JP3396353B2 - データ記憶システムのスピンドル・モータのパフォーマンス低下検出方法およびシステム - Google Patents
データ記憶システムのスピンドル・モータのパフォーマンス低下検出方法およびシステムInfo
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- Control Of Electric Motors In General (AREA)
- Rotational Drive Of Disk (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般的にはデータ
記憶システムに関し、より具体的にはスピンドル・モー
タのパフォーマンスの低下を検出する方法およびシステ
ム装置に関する。
記憶システムに関し、より具体的にはスピンドル・モー
タのパフォーマンスの低下を検出する方法およびシステ
ム装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】典型的なデータ記憶システムは、スピン
ドル・モータのハブに同軸に取り付けられた１つまたは
複数のデータ記憶ディスクを含んでいる。スピンドル・
モータは、通常、毎分数千回転程度の速度でディスクを
回転する。様々なタイプのデータを表すディジタル情報
は、通常、アクチュエータに取り付けられ、急速回転中
のディスクの表面上を横切る、１つまたは複数の変換器
または読取り／書込みヘッドによってデータ記憶ディス
クに書き込まれ、そこから読み取られる。
ドル・モータのハブに同軸に取り付けられた１つまたは
複数のデータ記憶ディスクを含んでいる。スピンドル・
モータは、通常、毎分数千回転程度の速度でディスクを
回転する。様々なタイプのデータを表すディジタル情報
は、通常、アクチュエータに取り付けられ、急速回転中
のディスクの表面上を横切る、１つまたは複数の変換器
または読取り／書込みヘッドによってデータ記憶ディス
クに書き込まれ、そこから読み取られる。
【０００３】このアクチュエータは、通常、複数の外側
に延びるアームを含み、アームの端には１つまたは複数
の変換器が弾力的にまたは堅固に取り付けられている。
アクチュエータ・アームは、通常、アクチュエータに取
り付けられたコイル・アセンブリにより、回転するディ
スクのスタックに挿入され、そこから取り出される。一
般に、コイル・アセンブリは、永久磁石構造と相互作用
し、ある極性の電流をコイルに加えるとアクチュエータ
・アームと変換器がある方向にシフトし、反対の極性の
電流を流すとアクチュエータ・アームと変換器が反対方
向にシフトする。
に延びるアームを含み、アームの端には１つまたは複数
の変換器が弾力的にまたは堅固に取り付けられている。
アクチュエータ・アームは、通常、アクチュエータに取
り付けられたコイル・アセンブリにより、回転するディ
スクのスタックに挿入され、そこから取り出される。一
般に、コイル・アセンブリは、永久磁石構造と相互作用
し、ある極性の電流をコイルに加えるとアクチュエータ
・アームと変換器がある方向にシフトし、反対の極性の
電流を流すとアクチュエータ・アームと変換器が反対方
向にシフトする。
【０００４】典型的なディジタル・データ記憶システム
では、磁化可能剛性データ記憶ディスクの表面を含む一
連の同心密接トラック上に磁気遷移としてディジタル・
データが格納される。このトラックは、一般に、複数の
セクタに分割され、それぞれのセクタが複数の情報フィ
ールドを含んでいる。情報フィールドの１つは、通常、
データ格納用に指定され、他のフィールドはセクタＩＤ
や同期情報などを収容する。通常、制御装置の制御下で
トラック間をシフトする変換器によって、指定のトラッ
クおよびセクタ位置にデータが転送され、そこからデー
タが取り出される。通常、変換器アセンブリは、読取り
要素と書込み要素を含む。他の変換器アセンブリ構成で
は、ディスクにデータを書き込み、ディスクからデータ
を読み取る単一変換器要素を組み込んでいる。
では、磁化可能剛性データ記憶ディスクの表面を含む一
連の同心密接トラック上に磁気遷移としてディジタル・
データが格納される。このトラックは、一般に、複数の
セクタに分割され、それぞれのセクタが複数の情報フィ
ールドを含んでいる。情報フィールドの１つは、通常、
データ格納用に指定され、他のフィールドはセクタＩＤ
や同期情報などを収容する。通常、制御装置の制御下で
トラック間をシフトする変換器によって、指定のトラッ
クおよびセクタ位置にデータが転送され、そこからデー
タが取り出される。通常、変換器アセンブリは、読取り
要素と書込み要素を含む。他の変換器アセンブリ構成で
は、ディスクにデータを書き込み、ディスクからデータ
を読み取る単一変換器要素を組み込んでいる。
【０００５】データ記憶ディスクにデータを書き込む場
合、一般に、変換器アセンブリの書込み要素に電流を通
して、ディスク表面の特定の位置を磁化する磁束線を発
生させることを必要とする。指定のディスク位置からの
データの読取りは、通常、ディスクの磁化位置から放射
される磁界または磁束線を感知する変換器アセンブリの
読取り要素によって実施される。読取り要素が回転ディ
スクの表面上を横切ると、読取り要素とディスク表面上
の磁化位置との相互作用の結果、読取り要素で電気パル
スが発生する。この電気パルスは磁界の遷移に対応す
る。
合、一般に、変換器アセンブリの書込み要素に電流を通
して、ディスク表面の特定の位置を磁化する磁束線を発
生させることを必要とする。指定のディスク位置からの
データの読取りは、通常、ディスクの磁化位置から放射
される磁界または磁束線を感知する変換器アセンブリの
読取り要素によって実施される。読取り要素が回転ディ
スクの表面上を横切ると、読取り要素とディスク表面上
の磁化位置との相互作用の結果、読取り要素で電気パル
スが発生する。この電気パルスは磁界の遷移に対応す
る。
【０００６】データ記憶システムの高レベルのパフォー
マンスと信頼性を提供する場合、スピンドル・モータの
パフォーマンスが重要であることは当業者には分かって
いることである。スピンドル・モータ・アセンブリ、特
に、スピンドル・ベアリングの通常の磨耗および促進磨
耗が、データ記憶システムのパフォーマンスの一般的低
下に関連づけられていた。スピンドル・モータ・ベアリ
ングの精密加工表面のでこぼこやベアリング・レースの
変形などによって、通常、スピンドル・ベアリング・ア
センブリ内の摩擦が増し、ベアリング・アセンブリの疲
労が加速される。このようにスピンドル・ベアリング・
アセンブリの動作条件が不要に変化すると、一般に、ス
ピンドル・モータのパフォーマンスが徐々に低下し、機
械摩擦の増加を克服するためにスピンドル・モータの供
給電流の消費量が増し、より重大なことには、スピンド
ル・モータのハブに取り付けられた１つまたは複数のデ
ータ記憶ディスクに格納されたデータが一時的または永
続的に失われる確率が高くなる。
マンスと信頼性を提供する場合、スピンドル・モータの
パフォーマンスが重要であることは当業者には分かって
いることである。スピンドル・モータ・アセンブリ、特
に、スピンドル・ベアリングの通常の磨耗および促進磨
耗が、データ記憶システムのパフォーマンスの一般的低
下に関連づけられていた。スピンドル・モータ・ベアリ
ングの精密加工表面のでこぼこやベアリング・レースの
変形などによって、通常、スピンドル・ベアリング・ア
センブリ内の摩擦が増し、ベアリング・アセンブリの疲
労が加速される。このようにスピンドル・ベアリング・
アセンブリの動作条件が不要に変化すると、一般に、ス
ピンドル・モータのパフォーマンスが徐々に低下し、機
械摩擦の増加を克服するためにスピンドル・モータの供
給電流の消費量が増し、より重大なことには、スピンド
ル・モータのハブに取り付けられた１つまたは複数のデ
ータ記憶ディスクに格納されたデータが一時的または永
続的に失われる確率が高くなる。
【０００７】一般に、データ記憶システムの間欠的故障
および破局的故障の確率を最小限にするため、有効寿命
の早期および有効寿命全体にわたってスピンドル・モー
タのパフォーマンスの変化を検出することが望ましいと
考えられている。スピンドル・モータ・ベアリング・ア
センブリに関連する故障モードの存在を検出しようとし
て、いくつかの精巧で通常は費用のかかる予測故障分析
方法が開発されてきた。このような先行技術の方法の多
くでは、様々なテスト・ルーチンを実行し、分析時にス
ピンドル・モータの故障メカニズムの有無を間接的に示
すだけのデータを収集するために、データ・チャネルま
たはサーボ・チャネルをアクティブにしておく必要があ
る。
および破局的故障の確率を最小限にするため、有効寿命
の早期および有効寿命全体にわたってスピンドル・モー
タのパフォーマンスの変化を検出することが望ましいと
考えられている。スピンドル・モータ・ベアリング・ア
センブリに関連する故障モードの存在を検出しようとし
て、いくつかの精巧で通常は費用のかかる予測故障分析
方法が開発されてきた。このような先行技術の方法の多
くでは、様々なテスト・ルーチンを実行し、分析時にス
ピンドル・モータの故障メカニズムの有無を間接的に示
すだけのデータを収集するために、データ・チャネルま
たはサーボ・チャネルをアクティブにしておく必要があ
る。
【０００８】上記およびその他の既知の予測故障分析方
式をサポートするため、データ記憶システムには追加の
電子式ハードウェアおよび制御回路が取り付けられてい
る場合が多く、その結果、システムの全体的なコストや
複雑さも増している。小形で形状係数が非常に小さいデ
ータ記憶システムでは、一般に、スピンドル・ベアリン
グの疲労の影響を特に受けやすく、このような小形化シ
ステムの比較的コンパクトなパッケージ構成は、追加の
システム構成要素の取付けを必要とする予測故障分析方
式を使用できない場合が多い。さらに、従来のスピンド
ル・モータ予測故障分析方法はいずれも、スピンドル・
モータのパフォーマンスに悪影響を及ぼすが、スピンド
ル・ベアリングの劣化または摩耗に帰因しないような内
部データ記憶システムの故障モードの存在を検出するこ
とができないと考えられている。
式をサポートするため、データ記憶システムには追加の
電子式ハードウェアおよび制御回路が取り付けられてい
る場合が多く、その結果、システムの全体的なコストや
複雑さも増している。小形で形状係数が非常に小さいデ
ータ記憶システムでは、一般に、スピンドル・ベアリン
グの疲労の影響を特に受けやすく、このような小形化シ
ステムの比較的コンパクトなパッケージ構成は、追加の
システム構成要素の取付けを必要とする予測故障分析方
式を使用できない場合が多い。さらに、従来のスピンド
ル・モータ予測故障分析方法はいずれも、スピンドル・
モータのパフォーマンスに悪影響を及ぼすが、スピンド
ル・ベアリングの劣化または摩耗に帰因しないような内
部データ記憶システムの故障モードの存在を検出するこ
とができないと考えられている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】データ記憶システム製
造業界では、スピンドル・モータの有効寿命中にスピン
ドル・モータのパフォーマンスの低下を検出するスピン
ドル・モータ予測故障分析ツールを求める要求が非常に
高まっている。また、データ記憶システムの既存の構成
をほとんどまたはまったく変更する必要がなく、システ
ムの標準動作に及ぼす影響が最小限の検出ツールを求め
る要求も存在する。本発明の目的は、上記およびその他
の要求を満足することにある。
造業界では、スピンドル・モータの有効寿命中にスピン
ドル・モータのパフォーマンスの低下を検出するスピン
ドル・モータ予測故障分析ツールを求める要求が非常に
高まっている。また、データ記憶システムの既存の構成
をほとんどまたはまったく変更する必要がなく、システ
ムの標準動作に及ぼす影響が最小限の検出ツールを求め
る要求も存在する。本発明の目的は、上記およびその他
