接続したものを、
    それぞれ第二および第四の要素回路とし、前記第一と第
    三の要素回路の合計と、第二と第四の要素回路の合計を
    同数とし、かつ、第一,第二の要素回路と反転要素回路
    の合計を奇数とし、 各々の第一の要素回路の出力端子を第二,第四の要素回
    路の入力端子または反転要素回路の入力端子のいずれか
    一つと結合し、 各々の第三の要素回路の出力端子を第二,第四の要素回
    路の入力端子または反転要素回路の入力端子のいずれか
    一つと結合し、 各々の第二の要素回路の出力端子を第一,第三の要素回
    路の入力端子または反転要素回路の入力端子のいずれか
    一つと結合し、 各々の第四の要素回路の出力端子を第一,第三の要素回
    路の入力端子または反転要素回路の入力端子のいずれか
    一つと結合し、 各々の反転要素回路の出力端子は、他の反転要素回路ま
    たは、第一,第二,第三,第四の要素回路の入力端子の
    いずれか一つと結合し、 要素回路、または反転要素回路のいずれか一つの出力端
    子の電位を出力とするか、あるいは複数の要素回路の出
    力の論理演算結果を出力とするか、または複数の反転要
    素回路の出力の論理演算結果を出力とするか、または要
    素回路の出力端子と反転要素回路の出力端子を含む複数
    の出力端子の電位の論理演算結果を出力とすることを特
    徴とする波形発生回路。
  2. 【請求項2】 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極
    を接地し、第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第
    二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、また、第
    二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電極に繋
    ぎ、かつ、第一の電界効果トランジスタのソースおよび
    ドレイン電極を、それぞれ第一の負性微分抵抗素子のエ
    ミッタ電極およびコレクタ電極に繋ぎ、該第一の電界効
    果トランジスタのゲート電極を入力端子とし、また、前
    記第一および第二の負性微分抵抗素子の接続点を出力端
    子とする(N+1)個(Nは0以上の自然数)の第一の
    要素回路と、 前記第一の要素回路と同様な構成を持ち、前記第二の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電源に接続する
    代わりに第二の電源に繋いだ(N+1)個の第二の要素
    回路と、 第二の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、該
    第二の電界効果トランジスタのドレイン端子を第一の抵
    抗体の一端に繋ぎ、また、該抵抗体の他端を第三の電源
    に接続した1つの反転要素回路とよりなり、 前記第一の要素回路を2k(kは0以上かつN−1以下
    の整数)番目、また、第二の要素回路を(2k+1)番
    目と交互に配置し、 前記2k番目の第一の要素回路の出力端子を、(2k+
    1)番目の第二の要素回路の入力端子に接続し、かつ、
    (2k+1)番目の第二の要素回路の出力端子を、2
    (k+1)番目の第一の要素回路の入力端子に接続し、
    (2N+1)番目の第二の要素回路の出力端子を、前記
    反転要素の入力端子に接続し、該反転要素回路の出力端
    子は、0番目の第一の要素回路の入力端子と接続し、 前記第一または第二の要素回路、あるいは反転要素回路
    のいずれか1つの出力端子の電位を出力とするか、ある
    いは複数の要素回路の出力の論理演算結果を出力とする
    か、または、要素回路の出力端子と反転要素回路の出力
    端子を含む複数の出力端子の電位の論理演算結果を出力
    とすることを特徴とする波形発生回路。
  3. 【請求項3】 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極
    を接地し、第二の負性微分抵抗素子のコレクタを第一の
    電源に繋ぎ、第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と
    第二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を繋ぎ、電界効
    果トランジスタのソース電極,ドレイン電極を、各々、
    第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極,コレクタ電極
    に繋ぎ、該電界効果トランジスタのゲートを入力とし、
    該第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電位を出力とする
    回路を第一の要素回路とし、 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を接地し、第二
    の負性微分抵抗素子のコレクタを第一の電源に繋ぎ、第
    一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第二の負性微分
    抵抗素子のエミッタ電極を繋ぎ、電界効果トランジスタ
    のソース電極,ドレイン電極を、各々、第二の負性微分
    抵抗素子のエミッタ電極,コレクタ電極に繋ぎ、該電界
    効果トランジスタのゲートを入力とし、該第一の負性微
    分抵抗素子のコレクタ電位を出力とする回路を第三の要
    素回路とし、 前記第一の要素回路と同様な構成を持ち、第二の負性微
    分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電極に接続する代わ
    りに第二の電源に繋いで第二の要素回路とし、 前記第三の要素回路と同様な構成を持ち、第二の負性微
    分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電源に接続する代わ
    りに第二の電源に繋いで第四の要素回路とし、 第二の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、該
    第二の電界効果トランジスタのドレイン端子を第一の抵
    抗体の一端に繋ぎ、また、該抵抗体の他端を第三の電源
    に接続して反転要素回路とし、 前記第一,第二,第三,第四の要素回路、および反転要
    素回路を含む回路であって、 第一の要素回路の個数と第三の要素回路の個数の和は、
    第二の要素回路の個数と第四の要素回路の個数の和と等
    しく、 第二,第四の要素回路、および反転要素回路の個数の総
    和は奇数であり、 各々の第一の要素回路の出力は、第二または第四の要素
    回路または反転要素回路の入力の一つと結合し、各々の
