JP3500934B2 - Wafer peeling device - Google Patents

Wafer peeling device

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JP3500934B2
JP3500934B2 JP28587697A JP28587697A JP3500934B2 JP 3500934 B2 JP3500934 B2 JP 3500934B2 JP 28587697 A JP28587697 A JP 28587697A JP 28587697 A JP28587697 A JP 28587697A JP 3500934 B2 JP3500934 B2 JP 3500934B2
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gap
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、固定部材上にロッ
ト毎に隙間をあけて接着された複数のウェーハ列からウ
ェーハを剥離する装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for peeling a wafer from a plurality of wafer rows bonded on a fixing member with a lot for each lot.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体材料、磁性材料、セラミク
ス等のウェーハを作製するに際しては、これら材料をイ
ンゴットの状態で固定部材上に接着し、その後、ワイヤ
ソーを利用して、長さ方向に垂直な方向にスライスして
ウェーハ列とすることが行われている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when manufacturing wafers of semiconductor materials, magnetic materials, ceramics, etc., these materials are adhered to a fixing member in an ingot state, and then a wire saw is used to make a vertical direction. Slicing in various directions is performed as a wafer row.

【0003】固定部材上には、単結晶引上装置によって
作製した単結晶体から、1本あたり約300mmの長さに
切り出されたインゴットが接着剤を介して接着され、該
インゴットから得られるウェーハは、品質管理上の理由
等からロット毎に別々のカセットに収納される。
On the fixing member, an ingot cut out from a single crystal produced by a single crystal pulling apparatus to a length of about 300 mm is adhered with an adhesive agent, and a wafer obtained from the ingot Are stored in separate cassettes for each lot for reasons such as quality control.

【0004】なお、ワイヤソーによるスライスは、イン
ゴットを完全に切り終えた後、さらに固定部材の一部に
達する深さまで行われるため、スライス後のウェーハ列
は、それぞれが固定部材上に接着剤を介して接着された
状態にある。
Since the slicing with the wire saw is performed to a depth reaching a part of the fixing member after the ingot is completely cut, the wafer rows after slicing are each bonded to the fixing member with an adhesive. It is in a bonded state.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記単結晶
体から複数本のインゴットを切り出すと端材が余るが、
この端材についても、固定部材上に複数個接着(マルチ
マウント)した後、上述したスライス作業及びウェーハ
の剥離作業を行うようにすれば、無駄がなくなり、歩留
まりの向上を図ることができる。
By the way, when a plurality of ingots are cut out from the above-mentioned single crystal body, a scrap material is left over.
Also with respect to the scraps, if a plurality of the scraps are bonded (multi-mounted) on the fixing member and then the slicing work and the wafer peeling work described above are performed, waste can be eliminated and the yield can be improved.

【0006】しかしながら、このマルチマウントされた
固定部材には、異なるロットの端材が混在して接着され
ているため、これら端材から得られるウェーハをロット
毎に別々のカセットに収納するためには、ロットの切り
換わりを検知し、その検知結果に基づいて収納カセット
を交換する必要がある。
[0006] However, since the multi-mounting fixing member is made by adhering end pieces of different lots in a mixed manner, it is necessary to store the wafers obtained from the end pieces in different cassettes for each lot. It is necessary to detect the switching of lots and replace the storage cassette based on the detection result.

【0007】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、簡易構造にてロットの切り換わりを自動的に検知
し、同一カセットへの異ロット混入を確実に防止するこ
とのできるウェーハ剥離装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and a wafer peeling apparatus capable of automatically detecting a lot changeover with a simple structure and reliably preventing different lots from being mixed in the same cassette. The purpose is to provide.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するために以下の構成を採用した。請求項1記載のウ
ェーハ剥離は、固定部材上にロット毎に隙間をあけて接
着された複数のウェーハ列からウェーハを剥離する装置
であって、前記固定部材と各ウェーハ列との接着部分を
浸漬することにより接着強度を弱める軟化槽と、該軟化
槽内に配された前記ウェーハ列の最端部に位置するウェ
ーハを吸着するウェーハ吸着盤と、該ウェーハ吸着盤を
駆動して、吸着したウェーハを前記固定部材から剥離す
る第1の駆動手段と、前記各ウェーハ列の配列方向に沿
って、前記ウェーハ吸着盤を駆動する第2の駆動手段
と、前記隙間を検出するとともに、剥離後別処理の行わ
れたウェーハを前記ロット毎に異なるカセットに収納す
るカセット収納手段に、ロットの切り換わりを知らせる
隙間検出手段とを備え、前記隙間検出手段が、前記隙間
の位置に対応して、前記第2の駆動手段によるウェーハ
吸着盤の移動方向に沿う前記軟化槽の側壁に、前記ウェ
ーハ列に接することなく設けられる隙間指示部材と、前
記第2の駆動手段により前記ウェーハ吸着盤とともに前
記側壁に沿って移動し、前記隙間指示部材に近接したと
きに該隙間指示部材を検知する指示部材検知部とを備え
ことを特徴とするものである。
The present invention has the following features to attain the object mentioned above. Wafer stripping according to claim 1 is an apparatus for stripping wafers from a plurality of wafer rows adhered to each other on a fixing member with a gap for each lot, and immersing a bonding portion between the fixing member and each wafer row. A softening tank for weakening the adhesive strength by doing, a wafer suction plate for sucking the wafer located at the end of the wafer row arranged in the softening tank, and driving the wafer suction plate to suck the wafer Driving means for peeling the wafer from the fixing member, second driving means for driving the wafer suction plate along the arrangement direction of each wafer row, and detecting the gap and performing another process after peeling. The cassette storage means for storing the processed wafers in the different cassettes for each lot, and the gap detection means for notifying the changeover of the lot are provided , and the gap detection means
Corresponding to the position of the wafer by the second driving means.
On the side wall of the softening tank along the moving direction of the suction cup, the wafer
-Gap indicator provided without touching the row
By the second drive means together with the wafer suction plate
When moving along the side wall and approaching the gap indicating member,
And an indicator member detecting section for detecting the gap indicator member.
It is characterized in that that.

【0009】このような構成によれば、まず、軟化槽内
に固定部材と各ウェーハ列との接着部分を浸漬させるこ
とにより、ウェーハが剥離可能な程度にまで接着強度が
弱められる。
According to this structure, first, by immersing the bonding portion between the fixing member and each wafer row in the softening tank, the bonding strength is weakened to such an extent that the wafer can be peeled off.

【0010】次に、第2の駆動手段を駆動して、ウェー
ハ吸着盤を軟化槽内に配されたウェーハ列の最端部に位
置するウェーハに接近させ、該ウェーハをウェーハ吸着
盤によって吸着する。
Next, the second driving means is driven to bring the wafer suction plate closer to the wafer located at the end of the wafer row arranged in the softening tank, and the wafer suction plate sucks the wafer. .

【0011】次いで、第1の駆動手段を駆動してウェー
ハを固定部材から剥離する。このようにして剥離された
ウェーハは、例えば、ウェーハ洗浄装置によって洗浄さ
れた後、カセット収納手段によって、ロット毎に別々の
カセットに収納される。
Next, the first driving means is driven to peel the wafer from the fixing member. The wafers thus peeled off are cleaned by, for example, a wafer cleaning device, and then stored in separate cassettes for each lot by the cassette storage means.

【0012】上述の工程が繰り返し行われると、ウェー
ハ吸着盤は、ウェーハの剥離が終わるたびに、第2の駆
動手段によってウェーハ列の配列方向に順次移動させら
れてゆく。
When the above steps are repeated, the wafer suction plate is sequentially moved in the array direction of the wafer rows by the second driving means each time the wafer is completely peeled off.

【0013】そして、隙間検出手段がウェーハ列同士の
隙間を検出すると、これをロットの切り換わりとして前
記カセット収納手段に知らせ、ウェーハ剥離装置からカ
セットまでの間を移動中のウェーハがカセットに全て収
納されたところで、該収納中のカセットは空カセットに
交換される。
When the gap detecting means detects the gap between the wafer rows, it notifies the cassette accommodating means as a lot switching, and all the wafers moving between the wafer peeling device and the cassette are accommodated in the cassette. After that, the cassette in the storage is replaced with an empty cassette.

【0014】[0014]

【0015】また、軟化槽内に固定部材と各ウェーハ列
との接着部分を浸漬させた後、ウェーハ列同士の隙間の
位置に対応させて、隙間指示部材を第2の駆動手段の移
動方向に沿う軟化槽の側壁から突出するように、予め設
けておく。
Further, after the bonding portion between the fixing member and each wafer row is immersed in the softening tank, the gap indicating member is moved in the moving direction of the second drive means in correspondence with the position of the gap between the wafer rows. It is provided in advance so as to project from the side wall of the softening tank along the line.

【0016】そして、ウェーハ吸着盤が、上述と同様に
して、ウェーハを固定部材から剥離しつつ第2の駆動手
段によってウェーハ列の配列方向、すなわち、軟化槽の
側壁に沿って移動してゆくと、当該ウェーハ吸着盤とと
もに移動する指示部材検知部が、隙間指示部材の下方を
通過した時に該隙間指示部材、すなわち、ウェーハ列同
士の隙間が検知される。
Then, in the same manner as described above, the wafer suction plate moves along the arrangement direction of the wafer rows, that is, along the side wall of the softening tank by the second driving means while separating the wafer from the fixing member. When the indicating member detection unit that moves together with the wafer suction plate passes below the gap indicating member, the gap indicating member, that is, the gap between the wafer rows is detected.

【0017】このように、指示部材検知部は、軟化槽の
側壁から突出状態に配される隙間指示部材の下方を通過
するように構成されているため、その移動を阻害される
ことがない。従って、隙間指示部材を指示部材検知部の
移動軸線上から退避させる必要がない。
As described above, since the indicating member detecting portion is configured so as to pass below the gap indicating member arranged in a protruding state from the side wall of the softening tank, its movement is not hindered. Therefore, it is not necessary to retract the gap indicating member from the movement axis of the indicating member detecting portion.

【0018】請求項2記載のウェーハ剥離装置は、固定
部材上にロット毎に隙間をあけて接着された複数のウェ
ーハ列からウェーハを剥離する装置であって、前記固定
部材と各ウェーハ列との接着部分を浸漬することにより
接着強度を弱める軟化槽と、該軟化槽内に配された前記
ウェーハ列の最端部に位置するウェーハを吸着するウェ
ーハ吸着盤と、該ウェーハ吸着盤を駆動して、吸着した
ウェーハを前記固定部材から剥離する第1の駆動手段
と、前記各ウェーハ列の配列方向に沿って、前記ウェー
ハ吸着盤を駆動する第2の駆動手段と、前記隙間を検出
するとともに、剥離後別処理の行われたウェーハを前記
ロット毎に異なるカセットに収納するカセット収納手段
に、ロットの切り換わりを知らせる隙間検出手段とを備
え、前記隙間検出手段が、ウェーハの吸着状態を検知す
る吸着検知部と、前記第2の駆動手段により前記ウェー
ハ吸着盤が前進移動を開始してから、ウェーハを吸着す
るまでの間隔に基づき前記隙間を検知する隙間検知部と
を備えることを特徴とするものである。
The wafer peeling apparatus according to claim 2 Symbol mounting is fixed
Multiple wafers that are bonded to each other with a gap for each lot
A device for peeling wafers from the wafer
By immersing the bonding part between the member and each wafer row
A softening tank for weakening the adhesive strength, and the above-mentioned placed in the softening tank
Wafers that attract the wafers located at the end of the wafer row
-Ha suction plate and the wafer suction plate are driven to suck
First driving means for separating the wafer from the fixing member
And the wafers along the arrangement direction of the wafer rows.
C Second drive means for driving the suction plate and detection of the gap
In addition to the above
Cassette storage means that stores in different cassettes for each lot
In addition, it is equipped with gap detection means to notify lot switching.
The gap detecting means detects the suction state of the wafer by a suction detecting portion, and the second driving means causes the wafer suction plate to start advancing, and based on an interval from when the wafer is sucked, A gap detection unit for detecting a gap is provided.

