JP3444233B2 - 超音波溶接不良検出方法および装置 - Google Patents
超音波溶接不良検出方法および装置Info
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- JP3444233B2 JP3444233B2 JP13308199A JP13308199A JP3444233B2 JP 3444233 B2 JP3444233 B2 JP 3444233B2 JP 13308199 A JP13308199 A JP 13308199A JP 13308199 A JP13308199 A JP 13308199A JP 3444233 B2 JP3444233 B2 JP 3444233B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波溶接の不良
を検出する方法および装置に関する。
を検出する方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】超音波溶接の不良を検出する手段とし
て、特開平６−３４４１５９号公報に開示された技術が
知られている。この技術は溶接中のホーン電流を監視
し、その電流値が所定の範囲を越えることによって溶接
不良を検出するものである。また、上記以外に超音波溶
接の不良を検出する手段として、被溶接物の加圧力、溶
接時間を計測し、予め設定した上限および下限と比較
し、溶接の良否を判定する技術が知られている。
て、特開平６−３４４１５９号公報に開示された技術が
知られている。この技術は溶接中のホーン電流を監視
し、その電流値が所定の範囲を越えることによって溶接
不良を検出するものである。また、上記以外に超音波溶
接の不良を検出する手段として、被溶接物の加圧力、溶
接時間を計測し、予め設定した上限および下限と比較
し、溶接の良否を判定する技術が知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記で示した検出手段
は、溶接強度の監視としては有効である。しかし、超音
波溶接の場合、超音波を被溶接物に与えて溶接を行うた
め、ホーンの先端部の劣化、溶接治具の状態、被溶接物
の表面粗度などの変動により、溶接条件が一定でも溶接
割れが発生する場合がある。図２（ｂ）に溶接割れが発
生した具体的な被溶接物の一例を示し、溶接割れが発生
した部分を矢印Ａに示す。この溶接割れは、上記で示し
た検出手段では検出することが困難であり、現状では溶
接後、全ての被溶接物を作業者が目で見て溶接割れの発
生の有無をチェックしている。
は、溶接強度の監視としては有効である。しかし、超音
波溶接の場合、超音波を被溶接物に与えて溶接を行うた
め、ホーンの先端部の劣化、溶接治具の状態、被溶接物
の表面粗度などの変動により、溶接条件が一定でも溶接
割れが発生する場合がある。図２（ｂ）に溶接割れが発
生した具体的な被溶接物の一例を示し、溶接割れが発生
した部分を矢印Ａに示す。この溶接割れは、上記で示し
た検出手段では検出することが困難であり、現状では溶
接後、全ての被溶接物を作業者が目で見て溶接割れの発
生の有無をチェックしている。
【０００４】
【発明の目的】本発明は、上記の事情に鑑みてなされた
もので、その目的は、溶接割れの発生の有無を検出する
ことのできる超音波溶接不良検出方法および装置の提供
にある。
もので、その目的は、溶接割れの発生の有無を検出する
ことのできる超音波溶接不良検出方法および装置の提供
にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】〔請求項１、２の手段〕
正常の溶接では、ホーンから与えられた振動によって、
被溶接物が均一に振動するため、ホーン電流の波形は徐
々に立ち上がったあとフラットになる。これに対し、溶
接割れが起きると、被溶接物の一部が固定されてしまう
ため、他の一部のみに振動エネルギーが集中し、他の一
部の溶接が一気に進み、ホーン電流の波形が急激に立ち
上がる。そして、他の一部が溶着した後、しばらくホー
ンが他の一部の上をスリップする状態になるため、ホー
ンは駆動力を必要とせず、結果的にホーン電流が大きく
降下する。
正常の溶接では、ホーンから与えられた振動によって、
被溶接物が均一に振動するため、ホーン電流の波形は徐
々に立ち上がったあとフラットになる。これに対し、溶
接割れが起きると、被溶接物の一部が固定されてしまう
ため、他の一部のみに振動エネルギーが集中し、他の一
部の溶接が一気に進み、ホーン電流の波形が急激に立ち
上がる。そして、他の一部が溶着した後、しばらくホー
ンが他の一部の上をスリップする状態になるため、ホー
ンは駆動力を必要とせず、結果的にホーン電流が大きく
降下する。
【０００６】このように、溶接割れが起きる場合、一
旦、ホーン電流の波形が急激に立ち上がり、その後、ホ
ーン電流が大きく降下する特性を有する。このため、最
大値計測領域においてホーン電流の波形の立ち上がりに
よるホーン電流の最大値を計測し、最小値計測領域にお
いてホーン電流の降下によるホーン電流の最小値を計測
し、最大値と最小値との差が予め設定された判定値より
大きい場合に、溶接割れの発生を判断できる。
旦、ホーン電流の波形が急激に立ち上がり、その後、ホ
ーン電流が大きく降下する特性を有する。このため、最
大値計測領域においてホーン電流の波形の立ち上がりに
よるホーン電流の最大値を計測し、最小値計測領域にお
いてホーン電流の降下によるホーン電流の最小値を計測
し、最大値と最小値との差が予め設定された判定値より
大きい場合に、溶接割れの発生を判断できる。
【０００７】〔請求項３の手段〕被溶接物が一定の溶け
込み量となるように溶接を行う場合、溶接時間がばらつ
く。このため、時間幅で最大値と最小値を計測すると、
誤作動する可能性が大きくなってしまう。そこで、ロー
レット部の食い込み代が所定値に達するまでの前後で最
大値計測領域と最小値計測領域とに区切ることで、溶接
時間にばらつきが発生しても、最大値と最小値を正確に
計測することができる。
込み量となるように溶接を行う場合、溶接時間がばらつ
く。このため、時間幅で最大値と最小値を計測すると、
誤作動する可能性が大きくなってしまう。そこで、ロー
レット部の食い込み代が所定値に達するまでの前後で最
大値計測領域と最小値計測領域とに区切ることで、溶接
時間にばらつきが発生しても、最大値と最小値を正確に
計測することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して説明する。図１を基に超音波溶接装置１を説明す
る。超音波溶接装置１は、圧電素子等を用いた超音波振
動子２、この超音波振動子２に超音波駆動電流（ホーン
電流）を与えるコントローラ３、超音波振動子２によっ
て超音波振動するホーン４、およびこのホーン先端のロ
ーレット部５との間で被溶接物６を挟み付けるアンビル
７から構成され、ホーン４の根元部は保持部８によって
超音波振動可能に保持されている。また、この実施形態
における超音波溶接装置１は、被溶接物６が一定の溶け
込み量となるように溶接を行うものであり、溶け込み量
を計測するための変位センサ９を備える。なお、変位セ
ンサ９は、ホーン４の変位量Ｌを計測することで被溶接
物６の溶け込み量を計測するものである。
して説明する。図１を基に超音波溶接装置１を説明す
る。超音波溶接装置１は、圧電素子等を用いた超音波振
動子２、この超音波振動子２に超音波駆動電流（ホーン
電流）を与えるコントローラ３、超音波振動子２によっ
て超音波振動するホーン４、およびこのホーン先端のロ
ーレット部５との間で被溶接物６を挟み付けるアンビル
７から構成され、ホーン４の根元部は保持部８によって
超音波振動可能に保持されている。また、この実施形態
における超音波溶接装置１は、被溶接物６が一定の溶け
込み量となるように溶接を行うものであり、溶け込み量
を計測するための変位センサ９を備える。なお、変位セ
ンサ９は、ホーン４の変位量Ｌを計測することで被溶接
物６の溶け込み量を計測するものである。
【０００９】この超音波溶接装置１による溶接は、以下
のようにして行われる。重ね合わせた被溶接物６をホー
ン４とアンビル７との間に設置し、ホーン４を被溶接物
６に押し付け、被溶接物６の接合部を加圧する。そし
て、コントローラ３から超音波振動子２に超音波振動駆
動のためのホーン電流を供給すると、超音波振動子２お
よびホーン４が超音波振動し、これが被溶接物６に伝達
される。その結果、被溶接物６の接触面に微小振動塑性
滑りが発生し、その滑り作用によって接触面に摩擦熱が
生じることになり、この摩擦熱を利用した冷間圧接・溶
接が行われる。そして、変位センサ９によって計測され
るホーン４の変位量Ｌが所定値に達すると、溶け込み量
が所定値に達したとコントローラ３が判断し、溶接を終
了する。
のようにして行われる。重ね合わせた被溶接物６をホー
ン４とアンビル７との間に設置し、ホーン４を被溶接物
６に押し付け、被溶接物６の接合部を加圧する。そし
て、コントローラ３から超音波振動子２に超音波振動駆
動のためのホーン電流を供給すると、超音波振動子２お
よびホーン４が超音波振動し、これが被溶接物６に伝達
される。その結果、被溶接物６の接触面に微小振動塑性
滑りが発生し、その滑り作用によって接触面に摩擦熱が
生じることになり、この摩擦熱を利用した冷間圧接・溶
接が行われる。そして、変位センサ９によって計測され
るホーン４の変位量Ｌが所定値に達すると、溶け込み量
が所定値に達したとコントローラ３が判断し、溶接を終
了する。
【００１０】この実施形態において超音波溶接装置１に
よって溶接される被溶接物６の具体例は、図２（ａ）に
示すように、銅プレート１０、アルミフィン１１、およ
び炭素鋼からなるＢボルト１２の三層同時超音波溶接で
あり、この被溶接物６はオルタネータのレクチファイヤ
に用いられるものである。そして、この被溶接物６は、
ホーン４の先端部の劣化、溶接治具の状態、被溶接物６
の表面粗度などの変動により、溶接条件が一定でも、図
２（ｂ）の矢印Ａで示すように、Ｂボルト１２に溶接割
れが発生する場合がある。
よって溶接される被溶接物６の具体例は、図２（ａ）に
示すように、銅プレート１０、アルミフィン１１、およ
び炭素鋼からなるＢボルト１２の三層同時超音波溶接で
あり、この被溶接物６はオルタネータのレクチファイヤ
に用いられるものである。そして、この被溶接物６は、
ホーン４の先端部の劣化、溶接治具の状態、被溶接物６
の表面粗度などの変動により、溶接条件が一定でも、図
２（ｂ）の矢印Ａで示すように、Ｂボルト１２に溶接割
れが発生する場合がある。
【００１１】超音波溶接装置１には、溶接中の被溶接物
６に溶接割れが発生したか否かを判定し、溶接割れによ
る溶接不良が発生したと判断した場合に警告音を発生す
る超音波溶接不良検出装置が設けられている。この装置
は、超音波振動子２に印加されるホーン電流値ｉを計測
する電流センサ１３と、この電流センサ１３によって計
測されたホーン電流値ｉに基づいて溶接割れを検出する
モニタリング装置１４（モニタリング手段に相当する）
とから構成される。
６に溶接割れが発生したか否かを判定し、溶接割れによ
る溶接不良が発生したと判断した場合に警告音を発生す
る超音波溶接不良検出装置が設けられている。この装置
は、超音波振動子２に印加されるホーン電流値ｉを計測
する電流センサ１３と、この電流センサ１３によって計
測されたホーン電流値ｉに基づいて溶接割れを検出する
モニタリング装置１４（モニタリング手段に相当する）
とから構成される。
【００１２】このモニタリング装置１４は、図３に示す
ように、溶接を開始してからの所定期間内における最大
値計測領域でのホーン電流の最大値Max ｉと、最大値計
測領域が経過してからの所定期間内における最小値計測
領域でのホーン電流の最小値Min ｉとの差が、予め設定
された判定値Δｉ（例えば、６００ｍＡ）より大きい場
合（Max ｉ−Min ｉ＞Δｉ）に、溶接不良を判断するも
のである。
ように、溶接を開始してからの所定期間内における最大
値計測領域でのホーン電流の最大値Max ｉと、最大値計
測領域が経過してからの所定期間内における最小値計測
領域でのホーン電流の最小値Min ｉとの差が、予め設定
された判定値Δｉ（例えば、６００ｍＡ）より大きい場
合（Max ｉ−Min ｉ＞Δｉ）に、溶接不良を判断するも
のである。
【００１３】この実施形態における最大値計測領域は、
溶接を開始してから、被溶接物６を押し付けるホーン４
のローレット部５の食い込み代が所定値ΔＬ（例えば、
２５０μｍ）に達するまでの期間であり、また、最小値
計測領域は、最大値計測領域が経過してから、溶接が終
了するまでの期間である。そして、ローレット部５の食
い込み代は、変位センサ９によってホーン４の変位量Ｌ
から計測される。
溶接を開始してから、被溶接物６を押し付けるホーン４
のローレット部５の食い込み代が所定値ΔＬ（例えば、
２５０μｍ）に達するまでの期間であり、また、最小値
計測領域は、最大値計測領域が経過してから、溶接が終
了するまでの期間である。そして、ローレット部５の食
い込み代は、変位センサ９によってホーン４の変位量Ｌ
から計測される。
【００１４】モニタリング装置１４は、ホーン電流値ｉ
を計測するホーン電流計測回路１５、ホーン変位量Ｌを
計測するホーン変位量計測回路１６、判定値Δｉおよび
所定値ΔＬを記憶する設定回路１７、演算回路１８、比
較回路１９、警報回路２０から構成される。演算回路１
８、比較回路１９および警報回路２０は、上記の計測お
よび判定を行うもので、その作動を図４のフローチャー
トに基づき説明する。
を計測するホーン電流計測回路１５、ホーン変位量Ｌを
計測するホーン変位量計測回路１６、判定値Δｉおよび
所定値ΔＬを記憶する設定回路１７、演算回路１８、比
較回路１９、警報回路２０から構成される。演算回路１
８、比較回路１９および警報回路２０は、上記の計測お
よび判定を行うもので、その作動を図４のフローチャー
トに基づき説明する。
【００１５】溶接が開始されると（スタート）、ホーン
電流計測回路１５の読み込んだホーン電流値ｉからホー
ン電流の最大値Max ｉを測定する（ステップＳ1 ）。次
に、ホーン変位量計測回路１６の読み込んだホーン変位
量Ｌが所定値ΔＬに達したか否かの判断を行う（ステッ
プＳ2 ）。この判断結果がNOの場合は最大値計測領域で
あると判断してステップＳ1 へ戻る。
電流計測回路１５の読み込んだホーン電流値ｉからホー
ン電流の最大値Max ｉを測定する（ステップＳ1 ）。次
に、ホーン変位量計測回路１６の読み込んだホーン変位
量Ｌが所定値ΔＬに達したか否かの判断を行う（ステッ
プＳ2 ）。この判断結果がNOの場合は最大値計測領域で
あると判断してステップＳ1 へ戻る。
【００１６】ステップＳ2 の判断結果がYES の場合は、
最大値計測領域が終了し、最小値計測領域に入ったと判
断して、ホーン電流計測回路１５の読み込んだホーン電
流値ｉからホーン電流の最小値Min ｉを測定する（ステ
ップＳ3 ）。次に、溶け込み量が所定値に達し、溶接が
終了したか否かの判断を行う（ステップＳ4 ）。この判
断結果がNOの場合は最小値計測領域であると判断してス
テップＳ3 へ戻る。
最大値計測領域が終了し、最小値計測領域に入ったと判
断して、ホーン電流計測回路１５の読み込んだホーン電
流値ｉからホーン電流の最小値Min ｉを測定する（ステ
ップＳ3 ）。次に、溶け込み量が所定値に達し、溶接が
終了したか否かの判断を行う（ステップＳ4 ）。この判
断結果がNOの場合は最小値計測領域であると判断してス
テップＳ3 へ戻る。
【００１７】ステップＳ4 の判断結果がYES の場合は、
最小値計測領域も終了したと判断し、ステップＳ1 で計
測した最大値Max ｉとステップＳ3 で計測した最小値Mi
n ｉとの差が、判定値Δｉよりも大きいか否かの判断を
行う（ステップＳ5 ）。この判断結果がNOの場合は溶接
割れが発生していないと判断して終了する（エンド）。
しかし、ステップＳ5 の判断結果がYES の場合は溶接割
れが発生したと判断し、警報回路２０を作動させて、不
良品の発生を作業者に知らせる、あるいは不良品を自動
的に選別させる（ステップＳ6 ）。
最小値計測領域も終了したと判断し、ステップＳ1 で計
測した最大値Max ｉとステップＳ3 で計測した最小値Mi
n ｉとの差が、判定値Δｉよりも大きいか否かの判断を
行う（ステップＳ5 ）。この判断結果がNOの場合は溶接
割れが発生していないと判断して終了する（エンド）。
しかし、ステップＳ5 の判断結果がYES の場合は溶接割
れが発生したと判断し、警報回路２０を作動させて、不
良品の発生を作業者に知らせる、あるいは不良品を自動
的に選別させる（ステップＳ6 ）。
【００１８】上記溶接割れの有無にかかるホーン電流の
変化を図５を参照して説明する。正常の溶接では、ホー
ン４から与えられた振動によって、被溶接物６が均一に
振動するため、図５の実線Ｂに示すように、ホーン電流
の波形は徐々に立ち上がったあとフラットになる。
変化を図５を参照して説明する。正常の溶接では、ホー
ン４から与えられた振動によって、被溶接物６が均一に
振動するため、図５の実線Ｂに示すように、ホーン電流
の波形は徐々に立ち上がったあとフラットになる。
【００１９】これに対し、溶接割れが起きると、被溶接
物６の一部が固定されてしまうため、他の一部のみに振
動エネルギーが集中し、他の一部の溶接が一気に進み、
図５の破線Ｃに示すように、ホーン電流の波形が急激に
立ち上がる。そして、他の一部が溶着した後、しばらく
ホーン４が他の一部の上をスリップする状態になるた
め、ホーン４は駆動力を必要とせず、結果的にホーン電
流が大きく降下する。
物６の一部が固定されてしまうため、他の一部のみに振
動エネルギーが集中し、他の一部の溶接が一気に進み、
図５の破線Ｃに示すように、ホーン電流の波形が急激に
立ち上がる。そして、他の一部が溶着した後、しばらく
ホーン４が他の一部の上をスリップする状態になるた
め、ホーン４は駆動力を必要とせず、結果的にホーン電
流が大きく降下する。
【００２０】このように、溶接割れが発生した場合、一
旦、ホーン電流の波形が急激に立ち上がり、その後、ホ
ーン電流が大きく降下する特性を有する。このため、最
大値計測領域においてホーン電流の波形の立ち上がりに
よるホーン電流の最大値Max ｉを計測し、最小値計測領
域においてホーン電流の降下によるホーン電流の最小値
Min ｉを計測し、最大値Max ｉと最小値Min ｉとの差が
予め設定された判定値Δｉより大きい場合に、溶接割れ
の発生を判断できる。
旦、ホーン電流の波形が急激に立ち上がり、その後、ホ
ーン電流が大きく降下する特性を有する。このため、最
大値計測領域においてホーン電流の波形の立ち上がりに
よるホーン電流の最大値Max ｉを計測し、最小値計測領
域においてホーン電流の降下によるホーン電流の最小値
Min ｉを計測し、最大値Max ｉと最小値Min ｉとの差が
予め設定された判定値Δｉより大きい場合に、溶接割れ
の発生を判断できる。
【００２１】上記実施形態で示したように、最大値計測
領域における最大値Max ｉと、最小値計測領域における
最小値Min ｉとの差を求め、その差を判定値Δｉと比較
することで溶接割れの発生を判断することができるた
め、従来、全ての被溶接物６を作業者が目で見て溶接割
れの発生の有無をチェックしていた作業を無くすことが
できる。つまり、目視による作業者が不要になるため、
結果的に被溶接物６の溶接に要するコストを下げること
ができる。
領域における最大値Max ｉと、最小値計測領域における
最小値Min ｉとの差を求め、その差を判定値Δｉと比較
することで溶接割れの発生を判断することができるた
め、従来、全ての被溶接物６を作業者が目で見て溶接割
れの発生の有無をチェックしていた作業を無くすことが
できる。つまり、目視による作業者が不要になるため、
結果的に被溶接物６の溶接に要するコストを下げること
ができる。
【００２２】〔変形例〕上記の実施形態では、被溶接物
６が一定の溶け込み量となるように溶接を行う例を採用
したため、最大値計測領域と最小値計測領域を変位セン
サ９で計測される溶け込み量を基に区別した例を示した
が、例えば溶接を時間制御するような場合では、最大値
計測領域と最小値計測領域を時間幅で区別しても良い。
上記実施形態で示した被溶接物６や数値は、説明するた
めの一例であって、他の被溶接物６や数値を用いても良
い。
６が一定の溶け込み量となるように溶接を行う例を採用
したため、最大値計測領域と最小値計測領域を変位セン
サ９で計測される溶け込み量を基に区別した例を示した
が、例えば溶接を時間制御するような場合では、最大値
計測領域と最小値計測領域を時間幅で区別しても良い。
上記実施形態で示した被溶接物６や数値は、説明するた
めの一例であって、他の被溶接物６や数値を用いても良
い。
【図１】超音波溶接不良検出装置の概略図である。
【図２】被溶接物の斜視図である。
【図３】ホーン変位量とホーン電流値との関係を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図４】モニタリング装置の作動を示すフローチャート
である。
である。
【図５】溶接割れの有無におけるホーン電流値の変化を
示すグラフである。
示すグラフである。
１ 超音波溶接装置
２ 超音波振動子
４ ホーン
５ ローレット部
６ 被溶接物
７ アンビル
１３ 電流センサ
１４ モニタリング装置（モニタリング手段）
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平６−344159（ＪＰ，Ａ)
特開 平９−234575（ＪＰ，Ａ)
特開2000−202644（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−252679（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−341966（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−60881（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−99289（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
B23K 20/10
B23K 31/00
Claims (3)
- 【請求項１】超音波振動子の発生する超音波振動をホー
ンに伝え、このホーンとアンビルとの間に挟まれる被溶
接物を接合する超音波溶接装置に用いられ、 前記超音波振動子を駆動するためのホーン電流を監視
し、 溶接を開始してからの所定期間内における最大値計測領
域でのホーン電流の最大値と、前記最大値計測領域が経
過してからの所定期間内における最小値計測領域でのホ
ーン電流の最小値との差が、予め設定された判定値より
大きい場合に、溶接不良を判断する超音波溶接不良検出
方法。 - 【請求項２】（ａ）超音波振動子の発生する超音波振動
をホーンに伝え、このホーンとアンビルとの間に挟まれ
る被溶接物を接合する超音波溶接装置と、 （ｂ）前記超音波振動子を駆動するためのホーン電流を
監視しする電流センサと、 （ｃ）溶接を開始してからの所定期間内における最大値
計測領域でのホーン電流の最大値と、前記最大値計測領
域が経過してからの所定期間内における最小値計測領域
でのホーン電流の最小値との差が、予め設定された判定
値より大きい場合に、溶接不良を判断するモニタリング
手段と、を備えた超音波溶接不良検出装置。 - 【請求項３】前記最大値計測領域は、溶接を開始してか
ら、前記被溶接物を押し付ける前記ホーンのローレット
部の食い込み代が所定値に達するまでの期間であり、 前記最小値計測領域は、前記最大値計測領域が経過して
から、溶接が終了するまでの期間であることを特徴とす
る請求項１記載の超音波溶接不良検出方法または請求項
２記載の超音波溶接不良検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13308199A JP3444233B2 (ja) | 1999-05-13 | 1999-05-13 | 超音波溶接不良検出方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13308199A JP3444233B2 (ja) | 1999-05-13 | 1999-05-13 | 超音波溶接不良検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000317651A JP2000317651A (ja) | 2000-11-21 |
| JP3444233B2 true JP3444233B2 (ja) | 2003-09-08 |
Family
ID=15096415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13308199A Expired - Fee Related JP3444233B2 (ja) | 1999-05-13 | 1999-05-13 | 超音波溶接不良検出方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3444233B2 (ja) |
Cited By (2)
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