    第二の要素回路の出力は、第一または第三の要素回路ま
    たは反転要素回路の入力の一つと結合し、各々の第三の
    要素回路の出力は、第二または第四の要素回路または反
    転要素回路の入力の一つと結合し、各々の第四の要素回
    路の出力は、第一または第三の要素回路または反転要素
    回路の入力の一つと結合し、反転要素回路の出力は第
    一,第二,第三,第四の要素回路、または他の反転要素
    回路の入力と結合し、 要素回路、または反転要素回路のいずれか一つの出力端
    子の電位を出力とするか、あるいは複数の要素回路の出
    力の論理演算結果を出力とするか、または複数の反転要
    素回路の出力の論理演算結果を出力とするか、または要
    素回路と反転要素回路を含む複数の出力端子の電位の論
    理演算結果を出力とすることを特徴とする波形発生回
    路。
  4. 【請求項4】 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極
    を接地し、第二の負性微分抵抗素子のコレクタを第一の
    電源に繋ぎ、第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と
    第二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を繋ぎ、電界効
    果トランジスタのソース電極,ドレイン電極を、各々、
    第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極,コレクタ電極
    に繋ぎ、該電界効果トランジスタのゲートを入力とし、
    該第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電位を出力とする
    回路を第一の要素回路とし、 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を接地し、第二
    の負性微分抵抗素子のコレクタを第一の電源に繋ぎ、第
    一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第二の負性微分
    抵抗素子のエミッタ電極を繋ぎ、電界効果トランジスタ
    のソース電極,ドレイン電極を、各々、第二の負性微分
    抵抗素子のエミッタ電極,コレクタ電極に繋ぎ、該電界
    効果トランジスタのゲートを入力とし、該第一の負性微
    分抵抗素子のコレクタ電位を出力とする回路を第三の要
    素回路とし、 第二の要素回路を、第一の要素回路において第二の負性
    微分抵抗素子のコレクタを第二の電源に繋げることを除
    いて第一の要素回路と同一の回路とし、 第四の要素回路を、第三の要素回路において第二の負性
    微分抵抗素子のコレクタを第二の電源に繋げることを除
    いて第二の要素回路と同一の回路としたとき、 第一,第二,第三,第四の要素回路を含む回路におい
    て、 第一の要素回路の個数と第三の要素回路の個数の和は、
    第二の要素回路の個数と第四の要素回路の個数の和と等
    しく、 第三,第四の要素回路の個数総和は奇数であり、 各々の第一の要素回路の出力は、第二または第四の要素
    回路の入力の一つと結合し、各々の第二の要素回路の出
    力は、第一または第三の要素回路の入力の一つと結合
    し、各々の第三の要素回路の出力は、第二または第四の
    要素回路の入力の一つと結合し、各々の第四の要素回路
    の出力は、第一または第三の要素回路の入力の一つと結
    合し、 要素回路のいずれか一つの出力端子の電位を出力とする
    か、あるいは複数の要素回路の出力の論理演算結果を出
    力とすることを特徴とする波形発生回路。
  5. 【請求項5】 請求項1,2,3,4のいずれかに記載
    の波形発生回路の複数個組み合わせ、それらの出力、あ
    るいは、それらに含まれる要素回路の出力の論理演算結
    果を出力とする波形発生回路。
  6. 【請求項6】 請求項2,3,5のいずれかに記載の波
    形発生回路において、第一の抵抗体と第三の電源の間
    に、レベルシフタ回路を挿入したことを特徴とする波形
    発生回路。
  7. 【請求項7】 請求項2乃至6のいずれかに記載の波形
    発生回路において、前記第一の電源には第一の振動電圧
    が、また、第二の電源には前記第一の振動電圧とは逆位
    相の第二の振動電圧が印加されることを特徴とする波形
    発生回路。
  8. 【請求項8】 前記第一および第二の振動電圧は、ドレ
    イン電極が前記第三の電源に接続され、かつ、それぞれ
    逆位相のクロック信号がゲート電極に印加された電界効
    果トランジスタのソース電極の電位として与えられるこ
    とを特徴とする請求項7記載の波形発生回路。
  9. 【請求項9】 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極
    を接地し、第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第
    二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第二の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電界効果トラン
    ジスタのソース電極と繋ぎ、第一の電界効果トランジス
    タのドレイン電極を電源に繋ぎ、第二の電界効果トラン
    ジスタのソース電極を第一の負性微分抵抗素子のエミッ
    タ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジスタのドレイン
    電極を第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第三の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を接地し、第三
    の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第四の負性微分抵
    抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子
    のコレクタ電極を第三の電界効果トランジスタのソース
    電極と繋ぎ、第三の電界効果トランジスタのドレイン電
    極を電源に繋ぎ、第四の電界効果トランジスタのソース
    電極を第三の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第四の電界効果トランジスタのドレイン電極を第三の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第五の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    五の電界効果トランジスタのドレイン電極を第一の抵抗
