JPH0817156A - データ記録再生装置及びそのディスク検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】ヘッドのリード／ライト位置とディスクの突起
部との接触を直接検出することにより、ディスクに存在
する突起部の測定または検出を高精度に行なうことがで
きる。また、ＡＥセンサを駆動するような特別の回路を
必要とすることなく、前記測定または検出を高精度に行
なうことができる。 【構成】ＭＲ型ヘッド１の熱抵抗値変化特性を利用し
て、ヘッド３がディスク４の表面上に存在する突起部に
接触したことを検出する。この検出結果を利用して、デ
ィスク４の表面上に存在する突起部の分布を測定する。
また、ヘッド３の浮上量とディスク４の回転数との関係
も考慮することにより、ヘッド３の浮上量を評価する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、特にハードディスク装
置等のディスクを記録媒体としたデータ記録再生装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えばハードディスク装置（ＨＤ
Ｄ）等のデータ記録再生装置では、データの記録媒体と
してディスクが使用されている。このディスクに対し
て、ヘッドが近接してデータの記録再生（リード／ライ
ト）を実行する。ヘッドは、高速回転しているディスク
の表面上を微小な距離をもって浮上した状態で、データ
のリード／ライトを実行する。

【０００３】ディスクは、鏡面加工等により表面が高度
の平滑性を有しているが、グライドハイトと称するよう
な微小な突起部が存在する。この突起部の高さがヘッド
の浮上量に影響するような許容範囲外であると、シーク
動作中のヘッドがその突起部に衝突する事態が発生す
る。

【０００４】このため、例えばＨＤＤの製造工程におい
て、ディスクの表面に存在する突起部の分布測定を行な
って、この測定結果に基づいてディスクの品質評価を行
なうことが重要となる。また、突起部の高さが許容範囲
内であっても、ヘッドの浮上量が異常な場合には、ヘッ
ドの衝突現象が発生することがある。したがって、突起
部の測定により、ヘッドの浮上量を評価することも重要
である。さらに、ディスクの突起異常（許容範囲外の突
起部の存在）またはヘッドの浮上量異常により、ヘッド
の衝突現象が発生した場合に、データの破壊等を防止す
るために、ヘッドのシーク動作停止等の誤動作処理が必
要である。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前記のように、ディス
クの品質評価、ヘッドの浮上量の評価またはヘッドの衝
突現象が発生した場合の誤動作処理には、ディスク上に
存在する突起部の測定または検出処理が重要な要因とな
る。

【０００６】従来では、ヘッドの移動機構（ヘッドアク
チュエータ）の構成要素であるヘッドアームにＡＥ（ａ
ｃｏｕｓｔｉｃ ｅｍｉｓｓｉｏｎ）センサを設けて、
ヘッドが突起部に衝突したときの衝撃を検出する方式が
ある。また、同様に衝撃を検出する方式として、ヘッド
スライダにピエゾ素子からなる衝撃センサを設けたもの
がある。このような従来の方式では、ヘッド全体と突起
部との衝突を検出することになり、実際にデータのリー
ド／ライトを行なうヘッドの磁気ギャップ位置（または
素子の位置）、即ちリード／ライト位置での検出はでき
ない。このため、突起部の分布測定を高精度に行なうこ
とは困難である。例えばヘッドスライダにピエゾ素子を
設ける方式では、ヘッドのＡＢＳ（ａｉｒ ｂｅａｒｉ
ｎｇ ｓｌｉｄｅｒ）面と称するディスクとの対向面の
幅が突起部の検出範囲となる。したがって、ＡＢＳ面が
２つある方式（２レール・テーパフラット・ヘッド）が
通常であるため、１つの突起部を２回検出するような欠
点がある。また、ＡＥセンサを使用する方式では、ＡＥ
センサを駆動する特別の回路が必要となるため、ＨＤＤ
の製造コストの増大や構成の複雑化を招く問題がある。

