JP3485484B2 - 感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂多層有機膜のレリーフパターンの形成方法 - Google Patents
感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂多層有機膜のレリーフパターンの形成方法Info
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Description
の表面を保護したり、半導体等の支持体にかかる応力を
緩和するため、耐熱性の保護膜を表面に形成する上にお
いて、樹脂膜の厚膜化や樹脂層間の密着性に優れた半導
体上の樹脂膜のレリーフパターンを形成する方法に関す
るものである。
に耐えうる優れた耐熱性を有し、段差の平坦化、応力の
緩和、メモリーセルのソフトエラーの防止等の理由で半
導体工業におけるパッシベーション膜、α線シールド
層、層間絶縁膜として利用されている。このポリイミド
樹脂をパッシベーション膜や層間絶縁膜として用いた半
導体装置として、LOC構造の半導体装置(特公昭61-2
18139号公報)やCu−ポリイミド多層配線構成体
(「日経エレクトロニクス」145〜158頁、1984年8
月27日号)が知られている。LOC構造の半導体装置
は、リードフレームにバッファーコート側から半導体チ
ップを熱圧着するが、この時の応力を緩和する必要があ
る。
は、配線に流れる電流が大きく、配線層間の絶縁を確保
する必要がある。このため、ポリイミド膜の厚膜化はし
ばしば要求される。しかし、通常のポリイミドは1回の
塗布で厚膜を形成するには高粘度のものを使用するため
平滑性が損なわれる等の問題が生じる。また、多層膜に
する場合は、ポリイミド膜間の接着が悪く、しばしば剥
離する。そこで改善のためシランカップリング剤の処理
などを行っているが完全なものは得られていない。ま
た、特許第2625910号にポリイミド積層膜の製造方法が
提案されているが、支持対との密着性の不足を補うため
1層目からパターン加工し、積層する形成方法にはなっ
ていない。
題点を解決するためになされたもので、その目的とする
ところは、積層による樹脂膜の厚膜化を可能にし、樹脂
層間の密着性に優れたレリーフパターンの形成方法を提
供することにある。
光性ポリベンゾオキサゾール樹脂膜を多層に形成してな
る多層有機膜であり、好ましい形態としては、該感光性
ポリベンゾオキサゾール樹脂がポジ型の感光性樹脂組成
物であり、該感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂が一般
式(I)で示されるポリアミド100重量部とジアゾナ
フトキノン1〜50重量部からなる多層有機膜である。
塗布、パターン加工を行った後、200℃以上の温度で
加熱処理し、更にその上に、同樹脂を塗布、パターン加
工後、200℃以上の温度で加熱処理することを繰り返
して得るレリーフパターンの形成方法であり、好ましい
形態としては、該感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂が
ポジ型の感光性樹脂組成物であり、該感光性ポリベンゾ
オキサゾール樹脂が一般式(I)で示されるポリアミド
100重量部とジアゾナフトキノン1〜50重量部から
なるレリーフパターンの形成方法である。
ために感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂を使用し、レ
リーフパターンを得るために、支持体上に感光性ポリベ
ンゾオキサゾール樹脂を塗布、パターン加工を行った
後、200℃以上で加熱処理した後、更に同樹脂を塗
布、パターン加工した後に200℃以上で加熱処理し、
上層を作成する複数層のレリーフパターンを得る方法で
ある。
サゾール樹脂は、ポリイミドと同様に耐熱性樹脂として
知られているが、従来のポリイミドでは難しかった多層
構造の膜を得ることは困難であり、多層有機膜を得るに
ポリベンゾオキサゾール樹脂を用いると極めて密着性に
優れた多層有機膜を得られるということを見いだしたも
のである。この効果の理由については不明であるが、ポ
リイミドよりもポリベンゾオキサゾール樹脂の方が、相
溶性に優れるなどが考えられる。
サゾール樹脂は、好ましくはポジ型の感光性樹脂組成物
である。更に、そのポジ型の感光性樹脂組成物はポリベ
ンゾオキサゾール樹脂が一般式(I)で示されるポリア
ミド100重量部とジアゾナフトキノンからなることで
が好ましい。
要な基板の場合に用いるが、その使用割合bについては
最大40モル%まで使用することができる。40モル%
を越えると樹脂の溶解性が極めて低下し、スカムが発生
