JP3480641B2 - Pattern inspection method - Google Patents

Pattern inspection method

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JP3480641B2
JP3480641B2 JP11607296A JP11607296A JP3480641B2 JP 3480641 B2 JP3480641 B2 JP 3480641B2 JP 11607296 A JP11607296 A JP 11607296A JP 11607296 A JP11607296 A JP 11607296A JP 3480641 B2 JP3480641 B2 JP 3480641B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、グリーンシートあ
るいはフィルムキャリア等に形成されたパターンを検査
する検査方法に係り、特にパターンの断線を検査する検
査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection method for inspecting a pattern formed on a green sheet, a film carrier or the like, and more particularly to an inspection method for inspecting a pattern disconnection.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、IC、LSIの多ピン化要求
に適した実装技術として、PGA(Pin Grid Array)が
知られている。PGAは、チップを付けるパッケージの
ベースとしてセラミック基板を用い、リード線の取り出
し位置まで配線を行っている。このセラミック基板を作
るために、アルミナ粉末を液状のバインダで練り合わせ
てシート状にしたグリーンシートと呼ばれるものが使用
され、このグリーンシート上に高融点の金属を含むペー
ストがスクリーン印刷される。そして、このようなシー
トを必要枚数積み重ねて焼成することにより、グリーン
シートを焼結させると共にペーストを金属化させる、い
わゆる同時焼成が行われる。
2. Description of the Related Art Conventionally, PGA (Pin Grid Array) has been known as a mounting technique suitable for a demand for increasing the number of pins of ICs and LSIs. In PGA, a ceramic substrate is used as a base of a package to which a chip is attached, and wiring is performed up to a lead wire extraction position. To make this ceramic substrate, a so-called green sheet is used in which alumina powder is kneaded with a liquid binder to form a sheet, and a paste containing a metal having a high melting point is screen-printed on the green sheet. Then, by stacking a required number of such sheets and firing them, so-called simultaneous firing is performed, in which the green sheets are sintered and the paste is metallized.

【0003】また、その他の実装技術として、TAB
(Tape Automated Bonding)が知られている。TAB法
は、ポリイミド製のフィルムキャリア(TABテープ)
上に形成された銅箔パターンをICチップの電極に接合
して外部リードとする。銅箔パターンは、フィルムに銅
箔を接着剤で貼り付け、これをエッチングすることによ
って形成される。
As another mounting technique, TAB is used.
(Tape Automated Bonding) is known. The TAB method is a polyimide film carrier (TAB tape).
The copper foil pattern formed above is bonded to the electrodes of the IC chip to form external leads. The copper foil pattern is formed by attaching a copper foil to a film with an adhesive and etching this.

【0004】このようなグリーンシートあるいはフィル
ムキャリアでは、パターン形成後に顕微鏡を用いて人間
により目視でパターンの検査が行われる。ところが、微
細なパターンを目視で検査するには、熟練を要すると共
に、目を酷使するという問題点があった。そこで、目視
検査に代わるものとして、フィルムキャリア等に形成さ
れたパターンをTVカメラで撮像して自動的に検査する
技術が提案されている(例えば、特開平6−27313
2号公報)。
In such a green sheet or film carrier, the pattern is visually inspected by a person using a microscope after the pattern is formed. However, in order to visually inspect a fine pattern, there is a problem that skill is required and eyes are seriously used. Therefore, as an alternative to the visual inspection, a technique has been proposed in which a pattern formed on a film carrier or the like is imaged by a TV camera and automatically inspected (for example, JP-A-6-27313).
No. 2).

【0005】図8、図9は特開平6−273132号公
報に記載された従来の検査方法を説明するための図であ
る。良品と判定された被測定パターンを撮像することに
よって作成されたマスタパターンは、パターンエッジを
示す直線の集合として登録される。また、被測定パター
ンは、パターンを撮像した濃淡画像から抽出したパター
ンエッジを示すエッジデータ(エッジ座標)の集合とし
て入力される。そして、抽出した被測定パターンのエッ
ジデータn1、n2、n3・・・とマスタパターンの直
線との対応付けを行う。この対応付けを行うために、図
8に示すように、マスタパターンの連続する直線A1と
A2、A2とA3・・・がつくる角をそれぞれ2等分す
る2等分線A2’、A3’・・・を求める。
8 and 9 are views for explaining a conventional inspection method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 6-273132. The master pattern created by imaging the measured pattern determined to be non-defective is registered as a set of straight lines indicating pattern edges. Further, the measured pattern is input as a set of edge data (edge coordinates) indicating a pattern edge extracted from a grayscale image obtained by capturing the pattern. Then, the extracted edge data n1, n2, n3 ... Of the measured pattern and the straight line of the master pattern are associated with each other. In order to make this correspondence, as shown in FIG. 8, bisectors A2 ′, A3 ′, which bisect the angles formed by the continuous straight lines A1 and A2, A2 and A3, ... · Ask for.

【0006】この2等分線A2’、A3’・・・によっ
てマスタパターンの直線A1、A2、A3・・・の周囲
は、各直線にそれぞれ所属する領域に分割される。これ
により、各領域内に存在する被測定パターンのエッジデ
ータn1、n2、n3・・・は、その領域が属するマス
タパターンの直線A1、A2、A3・・・とそれぞれ対
応付けられたことになる。例えば図8において、エッジ
データn1〜n3は、直線A1と対応付けられ、データ
n4〜n6は、直線A2と対応付けられる。次に、被測
定パターンのエッジデータとマスタパターンとを比較
し、被測定パターンが断線しているかどうかを検査す
る。
The circumference of the straight lines A1, A2, A3, ... Of the master pattern is divided by the bisectors A2 ', A3' ,. As a result, the edge data n1, n2, n3 ... Of the measured pattern existing in each area are associated with the straight lines A1, A2, A3 ... Of the master pattern to which the area belongs. . For example, in FIG. 8, the edge data n1 to n3 are associated with the straight line A1, and the data n4 to n6 are associated with the straight line A2. Next, the edge data of the measured pattern is compared with the master pattern to inspect whether the measured pattern is broken.

