JP3475082B2 - ガス分析装置 - Google Patents
ガス分析装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばディーゼル
エンジン等の内燃機関から排出されるガス中に含まれる
微粒子を水素炎イオン化検出器（以下ＦＩＤという）を
用いて分析するガス分析装置に関する。 【０００２】 【先行技術】工場等の排ガスを測定するガス分析装置と
して本発明者らは、図２に示す構成のものを試作実験中
である（いわゆる公知公用ではない）。同図において、
１はＦＩＤ、２は一端がＦＩＤ１に接続されたサンプル
ガス供給路であり、他端が排ガス源３に接続され、その
上流側から、フィルタ４，キャピラリ５が順次設けら
れ、フィルタ４によりキャピラリ５の目詰まりを防止し
ている。６はＦＩＤ１に接続された燃料（例えば水素ガ
ス）Ｆを供給するための燃料供給路であり、その上流側
から、常閉型の二方電磁弁７，第一レギュレータ８が設
けられている。９は助燃エアーＡを供給するための助燃
ガス供給路であり、その上流側から、常閉型の二方電磁
弁１０，第二レギュレータ１１が設けられている。１２
はＦＩＤ１に接続された排出流路であり、排出流路１２
に吸引ポンプ１３が設けられている。 【０００３】１４は希釈エアーＫを供給するための希釈
エアー供給路であり、その上流側から、フィルタ１５，
第三レギュレータ１６が設けられ、下流端がサンプルガ
ス供給路２におけるフィルタ４，キャピラリ５間の点ａ
に接続されている。１７は吸引ポンプ１８が設けられた
第一調圧流路であり、希釈エアー供給路１４における第
三レギュレータ１６の下流側の点ｂに接続されている。
１９は第四レギュレータ２０が設けられた第二調圧流路
であり、一端が希釈エアー供給路１４における第三レギ
ュレータ１６の上流側の点ｃに接続され、他端が排出流
路１２における吸引ポンプ１３の上流側の点ｄに接続さ
れている。 【０００４】つぎに動作について説明する。まず、測定
モードにおいて、燃料供給路６の二方電磁弁７，助燃ガ
ス供給路９の二方電磁弁１０を開にし、第一調圧流路１
７の吸引ポンプ１８，排出流路１２の吸引ポンプ１３を
駆動する。この時、第三レギュレータ１６により点ｂが
一定負圧Ｐ1 に調圧されるとともに、第四レギュレータ
２０により点ｄが一定負圧Ｐ2 （Ｐ2 ＜Ｐ1 ）に調圧さ
れる。そして、排ガス源３からの希釈されてないサンプ
ルガスＳがサンプルガス供給路２に供給され、フィルタ
４によりサンプルガスＧ中の微粒子が捕集される。点ａ
では第三レギュレータ１６により点ｂと同じく定負圧Ｐ
1 に調圧され、サンプルガスＳがキャピラリ５を介して
一定流量で、かつ、所定圧力でＦＩＤ１に供給される。 【０００５】一方、燃料である水素ガスＦおよび助燃エ
アーＡは、それぞれ第一および第二レギュレータ８，１
１によって所定の圧力に調圧された後、ＦＩＤ１に供給
され、ＦＩＤ１において、水素ガスＦおよび助燃エアー
Ａの供給の下にサンプルガスＳとともに、燃焼が行わ
れ、所定の分析が行われる。 【０００６】 【発明が解決しようとする課題】前記ガス分析装置にお
いて、例えばディーゼルエンジン等の内燃機関から排出
されるガス中に含まれるＰＭ（Particulate Matter、す
す等の微粒子状物質）を定量分析しようとすると、サン
プルガス供給路２にフィルタ４を設けることができず、
フィルタ４なしで分析した場合、キャピラリ５の内部に
微粒子が付着し、流路抵抗が増大し、キャピラリ５が目
詰まりし、流量が低下する。ＦＩＤ１の感度は流量に一
次相関があり、流量の低下に応じてＦＩＤ１の感度が低
下するという問題がある。 【０００７】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、キャピラリの内壁に
付着した微粒子を除去し、キャピラリの目詰まりを防止
し、ＦＩＤの感度を維持できるガス分析装置を提供する
ことにある。 【０００８】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のガス分析装置は、ＦＩＤに接続され，前記
ＦＩＤの前段にキャピラリが設けられたサンプルガス供
給路と、前記検出器に接続され，二方電磁弁が設けられ
た助燃ガス供給路と、前記検出器に接続された燃料供給