    体の一端に繋ぎ、第一の抵抗体の他端を電源に繋ぎ、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第四の電界効
    果トランジスタのゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極と第五の電界効果トランジスタの
    ゲート電極を繋ぎ、第五の電界効果トランジスタのドレ
    イン電極を第二の電界効果トランジスタのゲート電極に
    繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号
    を、第三の電界効果トランジスタのゲート電極に該入力
    信号を反転した信号を入力し、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第三の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第五の電界効果トランジスタのドレイン電極の電位を出
    力信号とすることを特徴とする波形発生回路。
  10. 【請求項10】 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電
    極を接地し、第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を
    第二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第二の
    負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極と繋ぎ、第一の電界効果トランジ
    スタのドレイン電極を電源に繋ぎ、第二の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極を第二の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジスタのドレイ
    ン電極を第二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋
    ぎ、 第三の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を接地し、第三
    の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第四の負性微分抵
    抗素子のエミッタ電源と繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子
    のコレクタ電極を第三の電界効果トランジスタのソース
    電極と繋ぎ、第三の電界効果トランジスタのドレイン電
    極を電源に繋ぎ、第四の電界効果トランジスタのソース
    電極を第四の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第四の電界効果トランジスタのドレイン電極を第四の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第五の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    五の電界効果トランジスタのドレイン電極を第一の抵抗
    体の一端に繋ぎ、第一の抵抗体の他端を電源に繋ぎ、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第四の電界効
    果トランジスタのゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極と第五の電界効果トランジスタの
    ゲート電極を繋ぎ、第五の電界効果トランジスタのドレ
    イン電極を第二の電界効果トランジスタのゲート電極に
    繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号
    を、第三の電界効果トランジスタのゲート電極に該入力
    信号を反転した信号を入力し、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、また
    は、第三の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、ま
    たは第五の電界効果トランジスタのドレイン電極の電位
    を出力信号とすることを特徴とする波形発生回路。
  11. 【請求項11】 請求項9または10に記載の波形発生
    回路において、第一の抵抗体と電源の間にレベルシフタ
    回路を挿入したことを特徴とする波形発生回路。
  12. 【請求項12】 第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電
    極を接地し、第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を
    第二の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第二の
    負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第一の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極と繋ぎ、第一の電界効果トランジ
    スタのドレイン電極を電源に繋ぎ、第二の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極を第一の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジスタのドレイ
    ン電極を第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋
    ぎ、 第三の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を接地し、第三
    の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第四の負性微分抵
    抗素子のエミッタ電源と繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子
    のコレクタ電極を第三の電界効果トランジスタのソース
    電極と繋ぎ、第三の電界効果トランジスタのドレイン電
    極を電源に繋ぎ、第四の電界効果トランジスタのソース
    電極を第四の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第四の電界効果トランジスタのドレイン電極を第四の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第四の電界効