【0007】この検査は、被測定パターンの連結したエ
ッジデータn1〜n9を追跡することにより、パターン
エッジを追跡するラベリング処理によって実現される。
このとき、被測定パターンの先端に生じた断線により、
この断線部でエッジデータが連結しないため、マスタパ
ターンの直線A3〜A5に対応するエッジデータが存在
しない。こうして、被測定パターンの断線を検出するこ
とができる。
This inspection is realized by a labeling process for tracing the pattern edges by tracing the linked edge data n1 to n9 of the pattern to be measured.
At this time, due to the disconnection at the tip of the measured pattern,
Since the edge data is not connected at this disconnection portion, there is no edge data corresponding to the straight lines A3 to A5 of the master pattern. Thus, the disconnection of the measured pattern can be detected.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】以上のように従来の検
査方法では、被測定パターンのエッジデータとマスタパ
ターンの直線との対応付けを行って被測定パターンの断
線を検査しており、この対応付けの処理に時間がかかる
ため、断線の検査に時間がかかってしまうという問題点
があった。本発明は、上記課題を解決するためになされ
たもので、パターンの断線を高速に検査することができ
る検査方法を提供することを目的とする。
As described above, in the conventional inspection method, the edge data of the measured pattern and the straight line of the master pattern are associated with each other to inspect the disconnection of the measured pattern. There is a problem in that it takes time to inspect the disconnection because it takes time to perform the attaching process. The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an inspection method capable of inspecting a disconnection of a pattern at high speed.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、被測定パター
ンと比較するための基準となるマスタパターンの画像に
所定の大きさの検査範囲を設定し、この検査範囲内のマ
スタパターンのパターンエッジを追跡して、検査範囲の
各辺と交わるパターンに順次番号を付与すると共に、連
結したパターンエッジからなる1つのパターンに対して
は付与する番号を同一とし、被測定パターンの画像から
マスタパターンの検査範囲に該当する被測定パターンの
検査範囲を取り出し、この検査範囲内の被測定パターン
のパターンエッジを追跡して、検査範囲の各辺と交わる
パターンに順次番号を付与すると共に、連結したパター
ンエッジからなる1つのパターンに対しては付与する番
号を同一とし、マスタパターンに付与された番号と被測
定パターンに付与された番号とを比較して、被測定パタ
ーンの断線を検査するようにしたものである。このよう
にマスタパターンと被測定パターンのそれぞれにおい
て、検査範囲の各辺と交わるパターンに順次番号を付与
すると共に、連結したパターンエッジからなる1つのパ
ターンに対しては付与する番号を同一とする。被測定パ
ターンに断線が存在すると、この断線部でパターンエッ
ジが連結しなくなり、断線部によって両断された本来同
一であるべき2つのパターンに異なる番号が付与され
る。よって、マスタパターンに付与された番号との間で
相違が生じるため、これによって被測定パターンの断線
を検出することができる。
According to the present invention, an inspection range of a predetermined size is set in an image of a master pattern which serves as a reference for comparison with a measured pattern, and a pattern edge of the master pattern within this inspection range is set. And sequentially assigning numbers to the patterns intersecting each side of the inspection range, and assigning the same number to one pattern composed of connected pattern edges, the pattern of the master pattern is determined from the image of the measured pattern. The inspection range of the measured pattern corresponding to the inspection range is taken out, the pattern edges of the measured pattern in this inspection range are traced, the patterns intersecting each side of the inspection range are sequentially numbered, and the connected pattern edges The same number is assigned to one pattern consisting of, and the number assigned to the master pattern and the number to be measured are assigned. Compared were a number, in which so as to inspect a break in the pattern to be measured. In this way, in each of the master pattern and the pattern to be measured, the pattern intersecting each side of the inspection range is sequentially numbered, and the same number is assigned to one pattern including the connected pattern edges. When a disconnection exists in the measured pattern, the pattern edges are not connected at this disconnection portion, and different numbers are given to the two patterns that should be originally the same and are separated by the disconnection portion. Therefore, since there is a difference between the number assigned to the master pattern and the number, the disconnection of the measured pattern can be detected.