路と、前記検出器に接続され，吸引ポンプとの間に二方
バルブが設けられた排出流路とを備え、測定モードにお
いて、前記二方バルブを開にし、前記吸引ポンプにより
サンプルガスを前記サンプルガス供給路から前記検出器
に導入した後，前記排出流路へと排出し、パージモード
において、前記二方バルブを閉，前記二方電磁弁を開に
し、助燃ガスを前記助燃ガス供給路から前記サンプルガ
ス供給路にサンプルガスとは逆方向に導入し、前記キャ
ピラリを清掃するようにしたものである。 【０００９】したがって、排出流路において、ＦＩＤと
吸引ポンプとの間に二方バルブを設け、パージモードに
おいて、二方バルブを閉，助燃ガス供給路の二方電磁弁
を開にし、助燃ガスを助燃ガス供給路からサンプルガス
供給路にサンプルガスとは逆方向に導入し、キャピラリ
を清掃するようにしたため、キャピラリの内壁に付着し
た微粒子を除去し、キャピラリの目詰まりを防止するこ
とができ、ＦＩＤの感度を維持することができる。 【００１０】 【発明の実施の形態】実施の１形態につき、ディーゼル
エンジン等の内燃機関から排出されるガス中に含まれる
ＰＭを測定するガス分析装置の構成を示した図１を参照
して説明する。同図において、図２と同一符号は同一も
しくは相当するものを示し、異なる点は、サンプルガス
供給路２の他端を自動車の排気管２１に接続し、サンプ
ルガス供給路２のフィルタ４をなくし、排出流路１２に
おける点ｄの上流側に電磁弁からなる二方バルブ２２を
設け、第一調圧流路１７における吸引ポンプ１８の上流
側に吸引ポンプ１８を保護するためのフィルタ２３を設
けた点である。 【００１１】そして、測定モードにおいて、排出流路１
２の二方バルブ２２，燃料供給路６の二方電磁弁７，助
燃ガス供給路９の二方電磁弁１０を開にし、第一調圧流
路１７の吸引ポンプ１８，排出流路１２の吸引ポンプ１
３を駆動する。この時、第三レギュレータ１６により点
ｂが一定負圧Ｐ1 に調圧されるとともに、第四レギュレ
ータ２０により点ｄが一定負圧Ｐ2 （Ｐ2 ＜Ｐ1 ）に調
圧され、排気管２１からの希釈されてないサンプルガス
Ｓがサンプルガス供給路２に供給される。点ａでは、第
三レギュレータ１６により点ｂと同じく定負圧Ｐ1 に調
圧され、サンプルガスＳがキャピラリ５を介して一定流
量で、かつ、所定圧力でＦＩＤ１に供給される。 【００１２】一方、燃料である水素ガスＦおよび助燃エ
アーＡは、それぞれ第一および第二レギュレータ８，１
１によって所定の圧力に調圧された後、ＦＩＤ１に供給
され、ＦＩＤ１において、水素ガスＦおよび助燃エアー
Ａの供給の下にサンプルガスＳとともに、燃焼が行わ
れ、所定の分析が行われる。 【００１３】つぎに、パージモードにおいて、助燃ガス
供給路９の二方電磁弁１０を開にし、燃料供給路６の二
方電磁弁７，排出流路１２の二方バルブ２２を閉にし、
第一調圧流路１７の吸引ポンプ１８，排出流路１２の吸
引ポンプ１３を駆動する。この時、第三レギュレータ１
６により点ｂが一定負圧Ｐ1 に調圧されるとともに、第
二レギュレータ１１により助燃エアーＡの圧力が一定負
圧Ｐ3 （Ｐ1 ＜Ｐ3 ）に調圧され、助燃ガス供給路９か
らの助燃エアーＡがＦＩＤ１を介してサンプルガスＳの
時の流れとは逆方向にキャピラリ５に導入され、キャピ
ラリ５の内壁に付着した微粒子が除去される。 【００１４】なお、前記形態の場合、二方バルブ２２を
電磁弁としたが、手動の切換コックであってもよい。 【００１５】また、キャピラリ５のパージガスに助燃エ
アーＡを用いたが、清浄ガスを用いてもよい。 【００１６】 【発明の効果】以上説明したように、本発明のガス分析
装置は、排出流路において、ＦＩＤと吸引ポンプとの間
に二方バルブを設け、パージモードにおいて、二方バル
ブを閉，助燃ガス供給路の二方電磁弁を開にし、助燃ガ
スを助燃ガス供給路からサンプルガス供給路にサンプル
ガスとは逆方向に導入し、キャピラリを清掃するように
したため、キャピラリの内壁に付着した微粒子を除去
し、キャピラリの目詰まりを防止することができ、ＦＩ
Ｄの感度を維持することができる。
エンジン等の内燃機関から排出されるガス中に含まれる
微粒子を水素炎イオン化検出器（以下ＦＩＤという）を
用いて分析するガス分析装置に関する。 【０００２】 【先行技術】工場等の排ガスを測定するガス分析装置と
して本発明者らは、図２に示す構成のものを試作実験中