し、パターン加工ができない。なお、これらX、Y、Z
の使用にあたっては、それぞれ1種類であっても2種類
以上の混合物であっても構わない。
は、1,2−ベンゾキノンジアジドあるいは1,2−ナ
フトキノンジアジド構造を有する化合物であり、米国特
許明細書第2,772,972号、第2,797,21
3号、第3,669,658号により公知の物質であ
る。
記のものがある。
脂の多層有機膜の形成方法は、まず前記のような感光性
ポリベンゾオキサゾール樹脂組成物を適当な支持体、例
えば、シリコンウェハー、セラミック、アルミ基板等に
塗布する。塗布方法としては、スピンナーを用いた回転
塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印
刷、ロールコーティング等がある。
膜を乾燥後、加熱処理を200℃以上で2分以上行い第
1層のポリベンゾオキサゾール樹脂膜を得る。加熱処理
方法としては、ホットプレート、オーブン等がある。第
2層以降のポリベンゾオキサゾール樹脂は、前述の方法
によって得られたポリベンゾオキサゾール樹脂塗膜上に
前述と同じ方法で塗布、加熱処理することにより積層す
る。この方法において、最上層の膜を除いて加熱処理は
温度を200℃以上で行う。200℃未満では上層の塗
膜をパターン加工した時にその下の膜にクラック(ひび
割れ)が発生する。また、最上層の膜の加熱処理は、閉
環に必要な温度(例えば350℃)で加熱し、耐熱性に
優れた有機多層膜を得る。
脂を用いたレリーフパターンの形成方法は、まず前記の
ような感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂組成物を適当
な支持体、例えば、シリコンウェハー、セラミック、ア
ルミ基板等に塗布する。塗布方法としては、スピンナー
を用いた回転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗
布、浸漬、印刷、ロールコーティング等がある。
膜を乾燥後、所望のパターン形状に化学線を照射する。
化学線としては、X線、電子線、紫外線、可視光線等が
使用できるが、200〜500nmの波長のものが好ま
しい。次に照射部を現像液で溶解除去することにより有
機膜を得る。現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸
化カリウム、炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタ
ケイ酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、
エチルアミン、n−プロピルアミン等の第1アミン類、
ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等の第2アミ
ン類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン等の第
3アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリエタノー
ルアミン等のアルコールアミン類、テトラメチルアンモ
ニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウムヒドロ
キシド等の第4級アンモニウム塩等のアルカリ類の水溶
液、及びこれにメタノール、エタノールのごときアルコ
ール類等の水溶性有機溶媒や界面活性剤を適当量添加し
た水溶液を好適に使用することができる。現像方法とし
ては、スプレー、パドル、浸漬、超音波等の方式が可能
である。
ーンをリンスする。リンス液としては、蒸留水を使用す
る。次に加熱処理を200℃以上2分以上で行い、第1
層のポリベンゾオキサゾール樹脂膜を得る。加熱処理方
法としては、ホットプレート、オーブン等がある。第2
層以降のポリベンゾオキサゾール樹脂は、前述の方法に
よって得られたポリベンゾオキサゾール樹脂塗膜上に前
述と同じ方法で塗布、パターン加工、加熱処理すること
により積層する。この方法において、最上層の膜を除い
て加熱処理は温度を200℃以上で行う。200℃未満
では上層の塗膜をパターン加工した時にその下の膜にク
ラック(ひび割れ)が発生する。また、最上層の膜の加
熱処理は、閉環に必要な温度(例えば350℃)で加熱
し、耐熱性に優れた多層の有機膜を得る。
層実装構造における層間絶縁膜として使用することがで
きる。また、各層で異なるパターン加工が容易なことか
らウェハ・レベルCSP(Chip Size Package)への適
応も期待できる。
び窒素ガス導入口を備えた四つ口セパラブルフラスコに
ジフェニルエーテル−4、4’−ジカルボン酸258.
2g(1モル)と1−ヒドロキシベンゾトリアゾール2
70.3g(2モル)とをN−メチル−2−ピロリドン
1500gに溶解した後、 N−メチル−2−ピロリド
ン500gに溶解したジシクロヘキシルカルボジイミド
412.7g(2モル)を反応系の温度を0〜5℃に冷
却しながら滴下する。滴下終了後、反応系の温度を室温
に戻し、そのまま12時間攪拌した。反応終了後、析出
したジシクロヘキシルカルボジウレアをろ過を行うこと
によって取り除き、次ぎに濾液に純水2000gを滴下
する。沈殿物を濾集し、イソプロピルアルコールで充分
に洗浄した後、真空乾燥を行い、ジフェニルエーテル−
4、4’−ジカルボン酸の両末端に1−ヒドロキシベン
ゾトリアゾールは2モル反応した活性エステル(A)を
得た。
7.7g(0.3モル)とヘキサフルオロ−2,2−ビ
ス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン1
20.9g(0.33モル)を N−メチル−2−ピロ
リドン1000gに溶解した。その後、反応系を75℃
にして12時間反応した。次ぎにN−メチル−2−ピロ
リドン50gに溶解した5−ノルボルネン−2,3−ジ
カルボン酸無水物11.5g(0.07モル)を加え
て、更に12時間反応した。反応混合液を水/メタノー
ル=3/1の溶液に投入、沈殿物を回収し純水で充分に
洗浄した後、真空下で乾燥しポリベンゾオキサゾール前
駆体(P−1)を得た。
体100g、下記式の構造を有するジアゾキノン(Q−
1)25重量部、γ−ブチルラクトン200重量部に溶
解させて粘度2000cP程度の溶液とした後、0.2
μmのテフロンフィルターで濾過し感光性樹脂組成物を
得た。
になるようにカップリング剤(KBM−602;信越化
学工業(株)製)を混合したカップラー溶液を30℃以下
のシリコンウェハ上にスピンコーターを用いて塗布し、
室温で3分以上静置した後、120℃で10分間加熱処
理をした。このように処理したシリコンウェハ上に上記
で得られた感光性樹脂組成物をスピンコーターを用いて
塗布した後、ホットプレートを用いて120℃で4分間
プリベークして約8μm厚みの皮膜を得た。この塗膜に
g線ステッパー露光線NSR−1505G3A(ニコン
(株)製)によりテストパターンを有するマスクを通して
500mJ/cm2で露光を行った。露光後、テトラア
ンモニウムハイドロオキサイド2.38%水溶液の現像
液に40秒間浸漬することによって現像した後、純水で
30秒間リンスし、パターンを得た。次いで、この塗膜
をホットプレートを用いて250℃で4分間加熱処理す
ることにより約6μm厚みの第1層塗膜を得た。
を第1層塗膜上に前記と同じ方法で塗布した後、ホット
プレートを用いて125℃で4分間プリベークして約3
0μm厚みの皮膜を得た。この塗膜にg線ステッパーに
よりテストパターンを有するレチクルを通して2000
mJ/cm2で露光を行った。露光後、前記と同じ現像
液に240秒間浸漬することによって現像した後、前記
と同じ方法でリンスしてパターンを得た。パターンは、
硬化した後に密着性試験を行うため100μmの正方形
が100個残るようにした。
顕微鏡で調べたところ、クラック発生数は0であった。
気下で150℃で30分、380℃で1時間の順で加
熱、硬化させることにより未露光部約25μm、露光部
約5μm厚みの2層塗膜を得た。この塗膜に125℃、
2.3atm条件のプレッシャークッカーテスト(PC
T)で500時間まで処理を施し、100個の100μ
mの正方形のパターンにセロテープを貼り、それを剥が
すことにより密着性を評価したところ、第1層と第2層
の密着性は良好であった。
を露光、現像してパターンを得た後の加熱処理におい
て、処理の温度を200℃で4分間行い、その他の加
工、評価は、実施例1と同じ方法で行った。その結果は
表1に示す。
を露光、現像してパターンを得た後の加熱処理におい
て、処理の温度を350℃で4分間行い、その他の加
工、評価は、実施例1と同じ方法で行った。その結果は
表1に示す。
を露光、現像してパターンを得た後の加熱処理におい
て、処理の温度を150℃で4分間行い、その他の加
工、評価は、実施例1と同じ方法で行った。その結果は
表1に示す。
及び窒素ガス導入口を備えた四つ口セパラブルフラスコ
に4、4’―ジアミノジフェニルエーテル200.2g
(1モル)、1、3−ビス(3−アミノプロピル)−
1、1、3、3−テトラメチルジシロキサン12.4g
(0.05モル)をN−メチル−2−ピロリドン244
1gに溶解した。次ぎにこの溶液を氷冷により20℃以
下に保ちながらピロメリット酸二無水物218.1g
(1モル)を加えた。その後、5時間反応させポリアミ
ド酸を得た。
コンウェハ上にスピンコーターを用いて塗布した後、ホ
ットプレートを用いて130℃で1分間プリベークして
約7.5μm厚みの皮膜を得た。この塗膜上に東京応化
製ポジ型フォトレジストOFPR−800を前記と同じ
方法で塗布した後、ホットプレートを用いて110℃で
1分間プリベークして皮膜を得た。この塗膜にg線ステ
ッパーによりテストパターンを有するマスクを通して2
00mJ/cm2で露光を行った。露光後、テトラアン
モニウムハイドロオキサイド2.38%水溶液の現像液
に160秒間浸漬することによって現像した後、純水で
30秒間リンスした。現像後、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテートの剥離液に90秒間浸漬す
ることによってレジストを剥離した後、剥離液と同じ液
で30秒間リンスしてパターンを得た。この塗膜をホッ
トプレートを用いて100℃で4分間加熱処理すること
により約6μm厚みの第1層塗膜を得た。
層塗膜上に前記と同じ方法で塗布した後、ホットプレー
トを用いて135℃で1分間プリベークして約30μm
厚みの皮膜を得た。この塗膜に前記と同じ方法でポジ型
フォトレジストを塗布、プリベークして皮膜を得た。そ
の後、前記と同じ方法で露光、現像、リンス、レジスト
剥離をしてパターンを得た。
実施例1と同様の方法で調べた。その結果は表1に示
す。
気下で200℃で1時間、350℃で1時間の順で加
熱、硬化させることにより未露光部約25μm、露光部
約5μm厚みの2層塗膜を得た。
行った。その結果は表1に示す。
を露光、現像、レジスト剥離してパターンを得た後の加
熱処理において、処理の温度を150℃で4分間行い、
その他の加工、評価は、比較例2と同じ方法で行った。
その結果は表1に示す。
を露光、現像、レジスト剥離してパターンを得た後の加
熱処理において、処理の温度を200℃で4分間行い、
その他の加工、評価は、比較例2と同じ方法で行った。
その結果は表1に示す。
を露光、現像、レジスト剥離してパターンを得た後の加
熱処理において、処理の温度を250℃で4分間行い、
その他の加工、評価は、比較例2と同じ方法で行った。
その結果は表1に示す。
を露光、現像、レジスト剥離してパターンを得た後の加
熱処理において、処理の温度を350℃で4分間行い、
その他の加工、評価は、比較例2と同じ方法で行った。
その結果は表1に示す。
サゾール樹脂の多層塗膜は層間密着力が強く、この樹脂
層により形成されたレリーフパターンは、クラックが発
生しない厚膜のパターン膜を得ることが出来る。
Claims (4)
- 【請求項1】支持体上に感光性ポリベンゾオキサゾール
樹脂を塗布、乾燥、パターン加工を行った後、200℃
以上の温度で加熱処理し、更にその上に、同樹脂を塗
布、乾燥、パターン加工後、200℃以上の温度で加熱
処理することを繰り返し、最上層の感光性ポリベンゾオ
キサゾール樹脂膜の加熱、硬化を、350℃以上で行う
ことを特徴とするレリーフパターンの形成方法。 - 【請求項2】該感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂がポ
ジ型の感光性樹脂組成物である請求項1記載のレリーフ
パターンの形成方法。 - 【請求項3】該感光性ポリベンゾオキサゾール樹脂が一
般式(I)で示されるポリアミド100重量部とジアゾ
ナフトキノン1〜50重量部からなる請求項1又は2記
載のレリーフパターンの形成方法。 【化2】 - 【請求項4】該支持体がシリコンウェハである請求項1
記載のレリーフパターンの形成方法。
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