【0010】また、被測定パターンと比較するための基
準となるマスタパターンの画像に所定の大きさの検査範
囲を設定し、この検査範囲内のマスタパターンのパター
ンエッジを追跡し、検査範囲の辺と交わらないパターン
先端を検出して、この先端の座標を先端点とし、被測定
パターンの画像からマスタパターンの検査範囲に該当す
る被測定パターンの検査範囲を取り出し、この検査範囲
内の被測定パターンの連結したパターンエッジを追跡し
て、この連結したパターンエッジが先端点を中心とする
所定の範囲内を通過するかどうかにより、被測定パター
ンの断線を検査するようにしたものである。このよう
に、マスタパターンにおいて検査範囲の辺と交わらない
パターン先端を検出して、この先端の座標を先端点と
し、被測定パターンの連結したパターンエッジが先端点
を中心とする所定の範囲内を通過するかどうかを判定す
る。被測定パターンに断線が存在すると、この断線部で
パターンエッジが連結しなくなるため、連結したパター
ンエッジを追跡する際に断線部の先に存在するはずの所
定の範囲内をパターンエッジが通過しない。これによ
り、被測定パターンの断線を検出することができる。
Further, an inspection range of a predetermined size is set in the image of the master pattern which is a reference for comparison with the measured pattern, the pattern edges of the master pattern within this inspection range are traced, and the sides of the inspection range Detects the tip of the pattern that does not intersect with, and uses the coordinates of this tip as the tip point, and extracts the inspection range of the measured pattern that corresponds to the inspection range of the master pattern from the image of the measured pattern, Is traced, and the disconnection of the measured pattern is inspected depending on whether or not the connected pattern edge passes within a predetermined range centered on the tip point. In this way, the pattern tip that does not intersect the side of the inspection range in the master pattern is detected, the coordinates of this tip are used as the tip points, and the connected pattern edges of the measured pattern are within a predetermined range centered on the tip points. Determine whether to pass. If a disconnection exists in the measured pattern, the pattern edges are not connected at this disconnection portion, so that the pattern edge does not pass within a predetermined range that should exist before the disconnection portion when tracing the connected pattern edges. Thereby, the disconnection of the measured pattern can be detected.

【0011】また、パターン先端の検出は、検査範囲の
辺とパターンエッジとの1交点を基準点とし、この基準
点からの距離が極大値を示すパターンエッジをパターン
先端とするようにしたものである。このように検査範囲
の辺とパターンエッジとの1交点を基準点として設定す
ると、パターンの先端では、増加しつつあった基準点か
らの距離が減少に向かう。これにより、パターンの先端
を検出することができる。また、被測定パターンの断線
を検出した際に、基準点からの距離が極大値を示すパタ
ーンエッジのうち先端点として登録されていないものが
断線部を示す。
Further, the detection of the tip of the pattern is made such that one intersection of the side of the inspection range and the pattern edge is used as a reference point, and the pattern edge whose distance from the reference point shows a maximum value is used as the pattern tip. is there. In this way, if one intersection of the side of the inspection range and the pattern edge is set as the reference point, the distance from the reference point, which has been increasing, will decrease at the tip of the pattern. Thereby, the tip of the pattern can be detected. Further, among the pattern edges whose distance from the reference point has the maximum value when the disconnection of the measured pattern is detected, the one not registered as the tip point indicates the disconnection portion.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施の形態
となる検査方法を示すフローチャート図である。最初
に、マスタパターンの登録について説明する。まず、予
め良品と判定されているパターンをカメラによって撮像
し、カメラから出力された濃淡画像をA/D変換器でデ
ィジタル化して、画像メモリにいったん記憶させる(ス
テップ101)。
1 is a flow chart showing an inspection method according to a first embodiment of the present invention. First, registration of the master pattern will be described. First, a pattern that has been determined to be non-defective is captured by a camera, a grayscale image output from the camera is digitized by an A / D converter, and is temporarily stored in an image memory (step 101).

【0013】続いて、画像メモリに記憶された多階調の
濃淡画像データからマスタパターンのエッジデータ(エ
ッジ座標)を以下のように抽出する(ステップ10
2)。図2はエッジデータの抽出方法を説明するための
図である。ここでは、パターンを濃度の高い画素として
白丸で表し、基材(グリーンシートあるいはフィルムキ
ャリア等)を濃度の低い画素として黒丸で表すことにす
る。
Subsequently, the edge data (edge coordinates) of the master pattern is extracted from the multi-gradation grayscale image data stored in the image memory as follows (step 10).
2). FIG. 2 is a diagram for explaining a method of extracting edge data. Here, the pattern is represented by white circles as pixels with high density, and the base material (green sheet or film carrier) is represented by black circles as pixels with low density.

【0014】上記濃淡画像データには、パターンとそれ
以外の背景(基材)とが含まれているが、一般にパター
ンと背景には濃度差があるので、画像データの濃度の頻
度を示す濃度ヒストグラムを作成すると、このヒストグ
ラムは、周知のように背景に対応する頻度とパターンに
対応する頻度という2つの極大値を有する双峰性を示
す。濃淡画像データを2値化するには、この2峰の間の
谷点をしきい値Sとすればよい。
Although the grayscale image data includes a pattern and a background (base material) other than the pattern, since there is generally a density difference between the pattern and the background, a density histogram showing the frequency of the density of the image data. As is well known, the histogram shows a bimodal property having two maximum values, that is, the frequency corresponding to the background and the frequency corresponding to the pattern. In order to binarize the grayscale image data, the valley point between the two peaks may be set as the threshold value S.

【0015】こうして決定されるしきい値Sが濃淡画像
においてパターンエッジを示すとすれば、しきい値Sを
境界とする両隣の濃、淡の画素からしきい値SのX、Y
座標を求めることでマスタパターンのエッジ座標を求め
ることができる。例えば、図2(a)のCの箇所でエッ
ジ座標を求める場合、座標X2、Y1の画素と座標X
1、Y1の画素から図2(b)に示すような濃度勾配を
求め、この濃度勾配がしきい値Sと交差する点の座標X
を算出すればよい(Y座標はY1)。こうして、マスタ
パターンのエッジデータを抽出することができる。
If the threshold S determined in this way indicates a pattern edge in a grayscale image, X and Y of the threshold S from the dark and light pixels on both sides of the threshold S as boundaries.
By obtaining the coordinates, the edge coordinates of the master pattern can be obtained. For example, when the edge coordinates are obtained at the position C in FIG. 2A, the pixels of the coordinates X2 and Y1 and the coordinates X
The density gradient as shown in FIG. 2B is obtained from the pixels of 1 and Y1, and the coordinate X of the point where this density gradient intersects the threshold value S.
Should be calculated (Y coordinate is Y1). In this way, the edge data of the master pattern can be extracted.