【０００７】本発明の第１の目的は、ヘッドのリード／
ライト位置とディスクの突起部との接触を直接検出する
ことにより、ディスクに存在する突起部の測定または検
出を高精度に行なうことができるデータ記録再生装置を
提供することにある。また、本発明の第２の目的は、Ａ
Ｅセンサを駆動するような特別の回路を必要とすること
なく、ディスクに存在する突起部の測定または検出を高
精度に行なうことができるデータ記録再生装置を提供す
ることにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、ヘッドが回転
運動中のディスク上を浮上した状態で、ディスクにデー
タのリード／ライトを実行するデータ記録再生装置にお
いて、例えばヘッドを構成するＭＲ型ヘッドの熱抵抗変
化特性を利用して、ヘッドがディスクの表面上に存在す
る突起部に接触したことを検出する手段を備えた装置で
ある。

【０００９】

【作用】本発明では、ＭＲ型ヘッドの発熱に応じた抵抗
値変化を検出する検出手段が設けられている。この検出
された抵抗値変化に基づいて、ヘッドがディスクの表面
上に存在する突起部に接触したことが判定される。この
判定結果を利用して、ディスクの表面上に存在する突起
部の分布が測定される。また、ヘッドの浮上量とディス
クの回転数との関係も考慮することにより、ヘッドの浮
上量が評価される。このような熱抵抗変化方式により、
ヘッドのリード／ライト位置とディスクの突起部とが接
触したときに、ヘッドの衝突を検出することができるた
め、ディスクの突起部の分布の評価を正確に行なうこと
ができる。同様に、ディスクの表面からのヘッドの浮上
量の評価を正確に行なうことができる。

【００１０】

【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。図１は同実施例に係わるハードディスク装置（ＨＤ
Ｄ）の要部を示すブロック図、図２は同実施例に係わる
突起部の分布測定に関する動作を説明するためのフロー
チャート、図３は同実施例に係わるヘッドの浮上量測定
に関する動作を説明するためのフローチャート、図４は
同実施例の動作を説明するための概念図、図５は本発明
の他の実施例を説明するための図である。 （ＨＤＤの構成）同実施例では、データ記録再生装置と
してＨＤＤを想定して説明する。ＨＤＤは、図１に示す
ように、記録媒体であるディスク４を回転駆動するため
のディスク回転機構およびヘッド３をディスク４の半径
方向に移動させるためのヘッド駆動機構を有する。ディ
スク回転機構は、スピンドルモータ５とそのモータドラ
イバ（モータ駆動回路）６からなる。同実施例では、デ
ィスク４は便宜的に１枚とする。

【００１１】ヘッド駆動機構は、ヘッド３を保持するヘ
ッドアクチュエータ７、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）
８およびそのＶＣＭドライバ（ＶＣＭ駆動回路）９から
なる。ヘッドアクチュエータ７はＶＣＭ８により回転駆
動されて、ヘッド３をディスク４上の指定されたトラッ
ク（シリンダ）に位置決めする。スピンドルモータ５の
ドライバ６とＶＣＭ８のドライバ９は、ＣＰＵ１２の制
御によりそれぞれのモータに駆動電流を供給する。

【００１２】ヘッド３は１枚のディスク４の両面に対向
して設けられている。同実施例ではディスク４が１枚の
場合を想定しているので、２個のヘッド３を想定する。
ヘッド３は、ＭＲ（ｍａｇｎｅｔｏ ｒｅｓｉｓｔｉｖ
ｅ）型ヘッドからなる再生用ヘッド１と薄膜ヘッドから
なる記録用ヘッド２とが一体化された複合型ヘッドであ
る。

【００１３】ここで、ＭＲ型ヘッド１は、磁気抵抗効果
を利用して、ディスクの表面に発生する記録磁界を抵抗
値の変化として検出するヘッドである。ＭＲ型ヘッド１
は、バイアス電流を加えて、抵抗値の変化を端子間電圧
の変化として記録データを検出する原理からなる。さら
に、ＭＲ型ヘッド１は、記録磁界による抵抗値変化は微
小であり、そのときに温度変化が発生するとノイズとし
て抵抗値変化に加算される。即ち、ＭＲ型ヘッド１とデ
ィスク４の突起部とが接触したときに、接触摩擦による
発熱が発生し、この発熱による急激な温度変化が生ずる
と、抵抗値変化は顕著になる。本発明では、このＭＲ型
ヘッド１の熱抵抗特性を利用して、ディスク４の突起部
との衝突を検出する。

