JP3456031B2 - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
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- JP3456031B2 JP3456031B2 JP26380494A JP26380494A JP3456031B2 JP 3456031 B2 JP3456031 B2 JP 3456031B2 JP 26380494 A JP26380494 A JP 26380494A JP 26380494 A JP26380494 A JP 26380494A JP 3456031 B2 JP3456031 B2 JP 3456031B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光を用いて情報信号を
記録すると共に再生する光記録再生装置に関する。
記録すると共に再生する光記録再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に光ディスクの記録では、“1”と
“0”というビット情報の連なりである入力データ系列
を、該入力データ系列の最小反転間隔Tminと最大反転
間隔Tm axとを変えて、より光ディスクに適合する符号
シンボル系列に変換している。そして、この符号シンボ
ル系列を光ディスク上に記録するための形式としては、
マーク間記録と、マーク長記録とがある。
“0”というビット情報の連なりである入力データ系列
を、該入力データ系列の最小反転間隔Tminと最大反転
間隔Tm axとを変えて、より光ディスクに適合する符号
シンボル系列に変換している。そして、この符号シンボ
ル系列を光ディスク上に記録するための形式としては、
マーク間記録と、マーク長記録とがある。
【0003】この内、マーク長記録は、符号シンボル系
列の符号から例えば、NRZI(Non Return to Zero I
nverted)変調で波形列を生成して、該波形列のデータ
長に応じて例えばレーザダイオードの発光をパルス幅や
出力を変化させて制御し、熱記録における記録補償を行
う。そして、このマーク長記録は、情報ビットをマーク
のエッジ部に対応させ高密度記録再生を実現する。
列の符号から例えば、NRZI(Non Return to Zero I
nverted)変調で波形列を生成して、該波形列のデータ
長に応じて例えばレーザダイオードの発光をパルス幅や
出力を変化させて制御し、熱記録における記録補償を行
う。そして、このマーク長記録は、情報ビットをマーク
のエッジ部に対応させ高密度記録再生を実現する。
【0004】このような高密度記録再生方式において、
マークエッジを正確に記録するため、試し書きトラック
において、特定パターンを記録し、これを再生し、所望
の形状のマークの記録条件を設定する方式が知られてい
る。
マークエッジを正確に記録するため、試し書きトラック
において、特定パターンを記録し、これを再生し、所望
の形状のマークの記録条件を設定する方式が知られてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の試し書き記録条件設定方式においては、消去過程、
記録過程、再生過程に最低3回転の時間を必要とした。
また、記録条件をさまざまに変えて再生するためには、
条件を設定する開ループ動作のため、条件設定に失敗す
ることもあった。このため、試し書きを行う記録過程に
多大な時間を要し、最適記録条件の決定に手間どってい
た。
来の試し書き記録条件設定方式においては、消去過程、
記録過程、再生過程に最低3回転の時間を必要とした。
また、記録条件をさまざまに変えて再生するためには、
条件を設定する開ループ動作のため、条件設定に失敗す
ることもあった。このため、試し書きを行う記録過程に
多大な時間を要し、最適記録条件の決定に手間どってい
た。
【0006】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、多大な時間を不要とした試し書き記録により最
適記録条件を速やかに決定できる光記録再生装置の提供
を目的とする。
であり、多大な時間を不要とした試し書き記録により最
適記録条件を速やかに決定できる光記録再生装置の提供
を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光記録再生
装置は、レーザ光源から出射されたレーザ光をディスク
状記録媒体に照射して情報信号を記録すると共に、記録