である（いわゆる公知公用ではない）。同図において、
１はＦＩＤ、２は一端がＦＩＤ１に接続されたサンプル
ガス供給路であり、他端が排ガス源３に接続され、その
上流側から、フィルタ４，キャピラリ５が順次設けら
れ、フィルタ４によりキャピラリ５の目詰まりを防止し
ている。６はＦＩＤ１に接続された燃料（例えば水素ガ
ス）Ｆを供給するための燃料供給路であり、その上流側
から、常閉型の二方電磁弁７，第一レギュレータ８が設
けられている。９は助燃エアーＡを供給するための助燃
ガス供給路であり、その上流側から、常閉型の二方電磁
弁１０，第二レギュレータ１１が設けられている。１２
はＦＩＤ１に接続された排出流路であり、排出流路１２
に吸引ポンプ１３が設けられている。 【０００３】１４は希釈エアーＫを供給するための希釈
エアー供給路であり、その上流側から、フィルタ１５，
第三レギュレータ１６が設けられ、下流端がサンプルガ
ス供給路２におけるフィルタ４，キャピラリ５間の点ａ
に接続されている。１７は吸引ポンプ１８が設けられた
第一調圧流路であり、希釈エアー供給路１４における第
三レギュレータ１６の下流側の点ｂに接続されている。
１９は第四レギュレータ２０が設けられた第二調圧流路
であり、一端が希釈エアー供給路１４における第三レギ
ュレータ１６の上流側の点ｃに接続され、他端が排出流
路１２における吸引ポンプ１３の上流側の点ｄに接続さ
れている。 【０００４】つぎに動作について説明する。まず、測定
モードにおいて、燃料供給路６の二方電磁弁７，助燃ガ
ス供給路９の二方電磁弁１０を開にし、第一調圧流路１
７の吸引ポンプ１８，排出流路１２の吸引ポンプ１３を
駆動する。この時、第三レギュレータ１６により点ｂが
一定負圧Ｐ1 に調圧されるとともに、第四レギュレータ
２０により点ｄが一定負圧Ｐ2 （Ｐ2 ＜Ｐ1 ）に調圧さ
れる。そして、排ガス源３からの希釈されてないサンプ
ルガスＳがサンプルガス供給路２に供給され、フィルタ
４によりサンプルガスＧ中の微粒子が捕集される。点ａ
では第三レギュレータ１６により点ｂと同じく定負圧Ｐ
1 に調圧され、サンプルガスＳがキャピラリ５を介して
一定流量で、かつ、所定圧力でＦＩＤ１に供給される。 【０００５】一方、燃料である水素ガスＦおよび助燃エ
アーＡは、それぞれ第一および第二レギュレータ８，１
１によって所定の圧力に調圧された後、ＦＩＤ１に供給
され、ＦＩＤ１において、水素ガスＦおよび助燃エアー
Ａの供給の下にサンプルガスＳとともに、燃焼が行わ
れ、所定の分析が行われる。 【０００６】 【発明が解決しようとする課題】前記ガス分析装置にお
いて、例えばディーゼルエンジン等の内燃機関から排出
されるガス中に含まれるＰＭ（Particulate Matter、す
す等の微粒子状物質）を定量分析しようとすると、サン
プルガス供給路２にフィルタ４を設けることができず、
フィルタ４なしで分析した場合、キャピラリ５の内部に
微粒子が付着し、流路抵抗が増大し、キャピラリ５が目
詰まりし、流量が低下する。ＦＩＤ１の感度は流量に一
次相関があり、流量の低下に応じてＦＩＤ１の感度が低
下するという問題がある。 【０００７】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、キャピラリの内壁に
付着した微粒子を除去し、キャピラリの目詰まりを防止
し、ＦＩＤの感度を維持できるガス分析装置を提供する
ことにある。 【０００８】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のガス分析装置は、ＦＩＤに接続され，前記
ＦＩＤの前段にキャピラリが設けられたサンプルガス供
給路と、前記検出器に接続され，二方電磁弁が設けられ
た助燃ガス供給路と、前記検出器に接続された燃料供給
路と、前記検出器に接続され，吸引ポンプとの間に二方
バルブが設けられた排出流路とを備え、測定モードにお
いて、前記二方バルブを開にし、前記吸引ポンプにより
サンプルガスを前記サンプルガス供給路から前記検出器
に導入した後，前記排出流路へと排出し、パージモード
において、前記二方バルブを閉，前記二方電磁弁を開に
し、助燃ガスを前記助燃ガス供給路から前記サンプルガ
ス供給路にサンプルガスとは逆方向に導入し、前記キャ
ピラリを清掃するようにしたものである。 【０００９】したがって、排出流路において、ＦＩＤと
吸引ポンプとの間に二方バルブを設け、パージモードに
おいて、二方バルブを閉，助燃ガス供給路の二方電磁弁
を開にし、助燃ガスを助燃ガス供給路からサンプルガス
供給路にサンプルガスとは逆方向に導入し、キャピラリ
を清掃するようにしたため、キャピラリの内壁に付着し
た微粒子を除去し、キャピラリの目詰まりを防止するこ
とができ、ＦＩＤの感度を維持することができる。 【００１０】 【発明の実施の形態】実施の１形態につき、ディーゼル
エンジン等の内燃機関から排出されるガス中に含まれる
ＰＭを測定するガス分析装置の構成を示した図１を参照
して説明する。同図において、図２と同一符号は同一も
しくは相当するものを示し、異なる点は、サンプルガス
供給路２の他端を自動車の排気管２１に接続し、サンプ
ルガス供給路２のフィルタ４をなくし、排出流路１２に
おける点ｄの上流側に電磁弁からなる二方バルブ２２を
設け、第一調圧流路１７における吸引ポンプ１８の上流
側に吸引ポンプ１８を保護するためのフィルタ２３を設
けた点である。 【００１１】そして、測定モードにおいて、排出流路１
２の二方バルブ２２，燃料供給路６の二方電磁弁７，助
燃ガス供給路９の二方電磁弁１０を開にし、第一調圧流
路１７の吸引ポンプ１８，排出流路１２の吸引ポンプ１
３を駆動する。この時、第三レギュレータ１６により点
ｂが一定負圧Ｐ1 に調圧されるとともに、第四レギュレ
ータ２０により点ｄが一定負圧Ｐ2 （Ｐ2 ＜Ｐ1 ）に調
圧され、排気管２１からの希釈されてないサンプルガス
Ｓがサンプルガス供給路２に供給される。点ａでは、第
三レギュレータ１６により点ｂと同じく定負圧Ｐ1 に調
圧され、サンプルガスＳがキャピラリ５を介して一定流
量で、かつ、所定圧力でＦＩＤ１に供給される。 【００１２】一方、燃料である水素ガスＦおよび助燃エ
アーＡは、それぞれ第一および第二レギュレータ８，１
１によって所定の圧力に調圧された後、ＦＩＤ１に供給
され、ＦＩＤ１において、水素ガスＦおよび助燃エアー
Ａの供給の下にサンプルガスＳとともに、燃焼が行わ
れ、所定の分析が行われる。 【００１３】つぎに、パージモードにおいて、助燃ガス
供給路９の二方電磁弁１０を開にし、燃料供給路６の二
方電磁弁７，排出流路１２の二方バルブ２２を閉にし、
第一調圧流路１７の吸引ポンプ１８，排出流路１２の吸
引ポンプ１３を駆動する。この時、第三レギュレータ１
６により点ｂが一定負圧Ｐ1 に調圧されるとともに、第
二レギュレータ１１により助燃エアーＡの圧力が一定負
圧Ｐ3 （Ｐ1 ＜Ｐ3 ）に調圧され、助燃ガス供給路９か
らの助燃エアーＡがＦＩＤ１を介してサンプルガスＳの
時の流れとは逆方向にキャピラリ５に導入され、キャピ
ラリ５の内壁に付着した微粒子が除去される。 【００１４】なお、前記形態の場合、二方バルブ２２を
電磁弁としたが、手動の切換コックであってもよい。 【００１５】また、キャピラリ５のパージガスに助燃エ
アーＡを用いたが、清浄ガスを用いてもよい。 【００１６】 【発明の効果】以上説明したように、本発明のガス分析
装置は、排出流路において、ＦＩＤと吸引ポンプとの間
に二方バルブを設け、パージモードにおいて、二方バル
ブを閉，助燃ガス供給路の二方電磁弁を開にし、助燃ガ
スを助燃ガス供給路からサンプルガス供給路にサンプル
ガスとは逆方向に導入し、キャピラリを清掃するように
したため、キャピラリの内壁に付着した微粒子を除去
し、キャピラリの目詰まりを防止することができ、ＦＩ
Ｄの感度を維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態の概略構成図である。
【図２】比較例の概略構成図である。
【符号の説明】
１…水素炎イオン化検出器（ＦＩＤ）、２…サンプルガ
ス供給路、５…キャピラリ、６…燃料供給路、９…助燃
ガス供給路、１０…二方電磁弁、１２…排出流路、１３
…吸引ポンプ、２２…二方バルブ、Ｓ…サンプルガス、
Ａ…助燃ガス。
ス供給路、５…キャピラリ、６…燃料供給路、９…助燃
ガス供給路、１０…二方電磁弁、１２…排出流路、１３
…吸引ポンプ、２２…二方バルブ、Ｓ…サンプルガス、