の要求を満足することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、データ記憶シ
ステムのスピンドル・モータのパフォーマンスの低下を
検出する方法およびシステム装置を提供する。スピンド
ル・モータが初期速度から試験速度まで移行するのに必
要な所要時間を、データ記憶システムの製造時またはそ
の近辺、およびスピンドル・モータの有効寿命中に定期
的に測定する。製造時と使用時の所要時間の偏差を計算
し、その偏差の大きさに応じて、特定のデータ記憶シス
テム応答を呼び出す。使用時所要時間測定手順は、一般
に通常の電力遮断または電力節約シーケンス中に、スピ
ンドル・モータの電源を取り外して行うことが好まし
い。
ステムのスピンドル・モータのパフォーマンスの低下を
検出する方法およびシステム装置を提供する。スピンド
ル・モータが初期速度から試験速度まで移行するのに必
要な所要時間を、データ記憶システムの製造時またはそ
の近辺、およびスピンドル・モータの有効寿命中に定期
的に測定する。製造時と使用時の所要時間の偏差を計算
し、その偏差の大きさに応じて、特定のデータ記憶シス
テム応答を呼び出す。使用時所要時間測定手順は、一般
に通常の電力遮断または電力節約シーケンス中に、スピ
ンドル・モータの電源を取り外して行うことが好まし
い。
【００１１】
【発明の実施の形態】次に添付図面、特に図１および図
２に参照するが、同図には、ハウジング２１のベース２
２からカバーを取り外した状態のデータ記憶システム２
０が示されている。データ記憶システム２０は、通常、
縦一列に間隔を開けて同軸状にスタックされ、比較的高
速の回転速度でスピンドル・モータ２６の周りを回転す
る、１つまたは複数の剛性データ記憶ディスク２４を含
んでいる。各ディスク２４は、通常、複数の間隔を開け
た同心トラック５０を含むようにフォーマットされ、そ
れぞれのトラックは一連のセクタ５２に区分され、さら
にそのセクタが個々の情報フィールドに分割されてい
る。あるいは、１つまたは複数のディスク２４をスパイ
ラル・トラック構成を含むようにフォーマットすること
もできる。
２に参照するが、同図には、ハウジング２１のベース２
２からカバーを取り外した状態のデータ記憶システム２
０が示されている。データ記憶システム２０は、通常、
縦一列に間隔を開けて同軸状にスタックされ、比較的高
速の回転速度でスピンドル・モータ２６の周りを回転す
る、１つまたは複数の剛性データ記憶ディスク２４を含
んでいる。各ディスク２４は、通常、複数の間隔を開け
た同心トラック５０を含むようにフォーマットされ、そ
れぞれのトラックは一連のセクタ５２に区分され、さら
にそのセクタが個々の情報フィールドに分割されてい
る。あるいは、１つまたは複数のディスク２４をスパイ
ラル・トラック構成を含むようにフォーマットすること
もできる。
【００１２】アクチュエータ３０は、通常、複数の挿入
式アクチュエータ・アーム２８を含み、それぞれのアー
ムは、ロード・ビーム２５に取り付けられ、データ記憶
ディスク２４に情報を書き込み、そこから情報を読み取
るための、１つまたは複数の変換器２７とスライダ・ボ
ディ３５とのアセンブリを有する。スライダ・ボディ３
５は、通常、スピンドル・モータ２６の回転速度が増す
につれてディスク２４の表面から変換器２７を持ち上げ
る空力リフティング・ボディとして設計され、高速のデ
ィスク回転によって発生した気流パターンによって生じ
た空気軸受け上で変換器２７をディスク２４の上でホバ
リングさせる。あるいは、スライダ・ボディ３５とディ
スク表面２４との間の静止摩擦および動摩擦を低減する
ため、ディスク表面２４上に共形潤滑剤を配置してもよ
い。
式アクチュエータ・アーム２８を含み、それぞれのアー
ムは、ロード・ビーム２５に取り付けられ、データ記憶
ディスク２４に情報を書き込み、そこから情報を読み取
るための、１つまたは複数の変換器２７とスライダ・ボ
ディ３５とのアセンブリを有する。スライダ・ボディ３
５は、通常、スピンドル・モータ２６の回転速度が増す
につれてディスク２４の表面から変換器２７を持ち上げ
る空力リフティング・ボディとして設計され、高速のデ
ィスク回転によって発生した気流パターンによって生じ
た空気軸受け上で変換器２７をディスク２４の上でホバ
リングさせる。あるいは、スライダ・ボディ３５とディ
スク表面２４との間の静止摩擦および動摩擦を低減する
ため、ディスク表面２４上に共形潤滑剤を配置してもよ
い。
【００１３】通常、アクチュエータ３０は、固定アクチ
ュエータ・シャフト３２に取り付けられ、シャフト上で
回転してデータ記憶ディスク２４のスタックにアクチュ
エータ・アーム２８を挿入し、そこから取り出す。一般
に、アクチュエータ３０のコイル・フレーム３４に取り
付けられたコイル・アセンブリ３６は、永久磁石構造３
８の上部および下部磁石アセンブリ４０、４２間に画定
されるギャップ４４内で回転し、アクチュエータ・アー
ム２８がデータ記憶ディスク２４の表面の上を通過す
る。スピンドル・モータ２６は、通常、電源４６によっ
て励起され、データ記憶ディスク２４を回転できるよう
になっている、多相交流モータまたは直流モータを含
む。
ュエータ・シャフト３２に取り付けられ、シャフト上で
回転してデータ記憶ディスク２４のスタックにアクチュ
エータ・アーム２８を挿入し、そこから取り出す。一般
に、アクチュエータ３０のコイル・フレーム３４に取り
付けられたコイル・アセンブリ３６は、永久磁石構造３
８の上部および下部磁石アセンブリ４０、４２間に画定
されるギャップ４４内で回転し、アクチュエータ・アー
ム２８がデータ記憶ディスク２４の表面の上を通過す
る。スピンドル・モータ２６は、通常、電源４６によっ
て励起され、データ記憶ディスク２４を回転できるよう
になっている、多相交流モータまたは直流モータを含
む。
【００１４】コイル・アセンブリ３６と、永久磁石構造
３８の上部および下部磁石アセンブリ４０、４２は、制
御装置５８によって生成された制御信号に応答して、ア
クチュエータ・ボイス・コイル・モータ３９として協働
する。アクチュエータ・ボイス・コイル・モータ３９
は、永久磁石構造３８によってできた磁界が存在すると
きに方向と大きさが変化する制御電流がコイル・アセン
ブリ３６内を流れると、アクチュエータ・コイル・フレ
ーム３４上でトルク力を発生する。アクチュエータ・コ
イル・フレーム３４上で伝達されるトルク力により、コ
イル・アセンブリ３６内を流れる制御電流の極性に依存
する方向にアクチュエータ・アーム２８の対応する回転
運動が発生する。制御装置５８は、データ記憶ディスク
２４との間でのデータの転送を調整し、ディスク２４で
データを読み書きする際にアクチュエータ・ボイス・コ
イル・モータ３９と協働してアクチュエータ・アーム２
８および変換器２７を既定のトラック５０およびセクタ
５２位置に移動させる制御回路を含むことが好ましい。
３８の上部および下部磁石アセンブリ４０、４２は、制
御装置５８によって生成された制御信号に応答して、ア
クチュエータ・ボイス・コイル・モータ３９として協働
する。アクチュエータ・ボイス・コイル・モータ３９
は、永久磁石構造３８によってできた磁界が存在すると
きに方向と大きさが変化する制御電流がコイル・アセン
ブリ３６内を流れると、アクチュエータ・コイル・フレ
ーム３４上でトルク力を発生する。アクチュエータ・コ
イル・フレーム３４上で伝達されるトルク力により、コ
イル・アセンブリ３６内を流れる制御電流の極性に依存
する方向にアクチュエータ・アーム２８の対応する回転
運動が発生する。制御装置５８は、データ記憶ディスク
２４との間でのデータの転送を調整し、ディスク２４で
データを読み書きする際にアクチュエータ・ボイス・コ
イル・モータ３９と協働してアクチュエータ・アーム２
８および変換器２７を既定のトラック５０およびセクタ
５２位置に移動させる制御回路を含むことが好ましい。
【００１５】データ記憶システム２０の高レベルのパフ
ォーマンスと信頼性を維持するにはスピンドル・モータ
２６の最適動作が不可欠であることは十分理解されてい
る。スピンドル・モータ２６のパフォーマンスの低下
は、スピンドル・モータ２６のベアリング・アセンブリ
の機械的疲労に帰因する場合が多い。たとえば、ベアリ
ングまたはベアリング・カートリッジの形状のでこぼこ
は、スピンドル・モータ２６が通常、毎分５０００〜７
０００回転程度の速度で回転するときにベアリングの動
きを妨げる可能性がある。個々の精密ベアリング、ベア
リング・カートリッジ、スピンドル・モータ・アセンブ
リの製造に関連する製作および組立ての欠陥が、スピン
ドル・モータ２６の有効寿命を大幅に低下させる一因と
なることが多い。
ォーマンスと信頼性を維持するにはスピンドル・モータ
２６の最適動作が不可欠であることは十分理解されてい
る。スピンドル・モータ２６のパフォーマンスの低下
は、スピンドル・モータ２６のベアリング・アセンブリ
の機械的疲労に帰因する場合が多い。たとえば、ベアリ
ングまたはベアリング・カートリッジの形状のでこぼこ
は、スピンドル・モータ２６が通常、毎分５０００〜７
０００回転程度の速度で回転するときにベアリングの動
きを妨げる可能性がある。個々の精密ベアリング、ベア
リング・カートリッジ、スピンドル・モータ・アセンブ
リの製造に関連する製作および組立ての欠陥が、スピン
ドル・モータ２６の有効寿命を大幅に低下させる一因と
なることが多い。
【００１６】新規のスピンドル・モータ予測故障分析方
法および装置は、検出されなかった場合にスピンドル・
モータ・アセンブリ２６の漸進劣化や故障の促進の原因
になりうるようなスピンドル・ベアリングの微妙な変化
と明白な変化の早期検出に対応するものである。スピン
ドル・モータの有効寿命中に新規のスピンドル・モータ
劣化検出方法を定期的に実行することにより、スピンド
ル・ベアリング・アセンブリの自然摩耗も検出される。
さらにこの新規の予測故障分析方法は、スピンドル・モ
ータ２６のパフォーマンスに影響するが、スピンドル・
ベアリングの損傷や摩耗に直接関連しない、データ記憶
システム２０の故障モードの存在を検出する。
法および装置は、検出されなかった場合にスピンドル・
モータ・アセンブリ２６の漸進劣化や故障の促進の原因
になりうるようなスピンドル・ベアリングの微妙な変化
と明白な変化の早期検出に対応するものである。スピン
ドル・モータの有効寿命中に新規のスピンドル・モータ
劣化検出方法を定期的に実行することにより、スピンド
ル・ベアリング・アセンブリの自然摩耗も検出される。
さらにこの新規の予測故障分析方法は、スピンドル・モ
ータ２６のパフォーマンスに影響するが、スピンドル・
ベアリングの損傷や摩耗に直接関連しない、データ記憶
システム２０の故障モードの存在を検出する。
【００１７】一実施例では、スピンドル・モータ２６の
動作条件を査定するための新規の予測故障分析方法およ
び装置を使用して、製造時ならびにスピンドル・モータ
２６の有効寿命中の様々な時点でスピンドル・モータ２
６のコーストダウン時間を測定することが好ましい。本
明細書で論じるスピンドル・モータ２６のコーストダウ
ン時間（ＣＤＴ）とは、スピンドル・モータが初期角速
度（ωI）と試験角速度（ωT）との間で移行するのに必
要な所要時間を意味する。
動作条件を査定するための新規の予測故障分析方法およ
び装置を使用して、製造時ならびにスピンドル・モータ
２６の有効寿命中の様々な時点でスピンドル・モータ２
６のコーストダウン時間を測定することが好ましい。本
明細書で論じるスピンドル・モータ２６のコーストダウ
ン時間（ＣＤＴ）とは、スピンドル・モータが初期角速
度（ωI）と試験角速度（ωT）との間で移行するのに必
要な所要時間を意味する。
【００１８】実際には、初期角速度ωIをスピンドル・
モータ２６の公称設計速度（ωN）として選択すること
が好ましく、試験角速度ωTを初期角速度ωIに比べて比
較的低い速度として選択することが好ましい。特定のス
ピンドル・モータ２６の使用時コーストダウン時間の低
