JP3373816B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP3373816B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサマイク
ロホンなどに用いられる、半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】携帯電話には、小型化が容易なエレクト
レットコンデンサマイクロホンが多用されている。この
方式として、例えば特開平11−88992号公報があ
る。この公報には、半導体基板上に固定電極層を形成
し、該固定電極層上にスペーサを介して振動膜を取り付
けた例が記載されている。
【0003】その構造を図4に示す。シリコン半導体基
板111の表面に固定電極層112、絶縁膜113、ス
ペーサ114及び振動膜115が積層されたものであ
り、この積層体が空孔116を有するパッケージ118
に実装されている。尚、符号117は、布(クロス)で
あり、必要により設けられる。半導体基板111の表面
にはインピーダンス変換用の接合型FET素子と、更に
アンプ回路やノイズキャンセル回路などが、通常の半導
体プロセスによって集積化されている。振動膜115と
固定電極層112でコンデンサが形成され、空振動が振
動膜115を振動させることにより、コンデンサの容量
値が変化し、この容量値の変化が前記FET素子に入力
されて電気信号に変換されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記構成に於いて、マ
イクロホンの出力を大きくするには、コンデンサの容量
値を大きくする必要がある。そのため、固定電極層11
2と振動膜115とを可能な限り大きくし、その重畳面
積を大きくしなければならない。更には固定電極層11
2と振動膜115の間隔を小さくしなければならない。
【0005】故に、半導体基板111上の固定電極層1
12は、その大部分の面積を占有し、余白箇所に集積化
する素子を配置しなければならない。
【0006】しかしながら、固定電極層112の面積を
拡大してマイクロホンの出力を大きくするには、半導体
基板自身のサイズを大きくする必要があり、製造コスト
を押し上げる欠点があった。
【0007】また図4に於いて、スペーサ114は、前
記振動膜115の全周に配置されているため、固定電極
層112、スペーサ114および振動膜115で構成さ
れる空間は、密閉されている。密閉空間では空気の出入
りが無いため、振動膜115が振動しずらく、外からの
音が振動膜115に伝わっても振動膜の振動が小さいた
めに、その出力が大きくとれない問題があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
に鑑みて成されたものであり、第1に、スペーサとその
直近の半導体基板の側辺との間にパッド電極を配置する
事で解決するものである。
【0009】第2に、電子回路を集積させた半導体基板
と、前記半導体基板の表面に形成した固定電極層と、前
記固定電極層の周囲に設けたスペーサとを具備し、前記
スペーサとその直近の前記半導体基板の側辺との間にパ
ッド電極を設ける事で解決するものである。
【0010】第3に、振動膜が配置されるべき領域の外
側で、且つスペーサとスペーサの間の領域を回避した箇
所の前記半導体基板上に、パッド電極を設ける事で解決
するものである。
【0011】第4に、振動膜と重畳しない半導体基板の
角部またはその近傍に前記パッド電極が設けられる事で
解決するものである。
【0012】第5に、パッド電極には、電気的接続手段
が設けられる事で解決するものである。
【0013】第6に、前記電気的接続手段は、金属細線
であり、前記金属細線は、半導体基板の外側に設けられ
た電極と接続される事で解決するものである。
【0014】図1に示すように、スペーサとスペーサと
の間を離間させることで、振動膜の下にある空間とその
外部との空気の出入りを改善した。またパッド電極は、
前記スペーサ、半導体基板の角部および点線で囲まれた
領域に配置されているので、パッド電極に接続された金
属細線は、上記空気の出入りを妨害しない。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。
【0016】図1は本発明の半導体装置を示す平面図で
あり、且つ振動膜と金属細線が形成された状態を示して
いる。概略2×2mmの大きさを持つ半導体基板11の
表面に、直径が1.5mm程度の円形の固定電極層12
が形成されている。固定電極層12の外側には、通常の
半導体製造プロセスによって、インピーダンス変換用の
接合型又はMOS型のFET素子Dと、バイポーラ型及
び/またはMOS型の能動素子、そして抵抗などの受動
素子が集積化され、前記FET素子Dと共に、増幅回路
やノイズキャンセル回路などの集積回路網が構成されて
いる。また、半導体基板11の周辺には、集積回路と外
部回路を接続するパッド電極20〜23が配置されてい
る。ここで採用したパッド電極のサイズは、約0.12
mm×0.12mmである。
【0017】図1の下図では、符号30は、5000Å
〜10000ÅのSi酸化膜で、固定電極層12および
一層目の配線31の下層に位置する絶縁膜である。固定
電極層12は、一層目の配線31と同時に形成され、約
7000Åの厚さである。材料は、例えばAl−Siで
ある。ここで一層目の配線31は、前記能動素子や受動
素子等と接続され、集積回路が形成されている。そして
固定電極層12および一層目の配線31の上には、約4
000ÅのSi窒化膜等からなる絶縁膜32が形成され
ている。
【0018】また固定電極層12の周囲を囲み、前記集
積回路網をカバーするようにシールドメタル33が形成
され、更にこのシールドメタル33の上には、ポリイミ
ド系絶縁膜やSi窒化膜等のパッシベーション膜34が
形成されている。ここでシールドメタル33は、1.4
μmの厚みを有し、Al−Siで構成されている。
【0019】また、シールドメタル33、パッシベーシ
ョン膜34は、固定電極層12の殆どの領域に於いて取
り除かれている。理由は、固定電極層12とシールドメ
タル33との間に発生する寄生容量を増大させないため
である。
【0020】ここでシールドメタル33は、本半導体装
置が振動板16と共に空気振動が伝達可能なパッケージ
に収納された場合に、外部から浸入する光を遮蔽するた
め、更には外部からの不要輻射ノイズをシールドするた
めに設けられているので、Al−Siに限定されず、遮
光性と導電性を持つ材料であれば良い。
【0021】また、遮光しきれない光の浸入により、半
導体基板11内部に暗電流が発生するため、該暗電流を
吸収する為のGND電極を半導体基板11表面に設け
る。そして、該GND電極とシールド電極33とを接続
することによって、シールドメタル33にGND電位を
印加するのが簡便である。即ち、前記シールドメタル3
3は、一層目の配線31と接続され、この配線31を介
して半導体基板の前記GND領域に電気接続している。
またシールドメタル33は、一層目の配線31を介さず
に前記GND領域と直接コンタクトしてもよい。ここで
GND領域は、この半導体装置がバイポーラ型集積回路
であれば、素子間分離を行うためのP+型分離領域とす
るのが簡便である。
【0022】本実施の形態では、シールドメタルも含め
て2層メタルで構成されるため、上層がシールドメタ
ル、下層が配線となっている。しかし本半導体装置に作
り込まれる半導体素子数、チップサイズによっては、3
層メタル配線、4層メタル配線…で形成されても良い。
この場合は、最上層がシールドメタルとなり、残りの下
層のメタルは、配線、電極等として活用される。
【0023】シールドメタル33を覆うパッシベーショ
ン膜34の上には、複数個のスペーサ14が形成されて
いる。このスペーサ14は、ポリイミド等の感光性樹脂
からなり、ホトリソグラフィー技術により固定電極層1
2の周囲の半導体基板11上に位置するように、パター
ニングされている。ここでは、パターニングされた後
に、ベイキング処理により硬化され、縦×横が0.2m
m×0.5mm程度、厚みが約13μmに成っている。
スペーサ14とパッド電極23との離間距離は、約0.
6mmである。また、スペーサ14とスペーサ14との
間隔は、前記0.6mmの倍以上の距離を持つ。スペー
サ14の形状は、枠15の幅と形状に合致するような円
弧形状、あるいは枠15内に収まるような4角形等が望
ましい。
【0024】半導体基板11表面の集積回路網、パッシ
ベーション膜34、スペーサ14等までが、通常の半導
体プロセスによって半導体ウェハに形成される。そし
て、ダイシングにより半導体ウェハを個々の半導体チッ
プに分離し、分離した半導体チップの各々に、枠体15
と共に振動板16が取り付けられる。仮に半導体ウェハ
の状態で、振動膜16を取り付けてからダイシングする
と、ダイシング工程による振動膜16へのダメージが危
惧される他、振動膜16下部への異物の進入が危惧され
る。尚、枠15は、スペーサ14に対して正確に位置あ
わせされる。スペーサ14が枠体15よりも内側の振動
膜16に接すると、振動膜16の振動を妨げるからであ
る。
【0025】ここで振動膜は、例えば片面にNi、Al
またはTi等の電極材料が形成された厚さ5μm〜1
2.5μm程度の高分子膜である。材料としては例えば
FEPまたはPFA等の高分子材料が用いられる。光に
対する透過率が数%〜10%程度の、完全な遮光性は持
たない膜である。
【0026】斯様に振動膜16が一体化された半導体装
置は、従来例と同様に空気振動が通過可能なる空孔を持
つパッケージ内に実装される。電極パッド20〜23
は、パッケージに形成された電極に対して金属細線W1
〜W4によって電気的に接続される。そして、パッケー
ジに形成された電極は、パッケージの外に延在され、実
装基板の電極と固着できる構造となっている。ここで符
号21は、Vcc、22は、GND、20は、出力端
子、23は、入力端子である。またパッケージに設けた
空孔は、必要により布(クロス)で覆われる。
【0027】本発明の特徴は、スペーサ14とパッド電
極20〜23の位置関係にある。これは、本願がスペー
