JP2855777B2 - 発光分光検出器 - Google Patents

発光分光検出器

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JP2855777B2
JP2855777B2 JP10713390A JP10713390A JP2855777B2 JP 2855777 B2 JP2855777 B2 JP 2855777B2 JP 10713390 A JP10713390 A JP 10713390A JP 10713390 A JP10713390 A JP 10713390A JP 2855777 B2 JP2855777 B2 JP 2855777B2
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寿雄 高原
元明 岩崎
康弘 谷端
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、マイクロ波誘導プラズマを利用して試料中
の元素を分析する発光分光分析装置に関し、更に詳しく
は、保守性に優れ、高感度の測定が可能な発光分光分析
装置に関する。
<従来の技術> 従来から知られている発光分光検出器は、実験的に試
作されて実験室などで使用されているものばかりであ
る。即ち、マイクロ波誘導プラズマを利用して試料中の
元素を分析する発光分光分析計用の発光分光検出器とし
て市販されているは見当たらない。
<発明が解決しようとする問題点> 本発明は、かかる状況に鑑みてなされたものであり、
その目的は、高感度検出が可能なうえ保守性に優れた発
光分光検出装置を提供することにある。
<問題点を解決するための手段> このような目的を達成するために、本発明は、 被測定試料をマイクロ波誘導プラズマを発生させるキ
ャビティに導く二重管構造の放電管、この放電管中に励
起されたプラズマで発光した発光スペクトルを信号処理
する信号処理部を具備し、被測定試料の元素を測定する
発光分光分析装置において、前記放電管の内管と外管を
分離可能とし、前記放電管は前記キャビティから抜き差
し自在に構成すると共に外管側に設けた調整ねじにより
放電管の外管中心と内管中心との位置合わせを行なうよ
うにしたことを特徴としている。
また、請求項1記載の発生分光分析装置において、発
光スペクトルを放電管の幅方向に設けられた光学窓から
光ファイバを介して複数の信号処理部に導くようにした
ことを特徴としている。
また、請求項1記載の発光分光分析装置において、放
電管に被測定試料を導入するに際しては、放電管の導入
口に接続されたキャピラリーを介して導入するようにし
たことを特徴としている。
<実施例> 以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第
1図は本発明実施例の構成説明図であり、図中、1aは例
えば石英管でなる外管、1bはたとえば石英管やステンレ
ス内管でなる内管、1は外管1aと内管1とでなる二重管
構造の放電管、2a〜2cは接手、3a,3bはナット、4は試
料導入口、5はマイクロ波発生器10から供給された例え
ば2.45GHZのマイクロ波を空洞共鳴させて外管1a内にマ
イクロ波誘導プラズマ6を誘起させる例えば円筒型のキ
ャビティ、7は光学窓、8は集光系であって凹面鏡81と
反射鏡82を有している。また、9は信号処理部、11はス
ライダー、12は基台、13は支点、14は調整ネジである。
一方、第2図は調整ネジ14を説明するための断面図であ
り、図中、第1図と同一記号を同一意味をもたせて使用
しここでの重複説明は省略する。
このような構成からなる本発明の実施例において、導
入口4からプラズマガス(例えばAγやHe)と一緒に導
入された試料(例えば固体パーティクル)は、内管1bを
通って供給され、マイクロ波誘導プラズマ6内で解離さ
れて発光する。この発光スペクトルは、外管1aから軸方
向に取出され光学窓7を介して集光系8内に導かれて集
光され、その後、スリット83を通り信号処理部9で分光
されてのち信号処理され試料中の元素が測定表示され
る。このため、内管1bの外壁の汚れなどに影響されず試
料中の被測定元素を正確に測定できる。
一方、測定終了後や保守作業時などには、次のように
して内管1bの交換が行われる。即ち、スライダー11を第
1図の矢印方向にスライドさせて例えば60mm引出すこと
によって放電管1をキャビティ5から引出し、その後、
支点13を中心にして反時計方向に90゜回転させる。この
ようにすることによって、内管1bが第1図の上方向から
覗けるようになる。また、外管1aを交換した後、第2図
の調整ネジ14a〜14c(第1図の調整ネジ14に相当する)
を調整することにより、外管1aの中心に内管1bの中心を
合わせることができる。
尚、本発明は上述の実施例に限定されることなく種々
の変形が可能であり、例えば導入口4に前処理装置を付
加し、液体,気体,及び固体のいずれの試料をも測定可
能となるようにしてもよい。また、集光系からの光を光
ファイバーを用いて複数の信号処理部に導き試料中に含
まれている複数の元素を同時に測定するようにしても良
い。この場合、集光系で上述のように効率良く光を取出
せるため、光ファイバー内部での感度低下が充分に補え
高感度測定が可能となる。更に、導入口4にキャピラリ
ーを接続し局部(限られた部分)の試料ガスだけをサン
プリングして分析するようにしても良い。
<発明の効果> 以上詳細に説明したように、本発明の発光分光分析装
置は、放電管の内管と外管を分離可能とし、放電管は前
記キャビティから抜き差し自在に構成すると共に外管側
に設けた調整ねじにより放電管の外管中心と内管中心と
の位置合わせを行なうようにしたので、放電管の中心部
に励起プラズマを発生させることができる。
このため、試料を効率よく解離して強い発光強度を得
ることができるうえ、外管の損傷を軽減でき長寿命化が
図れる。また、調整や交換が容易で保守性に優れている
という利点がある。
更に、放電管の軸方向に設けられた光学窓から入射し
た発光スペクトルを集光し、信号処理部に光ファイバを
介して供給するようにしているので、発光スペクトルを
効率よく取り出すことができ、高感度の測定が可能とな
る。
また、キャピラリーによって、局部より被測定試料を
採取し、放電管に導入できるので、被測定試料の分布に
ついての測定も可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の構成説明図、第2図は調整ネジ
を説明するための断面図である。 1……放電管、1a……外管、2b……内管、5……キャビ
ティ、7……光学窓、8……集光系、81……凹面鏡、82
……反射鏡、83……スリット、9……信号処理部、11…
…スライダー、12……基台、13……支点、14……調整ネ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−165600(JP,A) 特開 昭62−225933(JP,A) 実開 昭63−113945(JP,U) 実開 昭62−90524(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 21/71 - 21/74 H05H 1/26

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定試料をマイクロ波誘導プラズマを発
    生させるキャビティに導く二重管構造の放電管、この放
    電管中に励起されたプラズマで発光した発光スペクトル
    を信号処理する信号処理部を具備し、被測定試料の元素
    を測定する発光分光分析装置において、前記放電管の内
    管と外管を分離可能とし、前記放電管は前記キャビティ
    から抜き差し自在に構成すると共に外管側に設けた調整
    ねじにより放電管の外管中心と内管中心との位置合わせ
    を行なうようにしたことを特徴とした発光分光分析装
    置。
  2. 【請求項2】発光スペクトルを放電管の軸方向に設けら
    れた光学窓から光ファイバを介して複数の信号処理部に
    導くようにしたことを特徴とする請求項1記載の発光分
    光分析装置。
  3. 【請求項3】放電管に被測定試料を導入するに際して
    は、放電管の導入口に接続されたキャピラリーを介して
    導入するようにしたことを特徴とする請求項1記載の発
    光分光分析装置。
JP10713390A 1990-04-23 1990-04-23 発光分光検出器 Expired - Lifetime JP2855777B2 (ja)

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EP1933397A4 (en) 2006-05-25 2008-12-17 Idemitsu Kosan Co ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE AND COLOR LIGHT EMITTING DEVICE

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