された情報信号を再生する光記録再生装置において、上
記ディスク状記録媒体に情報信号を記録するための記録
用レーザ光と、記録された情報信号を再生するための再
生用レーザ光とを上記レーザ光源の出力を制御して上記
レーザ光源から出射させる出力制御手段と、上記出力制
御手段の出力制御により上記レーザ光源が再生用レーザ
光を出射したときに上記ディスク状記録媒体から得られ
た再生検出信号を2値化する2値化手段と、上記2値化
手段の2値化に用いられる2値化レベルに基づいて検出
される上記再生検出信号のエッジの平均位相に同期した
クロックを抽出するクロック抽出手段と、上記クロック
抽出手段が抽出したクロックに応じて、上記再生検出信
号をサンプリングし、得られた複数のサンプルレベルに
基づいてアシンメトリ検出信号を生成するアシンメトリ
検出手段とを有し、試し書き時に、上記ディスク状記録
媒体に形成されている試し書きのためのトラックに上記
記録用レーザ光を用いて記録条件設定用マークを所定の
間隔をおいて書き込み、かつ上記所定の間隔中には上記
記録条件設定用マークの再生検出信号を上記再生用レー
ザ光を用いて読み出すとともに、上記出力制御手段は、
上記アシンメトリ検出信号に基づいて得られた記録パワ
ー基準信号に、上記記録用レーザ光の発光パワーモニタ
信号を一致させるように上記記録用レーザ光の出力を制
御することにより上記課題を解決する。
装置は、レーザ光源から出射されたレーザ光をディスク
状記録媒体に照射して情報信号を記録すると共に、記録
された情報信号を再生する光記録再生装置において、上
記ディスク状記録媒体に情報信号を記録するための記録
用レーザ光と、記録された情報信号を再生するための再
生用レーザ光とを上記レーザ光源の出力を制御して上記
レーザ光源から出射させる出力制御手段と、上記出力制
御手段の出力制御により上記レーザ光源が再生用レーザ
光を出射したときに上記ディスク状記録媒体から得られ
た再生検出信号を2値化する2値化手段と、上記2値化
手段の2値化に用いられる2値化レベルに基づいて検出
される上記再生検出信号のエッジの平均位相に同期した
クロックを抽出するクロック抽出手段と、上記クロック
抽出手段が抽出したクロックに応じて、上記再生検出信
号をサンプリングし、得られた複数のサンプルレベルに
基づいてアシンメトリ検出信号を生成するアシンメトリ
検出手段とを有し、試し書き時に、上記ディスク状記録
媒体に形成されている試し書きのためのトラックに上記
記録用レーザ光を用いて記録条件設定用マークを所定の
間隔をおいて書き込み、かつ上記所定の間隔中には上記
記録条件設定用マークの再生検出信号を上記再生用レー
ザ光を用いて読み出すとともに、上記出力制御手段は、
上記アシンメトリ検出信号に基づいて得られた記録パワ
ー基準信号に、上記記録用レーザ光の発光パワーモニタ
信号を一致させるように上記記録用レーザ光の出力を制
御することにより上記課題を解決する。
【0008】この場合、上記出力制御手段の出力制御に
より上記レーザ光源から出射された記録用/再生用レー
ザ光は、上記ディスク状記録媒体上にて3スポットとさ
れ、記録用レーザ光のメインスポットにより前記記録条
件設定用マークが上記試し書きのためのトラックに所定
の間隔をおいて書き込まれ、再生用レーザ光のサイドス
ポットにより前記記録条件設定用マークが上記試し書き
のためのトラックから所定の間隔中に読み出される。
より上記レーザ光源から出射された記録用/再生用レー
ザ光は、上記ディスク状記録媒体上にて3スポットとさ
れ、記録用レーザ光のメインスポットにより前記記録条
件設定用マークが上記試し書きのためのトラックに所定
の間隔をおいて書き込まれ、再生用レーザ光のサイドス
ポットにより前記記録条件設定用マークが上記試し書き
のためのトラックから所定の間隔中に読み出される。
【0009】また、上記記録パワー基準信号は、上記ア
シンメトリ検出信号が積分されて生成される。
シンメトリ検出信号が積分されて生成される。
【0010】
【作用】本発明に係る光記録再生装置は、試し書き時
に、記録用レーザ光を用いて、ディスク状記録媒体上の
試し書きのためのトラックに記録条件設定用マークを所
定の間隔をおいて書き込み、かつ所定の間隔中には再生
用レーザ光を用いて記録条件設定用マークの再生検出信
号を読み出し、2値化手段の2値化に用いられる2値化
レベルに基づいて検出される再生検出信号のエッジの平
均位相に同期してクロック抽出手段が抽出したクロック
に応じて再生検出信号をサンプリングし、得られた複数
のサンプルレベルに基づいてアシンメトリ検出手段にア
シンメトリ検出信号を生成させ、このアシンメトリ検出
信号に基づいて得られた記録パワー基準信号に、記録用
レーザ光の発光モニタ信号を一致させるように記録用レ
ーザ光の出力を制御する。
に、記録用レーザ光を用いて、ディスク状記録媒体上の
試し書きのためのトラックに記録条件設定用マークを所
定の間隔をおいて書き込み、かつ所定の間隔中には再生
用レーザ光を用いて記録条件設定用マークの再生検出信
号を読み出し、2値化手段の2値化に用いられる2値化
レベルに基づいて検出される再生検出信号のエッジの平
均位相に同期してクロック抽出手段が抽出したクロック
に応じて再生検出信号をサンプリングし、得られた複数
のサンプルレベルに基づいてアシンメトリ検出手段にア
シンメトリ検出信号を生成させ、このアシンメトリ検出
信号に基づいて得られた記録パワー基準信号に、記録用
レーザ光の発光モニタ信号を一致させるように記録用レ
ーザ光の出力を制御する。
【0011】
【実施例】以下、本発明に係る光記録再生装置の実施例
について、図面を参照しながら説明する。この実施例
は、例えば径が130mmの光ディスクに、少なくとも
記録用のレーザ光と再生用のレーザ光の2つのレーザ光
を用いて熱記録により波形列のデータ長に応じたマーク
長記録を行うと共に、該マークを再生する光ディスク記
録再生装置である。
について、図面を参照しながら説明する。この実施例
は、例えば径が130mmの光ディスクに、少なくとも
記録用のレーザ光と再生用のレーザ光の2つのレーザ光
を用いて熱記録により波形列のデータ長に応じたマーク
長記録を行うと共に、該マークを再生する光ディスク記
録再生装置である。
【0012】そして、この光ディスク記録再生装置は、
図1に示すように、上記光ディスクに照射される記録/
再生用のレーザ光の出力を制御する出力制御手段である
パワーコントローラ2と、上記光ディスクから得られた
再生検出信号である再生サイドスポット信号を2値化す
る2値化手段である比較器9と、この比較器9の2値化
出力から再生クロックを抽出するクロック抽出器10
と、このクロック抽出器10が抽出した再生クロックに
応じて上記再生サイドスポット信号からアシンメトリ検
出信号を生成するアシンメトリ検出器11とを有してな
る。
図1に示すように、上記光ディスクに照射される記録/
再生用のレーザ光の出力を制御する出力制御手段である
パワーコントローラ2と、上記光ディスクから得られた
再生検出信号である再生サイドスポット信号を2値化す
る2値化手段である比較器9と、この比較器9の2値化
出力から再生クロックを抽出するクロック抽出器10
と、このクロック抽出器10が抽出した再生クロックに
応じて上記再生サイドスポット信号からアシンメトリ検
出信号を生成するアシンメトリ検出器11とを有してな
る。
【0013】パワーコントローラ2は、記録/再生切り
替え信号によって出力形態が切り替えられ、ディスク装
置5の光ディスクDからの発光パワーモニタ信号に応じ
てレーザドライバ3の駆動を制御し、レーザダイオード
4から出力される書き込み用/再生用のレーザ光の出力
パワーをコントロールする。
替え信号によって出力形態が切り替えられ、ディスク装
置5の光ディスクDからの発光パワーモニタ信号に応じ
てレーザドライバ3の駆動を制御し、レーザダイオード
4から出力される書き込み用/再生用のレーザ光の出力
パワーをコントロールする。
【0014】特に、試し書き記録時には、ディスク装置
5の光ディスクDからの発光パワーモニタ信号が記録パ
ワー基準信号に一致するように上記書き込み用のレーザ
光の出力パワーをコントロールする。
5の光ディスクDからの発光パワーモニタ信号が記録パ
ワー基準信号に一致するように上記書き込み用のレーザ
光の出力パワーをコントロールする。
【0015】ここで、本実施例が行う試し書きでは、例
えばグレーティングにより形成された3ビームの内のメ
インスポットにより記録条件設定用マークを記録し、次
いで再生パワーに切り替え後続のサイドスポットで再生
し、記録条件を修正する過程を繰り返し、1回転内で最
適記録条件を決定している。
えばグレーティングにより形成された3ビームの内のメ
インスポットにより記録条件設定用マークを記録し、次
いで再生パワーに切り替え後続のサイドスポットで再生
し、記録条件を修正する過程を繰り返し、1回転内で最
適記録条件を決定している。
【0016】以下、試し書き時における光ディスク記録
再生装置の動作を説明する。
再生装置の動作を説明する。
【0017】レーザドライバ3は、記録データ列を変調
したパルス波形で発光パルスを生成する記録パルス変調
器1の該発光パルスと、パワーコントローラ2からの制
御信号に応じて、レーザダイオード4に記録データ列に
応じたレーザダイオード駆動電流を供給する。
したパルス波形で発光パルスを生成する記録パルス変調
器1の該発光パルスと、パワーコントローラ2からの制
御信号に応じて、レーザダイオード4に記録データ列に
応じたレーザダイオード駆動電流を供給する。
【0018】レーザダイオード4は、レーザドライバ3
からの上記レーザダイオード駆動電流に応じて記録用の
レーザ光をディスク装置5の光ディスクDの信号記録面
に出射する。これにより、ディスク装置5の光ディスク
D上には、記録条件設定用マークが形成される。
からの上記レーザダイオード駆動電流に応じて記録用の
レーザ光をディスク装置5の光ディスクDの信号記録面
に出射する。これにより、ディスク装置5の光ディスク
D上には、記録条件設定用マークが形成される。
【0019】この光ディスク記録再生装置では、上述し
たようにレーザダイオード4からのレーザ光を図示しな
い光学系、例えばグレーティングを用いて、図2に示す
ようにメインスポット13、先行サイドスポット14、
後行サイドスポット15の3スポットに分割している。
たようにレーザダイオード4からのレーザ光を図示しな
い光学系、例えばグレーティングを用いて、図2に示す
ようにメインスポット13、先行サイドスポット14、
後行サイドスポット15の3スポットに分割している。
【0020】ディスク装置5の光ディスクDには、試し
書き用のトラック12が設けられている。試し書き動作
は、試し書きトラック12で、メインスポット13によ
り、後行サイドスポット15との間隔以下の長さで、T
1、T3、T5、T7・・・の期間になされる。このた
め、記録条件設定用マーク書き込み領域16、17、1
8及び19が形成される。
書き用のトラック12が設けられている。試し書き動作
は、試し書きトラック12で、メインスポット13によ
り、後行サイドスポット15との間隔以下の長さで、T
1、T3、T5、T7・・・の期間になされる。このた
め、記録条件設定用マーク書き込み領域16、17、1
8及び19が形成される。
【0021】ここで、パワーコントローラ2は、ディス
ク装置5の光ディスクDからの発光パワーモニタ信号を
上記記録パワー基準信号に近づけるように、レーザドラ
イバ3の駆動を制御する。
ク装置5の光ディスクDからの発光パワーモニタ信号を
上記記録パワー基準信号に近づけるように、レーザドラ
イバ3の駆動を制御する。
【0022】次に、この試し書き動作時における光ディ
スク記録再生装置のアシンメトリ検出過程の動作につい
て説明する。この過程は、T1、T3、T5、T7・・・の
期間に記録された記録条件設定用マークのアシンメトリ
検出のため、試し書きの記録過程の直後、T2、T4、T
6、T8・・・の期間に行われる。
スク記録再生装置のアシンメトリ検出過程の動作につい
て説明する。この過程は、T1、T3、T5、T7・・・の
期間に記録された記録条件設定用マークのアシンメトリ
検出のため、試し書きの記録過程の直後、T2、T4、T
6、T8・・・の期間に行われる。
【0023】パワーコントローラ2は、再生切り替え信
号に応じてレーザドライバ3の駆動を再生用に制御す
る。レーザドライバ3は、レーザダイオード4に再生用
のレーザ駆動電流を供給し、該レーザダイオード4から
再生用のレーザ光を出射させる。
号に応じてレーザドライバ3の駆動を再生用に制御す
る。レーザドライバ3は、レーザダイオード4に再生用
のレーザ駆動電流を供給し、該レーザダイオード4から
再生用のレーザ光を出射させる。
【0024】この再生用のレーザ光も、図示しない光学
系、例えばグレーティングにより分割されて光ディスク
Dの試し書きトラック12上に照射される。後行サイド
スポット15による反射光の光量は、フォトダイオード
6により光電変換されて検出され、再生サイドスポット
信号として、プリアンプ7に供給される。プリアンプ7
で増幅された再生サイドスポット信号は、等化器8によ
り成形される。
系、例えばグレーティングにより分割されて光ディスク
Dの試し書きトラック12上に照射される。後行サイド
スポット15による反射光の光量は、フォトダイオード
6により光電変換されて検出され、再生サイドスポット
信号として、プリアンプ7に供給される。プリアンプ7
で増幅された再生サイドスポット信号は、等化器8によ
り成形される。
【0025】等化器8を介した再生サイドスポット信号
は、比較器9で2値化される。そして、クロック抽出器
10で2値化レベルのエッジの平均位相に同期した再生
クロックが抽出される。このクロック抽出器10で抽出
