JP3334337B2 - 過熱検出回路 - Google Patents
過熱検出回路Info
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- JP3334337B2 JP3334337B2 JP13272094A JP13272094A JP3334337B2 JP 3334337 B2 JP3334337 B2 JP 3334337B2 JP 13272094 A JP13272094 A JP 13272094A JP 13272094 A JP13272094 A JP 13272094A JP 3334337 B2 JP3334337 B2 JP 3334337B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は過熱検出回路に関し、詳
しくは、ＩＣ等に組み込まれ、その内部温度の異常上昇
による過熱状態を検出して回路を保護する過熱検出回路
に関する。
しくは、ＩＣ等に組み込まれ、その内部温度の異常上昇
による過熱状態を検出して回路を保護する過熱検出回路
に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、ＩＣ等には、その内部温度の異
常上昇による過熱状態を検出して回路を保護するために
過熱検出回路を組み込むことが一般的になされている。
常上昇による過熱状態を検出して回路を保護するために
過熱検出回路を組み込むことが一般的になされている。
【０００３】この種の過熱検出回路は、図３に示すよう
に温度依存性のない基準電圧ＶR 〔以下、単に基準電圧
と称す〕を生成するバンドギャップ回路部１と、そのバ
ンドギャップ回路部１の後段に設けられ、前記基準電圧
ＶR を分割して温度依存性のない電圧ＶA と温度依存性
のある検出電圧ＶB とを比較し、その比較結果を検出信
号Ｓとして出力する判定回路部２とで構成される。
に温度依存性のない基準電圧ＶR 〔以下、単に基準電圧
と称す〕を生成するバンドギャップ回路部１と、そのバ
ンドギャップ回路部１の後段に設けられ、前記基準電圧
ＶR を分割して温度依存性のない電圧ＶA と温度依存性
のある検出電圧ＶB とを比較し、その比較結果を検出信
号Ｓとして出力する判定回路部２とで構成される。
【０００４】前記バンドギャップ回路部１は、複数の抵
抗Ｒ0 〜Ｒ3 、ＰチャンネルのＭＯＳトランジスタＴｒ
1 、複数のダイオードＤ1 〜Ｄ4 、オペアンプＯＰ1 に
より回路構成され、電源電圧ＶCCに基づいて温度依存性
のない基準電圧ＶR を生成し、オペアンプＯＰ1 及びＭ
ＯＳトランジスタＴｒ1 を介して出力する。
抗Ｒ0 〜Ｒ3 、ＰチャンネルのＭＯＳトランジスタＴｒ
1 、複数のダイオードＤ1 〜Ｄ4 、オペアンプＯＰ1 に
より回路構成され、電源電圧ＶCCに基づいて温度依存性
のない基準電圧ＶR を生成し、オペアンプＯＰ1 及びＭ
ＯＳトランジスタＴｒ1 を介して出力する。
【０００５】一方、判定回路部２は、複数の抵抗Ｒ4 〜
Ｒ7 、過熱検出用素子としてのダイオードＤ5 ，Ｄ6 、
オペアンプＯＰ2 、ＮチャンネルのＭＯＳトランジスタ
Ｔｒ 2 により回路構成され、前記バンドギャップ回路部
１から出力される基準電圧Ｖ R 〔具体的には抵抗Ｒ5 と
Ｒ6 ，Ｒ7 で分圧した一定電圧ＶA 〕をオペアンプＯＰ
2 のマイナス端子に入力すると共に、前記ダイオードＤ
5 ，Ｄ6 の順方向電圧である温度依存性のある検出電圧
ＶB を前記オペアンプＯＰ2 のプラス端子に入力する。
このオペアンプＯＰ2 にて、温度依存のない一定の基準
電圧ＶR と温度依存性のある検出電圧ＶB とを比較し、
その比較結果に基づいて過熱検出信号Ｓ〔以下、単に検
出信号と称す〕を出力し、この検出信号Ｓにより後段の
保護回路〔図示せず〕を動作させ、ＩＣ等の内部回路を
過熱状態から未然に保護するようにしている。尚、前記
ＭＯＳトランジスタＴｒ2 は、過熱検出レベル近傍での
ノイズ等による振動を抑制するためのものである。
Ｒ7 、過熱検出用素子としてのダイオードＤ5 ，Ｄ6 、
オペアンプＯＰ2 、ＮチャンネルのＭＯＳトランジスタ
Ｔｒ 2 により回路構成され、前記バンドギャップ回路部
１から出力される基準電圧Ｖ R 〔具体的には抵抗Ｒ5 と
Ｒ6 ，Ｒ7 で分圧した一定電圧ＶA 〕をオペアンプＯＰ
2 のマイナス端子に入力すると共に、前記ダイオードＤ
5 ，Ｄ6 の順方向電圧である温度依存性のある検出電圧
ＶB を前記オペアンプＯＰ2 のプラス端子に入力する。
このオペアンプＯＰ2 にて、温度依存のない一定の基準
電圧ＶR と温度依存性のある検出電圧ＶB とを比較し、
その比較結果に基づいて過熱検出信号Ｓ〔以下、単に検
出信号と称す〕を出力し、この検出信号Ｓにより後段の
保護回路〔図示せず〕を動作させ、ＩＣ等の内部回路を
過熱状態から未然に保護するようにしている。尚、前記
ＭＯＳトランジスタＴｒ2 は、過熱検出レベル近傍での
ノイズ等による振動を抑制するためのものである。
【０００６】ＩＣ等の内部回路が正常状態の場合、オペ
アンプＯＰ2 に入力される基準電圧ＶR よりも検出電圧
ＶB が大きくなるように設定しておく。この時のオペア
ンプＯＰ2 から出力される検出信号Ｓは“Ｈ”となって
いる。これに対して、ＩＣ等の内部回路が異常に温度上
昇して過熱状態となると、温度依存性のある検出電圧Ｖ
B が低下して前記基準電圧ＶR よりも小さくなり、前記
オペアンプＯＰ2 から出力される検出信号Ｓが“Ｌ”と
なる。この検出信号Ｓのレベル変化に基づいて前記保護
回路を動作させるようにしている。
アンプＯＰ2 に入力される基準電圧ＶR よりも検出電圧
ＶB が大きくなるように設定しておく。この時のオペア
ンプＯＰ2 から出力される検出信号Ｓは“Ｈ”となって
いる。これに対して、ＩＣ等の内部回路が異常に温度上
昇して過熱状態となると、温度依存性のある検出電圧Ｖ
B が低下して前記基準電圧ＶR よりも小さくなり、前記
オペアンプＯＰ2 から出力される検出信号Ｓが“Ｌ”と
なる。この検出信号Ｓのレベル変化に基づいて前記保護
回路を動作させるようにしている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述した従
来の過熱検出回路では、判定回路部２に設けられた過熱
検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ6 により生成された検出電圧
ＶB を、バンドギャップ回路部１から出力される基準電
圧ＶR と比較することにより、その比較結果に基づいて
検出信号Ｓを出力するようにしている。このように、前
記バンドギャップ回路部１とは別に、判定回路部２の過
熱検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ6 により検出電圧ＶB を生
成するようにしている。
来の過熱検出回路では、判定回路部２に設けられた過熱
検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ6 により生成された検出電圧
ＶB を、バンドギャップ回路部１から出力される基準電
圧ＶR と比較することにより、その比較結果に基づいて
検出信号Ｓを出力するようにしている。このように、前
記バンドギャップ回路部１とは別に、判定回路部２の過
熱検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ6 により検出電圧ＶB を生
成するようにしている。
【０００８】ここで、前記バンドギャップ回路部１はＩ
Ｃ内に作り込まれるが、その製造上、バンドギャップ回
路部１の回路特性にバラツキが生じ、そのバンドギャッ
プ回路部１から出力される基準電圧ＶR に製造上のバラ
ツキが発生することがある。この場合、前述したように
検出電圧ＶB を生成する過熱検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ
6 は、前記バンドギャップ回路部１とは別に作り込まれ
るため、前記検出電圧ＶB は、基準電圧ＶR に依存する
ことなく独立に生成している。その結果、基準電圧ＶR
に製造上のバラツキが生じても、検出電圧ＶB に変わり
はないので、判定回路部２から出力される検出信号のレ
ベル変化のタイミングにずれが生じて検出精度が低下す
るという問題があった。
Ｃ内に作り込まれるが、その製造上、バンドギャップ回
路部１の回路特性にバラツキが生じ、そのバンドギャッ
プ回路部１から出力される基準電圧ＶR に製造上のバラ
ツキが発生することがある。この場合、前述したように
検出電圧ＶB を生成する過熱検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ
6 は、前記バンドギャップ回路部１とは別に作り込まれ
るため、前記検出電圧ＶB は、基準電圧ＶR に依存する
ことなく独立に生成している。その結果、基準電圧ＶR
に製造上のバラツキが生じても、検出電圧ＶB に変わり
はないので、判定回路部２から出力される検出信号のレ
ベル変化のタイミングにずれが生じて検出精度が低下す
るという問題があった。
【０００９】そこで、本発明は上記問題点に鑑みて提案
されたもので、その目的とするところは、バンドギャッ
プ回路部から出力される基準電圧にその製造上のバラツ
キが生じても、検出精度が低下することなく、所定の検
出精度を維持し得る過熱検出回路を提供することにあ
る。
されたもので、その目的とするところは、バンドギャッ
プ回路部から出力される基準電圧にその製造上のバラツ
キが生じても、検出精度が低下することなく、所定の検
出精度を維持し得る過熱検出回路を提供することにあ
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の技術的手段として、本発明は、電源電圧に基づいてバ
ンドギャップ回路部により温度依存性のない基準電圧を
生成し、前記基準電圧と過熱検出用素子により生成した
温度依存性のある検出電圧とを比較し、その比較結果に
基づいて過熱検出信号を出力するようにした過熱検出回
路において、前記バンドギャップ回路部内で温度依存性
のある電位差を生成する回路素子を過熱検出用素子に兼
用したことを特徴とする。
の技術的手段として、本発明は、電源電圧に基づいてバ
ンドギャップ回路部により温度依存性のない基準電圧を
生成し、前記基準電圧と過熱検出用素子により生成した
温度依存性のある検出電圧とを比較し、その比較結果に
基づいて過熱検出信号を出力するようにした過熱検出回
路において、前記バンドギャップ回路部内で温度依存性
のある電位差を生成する回路素子を過熱検出用素子に兼
用したことを特徴とする。
【００１１】尚、前記バンドギャップ回路部内に設けら
れた回路素子はダイオードであり、前記回路素子は複数
のダイオードを直列接続したものであることが望まし
い。
れた回路素子はダイオードであり、前記回路素子は複数
のダイオードを直列接続したものであることが望まし
い。
【００１２】
【作用】本発明に係る過熱検出回路では、過熱検出用素
子は、バンドギャップ回路部内に設けられた温度依存性
のある電位差を生成する回路素子で兼用したから、前記
バンドギャップ回路部とは別に過熱検出用素子を設ける
必要がない。その結果、バンドギャップ回路部から出力
される基準電圧に製造上のバラツキが生じても、その回
路特性でもって、前記基準電圧に依存した検出電圧を生
成することができ、所定の検出精度を維持できると共に
回路構成の簡略化が図れる。
子は、バンドギャップ回路部内に設けられた温度依存性
のある電位差を生成する回路素子で兼用したから、前記
バンドギャップ回路部とは別に過熱検出用素子を設ける
必要がない。その結果、バンドギャップ回路部から出力
される基準電圧に製造上のバラツキが生じても、その回
路特性でもって、前記基準電圧に依存した検出電圧を生
成することができ、所定の検出精度を維持できると共に
回路構成の簡略化が図れる。
【００１３】
【実施例】本発明に係る過熱検出回路の実施例を図１及
び図２に示して説明する。尚、図３と同一部分には同一
参照符号を付して重複説明は省略する。
び図２に示して説明する。尚、図３と同一部分には同一
参照符号を付して重複説明は省略する。
【００１４】本発明の特徴は、バンドギャップ回路部１
１内で温度依存性のある電位差を生成する回路素子を過
熱検出用素子に兼用したことにある。即ち、図１に示す
実施例では、図３に示す従来回路における判定回路部２
の過熱検出用ダイオードＤ5，Ｄ6 を省略し、判定回路
部１２のオペアンプＯＰ2 のプラス入力を、バンドギャ
ップ回路部１１のオペアンプＯＰ1 のマイナス入力とダ
イオードＤ1 との間に接続する。このようにして、過熱
検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ6 を判定回路部１２に設ける
ことなく、バンドギャップ回路部１１の温度依存性のあ
る回路素子であるダイオードＤ1 ，Ｄ2 を過熱検出用素
子として兼用することが可能となる。
１内で温度依存性のある電位差を生成する回路素子を過
熱検出用素子に兼用したことにある。即ち、図１に示す
実施例では、図３に示す従来回路における判定回路部２
の過熱検出用ダイオードＤ5，Ｄ6 を省略し、判定回路
部１２のオペアンプＯＰ2 のプラス入力を、バンドギャ
ップ回路部１１のオペアンプＯＰ1 のマイナス入力とダ
イオードＤ1 との間に接続する。このようにして、過熱
検出用ダイオードＤ5 ，Ｄ6 を判定回路部１２に設ける
ことなく、バンドギャップ回路部１１の温度依存性のあ
る回路素子であるダイオードＤ1 ，Ｄ2 を過熱検出用素
子として兼用することが可能となる。
【００１５】尚、図２に示す実施例のように、判定回路
部１２のオペアンプＯＰ2 のプラス入力を、バンドギャ
ップ回路部１１の電源電圧ＶCCを分圧する分圧抵抗Ｒ3
とダイオードＤ3 との間に接続するようにしてもよい。
この場合、バンドギャップ回路部１１の温度依存性のあ
る回路素子であるダイオードＤ3 ，Ｄ4 を過熱検出用素
子として兼用することになる。
部１２のオペアンプＯＰ2 のプラス入力を、バンドギャ
ップ回路部１１の電源電圧ＶCCを分圧する分圧抵抗Ｒ3
とダイオードＤ3 との間に接続するようにしてもよい。
この場合、バンドギャップ回路部１１の温度依存性のあ
る回路素子であるダイオードＤ3 ，Ｄ4 を過熱検出用素
子として兼用することになる。
【００１６】上記二つの実施例における過熱検出回路で
は、従来と同様、バンドギャップ回路部１１にて、電源
電圧ＶCCに基づいて温度依存性のない基準電圧ＶR を生
成して出力し、その基準電圧ＶR 〔具体的には抵抗Ｒ5
とＲ6 ，Ｒ7 で分圧した一定電圧ＶA 〕をオペアンプＯ
Ｐ2 のマイナス端子に入力する。一方、本発明では、前
記バンドギャップ回路部１１内に設けられた温度依存性
のある電位差を生成するダイオードＤ1 ，Ｄ2 又はＤ
3 ，Ｄ4 の順方向電圧である検出電圧ＶB を判定回路部
１２の前記オペアンプＯＰ2 のプラス端子に入力する。
は、従来と同様、バンドギャップ回路部１１にて、電源
電圧ＶCCに基づいて温度依存性のない基準電圧ＶR を生
成して出力し、その基準電圧ＶR 〔具体的には抵抗Ｒ5
とＲ6 ，Ｒ7 で分圧した一定電圧ＶA 〕をオペアンプＯ
Ｐ2 のマイナス端子に入力する。一方、本発明では、前
記バンドギャップ回路部１１内に設けられた温度依存性
のある電位差を生成するダイオードＤ1 ，Ｄ2 又はＤ
3 ，Ｄ4 の順方向電圧である検出電圧ＶB を判定回路部
１２の前記オペアンプＯＰ2 のプラス端子に入力する。
【００１７】このオペアンプＯＰ2 にて、温度依存のな
い一定の基準電圧ＶR と温度依存性のある検出電圧ＶB
とを比較し、その比較結果に基づいて検出信号Ｓを出力
する。ＩＣ等の内部回路が正常な場合、オペアンプＯＰ
2 に入力される基準電圧ＶRよりも検出電圧ＶB が大き
くなるように設定しておけば、この時のオペアンプＯＰ
2 から出力される検出信号Ｓは“Ｈ”となっている。こ
れに対して、ＩＣ等の内部回路が異常に温度上昇して過
熱状態となると、温度依存性のある検出電圧Ｖ B が低下
して前記基準電圧ＶR よりも小さくなり、前記オペアン
プＯＰ2 から出力される検出信号Ｓが“Ｌ”となる。こ
の検出信号Ｓのレベル変化に基づいて後段の保護回路
〔図示せず〕を動作させ、ＩＣ等の内部回路を過熱状態
から未然に保護するようにしている。
い一定の基準電圧ＶR と温度依存性のある検出電圧ＶB
とを比較し、その比較結果に基づいて検出信号Ｓを出力
する。ＩＣ等の内部回路が正常な場合、オペアンプＯＰ
2 に入力される基準電圧ＶRよりも検出電圧ＶB が大き
くなるように設定しておけば、この時のオペアンプＯＰ
2 から出力される検出信号Ｓは“Ｈ”となっている。こ
れに対して、ＩＣ等の内部回路が異常に温度上昇して過
熱状態となると、温度依存性のある検出電圧Ｖ B が低下
して前記基準電圧ＶR よりも小さくなり、前記オペアン
プＯＰ2 から出力される検出信号Ｓが“Ｌ”となる。こ
の検出信号Ｓのレベル変化に基づいて後段の保護回路
〔図示せず〕を動作させ、ＩＣ等の内部回路を過熱状態
から未然に保護するようにしている。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、バンドギャップ回路部
とは別に過熱検出用素子を設ける必要がなく、バンドギ
ャップ回路部内の回路素子を過熱検出用素子として兼用
できる。その結果、バンドギャップ回路部から出力され
る基準電圧に製造上のバラツキが生じても、その回路特
性に応じて、前記基準電圧に依存した検出電圧を生成す
ることができ、所定の検出精度を維持できると共に、回
路構成の簡略化により部品点数の低減化が図れてコスト
ダウンを実現できる。
とは別に過熱検出用素子を設ける必要がなく、バンドギ
ャップ回路部内の回路素子を過熱検出用素子として兼用
できる。その結果、バンドギャップ回路部から出力され
る基準電圧に製造上のバラツキが生じても、その回路特
性に応じて、前記基準電圧に依存した検出電圧を生成す
ることができ、所定の検出精度を維持できると共に、回
路構成の簡略化により部品点数の低減化が図れてコスト
ダウンを実現できる。
【図１】本発明に係る過熱検出回路の一実施例を示す回
路図
路図
【図２】本発明の他の実施例を示す回路図
【図３】過熱検出回路の従来例を示す回路図
１１ バンドギャップ回路部 Ｄ1 ，Ｄ2 過熱検出用素子〔ダイオード〕 ＶCC 電源電圧 ＶR 基準電圧 ＶB 過熱検出信号
Claims (3)
- 【請求項１】 電源電圧に基づいてバンドギャップ回路
部により温度依存性のない基準電圧を生成し、前記基準
電圧と過熱検出用素子により生成した温度依存性のある
検出電圧とを比較し、その比較結果に基づいて過熱検出
信号を出力するようにした過熱検出回路において、前記
バンドギャップ回路部内で温度依存性のある電位差を生
成する回路素子を過熱検出用素子に兼用したことを特徴
とする過熱検出回路。 - 【請求項２】 前記バンドギャップ回路部内に設けられ
た回路素子がダイオードであることを特徴とする請求項
１記載の過熱検出回路。 - 【請求項３】 前記回路素子が複数のダイオードを直列
接続したものであることを特徴とする請求項２記載の過
熱検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13272094A JP3334337B2 (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | 過熱検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13272094A JP3334337B2 (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | 過熱検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07336875A JPH07336875A (ja) | 1995-12-22 |
| JP3334337B2 true JP3334337B2 (ja) | 2002-10-15 |
Family
ID=15088008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13272094A Expired - Fee Related JP3334337B2 (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | 過熱検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3334337B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3928566B2 (ja) | 2003-01-30 | 2007-06-13 | 株式会社デンソー | 過熱検出装置および半導体集積回路装置 |
| JP5836074B2 (ja) * | 2011-11-11 | 2015-12-24 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 温度検出回路及びその調整方法 |
-
1994
- 1994-06-15 JP JP13272094A patent/JP3334337B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07336875A (ja) | 1995-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020702 |
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