【００１４】さらに、ＨＤＤは、ヘッドアンプ１０、リ
ード／ライト回路１１、ＣＰＵ１２、Ａ／Ｄ変換回路１
３およびメモリ１４を有する。ヘッドアンプ１０は、Ｍ
Ｒ型ヘッド１から出力された抵抗値変化に応じたリード
信号（電気信号）を増幅し、リード／ライト回路１１に
出力する。リード／ライト回路１１は、データの記録／
再生処理を行なう回路であり、再生用ヘッドであるＭＲ
型ヘッド１から読出されたリード信号をディジタルの再
生データに変換する。また、リード／ライト回路１１
は、ホストコンピュータから転送された記録データをラ
イト信号（書込み電流）に変換する。ヘッドアンプ１０
はライト信号を増幅して記録用ヘッド２に供給する。

【００１５】Ａ／Ｄ変換回路１３は、ヘッドアンプ１０
から出力されたリード信号をディジタルデータに変換し
てＣＰＵ１２に出力する。このＡ／Ｄ変換回路１３は、
ＭＲ型ヘッド１がディスク４の突起部に衝突（接触）し
たときに、その発熱による抵抗値変化に応じた電気信号
レベルをディジタルデータに変換するための構成要素で
ある。

【００１６】ＣＰＵ１２は、ＨＤＤの制御を行なうマイ
クロプロセッサであり、後述するように同実施例に関係
するヘッドとディスクとの衝突検出、ディスクの突起部
の分布測定、ヘッドの浮上量評価、およびヘッドとディ
スクとの衝突に応じた制御動作を実行する。メモリ１４
は、ＣＰＵ１２のデータ処理に必要な各種データを記憶
するＲＡＭであり、同実施例に関係する分布測定結果や
浮上量評価結果等を記憶する。

【００１７】なお、ＨＤＤには、ヘッド３をディスク４
の目標位置（目標トラック）まで移動して位置決めする
ヘッド位置決め制御を行なうために必要なサーボコント
ローラ等が設けられている。同実施例では、便宜的にサ
ーボコントローラ等の説明を省略し、ＣＰＵ１２がヘッ
ド位置決め制御を実行していると想定して説明する。

【００１８】次に、同実施例の動作を説明する。 （衝突検出動作）まず、本発明の基本的動作として、ヘ
ッド３はＶＣＭ８の駆動力により、ディスク４の半径方
向に移動（シーク）し、ＣＰＵ１２の制御により目標ト
ラックに位置決めされる。このとき、複合型ヘッド３
は、再生専用のＭＲ型ヘッド１が目標トラックからデー
タを読出すリード動作を実行する。また、薄膜ヘッドで
ある記録用ヘッド２がデータを書込むライト動作を実行
する。

【００１９】ここで、ＣＰＵ１２は、Ａ／Ｄ変換回路１
３から出力されるディジタルデータにより、ＭＲ型ヘッ
ド１の抵抗値変化を監視する。ヘッド３は高速回転して
いるディスク４上を僅かな浮上量をもって浮上してお
り、シーク中または目標トラック上に位置決めされてい
る。このとき、ディスク４の表面に許容範囲外の突起部
が存在すれば、この突起部とヘッド３のＭＲ型ヘッド１
が衝突することがある。この場合、突起部は許容範囲内
でも、ヘッド３の浮上量が許容範囲外の異常であれば、
同様に衝突現象が発生する。

【００２０】ＭＲ型ヘッド１はディスク４の突起部と衝
突（接触）した場合に、前記のように、発熱による急激
な温度変化が生じて、抵抗値変化が顕著になる。ＣＰＵ
１２は、抵抗値変化が予め設定した基準値以上であれ
ば、ＭＲ型ヘッド１がディスク４の突起部と衝突したこ
とを検出する。この検出結果に基づいて、ＣＰＵ１２
は、例えばヘッド３のシーク動作を停止させ、さらにデ
ータの記録再生処理を停止させる。これにより、衝突の
衝撃により、ヘッド３が目標トラック以外のトラックに
移動して、データの書込みを実行してデータの破壊が起
こるような事態を防止できる。また、ヘッド３をディス
ク４のＣＳＳエリアに復帰させることにより、ヘッド３
が破壊されるヘッドクラッシュを防止することができ
る。 （突起部の分布測定動作）次に、本発明を適用して、特
にＨＤＤの製造工程時にディスク４に存在する突起部の
分布測定を行なう場合について、図２のフローチャート
を参照して説明する。

【００２１】この動作では、図４（Ａ）に示すように、
例えばディスク４のトラック４ａ毎に存在する突起部４
ｂの分布を測定する。即ち、ＣＰＵ１２は、ヘッド３を
シークさせて、ＭＲ型ヘッド１を所定のトラック位置に
位置決めする（ステップＳ１）。ディスク４は回転して
いるため、そのトラック位置に許容範囲外の突起部４ｂ
が存在すれば、ＭＲ型ヘッド１に衝突する。ここでは、
ヘッド３の浮上量は正常であると想定する。

【００２２】ＣＰＵ１２は、前記の基本動作のように、
抵抗値変化が予め設定した基準値以上であれば、ＭＲ型
ヘッド１がディスク４の突起部４ｂと衝突したことを検
出する（ステップＳ２，Ｓ３のＹＥＳ）。ＣＰＵ１２
は、突起部４ｂとトラック位置との関係を示す突起分布
テーブルを作成し、メモリ１４に記憶する（ステップＳ
４）。このような処理を各トラック毎に繰り返す（ステ
ップＳ５）。

【００２３】測定処理が終了すると、ＣＰＵ１２はメモ
リ１４から突起分布テーブルを読出し、例えばＨＤＤの
インターフェースを介してホストコンピュータに出力す
る（ステップＳ６）。この測定結果である突起分布テー
ブルにより、図４（Ａ）に示すように、ディスク４に存
在する突起部４ｂの分布を確認することができる。ま
た、ＨＤＤの製造工程において、各構成部品（ヘッドや
ディスク等）を装置本体内に取り付けた後（ヘッドアセ
ンブリと称するヘッド機構の組み立て後）に、前記の測
定動作を行なうことにより、未然に製品不良の発生を防
止することができる。 （ヘッドの浮上量評価動作）さらに、本発明を適用し
て、ＨＤＤの製造工程時に、ディスク４の突起部の存在
を前提として、ヘッド３の浮上量評価を行なう場合につ
いて、図３のフローチャートを参照して説明する。

【００２４】まず、ＨＤＤでは、ディスク４の高速回転
運動に伴って発生する空気動圧により、ヘッド３がディ
スク４上に浮上する。この場合、ディスク４の回転数と
ヘッド３の浮上量とは、およそ図４（Ｂ）に示すような
関係になっている。即ち、回転数が低下すると、浮上量
も低下する。

【００２５】同実施例では、ＣＰＵ１２は、定格回転数
よりやや低い回転数で、ディスク４を回転運動させる
（ステップＳ１０）。次に、ＣＰＵ１２は、ＶＣＭ８を
制御してヘッド３をディスク４の半径方向にシークさせ
る（ステップＳ１１）。このとき、ＣＰＵ１２は、Ａ／
Ｄ変換回路１３を介して、ＭＲ型ヘッド１から出力され
るリード信号レベルにより、抵抗値変化を監視する。こ
の抵抗値変化が予め設定した基準値以上であれば、ＭＲ
型ヘッド１がディスク４の突起部と接触したことを検出
する（ステップＳ１２）。

【００２６】ＣＰＵ１２は、ＭＲ型ヘッド１とディスク
４の突起部とが接触したときの回転数をメモリ１４に記
憶する（ステップＳ１３）。ＣＰＵ１２は、メモリ１４
に記憶した検査データに基づいて、ヘッド３の浮上量を
評価する（ステップＳ１４）。即ち、ディスク４の回転
数とヘッド３の浮上量との関係から、ヘッド３の浮上量
を推定することができる。一方、ディスク４に存在する
突起部の高さを予め推定することができる。したがっ
て、ディスク４の所定の回転数に基づいて、ヘッド３と
ディスク４に存在する突起部との接触の有無により、実
際のヘッド３の浮上量が推定される基準浮上量に対して
正常か否かを評価することができる。