    果トランジスタのゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極と第二の電界効果トランジスタの
    ゲート電極を繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号
    を、第三の電界効果トランジスタのゲート電極に該入力
    信号を反転した信号を入力し、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第三の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位を出力信
    号とすることを特徴とする波形発生回路。
  13. 【請求項13】 第一の電界効果トランジスタのソース
    電極を接地し、第一の電界効果トランジスタのドレイン
    電極を第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第二の負性微
    分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第二の負性微分抵抗
    素子のコレクタ電極を電源に繋ぎ、第二の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極を第一の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジスタのドレイ
    ン電極を第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋
    ぎ、 第三の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    三の電界効果トランジスタのドレイン電極を第三の負性
    微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極を第四の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子のコレクタ電
    極を電源に繋ぎ、第四の電界効果トランジスタのソース
    電極を第三の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第四の電界効果トランジスタのドレイン電極を第三の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第五の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    五の電界効果トランジスタのドレイン電極を第一の抵抗
    体の一端に繋ぎ、第一の抵抗体の他端を電源に繋ぎ、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第四の電界効
    果トランジスタのゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極と第五の電界効果トランジスタの
    ゲート電極を繋ぎ、第五の電界効果トランジスタのドレ
    イン電極を第二の電界効果トランジスタのゲート電極に
    繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号
    を、第三の電界効果トランジスタのゲート電極に該入力
    信号を反転した信号を入力し、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第三の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第五の電界効果トランジスタのドレイン電極の電位を出
    力信号とすることを特徴とする波形発生回路。
  14. 【請求項14】 第一の電界効果トランジスタのソース
    電極を接地し、第一の電界効果トランジスタのドレイン
    電極を第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第二の負性微
    分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第二の負性微分抵抗
    素子のコレクタ電極を電源に繋ぎ、第二の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極を第二の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジスタのドレイ
    ン電極を第二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋
    ぎ、 第三の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    三の電界効果トランジスタのドレイン電極を第三の負性
    微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極を第四の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子のコレクタ電
    極を電源に繋ぎ、第四の電界効果トランジスタのソース
    電極を第四の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第四の電界効果トランジスタのドレイン電極を第四の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第五の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    五の電界効果トランジスタのドレイン電極を第一の抵抗
    体の一端に繋ぎ、第一の抵抗体の他端を電源に繋ぎ、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第四の電界効
    果トランジスタのゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極と第五の電界効果トランジスタの
    ゲート電極を繋ぎ、第五の電界効果トランジスタのドレ
    イン電極を第二の電界効果トランジスタのゲート電極に
    繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号
    を、第三の電界効果トランジスタのゲート電極に該入力
    信号を反転した信号を入力し、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第三の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第五の電界効果トランジスタのドレイン電極の電位を出
    力信号とすることを特徴とする波形発生回路。
  15. 【請求項15】 請求項13または14に記載の波形発
    生回路において、第五の電界効果トランジスタのソース
    電極と接地電極の間にレベルシフタ回路を挿入したこと
    を特徴とする波形発生回路。
  16. 【請求項16】 第一の電界効果トランジスタのソース
    電極を接地し、第一の電界効果トランジスタのドレイン
    電極を第一の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第二の負性微
    分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第二の負性微分抵抗
    素子のコレクタ電極を電源に繋ぎ、第二の電界効果トラ
    ンジスタのソース電極を第一の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第二の電界効果トランジスタのドレイ
    ン電極を第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋
    ぎ、 第三の電界効果トランジスタのソース電極を接地し、第
    三の電界効果トランジスタのドレイン電極を第三の負性
    微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極を第四の負性微分抵抗素子のエミ
    ッタ電極と繋ぎ、第四の負性微分抵抗素子のコレクタ電
    極を電源に繋ぎ、第四の電界効果トランジスタのソース
    電極を第四の負性微分抵抗素子のエミッタ電極と繋ぎ、
    第四の電界効果トランジスタのドレイン電極を第四の負
    性微分抵抗素子のコレクタ電極と繋ぎ、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極と第四の電界効
    果トランジスタのゲート電極を繋ぎ、第三の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極と第二の電界効果トランジスタの
    ゲート電極を繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号
    を、第三の電界効果トランジスタのゲート電極に該入力
    信号を反転した信号を入力し、 第一の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位、または
    第三の負性微分抵抗素子のコレクタ電極の電位を出力信
    号とすることを特徴とする波形発生回路。
  17. 【請求項17】 請求項9乃至12のいずれかに記載の
    波形発生回路において、第一の電界効果トランジスタ、
    および第三の電界効果トランジスタを除去し、第二の抵
    抗体の一端を接地し、第二の抵抗体の他端を第六の電界
    効果トランジスタのソース電極と繋ぎ、第六の電界効果
    トランジスタのドレイン電極を電源と繋ぎ、第七の電界
    効果トランジスタのソース電極を接地し、第七の電界効
    果トランジスタのドレイン電極を第三の抵抗体の一端と
    繋ぎ、第三の抵抗体の他端を電源と繋ぎ、第六の電界効
    果トランジスタのゲート電極を第七の電界効果トランジ
    スタのゲート電極と繋ぎ、 第二の負性微分抵抗素子のコレクタ電極を第六の電界効
    果トランジスタのソース電極と繋ぎ、第四の負性微分抵
    抗素子のコレクタ電極を第七の電界効果トランジスタの
    ドレイン電極に繋ぎ、 第六の電界効果トランジスタのゲート電極、および第七
    の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号を入力
    することを特徴とする波形発生回路。
  18. 【請求項18】 請求項13乃至16のいずれかに記載
    の波形発生回路において、第二の抵抗体の一端を接地
    し、第二の抵抗体の他端を第六の電界効果トランジスタ
    のソース電極と繋ぎ、第六の電界効果トランジスタのド
    レイン電極を電源と繋ぎ、第七の電界効果トランジスタ
    のソース電極を接地し、第七の電界効果トランジスタの
    ドレイン電極を第三の抵抗体の一端と繋ぎ、第三の抵抗
    体の他端を電源と繋ぎ、第六の電界効果トランジスタの
    ゲート電極と第七の電界効果トランジスタのゲート電極
    を繋ぎ、 第一の電界効果トランジスタ、および第三の電界効果ト
    ランジスタを除去し、第一の負性微分抵抗素子のエミッ
    タ電極を第七の電界効果トランジスタのドレイン電極と
    繋ぎ、第三の負性微分抵抗素子のエミッタ電極を第六の
    電界効果トランジスタのソース電極に繋ぎ、 第六の電界効果トランジスタのゲート電極、および第七
    の電界効果トランジスタのゲート電極に入力信号を入力
    することを特徴とする波形発生回路。
  19. 【請求項19】 請求項2乃至18のいずれかに記載の
    波形発生回路において、負性微分抵抗素子として共鳴ト
    ンネルダイオードを用いることを特徴とする波形発生回
    路。
  20. 【請求項20】 請求項19記載の波形発生回路におい
    て、前記共鳴トンネルダイオードが、InGaAs/A
    lAs系の共鳴トンネルダイオードであることを特徴と
    する波形発生回路。
  21. 【請求項21】 請求項2乃至18のいずれかに記載の
    波形発生回路において、負性微分抵抗素子としてエキサ
    ダイオードを用いることを特徴とする波形発生回路。
  22. 【請求項22】 請求項2乃至21のいずれかに記載の
    波形発生回路において、前記電界効果トランジスタが、
    InGaAs/AlAs系のヘテロ接合電界効果トラン
    ジスタであることを特徴とする波形発生回路。
  23. 【請求項23】 請求項2乃至21のいずれかに記載の
    波形発生回路において、電界効果トランジスタをバイポ
    ーラトランジスタで置き換え、電界効果トランジスタの
    ソース,ゲート,ドレイン電極を、それぞれバイポーラ
    トランジスタのエミッタ,ベース,コレクタ電極で置き
    換えることを特徴とする波形発生回路。
JP34197596A 1996-04-04 1996-12-20 波形発生回路 Expired - Fee Related JP3508809B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34197596A JP3508809B2 (ja) 1996-04-04 1996-12-20 波形発生回路
US08/831,995 US5770958A (en) 1996-04-04 1997-04-01 Periodic waveform generating circuit
DE69729679T DE69729679T2 (de) 1996-04-04 1997-04-03 Schaltkreis zur Erzeugung einer periodischen Wellenform
EP97105559A EP0800272B1 (en) 1996-04-04 1997-04-03 Periodic Waveform generating circuit

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8217896 1996-04-04
JP8-82178 1996-04-04
JP34197596A JP3508809B2 (ja) 1996-04-04 1996-12-20 波形発生回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09326677A JPH09326677A (ja) 1997-12-16
JP3508809B2 true JP3508809B2 (ja) 2004-03-22

Family

ID=26423191

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34197596A Expired - Fee Related JP3508809B2 (ja) 1996-04-04 1996-12-20 波形発生回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5770958A (ja)
EP (1) EP0800272B1 (ja)
JP (1) JP3508809B2 (ja)
DE (1) DE69729679T2 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL130901A (en) * 1999-07-12 2004-12-15 Technion Res & Dev Foundation Improved high-power bipolar transistor with an emitter current density limitation
US6362660B1 (en) * 1999-07-13 2002-03-26 Texas Instruments Incorporated CMOS latch and register circuitry using quantum mechanical tunneling structures
US6479862B1 (en) 2000-06-22 2002-11-12 Progressant Technologies, Inc. Charge trapping device and method for implementing a transistor having a negative differential resistance mode
US6724655B2 (en) 2000-06-22 2004-04-20 Progressant Technologies, Inc. Memory cell using negative differential resistance field effect transistors
US6596617B1 (en) 2000-06-22 2003-07-22 Progressant Technologies, Inc. CMOS compatible process for making a tunable negative differential resistance (NDR) device
US6754104B2 (en) * 2000-06-22 2004-06-22 Progressant Technologies, Inc. Insulated-gate field-effect transistor integrated with negative differential resistance (NDR) FET
US6518589B2 (en) 2000-06-22 2003-02-11 Progressant Technologies, Inc. Dual mode FET & logic circuit having negative differential resistance mode
US6559470B2 (en) 2000-06-22 2003-05-06 Progressed Technologies, Inc. Negative differential resistance field effect transistor (NDR-FET) and circuits using the same
US6594193B2 (en) 2000-06-22 2003-07-15 Progressent Technologies, Inc. Charge pump for negative differential resistance transistor
US6512274B1 (en) 2000-06-22 2003-01-28 Progressant Technologies, Inc. CMOS-process compatible, tunable NDR (negative differential resistance) device and method of operating same
US6956262B1 (en) 2001-12-21 2005-10-18 Synopsys Inc. Charge trapping pull up element
US7453083B2 (en) * 2001-12-21 2008-11-18 Synopsys, Inc. Negative differential resistance field effect transistor for implementing a pull up element in a memory cell
US7095659B2 (en) * 2002-06-28 2006-08-22 Progressant Technologies, Inc. Variable voltage supply bias and methods for negative differential resistance (NDR) based memory device
US6912151B2 (en) * 2002-06-28 2005-06-28 Synopsys, Inc. Negative differential resistance (NDR) based memory device with reduced body effects
US7098472B2 (en) * 2002-06-28 2006-08-29 Progressant Technologies, Inc. Negative differential resistance (NDR) elements and memory device using the same
US6861707B1 (en) * 2002-06-28 2005-03-01 Progressant Technologies, Inc. Negative differential resistance (NDR) memory cell with reduced soft error rate
US6864104B2 (en) * 2002-06-28 2005-03-08 Progressant Technologies, Inc. Silicon on insulator (SOI) negative differential resistance (NDR) based memory device with reduced body effects
US6847562B2 (en) * 2002-06-28 2005-01-25 Progressant Technologies, Inc. Enhanced read and write methods for negative differential resistance (NDR) based memory device
US6795337B2 (en) * 2002-06-28 2004-09-21 Progressant Technologies, Inc. Negative differential resistance (NDR) elements and memory device using the same
US6567292B1 (en) 2002-06-28 2003-05-20 Progressant Technologies, Inc. Negative differential resistance (NDR) element and memory with reduced soft error rate
US6806117B2 (en) * 2002-12-09 2004-10-19 Progressant Technologies, Inc. Methods of testing/stressing a charge trapping device
US6980467B2 (en) * 2002-12-09 2005-12-27 Progressant Technologies, Inc. Method of forming a negative differential resistance device
US7012833B2 (en) * 2002-12-09 2006-03-14 Progressant Technologies, Inc. Integrated circuit having negative differential resistance (NDR) devices with varied peak-to-valley ratios (PVRs)
US6979580B2 (en) * 2002-12-09 2005-12-27 Progressant Technologies, Inc. Process for controlling performance characteristics of a negative differential resistance (NDR) device
US6812084B2 (en) * 2002-12-09 2004-11-02 Progressant Technologies, Inc. Adaptive negative differential resistance device
US6849483B2 (en) * 2002-12-09 2005-02-01 Progressant Technologies, Inc. Charge trapping device and method of forming the same
US7005711B2 (en) * 2002-12-20 2006-02-28 Progressant Technologies, Inc. N-channel pull-up element and logic circuit
CN103931102A (zh) * 2011-10-28 2014-07-16 惠普发展公司,有限责任合伙企业 金属-绝缘体相变触发器