サ14を複数個に分離し、スペーサ14とスペーサ14
との隙間を介して振動膜16下部の空間17と外部との
間で空気が移動可能な構造にしたことに起因する。この
構造により、振動板16が上下に振動しやすい構造と
し、入力された音声信号に対する出力信号を大に出来る
ものである。振動板16の取り付け強度と平行度の点か
ら考えれば、スペーサ14の面積は大きい方が良い。し
かし、空気が移動する際の空気抵抗を考えれば、スペー
サ14の面積を小さくして開口部分を大にした方が良
い。スペーサ14の大きさとスペーサ14との間隔は、
これらのバランスを考慮した上で選択される。
【0028】図2を参照して、パッド電極20に接続さ
れる金属細線W1としては、例えば30μmφのAlワ
イヤーを採用している。この時ボールボンディング技術
を用いることから、先端のボール部50は、厚みが最大
30μm、平面的には縦横100μmの円またはつぶれ
た円になる。スペーサ14の厚みは約13μm程度と極
め薄いので、空気の移動(符号51参照)は13μ程度
の極めて狭い開口部分を介して行われることになる。そ
のため、空気の移動51は比較的大きな抵抗を伴うもの
である。
【0029】この様な状況であるにもかかわらず、スペ
ーサ14とスペーサ14との間にボール部50を配置す
ると、少なからず空気の移動51を阻害する障害物とな
る。従って本発明は、金属細線W1〜W4を配置する為
のパッド電極20〜23を、固定電極層12の中心から
見て、前記スペーサ14の陰となる領域に配置すること
にある。即ち上記空気の移動51を行う開口部から前記
パッド電極を排除することにより、無用な空気抵抗の増
大を防止したものである。尚、スペーサ14の陰の位置
とは、図1において、固定電極層12の中心点Sからス
ペーサ14の両端に延びた点線52、53で挟まれた領
域で、且つスペーサ14に対して固定電極層12とは反
対側の領域のことを言う。
【0030】更に、4角形の半導体基板11と円形の振
動板16との組み合わせであれば、パッド電極20〜2
3とスペーサ14とを半導体基板11の4隅に配置する
ことにより、半導体基板11の無用なチップサイズの増
大をも防止する事が出来る。この場合、固定電極層12
は半導体基板11の概略中央に配置され、スペーサ14
とパッド電極20〜23は、半導体チップ11の対角線
上に配置され、そしてスペーサ14は固定電極層12と
パッド電極20〜23との間に配置されることになる。
【0031】図3に本発明の第2の実施の形態を示し
た。図3では、スペーサ14が枠15から外側へ突出す
るように配置されている。但しパッド電極20〜23は
避けて設けられている。この構造は、スペーサ14が外
側に拡大されているので、枠15(振動板16)と固定
電極層12との位置合わせに要求される精度を、若干緩
和することが出来る。
【0032】続いてコンデンサマイクロホンに供される
本発明の半導体装置、及び該半導体装置を用いたコンデ
ンサマイクロホンの製造方法について簡単に説明する。
【0033】まず半導体ウェハを準備し、通常の半導体
プロセス技術を使って、半導体ウェハ内の多数の半導体
チップに相当する箇所の各々に、インピーダンス変換用
の素子Dや前述した集積回路網を形成する為の回路素子
を形成する。この時、これらの素子は、後に固定電極層
12が配置されるため、これを回避した領域の半導体基
板11上に形成される。
【0034】そして半導体基板11の表面を被覆するS
i酸化膜30の上に、前記回路素子間を結線するための
電極や配線31が形成されると共に、固定電極層12が
形成される。
【0035】そして配線31及び固定電極層12を被覆
する絶縁膜32を形成し、シールドメタル33を形成
し、更にシールドメタル33を被覆するパッシベーショ
ン膜34を形成し、更にその上に、感光性ポリイミド膜
がパターニングされて成るスペーサ14を形成する。ス
ペーサ14は、固定電極層12の周囲のパッシベーショ
ン膜34の上に形成される。
【0036】以上のプロセスにより、スペーサ14まで
が形成された半導体装置が半導体ウェハに複数形成され
る。
【0037】続いて、半導体ウェハがダイシングされて
個々の半導体装置として分離され、この後で、前記半導
体装置をパッケージ118の中に実装する。また、半導
体装置の電極パッド20乃至23とパッケージ118に
形成された電極が金属細線W1〜W4を介して接続され
る。
【0038】更には、スペーサ14に振動膜16が設置
される。電極パッド20乃至23は、振動膜16が配置
されるべき領域を避けて設けられてあるため、振動膜1
6と金属細線W1〜W4は接触せずに配置できる。
【0039】そして、パッケージ118の蓋をして、半
導体装置を収納したコンデンサマイクロホンが完成す
る。尚、枠15と振動板14とを半導体基板11上に一
体化した後に、パッケージ内に収納するような組み立て
工程でもよい。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、スペーサ14の裏
側にパッド電極20〜23を配置する事で、パッド電極
20〜23に接続される接続手段(例えば金属細線のボ
ール部50)が原因で発生する空気抵抗を小さくするこ
とができる。これにより、振動膜16の振動振幅を大き
くすることが出来、出力される電気信号の振幅を大きく
できる。
【0041】更には4角形の半導体基板11と円形の振
動膜16との組み合わせであれば、スペーサ14とパッ
ド電極20〜23を4隅に配置することにより、チップ
サイズの増大を避けることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体装置を説明する図である。
【図2】本発明の半導体装置を説明する断面図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態を説明するための図
である。
【図4】従来の半導体装置がパッケージされた構造を説
明する図である。
【符号の説明】 11 半導体基板 12 固定電極層 14 スペーサ 16 振動膜 S 振動膜の中心点 W1〜W4 金属細線 50 金属細線のボール部
フロントページの続き (72)発明者 大林 義昭 大阪府八尾市北久宝寺1丁目4番33号 ホシデン株式会社内 (72)発明者 安田 護 大阪府八尾市北久宝寺1丁目4番33号 ホシデン株式会社内 (72)発明者 佐伯 真一 大阪府八尾市北久宝寺1丁目4番33号 ホシデン株式会社内 (72)発明者 大澤 周治 大阪府八尾市北久宝寺1丁目4番33号 ホシデン株式会社内 (56)参考文献 特開 平11−88992(JP,A) 特開2000−236596(JP,A) 特開2001−69596(JP,A) 特開2001−86596(JP,A) 特開2001−112094(JP,A) 特開2001−112095(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04R 19/00 H04R 1/00 H01L 21/60

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板上に形成した固定電極層と、
    前記固定電極層周囲の半導体基板上に設けた、前記固定
    電極層と対をなしてコンデンサを形成する振動膜を取り
    付けるための複数個のスペーサと、前記半導体基板上に
    形成した外部接続用のパッド電極とを具備し、 前記固定電極層の中心から見て、前記スペーサの陰とな
    る領域に、前記パッド電極を配置したことを特徴とした
    半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記固定電極層の中心、前記パッド電
    極、および前記スペーサとが、直線上に並んでいること
    を特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 半導体基板上に形成した固定電極層と、
    前記固定電極層の周囲の半導体基板上に設けた、前記固
    定電極層と対をなしてコンデンサを形成する振動膜を取
    り付けるための複数個のスペーサと、前記半導体基板上
    に形成した外部接続用のパッド電極とを具備し、 前記振動膜を配置すべき領域の周囲で、且つ前記スペー
    サとスペーサとの間の領域を回避した箇所の前記半導体
    基板上に、前記パッド電極を設ける事を特徴とした半導
    体装置。
  4. 【請求項4】 矩形の半導体基板と、前記半導体基板の
    表面に形成した円形の固定電極層と、前記固定電極層周
    囲の半導体基板上に設けた、前記固定電極層と対をなし
    てコンデンサを形成する円形の振動膜を取り付けるため
    の複数個のスペーサと、前記半導体基板上に形成した外
    部接続用のパッド電極とを具備し、 前記半導体基板の角部またはその近傍に前記パッド電極
    が設けられる事を特徴とした半導体装置。
  5. 【請求項5】 矩形の半導体基板と、前記半導体基板の
    表面に形成した円形の固定電極層と、前記固定電極層周
    囲の半導体基板上に設けた、前記固定電極層と対をなし
    てコンデンサを形成する円形の振動膜を取り付けるため
    の複数個のスペーサと、前記半導体基板上に形成した外
    部接続用のパッド電極とを具備し、 前記スペーサと前記パッド電極とが、前記半導体基板の
    対角線上に配置され且つ前記スペーサが前記パッド電極
    と前記固定電極層との間に位置する事を特徴とした半導
    体装置。
  6. 【請求項6】 前記半導体基板に多数の電子回路素子が
    形成されて集積回路網を構成していることを特徴とする
    請求項1から請求項5のいずれかに記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 前記パッド電極には、電気的接続手段が
    設けられる請求項1から請求項6のいずれかに記載の半
    導体装置。
  8. 【請求項8】 前記電気的接続手段は、金属細線である
    ことを特徴とした請求項7に記載の半導体装置。
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