JP3377385B2 - ピンホール検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、包装体の内部に内
容物を充填した物品のピンホールを検査するピンホール
検査装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】食材等（たとえばソーセージ、チーズ蒲
鉾、竹輪等）の製品は、一般的に陳列棚等に陳列して販
売される場合が多い。 【０００３】ところで、製品を包装しないで陳列すると
製品が空気に触れて酸化してしまったり、雑菌が付着し
て腐食してしまうため非衛生的である。そして、腐食等
をした製品は廃棄処分等をする以外にはなく製品が多量
に無駄なってしまう。 【０００４】そこで、食材等が外気に触れないようにす
るため合成樹脂等の包装体で密閉包装を施し、さらにこ
の包装体の両端をシールして衛生的で長期保存に耐えら
れるようにしている。 【０００５】このように樹脂材料等で形成された包装体
の内部に食材等を充填した多数の製品が市場に流通し販
売されている。ところで、密閉包装された製品であって
も包装体に穴、破れ、シール不良（以下ピンホールとい
う）があったのでは、非包装製品と同様にその部分から
酸化や腐食が広がってしまう。 【０００６】そこで、あらかじめ製品を市場に流通させ
る前に包装体に開いたピンホールを検査する必要があり
従来より多くのピンホール検査装置が使用されている。
このピンホール検査装置は、図９が示すように電荷を帯
電する帯電体２０を流路の中央に配置し、電荷を放電す
るアース２１を流路の両端に備え、この帯電体２０とア
ース２１に設けたブラシ状の陽極２２と陰極２３に被検
査物を接触させて流れた電流の大小で包装体のピンホー
ルの有無を検査していた。 【０００７】すなわち、包装体にピンホールが存在する
とこのピンホールから導電体である食材等の内容物を通
じて大きな電流が流れる。これと比較しピンホールがな
い場合は、絶縁体である包装体の表面しか電流が流れな
いために流れる電流値が小さい。 【０００８】この現象を利用し電源供給装置を通じて帯
電体２０から製品に正電荷を与え、製品を通じてアース
２１に所定値以上の大きさの電流が流れた場合、包装体
にピンホールがある不良品と判定している。 【０００９】そして、不良品と判定した場合は、赤色灯
等を発光させながらブザー音等を出力するとともに、流
路の出口側の流出シュートにゲート等を設けて不良品を
他方の分岐シュートに排出している。 【００１０】 【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなピ
ンホール検査装置では、帯電体２０とアース２１にそれ
ぞれ設けたブラシ状の陽極２２と陰極２３に被検査物品
を接触させているため、被検査物品の表面を通じて必要
以上に大きな電流が面電流としてアース２１まで流れて
しまう。 【００１１】すると、良品であるにもかかわらず所定値
以上の大きさの電流が流れ不良品と判定される割合が多
くなってしまうという問題がある。具体的に良品が不良
品と判定される割合は、全体のうち約５％程度であっ
て、この５％の中には、確かに不良品も含まれているが
包装装置によって包装された製品に通常５％もの不良品
が存在することは考えられない。 【００１２】現にこの５％の中には、相当数の良品が含
まれているので不良品と判定された製品の中からさらに
良品を選別しなければならないという問題もある。ま
た、陽極２２及び陰極２３を密集したブラシ状としてい
るために静電気によってこれらの電極に多量の塵や埃が
付着して製品が汚れてしまったり、検査精度が低下する
という問題もある。 【００１３】さらに、これらブラシ状の電極は、金属等
からなる細長い導電体を多数植え付けたものなので、長
期間同一形状の製品を検査していると製品の形状に合わ
せるようにブラシの形状が変形してしまう。 【００１４】このようにブラシの形状が変形するとこれ
までと異なる形状の製品を再度検査する際に電極が製品
に接触できない場合もある。ところで、円筒状等の製品
の両端には包装体をシールするシール部２４があり、特
にピンホールはこのシール部２４で多く発生する。 【００１５】そのため、ブラシの変形によって電極が広
がったり湾曲したりするとシール部２４に電極が接触で
きなくなり、この部分の検査精度が落ちてしまうという
問題もあった。 【００１６】本発明は、前記事項に鑑み改良を加えたも
のである。すなわち、良品を不良品と判定する誤判定を
防ぎ検査精度の向上を図るとともに、塵や埃の付着が少
ない電極を備えることにより製品の汚れや検査精度の低
下を防止し、さらに、長時間検査に使用しても変形しな
い電極とすることにより高い信頼性を維持することがで