【0019】このような構成では、同一ロットのウェー
ハ列からウェーハを順次剥離している場合よりも、該ウ
ェーハ列の最後のウェーハを剥離してから、所定の隙間
をおいて配される別ロットのウェーハ列からウェーハを
剥離する場合の方が、第2の駆動手段によるウェーハ吸
着盤の前進移動距離および移動時間が長くなるので、こ
の移動距離または移動時間に基づいて隙間を検知するこ
とができる。
In such a configuration, the last wafer in the wafer row is peeled off, and then a different lot is placed with a predetermined gap, as compared with the case where the wafers are sequentially peeled from the wafer row in the same lot. In the case of separating the wafer from the wafer row, the forward movement distance and the movement time of the wafer suction plate by the second drive means become longer, so that the gap can be detected based on the movement distance or the movement time. .

【0020】特に、第2の駆動手段によるウェーハ吸着
盤の前進移動を、所定の移動ピッチに設定するのではな
く、吸着検知部によるウェーハの吸着状態に基づいて制
御するようにした場合には、軟化槽内において最端部に
位置するウェーハが傾いて、その上端が隣りに位置する
ウェーハの上端に密着していても、当該傾いたウェーハ
を確実に吸着することができる。
In particular, when the forward movement of the wafer suction plate by the second driving means is not set at a predetermined movement pitch but is controlled based on the wafer suction state by the suction detector, Even if the wafer located at the end in the softening tank is tilted and its upper end is in close contact with the upper ends of the adjacent wafers, the tilted wafer can be surely adsorbed.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係るウェーハ剥離
装置の第一の実施形態について、図1〜図4を参照しな
がら説明する。本実施形態において剥離の対象となるワ
ークは、図4に示すように、固定部材1上のウェーハ列
W1,W2,…である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A first embodiment of a wafer peeling apparatus according to the present invention will be described below with reference to FIGS. In the present embodiment, the workpieces to be separated are the wafer rows W1, W2, ... On the fixing member 1, as shown in FIG.

【0022】固定部材1は、カーボン2、ガラス3、鉄
製基台4から構成されており、各ウェーハ列Wは、イン
ゴットの端材が固定部材1上に互いに隙間をおいて複数
個接着された後、ワイヤソーにより長さ方向に垂直な方
向にスライスされたものである。
The fixing member 1 is composed of carbon 2, glass 3, and an iron base 4, and in each wafer row W, a plurality of ingots of the ingot are bonded on the fixing member 1 with a gap therebetween. After that, it is sliced in a direction perpendicular to the length direction by a wire saw.

【0023】ここで、ワイヤソーによるスライスは、カ
ーボン2の深さまで行われており、各ウェーハ間は、完
全に切り離されているが、個々には、固定部材1上に接
着された状態で並置されている。
Here, the slicing with the wire saw is performed to the depth of the carbon 2, and the wafers are completely separated from each other, but they are individually juxtaposed on the fixing member 1 in a state of being adhered. ing.

【0024】そして、ウェーハ剥離装置10は、洗浄装
置(図示略)によって洗浄されたウェーハ列W1,W2,
…の端部からウェーハを1枚ずつ剥離させるためのもの
であり、1枚ずつの剥離を自動化している。
The wafer stripping apparatus 10 is provided with a wafer array W1, W2, which has been cleaned by a cleaning device (not shown).
This is for peeling the wafers one by one from the end portion of ..., and the peeling of each wafer is automated.

【0025】このウェーハ剥離装置10は、図1〜図3
に示すように、軟化槽11、ウェーハ吸着盤12、吸着
盤用ロータリアクチュエータ(第1の移動手段)13、
押え部材14、押え部材用ロータリアクチュエータ1
5、スライドテーブル16、スライドモータ17(第2
の駆動手段)、ボール螺子17a、テーブル本体17
b、ドグ18(隙間指示部材)、及び検出子19(指示
部材検知部)を備えて概略構成されている。
This wafer peeling apparatus 10 is shown in FIGS.
, A softening tank 11, a wafer suction plate 12, a suction plate rotary actuator (first moving means) 13,
Presser member 14, rotary actuator 1 for presser member
5, slide table 16, slide motor 17 (second
Drive means), ball screw 17a, table body 17
b, a dog 18 (gap indicating member), and a detector 19 (indicator detecting unit) are provided.

【0026】軟化槽11は、固定部材1に各ウェーハ列
Wを接着している接着剤を軟化させるためのもので、ヒ
ータ11aと、軟化槽11内に固定部材1を固定するた
めの固定用フレーム11bとを備えている。
The softening tank 11 is for softening the adhesive agent that bonds each wafer row W to the fixing member 1, and is for fixing the heater 11 a and the fixing member 1 in the softening tank 11. And a frame 11b.

【0027】ヒータ11aは、軟化槽11内に貯留され
る温水を所定の温度に加熱維持するためのであり、本実
施形態においては、接着剤がエポキシ系接着剤であるこ
とに基づき、温水の温度は温度計11cの管理下で約9
0℃に設定される。
The heater 11a is for heating and maintaining the hot water stored in the softening tank 11 at a predetermined temperature. In the present embodiment, the temperature of the hot water is based on the fact that the adhesive is an epoxy adhesive. Is about 9 under the control of thermometer 11c
Set to 0 ° C.

【0028】また、軟化槽11は、図2に示すように、
内槽部11Aと外槽部11Bとからなる二槽構造とされ
ている。内槽部11Aの角部には、水供給源(図示略)
から常時供給される水を底部に案内する水供給管11d
が配され、その角部の対角位置にて一段低められた段部
11eから溢れ出た温水が、外槽部11Bに受け入れら
れるようになっている。
The softening tank 11 is, as shown in FIG.
It has a two-tank structure including an inner tank portion 11A and an outer tank portion 11B. A water supply source (not shown) is provided at a corner of the inner tank portion 11A.
Water supply pipe 11d for guiding the water constantly supplied from the bottom
The hot water overflowing from the stepped portion 11e that is lowered one step at the diagonal position of the corner portion is received by the outer tank portion 11B.