Ａ…助燃ガス。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭63−132161（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−50869（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−47547（ＪＰ，Ａ)
特開 平10−170491（ＪＰ，Ａ)
実開 平７−14371（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 27/62 - 27/70
H01J 49/00 - 49/48
G01N 30/00 - 30/96
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 水素炎イオン化検出器に接続され，前記
検出器の前段にキャピラリが設けられたサンプルガス供
給路と、 前記検出器に接続され，二方電磁弁が設けられた助燃ガ
ス供給路と、 前記検出器に接続された燃料供給路と、 前記検出器に接続され，吸引ポンプとの間に二方バルブ
が設けられた排出流路とを備え、 測定モードにおいて、前記二方バルブを開にし、前記吸
引ポンプによりサンプルガスを前記サンプルガス供給路
から前記検出器に導入した後，前記排出流路へと排出
し、 パージモードにおいて、前記二方バルブを閉，前記二方
電磁弁を開にし、助燃ガスを前記助燃ガス供給路から前
記サンプルガス供給路にサンプルガスとは逆方向に導入
し、前記キャピラリを清掃することを特徴とするガス分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18004498A JP3475082B2 (ja) | 1998-06-26 | 1998-06-26 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18004498A JP3475082B2 (ja) | 1998-06-26 | 1998-06-26 | ガス分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000009691A JP2000009691A (ja) | 2000-01-14 |
| JP3475082B2 true JP3475082B2 (ja) | 2003-12-08 |
Family
ID=16076514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18004498A Expired - Lifetime JP3475082B2 (ja) | 1998-06-26 | 1998-06-26 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3475082B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110444464A (zh) * | 2019-07-23 | 2019-11-12 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种用于氢同位素气体分析的四极质谱进样系统 |
-
1998
- 1998-06-26 JP JP18004498A patent/JP3475082B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110444464A (zh) * | 2019-07-23 | 2019-11-12 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种用于氢同位素气体分析的四极质谱进样系统 |
| CN110444464B (zh) * | 2019-07-23 | 2021-06-01 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种用于氢同位素气体分析的四极质谱进样系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000009691A (ja) | 2000-01-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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