JPH08201299A - 米穀品質測定装置 - Google Patents

米穀品質測定装置

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JPH08201299A
JPH08201299A JP1460995A JP1460995A JPH08201299A JP H08201299 A JPH08201299 A JP H08201299A JP 1460995 A JP1460995 A JP 1460995A JP 1460995 A JP1460995 A JP 1460995A JP H08201299 A JPH08201299 A JP H08201299A
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JP
Japan
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rice
quality
measuring
grains
weight
Prior art date
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Pending
Application number
JP1460995A
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English (en)
Inventor
Takao Sugiyama
隆夫 杉山
Tomohiko Ichikawa
友彦 市川
Eiji Makino
英二 牧野
Kotaro Kubota
興太郎 久保田
Masaru Kashiwazaki
勝 柏嵜
Kosen Kamiya
弘践 上谷
Sadakazu Fujioka
定和 藤岡
Akiyoshi Shimizu
昭佳 清水
Kazuki Matsushita
和樹 松下
Toshimichi Watanabe
利通 渡辺
Jiro Warashina
二郎 藁科
Michio Kawanaka
道夫 川中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KET KAGAKU KENKYUSHO KK
SEIBUTSUKEI TOKUTEI SANGYO GIJUTSU KENKYU SUISHIN KIKO
Iseki and Co Ltd
Shizuoka Seiki Co Ltd
Kubota Corp
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
Original Assignee
KET KAGAKU KENKYUSHO KK
SEIBUTSUKEI TOKUTEI SANGYO GIJUTSU KENKYU SUISHIN KIKO
Iseki and Co Ltd
Shizuoka Seiki Co Ltd
Kubota Corp
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 米穀の外観的品質と内部的品質とを融合した
総合的な品質を測定する。 【構成】 サンプル米の外観品位測定手段16と内部品
質測定手段17とを設けるとともに、千粒重測定手段4
0を設けてサンプル米の千粒重を求める。この千粒重に
よってサンプル米の充実度が判明し、外観的品質及び内
部的品質を含めた総合的な米穀の品質評価を行うことが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は米穀品質測定装置に関す
るものであり、特に、サンプル米の千粒重測定に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来、玄米の外観的品質を測定する外観
品位測定手段としては、サンプル米に可視光線を照射し
て透過光と反射光を計測し、これらの計測値に基づく演
算にて色調分析を行い、整粒、未熟粒、着色粒、死米等
の品質測定を行う構成のものが知られている。
【0003】一方、玄米の内部的品質を測定する内部品
質測定手段としては、サンプル米に近赤外線を照射して
内部の化学分析を行い、食味評価値、粘り値、硬さ度等
の内部品質評価を行う構成のものが知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来、玄米の外観的品
質を測定する手段と、内部的品質を測定する手段は夫々
個々に確立されつつある。近年、前記外観的品質と内部
的品質の双方を含めた品質測定が要求されているが、こ
れら外観的品質と内部的品質とを融合した総合的な品質
測定は未だ存在しない。
【0005】また、これらの品質判定に加えて米穀自体
の充実度も重要な仕分け要素であり、この充実度につい
ても最近注目されつつある。そこで、米穀の外観的品質
と内部的品質とを測定するとともに、米穀の充実度も含
めた総合的な品質管理を行うために解決すべき技術的課
題が生じてくるのであり、本発明はこの課題を解決する
ことを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために提案されたものであり、サンプル米の外観的
品質を測定する外観品位測定手段と内部的品質を測定す
る内部品質測定手段とを設けるとともに、同一サンプル
米の所定粒数の重量を計測することにより千粒重に換算
する千粒重測定手段を設け、これらの測定データを表示
する表示手段を設けた米穀品質測定装置、及び千粒重測
定手段へのサンプル供給部を、米の外観的品質を測定す
る外観品位測定手段からの整粒取出部に接続した米穀品
質測定装置を提供するものである。
【0007】
【作用】サンプル米は外観品位測定手段にて外観的品質
が測定され、整粒、未熟粒、着色粒、死米等の品質別に
仕分けされる。また、サンプル米は内部品質測定手段に
て内部的品質が測定され、食味評価値、粘り値、硬さ度
等の評価が行われる。
【0008】一方、サンプル米は千粒重測定手段にて所
定粒数の重量が計測され、同一サンプル米の千粒重即ち
米穀の充実度が判定される。これらの測定データは制御
手段を介して記憶部に記憶されるとともに、随時表示手
段へ表示されるので、品質評価者は米穀の外観、内部に
加えて充実度を含む豊富なデータにより、正確な米穀品
質評価を行うことができる。
【0009】また、前記外観品位測定手段の整粒取出部
に千粒重測定手段のサンプル供給部を接続した場合に
は、別途分配手段を設けることなく、仕分けされた整粒
のみの千粒重が測定される。
【0010】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に従って詳述
する。図1は米穀品質測定装置を示す概念図であり、測
定しようとするサンプル米はホッパ11へ投入され、分
配装置12により測定系路13と精米系路14の2系統
に分配される。
【0011】2系統のうち一方の測定系路13は別の分
配装置15によって更に2系統に分配され、一は外観品
位測定手段16へ接続され、他の一は内部品質測定手段
17へ接続される。また、前記2系統のうち他方の精米
系路14は精米手段18に接続され、該精米系路14の
途中に三方弁19を介装して計量系路20を分岐し、こ
の計量系路20を計量器21に接続する。
【0012】前記外観品位測定手段16には搬送部22
と検出部23と選別部24とが設けられており、前記外
観品位測定手段16に供給されたサンプル米は、搬送部
22によって一粒ずつ検出部23へ送られ、サンプル米
に可視光線を照射して透過光と反射光を計測し、これら
の計測値に基づく演算にて色調分析を行う。そして、サ
ンプル米の外観的等級を整粒、未熟粒、被害粒、着色
粒、死米、胴割粒の6種類のランクに判定し、選別部2
4にて各ランク毎に仕分けする。このとき、選別部24
内のカウンタにて各ランク毎の粒数を計測するととも
に、計量器25にて各ランク毎の粒重を計測する。上記
計測値によって整粒割合をはじめとする各ランク毎の割
合が算出される。
【0013】また、前記内部品質測定手段17に於いて
は、サンプル米に近赤外線を照射して非粉砕状態下で分
光分析し、サンプル米内部の化学成分や内部品質値を測
定する。この内部品質値は、日本穀物検定協会の官能検
査や理化学検査の基準に基づいて行われ、サンプル米の
食味評価値、粘り値、硬さ度等が判定される。
【0014】一方、前記精米手段18には、精米負荷を
大小変更し或いは精米時間を長短変更できる精米強度変
更装置26が設けられており、後述するように、制御手
段27の指令によって該精米強度変更装置26を調整す
れば、精米歩留り(「搗精度」)を変更制御できる。そ
して、前記精米手段18にて精米されたサンプル米は計
量器21で計量された後に、搬送系路28によって前記
測定系路13へ送られる。該搬送系路28の途中には三
方弁29が介装され、この三方弁29を切り替えること
により、計量器21にて計量されたサンプル米を測定系
路13へ送るか、或いは再度精米手段18へ戻して精米
工程を複数回行うことが可能である。
【0015】ここで、前記制御手段27に於いては、外
観品位測定手段16の測定データ及び内部品質測定手段
17の測定データを読み取り、各データを記憶手段30
へ記憶するとともに随時表示手段31へ表示する。ま
た、計量器21で計量されたサンプル米の初期重量と精
米後の重量との比から精米歩留りを演算し、精米強度変
更装置26を調整することによって精米歩留りを変更制
御する。計量器21の計量データ、精米手段18に於け
る精米歩留り、精米強度変更装置26の制御出力等は記
憶手段30へ記憶されるとともに随時表示手段31へ表
示される。
【0016】而して、米穀の品質測定を行うに際して
は、玄米のサンプルをホッパ11へ投入し、分配装置1
2によってこのサンプル米を測定系路13と精米系路1
4とに分配する。測定系路13に分配された玄米は分配
装置15により更に2系統に分配され、外観品位測定手
段16と内部品質測定手段17とに送られて、前述した
ように外観的品質及び内部的品質が測定され、玄米の各
測定データが記憶される。
【0017】一方、精米系路14に分配されたサンプル
米は、先ず計量系路20を経て計量器21へ送られ、初
期重量を測定された後に精米手段18にて精米される。
精米後のサンプル米は計量器21にて計量され、前述し
たように精米歩留りを演算する。この精米歩留りが目標
値に達していない場合は、サンプル米を精米手段18へ
戻して再度精米処理を行う。
【0018】そして、目標の精米歩留りに達した白米は
搬送系路28から測定系路13へ送られる。然る後は、
玄米の場合と同様にして、白米のサンプルを外観品位測
定手段16と内部品質測定手段17とに於いて夫々品質
測定し、各測定データが記憶される。
【0019】尚、外観的品質の測定及び内部的品質の測
定を行うサンプル米は、玄米及び白米の何れでも可能で
あり、玄米のみ或いは白米のみの測定を行うこともでき
る。ここで、前記外観品位測定手段16の後段には千粒
重測定手段40が設けられている。該千粒重測定手段4
0に於いては、外観品位測定手段16の選別部24にて
仕分けされた整粒、未熟粒等の各ランク毎に、同一サン
プル米の所定粒数の重量を計測して千粒重が換算され、
整粒千粒重、未熟粒千粒重、被害粒千粒重等のデータが
記憶手段30に記憶され、これらのデータは随時表示手
段31へ表示される。
【0020】図2は千粒重測定のフローチャートであ
り、外観品位測定手段16へ供給されたサンプル米は、
前述したように一粒ずつ色調分析されて品質ランクが判
定される(ステップ101〜105)。品質ランクを判
定したサンプル米は粒数をカウントしながら品質ランク
別に選別され、すべてのサンプル米のランク分けを終了
した後に測定結果データを記憶手段30へ記憶する(ス
テップ106〜109)。
【0021】次に、サンプル米が貯粒されている収納部
のシャッタを開放し、計量器25にてサンプル米を計量
する。そして、該サンプル米の重量及び粒数から千粒重
を換算して求める(ステップ110〜113)。
【0022】尚、千粒重測定手段40の測定対象として
は、前述したように仕分けされた各ランク毎のサンプル
米を対象とするほか、前記選別部24に設けた整粒取出
部24aから供給される整粒のみを対象としてもよい。
斯かる場合には、別途分配手段を設けることなく、仕分
けされた整粒のみの千粒重を測定することができる。ま
た、前記選別部24にて仕分けされた各ランクのサンプ
ル米を混合し、全てのサンプル米の千粒重を測定しても
よい。
【0023】尚、本発明は、本発明の精神を逸脱しない
限り種々の改変をなすことができ、そして、本発明が該
改変せられたものに及ぶことは当然である。
【0024】
【発明の効果】本発明は上記一実施例に詳述したよう
に、サンプル米の外観的品質及び内部的品質に加えて千
粒重を測定することにより、サンプル米の充実度を知る
ことができる。これらの測定データは随時表示手段に表
示することができ、品質評価者は豊富なデータによって
正確な米穀評価を為すことができ、総合的な品質管理が
可能となる。
【0025】また、千粒重測定手段を外観品位測定手段
の整粒取出部へ接続した場合には、分配手段を別途設け
ることなく整粒のみの千粒重を測定できる。また、サン
プルが玄米の場合には、品種別標準千粒重との対比によ
り、当該測定対象の栽培の良否判定を行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す概念図。
【図2】千粒重測定のフローチャート。
【符号の説明】
16 外観品位測定手段 17 内部品質測定手段 24a 整粒取出部 25 計量器 27 制御手段 30 記憶手段 31 表示手段 40 千粒重測定手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 000197344 静岡製機株式会社 静岡県袋井市山名町4番地の1 (72)発明者 杉山 隆夫 埼玉県大宮市日進町1丁目40番地2 生物 系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者 市川 友彦 埼玉県大宮市日進町1丁目40番地2 生物 系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者 牧野 英二 埼玉県大宮市日進町1丁目40番地2 生物 系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者 久保田 興太郎 埼玉県大宮市日進町1丁目40番地2 生物 系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者 柏嵜 勝 埼玉県大宮市日進町1丁目40番地2 生物 系特定産業技術研究推進機構内 (72)発明者 上谷 弘践 愛媛県伊予郡砥部町八倉1番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 藤岡 定和 愛媛県伊予郡砥部町八倉1番地 井関農機 株式会社技術部内 (72)発明者 清水 昭佳 大阪府八尾市神武町2番35号 株式会社ク ボタ久宝寺工場内 (72)発明者 松下 和樹 大阪府八尾市神武町2番35号 株式会社ク ボタ久宝寺工場内 (72)発明者 渡辺 利通 東京都大田区南馬込1丁目8番1号 株式 会社ケット科学研究所内 (72)発明者 藁科 二郎 静岡県袋井市山名町4番地の1 静岡製機 株式会社内 (72)発明者 川中 道夫 静岡県袋井市山名町4番地の1 静岡製機 株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 サンプル米の外観的品質を測定する外観
    品位測定手段と内部的品質を測定する内部品質測定手段
    とを設けるとともに、同一サンプル米の所定粒数の重量
    を計測することにより千粒重に換算する千粒重測定手段
    を設け、これらの測定データを表示する表示手段を設け
    たことを特徴とする米穀品質測定装置。
  2. 【請求項2】 千粒重測定手段へのサンプル供給部を、
    米の外観的品質を測定する外観品位測定手段からの整粒
    取出部に接続した請求項1記載の米穀品質測定装置。
JP1460995A 1995-01-31 1995-01-31 米穀品質測定装置 Pending JPH08201299A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1460995A JPH08201299A (ja) 1995-01-31 1995-01-31 米穀品質測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1460995A JPH08201299A (ja) 1995-01-31 1995-01-31 米穀品質測定装置

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Publication Number Publication Date
JPH08201299A true JPH08201299A (ja) 1996-08-09

Family

ID=11865951

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1460995A Pending JPH08201299A (ja) 1995-01-31 1995-01-31 米穀品質測定装置

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Effective date: 20040608