【0016】次いで、マスタパターンに所定の大きさの
検査範囲(以下、ウインドとする)を設定し、このウイ
ンドによってマスタパターンの画像を切り出す(ステッ
プ103)。そして、ウインドによって切り出されたマ
スタパターンの連結したエッジデータを追跡するラベリ
ングにより、ウインドの各辺と交わるマスタパターンに
番号を付与する(ステップ104)。
Next, an inspection range of a predetermined size (hereinafter referred to as a window) is set in the master pattern, and an image of the master pattern is cut out by this window (step 103). Then, a number is given to the master pattern that intersects with each side of the window by labeling the edge data in which the master pattern cut out by the window is connected (step 104).

【0017】図3はこのナンバリング処理を説明するた
めの図であり、W1はウインド、P1〜P4はパターン
である。なお、マスタパターンはパターンエッジを示す
点(エッジデータ)の集合であるが、ここではパターン
エッジを直線で表している。ナンバリング処理では、ウ
インドW1の左上を開始点とし、図3のように時計回り
にマスタパターンを走査する。そして、各パターンに与
えられる後述する番号もこの順番で付与される。
FIG. 3 is a diagram for explaining this numbering process, where W1 is a window and P1 to P4 are patterns. Although the master pattern is a set of points (edge data) indicating pattern edges, the pattern edges are represented by straight lines here. In the numbering process, the upper left of the window W1 is used as a starting point, and the master pattern is scanned clockwise as shown in FIG. The numbers given below to each pattern are also given in this order.

【0018】マスタパターンをウインドW1の左上から
走査すると、ウインドW1の辺と交わる最初のパターン
としてパターンP1が検出される。これにより、図3に
示すように、ウインドW1の上辺と交わるパターンP1
の端部に「1」番が付与される。続いて、この端部を開
始位置として、開始位置から時計回りに連結したエッジ
データを次々と探すことでパターンP1のエッジを追跡
する(つまり、図3の矢印で示すようにパターンP1の
右側のエッジを追跡する)。
When the master pattern is scanned from the upper left of the window W1, the pattern P1 is detected as the first pattern intersecting the side of the window W1. As a result, as shown in FIG. 3, the pattern P1 intersecting the upper side of the window W1.
No. "1" is given to the end of the. Subsequently, with this end portion as the start position, the edges of the pattern P1 are tracked by sequentially searching for edge data connected in a clockwise direction from the start position (that is, as shown by the arrow in FIG. Track the edges).

【0019】パターンP1の場合、この追跡中にウイン
ドW1の下辺と突き当たるので、ウインドW1の下辺と
交わるパターンP1の端部にも同様に「1」番を付与す
る。さらに、パターンP1のエッジを追跡し(つまり、
パターンP1の左側のエッジを追跡する)、開始位置に
戻ることでパターンP1の境界追跡が終了する。
In the case of the pattern P1, since it collides with the lower side of the window W1 during this tracking, "1" is similarly given to the end of the pattern P1 which intersects with the lower side of the window W1. Furthermore, the edge of the pattern P1 is tracked (that is,
The edge on the left side of the pattern P1 is traced), and the boundary tracing of the pattern P1 is completed by returning to the start position.

【0020】次に、マスタパターンをウインドW1の左
上から走査すると、境界追跡がなされていない次のパタ
ーンとしてパターンP2が検出される。パターンP2は
パターンP1と連結していない異なるパターンなので、
ウインドW1の上辺と交わるパターンP2の端部に次の
番号として「2」番が付与され、ウインドW1の下辺と
交わるパターンP2の端部にも同様に「2」番が付与さ
れる。このようなナンバリング処理がパターンP3、パ
ターンP4についても同様に実施され、それぞれ「3」
番、「4」番が付与される。
Next, when the master pattern is scanned from the upper left of the window W1, the pattern P2 is detected as the next pattern for which boundary tracking has not been performed. Since the pattern P2 is a different pattern that is not connected to the pattern P1,
The next number "2" is given to the end of the pattern P2 intersecting the upper side of the window W1, and the number "2" is similarly given to the end of the pattern P2 intersecting the lower side of the window W1. Such numbering processing is similarly performed for the pattern P3 and the pattern P4, and each is "3".
No., “4” is given.

【0021】以上のようなナンバリング処理を各ウイン
ドごとに繰り返すことにより(ステップ103〜10
5)、マスタパターンの全範囲に番号が付与される。次
に、被測定パターンの検査を説明する。まず、被測定パ
ターンをカメラによって撮像し、カメラから出力された
濃淡画像をA/D変換器でディジタル化して画像メモリ
にいったん記憶させる(ステップ106)。画像メモリ
に記憶された多階調の濃淡画像データは、マスタパター
ンとの位置合わせが実施された後に、2値化される(ス
テップ107)。
By repeating the above numbering process for each window (steps 103 to 10).
5), numbers are assigned to the entire range of the master pattern. Next, the inspection of the measured pattern will be described. First, the pattern to be measured is imaged by the camera, and the grayscale image output from the camera is digitized by the A / D converter and temporarily stored in the image memory (step 106). The multi-grayscale image data stored in the image memory is binarized after alignment with the master pattern is performed (step 107).

【0022】続いて、被測定パターンの2値画像中から
マスタパターンのウインドに該当する位置のウインドを
切り出し、このウインドによって切り出された被測定パ
ターンの連結した画素を追跡するラベリングにより、ウ
インドの各辺と交わる被測定パターンに番号を付与する
(ステップ108)。図4は被測定パターンのナンバリ
ング処理を説明するための図である。
Subsequently, a window at a position corresponding to the window of the master pattern is cut out from the binary image of the measured pattern, and each window of the window is labeled by tracking connected pixels of the measured pattern cut out by this window. A number is given to the measured pattern that intersects the side (step 108). FIG. 4 is a diagram for explaining the numbering process of the measured pattern.

【0023】被測定パターンのナンバリング処理もマス
タパターンの場合とほぼ同様であり、被測定パターンを
ウインドW2の左上から走査すると、ウインドW2の辺
と交わる最初のパターンとして上記のパターンP1に該
当するパターンP11が検出される。これにより、図4
に示すように、ウインドW2の上辺と交わるパターンP
11の端部に「1」番が付与される。
The numbering process of the measured pattern is almost the same as that of the master pattern. When the measured pattern is scanned from the upper left of the window W2, the pattern corresponding to the above pattern P1 is the first pattern intersecting the side of the window W2. P11 is detected. As a result, FIG.
As shown in, the pattern P intersecting with the upper side of the window W2
The number “1” is given to the end of 11.

【0024】続いて、この端部を開始位置として、開始
位置から時計回りに連結した境界点を次々と探すことで
パターンP11のエッジを追跡する。パターンP11の
場合、この追跡中にウインドW2の下辺と突き当たるの
で、ウインドW2の下辺と交わるパターンP11の端部
にも「1」番を付与する。さらに、パターンP11のエ
ッジを追跡し、開始位置に戻ることでパターンP11の
境界追跡が終了する。
Subsequently, the edge of the pattern P11 is traced by successively searching for boundary points connected clockwise from the starting position with this end as the starting position. In the case of the pattern P11, since it collides with the lower side of the window W2 during this tracking, "1" is also given to the end of the pattern P11 that intersects with the lower side of the window W2. Further, by tracing the edge of the pattern P11 and returning to the start position, the boundary tracing of the pattern P11 ends.

【0025】なお、本実施の形態では、パターンが白画
素、基材が黒画素で表される被測定パターンの2値画像
中において、左から右に走査したとき、黒→白に立ち上
がる場合は白の画素を上記境界点とし、白→黒に立ち下
がる場合は黒の画素を境界点としている。
In this embodiment, in the binary image of the measured pattern in which the pattern is represented by white pixels and the substrate is represented by black pixels, when scanning from left to right, the image rises from black to white. The white pixel is the boundary point, and the black pixel is the boundary point when falling from white to black.

【0026】次に、上記のP2に該当するパターンは、
断線によってパターンP12、P16に両断されてい
る。これにより、この断線部で境界点が連結しなくなる
ため、境界追跡がなされていない次のパターンとしてパ
ターンP12を検出してその境界点を追跡したとき、図
4の矢印に示すように、断線によって生じたエッジを追
跡した後に、左側のエッジを追跡して開始位置に戻る。
Next, the pattern corresponding to P2 above is
Both are divided into patterns P12 and P16 due to the disconnection. As a result, since the boundary points are not connected at this disconnection portion, when the pattern P12 is detected as the next pattern for which boundary tracking has not been performed and the boundary point is tracked, as shown by the arrow in FIG. After tracing the generated edge, the left edge is traced back to the starting position.

【0027】したがって、パターンP12に付与される
番号は、ウインドW2の上辺と交わる端部に付与される
「2」番だけである。上記のP3に該当するパターン
は、断線によってパターンP13、パターンP15に両
断されており、パターンP13については、パターンP
12と同様の処理により、ウインドW2の上辺と交わる
端部に「3」番が付与される。そして、パターンP14
についてはパターンP11と同様の処理がなされる。
Therefore, the number given to the pattern P12 is only "2" given to the end portion that intersects with the upper side of the window W2. The pattern corresponding to the above P3 is divided into the pattern P13 and the pattern P15 due to the disconnection.
By the same processing as 12, the number “3” is given to the end portion that intersects with the upper side of the window W2. Then, the pattern P14
Is processed in the same manner as the pattern P11.

【0028】次いで、被測定パターンをウインドW2の
左上から時計回りに走査すると、ウインドW2の下辺と
交わるパターンとしてパターンP15が検出される。こ
れにより、ウインドW2の下辺と交わるパターンP15
の端部に「5」番が付与される。続いて、この端部を開
始位置として、開始位置から時計回りに連結した境界点
を次々と探すことでパターンP15のエッジを追跡する
(つまり、図4の矢印で示すようにパターンP15の左
側のエッジを追跡する)。
Next, when the measured pattern is scanned clockwise from the upper left of the window W2, the pattern P15 is detected as a pattern intersecting the lower side of the window W2. As a result, the pattern P15 that intersects with the lower side of the window W2
The number "5" is given to the end of the. Then, with this end as the starting position, the edges of the pattern P15 are traced by successively searching for boundary points connected clockwise from the starting position (that is, as shown by the arrow in FIG. Track the edges).

【0029】このとき、パターンP12の場合と同様
に、パターンP13側の境界点を連結した境界点とは見
なさないため、図4の矢印に示すように、断線によって
生じたエッジを追跡した後に、右側のエッジを追跡して
開始位置に戻る。したがって、パターンP15に付与さ
れる番号は、ウインドW2の下辺と交わる端部に付与さ
れる「5」番だけである。パターンP16については、
パターンP15と同様の処理により、ウインドW2の下
辺と交わる端部に「6」番が付与される。
At this time, as in the case of the pattern P12, the boundary points on the side of the pattern P13 are not regarded as the connected boundary points, so as shown by the arrow in FIG. Follow the right edge and return to the starting position. Therefore, the number given to the pattern P15 is only "5" given to the end portion that intersects with the lower side of the window W2. For pattern P16,
By the same process as the pattern P15, the number "6" is given to the end portion that intersects with the lower side of the window W2.

【0030】以上のようなナンバリング処理を行った
後、マスタパターンに付与された番号と被測定パターン
に付与された番号とをウインドの辺ごとに比較する(ス
テップ109)。
After performing the numbering process as described above, the number given to the master pattern and the number given to the measured pattern are compared for each side of the window (step 109).

【0031】[0031]

【表1】 [Table 1]

【0032】ウインドの上辺で付与されたマスタパター
ンと被測定パターンの番号には相違がなく、全て正常と
判断される(表1では○)。これに対し、ウインドの下
辺で付与されたマスタパターンと被測定パターンの番号
には不一致があるので、この部分に断線があると判断さ
れる(表1では×)。以上のような処理を全ウインドに
ついて繰り返すことにより(ステップ108〜11
0)、被測定パターンの全ての断線を検査することがで
きる。
There is no difference in the numbers of the master pattern and the measured pattern provided on the upper side of the window, and all are judged to be normal (◯ in Table 1). On the other hand, there is a discrepancy between the numbers of the master pattern and the measured pattern provided on the lower side of the window, so it is judged that there is a disconnection in this portion (X in Table 1). By repeating the above processing for all windows (steps 108 to 11)
0), it is possible to inspect all the disconnections of the measured pattern.

【0033】このように本実施の形態では、被測定パタ
ーンのエッジデータとマスタパターンの直線との対応付
けを行う必要がないため、検査時間(ステップ106以
降の処理にかかる時間)を短縮することができる。
As described above, in the present embodiment, it is not necessary to associate the edge data of the pattern to be measured with the straight line of the master pattern, so that the inspection time (the time required for the processing after step 106) can be shortened. You can

【0034】第1の実施の形態では、パターンの両端が
ウインドの辺に突き当たっている場合は断線を検査する
ことができるが、パターンの一端がウインドの辺に突き
当たらない場合は検査することができないので、このよ
うな場合にはその他の検査方法が必要となる。図5は本
発明の第2の実施の形態となる検査方法を示すフローチ
ャート図である。
In the first embodiment, the disconnection can be inspected when both ends of the pattern abut the side of the window, but the inspection can be performed when one end of the pattern does not abut the side of the window. In such a case, another inspection method is necessary because it is not possible. FIG. 5 is a flow chart showing the inspection method according to the second embodiment of the present invention.

【0035】まず、ステップ201〜203について
は、図1のステップ101〜103と同様である。続い
て、ウインドによって切り出されたマスタパターンの連
結したエッジデータを追跡するラベリング処理により、
ウインドの辺と交わらないパターンの先端を検出して、
これを記憶する(ステップ204)。図6はこのマーキ
ング処理を説明するための図である。
First, steps 201 to 203 are the same as steps 101 to 103 in FIG. Then, by the labeling process that tracks the edge data that is the concatenation of the master pattern cut out by the window,
Detects the tip of the pattern that does not intersect the edge of the window,
This is stored (step 204). FIG. 6 is a diagram for explaining this marking process.

【0036】マーキング処理では、ウインドW3の左上
から時計回りにマスタパターンを走査する。これによ
り、ウインドW3の辺と交わる最初のパターンエッジと
して点Oが検出され、この基準点Oの座標が記憶され
る。そして、この基準点Oを開始位置として、開始位置
から時計回りに連結したパターンエッジを図6の矢印の
ように追跡する。
In the marking process, the master pattern is scanned clockwise from the upper left of the window W3. As a result, the point O is detected as the first pattern edge that intersects the side of the window W3, and the coordinates of this reference point O are stored. Then, with the reference point O as the starting position, the pattern edges connected clockwise from the starting position are traced as indicated by the arrows in FIG.

【0037】このとき、基準点Oからの距離が極大値を
示すパターンエッジをパターン先端とする。例えば、点
M1では、増加しつつあった基準点Oからの距離が減少
に向かう。これにより、この点M1をパターンP7の先
端として検出し、その座標を記憶する。同様に、点M2
でも、再び増加しつつあった基準点Oからの距離が減少
に向かう。これにより、この点M2をパターンP7の先
端としてその座標を記憶する。その他の点M3、M4に
ついても同様である。
At this time, the pattern edge where the distance from the reference point O shows the maximum value is defined as the pattern tip. For example, at the point M1, the distance from the reference point O that has been increasing is decreasing. As a result, this point M1 is detected as the tip of the pattern P7, and its coordinates are stored. Similarly, the point M2
However, the distance from the reference point O, which had been increasing again, is going to decrease. As a result, the coordinates of this point M2 are stored as the tip of the pattern P7. The same applies to the other points M3 and M4.

【0038】以上のようなマーキング処理を各ウインド
ごとに繰り返すことにより(ステップ203〜20
5)、マスタパターンの全範囲でパターンの先端がマー
キングされる。次に、被測定パターンの検査を説明す
る。ステップ206、207については図1のステップ
106、107と同様である。
By repeating the above marking process for each window (steps 203 to 20)
5), the tip of the pattern is marked in the entire range of the master pattern. Next, the inspection of the measured pattern will be described. Steps 206 and 207 are the same as steps 106 and 107 in FIG.

