JP3450484B2 - 米穀品質測定装置 - Google Patents
米穀品質測定装置Info
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- JP3450484B2 JP3450484B2 JP01461395A JP1461395A JP3450484B2 JP 3450484 B2 JP3450484 B2 JP 3450484B2 JP 01461395 A JP01461395 A JP 01461395A JP 1461395 A JP1461395 A JP 1461395A JP 3450484 B2 JP3450484 B2 JP 3450484B2
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- polishing
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- grain
- grain weight
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は米穀品質測定装置に関す
るものであり、特に、サンプル米の搗精度に関するもの
である。
るものであり、特に、サンプル米の搗精度に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来、玄米の外観的品質を測定する外観
品位測定手段としては、サンプル米に可視光線を照射し
て透過光と反射光を計測し、これらの計測値に基づく演
算にて色調分析を行い、整粒、未熟粒、着色粒、死米等
の品質測定を行う構成のものが知られている。
品位測定手段としては、サンプル米に可視光線を照射し
て透過光と反射光を計測し、これらの計測値に基づく演
算にて色調分析を行い、整粒、未熟粒、着色粒、死米等
の品質測定を行う構成のものが知られている。
【０００３】一方、玄米の内部的品質を測定する内部品
質測定手段としては、サンプル米に近赤外線を照射して
内部の化学成分や食味評価値、粘り値、硬さ度等の内部
品質評価を行う構成のものが知られている。
質測定手段としては、サンプル米に近赤外線を照射して
内部の化学成分や食味評価値、粘り値、硬さ度等の内部
品質評価を行う構成のものが知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来、玄米の外観的品
質を測定する手段と、内部的品質を測定する手段は夫々
個々に確立されつつある。近年、前記外観的品質と内部
的品質の双方を含めた品質測定が要求されているが、こ
れら外観的品質と内部的品質とを融合した総合的な品質
測定は未だ存在しない。
質を測定する手段と、内部的品質を測定する手段は夫々
個々に確立されつつある。近年、前記外観的品質と内部
的品質の双方を含めた品質測定が要求されているが、こ
れら外観的品質と内部的品質とを融合した総合的な品質
測定は未だ存在しない。
【０００５】また、玄米への加工時や玄米荷受けの際に
玄米の一部をサンプリングし、テスト精米処理を行って
白米化し、玄米と白米との両者の品質測定を行うことが
要望されつつある。このテスト精米処理を行う場合に
は、実際の流通加工現場での精米処理を予測しておく必
要がある。
玄米の一部をサンプリングし、テスト精米処理を行って
白米化し、玄米と白米との両者の品質測定を行うことが
要望されつつある。このテスト精米処理を行う場合に
は、実際の流通加工現場での精米処理を予測しておく必
要がある。
【０００６】そこで、玄米サンプルの千粒重と白米サン
プル米の千粒重の双方を測定し、精米歩留り（「搗精
度」）を算出してテスト精米処理を円滑に行うために解
決すべき技術的課題が生じてくるのであり、本発明はこ
の課題を解決することを目的とする。
プル米の千粒重の双方を測定し、精米歩留り（「搗精
度」）を算出してテスト精米処理を円滑に行うために解
決すべき技術的課題が生じてくるのであり、本発明はこ
の課題を解決することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために提案されたものであり、請求項１に記載の発
明は、ホッパ内の玄米を少なくとも２系統に分ける分配