されたクロックは、アシンメトリ検出器11に供給され
る。このアシンメトリ検出器11には、等化器8により
成形された上記再生サイドスポット信号も供給されてい
る。したがって、後行サイドスポット15による再生サ
イドスポット信号は、上記クロックによりアシンメトリ
検出器11内のデータサンプル器でサンプルされる。
は、比較器9で2値化される。そして、クロック抽出器
10で2値化レベルのエッジの平均位相に同期した再生
クロックが抽出される。このクロック抽出器10で抽出
されたクロックは、アシンメトリ検出器11に供給され
る。このアシンメトリ検出器11には、等化器8により
成形された上記再生サイドスポット信号も供給されてい
る。したがって、後行サイドスポット15による再生サ
イドスポット信号は、上記クロックによりアシンメトリ
検出器11内のデータサンプル器でサンプルされる。
【0026】試し書きトラック12上の記録条件設定用
マーク書き込み領域16、17、18及び19には、上
記レーザダイオード4から出射された上記書き込み用レ
ーザ光が形成するメインスポット13により、図3に示
すような、デューティ(Duty)50%の記録条件設
定用マークが記録される。すなわち、長マークML、短
スペースSS、長マークML、長スペースSL、短マーク
MS、長スペースSLのようにである。
マーク書き込み領域16、17、18及び19には、上
記レーザダイオード4から出射された上記書き込み用レ
ーザ光が形成するメインスポット13により、図3に示
すような、デューティ(Duty)50%の記録条件設
定用マークが記録される。すなわち、長マークML、短
スペースSS、長マークML、長スペースSL、短マーク
MS、長スペースSLのようにである。
【0027】このとき、後行サイドスポット15からの
反射光による再生サイドスポット信号の再生波形は、図
4の(A)のようになる。すなわち、再生サイドスポッ
ト信号は、2値化レベルのエッジの平均位相に同期した
図4の(B)に示す再生クロックにより、サンプルパル
スPa、Pb、Pc、Pdでサンプリングされる。
反射光による再生サイドスポット信号の再生波形は、図
4の(A)のようになる。すなわち、再生サイドスポッ
ト信号は、2値化レベルのエッジの平均位相に同期した
図4の(B)に示す再生クロックにより、サンプルパル
スPa、Pb、Pc、Pdでサンプリングされる。
【0028】そして、アシンメトリ検出器11は、上記
サンプルパルスPa、Pb、Pc、Pdでサンプリング
された後述の各サンプルレベルを用いてアシンメトリ検
出信号を生成する。ここで、各サンプルレベルをVa、
Vb、Vc、Vdとする。最適記録状態においては、短
マークMSと短スペースSSの中心値が、最大振幅であ
る長マークMLと長スペースSLの中心値と一致する。
つまり、アシンメトリ検出信号は、 (Va+Vc)/2−(Vb+Vd)/2 の演算により得られる。このように、アシンメトリ検出
器11は、比較器9により2値化された再生サイドスポ
ット信号のエッジの平均位相に同期してクロック抽出器
10が抽出した再生クロックによる上記サンプルパルス
Pa、Pb、Pc、PdにしたがったサンプルレベルV
a、Vb、Vc、Vdを用いてアシンメトリ検出信号を
生成する。
サンプルパルスPa、Pb、Pc、Pdでサンプリング
された後述の各サンプルレベルを用いてアシンメトリ検
出信号を生成する。ここで、各サンプルレベルをVa、
Vb、Vc、Vdとする。最適記録状態においては、短
マークMSと短スペースSSの中心値が、最大振幅であ
る長マークMLと長スペースSLの中心値と一致する。
つまり、アシンメトリ検出信号は、 (Va+Vc)/2−(Vb+Vd)/2 の演算により得られる。このように、アシンメトリ検出
器11は、比較器9により2値化された再生サイドスポ
ット信号のエッジの平均位相に同期してクロック抽出器
10が抽出した再生クロックによる上記サンプルパルス
Pa、Pb、Pc、PdにしたがったサンプルレベルV
a、Vb、Vc、Vdを用いてアシンメトリ検出信号を
生成する。
【0029】これを実現するアシンメトリ検出器11の
詳細な構成を図5に示す。このアシンメトリ検出器11
は、サンプルレベルVa、Vb、Vc及びVdを出力す
るサンプルレベル出力回路21、22、23及び24
と、上記サンプルレベルVa、Vb、Vc及びVdを用
いて、{Va−Vb+Vc−Vd}という演算を行う加
算器25と、この演算結果からアシンメトリ検出信号を
出力する検出信号出力回路26とから構成される。
詳細な構成を図5に示す。このアシンメトリ検出器11
は、サンプルレベルVa、Vb、Vc及びVdを出力す