【0039】続いて、被測定パターンの2値画像中から
マスタパターンのウインドに該当する位置のウインドを
切り出し、このウインドによって切り出された被測定パ
ターンの連結した画素を追跡するラベリングにより、連
結したパターンエッジが記憶した先端点を中心とする所
定の範囲内を通過するかどうかを判定する(ステップ2
08)。図7はこの通過判定処理を説明するための図で
ある。
Then, a window at a position corresponding to the window of the master pattern is cut out from the binary image of the measured pattern, and the connected pattern is traced by the connected pixels of the measured pattern cut out by this window. It is determined whether the edge passes within a predetermined range centered on the stored tip point (step 2
08). FIG. 7 is a diagram for explaining this passage determination processing.

【0040】通過判定処理では、被測定パターンをウイ
ンドW4の左上から時計回りに走査して、連結した境界
点を次々と探すことでパターンP17のエッジを図7の
矢印のように追跡する。最初のパターンの先端では、マ
スタパターンにてマーキングした先端点M1を中心とす
る所定の範囲R1内をパターンエッジが通過するため、
正常と判断される。2番目のパターンの先端でも同様で
ある。
In the passage determination processing, the pattern to be measured is scanned from the upper left of the window W4 in the clockwise direction and the connected boundary points are searched one after another to trace the edge of the pattern P17 as shown by the arrow in FIG. At the tip of the first pattern, since the pattern edge passes within a predetermined range R1 centered on the tip point M1 marked by the master pattern,
It is judged to be normal. The same applies to the tip of the second pattern.

【0041】3番目の先端に関しては、断線により、マ
ーキングされた先端点M3を中心とする所定の範囲R3
が設定されている先端部とその途中の部分とに両断され
ている。これにより、この断線部で境界点が連結しなく
なり、図7の矢印に示すように、断線によって生じたエ
ッジが追跡されるため、断線部の先に存在するはずの所
定の範囲R3内を通過しない。こうして、被測定パター
ンの断線を検出することができる。
Regarding the third tip, due to the disconnection, a predetermined range R3 centered on the marked tip point M3
Is divided into a tip and a part in the middle. As a result, the boundary points are no longer connected at the disconnection portion, and the edge caused by the disconnection is traced as shown by the arrow in FIG. 7, so that it passes through the predetermined range R3 that should exist before the disconnection portion. do not do. Thus, the disconnection of the measured pattern can be detected.

【0042】また、パターンエッジの追跡の結果、断線
を検出した場合には、基準点Oからの距離が極大値を示
すパターンエッジのうち先端点として登録されていない
ものが断線部を示すため、断線部の位置を正確に知るこ
とができる。つまり、断線によって生じたエッジを追跡
した際に、基準点Oからの距離が極大値を示すが、この
位置は記憶された先端点M1〜M4の何れでもないた
め、これを断線部として認識することができる。以上の
ような処理を全ウインドについて繰り返すことにより
(ステップ208、209)、被測定パターンの全ての
断線を検査することができる。
Further, as a result of tracing the pattern edges, when a disconnection is detected, among the pattern edges whose distance from the reference point O has the maximum value, the one not registered as the tip point indicates the disconnection portion. The position of the disconnection can be accurately known. That is, when the edge caused by the disconnection is traced, the distance from the reference point O has a maximum value, but since this position is not one of the stored tip points M1 to M4, this is recognized as the disconnection portion. be able to. By repeating the above processing for all windows (steps 208 and 209), all disconnections of the measured pattern can be inspected.

【0043】[0043]

【発明の効果】本発明によれば、マスタパターンと被測
定パターンのそれぞれにおいて、検査範囲の各辺と交わ
るパターンに順次番号を付与すると共に、連結したパタ
ーンエッジからなる1つのパターンに対しては付与する
番号を同一とすることにより、被測定パターンに断線が
存在すると、マスタパターンに付与された番号との間で
相違が生じるので、被測定パターンの断線を検出するこ
とができる。よって、従来のように被測定パターンのエ
ッジデータとマスタパターンの直線との対応付けを行う
必要がないので、被測定パターンの断線を高速に検査す
ることができる。
According to the present invention, in each of the master pattern and the pattern to be measured, the pattern intersecting each side of the inspection range is sequentially numbered, and one pattern consisting of connected pattern edges is assigned. When the number to be given is the same, if a disconnection exists in the measured pattern, a difference occurs between the number and the number given to the master pattern, so that the disconnection of the measured pattern can be detected. Therefore, it is not necessary to associate the edge data of the measured pattern with the straight line of the master pattern as in the conventional case, so that the disconnection of the measured pattern can be inspected at high speed.

【0044】また、マスタパターンにおいて検査範囲の
辺と交わらないパターン先端を検出して、この先端の座
標を先端点とし、被測定パターンの連結したパターンエ
ッジが先端点を中心とする所定の範囲内を通過するかど
うかを判定することにより、被測定パターンに断線が存
在すると、断線部の先に存在するはずの所定の範囲内を
パターンエッジが通過しないので、被測定パターンの断
線を検出することができる。よって、従来のように被測
定パターンのエッジデータとマスタパターンの直線との
対応付けを行う必要がないので、被測定パターンの断線
を高速に検査することができる。
In the master pattern, the tip of the pattern which does not intersect with the side of the inspection range is detected, the coordinates of the tip are used as the tip point, and the pattern edge to which the measured pattern is connected is within a predetermined range with the tip point as the center. If there is a disconnection in the measured pattern by determining whether it passes through, the pattern edge does not pass within the predetermined range that should exist at the tip of the disconnection part, so it is possible to detect the disconnection of the measured pattern. You can Therefore, it is not necessary to associate the edge data of the measured pattern with the straight line of the master pattern as in the conventional case, so that the disconnection of the measured pattern can be inspected at high speed.