装置と、２系統の一を受けて所定粒数の重量を計測する
ことにより千粒重に換算する千粒重測定手段と、他の一
を受けて精米処理する精米手段とを設け、該精米手段に
て精米処理した白米を玄米の測定に続いて測定すべく上
記千粒重測定手段に供給する供給手段を設け、玄米サン
プルの千粒重と白米サンプルの千粒重とにより搗精度を
算出し、該搗精度を表示する表示手段を設けた米穀品質
測定装置を提供するものである。また、請求項２に記載
の発明は、上記においてサンプル米を分配装置により測
定経路と精米経路の２系統に分配し、測定経路には玄米
及び白米のサンプル米を受けて外観品位を測定する外観
品位測定手段を接続すると共に該外観品位測定手段の後
段に千粒重測定手段を設けてなる米穀品質測定装置を提
供するものである。
するために提案されたものであり、請求項１に記載の発
明は、ホッパ内の玄米を少なくとも２系統に分ける分配
装置と、２系統の一を受けて所定粒数の重量を計測する
ことにより千粒重に換算する千粒重測定手段と、他の一
を受けて精米処理する精米手段とを設け、該精米手段に
て精米処理した白米を玄米の測定に続いて測定すべく上
記千粒重測定手段に供給する供給手段を設け、玄米サン
プルの千粒重と白米サンプルの千粒重とにより搗精度を
算出し、該搗精度を表示する表示手段を設けた米穀品質
測定装置を提供するものである。また、請求項２に記載
の発明は、上記においてサンプル米を分配装置により測
定経路と精米経路の２系統に分配し、測定経路には玄米
及び白米のサンプル米を受けて外観品位を測定する外観
品位測定手段を接続すると共に該外観品位測定手段の後
段に千粒重測定手段を設けてなる米穀品質測定装置を提
供するものである。
【０００８】
【作用】玄米サンプルは分配装置によって分配され、そ
の一は千粒重測定手段に供給され、他の一は精米手段に
供給される。千粒重測定手段に供給された玄米は粒数及
び重量が計測され、この計測値に基づいて玄米の千粒重
が換算される。
の一は千粒重測定手段に供給され、他の一は精米手段に
供給される。千粒重測定手段に供給された玄米は粒数及
び重量が計測され、この計測値に基づいて玄米の千粒重
が換算される。
【０００９】一方、精米手段に供給された玄米は精米処
理を受けて白米となり、該白米は玄米の測定を終了した
千粒重測定手段に供給されて粒数及び重量が計測され、
玄米と同様にして白米の千粒重が換算される。
理を受けて白米となり、該白米は玄米の測定を終了した
千粒重測定手段に供給されて粒数及び重量が計測され、
玄米と同様にして白米の千粒重が換算される。
【００１０】そして、玄米状態の千粒重と白米状態の千
粒重とにより、精米手段に於ける搗精度が算出され、該
搗精度は表示手段へ表示される。
粒重とにより、精米手段に於ける搗精度が算出され、該
搗精度は表示手段へ表示される。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に従って詳述
する。図１は米穀品質測定装置を示す概念図であり、測
定しようとするサンプル米はホッパ１１へ投入され、分
配装置１２により測定系路１３と精米系路１４の２系統
に分配される。
する。図１は米穀品質測定装置を示す概念図であり、測
定しようとするサンプル米はホッパ１１へ投入され、分
配装置１２により測定系路１３と精米系路１４の２系統
に分配される。
【００１２】２系統のうち一方の測定系路１３は別の分
配装置１５によって更に２系統に分配され、一は外観品
位測定手段１６へ接続され、他の一は内部品質測定手段
１７へ接続される。また、前記２系統のうち他方の精米
系路１４は精米手段１８に接続され、該精米系路１４の
途中に三方弁１９を介装して計量系路２０を分岐し、こ
の計量系路２０を計量器２１に接続する。
配装置１５によって更に２系統に分配され、一は外観品
位測定手段１６へ接続され、他の一は内部品質測定手段
１７へ接続される。また、前記２系統のうち他方の精米
系路１４は精米手段１８に接続され、該精米系路１４の
途中に三方弁１９を介装して計量系路２０を分岐し、こ
の計量系路２０を計量器２１に接続する。
【００１３】前記外観品位測定手段１６には搬送部２２
と検出部２３と選別部２４とが設けられており、前記外
観品位測定手段１６に供給されたサンプル米は、搬送部
２２によって一粒ずつ検出部２３へ送られ、サンプル米
に可視光線を照射して透過光と反射光を計測し、これら
の計測値に基づく演算にて色調分析を行う。そして、サ
ンプル米の外観的等級を整粒、未熟粒、被害粒、着色
粒、死米、胴割粒の６種類のランクに判定し、選別部２
４にて各ランク毎に仕分けする。このとき、選別部２４
内のカウンタにて各ランク毎の粒数を計測するととも
に、計量器２５にて各ランク毎の粒重を計測する。上記
計測値によって整粒割合をはじめとする各ランク毎の割
合が算出される。
と検出部２３と選別部２４とが設けられており、前記外
観品位測定手段１６に供給されたサンプル米は、搬送部
２２によって一粒ずつ検出部２３へ送られ、サンプル米
に可視光線を照射して透過光と反射光を計測し、これら
の計測値に基づく演算にて色調分析を行う。そして、サ
ンプル米の外観的等級を整粒、未熟粒、被害粒、着色
粒、死米、胴割粒の６種類のランクに判定し、選別部２
４にて各ランク毎に仕分けする。このとき、選別部２４
内のカウンタにて各ランク毎の粒数を計測するととも
に、計量器２５にて各ランク毎の粒重を計測する。上記
計測値によって整粒割合をはじめとする各ランク毎の割
合が算出される。
【００１４】また、前記内部品質測定手段１７に於いて
は、サンプル米に近赤外線を照射して非粉砕状態下で分
光分析し、サンプル米内部の化学成分や内部品質評価値
を測定する。この内部品質評価値は、日本穀物検定協会
の官能検査や理化学検査の基準に基づいて行われ、サン
プル米の食味評価値、粘り値、硬さ度等が判定される。
は、サンプル米に近赤外線を照射して非粉砕状態下で分
光分析し、サンプル米内部の化学成分や内部品質評価値
を測定する。この内部品質評価値は、日本穀物検定協会
の官能検査や理化学検査の基準に基づいて行われ、サン
プル米の食味評価値、粘り値、硬さ度等が判定される。
【００１５】一方、前記精米手段１８には、精米負荷を
大小変更し或いは精米時間を長短変更できる精米強度変
更装置２６が設けられており、後述するように、制御手
段２７の指令によって該精米強度変更装置２６を調整す
れば、精米歩留り（「搗精度」）を変更制御できる。そ
して、前記精米手段１８にて精米されたサンプル米は計
量器２１で計量された後に、搬送系路２８によって前記
測定系路１３へ送られる。該搬送系路２８の途中には三
方弁２９が介装され、この三方弁２９を切り替えること
により、計量器２１にて計量されたサンプル米を測定系
路１３へ送るか、或いは再度精米手段１８へ戻して精米
工程を複数回行うことが可能である。
大小変更し或いは精米時間を長短変更できる精米強度変
更装置２６が設けられており、後述するように、制御手
段２７の指令によって該精米強度変更装置２６を調整す
れば、精米歩留り（「搗精度」）を変更制御できる。そ
して、前記精米手段１８にて精米されたサンプル米は計
量器２１で計量された後に、搬送系路２８によって前記
測定系路１３へ送られる。該搬送系路２８の途中には三
方弁２９が介装され、この三方弁２９を切り替えること
により、計量器２１にて計量されたサンプル米を測定系
路１３へ送るか、或いは再度精米手段１８へ戻して精米
工程を複数回行うことが可能である。
【００１６】ここで、前記制御手段２７に於いては、外
観品位測定手段１６の測定データ及び内部品質測定手段
１７の測定データを読み取り、各データを記憶手段３０
へ記憶するとともに随時表示手段３１へ表示する。ま
た、計量器２１で計量されたサンプル米の初期重量と精
米後の重量との比から精米歩留りを演算し、精米強度変
更装置２６を調整することによって精米歩留りを変更制
御する。計量器２１の計量データ、精米手段１８に於け
る精米歩留り、精米強度変更装置２６の制御出力等は記
憶手段３０へ記憶されるとともに随時表示手段３１へ表
示される。
観品位測定手段１６の測定データ及び内部品質測定手段
１７の測定データを読み取り、各データを記憶手段３０
へ記憶するとともに随時表示手段３１へ表示する。ま
た、計量器２１で計量されたサンプル米の初期重量と精
米後の重量との比から精米歩留りを演算し、精米強度変
更装置２６を調整することによって精米歩留りを変更制
御する。計量器２１の計量データ、精米手段１８に於け
る精米歩留り、精米強度変更装置２６の制御出力等は記
憶手段３０へ記憶されるとともに随時表示手段３１へ表
示される。
【００１７】而して、米穀の品質測定を行うに際して
は、玄米のサンプルをホッパ１１へ投入し、分配装置１
２によってこのサンプル米を測定系路１３と精米系路１
４とに分配する。測定系路１３に分配された玄米は分配
装置１５により更に２系統に分配され、外観品位測定手
段１６と内部品質測定手段１７とに送られて、前述した
ように外観的品質及び内部的品質が測定され、玄米の各
測定データが記憶される。
は、玄米のサンプルをホッパ１１へ投入し、分配装置１
２によってこのサンプル米を測定系路１３と精米系路１
４とに分配する。測定系路１３に分配された玄米は分配
装置１５により更に２系統に分配され、外観品位測定手
段１６と内部品質測定手段１７とに送られて、前述した
ように外観的品質及び内部的品質が測定され、玄米の各
測定データが記憶される。
【００１８】一方、精米系路１４に分配されたサンプル
米は、先ず計量系路２０を経て計量器２１へ送られ、初
期重量を測定された後に精米手段１８にて精米される。
精米後のサンプル米は計量器２１にて計量され、前述し
たように精米歩留りを演算する。この精米歩留りが目標
値に達していない場合は、サンプル米を精米手段１８へ
戻して再度精米処理を行う。
米は、先ず計量系路２０を経て計量器２１へ送られ、初
期重量を測定された後に精米手段１８にて精米される。
精米後のサンプル米は計量器２１にて計量され、前述し
たように精米歩留りを演算する。この精米歩留りが目標
値に達していない場合は、サンプル米を精米手段１８へ
戻して再度精米処理を行う。
【００１９】そして、目標の精米歩留りに達した白米は
搬送系路２８から測定系路１３へ送られる。然る後は、
玄米の場合と同様にして、白米のサンプルを外観品位測
定手段１６と内部品質測定手段１７とに於いて夫々品質
測定し、各測定データが記憶される。
搬送系路２８から測定系路１３へ送られる。然る後は、
玄米の場合と同様にして、白米のサンプルを外観品位測
定手段１６と内部品質測定手段１７とに於いて夫々品質
測定し、各測定データが記憶される。
【００２０】尚、外観的品質の測定及び内部的品質の測
定を行うサンプル米は、玄米及び白米の何れでも可能で
あり、玄米のみ或いは白米のみの測定を行うこともでき
る。ここで、精米系路１４に供給された玄米サンプル
は、三方弁１９の切り替えによって計量系路２０へ分配
され、千粒重測定手段４４へ送られる。該千粒重測定手
段４４は計量器２１と制御手段２７とからなり、前記計
量系路２０から供給される玄米の粒数及び重量を測定
し、その測定結果に基づいて玄米の千粒重が換算され
る。
定を行うサンプル米は、玄米及び白米の何れでも可能で
あり、玄米のみ或いは白米のみの測定を行うこともでき
る。ここで、精米系路１４に供給された玄米サンプル
は、三方弁１９の切り替えによって計量系路２０へ分配
され、千粒重測定手段４４へ送られる。該千粒重測定手
段４４は計量器２１と制御手段２７とからなり、前記計
量系路２０から供給される玄米の粒数及び重量を測定
し、その測定結果に基づいて玄米の千粒重が換算され
る。
【００２１】千粒重を測定した玄米は、三方弁２９の切
り替えによって精米手段１８へ供給され、該精米手段１
８にて精米処理される。そして、精米処理した白米は、
玄米の測定に続いて前記千粒重測定手段４４に供給さ
れ、粒数及び重量が計測されて白米の千粒重が換算され
る。
り替えによって精米手段１８へ供給され、該精米手段１
８にて精米処理される。そして、精米処理した白米は、
玄米の測定に続いて前記千粒重測定手段４４に供給さ
れ、粒数及び重量が計測されて白米の千粒重が換算され
る。
【００２２】そして、最初に測定した玄米の千粒重ＷG
と、この玄米を精米処理した白米の千粒重ＷW とから精
米歩留り（「搗精度」）Ｘが求められる。 Ｘ＝ＷW ／ＷG ×１００（％）………（１式） この搗精度は表示手段３１に随時表示される。また、予
めサンプル米の搗精度を知っておくことにより、テスト
精米処理の際に実際の流通加工現場での精米処理を予測
することができる。
と、この玄米を精米処理した白米の千粒重ＷW とから精
米歩留り（「搗精度」）Ｘが求められる。 Ｘ＝ＷW ／ＷG ×１００（％）………（１式） この搗精度は表示手段３１に随時表示される。また、予
めサンプル米の搗精度を知っておくことにより、テスト
精米処理の際に実際の流通加工現場での精米処理を予測
することができる。
【００２３】一方、前記外観品位測定手段１６の後段に
千粒重測定手段４５を設けることもできる。斯かる場合
には、外観品位測定手段１６の選別部２４にて仕分けさ
れた玄米の整粒の千粒重、及び白米の整粒の千粒重を夫
々測定して品質評価を行う。また、各ランク毎に選別さ
れた玄米を混合し、玄米の整粒＋未熟粒＋被害粒＋着色
粒＋死米の全てを混合した状態の玄米千粒重や、白米の
整粒＋粉状質＋着色粒を混合した状態の白米千粒重を測
定することもできる。
千粒重測定手段４５を設けることもできる。斯かる場合
には、外観品位測定手段１６の選別部２４にて仕分けさ
れた玄米の整粒の千粒重、及び白米の整粒の千粒重を夫
々測定して品質評価を行う。また、各ランク毎に選別さ
れた玄米を混合し、玄米の整粒＋未熟粒＋被害粒＋着色
粒＋死米の全てを混合した状態の玄米千粒重や、白米の
整粒＋粉状質＋着色粒を混合した状態の白米千粒重を測
定することもできる。
【００２４】尚、本発明は、本発明の精神を逸脱しない
限り種々の改変をなすことができ、そして、本発明が該
改変せられたものに及ぶことは当然である。
限り種々の改変をなすことができ、そして、本発明が該
改変せられたものに及ぶことは当然である。
【００２５】請求項１に記載の発明によると、同一サン
プルの玄米の千粒重と、精米処理した白米の千粒重とに
より搗精度が算出される。この搗精度は表示手段へ表示
され、品質評価者は随時サンプル米の搗精度を正確に把
握でき、テスト精米処理が円滑化される。また、請求項
２に記載の発明によると、外観品位測定手段の選別部に
よって仕分けられた玄米及び白米の整粒の千粒重、ある
いは各ランク毎に選別された玄米または白米を混合し、
種々の状態の千粒重を測定することができる。
プルの玄米の千粒重と、精米処理した白米の千粒重とに
より搗精度が算出される。この搗精度は表示手段へ表示
され、品質評価者は随時サンプル米の搗精度を正確に把
握でき、テスト精米処理が円滑化される。また、請求項
２に記載の発明によると、外観品位測定手段の選別部に
よって仕分けられた玄米及び白米の整粒の千粒重、ある
いは各ランク毎に選別された玄米または白米を混合し、
種々の状態の千粒重を測定することができる。
【図１】本発明の一実施例を示す概念図。
１１ ホッパ
１２ 分配装置
１８ 精米手段
１９ 三方弁
２１ 計量器
２７ 制御手段
２９ 三方弁
３１ 表示手段
４４，４５ 千粒重測定手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(73)特許権者 000129884
株式会社ケット科学研究所
東京都大田区南馬込１丁目８番１号
(73)特許権者 000197344
静岡製機株式会社
静岡県袋井市山名町４番地の１
(72)発明者 杉山 隆夫
埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２ 生
物系特定産業技術研究推進機構内
(72)発明者 市川 友彦
埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２ 生
物系特定産業技術研究推進機構内
(72)発明者 牧野 英二
埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２ 生
物系特定産業技術研究推進機構内
(72)発明者 久保田 興太郎
埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２ 生
物系特定産業技術研究推進機構内
(72)発明者 柏嵜 勝
埼玉県大宮市日進町１丁目40番地２ 生
物系特定産業技術研究推進機構内
(72)発明者 上谷 弘践
愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農
機株式会社技術部内
(72)発明者 藤岡 定和
愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農
機株式会社技術部内
(72)発明者 清水 昭佳
大阪府八尾市神武町２番35号 株式会社
クボタ久宝寺工場内
(72)発明者 松下 和樹
大阪府八尾市神武町２番35号 株式会社
クボタ久宝寺工場内
(72)発明者 渡辺 利通
東京都大田区南馬込１丁目８番１号 株
式会社ケット科学研究所内
(72)発明者 藁科 二郎
静岡県袋井市山名町４番地の１ 静岡製
機株式会社内
(72)発明者 川中 道夫
静岡県袋井市山名町４番地の１ 静岡製
機株式会社内
(56)参考文献 特開 平６−34425（ＪＰ，Ａ)
特開 昭61−181369（ＪＰ，Ａ)
特開 昭62−277156（ＪＰ，Ａ)
特開 昭64−47458（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 5/00 - 5/04
B02B 7/00 - 7/02
G01G 13/00 - 13/34
G01N 21/00 - 21/958
G01N 33/10
ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)
Claims (2)
- 【請求項１】ホッパ内の玄米を少なくとも２系統に分け
る分配装置と、２系統の一を受けて所定粒数の重量を計
測することにより千粒重に換算する千粒重測定手段と、
他の一を受けて精米処理する精米手段とを設け、該精米
手段にて精米処理した白米を玄米の測定に続いて測定す
べく上記千粒重測定手段に供給する供給手段を設け、玄
米サンプルの千粒重と白米サンプルの千粒重とにより搗
精度を算出し、該搗精度を表示する表示手段を設けたこ
とを特徴とする米穀品質測定装置。 - 【請求項２】サンプル米を分配装置により測定経路と精
米経路の２系統に分配し、測定経路には玄米及び白米の
サンプル米を受けて外観品位を測定する外観品位測定手
段を接続すると共に該外観品位測定手段の後段に千粒重
測定手段を設けてなる請求項１に記載の米穀品質測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01461395A JP3450484B2 (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 米穀品質測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01461395A JP3450484B2 (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 米穀品質測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08201262A JPH08201262A (ja) | 1996-08-09 |
| JP3450484B2 true JP3450484B2 (ja) | 2003-09-22 |
Family
ID=11866061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01461395A Expired - Fee Related JP3450484B2 (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 米穀品質測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3450484B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105032528B (zh) * | 2015-06-15 | 2016-04-13 | 宁夏家道回乡农业开发有限公司 | 配米系统混合物料二次精选装置 |
-
1995
- 1995-01-31 JP JP01461395A patent/JP3450484B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08201262A (ja) | 1996-08-09 |
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