【0029】段部11eには、所定の間隔をおいて軟化
槽11の深さ方向に延在し、かつ当該段部11eを囲む
ように堰止め板11fが槽壁に接合されている。この堰
止め板11fは、その上端が段部11eよりも上方に突
出するとともに、その下端は軟化槽11の底面から離間
しており、該底面との隙間11gから図3の矢印で示す
ように温水が流れ、段部11eから外槽部11Bに溢れ
出るようになっている。
A blocking plate 11f is joined to the wall of the step portion 11e so as to extend in the depth direction of the softening tank 11 at a predetermined interval and surround the step portion 11e. This damming plate 11f has its upper end protruding above the stepped portion 11e, and its lower end separated from the bottom surface of the softening tank 11, and as shown by the arrow in FIG. Warm water flows and overflows from the step 11e to the outer tub 11B.

【0030】ウェーハ吸着盤12は、図示しない真空吸
着源に接続されて、ウェーハ列W1の最端部に位置する
1枚のウェーハW11(図4参照)を吸着するものであ
る。このウェーハ吸着盤12は、図1の二点鎖線で示す
ように、旋回アーム12aを介して吸着盤用ロータリア
クチュエータ13により回転駆動される。
The wafer suction plate 12 is connected to a vacuum suction source (not shown) and sucks one wafer W11 (see FIG. 4) located at the end of the wafer row W1. As shown by the chain double-dashed line in FIG. 1, this wafer suction plate 12 is rotationally driven by a suction plate rotary actuator 13 via a swing arm 12a.

【0031】すなわち、吸着盤用ロータリアクチュエー
タ13の作動により、ウェーハ吸着盤12に吸着されて
いるウェーハは、その面方向に移動され、ウェーハ列W
の領域外へと移動させられる。この場合、剥離されたウ
ェーハの受け側には、旋回アーム12aを柔軟に受け止
めるためのショックアブソーバ12bが設けられてい
る。
That is, by the operation of the rotary actuator 13 for the suction plate, the wafer sucked on the wafer suction plate 12 is moved in the plane direction thereof, and the wafer row W is moved.
Be moved out of the area. In this case, a shock absorber 12b for flexibly receiving the revolving arm 12a is provided on the receiving side of the separated wafer.

【0032】押え部材14は、図4の状態では、ウェー
ハ列W1の最端部付近を覆い、該ウェーハ列W1の最端部
に位置する1枚のウェーハW11のみを挿通させ、かつ該
ウェーハW11に隣接するウェーハW12を移動させないよ
うに押さえておくことを目的とするものであり、押え部
材用ロータリアクチュエータ15により、押え位置14
Aと退避位置14Bとの間を回転駆動される。
In the state shown in FIG. 4, the holding member 14 covers the vicinity of the outermost end of the wafer row W1, allows only one wafer W11 located at the outermost end of the wafer row W1 to pass through, and the wafer W11. The purpose is to hold the wafer W12 adjacent to the wafer W12 so that it does not move.
It is rotationally driven between A and the retracted position 14B.

【0033】また、押え部材14には、前記目的のた
め、ウェーハ列W1の最端部付近を覆った際に、1枚の
ウェーハW11のみが挿通し得る隙間のスリットが形成さ
れるとともに、ウェーハ吸着盤12の移動または通過を
許容する切欠14aが形成されている。
For the above-mentioned purpose, the pressing member 14 is formed with a slit having a gap through which only one wafer W11 can be inserted when the vicinity of the outermost end of the wafer row W1 is covered. A notch 14a is formed to allow the suction plate 12 to move or pass.

【0034】スライドモータ17は、ウェーハの剥離が
終わるたびに、ボール螺子17aに沿って、ウェーハ吸
着盤12、旋回アーム12a、吸着盤用ロータリアクチ
ュエータ13、押え部材14、押え部材用ロータリアク
チュエータ15、スライドテーブル16及び検出子19
が、テーブル本体17b介してテーブル基台17cに固
定されてなる集合体を、図2において矢印Aで示す方向
に、所定長ずつ移動させるものである。
The slide motor 17 includes a wafer suction plate 12, a swivel arm 12a, a suction plate rotary actuator 13, a holding member 14, a holding member rotary actuator 15 along the ball screw 17a every time the wafer is peeled off. Slide table 16 and detector 19
However, the assembly fixed to the table base 17c via the table body 17b is moved by a predetermined length in the direction indicated by the arrow A in FIG.

【0035】テーブル本体17bは、図2に示すよう
に、ボール螺子17aに螺合するテーブル基台17cの
上に、ボルト17d,17eによって固定されている。
また、テーブル本体17bには、ボルト17dを中心に
当該テーブル本体17bをテーブル基台17cに対して
所定の角度スライドさせた状態で固定可能とする円弧状
に延びる長孔17fが形成されている。
As shown in FIG. 2, the table body 17b is fixed by bolts 17d and 17e on a table base 17c which is screwed into the ball screw 17a.
Further, the table body 17b is formed with an elongated hole 17f extending in an arc shape that can be fixed around the bolt 17d while the table body 17b is slid with respect to the table base 17c by a predetermined angle.

【0036】そして、テーブル本体17bは、手動また
はテーブル駆動アクチュエータの作動によって、所定の
角度内で、テーブル基台17cに対して角度をつけて固
定することができる。
The table body 17b can be fixed to the table base 17c at an angle within a predetermined angle, either manually or by operating a table drive actuator.

【0037】これにより、例えば、固定部材1上に接着
されたウェーハ列Wが、ワイヤソーによって、長さ方向
に対して斜めに交差する方向にスライスされた、いわゆ
る角度切りされたものであっても、ウェーハの軸芯とウ
ェーハ吸着盤12の軸芯とを一致させることによって、
ウェーハの吸着を確実なものにすることができる。
As a result, for example, even if the wafer row W adhered on the fixing member 1 is sliced by the wire saw in the direction diagonally intersecting the length direction, that is, the so-called angle cutting is performed. By aligning the axis of the wafer with the axis of the wafer suction plate 12,
It is possible to secure the suction of the wafer.

【0038】ドグ18は、軟化槽11内に配されたウェ
ーハ列W1,W2同士の隙間の位置に対応して、スライド
モータ17によるウェーハ吸着盤12の移動方向に沿う
当該軟化槽11の槽壁に、その壁面から被検出面18a
が突出するように該槽璧を把持するクリップ部18bに
より着脱自在に固定されている。
The dog 18 corresponds to the position of the gap between the wafer rows W1 and W2 arranged in the softening tank 11 and the wall of the softening tank 11 along the moving direction of the wafer suction plate 12 by the slide motor 17. Then, from the wall surface to the detected surface 18a
Is detachably fixed by a clip portion 18b which holds the tank wall so as to project.

【0039】検出子19は、ドグ18とともに近接スイ
ッチを構成し、カセット収納手段(図示略)にロットの
切り換わりを知らせるものである。そして、これらドグ
18及び検出子19は、本実施形態における隙間検出手
段を構成している。
The detector 19 constitutes a proximity switch together with the dog 18, and informs the cassette storing means (not shown) of the lot switching. Then, the dog 18 and the detector 19 constitute the gap detecting means in the present embodiment.

【0040】なお、カセット収納手段は、ウェーハ剥離
装置10によって剥離された後、洗浄工程等の後処理を
経たウェーハを、ロット毎に別々のカセット(図示略)
に収納するものである。
The cassette accommodating means separates the wafers, which have been separated by the wafer separating device 10 and which have undergone post-treatments such as a cleaning process, into separate cassettes (not shown) for each lot.
To be stored in.

【0041】次に、ウェーハ剥離装置10の作用につい
て説明する。まず、各ウェーハ列Wと固定部材1との間
の接着部分を、ヒータ11aによって約90℃に維持さ
れた軟化槽11中に浸漬し、固定部材1を固定用フレー
ム11bにより固定する。すると、接着剤が軟化し、ウ
ェーハの剥離が容易となる。
Next, the operation of the wafer peeling apparatus 10 will be described. First, the bonded portion between each wafer row W and the fixing member 1 is immersed in the softening tank 11 maintained at about 90 ° C. by the heater 11a, and the fixing member 1 is fixed by the fixing frame 11b. Then, the adhesive softens and the wafer is easily peeled off.

【0042】次に、押え部材用ロータリアクチュエータ
15を作動させ、退避位置14B(図1参照)としてお
いた押え部材14を押え位置14Aに移動させる。そし
て、ウェーハ吸着盤12によりウェーハ列W1の最端部
に位置する1枚のウェーハW11を吸着する。
Next, the holding member rotary actuator 15 is operated to move the holding member 14 set as the retracted position 14B (see FIG. 1) to the holding position 14A. Then, the wafer suction plate 12 sucks one wafer W11 located at the end of the wafer row W1.

【0043】その後、スライドテーブル16を駆動し
て、吸着盤用ロータリアクチュエータ13の軸を横方向
にスライド移動させることにより、ウェーハW11は、ウ
ェーハ吸着盤12に吸着されたままの状態で、図1およ
び図2において矢印Bで示すように、当該ウェーハW11
の面方向に移動させられる。
After that, the slide table 16 is driven to slide the axis of the suction plate rotary actuator 13 in the lateral direction, so that the wafer W11 is kept sucked by the wafer suction plate 12 as shown in FIG. And as indicated by arrow B in FIG.
Can be moved in the plane direction.

【0044】これにより、接着点10aから接着点10
b(図1参照)にわたるウェーハW11と固定部材1との
接着部分のうち、接着箇所の端点10bを支点としてウ
ェーハW11が固定部材1に対して回転し、他の端点10
a側から、徐々にかつ連続的に、軟化された接着部分が
剥がれていくことになる。
As a result, the adhesion points 10a to 10
b (see FIG. 1), the wafer W11 is rotated with respect to the fixed member 1 with the end point 10b of the bonded portion serving as a fulcrum among the bonded portions between the wafer W11 and the fixed member 1 and the other end points 10
The softened adhesive portion is gradually and continuously peeled off from the a side.

【0045】次に、ウェーハW11を、ウェーハ吸着盤1
2に吸着した状態のまま、ウェーハ吸着盤12と共に図
1において矢印Cで示すように、押え部材14のスリッ
ト14aを挿通させて、吸着盤用ロータリアクチュエー
タ13により回転駆動する。
Next, the wafer W11 is transferred to the wafer suction plate 1
In the state of being adsorbed on No. 2, the slit 14a of the pressing member 14 is inserted together with the wafer suction disc 12 as shown by an arrow C in FIG. 1, and is rotationally driven by the suction disc rotary actuator 13.

【0046】このとき、押え部材14は、ウェーハ列W
1の最端部付近を覆ったままの状態であるが、ウェーハ
吸着盤12の移動は、押え部材14に形成された切欠1
4aにより許容されているため、ウェーハW11は、1枚
だけが固定部材1から剥離されることになる。
At this time, the pressing member 14 moves the wafer row W
Although the vicinity of the end of 1 is still covered, the movement of the wafer suction plate 12 is caused by the notch 1 formed in the holding member 14.
Since it is allowed by 4a, only one wafer W11 is separated from the fixing member 1.

【0047】そして、ウェーハW11,W12,…の剥離が
終わるたびに、スライドモータ17が作動し、検出子1
9は、ウェーハ吸着盤12、吸着盤ロータリアクチュエ
ータ13等とともに、図2において矢印Aで示す方向に
移動させられ、ついには、ドグ18の被検出面18aの
下方位置に達する。
Each time the wafers W11, W12, ... Are peeled off, the slide motor 17 is activated and the detector 1
9 is moved in the direction shown by the arrow A in FIG. 2 together with the wafer suction plate 12, the suction plate rotary actuator 13 and the like, and finally reaches the position below the detection surface 18a of the dog 18.

【0048】すると、検出子19によって、被検出面1
8a、すなわちウェーハ列W1,W2同士の隙間が検出さ
れるとともに、これをロットの切り換わりとして、前記
カセット収納手段に知らせ、ウェーハ剥離装置10から
カセットまでの間を移動中のウェーハが該カセットに全
て収納されたところで、収納中のカセットは空カセット
に交換される。
Then, the surface 19 to be detected is detected by the detector 19.
8a, that is, the gap between the wafer rows W1 and W2 is detected, and this is notified to the cassette storing means as a lot switching, and the wafer moving between the wafer peeling device 10 and the cassette is transferred to the cassette. When all the cassettes are stored, the cassettes being stored are replaced with empty cassettes.

【0049】以上説明したように、本実施形態のウェー
ハ剥離装置10は、軟化槽11内におけるウェーハ列W
1,W2同士の隙間の位置に対応させて、被検出面18a
が当該軟化槽11の槽壁から突出するようにドグ18を
予め設け、該槽壁に沿ってウェーハ吸着盤12とともに
移動する検出子19が、前記被検出面18aの下方を通
過した時に該被検出面18aを検知するように構成され
ている。
As described above, the wafer stripping apparatus 10 of the present embodiment has the wafer row W in the softening tank 11.
Detected surface 18a corresponding to the position of the gap between 1 and W2
Is provided in advance so as to project from the tank wall of the softening tank 11, and the detector 19 that moves along with the wafer suction plate 12 along the tank wall passes below the detected surface 18a. It is configured to detect the detection surface 18a.

【0050】このため、検出子19の移動が阻害される
ことがなく、ドグ18を当該検出子19の移動軸線上か
ら退避させる必要がない。従って、前記移動軸線上から
ドグ18を退避させるための特別な退避機構を設けるこ
となく、マルチマウントされたウェーハ列W1,W2,…
からのウェーハ剥離作業を自動化することができる。
Therefore, the movement of the detector 19 is not hindered, and it is not necessary to retract the dog 18 from the movement axis of the detector 19. Therefore, the multi-mounted wafer rows W1, W2, ... Are provided without providing a special retracting mechanism for retracting the dog 18 from the movement axis.
The wafer peeling work from can be automated.

【0051】次に、本発明に係るウェーハ剥離装置の第
二の実施形態について、図2,図4及び図5を参照しな
がら説明する。本実施形態では、上述した第一の実施形
態と比較して、隙間検出手段の構成が相違するだけで、
その他の構成要素は同一の構成である。よって、以下、
隙間検出手段の構成についてのみ説明する。
Next, a second embodiment of the wafer peeling apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. 2, 4 and 5. In the present embodiment, as compared with the above-described first embodiment, only the configuration of the gap detection means is different,
The other components have the same configuration. Therefore,
Only the structure of the gap detecting means will be described.

【0052】本実施形態における隙間検出手段は、ウェ
ーハの吸着状態を検知する吸着検知部(図示略)と、前
記スライドモータ17の作動によりウェーハ吸着盤12
が図2における矢印A方向に前進移動を開始してから、
ウェーハを吸着するまでの間隔に基づいて、ウェーハ列
同士の隙間を検知する隙間検知部(図示略)とを備えて
構成されるものである。
The gap detecting means in the present embodiment is a suction detection unit (not shown) for detecting the suction state of the wafer and the wafer suction plate 12 by the operation of the slide motor 17.
Starts moving forward in the direction of arrow A in FIG.
A gap detection unit (not shown) that detects a gap between wafer rows based on the distance until the wafer is adsorbed is configured.

【0053】吸着検知部としては、例えば、前記真空吸
着源による吸引力の値に基づいて、ウェーハ吸着盤12
がウェーハを吸着したか否かを検知するものが採用され
る。また、隙間検知部としては、タイマーを備え、スラ
イドモータ17の駆動手段によりウェーハ吸着盤12が
前進移動を開始してから、前記吸着検知部により該ウェ
ーハ吸着盤12がウェーハを吸着するまでの時間を測定
し、その測定結果に基づいて前記隙間を検知するものが
採用される。
As the suction detection unit, for example, the wafer suction plate 12 is based on the value of the suction force of the vacuum suction source.
A device that detects whether or not the wafer has attracted the wafer is adopted. Further, as the gap detection unit, a timer is provided, and the time from the start of the forward movement of the wafer suction plate 12 by the driving means of the slide motor 17 to the time when the wafer suction plate 12 sucks the wafer by the suction detection unit. Is used and the gap is detected based on the measurement result.

【0054】そして、かかる構成においては、図4に示
すように、同一ロットのウェーハ列W1からウェーハW1
1,W12,…を順次剥離している場合よりも、該ウェー
ハ列W1の最後のウェーハW1nを剥離してから、所定の
隙間をおいて配される別ロットのウェーハ列W2の最端
部に位置するウェーハW21を剥離する場合の方が、スラ
イドモータ17の作動によるウェーハ吸着盤12の移動
時間が長くなるので、この移動時間に基づいて隙間を検
出することができる。
Then, in such a configuration, as shown in FIG. 4, wafers W1 to W1
Relative to the case where 1, W12, ... Are sequentially peeled, the last wafer W1n of the wafer row W1 is peeled, and then the wafer is placed at the end of another row of wafer rows W2 of a different lot. When the positioned wafer W21 is peeled off, the movement time of the wafer suction plate 12 due to the operation of the slide motor 17 becomes longer, so that the gap can be detected based on this movement time.

【0055】そして、この検出結果は、前記第一の実施
形態の場合と同様に、ロットの切り換わりとしてカセッ
ト収納手段に知らされ、ウェーハ剥離装置からカセット
までの間を移動中のウェーハが該カセットに全て収納さ
れたところで、収納中のカセットは空カセットに交換さ
れる。
As in the case of the first embodiment, the detection result is notified to the cassette storing means as the lot switching, and the wafer moving between the wafer peeling device and the cassette is transferred to the cassette. When all of the cassettes are stored in, the cassettes being stored are replaced with empty cassettes.

【0056】以上説明したように、本実施形態のウェー
ハ剥離装置によれば、スライドモータ17によるウェー
ハ吸着盤12の前進移動を、所定長に設定された移動ピ
ッチによらず、前記吸着検知部によるウェーハの吸着状
態に基づいて制御しつつ、隙間を検知することができ
る。
As described above, according to the wafer peeling apparatus of the present embodiment, the forward movement of the wafer suction plate 12 by the slide motor 17 is performed by the suction detection unit regardless of the movement pitch set to the predetermined length. The gap can be detected while controlling based on the suction state of the wafer.

【0057】従って、図5に示すように、最端部に位置
して次に吸着されるべきウェーハWaの上端がその隣り
に位置するウェーハWbの上端に密着するように傾斜し
ていても、当該傾斜したウェーハWaを吸着するまでウ
ェーハ吸着盤12がスライドモータ17により駆動され
るので、ウェーハWaを確実に吸着することができる。
Therefore, as shown in FIG. 5, even if the upper end of the wafer Wa to be adsorbed next at the outermost end is inclined so as to be in close contact with the upper end of the wafer Wb adjacent thereto, Since the wafer suction plate 12 is driven by the slide motor 17 until the inclined wafer Wa is sucked, the wafer Wa can be surely sucked.

【0058】なお、本実施形態では、スライドモータ1
7によるウェーハ吸着盤12の前進移動時間に基づい
て、隙間を検知するようにしているが、これに限らず、
該ウェーハ吸着盤の移動距離に基づいて、隙間を検知す
るようにしてもよい。
In this embodiment, the slide motor 1
Although the gap is detected based on the forward movement time of the wafer suction plate 12 by 7, it is not limited to this.
The gap may be detected based on the moving distance of the wafer suction plate.

【0059】また、上述の各実施形態では、隙間の検出
結果を、カセット収納手段にのみ知らせる構成としてい
るが、これに限定されるものでなく、例えば、洗浄装置
のように、後処理に供される各装置に隙間を検出したこ
とを知らせ、これらの装置を適宜制御するようにしても
よい。
Further, in each of the above-described embodiments, the detection result of the gap is notified only to the cassette housing means, but the present invention is not limited to this, and is used for post-processing such as a cleaning device. It is also possible to notify each of the devices described above that the gap has been detected and control these devices appropriately.

【0060】[0060]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、次のような効果を奏することができる。 (a)請求項1記載のウェーハ剥離装置によれば、隙間
検出手段によって、固定部材上に接着された複数のウェ
ーハ列同士の隙間を検出して、カセット収納手段にロッ
トの切り換わりを知らせることができるので、固定部材
上にロット毎に隙間をあけて接着された複数のウェーハ
列からウェーハを1枚づつ剥離する装置を自動化して、
ウェーハの剥離から収納に至るまでの作業性を飛躍的に
高めることができる。 (b)また、第1の駆動手段によるウェーハの剥離が終
わるごとに、第2の駆動手段によって指示部材検知部が
ウェーハ吸着盤とともに軟化槽の側壁に沿って移動させ
られ、該指示部材検知部が側壁から突出する隙間指示部
材に近接したときに隙間を検知するように構成されてい
るため、指示部材検知部の移動が隙間指示部材によって
阻害されることがない。
As is apparent from the above description, according to the present invention, the following effects can be obtained. (A) According to the wafer stripping apparatus of claim 1, the gap detecting means detects a gap between a plurality of wafer rows adhered on the fixing member and notifies the cassette storing means of the lot switching. Since it is possible to automate, a device that peels wafers one by one from a plurality of wafer rows that are bonded to each other with a gap for each lot on the fixing member,
The workability from the peeling of the wafer to the storage can be dramatically improved. (B) Further , every time the wafer is peeled off by the first driving means, the indicating member detection section is moved along with the wafer suction plate along the side wall of the softening tank by the second driving means, and the indicating member detection section is moved. Gap indicator where the side wall protrudes
Since the gap is detected when the gap is approached to the material, the gap indicating member does not hinder the movement of the indicating member detection unit.

【0061】よって、隙間指示部材を指示部材検知部の
移動軸線上から退避させるための退避機構を不要とし、
ウェーハ剥離装置の全体構造をより簡単なものとした作
業の自動化を実現することができる。
Therefore, the retracting mechanism for retracting the gap indicating member from the moving axis of the indicating member detecting section is unnecessary,
It is possible to realize automation of the work which makes the entire structure of the wafer peeling device simpler.

【0062】(c)請求項2記載のウェーハ剥離装置に
よれば、第2の駆動手段によりウェーハ吸着盤が移動を
開始してから、ウェーハを吸着するまでの間隔に基づい
て隙間を検知することができるので、第2の駆動手段に
よるウェーハ吸着盤の前進移動を該ウェーハ吸着盤の移
動ピッチによらず、吸着検知部によるウェーハの吸着状
態に基づいて制御しつつ、隙間の検知が可能となる。
[0062] (c) According to the wafer peeling apparatus according to claim 2 Symbol placement, to detect the gap based on the interval of the wafer suction disc from the start of the movement by the second drive means until the adsorption of the wafer Therefore, it is possible to detect the gap while controlling the forward movement of the wafer suction plate by the second drive means based on the wafer suction state by the suction detection unit regardless of the movement pitch of the wafer suction plate. Become.

【0063】よって、軟化槽内において最端部に位置す
るウェーハの上端がその隣りに位置するウェーハの上端
に密着するように傾いている場合であっても、当該傾斜
したウェーハを確実に吸着することができる。
Therefore, even if the upper end of the wafer located at the end in the softening tank is tilted so as to be in close contact with the upper end of the wafer next to it, the tilted wafer is surely adsorbed. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明に係るウェーハ剥離装置の一実施形態
を示す一部を断面にした正面図である。
FIG. 1 is a partially sectional front view showing an embodiment of a wafer peeling apparatus according to the present invention.

【図2】 同ウェーハ剥離装置の要部を示す平面図であ
る。
FIG. 2 is a plan view showing a main part of the wafer peeling apparatus.