【0045】また、検査範囲の辺とパターンエッジとの
1交点を基準点として設定することにより、パターンの
先端を容易に検出することができ、断線部の位置を正確
に知ることができる。
Further, by setting one intersection of the side of the inspection range and the pattern edge as a reference point, the tip of the pattern can be easily detected and the position of the broken portion can be accurately known.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施の形態となる検査方法を
示すフローチャート図である。
FIG. 1 is a flow chart diagram showing an inspection method according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 マスタパターンのエッジデータの抽出方法を
説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining a method of extracting edge data of a master pattern.

【図3】 マスタパターンのナンバリング処理を説明す
るための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining a master pattern numbering process.

【図4】 被測定パターンのナンバリング処理を説明す
るための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a numbering process of a measured pattern.

【図5】 本発明の第2の実施の形態となる検査方法を
示すフローチャート図である。
FIG. 5 is a flowchart showing an inspection method according to a second embodiment of the present invention.

【図6】 マスタパターンのマーキング処理を説明する
ための図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a master pattern marking process.

【図7】 被測定パターンの通過判定処理を説明するた
めの図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining a passage determination process of a measured pattern.

【図8】 従来の検査方法を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining a conventional inspection method.

【図9】 従来の検査方法を説明するための図である。FIG. 9 is a diagram for explaining a conventional inspection method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

P1〜P4、P7、P11〜P17…パターン、W1〜
W4…ウインド、M1〜M4…先端点。
P1 to P4, P7, P11 to P17 ... Pattern, W1
W4 ... Wind, M1 to M4 ... Tip point.

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06T 7/00 - 7/60 G06T 1/00 G01B 11/00 - 11/30 G01N 21/84 - 21/958 H01L 21/64 - 21/66 Front page continued (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G06T 7 /00-7/60 G06T 1/00 G01B 11/00-11/30 G01N 21/84-21/958 H01L 21 / 64-21/66

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被測定パターンと比較するための基準と
なるマスタパターンの画像に所定の大きさの検査範囲を
設定し、 この検査範囲内のマスタパターンのパターンエッジを追
跡して、検査範囲の各辺と交わるパターンに順次番号を
付与すると共に、連結したパターンエッジからなる1つ
のパターンに対しては付与する番号を同一とし、 被測定パターンの画像から前記マスタパターンの検査範
囲に該当する被測定パターンの検査範囲を取り出し、 この検査範囲内の被測定パターンのパターンエッジを追
跡して、検査範囲の各辺と交わるパターンに順次番号を
付与すると共に、連結したパターンエッジからなる1つ
のパターンに対しては付与する番号を同一とし、 前記マスタパターンに付与された番号と被測定パターン
に付与された番号とを比較して、被測定パターンの断線
を検査することを特徴とするパターンの検査方法。
1. An inspection range of a predetermined size is set in an image of a master pattern, which serves as a reference for comparison with a measured pattern, and a pattern edge of the master pattern within this inspection range is traced to check the inspection range. Numbers are sequentially assigned to the patterns intersecting with each side, and the same number is assigned to one pattern composed of connected pattern edges, and the measured pattern corresponding to the inspection range of the master pattern is measured from the image of the measured pattern. The inspection range of the pattern is taken out, the pattern edges of the measured pattern in this inspection range are traced, the patterns intersecting each side of the inspection range are sequentially numbered, and one pattern consisting of the connected pattern edges is The numbers given to the master pattern and the number given to the pattern to be measured are the same. And compare the inspection method of a pattern, characterized by checking the breakage of the pattern to be measured.
【請求項2】 被測定パターンと比較するための基準と
なるマスタパターンの画像に所定の大きさの検査範囲を
設定し、 この検査範囲内のマスタパターンのパターンエッジを追
跡し、検査範囲の辺と交わらないパターン先端を検出し
て、この先端の座標を先端点とし、 被測定パターンの画像から前記マスタパターンの検査範
囲に該当する被測定パターンの検査範囲を取り出し、 この検査範囲内の被測定パターンの連結したパターンエ
ッジを追跡して、この連結したパターンエッジが前記先
端点を中心とする所定の範囲内を通過するかどうかによ
り、被測定パターンの断線を検査することを特徴とする
パターンの検査方法。
2. A side of the inspection range is set by setting an inspection range of a predetermined size in an image of a master pattern which is a reference for comparison with a measured pattern, and tracing a pattern edge of the master pattern within the inspection range. The tip of the pattern that does not intersect is detected, the coordinates of this tip are used as the tip point, and the inspection range of the measured pattern corresponding to the inspection range of the master pattern is extracted from the image of the measured pattern. Pattern disconnection of the pattern to be measured is inspected by tracing the pattern edges connected to the pattern and checking whether the connected pattern edges pass within a predetermined range centered on the tip point. Inspection method.
【請求項3】 請求項2記載のパターンの検査方法にお
いて、 前記パターン先端の検出は、検査範囲の辺とパターンエ
ッジとの1交点を基準点とし、この基準点からの距離が
極大値を示すパターンエッジをパターン先端としたもの
であることを特徴とするパターンの検査方法。
3. The pattern inspection method according to claim 2, wherein the detection of the pattern tip uses a single intersection of a side of the inspection range and a pattern edge as a reference point, and a distance from the reference point indicates a maximum value. A pattern inspection method characterized in that a pattern edge is used as a pattern tip.
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