るサンプルレベル出力回路21、22、23及び24
と、上記サンプルレベルVa、Vb、Vc及びVdを用
いて、{Va−Vb+Vc−Vd}という演算を行う加
算器25と、この演算結果からアシンメトリ検出信号を
出力する検出信号出力回路26とから構成される。
【0030】ここで、サンプルレベル出力回路21は、
上記再生サイドスポット信号を増幅する増幅器27と、
サンプルパルスPaに応じて、増幅された上記再生サイ
ドスポット信号の出力を切り替える切り替えスイッチ2
8と、コンデンサ29と、増幅器30とから構成されて
いる。他のサンプルレベル出力回路22、23及び24
も同様の構成となるので説明を省略する。ただし、各切
り替えスイッチの切り替えを制御するのは、サンプルパ
ルスPb、Pc及びPdである。サンプルレベル出力回
路21は、再生サイドスポット信号を増幅器27で増幅
し、サンプルパルスPaに応じて切り替えて出力し、該
切り替え出力をコンデンサ29により整形した後、増幅
器30により増幅してサンプルレベルVaとしている。
他のサンプルレベル出力回路22、23及び24も同様
にしてサンプルレベルVb、Vc及びVdを出力してい
る。
上記再生サイドスポット信号を増幅する増幅器27と、
サンプルパルスPaに応じて、増幅された上記再生サイ
ドスポット信号の出力を切り替える切り替えスイッチ2
8と、コンデンサ29と、増幅器30とから構成されて
いる。他のサンプルレベル出力回路22、23及び24
も同様の構成となるので説明を省略する。ただし、各切
り替えスイッチの切り替えを制御するのは、サンプルパ
ルスPb、Pc及びPdである。サンプルレベル出力回
路21は、再生サイドスポット信号を増幅器27で増幅
し、サンプルパルスPaに応じて切り替えて出力し、該
切り替え出力をコンデンサ29により整形した後、増幅
器30により増幅してサンプルレベルVaとしている。
他のサンプルレベル出力回路22、23及び24も同様
にしてサンプルレベルVb、Vc及びVdを出力してい
る。
【0031】また、検出信号出力回路26も同様の構成
であるが、切り替えスイッチの切り替えを制御するの
は、タイミングパルスPeである。このタイミングパル
スPeは、サンプルパルスPdによるサンプルホールド
制定後、演算結果をサンプルする。これにより、アシン
メトリ検出器11は、図6に示すような記録パワーと逆
相のアシンメトリ検出信号を生成することができる。
であるが、切り替えスイッチの切り替えを制御するの
は、タイミングパルスPeである。このタイミングパル
スPeは、サンプルパルスPdによるサンプルホールド
制定後、演算結果をサンプルする。これにより、アシン
メトリ検出器11は、図6に示すような記録パワーと逆
相のアシンメトリ検出信号を生成することができる。
【0032】このアシンメトリ検出信号は、図7に示す
積分器40に供給されて、記録パワー基準信号とされ
る。この記録パワー基準信号は、パワーコントローラ2
にフィードバックされる。
積分器40に供給されて、記録パワー基準信号とされ
る。この記録パワー基準信号は、パワーコントローラ2
にフィードバックされる。
【0033】以上説明したようなメインスポット13に
よる記録、後行サイドスポット15によるアシンメトリ
検出と記録パワー基準信号修正とを、T1、T3、T5、
T7・・・期間と、T2、T4、T6、T8・・・期間で、
分担して繰り返し行うことで、記録条件を修正する過程
を繰り返し、記録パワーを図6の最適点に収束させるこ
とができる。すなわち、T1ではメインスポット記録、
T2ではサイドスポット再生とアシンメトリ検出と記録
パワー基準信号修正、T3ではメインスポット記録、T4
ではサイドスポット再生とアシンメトリ検出と記録パワ
ー基準信号修正、・・・・を繰り返すようにすること
で、1回転内で最適記録条件を決定できる。
よる記録、後行サイドスポット15によるアシンメトリ
検出と記録パワー基準信号修正とを、T1、T3、T5、
T7・・・期間と、T2、T4、T6、T8・・・期間で、
分担して繰り返し行うことで、記録条件を修正する過程
を繰り返し、記録パワーを図6の最適点に収束させるこ
とができる。すなわち、T1ではメインスポット記録、
T2ではサイドスポット再生とアシンメトリ検出と記録
パワー基準信号修正、T3ではメインスポット記録、T4
ではサイドスポット再生とアシンメトリ検出と記録パワ
ー基準信号修正、・・・・を繰り返すようにすること
で、1回転内で最適記録条件を決定できる。
【0034】なお、図3の記録パターンでは、記録マー
クを長マークML、短スペースSS、長マークML、長ス
ペースSL、短マークMS、長スペースSLのように記録
したが、メインスポット13と後行サイドスポットとの
間隔以内であれば、記録マークを複数個繰り返し記録
し、平均値をとってもよい。
クを長マークML、短スペースSS、長マークML、長ス
ペースSL、短マークMS、長スペースSLのように記録
したが、メインスポット13と後行サイドスポットとの
間隔以内であれば、記録マークを複数個繰り返し記録
し、平均値をとってもよい。
【0035】また、図3の記録パターンに限られるもの
ではなく、記録パワーを図6の最適点に収束させること
ができれば、他のパターンでもよい。
ではなく、記録パワーを図6の最適点に収束させること
ができれば、他のパターンでもよい。
【0036】また、アシンメトリ検出回路は、説明のた
め複数のサンプルホールドを用いたアナログ回路にて構
成したが、AD変換器とディジタル演算器の組合せで構
成してもよい。
め複数のサンプルホールドを用いたアナログ回路にて構
成したが、AD変換器とディジタル演算器の組合せで構
成してもよい。
【0037】また、アシンメトリ検出信号を図7に示す
ように積分器を用いて、パワーコントロール回路2にフ
ィードバックしたが、高速化のため、これに、比例制御
回路、微分制御回路、補償回路、ファジー制御回路等、
サーボ特性改善のためのさまざまな構成を取ってもよ
い。
ように積分器を用いて、パワーコントロール回路2にフ
ィードバックしたが、高速化のため、これに、比例制御
回路、微分制御回路、補償回路、ファジー制御回路等、
サーボ特性改善のためのさまざまな構成を取ってもよ
い。
【0038】また、アシンメトリ検出をサイドスポット
で行ったが、再生専用の別光源からの再生スポットで行
ってもよい。
で行ったが、再生専用の別光源からの再生スポットで行
ってもよい。
【0039】
【発明の効果】本発明に係る光記録再生装置は、試し書
き時に、出力制御手段の出力制御によりレーザ光源が出
射した記録用レーザ光を用いて、ディスク状記録媒体上
の試し書きのためのトラックに記録条件設定用マークを
所定の間隔をおいて書き込み、かつ上記所定の間隔中に
は出力制御手段の出力制御によりレーザ光源が出射した
再生用レーザ光を用いて上記記録条件設定用マークの再
生検出信号を読み出し、上記2値化手段が2値化した再
生検出信号のエッジの平均位相に同期してクロック抽出
手段が抽出したクロックに基づいたサンプルレベルにし
たがって上記アシンメトリ検出手段にアシンメトリ検出
信号を生成させ、このアシンメトリ検出信号に基づいて
得られた記録パター基準信号に、記録用レーザ光のパワ
ーモニタ信号を近づけるように記録用レーザ光の出力を
制御するので、試し書き動作が記録過程のみで可能とな
り、従来のように消去過程、記録過程、再生過程に費や
す多大な時間を不要とし、試し書き動作を短縮すること
ができる。このため本発明の光記録再生装置は、最適記
録条件を速やかに決定できる。
き時に、出力制御手段の出力制御によりレーザ光源が出
射した記録用レーザ光を用いて、ディスク状記録媒体上
の試し書きのためのトラックに記録条件設定用マークを
所定の間隔をおいて書き込み、かつ上記所定の間隔中に
は出力制御手段の出力制御によりレーザ光源が出射した
再生用レーザ光を用いて上記記録条件設定用マークの再
生検出信号を読み出し、上記2値化手段が2値化した再
生検出信号のエッジの平均位相に同期してクロック抽出
手段が抽出したクロックに基づいたサンプルレベルにし
たがって上記アシンメトリ検出手段にアシンメトリ検出
信号を生成させ、このアシンメトリ検出信号に基づいて
得られた記録パター基準信号に、記録用レーザ光のパワ
ーモニタ信号を近づけるように記録用レーザ光の出力を
制御するので、試し書き動作が記録過程のみで可能とな
り、従来のように消去過程、記録過程、再生過程に費や
す多大な時間を不要とし、試し書き動作を短縮すること
ができる。このため本発明の光記録再生装置は、最適記
録条件を速やかに決定できる。
【図1】本発明の実施例である光ディスク記録再生装置
のブロック回路図である。
のブロック回路図である。
【図2】上記実施例である光ディスク記録再生装置のデ
ィスク装置の試し書きトラックの構成と、3スポットを
示す図である。
ィスク装置の試し書きトラックの構成と、3スポットを
示す図である。
【図3】試し書きトラック上に記録された記録マークを
説明するための図である。
説明するための図である。
【図4】再生サイドスポット信号の波形図である。
【図5】アシンメトリ検出回路の詳細な回路図である。
【図6】アシンメトリ検出信号を説明するための図であ
