JP3452736B2 - 原子吸光光度計 - Google Patents
原子吸光光度計Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、原子吸光光度計に
係り、特に、グラファイト炉分析部とフレーム分析部と
の両者を備える小型の原子吸光光度計に関する。
係り、特に、グラファイト炉分析部とフレーム分析部と
の両者を備える小型の原子吸光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、原子吸光光度計は、重金属を含
む金属の定量分析に使用されるものであり、アセチレン
等の燃焼炎の中に分析したい金属を含む試料を噴霧して
原子化させ、炎の中を分析したい金属が吸収する波長を
持った光を通過させて、その光の減衰量を検出すること
により試料に含まれる金属の量を検出するフレーム分析
法と、加熱したグラファイト管の中に試料を滴下して気
化、原子化させ、前述の場合と同様に、グラファイト管
の中を分析したい金属が吸収する波長を持った光を通過
させて、その光の減衰量を検出することにより試料に含
まれる金属の量を検出するするグラファイト炉分析法と
が知られている。
む金属の定量分析に使用されるものであり、アセチレン
等の燃焼炎の中に分析したい金属を含む試料を噴霧して
原子化させ、炎の中を分析したい金属が吸収する波長を
持った光を通過させて、その光の減衰量を検出すること
により試料に含まれる金属の量を検出するフレーム分析
法と、加熱したグラファイト管の中に試料を滴下して気
化、原子化させ、前述の場合と同様に、グラファイト管
の中を分析したい金属が吸収する波長を持った光を通過
させて、その光の減衰量を検出することにより試料に含
まれる金属の量を検出するするグラファイト炉分析法と
が知られている。
【０００３】そして、フレーム分析法とグラファイト炉
分析法とは、分析可能な金属の種類に相違する部分があ
り、また、分析に必要な時間に差がある等のため、原子
吸光光度計は、両者の方法による分析が可能に構成され
るのが一般的である。
分析法とは、分析可能な金属の種類に相違する部分があ
り、また、分析に必要な時間に差がある等のため、原子
吸光光度計は、両者の方法による分析が可能に構成され
るのが一般的である。
【０００４】図７はフレーム分析法とグラファイト炉分
析法との両者の分析部を備える従来技術による原子吸光
光度計の構成を示す正面図、図８は図７におけるホロカ
ソードランプの配置を説明する図であり、以下、図７、
図８を参照して、従来技術による原子吸光光度計につい
て説明する。図７、図８において、２はランプ室、３は
グラファイト炉分析部、４はフレーム分析部、５は電気
制御部、７はグラファイト炉電源部、７１はパソコン、
７２はディスプレイ、７３はキーボード、７４は排ガス
排気口、７５は蓋、７６はホローカソードランプ、７７
はランプホルダである。
析法との両者の分析部を備える従来技術による原子吸光
光度計の構成を示す正面図、図８は図７におけるホロカ
ソードランプの配置を説明する図であり、以下、図７、
図８を参照して、従来技術による原子吸光光度計につい
て説明する。図７、図８において、２はランプ室、３は
グラファイト炉分析部、４はフレーム分析部、５は電気
制御部、７はグラファイト炉電源部、７１はパソコン、
７２はディスプレイ、７３はキーボード、７４は排ガス
排気口、７５は蓋、７６はホローカソードランプ、７７
はランプホルダである。
【０００５】従来技術による原子吸光光度計は、図７に
示すように、１つの筐体内に左側から順に、ランプ室
２、フレーム分析部４、グラファイト炉分析部３、電気
制御部５を配置して構成される。また、別体に構成され
るグラファイト炉分析部３に対する加熱用のグラファイ
ト炉電源部７、光度計全体を制御し操作するためのディ
スプレイ７２、キーボード７３を有するパソコン７１が
配置される。そして、グラファイト炉電源部７からのノ
イズを避けるため、電気制御部５、パソコン７１をグラ
ファイト炉電源部７から離して配置する必要があり、通
常、グラファイト炉電源部７を左側に、パソコン７１を
右側に配置して使用される。また、図示していないが、
フレーム分析部４の排ガス排気口７４、グラファイト炉
分析部３の上方には、排気ダクトが設けられ、フレーム
分析部４、グラファイト炉分析部３から発生する試料ガ
スが、原子吸光光度計を設置している室内に拡散して、
その後の計測の邪魔にならないようにされている。
示すように、１つの筐体内に左側から順に、ランプ室
２、フレーム分析部４、グラファイト炉分析部３、電気
制御部５を配置して構成される。また、別体に構成され
るグラファイト炉分析部３に対する加熱用のグラファイ
ト炉電源部７、光度計全体を制御し操作するためのディ
スプレイ７２、キーボード７３を有するパソコン７１が
配置される。そして、グラファイト炉電源部７からのノ
イズを避けるため、電気制御部５、パソコン７１をグラ
ファイト炉電源部７から離して配置する必要があり、通
常、グラファイト炉電源部７を左側に、パソコン７１を
右側に配置して使用される。また、図示していないが、
フレーム分析部４の排ガス排気口７４、グラファイト炉
分析部３の上方には、排気ダクトが設けられ、フレーム
分析部４、グラファイト炉分析部３から発生する試料ガ
スが、原子吸光光度計を設置している室内に拡散して、
その後の計測の邪魔にならないようにされている。
【０００６】ランプ室２は、図８に示すように、その上
面と前面の一部が蓋７５として構成されており、その内
部には、ターレット式のランプホルダ７７に取り付けら
れた複数本のホローカソードランプ７６が設置されてい
る。ホローカソードランプ７６は、それぞれが検出しよ
うとしている金属原子に対応するもので、付け替え可能
にランプホルダ７７に横向きに取り付けられている。そ
して、ランプホルダ７７を回転させることにより、必要
なホローカソードランプ７６の１つが所定の位置に位置
決めされる。このホローカソードランプ７６からの光束
は、図示しない各種の光学系を介してフレーム分析部
４、グラファイト炉分析部３を経て図示しない光電子増
倍管に導かれ電気信号に変換される。パソコン７１は、
この電気信号に基づいて、フレーム分析部４またはグラ
ファイト炉分析部３内で原子化されている金属による光
の吸収量演算し、目的の金属の定量分析を実行する。
面と前面の一部が蓋７５として構成されており、その内
部には、ターレット式のランプホルダ７７に取り付けら
れた複数本のホローカソードランプ７６が設置されてい
る。ホローカソードランプ７６は、それぞれが検出しよ
うとしている金属原子に対応するもので、付け替え可能
にランプホルダ７７に横向きに取り付けられている。そ
して、ランプホルダ７７を回転させることにより、必要
なホローカソードランプ７６の１つが所定の位置に位置
決めされる。このホローカソードランプ７６からの光束
は、図示しない各種の光学系を介してフレーム分析部
４、グラファイト炉分析部３を経て図示しない光電子増
倍管に導かれ電気信号に変換される。パソコン７１は、
この電気信号に基づいて、フレーム分析部４またはグラ
ファイト炉分析部３内で原子化されている金属による光
の吸収量演算し、目的の金属の定量分析を実行する。
【０００７】なお、フレーム分析部４、グラファイト炉
分析部３は、これらが同時に使用されることはなく、何
れか一方のみが使用される。
分析部３は、これらが同時に使用されることはなく、何
れか一方のみが使用される。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術によ
る原子吸光光度計は、図７により説明したような配置構
成を持つため、また、ランプ室２内にホローカソードラ
ンプ７６を横置きに配置しているため、ランプ室の幅寸
法が大きくなり、装置全体が大型となってしまうという
問題点を有し、また、グラファイト炉分析部電源部７が
別体に構成されているので、装置全体の設置面積が増大
するという問題点を有している。
る原子吸光光度計は、図７により説明したような配置構
成を持つため、また、ランプ室２内にホローカソードラ
ンプ７６を横置きに配置しているため、ランプ室の幅寸
法が大きくなり、装置全体が大型となってしまうという
問題点を有し、また、グラファイト炉分析部電源部７が
別体に構成されているので、装置全体の設置面積が増大
するという問題点を有している。
【０００９】さらに、前記従来技術は、ランプ室２とパ
ソコン７１とが離れて配置されることになるため、作動
中のホローカソードランプ７６の確認と、ディスプレイ
７２上の表示の確認、パソコン７１の操作等を同時に行
うことができず使い勝手が悪いという問題点を有してい
る。
ソコン７１とが離れて配置されることになるため、作動
中のホローカソードランプ７６の確認と、ディスプレイ
７２上の表示の確認、パソコン７１の操作等を同時に行
うことができず使い勝手が悪いという問題点を有してい
る。
【００１０】本発明の目的は、前述した従来技術の問題
点を解決し、小型で使い勝手のよい、かつ、グラファイ
ト炉分析部の高感度化を図ることのできる原子吸光光度
計を提供することにある。
点を解決し、小型で使い勝手のよい、かつ、グラファイ
ト炉分析部の高感度化を図ることのできる原子吸光光度
計を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によれば前記目的
は、複数のホローカソードランプを収納するランプ室
と、電気制御部と、前記ランプ室と電気制御部との間に
配置される分析室とを備え、これらが順に横方向に並べ
て配置され、さらに、前記ランプ室から前記分析室に至
る直進する光路とを備えた原子吸光光度計において、前
記ランプ室が、このランプ室に回転可能に取り付けられ
るランプホルダと、光束の射出面が上側となるように前
記ランプホルダに縦向きで取り付けられている複数のホ
ローカソードランプと、前記ホローカソードランプの光
束を前記光路に導くミラーを備えたことにより達成され
る。
は、複数のホローカソードランプを収納するランプ室
と、電気制御部と、前記ランプ室と電気制御部との間に
配置される分析室とを備え、これらが順に横方向に並べ
て配置され、さらに、前記ランプ室から前記分析室に至
る直進する光路とを備えた原子吸光光度計において、前
記ランプ室が、このランプ室に回転可能に取り付けられ
るランプホルダと、光束の射出面が上側となるように前
記ランプホルダに縦向きで取り付けられている複数のホ
ローカソードランプと、前記ホローカソードランプの光
束を前記光路に導くミラーを備えたことにより達成され
る。
【００１２】また、前記目的は、複数のホローカソード
ランプを収納するランプ室と、電気制御部と、前記ラン
プ室と電気制御部との間に配置される分析室とを備え、
これらが順に横方向に並べて配置され、さらに、前記ラ
ンプ室から前記分析室に至る直進する光路とを備えた原
子吸光光度計において、前記ランプ室と分析室と電気制
御部との後方の筐体内に加熱用電源部を配置し、前記ラ
ンプ室が、このランプ室に回転可能に取り付けられるラ
ンプホルダと、光束の射出面が上側となるように前記ラ
ンプホルダに縦向きで取り付けられている複数のホロー
カソードランプと、前記ホローカソードランプの光束を
前記光路に導くミラーを備えたことにより達成される。
ランプを収納するランプ室と、電気制御部と、前記ラン
プ室と電気制御部との間に配置される分析室とを備え、
これらが順に横方向に並べて配置され、さらに、前記ラ
ンプ室から前記分析室に至る直進する光路とを備えた原
子吸光光度計において、前記ランプ室と分析室と電気制
御部との後方の筐体内に加熱用電源部を配置し、前記ラ
ンプ室が、このランプ室に回転可能に取り付けられるラ
ンプホルダと、光束の射出面が上側となるように前記ラ
ンプホルダに縦向きで取り付けられている複数のホロー
カソードランプと、前記ホローカソードランプの光束を
前記光路に導くミラーを備えたことにより達成される。
【００１３】前述において、前記グラファイト炉分析
部、フレーム分析部をユニット化して、これらの何れか
一方の分析部のみを備える構成とし、他方の分析部を後
に付け加えるようにすることもできる。
部、フレーム分析部をユニット化して、これらの何れか
一方の分析部のみを備える構成とし、他方の分析部を後
に付け加えるようにすることもできる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明による原子吸光光度
計の一実施形態を図面により詳細に説明する。
計の一実施形態を図面により詳細に説明する。
【００１５】図１は本発明の一実施形態による原子吸光
光度計の構成を示す斜視図、図２はランプ室内の状況を
説明する図、図３はホローカソードランプの交換の様子
を説明する図、図４はホローカソードランプからの光の
光路の例を説明する図である。図１〜図３において、１
は本体部筐体、６はオートサンプラ、８は冷却用ドレイ
ンポッド、２１は扉、２２はスイッチ、２３は表示ラン
プであり、他の符号は図７、図８の場合と同一である。
光度計の構成を示す斜視図、図２はランプ室内の状況を
説明する図、図３はホローカソードランプの交換の様子
を説明する図、図４はホローカソードランプからの光の
光路の例を説明する図である。図１〜図３において、１
は本体部筐体、６はオートサンプラ、８は冷却用ドレイ
ンポッド、２１は扉、２２はスイッチ、２３は表示ラン
プであり、他の符号は図７、図８の場合と同一である。
【００１６】本発明の一実施形態による原子吸光光度計
は、図１に示すように、本体部筐体１の右側に透明窓を
有する扉２１を備えたランプ室２を配置し、ランプ室２
から左側方向に順に、オートサンプラ６が連結されたグ
ラファイト炉分析部３、フレーム分析部４、電気制御部
５を配置し、グラファイト炉電源部７をこれらの後側に
配置して構成される。オートサンプラ６は、分析しよう
とする試料であるサンプルをマイクロピペットによりグ
ラファイト炉分析部３のキュベットと呼ばれるグラファ
イト製の円筒型加熱部内に自動的に滴下するものであ
り、これにより、多数の試料の分析を順次自動的に進め
ることができる。
は、図１に示すように、本体部筐体１の右側に透明窓を
有する扉２１を備えたランプ室２を配置し、ランプ室２
から左側方向に順に、オートサンプラ６が連結されたグ
ラファイト炉分析部３、フレーム分析部４、電気制御部
５を配置し、グラファイト炉電源部７をこれらの後側に
配置して構成される。オートサンプラ６は、分析しよう
とする試料であるサンプルをマイクロピペットによりグ
ラファイト炉分析部３のキュベットと呼ばれるグラファ
イト製の円筒型加熱部内に自動的に滴下するものであ
り、これにより、多数の試料の分析を順次自動的に進め
ることができる。
【００１７】なお、図１に示す例において、フレーム分
析部４の下部に下方に開いている扉の位置には、フレー
ム分析部４内に試料を吹き込む器具が設置されるが、フ
レーム分析部４に対しても、図示していない前述と同様
な機能を有するオートサンプラを備えることができる。
また、本発明の一実施形態による原子吸光光度計は、従
来技術の場合と同様に、原子吸光光度計全体を制御し操
作するためのパソコンが、本体部筐体１と並べて設置さ
れて使用される。
析部４の下部に下方に開いている扉の位置には、フレー
ム分析部４内に試料を吹き込む器具が設置されるが、フ
レーム分析部４に対しても、図示していない前述と同様
な機能を有するオートサンプラを備えることができる。
また、本発明の一実施形態による原子吸光光度計は、従
来技術の場合と同様に、原子吸光光度計全体を制御し操
作するためのパソコンが、本体部筐体１と並べて設置さ
れて使用される。
【００１８】ランプ室２の前面には、内部に設置されて
いるホローカソードランプ７６の作動状態等を確認可能
にする透明窓を有する扉２１が設けられ、また、スイッ
チ２２、表示ランプ２３等が配置されている。
いるホローカソードランプ７６の作動状態等を確認可能
にする透明窓を有する扉２１が設けられ、また、スイッ
チ２２、表示ランプ２３等が配置されている。
【００１９】ランプ室２には、図２に示すように、ター
レット式のランプホルダ７７に取り付けられた複数本の
ホローカソードランプ７６が設置されている。ホローカ
ソードランプ７６は、従来技術の場合と同様に、それぞ
れが検出しようとしている金属原子に対応するもので、
付け替え可能にランプホルダ７７に縦向き、すなわち、
垂直方向に、光束の射出面が上側となるように取り付け
られている。そして、ランプホルダ７７を回転させるこ
とにより、必要なホローカソードランプ７６の１つが所
定の位置に位置決めされる。このホローカソードランプ
７６からの光束は、図示しない各種の光学系を介してグ
ラファイト炉分析部３、フレーム分析部４を経て光電子
増倍管に導かれ電気信号に変換され、従来技術の場合と
同様に、本体部筐体１と共に並置されている図示しない
パソコンにより、目的の金属の定量分析が実行される。
ホローカソードランプ７６の交換は、図３に示すよう
に、ランプ室２の扉２１を開けて行われる。
レット式のランプホルダ７７に取り付けられた複数本の
ホローカソードランプ７６が設置されている。ホローカ
ソードランプ７６は、従来技術の場合と同様に、それぞ
れが検出しようとしている金属原子に対応するもので、
付け替え可能にランプホルダ７７に縦向き、すなわち、
垂直方向に、光束の射出面が上側となるように取り付け
られている。そして、ランプホルダ７７を回転させるこ
とにより、必要なホローカソードランプ７６の１つが所
定の位置に位置決めされる。このホローカソードランプ
７６からの光束は、図示しない各種の光学系を介してグ
ラファイト炉分析部３、フレーム分析部４を経て光電子
