JP3369379B2 - 荷電粒子照射装置 - Google Patents

荷電粒子照射装置

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【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、試料面上に微細な
回路パタン等を描画する電子ビーム露光装置等の荷電粒
子照射装置に関するものである。 【0002】 【従来の技術】従来の荷電粒子照射装置の一例として、
ジャーナル・オブ・バキューム・サイエンス・アンド・
テクノロジー、B11巻、2346ページ、1993年
(K. Hattori, R. Yosikawa, H. Wada, H. Kusakabe,
T. Yamaguti, S. Magoshi, A. Miyagaki, S. Yamasaki,
T. Takigawa, M. Kanoh, S. Nisimura, H. Housai and
S. Hashimoto, J. Vac. Sci. Technol. B11, 2346 (199
3))に記載されている荷電粒子照射装置を図5に示
す。図5において、201はランタン・ヘキサボライド
(LaB6)からなる熱電子放出エミッタ、202はウ
ェネルト、203は陽極、204は2つの磁界レンズで
構成された照射レンズ、205はビーム制限アパーチ
ャ、206は電子ビーム、207は第1クロスオーバ、
208は第2クロスオーバである。上記エミッタ201
を基準にして、ウェネルト202には負の電圧が、陽極
203にはビームを加速するための正の電圧(加速電
圧)が印加される。本例では加速電圧を50kVとして
いる。上記印加条件下ではエミッタ201の直下に第1
クロスオーバ207が形成される。第1クロスオーバ2
07から出た電子ビーム206は、照射レンズ204に
よってビーム制限アパーチャ205上に集束する。この
集束点が第1クロスオーバ207の投影像である第2ク
ロスオーバ208である。 【0003】上記装置はキャラクター・プロジェクショ
ン電子ビーム露光装置、および可変成形電子ビーム露光
装置の照射系として用いられている。このタイプの電子
光学系では、試料面(図5には記載せず)での電子ビー
ムの開き角αと第2クロスオーバ208の直径は比例関
係になる。電子ビーム開き角αが大きすぎると、球面収
差により露光装置のビーム解像度が劣化する。また、電
子ビームの開き角αが小さすぎると、クーロン効果によ
るビームぼけのため露光装置のビーム解像度が劣化す
る。このため電子ビーム開き角αには最適な値(通常、
1〜10mrad)が存在する。上記荷電粒子照射装置
においては、電子ビーム開き角αを最適な値に設定する
よう、ビーム制限アパーチャ205の直径および第2ク
ロスオーバ208の直径を最適な値(通常、50〜20
0μm)に設定する。第1クロスオーバの直径は50μ
m程度であるため、照射レンズ204の倍率(第2クロ
スオーバ208の直径/第1クロスオーバ207の直
径)は、約1〜4倍の範囲に設定されている。 【0004】 【発明が解決しようとする課題】上記の従来の荷電粒子
照射装置を、加速電圧100kV以上の電子ビーム露光
装置の照射系に適用しようとすると、エミッタ201お
よびウェネルト202からの放電を防ぐため、ウェネル
ト202と陽極203との距離d1を長くする必要があ
る。また、加速電圧の増大にともなって、照射レンズ2
04を構成する磁界レンズの集束力を強くする必要があ
るため、照射レンズ204の集束磁界が存在する領域を
長くする必要がある。上記理由により図5のd2、d3
4が大きくなり、その結果、第1クロスオーバ207
と第2クロスオーバ208との距離Lが長くなる。例え
ば加速電圧100kVで照射レンズ倍率1の場合は、d
1=30mm、d2=130mm、d3=200mm、d4
=130mm程度となり、第1クロスオーバ207と第
2クロスオーバ208との距離Lが460mm程度と長
くなる。このため、従来の荷電粒子照射装置を加速電圧
100kV以上の電子ビーム露光装置に組み込んだ場合
は、装置の高さが著しく高くなり(例えばL=460m
mの場合に装置の高さは3〜4mになる)、建物への設
置が困難になるという問題があった。 【0005】本発明は、第1クロスオーバと第2クロス
オーバとの間の距離を大幅に短縮し、建物への設置に支
障がない高さの高加速電圧電子ビーム露光装置に搭載で
きる、荷電粒子照射装置を得ることを目的とする。 【0006】 【課題を解決するための手段】上記目的は、荷電粒子照
射装置を、荷電粒子発生源と引き出し電極と陽極とによ
り構成し、上記荷電粒子源と上記引き出し電極との距離
を0.5mm以上4mm以下とし、上記引き出し電極電
圧Vと上記陽極電圧Vとの比V/Vを8〜14
間の値とし、引き出し電極の厚みbと、引き出し電極上
面と陽極上面との距離cと、b=L/(4.9M−
0.13)とc=(0.58M+1.7)L/(4.9
M−0.13)を満足する値の±10%の範囲内の値に
設定することにより、短いレンズ界領域で効率よく電子
をビーム制限アパーチャ上に集束でき、達成することが
できる。 【0007】 【発明の実施の形態】荷電粒子発生源と引き出し電極と
陽極とから構成される電子ビーム照射装置の例を図1に
示す。図において、301はランタン・ヘキサボライド
(LaB6)等からなる熱電子放出エミッタ、302は
ウェネルトである。上記エミッタ301とウェネルト3
02とで荷電粒子発生源を構成している。303は引き
出し電極、304は陽極、305はビーム制限アパーチ
ャ、306は電子ビーム、307は第1クロスオーバ、
308は第2クロスオーバ、309は光軸である。エミ
ッタ301を基準にして、引き出し電極303にはV1
の電圧が印加され、陽極304およびビーム制限アパー
チャ305にはV2の電圧が印加されている。V2が加速
電圧に対応する。 【0008】引き出し電極303と陽極304との間に
形成される加速電界にレンズ作用を持たせ、そのレンズ
倍率M(第2クロスオーバ308の直径/第1クロスオ
ーバ307の直径)を1〜4にするためには、陽極電圧
2と引き出し電極電圧V1との比を約8以上にする必要
がある。すなわち、 V2/V1≧8 (1) とする必要があり、またエミッタ301から放出される
電子ビーム306の電流を500μA程度の適正な値に
するためには、ウェネルト302と引き出し電極303
との間の電界を3×106V/m程度にする必要があ
る。すなわち、 V1/a=3×106V/m (2) とする必要がある。ここでaはウェネルト302と引き
出し電極303との距離であり、式(1)と式(2)と
から、aは次式で表わされる。 【0009】 a≦V2/(2.4×107) (3) 一方、エミッタ301付近における真空排気の容易性と
いう観点からは、aは大きい方が望ましい。 【0010】本発明では、所望の加速電圧V2に対して
まず式(3)を満たす範囲でなるべく大きい値にaを定
め、つぎに式(2)にしたがってV1を定めている。例
えば加速電圧V2=100kVに対してaを3mmとし
1を9kVに選ぶと、式(1)、式(3)の条件を満
足しかつ真空排気にも問題を生じない。V2=100k
V、a=3mm、V1=9kVの条件下における、引き
出し電極303の厚みb、引き出し電極303上面と陽
極305上面間の距離c、第1クロスオーバ307と第
2クロスオーバ308間の距離L、加速電界が作るレン
ズの倍率Mの関係を図2に示す。上記関係はニュークリ
ア・インストルメンツ・アンド・メソッド・イン・フィ
ジックスのA363巻、48ページ、1995年(K. S
aito and Y. Uno; Nuclear Instruments and Methods i
n Physics Research)に掲載されている電子軌道追跡プ
ログラムを用いて計算した。図2から、b、cはLとM
によりつぎのように近似できる。 【0011】 b=L/(4.9M−0.13) (4) c=(0.58M+1.7)L/(4.9M−0.13) (5) 上記関係はa≦4mm、8≦V2/V1≦14の範囲で、
任意の加速電圧V2に対してほぼ成り立つことが、同様
の電子軌道計算により明らかになった。 【0012】本発明は、エミッタ、ウェネルト、引き出
し電極、陽極から構成される電子ビーム照射装置におい
て、a≦4mm、8≦V2/V1≦14という条件下で
は、所望のL、Mを実現する電極構造は式(4)、式
(5)によって一義的に定まることに着目し、bおよび
cの値を上記関係を満足するように設定することによ
り、第1クロスオーバ307と第2クロスオーバ308
間の距離Lを短くするものである。 【0013】 【実施例】つぎに本発明の実施例を図面とともに説明す
る。図3は本発明による荷電粒子照射装置の一実施例を
示す図、図4は上記実施例の光学特性を示す図である。
図3において、本実施例は加速電圧100kVの電子ビ
ーム露光装置の照射系に適用するためのものであって、
101はランタン・ヘキサボライド(LaB6)等から
なる熱電子放出エミッタ、102はウェネルト、103
は引き出し電極、104は陽極、105はビーム制限ア
パーチャ、106は電子ビーム、107は第1クロスオ
ーバ、108は第2クロスオーバ、109は等電位線で
ある。電子ビーム106の軌道および等電位線109
は、ニュークリア・インストルメンツ・アンド・メソッ
ド・イン・フィジックス、A363巻48ページ、19
95年(K. Saito and Uno: Nuclear Instruments and
Methods in Physics Research)に掲載されている電子
軌道追跡プログラムで計算したものである。 【0014】エミッタ101を基準にして、ウェネルト
102には−0.78kV、引き出し電極103には
8.5kV、陽極104およびビーム制限アパーチャ1
05には100kVの電圧が印加されている。ウェネル
ト102と引き出し電極103の間の電界を約3×10
6V/mにするように、ウェネルト102と引き出し電
極103間の距離aを3mmとしている。引き出し電極
103と陽極104が作る加速電界にレンズ作用をもた
せ、第1クロスオーバ107から出た電子ビーム106
をビーム制限アパーチャ105上に集束させている。本
実施例では、レンズ倍率M(第2クロスオーバ108の
直径/第1クロスオーバ107の直径)=1.1の条件
下で、第2クロスオーバ108と第1クロスオーバ10
7間の距離Lを96mm(従来装置の約1/5)に短縮
するため、式(4)および式(5)に基づいて、引き出
し電極103厚みbを18mm、引き出し電極103上
面と陽極105上面間の距離cを42mmに設定してい
る。 【0015】ウェネルト102の電圧を変化させた場合
における倍率Mと引き出し電極103の電圧の変化を図
4に示す。ウェネルト102の電圧を変化させても、L
=96mmになるように引き出し電極103の電圧を調
整している。ウェネルト102を変化させると倍率Mが
所望の値から±10%変化する。このことから、製作誤
差やその他の理由で、bおよびcが式(4)、式(5)
で求まる値より±10%異なった値になった場合でも、
ウェネルト102や引き出し電極103の電圧を調整す
ることで、倍率Mを所望の値に設定できることがわか
る。 【0016】上記のように本実施例では、引き出し電極
103と陽極104が作る加速電界にレンズ作用をもた
せ、これらの電極の厚みおよび配置を式(4)、式
(5)に基づいて定めているので、第2クロスオーバ1
08と第1クロスオーバ107間の距離Lを従来装置に
比べて1/5に短縮できる。 【0017】加速電圧が100kVの場合を例にして、
上記のように本発明を説明してきたが、加速電圧が10
0kV以外の場合でも、a≦4mm、8≦陽極電圧/引
き出し電極電圧≦14の条件下であれば本発明は成立す
る。また、倍率Mが1.1の場合を例に本発明を説明し
たが、Mが1.1以外の場合でも成立し、荷電粒子とし
ては例示した電子以外に、ガリウムイオン等の荷電粒子
を照射する場合でも本発明は成り立つ。また、引き出し
電極103の厚みbや、引き出し電極103上面と陽極
104上面間の距離cが、式(4)および式(5)によ
り求められる値と一致する場合を例に本発明を説明して
きたが、bやcが上記の値より±10%程度ずれている
場合でも本発明は成立する。 【0018】なお、ウェネルトと引き出し電極との距離
aの値を0に近づけても本発明は成立するが、aが小さ
くなるとこれらの間に放電を生じやすくなるため、放電
が起こりにくい0.5mmを下限とし、aの値は0.5
mm以上とする。 【0019】 【発明の効果】上記のように本発明による荷電粒子照射
装置は、荷電粒子を発生する荷電粒子源と、上記荷電粒
子を加速・集束するための引き出し電極および陽極から
構成され、上記荷電粒子発生源の直下に形成される第1
クロスオーバと、該第1クロスオーバの投影像である第
2クロスオーバとの距離がLで、投影倍率がMである荷
電粒子照射装置において、上記荷電粒子源と上記引き出
し電極との距離を0.5mm以上4mm以下に設定し、
上記引き出し電極の電圧V1と上記陽極の電圧V2との比
2/V1を8〜14の範囲のある値に設定し、上記引き
出し電極の厚みbと、上記引き出し電極上面および上記
陽極上面の距離cとが、b=L/(4.9M−0.1
3)とc=(0.58M+1.7)L/(4.9M−
0.13)を、ほぼ満足する値に設定することによっ
て、上記第2クロスオーバと上記第1クロスオーバ間の
距離を、従来装置に比べ大幅に短縮できるため、本発明
による荷電粒子照射装置を搭載した高加速電圧電子ビー
ム露光装置等の高さを、建物内に設置するのに支障がな
い高さまで低くすることができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明による荷電粒子照射装置の原理を説明す
る図面である。 【図2】上記荷電粒子照射装置におけるc/b、L/b
の倍率Mに対する依存性を示す図である。 【図3】本発明による荷電粒子照射装置の一実施例を示
す図で、(a)は全体構成を示す図、(b)はエミッタ
近傍の拡大図である。 【図4】上記実施例における光学特性を示す図である。 【図5】従来の荷電粒子照射装置を示す図である。 【符号の説明】 101、301 エミッタ 102、302 ウェネルト 103、303 引き出し電極 104、304 陽極 107、307 第1クロスオーバ 108、308 第2クロスオーバ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 37/305 H01L 21/027

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】荷電粒子を発生する荷電粒子源と、上記荷
    電粒子を加速・集束するための引き出し電極および陽極
    から構成され、上記荷電粒子発生源の直下に形成される
    第1クロスオーバと、該第1クロスオーバの投影像であ
    る第2クロスオーバとの距離がLで、投影倍率がMであ
    る荷電粒子照射装置において、上記荷電粒子源と上記引
    き出し電極との距離を0.5mm以上4mm以下に設定
    し、上記引き出し電極の電圧Vと上記陽極の電圧V
    との比V/Vを8〜14の範囲のある値に設定し、
    上記引き出し電極の厚みbと、上記引き出し電極上面お
    よび上記陽極上面の距離cと、 b=L/(4.9M−0.13) c=(0.58M+1.7)L/(4.9M−0.13) を満足する値の±10%の範囲内の値に設定したことを
    特徴とする荷電粒子照射装置。
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