【図3】 同ウェーハ剥離装置の要部を示す側面図であ
る。
FIG. 3 is a side view showing a main part of the wafer peeling apparatus.

【図4】 同ウェーハ剥離装置が剥離の対象とするワー
クを示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a work to be peeled by the wafer peeling apparatus.

【図5】 同ワークにおいて、吸着すべきウェーハが傾
いて、その上端が隣合う他のウェーハの上端に密着した
状態を示す側面図である。
FIG. 5 is a side view showing a state in which the wafer to be attracted is tilted and its upper end is in close contact with the upper ends of other adjacent wafers in the work.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 固定部材 11 軟化槽 12 ウェーハ吸着盤 13 吸着盤用ロータリアクチュエータ(第1の駆動手
段) 17 スライドモータ(第2の駆動手段) 18 ドグ(隙間指示部材) 19 検出子(指示部材検知部) W ウェーハ列
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Fixing member 11 Softening tank 12 Wafer suction plate 13 Suction plate rotary actuator (first driving means) 17 Slide motor (second driving means) 18 Dog (gap indicating member) 19 Detector (indicating member detecting portion) W Wafer row

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平11−54462(JP,A) 特開 平9−237770(JP,A) 特開 平9−45640(JP,A) 特開 平1−230246(JP,A) 特開 平6−254786(JP,A) 特開 平2−95633(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A-11-54462 (JP, A) JP-A-9-237770 (JP, A) JP-A-9-45640 (JP, A) JP-A-1- 230246 (JP, A) JP-A-6-254786 (JP, A) JP-A-2-95633 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/304

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 固定部材上にロット毎に隙間をあけて接
着された複数のウェーハ列からウェーハを剥離する装置
であって、 前記固定部材と各ウェーハ列との接着部分を浸漬するこ
とにより接着強度を弱める軟化槽と、 該軟化槽内に配された前記ウェーハ列の最端部に位置す
るウェーハを吸着するウェーハ吸着盤と、 該ウェーハ吸着盤を駆動して、吸着したウェーハを前記
固定部材から剥離する第1の駆動手段と、 前記各ウェーハ列の配列方向に沿って、前記ウェーハ吸
着盤を駆動する第2の駆動手段と、 前記隙間を検出するとともに、剥離後別処理の行われた
ウェーハを前記ロット毎に異なるカセットに収納するカ
セット収納手段に、ロットの切り換わりを知らせる隙間
検出手段とを備え 前記隙間検出手段は、前記隙間の位置に対応して、前記
第2の駆動手段によるウェーハ吸着盤の移動方向に沿う
前記軟化槽の側壁に、前記ウェーハ列に接することなく
設けられる隙間指示部材と、 前記第2の駆動手段により前記ウェーハ吸着盤とともに
前記側壁に沿って移動し、前記隙間指示部材に近接した
ときに該隙間指示部材を検知する指示部材検知部とを備
えることを特徴とするウェーハ剥離装置。
1. An apparatus for peeling a wafer from a plurality of wafer rows adhered to each other on a fixing member with a gap for each lot, wherein the fixing member and each wafer row are adhered by immersing the bonded portion. A softening tank for weakening the strength, a wafer suction plate for sucking the wafer located at the end of the wafer row arranged in the softening tank, and driving the wafer suction plate to hold the sucked wafer by the fixing member. The first driving means for peeling from the wafer, the second driving means for driving the wafer suction plate along the arrangement direction of the wafer rows, the gap being detected, and another processing after peeling was performed. the wafer in the cassette storage means for storing the different cassette for each of the lots, and a gap detecting means for notifying the switching of the lot, the gap detection means, corresponding to the position of the gap Said
Along the moving direction of the wafer suction plate by the second driving means
On the side wall of the softening tank, without touching the wafer row
With the gap indicating member provided and the wafer suction plate by the second drive means
Moved along the side wall and approached the gap indicating member
And an indicator member detecting section for detecting the gap indicator member.
Wafer stripping device characterized by the above.
【請求項2】 固定部材上にロット毎に隙間をあけて接
着された複数のウェーハ列からウェーハを剥離する装置
であって、 前記固定部材と各ウェーハ列との接着部分を浸漬するこ
とにより接着強度を弱める軟化槽と、 該軟化槽内に配された前記ウェーハ列の最端部に位置す
るウェーハを吸着するウェーハ吸着盤と、 該ウェーハ吸着盤を駆動して、吸着したウェーハを前記
固定部材から剥離する第1の駆動手段と、 前記各ウェーハ列の配列方向に沿って、前記ウェーハ吸
着盤を駆動する第2の駆 動手段と、 前記隙間を検出するとともに、剥離後別処理の行われた
ウェーハを前記ロット毎に異なるカセットに収納するカ
セット収納手段に、ロットの切り換わりを知らせる隙間
検出手段とを備え、 前記隙間検出手段は、ウェーハの吸着状態を検知する吸
着検知部と、前記第2の駆動手段により前記ウェーハ吸
着盤が前進移動を開始してから、ウェーハを吸着するま
での間隔に基づき前記隙間を検知する隙間検知部とを備
えることを特徴とするウェーハ剥離装置。
2. A lot is provided on the fixing member for each lot, and a contact is made.
A device that separates wafers from multiple wafer rows
And immersing the bonding part between the fixing member and each wafer row.
Be located at the outermost ends of the softening tank weaken the adhesive strength, the wafer column arranged in softening tank by the
A wafer suction plate for sucking a wafer, and driving the wafer suction plate
The first driving means that separates from the fixing member and the wafer suction unit along the arrangement direction of the wafer rows.
A second drive moving means for driving the Chakuban, and detects the gap, were subjected to the different treatment after peeling
A unit that stores wafers in different cassettes for each lot.
A gap that informs the set storage means of lot switching
And a gap detecting means for detecting the suction state of the wafer.
Adhesion detection unit and the wafer sucking unit by the second driving unit.
Wait until the platen begins to move forward until it picks up the wafer.
Equipped with a gap detection unit that detects the gap based on the
Wafer stripping device characterized by the above.
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