る。
る。
【図7】記録パワー基準信号の生成を説明するための図
である。
である。
2 パワーコントローラ
9 比較器
10 クロック抽出器
11 アシンメトリ検出器
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
G11B 7/0045
G11B 7/125
Claims (3)
- 【請求項1】 レーザ光源から出射されたレーザ光をデ
ィスク状記録媒体に照射して情報信号を記録すると共
に、記録された情報信号を再生する光記録再生装置にお
いて、 上記ディスク状記録媒体に情報信号を記録するための記
録用レーザ光と、記録された情報信号を再生するための
再生用レーザ光とを上記レーザ光源の出力を制御して上
記レーザ光源から出射させる出力制御手段と、 上記出力制御手段の出力制御により上記レーザ光源が再
生用レーザ光を出射したときに上記ディスク状記録媒体
から得られた再生検出信号を2値化する2値化手段と、 上記2値化手段の2値化に用いられる2値化レベルに基
づいて検出される上記再生検出信号のエッジの平均位相
に同期したクロックを抽出するクロック抽出手段と、 上記クロック抽出手段が抽出したクロックに応じて、前
記再生検出信号をサンプリングし、得られた複数のサン
プルレベルに基づいてアシンメトリ検出信号を生成する
アシンメトリ検出手段とを有し、 試し書き時に、上記ディスク状記録媒体に形成されてい
る試し書きのためのトラックに上記記録用レーザ光を用
いて記録条件設定用マークを所定の間隔をおいて書き込
み、かつ上記所定の間隔中には上記記録条件設定用マー
クの再生検出信号を上記再生用レーザ光を用いて読み出
すとともに、上記出力制御手段は、上記アシンメトリ検
出信号に基づいて得られた記録パワー基準信号に、上記
記録用レーザ光の発光パワーモニタ信号を一致させるよ
うに上記記録用レーザ光の出力を制御することを特徴と
する光記録再生装置。 - 【請求項2】 上記出力制御手段の出力制御により上記
レーザ光源から出射された記録用/再生用レーザ光は、
上記ディスク状記録媒体上にて3スポットとされ、記録
用レーザ光のメインスポットにより前記記録条件設定用
マークが上記試し書きのためのトラックに所定の間隔を
おいて書き込まれ、再生用レーザ光のサイドスポットに
より前記記録条件設定用マークが上記試し書きのための
トラックから所定の間隔中に読み出されることを特徴と
する請求項1記載の光記録再生装置。 - 【請求項3】 上記記録パワー基準信号は、上記アシン
メトリ検出信号が積分されて生成されることを特徴とす
る請求項1記載の光記録再生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26380494A JP3456031B2 (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26380494A JP3456031B2 (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 光記録再生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08124166A JPH08124166A (ja) | 1996-05-17 |
JP3456031B2 true JP3456031B2 (ja) | 2003-10-14 |
Family
ID=17394486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26380494A Expired - Fee Related JP3456031B2 (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3456031B2 (ja) |
-
1994
- 1994-10-27 JP JP26380494A patent/JP3456031B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08124166A (ja) | 1996-05-17 |
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Date | Code | Title | Description |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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