増倍管に導かれ電気信号に変換され、従来技術の場合と
同様に、本体部筐体１と共に並置されている図示しない
パソコンにより、目的の金属の定量分析が実行される。
ホローカソードランプ７６の交換は、図３に示すよう
に、ランプ室２の扉２１を開けて行われる。
【００２０】また、本体部筐体１の左側面部には、装置
内の各部分を冷却する水等の冷却材に対する冷却用ドレ
インポッド８が設けられている。
内の各部分を冷却する水等の冷却材に対する冷却用ドレ
インポッド８が設けられている。
【００２１】前述したように、本発明の一実施形態によ
る原子吸光光度計は、複数本、図２に示す例の場合８本
のホローカソードランプ７６を回転可能なランプホルダ
７７に取り付け、その１本を所定の位置に位置決めして
そのランプに対応する金属の分析を行うことができるの
で、ランプを取り替えることなく順次連続的に８種類の
金属についての分析を行うことができ、また、ホローカ
ソードランプ７６を交換することによりさらに多数の金
属の分析を行うことができる。
る原子吸光光度計は、複数本、図２に示す例の場合８本
のホローカソードランプ７６を回転可能なランプホルダ
７７に取り付け、その１本を所定の位置に位置決めして
そのランプに対応する金属の分析を行うことができるの
で、ランプを取り替えることなく順次連続的に８種類の
金属についての分析を行うことができ、また、ホローカ
ソードランプ７６を交換することによりさらに多数の金
属の分析を行うことができる。
【００２２】本発明の一実施形態による原子吸光光度計
は、ホローカソードランプ７６を垂直方向にランプホル
ダ７７に取り付けているので、ホローカソードランプ７
６を横方向に配置する場合に比較してランプ室２の幅方
向の寸法を小さくすることができる。また、本発明の一
実施形態は、グラファイト炉電源部７を、グラファイト
炉分析部３、フレーム分析部４、電気制御部５の後側に
本体部筐体１内に収納しているので、独立させたグラフ
ァイト炉電源部７を本体部筐体１と共に並置する必要が
なく、また、パソコンを本体部筐体１に対して任意の位
置に設置することができ、パソコンを本体部筐体１の横
に並置する場合にも、全体の設置幅を減少させることが
できる。
は、ホローカソードランプ７６を垂直方向にランプホル
ダ７７に取り付けているので、ホローカソードランプ７
６を横方向に配置する場合に比較してランプ室２の幅方
向の寸法を小さくすることができる。また、本発明の一
実施形態は、グラファイト炉電源部７を、グラファイト
炉分析部３、フレーム分析部４、電気制御部５の後側に
本体部筐体１内に収納しているので、独立させたグラフ
ァイト炉電源部７を本体部筐体１と共に並置する必要が
なく、また、パソコンを本体部筐体１に対して任意の位
置に設置することができ、パソコンを本体部筐体１の横
に並置する場合にも、全体の設置幅を減少させることが
できる。
【００２３】このため、本発明の一実施形態は、パソコ
ンを本体部筐体１の右側に配置して使用した場合、ラン
プ室２の透明な窓２１から作動中のホローカソードラン
プ７６の確認、スイッチ２２の操作、表示ランプ２３の
確認と、パソコンの操作とを作業者が移動することなく
行うことが可能となり、また、ランプ室２の隣に配置さ
れるグラファイト炉分析部３のオートサンプラ６の操作
も、パソコンの操作を行いディスプレイを見ながら行う
ことができるので、効率的な操作が可能となる。
ンを本体部筐体１の右側に配置して使用した場合、ラン
プ室２の透明な窓２１から作動中のホローカソードラン
プ７６の確認、スイッチ２２の操作、表示ランプ２３の
確認と、パソコンの操作とを作業者が移動することなく
行うことが可能となり、また、ランプ室２の隣に配置さ
れるグラファイト炉分析部３のオートサンプラ６の操作
も、パソコンの操作を行いディスプレイを見ながら行う
ことができるので、効率的な操作が可能となる。
【００２４】さらに、本発明の一実施形態による原子吸
光光度計は、ランプ室２とグラファイト炉分析部３とを
隣接して配置しているので、後述する光束の光路の説明
から判るように、ホローカソードランプ７６からの光束
を１枚のミラーのみにより、グラファイト炉分析部３の
中心に導くことができ、グラファイト炉分析部３の感度
を向上させることができる。特に、グラファイト炉分析
部３は、波長の短い光を用いる分析に多く使用される
が、本発明の実施形態は、レンズを通さないことによ
り、短波長の光の減衰のない光をグラファイト炉分析部
３に導くことができるので、グラファイト炉分析部３に
よる高感度の分析を行うことができる。
光光度計は、ランプ室２とグラファイト炉分析部３とを
隣接して配置しているので、後述する光束の光路の説明
から判るように、ホローカソードランプ７６からの光束
を１枚のミラーのみにより、グラファイト炉分析部３の
中心に導くことができ、グラファイト炉分析部３の感度
を向上させることができる。特に、グラファイト炉分析
部３は、波長の短い光を用いる分析に多く使用される
が、本発明の実施形態は、レンズを通さないことによ
り、短波長の光の減衰のない光をグラファイト炉分析部
３に導くことができるので、グラファイト炉分析部３に
よる高感度の分析を行うことができる。
【００２５】次に、図４を参照して、ホローカソードラ
ンプ７６からの光束の光路となる光学系について簡単に
説明する。
ンプ７６からの光束の光路となる光学系について簡単に
説明する。
【００２６】ホローカソードランプ７６からの光束は、
ミラーＭ１により、グラファイト炉分析部３の中心（Ｇ
Ａ中心）に収束するように反射され、さらに、グラファ
イト炉分析部３とフレーム分析部４との間に設けられる
レンズＬ１によりフレーム分析部４の中心（ＦＬ中心）
に集光される。その後、光束は、ミラーＭ２〜Ｍ７、偏
光子等を介して光電子増倍管ＰＭＴに導かれる。光電子
増倍管ＰＭＴからの電気信号は、パソコンに入力されて
分析される。
ミラーＭ１により、グラファイト炉分析部３の中心（Ｇ
Ａ中心）に収束するように反射され、さらに、グラファ
イト炉分析部３とフレーム分析部４との間に設けられる
レンズＬ１によりフレーム分析部４の中心（ＦＬ中心）
に集光される。その後、光束は、ミラーＭ２〜Ｍ７、偏
光子等を介して光電子増倍管ＰＭＴに導かれる。光電子
増倍管ＰＭＴからの電気信号は、パソコンに入力されて
分析される。
【００２７】前述において、ミラーＭ２以降の光電子増
倍管ＰＭＴに到る光路は、本体部筐体１内の他の機器に
邪魔されることがないように任意に設定されてよく、ミ
ラーＭ１とミラーＭ２との間を直進する光路の中に、グ
ラファイト炉分析部３の中心及びフレーム分析部４の中
心が配置されればよい。
倍管ＰＭＴに到る光路は、本体部筐体１内の他の機器に
邪魔されることがないように任意に設定されてよく、ミ
ラーＭ１とミラーＭ２との間を直進する光路の中に、グ
ラファイト炉分析部３の中心及びフレーム分析部４の中
心が配置されればよい。
【００２８】前述した本発明の一実施形態による原子吸
光光度計は、グラファイト炉分析部３とフレーム分析部
４との両者を備えるものとして説明したが、本発明は、
グラファイト炉分析部３、フレーム分析部４の何れか一
方のみを備えるように構成することもできる。
光光度計は、グラファイト炉分析部３とフレーム分析部
４との両者を備えるものとして説明したが、本発明は、
グラファイト炉分析部３、フレーム分析部４の何れか一
方のみを備えるように構成することもできる。
【００２９】図５はグラファイト分析部を設けずにフレ
ーム分析専用とした本発明の他の実施形態の構成を示す
斜視図、図６はフレーム分析部を設けずにグラファイト
炉分析専用とした本発明の他の実施形態の構成を示す斜
視図である。図５、図６において、５１はカバーであ
り、他の符号は図１の場合と同一である。
ーム分析専用とした本発明の他の実施形態の構成を示す
斜視図、図６はフレーム分析部を設けずにグラファイト
炉分析専用とした本発明の他の実施形態の構成を示す斜
視図である。図５、図６において、５１はカバーであ
り、他の符号は図１の場合と同一である。
【００３０】図５、図６に示す本発明の他の実施形態
は、本体部筐体の形状構造を図１に示す構造から変更す
ることなく構成されており、図５に示すフレーム専用の
場合、グラファイト炉分析部が配置されるべき本体部筐
体１の部分をカバー５１で覆い、また、図６に示すグラ
ファイト炉専用の場合、フレーム分析部が配置されるべ
き本体部筐体１の部分をカバー５１で覆って構成されて
いる。
は、本体部筐体の形状構造を図１に示す構造から変更す
ることなく構成されており、図５に示すフレーム専用の
場合、グラファイト炉分析部が配置されるべき本体部筐
体１の部分をカバー５１で覆い、また、図６に示すグラ
ファイト炉専用の場合、フレーム分析部が配置されるべ
き本体部筐体１の部分をカバー５１で覆って構成されて
いる。
【００３１】前述したように、本体部筐体の形状構造を
変更することなくフレーム分析専用、グラファイト炉分
析専用に構成することにより、不用な分析部が配置され
る部分に空間ができ、全体の小型化が阻害されるように
見えるが、この無駄になる空間は僅かであり、空間をな
くすための機器配置の変更等を考慮すると、空間を残し
たままとした方が、全体のコストを低下させることがで
きる。また、この場合、グラファイト炉分析部３、フレ
ーム分析部４をユニット化して構成しておくことによ
り、専用機であっても、その後に、配置されていない分
析部を本体部筐体１に組み込むことにより、２つの分析
部を備えた原子吸光光度計にグレードアップすることが
できる。
変更することなくフレーム分析専用、グラファイト炉分
析専用に構成することにより、不用な分析部が配置され
る部分に空間ができ、全体の小型化が阻害されるように
見えるが、この無駄になる空間は僅かであり、空間をな
くすための機器配置の変更等を考慮すると、空間を残し
たままとした方が、全体のコストを低下させることがで
きる。また、この場合、グラファイト炉分析部３、フレ
ーム分析部４をユニット化して構成しておくことによ
り、専用機であっても、その後に、配置されていない分
析部を本体部筐体１に組み込むことにより、２つの分析
部を備えた原子吸光光度計にグレードアップすることが
できる。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、小
型で使い勝手のよい、また、グラファイト分析部の高感
度化を図った原子吸光光度計を提供することができる。
型で使い勝手のよい、また、グラファイト分析部の高感
度化を図った原子吸光光度計を提供することができる。
【図１】本発明の一実施形態による原子吸光光度計の構
成を示す斜視図である。
成を示す斜視図である。
【図２】ランプ室内のホロカソードランプの配置を説明
する図である。
する図である。
【図３】ホローカソードランプの交換の様子を説明する
図である。
図である。
【図４】ホローカソードランプからの光束の光路の例を
説明する図である。
説明する図である。
【図５】フレーム分析専用とした本発明の他の実施形態
の構成を示す斜視図である。
の構成を示す斜視図である。
【図６】グラファイト炉分析専用とした本発明の他の実
施形態の構成を示す斜視図である。
施形態の構成を示す斜視図である。
【図７】従来技術による原子吸光光度計の構成を示す正
面図である。
面図である。
【図８】図７におけるランプ室内のホロカソードランプ
の配置を説明する図である。
の配置を説明する図である。
１ 本体部筐体
６ オートサンプラ
２ ランプ室
３ グラファイト炉分析部
４ フレーム分析部
５ 電気制御部
７ グラファイト炉電源部
８ 冷却用ドレインポッド
２１ 扉
２２ スイッチ
２３ 表示ランプ
５１ カバー
７１ パソコン
７２ ディスプレイ
７３ キーボード
７４ 排ガス排気口
７５ 蓋
７６ ランプ
７７ ランプホルダ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 森谷 一夫
茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式
会社日立製作所 計測器事業部内
(56)参考文献 特開 昭63−200039（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−145947（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−193946（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−306996（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−63549（ＪＰ，Ａ)
特開 平１−295135（ＪＰ，Ａ)
実開 平４−29866（ＪＰ，Ｕ)
特公 昭49−42395（ＪＰ，Ｂ１)
特表 平２−503601（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 21/00 - 21/01
G01N 21/17 - 21/61
ＰＡＴＯＬＩＳ
Claims (6)
- 【請求項１】 複数のホローカソードランプを収納する
ランプ室と、電気制御部と、前記ランプ室と電気制御部
との間に配置される分析室とを備え、これらが順に横方
向に並べて配置され、さらに、前記ランプ室から前記分
析室に至る直進する光路を備えた原子吸光光度計におい
て、 前記ランプ室は、このランプ室に回転可能に取り付けら
れるランプホルダと、光束の射出面が上側となるように
前記ランプホルダに縦向きで取り付けられている複数の
ホローカソードランプと、前記ホローカソードランプの
光束を前記光路に導くミラーを備えたことを特徴とする
原子吸光光度計。 - 【請求項２】 複数のホローカソードランプを収納する
ランプ室と、電気制御部と、前記ランプ室と電気制御部
との間に配置される分析室とを備え、これらが順に横方
向に並べて配置され、さらに、前記ランプ室から前記分
析室に至る直進する光路とを備えた原子吸光光度計にお
いて、 前記ランプ室と分析室と電気制御部との後方の筐体内に
加熱用電源部を配置し、 前記ランプ室は、このランプ室に回転可能に取り付けら
れるランプホルダと、光束の射出面が上側となるように
前記ランプホルダに縦向きで取り付けられている複数の
ホローカソードランプと、前記ホローカソードランプの
光束を前記光路に導くミラーを備えたことを特徴とする
原子吸光光度計。 - 【請求項３】 前記請求項１または２記載の原子吸光光
度計において、 前記分析室は、前記ランプ室側に配置されるグラファイ
ト炉分析部と、前記電気制御部側に配置されるフレーム
分析部とであることを特徴とする原子吸光光度計。 - 【請求項４】 前記請求項３記載の原子吸光光度計にお
いて、 前記ランプ室は、その前面に開閉可能な扉を備え、この
扉の開放により前記本体部筐体の前面側から前記ホロー
カソードランプを取り替え可能に取り付けていることを
特徴とする原子吸光光度計。 - 【請求項５】 前記請求項３記載の原子吸光光度計にお
いて、 前記グラファイト炉分析部、フレーム分析部をユニット
化して、これらの何れか一方の分析部のみを備える構成
としとしたことを特徴とする原子吸光光度計。 - 【請求項６】 前記請求項３記載の原子吸光光度計にお
いて、 原子吸光光度計全体を制御し操作するためのパソコン
を、前記ランプ室に隣接させて本体部筐体と並べて使用
することを特徴とする原子吸光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22981296A JP3452736B2 (ja) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | 原子吸光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22981296A JP3452736B2 (ja) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | 原子吸光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1073536A JPH1073536A (ja) | 1998-03-17 |
| JP3452736B2 true JP3452736B2 (ja) | 2003-09-29 |
Family
ID=16898060
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22981296A Expired - Fee Related JP3452736B2 (ja) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | 原子吸光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3452736B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4154499B2 (ja) | 2003-01-30 | 2008-09-24 | 株式会社日立ハイテクマニファクチャ＆サービス | 原子吸光光度計 |
-
1996
- 1996-08-30 JP JP22981296A patent/JP3452736B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1073536A (ja) | 1998-03-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |