JP3344639B2 - チップボンディング装置 - Google Patents
チップボンディング装置Info
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Description
路基板に半導体チップをボンディングする為のチップボ
ンディング装置に関するものである。
導体チップをボンディングするチップボンディング装置
は公知である。
しくは特開平3−46244号公報においては、半導体
チップを真空吸着保持し得るボンディングツールを上下
動し得るように装着したボンディングヘッドを、左右の
チップ供給位置とボンディング位置間を往復動し得るよ
うに上部レールに懸装し、かかるヘッドの移動制御によ
りチップ供給位置に移動されたボンディングツールで半
導体チップを真空吸着保持し、次いで、それをボンディ
ング位置に移動した後、この位置の回路基板にボンディ
ングするチップボンディング装置が開示されている。こ
のように、従来のチップボンディング装置は、ボンディ
ングツールを装着したボンディングヘッドを、左右のチ
ップ供給位置とボンディング位置間を往復動させる所
謂、可動式ものであった。
の装置においては、ボンディングヘッドが、その構造
上、大型の重量物である為、高速に移動制御しようとす
ると、その停止時のショックにより振動が発生し、それ
が静止するまでの時間が比較的長くなって、これに起因
してミクロン単位のボンディング精度が要求されるチッ
プボンディングの迅速化、すなわち、短サイクルでのボ
ンディングが妨げられていた。なお、チップボンディン
グの迅速化を図る為に、複数の半導体チップを同時に真
空吸着保持し得るようにボンディングヘッドを構成する
こと等が検討されていたが、ボンディングヘッドの重量
化防止の面からして、それが困難視されていた。
解消すべく鋭意検討の結果、ボンディングヘッドを、常
にボンディング位置に位置されるように装着する一方に
おいて、このヘッドに対して半導体チップを供給する供
給装置を装着することにより、ボンディングヘッドのボ
ンデイングツールに対する半導体チップの供給を迅速に
行うことができて、ボンディングサイクルの短縮化を図
ることができることを見い出したものである。
チップボンディング装置は、半導体チップを保持し、ボ
ンディングステージに支持された回路基板に前記半導体
チップをボンディングするボンディングツールを上下動
し得るように装着したボンディングヘッドを、常にボン
ディング位置に位置されるように装着すると共に、前記
半導体チップをチップ保持部に保持し、待機位置に移動
されている前記ボンディングツールの下端下のチップ渡
し位置に、前記チップ保持部を水平に保ったまま移送す
るチップスライダーを備えたチップ供給装置を装着した
ことを特徴とするものである。
されて水平方向のみに移動し得るように装着されている
のが好ましい。
は、複数の半導体チップを保持し得るように構成されて
いるのが好ましい。
は、半導体チップを真空吸着保持し得るように構成され
ているのが好ましい。
に半導体チップが供給されるチップ供給位置と、チップ
渡し位置とを往復動し得るように装着されているのが好
ましい。
往復動し得るように装着する場合においては、ボンディ
ング中においてチップ供給位置からボンディングヘッド
に接近された一時停止位置に移動し、次いで、ボンディ
ングツールが待機位置に移動されると、前記チップスラ
イダーがチップ渡し位置に移動し得るように装着するの
が好ましい。
チップ1を保持したチップスライダー2が、ボンディン
グヘッド4の、上方の待機位置に移動されているボンデ
イングツール3の下端下のチップ渡し位置Eに移動され
て来ると、ボンデイングツール3が、下方へ移動されて
チップスライダー2上の半導体チップ1に軽く当接され
て、かかるチップ1を真空吸着保持し、次いで、元の上
方の待機位置(原点位置)にリターンされる。
プ渡し位置Eからチップ供給位置Dへ移動される。する
と、ボンデイングツール3が再び下方へ移動され、図示
されていない下方のボディングステージ上の回路基板に
接近せしめられ、次いで、エアーシリンダー8のピスト
ンロッド9が突出されて加圧伝達軸10が下方へ押し付
けられる。その為、加圧伝達軸10によりボンデイング
ツール3が下方へ押されて所定のボンデイング圧力が付
与され、従って、図示されていない回路基板に半導体チ
ップ1を加熱圧着、すなわち、ボンデイングすることが
できる。
導体チップ1を保持したチップスライダー2が、チップ