きるピンホール検査装置を提供することを技術的課題と
する。 【００１７】 【課題を解決するための手段】本発明に係る特徴は、包
装体の内部に内容物を充填した被検査物品のピンホール
を検査するピンホール検査装置において、内部を中空と
した部材の内側周辺に少なくとも１つの電極を備え、電
流を空間に放電することでこの空間中に存する被検査物
品に電荷を帯電する放電体と、前被検査物品の少なくと
も１点に接触してこの被検査物品に帯電した電荷を大地
へと放電するアースと、前記被検査物品を放電体による
帯電位置からアースによる放電位置へと搬送する搬送装
置と、前記アースを通じて流れた電流値を検出する電流
検出装置とを備え、前記電流検出装置により検出した電
流値の大小により前記被検査物品のピンホールの有無を
検出することを特徴としたピンホール検査装置としたこ
とである。 【００１８】 【００１９】 【００２０】本願発明は、放電体から非接触で被検査物
品に正電荷を帯電していること及びアースに設けた電極
を被検査物品に点接触させているため、必要以上の電流
が被検査物品の表面を通じて放電体からアースまで瞬時
にして流れてしまうことを防止することができる。 【００２１】また、本発明は、放電体の電極から被検査
物品の表面全体にかけて高電圧を印可できるためピンホ
ールの検出漏れを起こすことがない。 【００２２】 【発明の実施の形態】以下、本実施の形態に係るピンホ
ール検査装置１を図１〜８に基づいて説明する。 （１）最初に、本実施の形態に係るピンホール検査装置
１の概略を説明する。 【００２３】まず、このピンホール検査装置１は、図１
が示すように被検査物品９を搬送するローラ６を備えた
コンベヤ等からなる搬送装置７と、被検査物品９を挟み
込んで搬送する搬送ローラ８Ａ，８Ｂと、被検査物品９
に正電荷を帯電する放電体２と、帯電した被検査物品９
から電流を放電させるアース３に設けた陰極３Ａ，３
Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅとで構成している。 【００２４】なお、この電流は、交流電流を整流回路に
より整流しさらに整形波形回路により整形波形した直流
電流である。さらに、放電体２に所定の電圧を印可する
電源供給装置４と、被検査物品９を通じて流れた電流値
を検出する電流検出装置５と、図示はしていないがピン
ホール検査装置１を制御する制御装置とで構成してい
る。 【００２５】そして、放電体２によって帯電された被検
査物品９が陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅに接触す
るとアース３を通じて電流が放電される。この放電され
た電流を電流検出装置で検出し、電流値が所定値以上の
場合に被検査物品９の包装体にピンホールが生じている
と判定する。 【００２６】なお、この被検査物品９には、樹脂フィル
ム容器、樹脂チューブ容器、樹脂カップ及び樹脂ボトル
容器並びに樹脂フィルム製チューブ容器に食材等を充填
したものが含まれる。 （２）次に、本実施の形態に係るピンホール検査装置１
を具体的に説明する。 【００２７】 最初にこのピンホール検査装置１は、
搬送装置７に備えたコンベヤ上で被検査物品９（被検査
物品９はチーズ入り蒲鉾、ソーセージ、竹輪等の食材を
合成樹脂等を積層した包装体に充填し、この包装体の両
端を座金１１等でシールしたものである）をその長手方
向を進行方向として直列に配列しながら搬送する。 【００２８】次に、このように搬送される被検査物品９
は、被検査物品９を挟み込んで放電体２へと搬送する搬
送ローラ８Ａを通り、所定の電圧が印可されたリング状
の放電体２の内部を通過して正電荷が帯電される。 【００２９】さらに、被検査物品９は、被検査物品９を
挟み込んでアース３へと搬送する搬送ローラ８Ｂを通
り、帯電した被検査物品９から電流を放電させるアース
３に設けた陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅに接触す
る。 【００３０】ここで、陰極は、５個の陰極３Ａ，３Ｂ，
３Ｃ，３Ｄ，３Ｅからなり被検査物品９の上部表面に３
Ａ，３Ｂが接触し、被検査物品９の下部表面に３Ｃ，３
Ｄがそれぞれ接触するとともに被検査物品９のシール部
に３Ｅが接触するようにしている。 【００３１】ただし、本実施の形態とは異なり陰極の数
及び接触する位置は、被検査物品９の大きさや形状また
は包装体の材質によって最も検出精度が向上する数及び
位置として調節することができる。 【００３２】なお、シール部１０については、座金１１
等がしっかりと締め付けられていない場合があり、特に
ピンホールが発生しやすいので陰極３Ｅを必ず接触させ
るようにすることが好ましい。 【００３３】また、図示はしていないがこのピンホール
検査装置１が不良品を検出すると、まず音声と赤色灯等
を発光することによって不良品の存在を知らせ、この不
良品を良品の分岐シュートから異なる分岐シュートへと
流出させるアーム式振分装置を備えている。 【００３４】すなわち、サーボ機構等を備えたゲートや
分離板等を設けて、ハイレベルスイッチ等でゲートや分
離板等の開閉をコントロールし不良品を良品のシュート
から別のシュートへと排出する。 【００３５】また、振分装置としては、アーム式振分装
置の他にエアージェット式振分装置、ダンパー式振分装
置またはキャタセパ式振分装置を用いることもできる。
次に、放電体２及び陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅ
の配置は、図２が示すように被検査物品９の一端に取り
付けた座金１１等の中心位置から他端に取り付けた座金
１１等の中心位置までの長さをＬとして、一方の座金１
１等の中心位置から放電体２の中心位置までの距離がＬ
／２となるようにしている。 【００３６】そして、陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３
Ｅは、被検査物品９の長手方向の中心が放電体２の中心
位置にかかった場合に、まず陰極３Ａ，３Ｂが被検査物
品９の短手方向の上部表面に接触し、さらに陰極３Ｃ，
３Ｄが被検査物品９の短手方向の下部表面に接触すると
ともに、陰極３Ｅがシール部の先端上部に接触するよう
にしている。 【００３７】ここで、陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄに
は、ばね力等が付勢されていて被検査物品９が接触して
いない状態では、被検査物品９の短手方向の径Ｄよりも
縮径して配置している。 【００３８】そして、陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄがそ
れぞれ被検査物品９に接触するとこの被検査物品９の上
部表面及び下部表面に向かって押し開かれ、被検査物品
９の表面に圧着された状態で被検査物品９の移動に伴い
陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄが回転する。 【００３９】また、陰極３Ｅにもばね力等が付勢されて
いて、被検査物品９の短手方向の径Ｄの中心位置よりも
若干上部に配置している。そして、被検査物品９のシー
ル部の先端上部が接触し、その後、この被検査物品９の
上部表面に向かって押し上げられ、被検査物品９の表面
に圧着された状態で被検査物品９の移動に伴い陰極３Ｅ
が回転する。 【００４０】 次に、本実施の形態にかかる放電体２
及びアース３に設けた陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３
Ｅの材質及び形状について説明する。この放電体２及び
陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅの材質は、インパー
ル、ステンレススチール、明焼鋼、クロムメッキ銅、ニ
ッケル等を使用するが、特に材質についての限定はな
い。 【００４１】また、電極は、電極表面を鏡面に研磨した
ものを用いることが好ましい。次に、この放電体２の形
状は、図３が示すように内部に円形の中空部を有するリ
ング状であり、このリング状の放電体２の中空部を被検
査物品９が接触しないで通過する。 【００４２】ここで、放電体２の形状は、リング状のみ
ならず枠体と観念される全ての形状が含まれる。また、
中空部の形状は、通過する被検査物品９の外形形状に合
致させる必要があるため、本実施の形態にかかる形状に
は限定されない。たとえば、通過する被検査物品９の外
形形状が直方体である場合は、中空部の形状を四角形に
することが考えられる。 【００４３】次に、この放電体２の内周には、エンドミ
ル等によって切り欠きが入れてあり、切り欠きの中心位
置から隣の切り欠きの中心位置にかけて３０°の角度を
なし、この切り欠きによって形成された凸状の陽極２ａ
が等間隔で計１２個設けられている。 【００４４】また、一方の陽極２ａの凸状先端からこの
陽極２ａと線対称である他方の陽極２ａの凸状先端まで
の径が、被検査物品９の短手方向の径Ｄに４ｍｍをプラ
スした長さとなっている。したがって、陽極２ａと被検
査物品９とのギャップ長さが２ｍｍとなる。 【００４５】なお、これら陽極２ａの個数やギャップ長
さは、本実施の形態には限定されず被検査物品９に最も
効率よく電荷を帯電させるように変更、調整することが
できる。 【００４６】たとえば、陽極２ａと被検査物品９とのギ
ャップ長さを大きくしたり、多少変形している被検査物
品９に対してピンホールの検出漏れを防止するために
は、陽極を多数設けることが好ましい。 【００４７】さらに、同一材料、同一条件のもとでは、
電極の曲率半径が大きいほどまた電極表面積が増大する
ほど放電電圧が低下する。この場合においても、大きな
電圧を効率よく印加するために陽極２ａの曲率半径及び
表面積を適時調整することが好ましい。 【００４８】ところで、これらのことを総合すると陽極
２ａは、先端が鋭角な針状電極または鋸歯状電極とする
ことが好ましい。次に、陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，
３Ｅは、図４が示すように３枚の平座金等を重ね合わせ
たもので、これら平座金等に導電体からなる金属棒等を
挿通して、これら平座金等と金属棒等をナット等によっ
て固定している。 【００４９】そして、これらの平座金等を被検査物品９
の長手方向の表面に沿って回転可能に取り付けている。 次に、本実施の形態にかかるピンホール検査装置１
の検出原理について説明する。 【００５０】最初に電源供給装置３に接続された放電体
２によって被検査物品９に所定の電圧を印可するととも
に正電荷が帯電される。その後、被検査物品９が陰極３
Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅに接触するとこの被検査物
品９に帯電した電流がアース３を通じてグラウンドに落
ちる。 【００５１】このように放電体２から被検査物品９を通
りさらにアース３を通じて流れた電流を電流検出装置５
によって検出する。ここで、検出した電流値が所定値以
上である場合にこの被検査物品９を覆う包装体にピンホ
ールが生じていることになる。 【００５２】すなわち、被検査物品９を覆う包装体は絶
縁体であるので、この包装体にピンホールがなければ通
常ではアース３に電流は流れない。しかし、被検査物品
９に高電圧を印可していることから多少の電流が包装体
の表面を通ってアース３に流れる。このときの電流値は
非常に小さいものである。 【００５３】これと比較して包装体にピンホールがある
とこのピンホールから被検査物品９の内部に充填された
導電体からなる食材等を通ってアース３に大きい電流が
流れることになる。 【００５４】したがって、アース３に流れる電流値の大
小でピンホールの有無を判定することができる。そし
て、所定の電流値を境としてこの電流値よりも大きい電
流値が検出された場合、これを不良品とし、小さい電流
値が検出された場合、これを良品とする。 【００５５】この場合、あらかじめ制御装置に所定の電
流値を記憶させておき、被検査物品９が通過する毎にこ
の電流値を検出して、記憶した電流値よりも大きな電流
が流れた場合には、この被検査物品９を不良品として排
出する。 【００５６】また、図示しない制御装置は、ＰＣ（プロ
グラマブルコントローラ）を使用し、特にマイクロコン
トローラ、マイクロＰＣ等の超小型ＰＣを使用すること
が好ましい。 【００５７】ここで、ＰＣとは、論理演算、順序操作、
時限及び算術演算等の制御動作を行わせるための、制御
手順を一連の命令語の形で記憶するメモリを持ち、この
メモリの内容に従って諸種の機械プロセスの制御をデジ
タルまたはアナログの入力を介してデジタル方式で制御
する工業用電子装置をいう。 【００５８】そして、このＰＣは、センサ信号を高速に
取り込み必要な論理演算を行い出力処理する等の制御を
行うことができ、制御全体を機能毎に分ける分散制御に
も対応できる。 【００５９】一方、この制御装置は、５０種類以上の製
品銘柄別の特性を記憶することができ、異なる被検査物
品９を検査する場合、銘柄切り替えの操作だけで対応す
ることができる。 【００６０】特に、銘柄切り替えは、同一形状で外包材
の種類及び内容物が異なる場合に効果的である。 次に、本実施の形態にかかるピンホール検査装置１
の検査工程第１〜第４について説明する。 【００６１】検査工程第１では、図５が示すようにロー
ラ６の回転力によって駆動されるコンベヤ等に案内され
て被検査物品９が４５ｍ／ｓｅｃの速度で搬入されてく
る。このとき、この被検査物品９は、図示はしていない
がベルト７の前方にＶ字型の案内溝が設けられているた
め強制的にその長手方向に向かって直列に配列される。 【００６２】また、搬入速度を４５ｍ／ｓｅｃに設定す
るとこのピンホール検査装置１の検査能力は１５０個／
分となる。但し、搬入速度は、被検査物品９により適時
調節が可能である。 【００６３】そして、ベルト７の後方には、被検査物品
９を放電体２の内部へと通過させるためのローラ８Ａが
ローラ６と同一の速度で回転しながら被検査物品９の長
手方向と直交して上下に設けられている。 【００６４】また、放電体２の後方には、被検査物品９
を陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅに接触させるため
のローラ８Ｂがローラ６と同一の速度で回転しながら被
検査物品９の長手方向と直交して上下に設けられてい
る。 【００６５】次に、検査工程第２では、図６が示すよう
にローラ８Ａによって案内された被検査物品９がリング
状の放電体２の内部を通過する。このとき放電体２に
は、１０ＫＶ〜１５ＫＶの高電圧が印可されていて、被
検査物品９に正電荷を帯電する。 【００６６】なお、直流電流を直流増幅器によって増幅
することで、被検査物品９に最大約２００μＡ程の電流
を帯電させることができる。そして、１ＯＫＶ以上の電
圧をかけると１０ｍｍ程度離れた距離にあるピンホール
までも電流が飛ぶことができる。 【００６７】次に、検査工程第３では、図７が示すよう
にローラ８Ｂに案内されて被検査物品９は、ちょうどそ
の中心が放電体２の中心に来る位置でアース３の陰極３
Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅに接触する。 【００６８】ここで、陰極３Ａ，３Ｂは、被検査物品９
の長手方向の上部表面に接触し、陰極３Ｃ，３Ｄは、被
検査物品９の長手方向の上部表面に接触し、さらに陰極
３Ｅは、被検査物品９のシール部に接触する。 【００６９】そして、包装体にピンホールが生じている
場合は、ピンホールから被検査物品９内に充填された内
容物を通りさらにアース３を通じて大きな電流が流れ
る。この電流を電流検出装置５によって検出しあらかじ
め設定してある電流値と比較してピンホールの有無を判
定する。 【００７０】次に、検査工程第４は、図８が示すように
陰極３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅは、被検査物品９の
移動に伴い上部表面及び下部表面を接触した状態で回転
する。 【００７１】その後、被検査物品９は、図示はしていな
いがアース３の後方に配置されたコンベヤ等によってピ
ンホール検査装置１外に排出される。 （３）実施例 以下、本実施の形態にかかるピンホール検査装置１と従
来より用いられているピンホール検査装置との比較結果
を表に基づいて説明する。 【００７２】このピンホール検査は、ピンホール検査装
置としてソーセージ用の検査装置を使用し、被検査物品
９（以下ワークという）は、内容物としてソーセージを
充填して、包装体として樹脂フィルム（フィルム材料：
ポリエチレン２０＋２０ミクロンの積層体）を用いて密
閉包装をした。 【００７３】そして、ワークは、長手方向の長さＬが１
１０ｍｍ、短手方向の長さＤが１３ｍｍの樹脂フィルム
製チューブ製品である。また、ワークを５個用意し、こ
のうち良品を３個（Ａ，Ｂ，Ｃとする）不良品を２個
（Ｄ，Ｅとする）として検査を行った。 【００７４】次に、印可する電圧は１０ＫＶとし、帯電
された電流のうち９μＡが空気放電量として測定され
た。そして、検出される電流値が１５０μＡ以上を不良
品と判定し、それ以下を良品と判定する。 【００７５】なお、比較例１は、本実施の形態にかかる
ピンホール検査装置１である。 （比較例１）比較例１は、ワークに放電体２により正電
荷を帯電し、アース３側でワークに５点の陰極３Ａ，３
Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅを接触させている。 【００７６】そして、表が示すように良品Ａの電流値は
５７μＡ、良品Ｂの電流値は４９μＡ、良品Ｃの電流値
は５３μＡが検出され、良品の平均電流値は５３μＡで
あった。 【００７７】次に、不良品Ｄの電流値は１８６μＡ、不
良品Ｅの電流値は２０５μＡが検出され、不良品の平均
電流値は１９６μＡであった。したがって、不良品の平
均電流値を良品の平均電流値で除した値（以下Ｓ／Ｎ比
という）は３．７倍となった。 （比較例２）比較例２は、ワークに放電体２により正電
荷を帯電し、アース３側の陰極をブラシ状の電極として
ワークに接触させている。 【００７８】そして、表が示すように良品Ａの電流値は
８９μＡ、良品Ｂの電流値は９７μＡ、良品Ｃの電流値
は９２μＡが検出され、良品の平均電流値は９３μＡで
あった。 【００７９】次に、不良品Ｄの電流値は１７３μＡ、不
良品Ｅの電流値は１８５μＡが検出され、不良品の平均
電流値は１７９μＡであった。したがって、Ｓ／Ｎ比は
１．９倍となった。 （比較例３）比較例３は、ワークにブラシ状の陽極によ
り正電荷を帯電させ、アース３側でワークに５点の陰極
３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅを接触させている。 【００８０】そして、表が示すように良品Ａの電流値は
８２μＡ、良品Ｂの電流値は８５μＡ、良品Ｃの電流値
は８１μＡが検出され、良品の平均電流値は８３μＡで
あった。 【００８１】次に、不良品Ｄの電流値は１８５μＡ、不
良品Ｅの電流値は１９２μＡが検出され、不良品の平均
電流値は１８９μＡであった。したがって、Ｓ／Ｎ比は
２．３倍となった。 以上の結果から明らかなように本実施の形態にかかるピ
ンホール検査装置１の良品に対する検出電流の平均が、
他のピンホール検査装置の良品に対する検出電流の平均
よりも低い値である。 【００８２】このように良品と不良品の検出電流の差が
大きいので、良、不良を判定するための電流の設定値を
高くすることができ、良品を不良品として判定すること
がなくなる。 【００８３】すなわち、Ｓ／Ｎ比を大きくすることがで
き良品に対して精度の向上を図ることができる。なお、
不良品と判定する割合が、これまでのピンホール検査装
置では約５％程度であったものが、本実施の形態にかか
るピンホール検査装置１では、約０．４％に低下した。 【００８４】 【発明の効果】本発明によれば、良品を不良品と判定す
る誤判定がなくなるので安定した検査精度を維持するこ
とができる。 【００８５】具体的には、従来のピンホール検査装置に
比較して良品の中から不良品と判定される割合が約４．
６％も少なくなった。また、塵や埃の付着が少ない電極
を備えるているので、製品を汚してしまうことや長期間
検査に使用しても検査精度が低下することがない。 【００８６】さらに、放電体の内部を通過しながら非接
触にて被検査物品に電流が帯電されること及びアースに
設けた陰極が点接触であるため長期間検査に使用しても
放電体及びアースに設けた電極が変形することがない。 【００８７】したがって、高い信頼を維持することがで
きるピンホール検査装置とすることができる。

【図面の簡単な説明】 【図１】本実施の形態に係るピンホール検査装置の斜視
図 【図２】本実施の形態に係るピンホール検査装置の側面
図 【図３】本実施の形態に係る放電体の断面図 【図４】本実施の形態に係るアースの断面図 【図５】本実施の形態に係るピンホール検査装置の検査
工程第１を示す図 【図６】本実施の形態に係るピンホール検査装置の検査
工程第２を示す図 【図７】本実施の形態に係るピンホール検査装置の検査
工程第３を示す図 【図８】本実施の形態に係るピンホール検査装置の検査
工程第４を示す図 【図９】従来のピンホール検査装置の側面図 【符号の説明】 １ ・・・ピンホール検査装置 ２ ・・・放電体 ２ａ・・・陽極 ３ ・・・アース ３Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ・・・陰極 ４ ・・・電源供給装置 ５ ・・・電流検出装置 ６ ・・・ローラ ７ ・・・搬送装置 ８Ａ，Ｂ・・・ローラ ９ ・・・被検査物品 １０ ・・・シール部 ２０ ・・・帯電体 ２１ ・・・アース ２２ ・・・陽極 ２３ ・・・陰極

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平８−240569（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−86294（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−89551（ＪＰ，Ａ) 実開 昭58−191559（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭58−613（ＪＰ，Ｂ１) 実公 昭35−9958（ＪＰ，Ｙ１) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01N 27/00 - 27/24 G01N 27/61,27/92 G01M 3/00 - 3/40

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 包装体の内部に内容物を充填した被検査
   物品のピンホールを検査するピンホール検査装置におい
   て、内部を中空とした部材の内側周辺に少なくとも１つの電
   極を備え、 電流を空間に放電することでこの空間中に存
   する被検査物品に電荷を帯電する放電体と、 前記被検査物品の少なくとも１点に接触してこの被検査
   物品に帯電した電荷を大地へと放電するアースと、 前記被検査物品を放電体による帯電位置からアースによ
   る放電位置へと搬送する搬送装置と、 前記アースを通じて流れた電流値を検出する電流検出装
   置とを備え、 前記電流検出装置により検出した電流値の大小により前
   記被検査物品のピンホールの有無を検出することを特徴
   としたピンホール検査装置。