【００２７】このような浮上量の検査処理を、ディスク
４の回転数を変化させながら実行し、ＣＰＵ１２はディ
スク４の回転数毎の評価結果をメモリ１４に記憶する。
検査処理が終了すると、ＣＰＵ１２はメモリ１４に記憶
した浮上量の評価結果を出力する（ステップＳ１５のＹ
ＥＳ，Ｓ１６）。この浮上量の評価結果に基づいて、例
えばホストコンピュータは、ヘッド３の浮上量が異常で
あるか否かを検査する。また、逆にヘッド３の浮上量は
正常であるが、ディスク４に存在する突起部が許容範囲
外であるか否かを検査する。

【００２８】この浮上量の評価動作の変形例を、図６の
フローチャートを参照して説明する。即ち、ＣＰＵ１２
は、ＶＣＭ８を制御してヘッド３をディスク４の最内周
にシークさせる（ステップＳ２０）。ディスク４の内周
側は、外周側と比較して回転運動時の相対速度が異なり
遅くなる。したがって、ディスク４の最内周では、相対
速度に対応するヘッド３の浮上量が最小値となり、浮上
量評価としては厳しいものとなる。

【００２９】次に、ＣＰＵ１２は、定格回転数よりやや
高い回転数で、ディスク４を回転運動させる（ステップ
Ｓ２１）。したがって、ヘッド３の浮上量を比較的高い
状態に設定する。

【００３０】この状態において、ＣＰＵ１２はＡ／Ｄ変
換回路１３を介して、ＭＲ型ヘッド１から出力されるリ
ード信号レベルにより、抵抗値変化を監視する。この抵
抗値変化が予め設定した基準値以上であれば、ＭＲ型ヘ
ッド１がディスク４の突起部と接触したことを検出する
（ステップＳ２２）。検出しない場合には、ＣＰＵ１２
は、ディスク４の回転数を所定の値まで低下させて、抵
抗値変化を監視する動作を継続する（ステップＳ２２の
ＮＯ，Ｓ２３）。

【００３１】ＣＰＵ１２は、ＭＲ型ヘッド１とディスク
４の突起部とが接触したときの回転数に基づいて、ヘッ
ド３の浮上量を算出する（ステップＳ２４）。即ち、図
４（Ｂ）に示すような特性図から、ヘッド３の浮上量を
推定する。そして、ＣＰＵ１２は、ディスク４の回転
数、突起部との接触、および算出した浮上量に基づい
て、ヘッド３の浮上量が適正か否かを総合的に評価する
（ステップＳ２５）。 （他の実施例）図５は本発明の他の実施例に係わる図で
ある。前記実施例は、ヘッド３の再生用ヘッドであるＭ
Ｒ型ヘッド１の熱抵抗変化特性を利用して、ヘッドとデ
ィスク４の突起部との接触（衝突）を検出する方式であ
る。これに対して、他の実施例として、図５（Ａ）に示
すように、ヘッド３のスライダ３ａに熱抵抗変化率の大
きい熱抵抗変化素子（例えば半導体素子）２０を設けた
方式を説明する。

【００３２】熱抵抗変化素子２０は、図５（Ｂ）に示す
ように、スライダ３ａのＡＢＳ面３ｂの一方で、ＭＲ型
ヘッド１等が設けられているリード／ライト位置の近傍
に配置されている。

【００３３】この方式では、図５（Ｃ）に示すように、
熱抵抗変化素子２０の抵抗値変化を検出して、電気信号
に変換する抵抗値変化検出回路２１が設けられている。
この抵抗値変化検出回路２１は、図１に示すヘッドアン
プ１０とＡ／Ｄ変換回路１３に相当する回路であり、検
出信号をＣＰＵ１２に出力する。即ち、図５（Ａ）に示
すように、高速回転運動しているディスク４に対して、
その表面に存在する突起部４ｂとヘッドスライダ３ａの
熱抵抗変化素子２０とが接触すると、抵抗値変化検出回
路２１は発熱による抵抗値変化を検出して、その検出信
号をＣＰＵ１２に出力する。この検出信号に基づいて、
ＣＰＵ１２は、前記実施例と同様のヘッドとディスクと
の衝突検出、ディスクの突起部の分布測定、ヘッドの浮
上量評価、およびヘッドとディスクとの衝突に応じた制
御動作を実行する。

【００３４】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、Ｍ
Ｒ型ヘッドまたは熱抵抗変化素子の熱抵抗値変化特性を
利用して、ディスク上に存在する突起部とヘッドとの接
触を検出する。この場合、突起部とヘッドとの接触を検
出する検出位置は、ヘッドのリード／ライト位置または
その近傍である。したがって、ヘッド全体と突起部との
衝突を検出する従来方式とは異なり、高精度に検出する
ことができる。

【００３５】この検出結果を利用して、ディスク上に存
在する突起部の分布測定、ヘッドの浮上量の評価、およ
び突起部とヘッドとの接触に応じた誤動作処理を確実に
実行することができる。さらに、本発明によれば、ＡＥ
センサを駆動するような特別の回路を必要とすることな
く、簡単な抵抗値変化を検出するための検出回路により
突起部とヘッドとの接触を検出することができる。した
がって、製造コストの増大や構成の複雑化を招くことは
ない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例に係わるハードディスク装置
（ＨＤＤ）の要部を示すブロック図。

【図２】同実施例に係わる突起部の分布測定に関する動
作を説明するためのフローチャート。

【図３】同実施例に係わるヘッドの浮上量測定に関する
動作を説明するためのフローチャート。

【図４】同実施例の動作を説明するための概念図。

【図５】本発明の他の実施例を説明するための図。

【図６】本発明の実施例においてヘッドの浮上量測定に
関する変形例を説明するためのフローチャート。

【符号の説明】

１…ＭＲ型ヘッド、２…記録用ヘッド（薄膜ヘッド）、
３…ヘッド、３ａ…ヘッドスライダ、４…ディスク、５
…スピンドルモータ、８…ボイスコイルモータ、１０…
ヘッドアンプ、１１…リード／ライト回路、１２…ＣＰ
Ｕ、１３…Ａ／Ｄ変換回路、１４…メモリ。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転運動の状態でデータを記録再生する
   ためのディスクと、 このディスク上を浮上して前記ディスクに対して前記デ
   ータのリード／ライト動作を実行するヘッドと、 回転運動中の前記ディスク上に位置する前記ヘッドから
   熱抵抗変化に応じた出力信号を検出する検出手段と、 この検出手段により検出された熱抵抗変化に基づいて、
   前記ヘッドが前記ディスクの表面上に存在する突起部に
   接触したことを判定する判定手段とを具備したことを特
   徴とするデータ記録再生装置。
2. 【請求項２】 回転運動の状態でデータを記録再生する
   ためのディスクと、 このディスク上を浮上して前記ディスクに対して前記デ
   ータのリード／ライト動作を実行するヘッドと、 回転運動中の前記ディスク上に位置する前記ヘッドから
   熱抵抗変化に応じた出力信号を検出する検出手段と、 この検出手段により検出された熱抵抗変化に基づいて、
   前記ヘッドが前記ディスクの表面上に存在する突起部に
   接触したことを検出し、この検出結果に基づいて前記デ
   ィスクの表面上に存在する前記突起部の分布を測定する
   測定手段とを具備したことを特徴とするデータ記録再生
   装置。
3. 【請求項３】 回転運動の状態でデータを記録再生する
   ためのディスクと、 磁気抵抗効果素子を有し、前記ディスク上を浮上して前
   記ディスクの記録磁界に応じた抵抗値変化または前記デ
   ィスクの表面との接触による発熱に応じた抵抗値変化を
   電気信号に変換して出力するＭＲ型ヘッドと、 このＭＲ型ヘッドから出力された電気信号のレベルに基
   づいて、前記発熱に応じた抵抗値変化を検出したとき
   に、前記ディスクの表面上に存在する突起部に前記ＭＲ
   型ヘッドが接触したことを検出する検出手段とを具備し
   たことを特徴とするデータ記録再生装置。
4. 【請求項４】 回転運動の状態でデータを記録再生する
   ためのディスクと、 磁気抵抗効果素子を有し、前記ディスク上を浮上して前
   記ディスクの記録磁界に応じた抵抗値変化を電気信号に
   変換して出力するＭＲ型ヘッドと、 このＭＲ型ヘッドから出力された電気信号のレベルに基
   づいて、前記レベル値が異常の場合に前記ヘッドが前記
   ディスクの表面上に存在する突起部に接触して発熱によ
   る前記抵抗値変化が生じたと判定し、この判定結果に基
   づいて前記ディスクの表面上に存在する前記突起部の分
   布を測定する測定手段とを具備したことを特徴とするデ
   ータ記録再生装置。
5. 【請求項５】 回転運動の状態でデータを記録再生する
   ためのディスクと、 磁気抵抗効果素子を有し、前記ディスク上を浮上して前
   記ディスクの記録磁界に応じた抵抗値変化を電気信号に
   変換して出力するＭＲ型ヘッドと、 このＭＲ型ヘッドから出力された電気信号のレベルに基
   づいて、前記レベル値が異常の場合に前記ヘッドが前記
   ディスクの表面上に存在する突起部に接触して発熱によ
   る前記抵抗値変化が生じたと判定し、前記レベル値の異
   常が発生した場合にデータの記録再生動作を停止する制
   御手段とを具備したことを特徴とするデータ記録再生装
   置。
6. 【請求項６】 データを記録再生するためのディスク、
   このディスクを回転運動させるディスク回転機構、前記
   ディスクの記録磁界に応じた抵抗値変化を電気信号に変
   換して出力するＭＲ型ヘッド、および前記ＭＲ型ヘッド
   から出力された電気信号を検出する検出手段を備えたデ
   ータ記録再生装置において、 前記ディスク回転機構により前記ディスクを所定の回転
   数で回転運動させるステップと、 回転運動中の前記ディスク上に位置する前記ＭＲ型ヘッ
   ドから前記抵抗値変化に応じた前記電気信号を検出する
   ステップと、 検出された前記電気信号のレベルに基づいて前記抵抗値
   変化が異常である場合に、前記ヘッドが前記ディスクの
   表面上に存在する突起部に接触するような突起異常また
   は前記ヘッドの浮上量異常が発生していると判定するス
   テップとからなることを特徴とするディスク検査方法。
7. 【請求項７】 データを記録再生するためのディスク、
   このディスクを回転運動させるディスク回転機構、前記
   ディスクの記録磁界に応じた抵抗値変化を電気信号に変
   換して出力するＭＲ型ヘッド、および前記ＭＲ型ヘッド
   から出力された電気信号を検出する検出手段を備えたデ
   ータ記録再生装置において、 前記ディスク回転機構により前記ディスクを定格回転数
   より低い回転数で回転運動させるステップと、 回転運動中の前記ディスク上に位置する前記ＭＲ型ヘッ
   ドから前記抵抗値変化に応じた前記電気信号を検出する
   ステップと、 検出された前記電気信号のレベルに基づいて前記抵抗値
   変化が異常である場合に、前記ヘッドが前記ディスクの
   表面上に存在する突起部に接触したと判定するステップ
   と、 前記突起部に接触したと判定したときに、前記回転運動
   中の前記ディスクの回転数を求めるステップと、 求めた前記ディスクの回転数に基づいて、前記ディスク
   の回転数に対する前記ＭＲ型ヘッドの浮上量を評価する
   ステップとからなることを特徴とするディスク検査方
   法。
8. 【請求項８】 回転運動の状態でデータを記録再生する
   ためのディスクと、 このディスク上を浮上して前記ディスクに対して前記デ
   ータのリード／ライト動作を実行し、前記ディスクの表
   面と対向するスライダ部に熱抵抗変化素子が設けられた
   ヘッドと、 このヘッドが回転運動中の前記ディスク上に位置すると
   きに、前記熱抵抗変化素子から熱抵抗変化に応じた出力
   信号を検出する検出手段と、 この検出手段により検出された熱抵抗変化に基づいて、
   前記ヘッドが前記ディスクの表面上に存在する突起部に
   接触したことを判定する判定手段とを具備したことを特
   徴とするデータ記録再生装置。