供給位置Dからボンディングヘッド4に接近された一時
停止位置Cに移動され、そして、ボンディングを終えて
ボンデイングツール3が上方の待機位置(原点位置)へ
リターンされると、チップ渡し位置Eに移動される。そ
の為、待機位置のボンディングツール3に対する半導体
チップ1の供給を迅速に行うことができて短いサイクル
で次々とボンディングすることができる。
正面図である図2において、チップローダ30は、チッ
プトレー31中の半導体チップ1を真空吸着保持し、そ
れをチップ供給位置Dのチップスライダー2に供給す
る。その際、X方向(左右方向)及びこの方向と直交す
るY方向(前後方向)に移動すると共に真空吸着パッド
32をZ方向(上下方向)に移動させてチップトレー3
1中の半導体チップ1を真空吸着保持し、次いで、Fの
所において吸着保持箇所の位置決めを行う。
いるように、外形位置決めテーブル33の上面に装着さ
れている一対のL字形のチップ押当板34間に半導体チ
ップ1を位置させた状態において、チップローダ30を
XY方向に微動させて半導体チップ1を両チップ押当板
34に当接させるように行われ、これにより、半導体チ
ップ1の中心部を真空吸着保持する。そして、その後、
半導体チップ1をチップ供給装置25に供給するが、こ
の供給は、チップ供給位置Dに移動されているチップス
ライダー2に対して行われる。
の図の側面図である図5において示されているように、
図示されていない装置フレームに装着されたスライダー
ブラケット35と、このブラケット35に水平に装着さ
れたレール7と、スライダーブラケット35に回転し得
るように装着されたネジ軸36と、このネジ軸36をサ
ーボモータ37及び巻き掛け伝動手段(タイミングベル
ト及びタイミングプーリ)38を介して正逆回転駆動す
る駆動装置39と、レール7に摺動し得るように係合さ
れると共にネジ軸36に螺着されたチップスライダー2
とで構成されている。
所定方向へ駆動回転させることによりチップスライダー
2を、チップ供給位置Dとチップ渡し位置E間において
往復動させることができるが、その際、チップスライダ
ー2は、チップ保持部2aを水平に保ちながらレール7
で案内されて移動される。なお、チップ保持部2aの上
面に吸気孔2bが開口されていると共に、この吸気孔2
bに連通された吸気口2cが側面に開口され、かつ、こ
の吸気口2cに図示されていない真空ポンプに連結され
た耐圧ホースの一端が連結されている。
置25は、図1において示されているように、上方の待
機位置(原点位置)に移動された待機中のボンディング
ツール3の下端下のチップ渡し位置Eに、チップスライ
ダー2を位置させ得るように装着されている。従って、
チップ供給位置Dにおいて、チップローダ30によって
チップスライダー2のチップ保持部2a上に半導体チッ
プ1が供給されると、それを真空吸着保持してチップ渡
し位置Eに移送することができる。なお、その際、ボン
ディングツール3を装着しているボンディングヘッド4
に接近された一時停止位置Cにチップスライダー2が停
止され、そして、所定時間経過後、チップ渡し位置Eに
移動される。
ディング位置Bに位置されるように装着、すなわち、他
所に移動できないようにボンディング位置Bに装着され
ている。詳述すると、図1において、Zテーブル6及び
ブラケット用縦ガイド12は、図示されていない装置フ
レームに固着されていると共に、反力受け支柱13も、
その下端が図示されていない装置フレームに固着されて
いる。なお、Zテーブル6は、サーボモータ14により
ネジ軸を回転させてピッチ送りするネジ軸送り機構(図
示されていな)を備えているが、この機構にヘッドブラ
ケット5が連携されている。従って、かかる機構を介し
てヘッドブラケット5が移動されると、これに装着され
ているボンデイングツール3及び加圧伝達軸10が一緒
に移動される。
ップ1を真空吸着保持し得ると共にヒータを内蔵し、図
示されていないパルスヒータ制御装置により迅速に所定
温度に加熱し得るように構成され、一対の弾性体(コイ
ルバル)15を介してヘッドブラケット5に懸装、すな
わち、ヘッドブラケット5に装着のピン16と、ボンデ
イングツール3に装着のピン17とに、弾性体(コイル
バル)15が係止されている。なお、左側のA側にも同
様に弾性体(コイルバル)15が係止されている。その
為、ボンデイングツール3は、ヘッドブラケット5に装
着されている一対のツール用縦ガイド18(図示されて
いる側と対向する側にも装着されている)で案内されて
上下方向に摺動することができる。
ト3に装着されている軸受19により支持されている
が、その下端がボンデイングツール3の上端に当接され
て抜け止めされ、かつ、上端がヘッドブラケット3の上
面上に一定長突出されるようにヘッドブラケット5を貫
通して上下方向に摺動し得るように装着されている。
ることにより、ボンデイングツール3を、左右のツール
用縦ガイド18で案内して下方へ移動させることができ
ると共に、かかる押し付けを解除することにより、上方
の元の原点位置にリターンさせることができる。図1に
おいては、この状態が示されている。
ケット用縦ガイド12に摺動し得るように係合されてい
ると共に弾性体(コイルバル)20を介して反力受け支
柱13に懸装、すなわち、シリンダーブラケット11に
装着のピン21と、反力受け支柱13に装着のピン22
とに、弾性体(コイルバル)20が係止されている。な
お、シリンダーブラケット11の上面側にはロードセル
23が装着され、更に、その下面側に、ピストンロッド
9を下方に突出し得るようにエアーシリンダー8が装着
されているが、ロードセル23の上端は、反力受け支柱
13に対して所定間隔に離別されていると共に、ピスト
ンロッド9と加圧伝達軸10とボンデイングツール3と
は、上下方向に同心的に位置され、かつ、ピストンロッ
ド9と加圧伝達軸10とは、通常においては、互いに一
定間隔に離別されているその為、チップ供給装置25の
チップスライダー2が、チップ渡し位置Eに移送して来
る半導体チップ1を、ボンデイングツール3で真空吸着
保持し、次いで、このツール3を一旦、上方の待機位置
に移動せた後、下方へ移動させて、ボディングステージ
40(図2参照)に支持されている回路基板41に接近
せしめた後、エアーシリンダー8のピストンロッド9を
突出させて加圧伝達軸10を下方へ押し付け、これによ
りボンデイングツール3が下方へ押されて所定のボンデ
イング圧力が付与され、従って、回路基板41に、半導
体チップ1を加熱圧着、すなわち、ボンデイングするこ
とができる。
常にボンディング位置Bに位置させるように装着する一
方において、このヘッド4に対して半導体チップ1を供
給するチップ供給装置25を装着しているので、ボンデ
ィングヘッド4のボンデイングツール3に対する半導体
チップ1の供給を迅速に行うことができて、ボンディン
グサイクルの短縮化を図ることができる。また、チップ
供給装置25を、レール7で案内されて移動されるチッ
プスライダー2を装着した型式に構成しているので、チ
ップ供給装置の小形軽量化を図ることができる。
半導体チップ1をボンディングツール3が真空吸着保持
して上方の待機位置に移動されると、空荷のチップスラ
イダー2は、チップ渡し位置Eからチップ供給位置Dへ
移動され、そして、半導体チップ1を真空吸着保持して
いるボンディングツール3が下方へ移動されてボンディ
ングしている間に、続いてボンディングしようとする半
導体チップ1を一時停止位置Cに移送して来る。
ィングツール3が上方の待機位置に移動されると共に、
ボンディング位置Bに位置決めされていた回路基板41
が図2において示されているように、ボンディング位置
Bの左側の退避位置Gに移送されるが、その際、回路基
板41を支持しているボディングステージ40が所定に
移動制御される。なお、ボディングステージ40は、X
Yθテーブルで構成されている。
チップスライダー2がチップ渡し位置Eに移動される
と、ボンディングツール3が上方の待機位置から下方へ
移動され、チップスライダー2上の半導体チップ1を真
空吸着保持する。以下、このような工程の繰り返しによ
り、次々とボンディングことができるが、それに先行し
て、ボディングステージ40を左側の退避位置Gからボ
ンディング位置Bに移動させて回路基板41をボンディ
ング位置Bに移送させた状態において、ボンディングツ
ール3により真空吸着保持されている半導体チップ1
と、ボディングステージ40に支持されている回路基板
41との精密位置決めが行われる。
ングツール3が真空吸着保持している半導体チップ1の
アライメントマークをCCDカメラ42で検出(撮像)
し、次いで、CCDカメラ42を図2において示されて
いるように、かかる撮像位置からボンディング位置Bの
右側の退避位置Hに移動させた後、ボディングステージ
40を左側の退避位置Gからボンディング位置Bに移動
させて回路基板41をボンディング位置Bに移送した上
で、この基板1のアライメントマークをCCDカメラ4
2で検出(撮像)し、そして、両アライメントマークの
位置ずれ量を画像処理系内において算出して、その結果
に基いてボディングステージ40を所定に微動制御して
行われる。
れているXYZテーブルの移動制御を介して退避位置H
とアライメント検出位置(撮像位置)間を移動されると
共に検出に適したレベルに所定に移動される。また、ボ
ンデイングツール3は、これの下端側部に開口されてい
る吸気通路(図示されていない)にその一端が連結され
ている耐圧ホースを経て吸気することにより、前記吸気
通路と連通されるようにツール下端面(チップ吸着保持
面)に開口されている吸気孔から吸気して半導体チップ
1を真空吸着保持することができるが、かかる耐圧ホー
スの他端は、図示されていない真空ポンプに連結されて
いる。
チップスライダー2がボンデイングツール3の下方のチ
ップ渡し位置Eに移動されて来ると、Zテーブル6の駆
動によりヘッドブラケット5と一緒にボンデイングツー
ル3が下方へ移動され、ツール下端面がスライダー2上
の半導体チップ1に軽く当接される。すると、前記真空
ポンプが駆動され、これにより半導体チップ1を真空吸
着保持することができる。なお、その際、チップスライ
ダー2における吸気は停止される。
得たボンデイングツール3が、Zテーブル6の駆動によ
りヘッドブラケット5と一緒に上方の元の位置、すなわ
ち、待機位置へ移動される。一方、空荷のチップスライ
ダー2は、このチップ渡し位置Eからチップ供給位置D
へ移動される。なお、チップスライダー2は、常にチッ
プ保持部2aを水平に保って移動される。
1を受け取り、ここからボンデイングツール3に接近さ
れた一時停止位置Cに移動する。なお、一時停止位置C
は可能な限りボンディングヘッド4に接近された位置が
好ましく、この位置Cへの移動は、ボンデイングツール
3が下方へ移動されてボンディングしている間に行わ
れ、かつ、ボンデイングツール3がボンディングを終え
て上方の原点位置へ移動、すなわち、待機位置に移動さ
れると、一時停止位置Cからチップ渡し位置Eに移動さ
れる。
上方の待機位置に移動されたボンデイングツール3は、
次いで、Zテーブル6の駆動により、図示されていない
下方のボディングステージ上の回路基板に接近せしめら
れ、そして、エアーシリンダー8によりボンディング圧
力が付与される。なお、ボンデイングツール3が上方の
待機位置(原点位置)に移動された状態においては、加
圧伝達軸10の上端とエアーシリンダー8のピストンロ
ッド9の下端とは一定間隔に離別されているが、エアー
シリンダー8のピストンロッド9の突出により両者が当
接され、加圧伝達軸10の下方への移動により、ボンデ
イングツール3に所定のボンディング圧力が付与され
る。
3に所定のボンディング圧力が付与されると、その反力
が、ボンデイングツール3、加圧伝達軸10及びエアー
シリンダー8のピストンロッド9を経てシリンダーブラ
ケット11に作用する。すると、このブラケット11が
ブラケット用縦ガイド12で案内されて上方へ摺動さ
れ、シリンダーブラケット11の上面側のロードセル2
3が、反力受け支柱23に当接される。
ケット用縦ガイド12との係合箇所、及びZテーブル6
とヘッドブラケット5との連携箇所に過大なモーメント
が作用するのを防止することができ、もって、回路基板
のボンディング面に対するボンディングツール3のチッ
プ吸着保持面(ボンディングツールの下端面)の平行度
を一定に保つことがことができて、従来のボンディング
ヘッドにおいては困難視されていた高精度のボンディン
グを確実に行うことができる。すなわち、10μ以下、
特に、5μ以下の精度に加熱圧着することができる。
渡し位置Eとチップ供給位置D間を往復動させるように
装着しているから、チップスライダー2の移動距離を短
くすることができると共に、ボンディングヘッド4に接
近された一時停止位置Cで待機させて、ここからチップ
渡し位置Eに移動させるようにしているから、チップス
ライダー2をチップ渡し位置に迅速に移動させることが
でき、かつ、チップスライダー2及びボンディングツー
ル3を真空吸着型に構成しているから、大きさや形状の
異なる各種の半導体チップ1を次々とボンディングする
ことができる。
ラケット11が過度に上方へ移動しようとすると、ロー
ドセル23が反力を検出してボンディング圧力を一定に
保つことができるが、このセル23により、加圧力の表
示や加圧力の制御をすることもできるので、ボンディン
グ条件を安定化させることができる共に、一段加圧だけ
でなく多段階の加圧(ステップ加圧)もすることがで
き、従って、安定したボンディング条件を選択すること
ができ、更に、エアーシリンダー8も上下動されるの
で、ロードセル23で加圧力を測定することもできる。
リンダー8のピストンロッド9が没されて上方の原点位
置へ移動され、かつ、前記真空ポンプによる吸気が停止
されると共にZテーブル6の駆動により、ボンデイング
ツール3が上方の待機位置(原点位置)へ移動される。
このようにして、次々とボンデイングすることができ
る。なお、加圧伝達軸10が短い場合においては、この
軸10をピストンロッド9に連結しても同様の作用効果
を得ることができる。
たが、本発明においては、ボンディングしようとする回
路基板は、液晶基板のような透明基板に限定されず他の
不透明の回路基板であってもよい。また、ロードセル
は、これを装着する方が好ましいが省くこともでき、装
着する場合においては、ボンディング圧力の付与時に反
力受け支柱に当接されるように装着する態様以外に、ボ
ンディング圧力が付与されていない時も軽く当接されて
いるように、必要に応じて適宜の態様に装着することが
できる。
イダー2を一方向へ循環する型式に構成してもよいが、
その移動距離の短縮化を図る為に、往復動させる型式の
方が好ましい。また、チップスライダー2は、半導体チ
ップ1を真空吸着保持する型式に構成すること以外に、
チッブ保持部2aに、半導体チップ1を保持する為の所
定形状の凹部又は凸状枠体を形成した型式に構成しても
よい。しかし、これでは、大きさや形状が異なる各種の
半導体チップ1に対応し得ないから、真空吸着保持する
型式に構成するのが好ましく、かつ、ボンディングツー
ル3に対する複数の半導体チップ1の同時供給化を図る
為に、チッブ保持部2aを、複数の半導体チップ1を保
持し得るように構成するのが好ましい。
半導体チップ1を真空吸着し得る限りにおいては他の型
式、例えば、図6において示されている精密位置合せ用
の微動ステージを組み込んだ型式に構成してもよい。こ
れにおいては、ヘッドブラケット5に、精密位置合せ用
の微動ステージであるXYθテーブル26の上部を構成
しているXYテーブル26aが固着されていると共に、
XYθテーブル26の下部を構成しているθテーブル2
6bにツールブラケット27が固着され、更に、このブ
ラケット27にボンディングツール28が装着されてい
る。
ィングヘッド4と同様に、半導体チップ1を真空吸着保
持し得ると共にヒータを内蔵し、図示されていないパル
スヒータ制御装置により所定温度に加熱し得るように構
成されているが、これに形成されているガイド部28a
が、ツールブラケット27に形成されている穴型の縦ガ
イド27aに摺動し得るように嵌挿されている。その
為、Zテーブル6の駆動によりヘッドブラケット5が下
方へ移動されると、このブラケッ5トと一体的に下方へ
移動されるツールブラケット27に追従してボンディン
グツール28も同方向へ移動し、かつ、これと反対に、
ヘッドブラケット5が上方へ移動されると、ボンディン
グツール28も同方向へ移動される。
は28を複数装着して複数の半導体チップ1を同時に又
は交互にボンディングし得るように構成してもよいと共
に、ボンディングツール3又は28とチップスライダー
2との組み合わせ態様についても、半導体チップ1を一
個づつ真空吸着保持するボンディングツール3又は28
と、複数の半導体チップ1を保持するチップスライダー
2との組み合わせ、或いは、複数の半導体チップ1を真
空吸着保持するボンディングツール3又は28と、複数
の半導体チップ1を保持するチップスライダー2との組
み合わせ等、各種態様に設けてもよい。
によると、ボンディングヘッドのボンデイングツールに
対する半導体チップの供給を迅速に行うことができて、
ボンディングサイクルの短縮化を図ることができる。
チップ供給装置の小形軽量化を図ることができる。
チップ供給装置の小形軽量化を図ることができると共に
複数の半導体チップの同時供給化を図ることができる。
チップ供給装置の小形軽量化を図ることができると共に
大きさや形状の異なる半導体チップの供給化を図ること
ができる。
チップ供給装置の小形軽量化を図ることができると共に
チップスライダーの移動距離の短縮化を図ることができ
る。
チップ供給装置の小形軽量化及びチップスライダーの移
動距離の短縮化が図れると共にチップ渡し位置へのチッ
プスライダーの迅速移動化を図ることができる。
面図である。
様を示す斜視図である。
る。
Claims (6)
- 【請求項1】 半導体チップを保持し、ボンディングス
テージに支持された回路基板に前記半導体チップをボン
ディングするボンディングツールを上下動し得るように
装着したボンディングヘッドを、常にボンディング位置
に位置されるように装着すると共に、前記半導体チップ
をチップ保持部に保持し、待機位置に移動されている前
記ボンディングツールの下端下のチップ渡し位置に、前
記チップ保持部を水平に保ったまま移送するチップスラ
イダーを備えたチップ供給装置を装着したことを特徴と
するチップボンディング装置。 - 【請求項2】 チップスライダーがレールで案内されて
水平方向のみに移動し得るように装着されていることを
特徴とする請求項1に記載のチップボンディング装置。 - 【請求項3】 チップスライダーのチップ保持部が、複
数の半導体チップを保持し得るように構成されているこ
とを特徴とする請求項1または請求項2に記載のチップ
ボンディング装置。 - 【請求項4】チップスライダーのチップ保持部が、半導
体チップを真空吸着保持し得るように構成されているこ
とを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記
載のチップボンディング装置。 - 【請求項5】 チップスライダーが、チップ保持部に半
導体チップが供給されるチップ供給位置と、チップ渡し
位置とを往復動し得るように装着されていることを特徴
とする請求項1ないし請求項4のいずれかに記載のチッ
プボンディング装置。 - 【請求項6】 チップスライダーが、ボンディング中に
おいてチップ供給位置からボンディングヘッドに接近さ
れた一時停止位置に移動し、次いで、ボンディングツー
ルが待機位置に移動されると、前記チップスライダーが
チップ渡し位置に移動し得るように装着されていること
を特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれかに記載
のチップボンディング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16290895A JP3344639B2 (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | チップボンディング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16290895A JP3344639B2 (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | チップボンディング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08335609A JPH08335609A (ja) | 1996-12-17 |
| JP3344639B2 true JP3344639B2 (ja) | 2002-11-11 |
Family
ID=15763520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16290895A Expired - Lifetime JP3344639B2 (ja) | 1995-06-05 | 1995-06-05 | チップボンディング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3344639B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5845940B2 (ja) * | 2012-02-02 | 2016-01-20 | 富士通株式会社 | 電子部品実装装置及び電子部品実装方法 |
| CN106128979B (zh) * | 2016-08-05 | 2019-11-12 | 深圳清华大学研究院 | 一种贴片机及贴片方法 |
| JPWO2023181346A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 |
-
1995
- 1995-06-05 JP JP16290895A patent/JP3344639B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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|---|---|
| JPH08335609A (ja) | 1996-12-17 |
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