下は、一般に、スピンドル・モータ２６のパフォーマン
スの漸進劣化や加速劣化に至る故障メカニズムを示すも
のであると判断されている。前述のように、一般的な故
障メカニズムの１つは、ベアリング・アセンブリ内の機
械摩擦の増加に関連する。
モータ２６の公称設計速度（ωN）として選択すること
が好ましく、試験角速度ωTを初期角速度ωIに比べて比
較的低い速度として選択することが好ましい。特定のス
ピンドル・モータ２６の使用時コーストダウン時間の低
下は、一般に、スピンドル・モータ２６のパフォーマン
スの漸進劣化や加速劣化に至る故障メカニズムを示すも
のであると判断されている。前述のように、一般的な故
障メカニズムの１つは、ベアリング・アセンブリ内の機
械摩擦の増加に関連する。
【００１９】次に図３を参照すると、同図には、データ
記憶システム２０の製造時またはその近辺と、スピンド
ル・モータ２６の有効寿命中のその後の時点でそれぞれ
測定した特定のスピンドル・モータ２６の特性コースト
ダウン時間曲線６６および６８を示す一般化グラフが示
されている。コーストダウン時間曲線６６は、一般に、
電力を遮断した後のスピンドル・モータ２６の自然減速
をスピンドル・モータ速度（ωSM）と時間（ｔ）との関
数として示している。データ記憶システム２０の製造
時、しかも好ましくはシステム２０が最終受入れ試験に
合格した後で、スピンドル・モータの特性コーストダウ
ン時間を測定する。減速および加速時間に影響するスピ
ンドル・ベアリングの摩擦は、温度に大きく依存する。
したがって、スピンドル・モータ２６の特性コーストダ
ウン時間は、データ記憶システムを通常動作温度に維持
して測定する必要がある。スピンドル・モータ２６がそ
の公称設計速度ωN６４に到達し、かつデータ記憶シス
テム２０が定常状態動作温度に達した後、スピンドル・
モータ２６に供給される電力を遮断するか、その他の方
法で使用不能にする。その後、スピンドル・モータ２６
は、ブレーキ機構またはそれ以外の方法でスピンドル・
モータ２６の減速速度を増す他の装置の影響を受けずに
減速することが好ましい。
記憶システム２０の製造時またはその近辺と、スピンド
ル・モータ２６の有効寿命中のその後の時点でそれぞれ
測定した特定のスピンドル・モータ２６の特性コースト
ダウン時間曲線６６および６８を示す一般化グラフが示
されている。コーストダウン時間曲線６６は、一般に、
電力を遮断した後のスピンドル・モータ２６の自然減速
をスピンドル・モータ速度（ωSM）と時間（ｔ）との関
数として示している。データ記憶システム２０の製造
時、しかも好ましくはシステム２０が最終受入れ試験に
合格した後で、スピンドル・モータの特性コーストダウ
ン時間を測定する。減速および加速時間に影響するスピ
ンドル・ベアリングの摩擦は、温度に大きく依存する。
したがって、スピンドル・モータ２６の特性コーストダ
ウン時間は、データ記憶システムを通常動作温度に維持
して測定する必要がある。スピンドル・モータ２６がそ
の公称設計速度ωN６４に到達し、かつデータ記憶シス
テム２０が定常状態動作温度に達した後、スピンドル・
モータ２６に供給される電力を遮断するか、その他の方
法で使用不能にする。その後、スピンドル・モータ２６
は、ブレーキ機構またはそれ以外の方法でスピンドル・
モータ２６の減速速度を増す他の装置の影響を受けずに
減速することが好ましい。
【００２０】次に、スピンドル・モータ２６が初期速度
ωN６４からスピンドル・モータ２６の試験速度ωT６４
まで減速するのに必要な所要時間を測定する。この所要
時間は、図３にはｔB７２として示されているが、スピ
ンドル・モータ２６のパフォーマンスの変化を検出する
ためのベンチマークと称する、データ記憶システム２６
の製造時のスピンドル・モータ２６の特性コーストダウ
ン時間である。平均ベンチマーク・コーストダウン時間
ｔB７２を得るために、製造時のスピンドル・モータ２
６のベンチマーク・コーストダウン時間ｔBを確立する
ための手順を何回か繰り返すことができることに留意さ
れたい。また、新規の予測故障分析手順の正確さを高め
るために、初期速度ωN６４と比べて比較的低くなるよ
うにスピンドル・モータ２６の試験速度ωT６２を選択
することが好ましいことに留意されたい。
ωN６４からスピンドル・モータ２６の試験速度ωT６４
まで減速するのに必要な所要時間を測定する。この所要
時間は、図３にはｔB７２として示されているが、スピ
ンドル・モータ２６のパフォーマンスの変化を検出する
ためのベンチマークと称する、データ記憶システム２６
の製造時のスピンドル・モータ２６の特性コーストダウ
ン時間である。平均ベンチマーク・コーストダウン時間
ｔB７２を得るために、製造時のスピンドル・モータ２
６のベンチマーク・コーストダウン時間ｔBを確立する
ための手順を何回か繰り返すことができることに留意さ
れたい。また、新規の予測故障分析手順の正確さを高め
るために、初期速度ωN６４と比べて比較的低くなるよ
うにスピンドル・モータ２６の試験速度ωT６２を選択
することが好ましいことに留意されたい。
【００２１】さらに図３を参照すると、一般にコースト
ダウン時間曲線６８は、スピンドル・モータ２６の有効
寿命中の任意の時点でのスピンドル・モータ２６の減速
特性を表す。スピンドル・モータ２６の使用時コースト
ダウン時間はｔs７０として示されているが、データ記
憶システム２０の製造時に確立したベンチマーク・コー
ストダウン時間ｔB７２に対して所要時間が大幅に短い
ものとして示されている。公称ベンチマーク・コースト
ダウン時間ｔB７２と低下した使用時コーストダウン時
間ｔs７０との差７１は、スピンドル・モータ２６のパ
フォーマンスの低下の大きさを示す一般的な尺度であ
る。ベンチマーク・コーストダウン時間ｔB７２とほぼ
等価の使用時コーストダウン時間ｔsは、一般に、所期
使用時に測定したそのパフォーマンス特性に対してパフ
ォーマンスの低下がほとんどまたはまったくないスピン
ドル・モータ２６を示している。さらに、使用時コース
トダウン測定手順実行時のデータ記憶システム２０の動
作温度がベンチマーク・コーストダウン時間ｔB７２を
確立したときの動作温度とは異なる場合、使用時コース
トダウン時間ｔs７０を測定するときに補正率を適用で
きることに留意されたい。この補正率は、動作温度の関
数としてスピンドル・ベアリング・アセンブリのパフォ
ーマンスの通常の変化に対応できることが好ましく、一
般に、使用時コーストダウン時間測定の正確さを改善す
る。
ダウン時間曲線６８は、スピンドル・モータ２６の有効
寿命中の任意の時点でのスピンドル・モータ２６の減速
特性を表す。スピンドル・モータ２６の使用時コースト
ダウン時間はｔs７０として示されているが、データ記
憶システム２０の製造時に確立したベンチマーク・コー
ストダウン時間ｔB７２に対して所要時間が大幅に短い
ものとして示されている。公称ベンチマーク・コースト
ダウン時間ｔB７２と低下した使用時コーストダウン時
間ｔs７０との差７１は、スピンドル・モータ２６のパ
フォーマンスの低下の大きさを示す一般的な尺度であ
る。ベンチマーク・コーストダウン時間ｔB７２とほぼ
等価の使用時コーストダウン時間ｔsは、一般に、所期
使用時に測定したそのパフォーマンス特性に対してパフ
ォーマンスの低下がほとんどまたはまったくないスピン
ドル・モータ２６を示している。さらに、使用時コース
トダウン測定手順実行時のデータ記憶システム２０の動
作温度がベンチマーク・コーストダウン時間ｔB７２を
確立したときの動作温度とは異なる場合、使用時コース
トダウン時間ｔs７０を測定するときに補正率を適用で
きることに留意されたい。この補正率は、動作温度の関
数としてスピンドル・ベアリング・アセンブリのパフォ
ーマンスの通常の変化に対応できることが好ましく、一
般に、使用時コーストダウン時間測定の正確さを改善す
る。
【００２２】他の実施例では、新規の予測故障分析方法
および装置を使用して、データ記憶システム２０の製造
時およびスピンドル・モータ２６の有効寿命中の様々な
時点でスピンドル・モータ２６のスピンアップ時間（Ｓ
ＵＴ）を測定することが好ましい。スピンアップ時間と
は、スピンドル・モータ２６が初期角速度ωIとそれよ
り相対的に高い試験角速度ωT、好ましくはスピンドル
・モータ２６の公称設計速度ωNとの間を移行するのに
必要な所要時間を意味する。スピンアップ時間の増加
も、スピンドル・モータ・アセンブリ２６のパフォーマ
ンスの低下を示す可能性がある。
および装置を使用して、データ記憶システム２０の製造
時およびスピンドル・モータ２６の有効寿命中の様々な
時点でスピンドル・モータ２６のスピンアップ時間（Ｓ
ＵＴ）を測定することが好ましい。スピンアップ時間と
は、スピンドル・モータ２６が初期角速度ωIとそれよ
り相対的に高い試験角速度ωT、好ましくはスピンドル
・モータ２６の公称設計速度ωNとの間を移行するのに
必要な所要時間を意味する。スピンアップ時間の増加
も、スピンドル・モータ・アセンブリ２６のパフォーマ
ンスの低下を示す可能性がある。
【００２３】図４には、データ記憶システム２０の製造
時と、スピンドル・モータ２６の有効寿命中のその後の
時点で試験したスピンドル・モータ２６の特定スピンア
ップ時間曲線８０および８２を示す一般化したグラフが
示されている。このスピンアップ時間曲線８０は、一般
に、初期角速度ωI７６からそれより高い試験角速度ωT
７８まで移行するスピンドル・モータ２６の加速プロフ
ィールを表している。試験中のスピンドル・モータ２６
の初期速度ωIは、ゼロ速度または試験速度ωT７８より
かなり低い速度として選択することができる。スピンド
ル・モータ２６の有効寿命中、スピンアップ時間の測定
を数回行って、データ記憶システム２０の製造時または
その近辺に測定した公称ベンチマーク・スピンアップ時
間ｔB８４に対するスピンアップ時間の偏差の存在と大
きさを決定することが好ましい。一般に、ベンチマーク
・スピンアップ時間ｔB８４と使用時スピンアップ時間
ｔs８６との時間偏差９０の大きさは、スピンドル・モ
ータ２６のパフォーマンスの低下を反映している。
時と、スピンドル・モータ２６の有効寿命中のその後の
時点で試験したスピンドル・モータ２６の特定スピンア
ップ時間曲線８０および８２を示す一般化したグラフが
示されている。このスピンアップ時間曲線８０は、一般
に、初期角速度ωI７６からそれより高い試験角速度ωT
７８まで移行するスピンドル・モータ２６の加速プロフ
ィールを表している。試験中のスピンドル・モータ２６
の初期速度ωIは、ゼロ速度または試験速度ωT７８より
かなり低い速度として選択することができる。スピンド
ル・モータ２６の有効寿命中、スピンアップ時間の測定
を数回行って、データ記憶システム２０の製造時または
その近辺に測定した公称ベンチマーク・スピンアップ時
間ｔB８４に対するスピンアップ時間の偏差の存在と大
きさを決定することが好ましい。一般に、ベンチマーク
・スピンアップ時間ｔB８４と使用時スピンアップ時間
ｔs８６との時間偏差９０の大きさは、スピンドル・モ
ータ２６のパフォーマンスの低下を反映している。
【００２４】スピンドル・モータのコーストダウン時間
をパフォーマンス・テスト・パラメータとして使用す
る、スピンドル・モータ２６のパフォーマンスの低下を
検出するための好ましい方法を、図５ないし図７の流れ
図に示す。特定のスピンドル・モータ２６の公称ベンチ
マーク・コーストダウン時間ｔBは、データ記憶システ
ム２０の製造中またはその直後に最初に測定される。ス
テップ１００で、データ記憶システム２０が定常状態動
作温度を達成できるようにするのに十分な時間の間、ス
ピンドル・モータ２６をその公称設計速度ωNまで回転
することが好ましい。次に、ステップ１０２で、同時に
スピンドル・モータ２６から電力を遮断しながらタイマ
を始動することにより、新規のスピンドル・モータ予測
故障分析手順を開始する。ブレーキ機構による支援を受
けずにスピンドル・モータ２６が減速できるようにする
方が有利であると思われる。このようなブレーキは、本
来はスピンドル・ベアリングの劣化条件を示すはずの微
妙な減速要因をマスクする傾向があるようである。
をパフォーマンス・テスト・パラメータとして使用す
る、スピンドル・モータ２６のパフォーマンスの低下を
検出するための好ましい方法を、図５ないし図７の流れ
図に示す。特定のスピンドル・モータ２６の公称ベンチ
マーク・コーストダウン時間ｔBは、データ記憶システ
ム２０の製造中またはその直後に最初に測定される。ス
テップ１００で、データ記憶システム２０が定常状態動
作温度を達成できるようにするのに十分な時間の間、ス
ピンドル・モータ２６をその公称設計速度ωNまで回転
することが好ましい。次に、ステップ１０２で、同時に
スピンドル・モータ２６から電力を遮断しながらタイマ
を始動することにより、新規のスピンドル・モータ予測
故障分析手順を開始する。ブレーキ機構による支援を受
けずにスピンドル・モータ２６が減速できるようにする
方が有利であると思われる。このようなブレーキは、本
来はスピンドル・ベアリングの劣化条件を示すはずの微
妙な減速要因をマスクする傾向があるようである。
【００２５】ステップ１０４で、スピンドル・モータ２
６の減速を監視し、スピンドル・モータ２６の減速中の
様々な時点で速度ωSMをサンプリングする。ステップ１
０６で、サンプリングしたスピンドル・モータ速度ωSM
を所定の試験速度ωTと比較する。この試験速度は、ス
ピンドル・モータ２６の初期速度ωIに比べて大幅に低
い速度であることが好ましい。スピンドル・モータ２６
の速度ωSMが所定の試験速度ωTとほぼ等しくなるま
で、スピンドル・モータ２６の減速を監視する。等価に
なった時点で、タイマを停止する（ステップ１０８）。
次に、ステップ１１０でスピンドル・モータ２６のコー
ストダウン時間ｔBを、タイマが記録した全時間として
示されているステップ１０２と１０８との間の経過時間
として計算する。このコーストダウン時間ｔBは、その
有効寿命中のスピンドル・モータ２６の動作条件を査定
するためのベンチマークとして後で使用する。このベン
チマーク・コーストダウン時間ｔBは、ステップ１００
〜１１０を数回繰り返した後で測定した平均コーストダ
ウン時間ｔBを表すものであることが好ましい。
６の減速を監視し、スピンドル・モータ２６の減速中の
様々な時点で速度ωSMをサンプリングする。ステップ１
０６で、サンプリングしたスピンドル・モータ速度ωSM
を所定の試験速度ωTと比較する。この試験速度は、ス
ピンドル・モータ２６の初期速度ωIに比べて大幅に低
い速度であることが好ましい。スピンドル・モータ２６
の速度ωSMが所定の試験速度ωTとほぼ等しくなるま
で、スピンドル・モータ２６の減速を監視する。等価に
なった時点で、タイマを停止する（ステップ１０８）。
次に、ステップ１１０でスピンドル・モータ２６のコー
ストダウン時間ｔBを、タイマが記録した全時間として
示されているステップ１０２と１０８との間の経過時間
として計算する。このコーストダウン時間ｔBは、その
有効寿命中のスピンドル・モータ２６の動作条件を査定
するためのベンチマークとして後で使用する。このベン
チマーク・コーストダウン時間ｔBは、ステップ１００
〜１１０を数回繰り返した後で測定した平均コーストダ
ウン時間ｔBを表すものであることが好ましい。
【００２６】ステップ１０６でスピンドル・モータ２６
が所定の試験速度ωTまで減速したかどうかを判定する
ためにいくつかの既知の手段を使用できることに留意さ
れたい。試験速度ωTは、スピンドル・モータ２６の初
期速度ωIよりかなり低くなるように選択することが好
ましく、通常、特定のデータ記憶システム２０の特定の
速度・時間測定装置の正確さと解像度によって制限され
る。所定の試験速度ωTに達したかどうかを判定する際
に、たとえば、スピンドル・モータ２６の逆起電力を使
用することもできる。試験速度ωTは、試験速度ωTでの
逆起電力を背景ノイズから容易に消せるように選択する
ことが好ましい。たとえば、スピンドル・モータ２６の
速度を測定するためにホールタイプ・センサを使用する
データ記憶システム２０は、一般に、同様の速度測定に
逆起電力を使用するシステム２０に比べ、より低い試験
速度ωTを解明することができる。
が所定の試験速度ωTまで減速したかどうかを判定する
ためにいくつかの既知の手段を使用できることに留意さ
れたい。試験速度ωTは、スピンドル・モータ２６の初
期速度ωIよりかなり低くなるように選択することが好
ましく、通常、特定のデータ記憶システム２０の特定の
速度・時間測定装置の正確さと解像度によって制限され
る。所定の試験速度ωTに達したかどうかを判定する際
に、たとえば、スピンドル・モータ２６の逆起電力を使
用することもできる。試験速度ωTは、試験速度ωTでの
逆起電力を背景ノイズから容易に消せるように選択する
ことが好ましい。たとえば、スピンドル・モータ２６の
速度を測定するためにホールタイプ・センサを使用する
データ記憶システム２０は、一般に、同様の速度測定に
逆起電力を使用するシステム２０に比べ、より低い試験
速度ωTを解明することができる。
【００２７】スピンドル・モータ２６の有効寿命中、図
６および図７に示す流れ図によるフィールドおよびルー
チンで、図５に関連して説明したものと同様のコースト
ダウン時間測定手順を実行することが好ましい。この新
規のスピンドル・モータ予測故障分析手順の重要な利点
は、データ記憶システム２０によって実行される通常の
電力遮断シーケンスまたは電力節約ルーチン中にその手
順を実行することに関する。一実施例では、この新規の
コーストダウン時間測定手順をシステム２０の通常の電
力遮断シーケンス中に実行し、それにより、データ記憶
システム２０の通常動作にほとんどまたはまったく影響
しないことが好ましい。他の実施例では、この新規のコ
ーストダウン時間測定手順をシステム２０が実行する電
力節約ルーチン中に実行することが好ましい。データ記
憶システムによっては、通常、変換器２７が停止位置ま
で移動するかまたはパーキング・ランプ６０におろされ
た後に、システム電力を節約しようとして、長期の非使
用期間中に制御ハードウェアおよびソフトウェアを使用
して、スピンドル・モータ２６への電流の供給を一時的
に禁止するものもある。この新規のスピンドル・モータ
予測故障分析手順は、この電力節約モード中に実行し、
その結果、データ記憶システム２０の通常動作に顕著な
影響を及ぼさないことが好ましい。
６および図７に示す流れ図によるフィールドおよびルー
チンで、図５に関連して説明したものと同様のコースト
ダウン時間測定手順を実行することが好ましい。この新
規のスピンドル・モータ予測故障分析手順の重要な利点
は、データ記憶システム２０によって実行される通常の
電力遮断シーケンスまたは電力節約ルーチン中にその手
順を実行することに関する。一実施例では、この新規の
コーストダウン時間測定手順をシステム２０の通常の電
力遮断シーケンス中に実行し、それにより、データ記憶
システム２０の通常動作にほとんどまたはまったく影響
しないことが好ましい。他の実施例では、この新規のコ
ーストダウン時間測定手順をシステム２０が実行する電
力節約ルーチン中に実行することが好ましい。データ記
憶システムによっては、通常、変換器２７が停止位置ま
で移動するかまたはパーキング・ランプ６０におろされ
た後に、システム電力を節約しようとして、長期の非使
用期間中に制御ハードウェアおよびソフトウェアを使用
して、スピンドル・モータ２６への電流の供給を一時的
に禁止するものもある。この新規のスピンドル・モータ
予測故障分析手順は、この電力節約モード中に実行し、
その結果、データ記憶システム２０の通常動作に顕著な
影響を及ぼさないことが好ましい。
【００２８】スピンドル・モータ２６の有効寿命中の早
期に、たとえば、５００または１０００回の始動／停止
シーケンスごとのように比較的頻度を低くしてコースト
ダウン時間測定手順を実行することが好ましい。スピン
ドル・モータ２６の使用年数が増すにつれて、５０また
は１００回の始動／停止シーケンスごとのように使用時
コーストダウン時間測定の頻度が増すことが好ましい。
一実施例では、コーストダウン時間測定の頻度がデータ
記憶システム２０によって動的に決定され、使用時コー
ストダウン時間ｔSと所定のベンチマーク・コーストダ
ウン時間ｔBとの変化の大きさに応じて変更される。た
とえば、所定のベンチマーク・コーストダウン時間ｔB
に対する使用時コーストダウン時間ｔSの許容偏差は、
ｔB７２に隣接するｔB-Xσ７５とｔB+Xσ７７によって
画定される許容帯７３によって図３に表したように、平
均から１〜３シグマにすることができる。しかし、平均
から５〜６シグマ程度の偏差の場合、その結果、使用時
コーストダウン時間測定の頻度が動的に増加することが
好ましい。たとえば、５０回の始動／停止シーケンスと
いう試験頻度は、使用時とベンチマークのコーストダウ
ン時間ｔSおよびｔBの偏差が比較的大きい場合、その偏
差に応じて１０回の始動／停止シーケンスまで増加する
ことができる。
期に、たとえば、５００または１０００回の始動／停止
シーケンスごとのように比較的頻度を低くしてコースト
ダウン時間測定手順を実行することが好ましい。スピン
ドル・モータ２６の使用年数が増すにつれて、５０また
は１００回の始動／停止シーケンスごとのように使用時
コーストダウン時間測定の頻度が増すことが好ましい。
一実施例では、コーストダウン時間測定の頻度がデータ
記憶システム２０によって動的に決定され、使用時コー
ストダウン時間ｔSと所定のベンチマーク・コーストダ
ウン時間ｔBとの変化の大きさに応じて変更される。た
とえば、所定のベンチマーク・コーストダウン時間ｔB
に対する使用時コーストダウン時間ｔSの許容偏差は、
ｔB７２に隣接するｔB-Xσ７５とｔB+Xσ７７によって
画定される許容帯７３によって図３に表したように、平
均から１〜３シグマにすることができる。しかし、平均
から５〜６シグマ程度の偏差の場合、その結果、使用時
コーストダウン時間測定の頻度が動的に増加することが
好ましい。たとえば、５０回の始動／停止シーケンスと
いう試験頻度は、使用時とベンチマークのコーストダウ
ン時間ｔSおよびｔBの偏差が比較的大きい場合、その偏
差に応じて１０回の始動／停止シーケンスまで増加する
ことができる。
【００２９】さらに図６を参照すると、ステップ１１２
で、最初はスピンドル・モータ２６に電力を供給してい
る状態で、使用時スピンドル・モータ予測故障分析手順
を開始する。ステップ１１４で、データ記憶システム２
０の通常動作用のその公称速度ωNまでスピンドル・モ
ータ２６を回転する。ステップ１１６で、停止／始動カ
ウンタを１だけ増分する。この停止／始動カウンタは、
データ記憶システム２０の電子機器である制御装置５８
の一部として含まれていることが好ましく、前に実行し
た使用時コーストダウン時間測定手順以降に実行した停
止／始動シーケンスの累積数を格納する。ステップ１１
８で停止／始動カウンタのカウントＣが試験頻度カウン
トＮと等しくない場合、ステップ１２０でコーストダウ
ン時間測定手順は実行されない。しかし、停止／始動カ
ウンタのカウントＣが試験頻度カウントＮと等しい場合
は、システム２０が通常の電力遮断シーケンスまたは電
力節約ルーチンを実行するまで、ステップ１２３でデー
タ記憶システム２０の通常動作が中断されないことが好
ましく、そのようなシーケンスまたはルーチンが実行さ
れたときは、ステップ１２２と１２４のように新規のス
ピンドル・モータ予測故障分析手順が実行されることが
好ましい。
で、最初はスピンドル・モータ２６に電力を供給してい
る状態で、使用時スピンドル・モータ予測故障分析手順
を開始する。ステップ１１４で、データ記憶システム２
０の通常動作用のその公称速度ωNまでスピンドル・モ
ータ２６を回転する。ステップ１１６で、停止／始動カ
ウンタを１だけ増分する。この停止／始動カウンタは、
データ記憶システム２０の電子機器である制御装置５８
の一部として含まれていることが好ましく、前に実行し
た使用時コーストダウン時間測定手順以降に実行した停
止／始動シーケンスの累積数を格納する。ステップ１１
８で停止／始動カウンタのカウントＣが試験頻度カウン
トＮと等しくない場合、ステップ１２０でコーストダウ
ン時間測定手順は実行されない。しかし、停止／始動カ
ウンタのカウントＣが試験頻度カウントＮと等しい場合
は、システム２０が通常の電力遮断シーケンスまたは電
力節約ルーチンを実行するまで、ステップ１２３でデー
タ記憶システム２０の通常動作が中断されないことが好
ましく、そのようなシーケンスまたはルーチンが実行さ
れたときは、ステップ１２２と１２４のように新規のス
ピンドル・モータ予測故障分析手順が実行されることが
好ましい。
【００３０】次に図７を参照すると、タイマを始動し、
同時にスピンドル・モータ２６への電力を使用不能にす
ることによって、ステップ１２６で新規の使用時コース
トダウン時間測定手順を開始する。前述のように、スピ
ンドル・モータ２６は、ブレーキ装置からの影響を受け
ずに減速できるものであることが好ましい。スピンドル
・モータ２６の減速期間中、ステップ１２８で速度測定
を実行する。ステップ１３０で、スピンドル・モータの
速度ωSMを試験速度ωTと比較し、等しくない場合は、
ステップ１２８でスピンドル・モータ速度ωSMの監視を
続行する。スピンドル・モータ速度ωSMが試験速度ωT
と等しい場合は、ステップ１３２でタイマを停止する。
ステップ１３４で、スピンドル・モータ２６の使用時コ
ーストダウン時間ｔSをタイマが記録した全経過時間と
して計算する。次に、ステップ１３６で、計算した使用
時コーストダウン時間ｔSを所定のベンチマーク・コー
ストダウン時間ｔBと比較する。この所定のベンチマー
ク・コーストダウン時間ｔBパラメータは、データ記憶
システム２０の製造時に制御装置５８の電子機器内に含
まれるメモリ素子に格納されていることが好ましいこと
に留意されたい。また、試験速度ωT、初期速度ωI、ベ
ンチマーク・コーストダウン時間ｔB、許容帯パラメー
タなどもメモリに格納されていることが好ましい。
同時にスピンドル・モータ２６への電力を使用不能にす
ることによって、ステップ１２６で新規の使用時コース
トダウン時間測定手順を開始する。前述のように、スピ
ンドル・モータ２６は、ブレーキ装置からの影響を受け
ずに減速できるものであることが好ましい。スピンドル
・モータ２６の減速期間中、ステップ１２８で速度測定
を実行する。ステップ１３０で、スピンドル・モータの
速度ωSMを試験速度ωTと比較し、等しくない場合は、
ステップ１２８でスピンドル・モータ速度ωSMの監視を
続行する。スピンドル・モータ速度ωSMが試験速度ωT
と等しい場合は、ステップ１３２でタイマを停止する。
ステップ１３４で、スピンドル・モータ２６の使用時コ
ーストダウン時間ｔSをタイマが記録した全経過時間と
して計算する。次に、ステップ１３６で、計算した使用
時コーストダウン時間ｔSを所定のベンチマーク・コー
ストダウン時間ｔBと比較する。この所定のベンチマー
ク・コーストダウン時間ｔBパラメータは、データ記憶
システム２０の製造時に制御装置５８の電子機器内に含
まれるメモリ素子に格納されていることが好ましいこと
に留意されたい。また、試験速度ωT、初期速度ωI、ベ
ンチマーク・コーストダウン時間ｔB、許容帯パラメー
タなどもメモリに格納されていることが好ましい。
【００３１】実際には、計算した使用時スピンドル・モ
ータ・コーストダウン時間ｔSが許容できるものであ
り、一般にスピンドル・モータ２６のパフォーマンスの
わずかな変化を示すものと見なすことができるような、
許容範囲を確立することが望ましい場合もある。ステッ
プ１３８で、そのコーストダウン時間ｔSをテストし
て、計算した使用時コーストダウン時間ｔSが図３に示
す許容帯７３に入るかどうかを判定する。計算した使用
時コーストダウン時間ｔSがこの許容帯７３に入る場合
は、ステップ１４０でデータ記憶システムの通常動作が
続行される。ただし、ステップ１４０でシステム２０の
通常動作を再開する場合、データ記憶システム２０の電
力遮断シーケンスまたは電力節約ルーチンの続行などを
必要とする場合があることに留意されたい。計算した使
用時コーストダウン時間ｔSと所定のベンチマーク・コ
ーストダウン時間ｔBとの偏差の大きさに応じて、様々
なシステム応答が実施されることが好ましい。計算した
コーストダウン時間ｔSと所定のベンチマーク・コース
トダウン時間ｔBとの偏差がわずかであれば、ステップ
１４２で許容範囲外事象の記録などの最小限のシステム
２０応答しか保証することができない。許容範囲外事象
の記録は、データ記憶システム２０の障害監視専用の電
子機器である制御装置５８内のカウンタまたはビット状
況レジスタの増分を含む場合もある。偏差がこれより大
きいと、ステップ１４４のように、使用時スピンドル・
モータ予測故障分析手順を実行するための試験頻度の調
整など、より抜本的なシステム２０応答を保証すること
ができる。計算した使用時コーストダウン時間ｔSと所
定のベンチマーク・コーストダウン時間ｔBとの偏差が
劇的であれば、データ記憶システム２０は、ステップ１
４６のようにデータ記憶システムが結合されているホス
ト・コンピュータに送信される警告信号などを生成する
ことができる。この警告信号は、データ記憶システム２
０の適切な時期での修理または交換が必要であることを
ユーザに警告することが好ましい。
ータ・コーストダウン時間ｔSが許容できるものであ
り、一般にスピンドル・モータ２６のパフォーマンスの
わずかな変化を示すものと見なすことができるような、
許容範囲を確立することが望ましい場合もある。ステッ
プ１３８で、そのコーストダウン時間ｔSをテストし
て、計算した使用時コーストダウン時間ｔSが図３に示
す許容帯７３に入るかどうかを判定する。計算した使用
時コーストダウン時間ｔSがこの許容帯７３に入る場合
は、ステップ１４０でデータ記憶システムの通常動作が
続行される。ただし、ステップ１４０でシステム２０の
通常動作を再開する場合、データ記憶システム２０の電
力遮断シーケンスまたは電力節約ルーチンの続行などを
必要とする場合があることに留意されたい。計算した使
用時コーストダウン時間ｔSと所定のベンチマーク・コ
ーストダウン時間ｔBとの偏差の大きさに応じて、様々
なシステム応答が実施されることが好ましい。計算した
コーストダウン時間ｔSと所定のベンチマーク・コース
トダウン時間ｔBとの偏差がわずかであれば、ステップ
１４２で許容範囲外事象の記録などの最小限のシステム
２０応答しか保証することができない。許容範囲外事象
の記録は、データ記憶システム２０の障害監視専用の電
子機器である制御装置５８内のカウンタまたはビット状
況レジスタの増分を含む場合もある。偏差がこれより大
きいと、ステップ１４４のように、使用時スピンドル・
モータ予測故障分析手順を実行するための試験頻度の調
整など、より抜本的なシステム２０応答を保証すること
ができる。計算した使用時コーストダウン時間ｔSと所
定のベンチマーク・コーストダウン時間ｔBとの偏差が
劇的であれば、データ記憶システム２０は、ステップ１
４６のようにデータ記憶システムが結合されているホス
ト・コンピュータに送信される警告信号などを生成する
ことができる。この警告信号は、データ記憶システム２
０の適切な時期での修理または交換が必要であることを
ユーザに警告することが好ましい。
【００３２】使用時コーストダウン時間ｔSと所定のベ
ンチマーク・コーストダウン時間ｔBとの偏差が大きい
場合、その偏差はスピンドル・モータ・ベアリングの切
迫した故障を示す場合が多いことに留意されたい。偏差
が中程度から大きい場合も、ベアリングの故障またはベ
アリング・アセンブリの過度の摩耗に帰因しないデータ
記憶システム２０の故障メカニズムを示すことがある。
新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順の重要な利
点の１つは、スピンドル・モータのパフォーマンスに影
響するが、従来の予測故障分析方法では検出不能な、デ
ータ記憶システム２０の上記以外の内部故障モードを検
出できる能力に関する。たとえば、データ記憶システム
２０のハウジング２１内の構成要素を移動したり取り外
すことによってスピンドル・モータ２６またはディスク
２４の回転が妨げられると、スピンドル・モータ２６の
パフォーマンスに悪影響を及ぼす可能性がある。たとえ
ば、内部粒子フィルタがゆるんでいたり、外れている
と、スピンドル・モータ２６のハブ２７またはディスク
２４の表面に接触する恐れがある。場合によっては、こ
のような接触が起きてもデータ記憶システム２０の破局
的故障を引き起こさない場合もあるが、その結果、摩擦
が増加するために、結局は読取り／書込み変換器２７や
データ記憶ディスク２４の傷つきやすい表面を損傷する
か、スピンドル・モータ２６が過剰な量の電源電流を消
費することになる場合がある。新規のコーストダウン時
間測定手順を実行すると、スピンドル・モータ２６のコ
ーストダウン時間の重要な変化が検出され、それによ
り、スピンドル・モータ２６のパフォーマンスの大幅な
低下が示される。内部構成要素とデータ記憶ディスク２
４またはスピンドル・モータ２６との直接接触は、ホス
ト・コンピュータに送られたときにデータ記憶システム
２０の重大な変則状態をユーザに通知する警告信号の生
成によって示されることが好ましい。
ンチマーク・コーストダウン時間ｔBとの偏差が大きい
場合、その偏差はスピンドル・モータ・ベアリングの切
迫した故障を示す場合が多いことに留意されたい。偏差
が中程度から大きい場合も、ベアリングの故障またはベ
アリング・アセンブリの過度の摩耗に帰因しないデータ
記憶システム２０の故障メカニズムを示すことがある。
新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順の重要な利
点の１つは、スピンドル・モータのパフォーマンスに影
響するが、従来の予測故障分析方法では検出不能な、デ
ータ記憶システム２０の上記以外の内部故障モードを検
出できる能力に関する。たとえば、データ記憶システム
２０のハウジング２１内の構成要素を移動したり取り外
すことによってスピンドル・モータ２６またはディスク
２４の回転が妨げられると、スピンドル・モータ２６の
パフォーマンスに悪影響を及ぼす可能性がある。たとえ
ば、内部粒子フィルタがゆるんでいたり、外れている
と、スピンドル・モータ２６のハブ２７またはディスク
２４の表面に接触する恐れがある。場合によっては、こ
のような接触が起きてもデータ記憶システム２０の破局
的故障を引き起こさない場合もあるが、その結果、摩擦
が増加するために、結局は読取り／書込み変換器２７や
データ記憶ディスク２４の傷つきやすい表面を損傷する
か、スピンドル・モータ２６が過剰な量の電源電流を消
費することになる場合がある。新規のコーストダウン時
間測定手順を実行すると、スピンドル・モータ２６のコ
ーストダウン時間の重要な変化が検出され、それによ
り、スピンドル・モータ２６のパフォーマンスの大幅な
低下が示される。内部構成要素とデータ記憶ディスク２
４またはスピンドル・モータ２６との直接接触は、ホス
ト・コンピュータに送られたときにデータ記憶システム
２０の重大な変則状態をユーザに通知する警告信号の生
成によって示されることが好ましい。
【００３３】スピンドル・モータ２６のパフォーマンス
に重大な影響を及ぼす可能性のあるデータ記憶システム
２０のもう１つの内部故障メカニズムは、１つまたは複
数の読取り／書込み変換器２７とスライダ・ボディ３５
アセンブリが経験する離陸速度の大幅な増加に関連す
る。このような離陸速度の増加は、一般に、変換器２７
／スライダ・ボディ３５アセンブリとディスク表面２４
との間欠的または切迫した接触を示す。このような有害
な接触により、スピンドル・モータ２６の使用時コース
トダウン時間ｔSが大幅に短縮される可能性がある。た
だし、新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順は、
他の、一般により高度の故障分析手順と組み合わせて使
用できることに留意されたい。たとえば、データまたは
サーボ・チャネル測定値を使用して変換器２７／スライ
ダ・ボディ３５アセンブリの浮動特性の変化を測定する
ための様々な既知の方法を使用して、アセンブリの浮動
高の変化を測定する。このような他の既知の高度な予測
故障分析手順を、比較的単純だが洗練された新規のコー
ストダウン時間測定手順と組み合わせて使用すると、デ
ータ記憶システム２０の特定の故障メカニズムを効率よ
く検出し、正確に分離することができる。
に重大な影響を及ぼす可能性のあるデータ記憶システム
２０のもう１つの内部故障メカニズムは、１つまたは複
数の読取り／書込み変換器２７とスライダ・ボディ３５
アセンブリが経験する離陸速度の大幅な増加に関連す
る。このような離陸速度の増加は、一般に、変換器２７
／スライダ・ボディ３５アセンブリとディスク表面２４
との間欠的または切迫した接触を示す。このような有害
な接触により、スピンドル・モータ２６の使用時コース
トダウン時間ｔSが大幅に短縮される可能性がある。た
だし、新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順は、
他の、一般により高度の故障分析手順と組み合わせて使
用できることに留意されたい。たとえば、データまたは
サーボ・チャネル測定値を使用して変換器２７／スライ
ダ・ボディ３５アセンブリの浮動特性の変化を測定する
ための様々な既知の方法を使用して、アセンブリの浮動
高の変化を測定する。このような他の既知の高度な予測
故障分析手順を、比較的単純だが洗練された新規のコー
ストダウン時間測定手順と組み合わせて使用すると、デ
ータ記憶システム２０の特定の故障メカニズムを効率よ
く検出し、正確に分離することができる。
【００３４】次に図８を参照すると、同図には、図４に
関して前述した代替実施例による新規のスピンドル・モ
ータ予測故障分析手順を使用する方法の各種ステップが
流れ図の形式で示されている。コーストダウン時間の関
数としてスピンドル・モータのパフォーマンスの低下を
測定するのではなく、スピンドル・モータ２６が最初の
低速ωIと相対的に高い試験速度ωTの間を移行するため
の始動時間を測定する。試験速度ωTはスピンドル・モ
ータ２６の公称設計速度ωNであることが好ましく、初
期速度ωIは、ゼロ速度のように試験速度ωTよりかなり
低いスピンドル・モータ２６の速度であることが好まし
い。
関して前述した代替実施例による新規のスピンドル・モ
ータ予測故障分析手順を使用する方法の各種ステップが
流れ図の形式で示されている。コーストダウン時間の関
数としてスピンドル・モータのパフォーマンスの低下を
測定するのではなく、スピンドル・モータ２６が最初の
低速ωIと相対的に高い試験速度ωTの間を移行するため
の始動時間を測定する。試験速度ωTはスピンドル・モ
ータ２６の公称設計速度ωNであることが好ましく、初
期速度ωIは、ゼロ速度のように試験速度ωTよりかなり
低いスピンドル・モータ２６の速度であることが好まし
い。
【００３５】さらに図８を参照すると、スピンドル・モ
ータ２６への電力供給を可能にすることによって、ステ
ップ１４８で使用時始動時間測定手順を開始する。スピ
ンドル・モータ速度ωSMが所定の初期速度ωIと等しく
なると、ステップ１５０でタイマを始動する。スピンド
ル・モータ２６の加速中、ステップ１５２でスピンドル
・モータ２６の速度ωSMを監視して計算し、ステップ１
５４で試験速度ωTと比較する。スピンドル・モータ速
度ωSMが試験速度ωTとほぼ等しくなると、ステップ１
５６でタイマを停止する。次に、ステップ１５８で使用
時スピンアップ時間ｔSを計算するが、これはステップ
１５６でタイマが記録した時間と等価になる。次に、ス
テップ１６０で、計算した使用時スピンアップ時間ｔS
を、データ記憶システム２０の製造時に事前設定された
スピンドル・モータ２６の所定のベンチマーク・スピン
アップ時間ｔBと比較する。ステップ１６２で、計算し
た使用時始動時間ｔSが、図４のｔB-Xσ８１とｔBーXσ
８５の間に画定される帯域として示されている所定のベ
ンチマーク始動時間ｔSの境界を示す許容帯８８に入る
場合は、ステップ１６４でデータ記憶システム２０の通
常動作を続行する。計算した使用時始動時間ｔSが許容
帯８８の境界を越える場合は、データ記憶システム２０
は、たとえば、ステップ１６６で許容範囲外事象を記録
し、ステップ１６８で使用時始動時間測定手順の試験頻
度を調整し、またはステップ１７０で警告信号を生成し
て、データ記憶システム２０に結合されたホスト・コン
ピュータに警告信号を送信することにより、スピンアッ
プ時間偏差の相対的大きさに応じて応答することが好ま
しい。
ータ２６への電力供給を可能にすることによって、ステ
ップ１４８で使用時始動時間測定手順を開始する。スピ
ンドル・モータ速度ωSMが所定の初期速度ωIと等しく
なると、ステップ１５０でタイマを始動する。スピンド
ル・モータ２６の加速中、ステップ１５２でスピンドル
・モータ２６の速度ωSMを監視して計算し、ステップ１
５４で試験速度ωTと比較する。スピンドル・モータ速
度ωSMが試験速度ωTとほぼ等しくなると、ステップ１
５６でタイマを停止する。次に、ステップ１５８で使用
時スピンアップ時間ｔSを計算するが、これはステップ
１５６でタイマが記録した時間と等価になる。次に、ス
テップ１６０で、計算した使用時スピンアップ時間ｔS
を、データ記憶システム２０の製造時に事前設定された
スピンドル・モータ２６の所定のベンチマーク・スピン
アップ時間ｔBと比較する。ステップ１６２で、計算し
た使用時始動時間ｔSが、図４のｔB-Xσ８１とｔBーXσ
８５の間に画定される帯域として示されている所定のベ
ンチマーク始動時間ｔSの境界を示す許容帯８８に入る
場合は、ステップ１６４でデータ記憶システム２０の通
常動作を続行する。計算した使用時始動時間ｔSが許容
帯８８の境界を越える場合は、データ記憶システム２０
は、たとえば、ステップ１６６で許容範囲外事象を記録
し、ステップ１６８で使用時始動時間測定手順の試験頻
度を調整し、またはステップ１７０で警告信号を生成し
て、データ記憶システム２０に結合されたホスト・コン
ピュータに警告信号を送信することにより、スピンアッ
プ時間偏差の相対的大きさに応じて応答することが好ま
しい。
【００３６】一般に、制御装置５８の電子機器は、新規
のスピンドル・モータ予測故障分析手順を格納して実行
するのに適したマイクロプロセッサまたはその他の処理
回路を含む。コーストダウン時間および始動時間の測定
に使用するタイマは、ハードウェアまたはソフトウェア
のいずれで実現することもできる。さらに、データ記憶
システム２０の通常動作を組織化するために制御装置５
８が実行するマイクロコードは、新規のスピンドル・モ
ータ予測故障分析手順を実行するためのサブルーチンを
表すコードを含むことができ、それはデータ記憶システ
ム２０の通常の電力遮断シーケンスまたは電力節約ルー
チン中に実行されることが好ましい。したがって、新規
のスピンドル・モータ予測故障分析方法および方法を完
全に実施するには、追加のハードウェアは一切不要であ
り、既存のソフトウェアのわずかな修正だけが必要にな
る。
のスピンドル・モータ予測故障分析手順を格納して実行
するのに適したマイクロプロセッサまたはその他の処理
回路を含む。コーストダウン時間および始動時間の測定
に使用するタイマは、ハードウェアまたはソフトウェア
のいずれで実現することもできる。さらに、データ記憶
システム２０の通常動作を組織化するために制御装置５
８が実行するマイクロコードは、新規のスピンドル・モ
ータ予測故障分析手順を実行するためのサブルーチンを
表すコードを含むことができ、それはデータ記憶システ
ム２０の通常の電力遮断シーケンスまたは電力節約ルー
チン中に実行されることが好ましい。したがって、新規
のスピンドル・モータ予測故障分析方法および方法を完
全に実施するには、追加のハードウェアは一切不要であ
り、既存のソフトウェアのわずかな修正だけが必要にな
る。
【００３７】当然のことながら、本発明の範囲または精
神を逸脱せずに、上記の実施例に様々な変更および追加
を加えることが可能であることが分かるだろう。たとえ
ば、コーストダウン時間または始動時間測定手順の実行
頻度は、前記以外の増分に設定することができ、その手
順もデータ記憶システム２０の通常の電力遮断シーケン
スまたは電力節約ルーチン中以外の時期に実行すること
ができる。さらに、コーストダウンまたは始動時間を測
定する際に、時間の関数としてのスピンドル・モータ２
６の速度、時間の関数としてのスピンドル・モータ２６
の加速または減速、所定の期間でのスピンドル・モータ
２６の回転数などに関連する測定値など、経過時間以外
の測定値を使用できることに留意されたい。したがっ
て、本発明の範囲は前述の特定の実施例のみに限定され
るものではなく、特許請求の範囲および開示実施例の均
等物によってのみ画定される。
神を逸脱せずに、上記の実施例に様々な変更および追加
を加えることが可能であることが分かるだろう。たとえ
ば、コーストダウン時間または始動時間測定手順の実行
頻度は、前記以外の増分に設定することができ、その手
順もデータ記憶システム２０の通常の電力遮断シーケン
スまたは電力節約ルーチン中以外の時期に実行すること
ができる。さらに、コーストダウンまたは始動時間を測
定する際に、時間の関数としてのスピンドル・モータ２
６の速度、時間の関数としてのスピンドル・モータ２６
の加速または減速、所定の期間でのスピンドル・モータ
２６の回転数などに関連する測定値など、経過時間以外
の測定値を使用できることに留意されたい。したがっ
て、本発明の範囲は前述の特定の実施例のみに限定され
るものではなく、特許請求の範囲および開示実施例の均
等物によってのみ画定される。
【００３８】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
の事項を開示する。
【００３９】（１）データ記憶ディスクを回転させるス
ピンドル・モータに取り付けられ、データを格納するデ
ータ記憶ディスクと、ディスクとの間でデータを転送す
る変換器と、ディスクの端から端まで変換器を移動させ
るアクチュエータと、ディスクとの間のデータの転送を
調整する制御装置とを有するデータ記憶装置のパフォー
マンスの低下を検出する方法において、初期速度でスピ
ンドル・モータを回転するステップと、試験速度でスピ
ンドル・モータを回転するステップと、スピンドル・モ
ータが初期速度と試験速度の間で移行するための所要時
間を計算するステップと、計算した移行時間を所定の移
行時間と比較するステップとを含み、計算した移行時間
と所定の移行時間との偏差によって、スピンドル・モー
タのパフォーマンスの低下が示されることを特徴とす
る、パフォーマンス低下検出方法。 （２）スピンドル・モータの初期速度がスピンドル・モ
ータの公称動作速度であり、スピンドル・モータの試験
速度が公称動作速度より低いスピンドル・モータ速度で
あることを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （３）スピンドル・モータの試験速度がスピンドル・モ
ータの公称動作速度であり、スピンドル・モータの初期
速度が試験速度より低いスピンドル・モータ速度である
ことを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （４）所定の移行時間を格納するステップをさらに含む
ことを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （５）計算した移行時間を所定の移行時間と比較するス
テップが、所定の移行時間を取り出すステップを含むこ
とを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （６）初期速度でスピンドル・モータを回転するステッ
プが、スピンドル・モータから電力を遮断するステップ
を含むことを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （７）初期速度でスピンドル・モータを回転するステッ
プと、試験速度でスピンドル・モータを回転するステッ
プと、スピンドル・モータが初期速度と試験速度との間
を移行するための所要時間として所定の移行時間を計算
するステップとを含む方法によって、所定の移行時間を
計算することを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （８）計算した移行時間を所定の移行時間と比較するス
テップが、計算した移行時間と所定の移行時間との時間
偏差を計算するステップと、計算した時間偏差が所定の
時間偏差より大きい場合にそれに応答して警告信号を生
成するステップとをさらに含むことを特徴とする、上記
（１）に記載の方法。 （９）スピンドル・モータの有効寿命中に定期的にパフ
ォーマンス低下検出方法が実行されることを特徴とす
る、上記（１）に記載の方法。 （１０）計算した移行時間と所定の移行時間との偏差の
大きさに応答して、パフォーマンス低下検出方法を実行
する頻度が調整されることを特徴とする、上記（９）に
記載の方法。 （１１）データ記憶ディスクを回転させるスピンドル・
モータに取り付けられ、データを格納するデータ記憶デ
ィスクと、ディスクとの間でデータを転送する変換器
と、ディスクの端から端まで変換器を移動させるアクチ
ュエータと、ディスクとの間でのデータの転送を調整す
る制御装置とを有するデータ記憶装置のパフォーマンス
の低下を検出する方法において、初期速度でスピンドル
・モータを回転するステップと、スピンドル・モータか
ら電力を遮断することに関連する開始時間にタイマを開
始するステップと、スピンドル・モータが試験速度を達
成したことに関連する終了時間にタイマを終了するステ
ップと、終了時間と開始時間との間の経過時間としてス
ピンドル・モータのコーストダウン時間を計算するステ
ップと、計算したスピンドル・モータのコーストダウン
時間を所定のコーストダウン時間と比較するステップと
を含み、所定のコーストダウン時間に対して計算したコ
ーストダウン時間の所要時間が短いことによって、スピ
ンドル・モータのパフォーマンスの低下が示されること
を特徴とする、パフォーマンス低下検出方法。 （１２）スピンドル・モータの初期速度がスピンドル・
モータの公称動作速度であり、スピンドル・モータの試
験速度がスピンドル・モータの公称動作速度より低いス
ピンドル・モータ速度であることを特徴とする、上記
（１１）に記載の方法。 （１３）所定のコーストダウン時間を格納するステップ
をさらに含むことを特徴とする、上記（１１）に記載の
方法。 （１４）計算したスピンドル・モータのコーストダウン
時間を所定のコーストダウン時間と比較するステップ
が、データ記憶装置に格納された所定のコーストダウン
時間を取り出すステップを含むことを特徴とする、上記
（１１）に記載の方法。 （１５）初期速度でスピンドル・モータを回転するステ
ップと、スピンドル・モータから電力を遮断することに
関連する開始時間にタイマを開始するステップと、スピ
ンドル・モータが試験速度を達成したことに関連する終
了時間にタイマを終了するステップと、終了時間と開始
時間との間の所要時間としてスピンドル・モータの所定
のコーストダウン時間を計算するステップとを含む方法
によって、所定のコーストダウン時間を計算することを
特徴とする、上記（１１）に記載の方法。 （１６）計算したコーストダウン時間を所定のコースト
ダウン時間と比較するステップが、計算したコーストダ
ウン時間と所定のコーストダウン時間との時間偏差を計
算するステップと、計算した時間偏差が所定の時間偏差
より大きい場合にそれに応答して警告信号を生成するス
テップとをさらに含むことを特徴とする、上記（１１）
に記載の方法。 （１７）ハウジングと、データ記憶ディスクと、ハウジ
ングに取り付けられ、データ記憶ディスクを回転できる
ようになっているスピンドル・モータと、ハウジングに
可動式に取り付けられているアクチュエータと、アクチ
ュエータに取り付けられている変換器とを含み、スピン
ドル・モータが初期スピンドル・モータ速度と試験スピ
ンドル・モータ速度との間を移行するための移行時間を
測定する計算手段と、スピンドル・モータの移行時間を
所定の移行時間と比較する比較手段とを含むスピンドル
・モータ低下検出回路をさらに含み、スピンドル・モー
タの移行時間と所定の移行時間との偏差によって、スピ
ンドル・モータのパフォーマンスの低下が示されること
を特徴とする、データを格納するシステム。 （１８）スピンドル・モータ低下検出回路の計算手段
が、初期スピンドル・モータ速度と試験スピンドル・モ
ータ速度とを検出する検出手段を含むことを特徴とす
る、上記（１７）に記載のシステム。 （１９）計算手段がタイマを含むことを特徴とする、上
記（１７）に記載のシステム。 （２０）比較手段が、メモリに結合されたマイクロプロ
セッサを含み、所定の移行時間がメモリに格納されるこ
とを特徴とする、上記（１７）に記載のシステム。
ピンドル・モータに取り付けられ、データを格納するデ
ータ記憶ディスクと、ディスクとの間でデータを転送す
る変換器と、ディスクの端から端まで変換器を移動させ
るアクチュエータと、ディスクとの間のデータの転送を
調整する制御装置とを有するデータ記憶装置のパフォー
マンスの低下を検出する方法において、初期速度でスピ
ンドル・モータを回転するステップと、試験速度でスピ
ンドル・モータを回転するステップと、スピンドル・モ
ータが初期速度と試験速度の間で移行するための所要時
間を計算するステップと、計算した移行時間を所定の移
行時間と比較するステップとを含み、計算した移行時間
と所定の移行時間との偏差によって、スピンドル・モー
タのパフォーマンスの低下が示されることを特徴とす
る、パフォーマンス低下検出方法。 （２）スピンドル・モータの初期速度がスピンドル・モ
ータの公称動作速度であり、スピンドル・モータの試験
速度が公称動作速度より低いスピンドル・モータ速度で
あることを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （３）スピンドル・モータの試験速度がスピンドル・モ
ータの公称動作速度であり、スピンドル・モータの初期
速度が試験速度より低いスピンドル・モータ速度である
ことを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （４）所定の移行時間を格納するステップをさらに含む
ことを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （５）計算した移行時間を所定の移行時間と比較するス
テップが、所定の移行時間を取り出すステップを含むこ
とを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （６）初期速度でスピンドル・モータを回転するステッ
プが、スピンドル・モータから電力を遮断するステップ
を含むことを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （７）初期速度でスピンドル・モータを回転するステッ
プと、試験速度でスピンドル・モータを回転するステッ
プと、スピンドル・モータが初期速度と試験速度との間
を移行するための所要時間として所定の移行時間を計算
するステップとを含む方法によって、所定の移行時間を
計算することを特徴とする、上記（１）に記載の方法。 （８）計算した移行時間を所定の移行時間と比較するス
テップが、計算した移行時間と所定の移行時間との時間
偏差を計算するステップと、計算した時間偏差が所定の
時間偏差より大きい場合にそれに応答して警告信号を生
成するステップとをさらに含むことを特徴とする、上記
（１）に記載の方法。 （９）スピンドル・モータの有効寿命中に定期的にパフ
ォーマンス低下検出方法が実行されることを特徴とす
る、上記（１）に記載の方法。 （１０）計算した移行時間と所定の移行時間との偏差の
大きさに応答して、パフォーマンス低下検出方法を実行
する頻度が調整されることを特徴とする、上記（９）に
記載の方法。 （１１）データ記憶ディスクを回転させるスピンドル・
モータに取り付けられ、データを格納するデータ記憶デ
ィスクと、ディスクとの間でデータを転送する変換器
と、ディスクの端から端まで変換器を移動させるアクチ
ュエータと、ディスクとの間でのデータの転送を調整す
る制御装置とを有するデータ記憶装置のパフォーマンス
の低下を検出する方法において、初期速度でスピンドル
・モータを回転するステップと、スピンドル・モータか
ら電力を遮断することに関連する開始時間にタイマを開
始するステップと、スピンドル・モータが試験速度を達
成したことに関連する終了時間にタイマを終了するステ
ップと、終了時間と開始時間との間の経過時間としてス
ピンドル・モータのコーストダウン時間を計算するステ
ップと、計算したスピンドル・モータのコーストダウン
時間を所定のコーストダウン時間と比較するステップと
を含み、所定のコーストダウン時間に対して計算したコ
ーストダウン時間の所要時間が短いことによって、スピ
ンドル・モータのパフォーマンスの低下が示されること
を特徴とする、パフォーマンス低下検出方法。 （１２）スピンドル・モータの初期速度がスピンドル・
モータの公称動作速度であり、スピンドル・モータの試
験速度がスピンドル・モータの公称動作速度より低いス
ピンドル・モータ速度であることを特徴とする、上記
（１１）に記載の方法。 （１３）所定のコーストダウン時間を格納するステップ
をさらに含むことを特徴とする、上記（１１）に記載の
方法。 （１４）計算したスピンドル・モータのコーストダウン
時間を所定のコーストダウン時間と比較するステップ
が、データ記憶装置に格納された所定のコーストダウン
時間を取り出すステップを含むことを特徴とする、上記
（１１）に記載の方法。 （１５）初期速度でスピンドル・モータを回転するステ
ップと、スピンドル・モータから電力を遮断することに
関連する開始時間にタイマを開始するステップと、スピ
ンドル・モータが試験速度を達成したことに関連する終
了時間にタイマを終了するステップと、終了時間と開始
時間との間の所要時間としてスピンドル・モータの所定
のコーストダウン時間を計算するステップとを含む方法
によって、所定のコーストダウン時間を計算することを
特徴とする、上記（１１）に記載の方法。 （１６）計算したコーストダウン時間を所定のコースト
ダウン時間と比較するステップが、計算したコーストダ
ウン時間と所定のコーストダウン時間との時間偏差を計
算するステップと、計算した時間偏差が所定の時間偏差
より大きい場合にそれに応答して警告信号を生成するス
テップとをさらに含むことを特徴とする、上記（１１）
に記載の方法。 （１７）ハウジングと、データ記憶ディスクと、ハウジ
ングに取り付けられ、データ記憶ディスクを回転できる
ようになっているスピンドル・モータと、ハウジングに
可動式に取り付けられているアクチュエータと、アクチ
ュエータに取り付けられている変換器とを含み、スピン
ドル・モータが初期スピンドル・モータ速度と試験スピ
ンドル・モータ速度との間を移行するための移行時間を
測定する計算手段と、スピンドル・モータの移行時間を
所定の移行時間と比較する比較手段とを含むスピンドル
・モータ低下検出回路をさらに含み、スピンドル・モー
タの移行時間と所定の移行時間との偏差によって、スピ
ンドル・モータのパフォーマンスの低下が示されること
を特徴とする、データを格納するシステム。 （１８）スピンドル・モータ低下検出回路の計算手段
が、初期スピンドル・モータ速度と試験スピンドル・モ
ータ速度とを検出する検出手段を含むことを特徴とす
る、上記（１７）に記載のシステム。 （１９）計算手段がタイマを含むことを特徴とする、上
記（１７）に記載のシステム。 （２０）比較手段が、メモリに結合されたマイクロプロ
セッサを含み、所定の移行時間がメモリに格納されるこ
とを特徴とする、上記（１７）に記載のシステム。
【図１】上部ハウジング・カバーを取り外した状態のデ
ータ記憶システムの平面斜視図である。
ータ記憶システムの平面斜視図である。
【図２】複数のデータ記憶ディスクを含むデータ記憶シ
ステムの側面図である。
ステムの側面図である。
【図３】通常条件下と劣化条件下で動作するスピンドル
・モータの典型的なコーストダウン時間曲線を示す一般
化グラフである。
・モータの典型的なコーストダウン時間曲線を示す一般
化グラフである。
【図４】通常条件下と劣化条件下で動作するスピンドル
・モータの典型的なスピンアップ時間曲線を示す一般化
グラフである。
・モータの典型的なスピンアップ時間曲線を示す一般化
グラフである。
【図５】新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順に
より製造時にスピンドル・モータの特性コーストダウン
時間を測定する方法を示す流れ図である。
より製造時にスピンドル・モータの特性コーストダウン
時間を測定する方法を示す流れ図である。
【図６】新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順に
よりスピンドル・モータの性能低下を検出する方法を示
す流れ図である。
よりスピンドル・モータの性能低下を検出する方法を示
す流れ図である。
【図７】新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順に
よりスピンドル・モータの性能低下を検出する方法を示
す図６の続きの流れ図である。
よりスピンドル・モータの性能低下を検出する方法を示
す図６の続きの流れ図である。
【図８】新規のスピンドル・モータ予測故障分析手順に
よりスピンドル・モータの性能低下を検出する代替方法
を示す流れ図である。
よりスピンドル・モータの性能低下を検出する代替方法
を示す流れ図である。
２０ データ記憶システム
２１ ハウジング
２２ ベース
２４ データ記憶ディスク
２５ ロード・ビーム
２６ スピンドル・モータ
２７ 変換器
２８ アクチュエータ・アーム
３０ アクチュエータ
３２ 固定アクチュエータ・シャフト
３４ コイル・フレーム
３５ スライダ・ボディ
３６ コイル・アセンブリ
３８ 永久磁石構造
３９ アクチュエータ・ボイス・コイル・モータ
４０ 上部磁石アセンブリ
４２ 下部磁石アセンブリ
４４ ギャップ
４６ 電源
５０ 同心トラック
５２ セクタ
５８ 制御装置
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 ゴードン・ジェイ・スミス
アメリカ合衆国55904 ミネソタ州ロチ
ェスターエス・イー カントリークリー
ク・コート 5321
(56)参考文献 特開 平６−295519（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 19/20
Claims (20)
- 【請求項１】データ記憶ディスクを回転させるスピンド
ル・モータに取り付けられ、データを格納するデータ記
憶ディスクと、ディスクとの間でデータを転送する変換
器と、ディスクの表面上で変換器を移動させるアクチュ
エータと、ディスクとの間のデータの転送を調整する制
御装置とを有するデータ記憶装置におけるスピンドル・
モータのパフォーマンスの低下を検出する方法におい
て、 初期速度でスピンドル・モータを回転するステップと、 試験速度でスピンドル・モータを回転するステップと、 スピンドル・モータ速度が初期速度と試験速度の間で移
行するための所要時間を計算するステップと、 計算した移行時間を所定の移行時間と比較するステップ
とを含み、 計算した移行時間と所定の移行時間との偏差によって、
スピンドル・モータのパフォーマンスの低下が示される
ことを特徴とする、パフォーマンス低下検出方法。 - 【請求項２】スピンドル・モータの初期速度がスピンド
ル・モータの公称動作速度であり、スピンドル・モータ
の試験速度が公称動作速度より低いスピンドル・モータ
速度であることを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】スピンドル・モータの試験速度がスピンド
ル・モータの公称動作速度であり、スピンドル・モータ
の初期速度が試験速度より低いスピンドル・モータ速度
であることを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項４】所定の移行時間をデータ記憶装置内のメモ
リ素子に格納するステップをさらに含むことを特徴とす
る、請求項１に記載の方法。 - 【請求項５】計算した移行時間を所定の移行時間と比較
するステップが、所定の移行時間をデータ記憶装置内の
メモリ素子から取り出すステップを含むことを特徴とす
る、請求項１に記載の方法。 - 【請求項６】初期速度でスピンドル・モータを回転する
ステップが、スピンドル・モータに供給される電力を遮
断するステップを含むことを特徴とする、請求項１に記
載の方法。 - 【請求項７】初期速度でスピンドル・モータを回転する
ステップと、 試験速度でスピンドル・モータを回転するステップと、 スピンドル・モータ速度が初期速度と試験速度との間を
移行するための所要時間として所定の移行時間を計算す
るステップとを含む方法によって、所定の移行時間を計
算することを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項８】計算した移行時間を所定の移行時間と比較
するステップが、 計算した移行時間と所定の移行時間との時間偏差を計算
するステップと、 計算した時間偏差が所定の時間偏差より大きい場合にそ
れに応答して警告信号を生成するステップとをさらに含
むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項９】スピンドル・モータの有効寿命中に定期的
にパフォーマンス低下検出方法が実行されることを特徴
とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項１０】計算した移行時間と所定の移行時間との
偏差の大きさに応じて、実施されるシステム応答を異な
らせることを特徴とする、請求項１〜９のいづれかの請
求項に記載の方法。 - 【請求項１１】データ記憶ディスクを回転させるスピン
ドル・モータに取り付けられ、データを格納するデータ
記憶ディスクと、ディスクとの間でデータを転送する変
換器と、ディスクの表面上で変換器を移動させるアクチ
ュエータと、ディスクとの間でのデータの転送を調整す
る制御装置とを有するデータ記憶装置におけるスピンド
ル・モータのパフォーマンスの低下を検出する方法にお
いて、 初期速度でスピンドル・モータを回転するステップと、 スピンドル・モータに供給される電力を遮断しながらタ
イマを始動するステップと、 スピンドル・モータ速度が試験速度とほぼ等しくなった
時点でタイマを停止するステップと、 終了時間と開始時間との間の経過時間として、スピンド
ル・モータ速度が初期速度と試験速度との間で移行する
のに必要な所要時間であるスピンドル・モータのコース
トダウン時間を計算するステップと、 計算したスピンドル・モータのコーストダウン時間を特
性コーストダウン時間と比較するステップとを含み、特性 コーストダウン時間に対して計算したコーストダウ
ン時間が短いことによって、スピンドル・モータのパフ
ォーマンスの低下が示されることを特徴とする、パフォ
ーマンス低下検出方法。 - 【請求項１２】スピンドル・モータの初期速度がスピン
ドル・モータの公称動作速度であり、スピンドル・モー
タの試験速度がスピンドル・モータの公称動作速度より
低いスピンドル・モータ速度であることを特徴とする、
請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１３】所定のコーストダウン時間をデータ記憶
装置内に格納するステップをさらに含むことを特徴とす
る、請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１４】計算したスピンドル・モータのコースト
ダウン時間を特性コーストダウン時間と比較するステッ
プが、データ記憶装置に格納された特性コーストダウン
時間を取り出すステップを含むことを特徴とする、請求
項１１に記載の方法。 - 【請求項１５】初期速度でスピンドル・モータを回転す
るステップと、 スピンドル・モータに供給される電力を遮断しながらタ
イマを始動するステップと、 スピンドル・モータ速度が試験速度とほぼ等しくなった
時点でタイマを停止するステップと、 終了時間と開始時間との間の所要時間としてスピンドル
・モータのコーストダウン時間を計算するステップとを
含む方法によって、特性コーストダウン時間を計算する
ことを特徴とする、請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１６】計算したコーストダウン時間を特性コー
ストダウン時間と比較するステップが、 計算したコーストダウン時間と特性コーストダウン時間
との時間偏差を計算するステップと、 計算した時間偏差が所定の時間偏差より大きい場合にそ
れに応答して警告信号を生成するステップとをさらに含
むことを特徴とする、請求項１１に記載の方法。 - 【請求項１７】ハウジングと、 データ記憶ディスクと、 ハウジングに取り付けられ、データ記憶ディスクを回転
できるようになっているスピンドル・モータと、 ハウジングに可動式に取り付けられているアクチュエー
タと、 アクチュエータに取り付けられている変換器とを含み、 スピンドル・モータ速度が初期スピンドル・モータ速度
と試験スピンドル・モータ速度との間を移行するための
移行時間を測定する計算手段と、 スピンドル・モータの移行時間を所定の移行時間と比較
する比較手段とを含むスピンドル・モータ低下検出回路
をさらに含み、 スピンドル・モータの移行時間と所定の移行時間との偏
差によって、スピンドル・モータのパフォーマンスの低
下が示されることを特徴とする、データを格納するシス
テム。 - 【請求項１８】スピンドル・モータ低下検出回路の計算
手段が、初期スピンドル・モータ速度と試験スピンドル
・モータ速度とを検出する検出手段を含むことを特徴と
する、請求項１７に記載のシステム。 - 【請求項１９】計算手段がタイマを含むことを特徴とす
る、請求項１７に記載のシステム。 - 【請求項２０】比較手段が、メモリに結合されたマイク
ロプロセッサを含み、 所定の移行時間がメモリに格納されることを特徴とす
る、請求項１７に記載のシステム。
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| US5287363A (en) * | 1991-07-01 | 1994-02-15 | Disk Technician Corporation | System for locating and anticipating data storage media failures |
| US5115225A (en) * | 1990-11-13 | 1992-05-19 | Compaq Computer Corporation | Disk drive unit overheating warning system |
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-
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-
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