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1168964B (de) * 1961-05-31 1964-04-30 Intermetall Schaltungsanordnung zum binaeren Zaehlen oder zum Frequenzteilen
DE1438459A1 (de) * 1961-11-20 1968-10-17 Itt Ind Gmbh Deutsche Drehstromgenerator fuer in weiten Grenzen einstellbare Frequenzen
GB1320379A (en) * 1969-09-19 1973-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit arrangement utilizing oscillatory diode
US3740576A (en) * 1970-08-04 1973-06-19 Licentia Gmbh Dynamic logic interconnection
US4553047A (en) * 1983-01-06 1985-11-12 International Business Machines Corporation Regulator for substrate voltage generator
US5313117A (en) * 1991-07-22 1994-05-17 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Semiconductor logic circuit using two n-type negative resistance devices
US5479129A (en) * 1993-11-24 1995-12-26 At&T Corp. Variable propagation delay digital signal inverter
JP2970389B2 (ja) * 1994-03-30 1999-11-02 日本電気株式会社 フリップ・フロップ回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0800272A2 (en) 1997-10-08
DE69729679D1 (de) 2004-08-05
EP0800272A3 (en) 1999-04-21
US5770958A (en) 1998-06-23
EP0800272B1 (en) 2004-06-30
JPH09326677A (ja) 1997-12-16
DE69729679T2 (de) 2005-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3508809B2 (ja) 波形発生回路
US5903170A (en) Digital logic design using negative differential resistance diodes and field-effect transistors
US4000412A (en) Voltage amplitude multiplying circuits
US4158786A (en) Display device driving voltage providing circuit
EP0896430B1 (en) High-speed clock-enabled latch circuit
US5459414A (en) Adiabatic dynamic logic
US4084106A (en) Dynamic shift register using insulated-gate field-effect transistors
US5473270A (en) Adiabatic dynamic precharge boost circuitry
EP0464524B1 (en) Current-switching type logic circuit
US7489174B2 (en) Dynamic flip-flop circuit
US4882505A (en) Fully synchronous half-frequency clock generator
Daraei et al. Alternative design techniques of quaternary latch, flip-flops and counters in nanoelectronics
Thoidis et al. Quaternary voltage-mode CMOS circuits for multiple-valued logic
US5477164A (en) Adiabatic dynamic noninverting circuitry
CN111934655B (zh) 一种脉冲时钟产生电路、集成电路和相关方法
JPH11514164A (ja) しきい値式によって表わすことができる論理エレメントを実現するための回路装置
US3892985A (en) Set-preferring R-S flip-flop circuit
US20050280449A1 (en) Apparatus and method for high frequency state machine divider with low power consumption
KR910001952B1 (ko) 키 회로
GB2343309A (en) Clock pulse generator for LCD
JP2907053B2 (ja) スイッチング速度変動検出装置
US4063113A (en) Logic transfer circuit employing MOS transistors
CN118783925A (zh) 一种低功耗触发器
Varma et al. A MOS approach to CMOS DET flip-flop design
Sellai et al. Resonant tunneling diode circuits using Pspice

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20031216

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7426

Effective date: 20031216

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20031216

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090109

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090109

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100109

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees