JP3406946B2 - 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法 - Google Patents

照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法

Info

Publication number
JP3406946B2
JP3406946B2 JP31824694A JP31824694A JP3406946B2 JP 3406946 B2 JP3406946 B2 JP 3406946B2 JP 31824694 A JP31824694 A JP 31824694A JP 31824694 A JP31824694 A JP 31824694A JP 3406946 B2 JP3406946 B2 JP 3406946B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
mask
light source
light
illumination optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP31824694A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07230057A (ja
Inventor
正行 西脇
博志 杉谷
剛 折笠
顕 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP31824694A priority Critical patent/JP3406946B2/ja
Publication of JPH07230057A publication Critical patent/JPH07230057A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3406946B2 publication Critical patent/JP3406946B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ加工機や露光装
置等に用いられる照明光学系の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、マスク投影方式を用いたレーザ
加工機や露光装置等の照明光学系としては、複数のレン
ズを2次元的に配列したフライアイレンズを用いてい
る。
【0003】上述した照明系では、レーザ光源から射出
された光束は、光学ユニットによって拡大あるいは縮小
されてフライアイレンズ入射口の大きさに整形される。
整形された光束は、フライアイレンズを構成する各レン
ズに入射し分割される。分割された各光束はマスク上で
重ね合わされ、マスク上における照射光は広フィールド
に照度均一化がなされる。以上のように、マスクが照度
均一な照射光で照射されると、マスクパターンがサンプ
ル上に形成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た照明光学系は、光源から射出された光束を、フライア
イレンズを介してマスク上で広フィールドに均一照射す
るよう構成されているため、1次元的な線状のマスクパ
ターンを照明する場合にはエネルギー損失を生じる。
【0005】本発明の目的は、エネルギー損失が少ない
照明光学系を提供することにある。さらには、その照明
光学系を用いた光学装置およびその光学装置を用いたデ
バイス製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の照明光学系は、
被照射面に線状の照明領域を形成する照明光学系におい
て、光源からのほぼ平行なレーザビームを第1の方向に
のみ分割して複数のビームとするとともに、該複数のビ
ームの各中心光線を直接所定の位置で交差させるプリズ
ムユニットと、前記所定の位置が、前記第1の方向にお
ける前側焦点位置となるように配置され、前記第1の方
向における後側焦平面に前記プリズムユニットからの複
数のビームの夫々を収束させて複数の線状の光源像を形
成するシリンドリカルレンズと、前記複数の線状の光源
像からの複数のビームの夫々を、前記第1の方向に関し
てはデフォーカスし、且つ前記第1の方向に垂直な第2
の方向に関してはフォーカスし、前記被照明面に互いに
重ねる集光光学系と、を有することを特徴とする。
【0007】上記の場合、前記光源は、エキシマレーザ
光源であってもよい。また、前記集光光学系は、前記第
1の方向と前記第2の方向に関する焦点距離が互いに等
しいものであってもよい。
【0008】
【0009】
【0010】
【0011】
【0012】
【0013】本発明の光学装置は、マスクのパターンで
加工片を露光する光学装置において、前記マスクのパタ
ーンを照明する上述の照明光学系のいずれかを有する
とを特徴とする。
【0014】上記の場合、前記マスクのパターンを前記
加工片に投影する投影光学系を更に備えていてもよい。
【0015】
【0016】
【0017】
【0018】本発明のデバイス製造方法は、上述の光学
装置のいずれかによりパターンを露光する段階を有する
ことを特徴とする。
【0019】上記の場合、前記パターンはノズルプレー
トのインク吐出穴の列であってもよい。
【0020】
【作用】上記の如く構成される本発明の照明光学系で
は、プリズムユニットによってレーザビームが所定の方
向にのみ分割され数のビームされ、シリンドリカル
レンズによってその分割された複数のビームの夫々を収
束させて複数の線状の光源像を形成し、集光光学系によ
ってその複数の線状の光源像からの数のビームの夫々
を、第の方向に関してはフォーカスし、第の方向に
関してはデフォーカスして被照明面に互いに重ねあわせ
ことにより、被照明面上には照度分布がだいたい均一
な線状の照明領域が形成されるので、被照明面を照明す
るビームの強度が高められる。
【0021】また、本発明の光学装置においては、上記
照明光学系と同様の作用により、マスク上にはビームの
強度が高められた、照度分布がだいたい均一な線状の照
明領域が形成される。したがって、この照明領域をマス
ク上の線状のパターン領域上に形成するよう構成すれ
ば、少ないエネルギーで、効率良くマスクのパターン領
域に形成されたパターンに応じた加工片の露光を行なう
ことができる。
【0022】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0023】図1は、本発明の一実施例の照明光学系の
概略構成図で、(a)は光束分割方向に垂直な方向から
見た側面図、(b)は光束分割方向から見た上面図であ
る。図2は、図1の(a)のプリズムユニット2、遮光
マスク3およびシリンドリルレンズユニット4で構成
される部分を拡大した図である。
【0024】本実施例の照明光学系は、KrFエキシマ
レーザ等のレーザ光源1と、該レーザ光源1から射出し
たほぼコリメートされたほぼコヒーレントなビームの進
行方向に順次設けられたプリズムユニット2、遮光マス
ク3、シリンドリカルレンズユニット4および回転対称
な凸レンズ5とを備えている。51、52はそれぞれレ
ンズ5の前側、後側主平面を示す。
【0025】プリズムユニット2は、図2に示すよう
に、レーザ光源1の射出光軸(中心光線)を対称軸とし
て、2つのプリズムが互いに対向するよう光束分割方向
に並設されたものである。該プリズムユニット2は、レ
ーザ光源1から射出された光束を3分割し、相異なる方
向に向ける。
【0026】遮光マスク3は、中央部に、短い辺の長さ
が分割した光束の光束分割方向幅となる長方形の開口部
を有し、プリズムユニット2によって3分割された光束
が交わる位置に、該開口部の長手方向が光束分割方向と
垂直になるように設けられている。該遮光マスク3は、
光束通過時に散乱光等の不要な光を排除する。
【0027】シリンドリカルレンズユニット4は、焦点
距離や屈折力が回転対称でない光学素子、すなわちアナ
モフィック光学素子であって、上記遮光マスク3が、こ
のシリンドリカルレンズユニット4の光束分割方向を含
む平面における前側焦点位置となるよう配置される。凸
レンズ5は、シリンドリカルレンズユニット4の後方の
所定の位置に配置される。
【0028】上記照明光学系が用いられたレーザ加工機
や露光装置では、図1に示すようにデバイスパターンが
形成されたマスク6が、凸レンズ5の後側焦点位置に配
置され、該マスク6の後方に絞り7および投射レンズ8
が配置される。また、被加工片であるサンプル9は、投
影レンズ8に対してマスク6と共役となる位置に配置さ
れる。なお、該サンプル9としては、プラスチック等の
熱加工可能なもの、あるいはレジスト等が用いられる。
マスク6上には、光束分割方向に沿って多数個のホール
(穴)が形成されており、本実施例では、均一な照度分
布を有する光束分割方向に線状をなす照明光によりこの
ホール列を照明する。
【0029】レーザ光源1を射出した光束は、プリズム
ユニット2によって3つの光束に分割される。3分割さ
れた光束は、一度遮光マスク3の位置、すなわちシリン
ドリカルレンズユニット4の前側焦点位置でそれぞれの
光束が交わり、遮光マスク3によって不要な光が排除さ
れた後、シリンドリカルレンズユニット4へ相異なる方
向から入射する。該入射した3光束の、遮光マスク3の
開口部の中心を通過した中心光線は、照明系の光軸AX
に対して平行にシリンドリカルレンズユニット4から射
出する。シリンドリカルレンズユニット4から射出した
3光束は、該レンズユニットの後側焦点位置で夫々一度
線状に収束した後、凸レンズ5に入射する。3光束は、
凸レンズ5により凸レンズ5の後側焦点位置、すなわち
マスク6上で互いに重なり合い、照度分布がだいたい均
一な線状の像としてマスク6上に投影される。この線状
の像は、3光束の夫々をマスク6面に対してホール列方
向に関してデフォーカスさせ、ホール列方向と直交する
方向に関してフォーカスすることにより形成した。投影
レンズ8はマスク6のホール列の像によりサンプル9に
ホール列を形成し(穴をあけ)、このサンプル9がイン
クジェットプリンターのインク吐出用のノズルプレート
として用いられる。また、投影レンズ8の絞り7の位置
(開口)では、3光束の夫々は、ホール列方向に関して
フォーカスし、ホール列と直交する方向に関してデフォ
ーカスする。
【0030】上述のような照明光学系では、シリンドリ
カルレンズユニット4の焦点距離f 1は、分割された光
束の幅、凸レンズ5の焦点距離およびマスク6上に投影
される線状光束(像)された像の長さで決定される。こ
こで、プリズムユニット2へ入射する光束の幅をa、光
束を分割した数をn、凸レンズ5の焦点距離をf2、凸
レンズ5のリレー倍率をm、凸レンズ5の後側主平面5
2から像面である絞り7までの距離をb、マスク6上に
結像された線状光束の長さをLとすると、シリンドリカ
ルレンズユニット4の焦点距離f1は以下の式で表され
る。
【0031】 f1=(a÷n)×((b−f2)÷L)×|1÷m| ここで、マスク6のパターン領域は形状が線状(1次元
ホール列)であることから、上記像の長さLは、マスク
6のホール列の長さより大きければ良いこととなり、上
記シリンドリカルレンズユニット4の焦点距離f1は、
以下の式の関係を満たすよう設定される。
【0032】 f1≦(a÷n)×((b−f2)÷ m )×|1÷m| ここで、Lmは線状のマスクのホール列の長さを表す。
【0033】次に、プリズムユニット2を構成する2つ
のプリズムから出射される各光束と照明系の光軸AXと
のなす角度(以下出射角度という)について計算する。
【0034】各プリズムから射出される光束の出射角度
は、シリンドリカルレンズユニット4の焦点距離f1
絞り7の直径Aとで決定される。また、上述した照明光
学系において、凸レンズ5は、プリズムユニット2で分
割されたそれぞれの光束を、マスク6上に結像させると
共に、シリンドリカルレンズユニット4で形成された3
つの線状の光源像を絞り7に再結像しているので、シリ
ンドリカルレンズユニット4による3つの光源像の大き
さは、上記凸レンズ5の結像倍率がmであることから、
(A÷m)の値を越えてはならない。したがって、プリ
ズムユニット2から射出される3光束の中心光線は、以
下に示す式の関係を満たすものとなる。
【0035】f1・tanθmax≦(A÷2)÷m ここで、θmaxはプリズムユニット2から射出された3
つの中心光線と照明光学系の光軸AXとのなす角度を表
す。
【0036】上述した照明光学系では、図1(a)およ
び(b)に示すように、プリズムユニット2によって分
割された光束は、光束分割方向とこの光束分割方向に対
して垂直な方向(以下光束分割垂直方向という)とで
は、プリズムユニット2およびシリンドリカルレンズ4
における作用が異なる。つまり、レーザ光源1を射出し
た光束は、光束分割方向では、上述した如く、プリズム
ユニット2およびシリンドリカルレンズ4の作用を受
け、光束が3つに分割され集光されるが、該光束分割方
向に対して垂直な方向では、プリズムユニット2は平板
として作用し、シリンドリカルレンズ4も平板として作
用し焦点距離は∞なので、プリズムユニット2およびシ
リンドリカルレンズ4の作用を受けることはなく、プリ
ズムユニット2に入射した状態を維持したままシリンド
リカルレンズ4から射出される。
【0037】上述のようにしてシリンドリカルレンズ4
から射出された3光束が、凸レンズ5によってマスク6
上に重ねて照射された場合、マスク6上に投影される線
状の像の光束分割方向に垂直方向の大きさは、レーザ光
源1の発散角および凸レンズ5の焦点距離と収差で決
る。ただし、上述した照明光学系では、光束分割方向に
垂直方向の画角が小さいため、凸レンズ5の収差は直接
的な支配因子とはならい。したがって、レーザ光源1を
射出する光束の光束分割方向に垂直方向の幅dは、レー
ザ光源1の発散角をw、凸レンズ5の焦点距離をf2
すると、以下の式で表される。
【0038】d=wf2 また、光束分割方向に垂直方向におけるマスク6の幅を
wとすると、光束の光束分割垂直方向の幅dは、マス
ク6の幅Lwに対して以下の式の関係を満たすよう設定
される。
【0039】d>Lw 照明光学系を上述のように設定すると、マスク6上で照
度分布がだいたい均一な線状の照射光が得られる。該照
射光がマスク6に照射されると、照射光は、マスク6の
ホール列を透過し、絞り7によって所定の大きさに絞ら
れた後、投射レンズ8によってサンプル9に投射され
る。この結果、サンプル9上にマスク6のパターン、す
なわちホール列が形成される。
【0040】なお、上述した照明光学系では、レーザ光
源1を射出した光束がそのままプリズムユニット2に入
射するため、光束の大きさをプリズムユニット2の入射
口に合わせることができないが、レーザ光源1とプリズ
ムユニット2との間に、光束を拡大および縮小する光学
ユニットを設け、光束の大きさをプリズムユニット2の
入射口に合わせるようにすれば、レーザ光源1を射出し
た光束を効率良く使用することが可能となる。
【0041】また、本実施例の照明光学系の光源として
レーザ光源が用いられているが、光源から射出された光
束をレーザ光束のように平行光束に整形できれば、レー
ザ光源以外の光源、例えば、白色光源等を用いても一行
に構わない。
【0042】また、本実施例の照明光学系のプリズムユ
ニット2は、入射光束を3分割するよう2つのプリズム
で構成されているが、マスク6上で照度均一な線状の照
射光束が得られるのであれば、入射光束の分割数および
プリズムの数は限定されるものではない。
【0043】さらに、レーザ光源1から射出された光束
を分割する手段として、プリズムユニット2が用いられ
ているが、分割された光束を高精度に所定位置で重ね合
わせることができるのであれば、反射損失の少ないミラ
ーを用いて光束を分割することも可能である。
【0044】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、被照明面を照明するビームの強度が高めら
れ、被照明面上には照度分布がだいたい均一な線状の照
明領域が形成されるので、エネルギー効率が飛躍的に向
上するという効果がある。
【0045】放射ビームとしてレーザビームが用いられ
る場合、被照明面を照明するビームの強度の高い、照度
分布の均一性に優れた照明光学系を提供することができ
るという効果がある。したがって、マスクのパターンに
応じた加工片の露光を短時間で行なうことができるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の照明光学系の概略構成図
で、(a)は光線分割方向に垂直な方向から見た側面
図、(b)は光線分割方向から見た上面図。
【図2】図2は、図1(a)におけるプリズムユニット
2、遮光マスク3およびシリンドリルレンズユニット4
で構成される部分の拡大図。
【符号の説明】
1 レーザ光源 2 プリズムユニット 3 遮光マスク 4 シリンドリカルレンズユニット 5 凸レンズ 6 マスク 7 絞り 8 投射レンズ 9 サンプル 51 凸レンズ5の前側主平面 52 凸レンズ5の後側主平面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 顕 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−259448(JP,A) 特開 昭54−152299(JP,A) 特開 平5−188318(JP,A) 特開 平5−45605(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 27/00 G02B 27/18 B23K 26/06

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被照射面に線状の照明領域を形成する照
    明光学系において、 光源からのほぼ平行なレーザビーム
    を第1の方向にのみ分割して複数のビームとするととも
    に、該複数のビームの各中心光線を直接所定の位置で交
    差させるプリズムユニットと、 前記所定の位置が、前記第1の方向における前側焦点位
    置となるように配置され、前記第1の方向における後側
    焦平面に前記プリズムユニットからの複数のビームの夫
    々を収束させて複数の線状の光源像を形成するシリンド
    リカルレンズと、 前記複数の線状の光源像からの複数のビームの夫々を、
    前記第1の方向に関してはデフォーカスし、且つ前記第
    1の方向に垂直な第2の方向に関してはフォーカスし、
    前記被照明面に互いに重ねる集光光学系と、を有する
    とを特徴とする照明光学系。
  2. 【請求項2】 前記光源は、エキシマレーザ光源である
    ことを特徴とする請求項1記載の照明光学系。
  3. 【請求項3】 前記集光光学系は、前記第1の方向と前
    記第2の方向に関する焦点距離が互いに等しいことを特
    徴とする請求項1又は2記載の照明光学系。
  4. 【請求項4】 マスクのパターンで加工片を露光する光
    学装置において、前記マスクのパターンを照明する請求
    項1〜3のいずれか一項記載の照明光学系を有すること
    を特徴とする光学装置
  5. 【請求項5】 前記マスクのパターンを前記加工片に投
    影する投影光学系を更に備えることを特徴とする請求項
    4記載の光学装置
  6. 【請求項6】 請求項4又は5記載の光学装置によりパ
    ターンを露光する段階を有することを特徴とするデバイ
    ス製造方法
  7. 【請求項7】 前記パターンはノズルプレートのインク
    吐出穴の列であることを特徴とする請求項6記載のデバ
    イス製造方法
JP31824694A 1993-12-22 1994-12-21 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法 Expired - Fee Related JP3406946B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31824694A JP3406946B2 (ja) 1993-12-22 1994-12-21 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32515693 1993-12-22
JP5-325156 1993-12-22
JP31824694A JP3406946B2 (ja) 1993-12-22 1994-12-21 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07230057A JPH07230057A (ja) 1995-08-29
JP3406946B2 true JP3406946B2 (ja) 2003-05-19

Family

ID=26569302

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31824694A Expired - Fee Related JP3406946B2 (ja) 1993-12-22 1994-12-21 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3406946B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3094933B2 (ja) 1997-01-17 2000-10-03 キヤノン株式会社 光加工機及びそれを用いたオリフィスプレートの製造方法
JP5110830B2 (ja) 2006-08-31 2012-12-26 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2821883C2 (de) * 1978-05-19 1980-07-17 Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart Vorrichtung zur Materialbearbeitung
JPH02259448A (ja) * 1989-03-31 1990-10-22 Hitachi Ltd パターン発生光学装置
JP2997351B2 (ja) * 1991-08-12 2000-01-11 旭光学工業株式会社 照明光学装置
JP2803934B2 (ja) * 1991-12-10 1998-09-24 三菱電機株式会社 投影露光装置及び露光方法
JPH05188318A (ja) * 1992-01-09 1993-07-30 Hitachi Ltd レーザ加工用光学装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07230057A (ja) 1995-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2657957B2 (ja) 投影装置及び光照射方法
US4497013A (en) Illuminating apparatus
US4497015A (en) Light illumination device
JP3338028B2 (ja) 走査式マイクロ・リソグラフィー・システム用の照明設計
US6583937B1 (en) Illuminating system of a microlithographic projection exposure arrangement
JPH1082971A (ja) レーザ放射光の均質化および複数の照明フィールドの生成のための光学装置
GB2261528A (en) High power light source
JP3278277B2 (ja) 投影露光装置及びこれを用いたデバイス製造方法
US5601733A (en) Full field mask illumination enhancement methods and apparatus
US6218081B1 (en) Method of manufacturing nozzle member, and work apparatus
USRE34634E (en) Light illumination device
US5828496A (en) Illumination optical system
KR20020033059A (ko) 낮은 열 부하를 갖는 조명시스템
JP3239661B2 (ja) ノズルプレートの製造方法及び照明光学系
JP2002529776A (ja) 陰極線管用のレーザ照射装置。
JP3406946B2 (ja) 照明光学系およびこれを用いた光学装置ならびにその光学装置を用いたデバイス製造方法
JP3082652B2 (ja) 照明装置及びそれを用いたデバイスの製造方法
JPH0727993A (ja) 光ビーム均一化光学系
JPS63114186A (ja) 照明装置
JPH1062710A (ja) 照明光学系
JP3526165B2 (ja) 光加工機及びそれを用いたオリフィスプレートの製造方法
JP3530769B2 (ja) 照明装置及びそれを用いた光加工機
JPS6380243A (ja) 露光装置用照明光学装置
JPH01109720A (ja) 照明装置
JPS6381420A (ja) 照明装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080307

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090307

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100307

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100307

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120307

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130307

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140307

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees