JP3326502B2 - 回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法 - Google Patents
回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法Info
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- JP3326502B2 JP3326502B2 JP20498691A JP20498691A JP3326502B2 JP 3326502 B2 JP3326502 B2 JP 3326502B2 JP 20498691 A JP20498691 A JP 20498691A JP 20498691 A JP20498691 A JP 20498691A JP 3326502 B2 JP3326502 B2 JP 3326502B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は回転乾燥機を用いて汚
泥、ペースト状食品等のペースト状物質を乾燥する方法
に関する。
泥、ペースト状食品等のペースト状物質を乾燥する方法
に関する。
【0002】
【発明の背景】し尿汚泥や下水汚泥は悪臭や水質汚濁等
の公害の原因となるため、近年ではこれを回転乾燥機を
用いて乾燥処理して有効利用する方法が採られている。
このように回転乾燥機を用いて汚泥等のペースト状物質
を連続的に乾燥する場合には、従来乾燥室からの排出ガ
スの温度により汚泥の投入量や供給熱量を調整してい
た。即ち乾燥室からの排出ガスの温度が所定の温度より
上昇する場合には、乾燥室へのペースト状物質の投入量
を増加するか、あるいは供給熱量を減少し、また排気温
度が所定温度より低下する場合には、乾燥機へのペース
ト状物質の投入量を減少するか、あるいは供給熱量を増
加する方法である。
の公害の原因となるため、近年ではこれを回転乾燥機を
用いて乾燥処理して有効利用する方法が採られている。
このように回転乾燥機を用いて汚泥等のペースト状物質
を連続的に乾燥する場合には、従来乾燥室からの排出ガ
スの温度により汚泥の投入量や供給熱量を調整してい
た。即ち乾燥室からの排出ガスの温度が所定の温度より
上昇する場合には、乾燥室へのペースト状物質の投入量
を増加するか、あるいは供給熱量を減少し、また排気温
度が所定温度より低下する場合には、乾燥機へのペース
ト状物質の投入量を減少するか、あるいは供給熱量を増
加する方法である。
【0003】このような調整方法は、一般に乾燥室から
の排気温度が上昇することは乾燥機に供給された熱量に
対して被乾燥物の量が少なすぎるからであり、排気温度
が低下することは逆に乾燥機に供給された熱量に対して
被乾燥物の量が多すぎるという理論に基づいてなされる
ものである。
の排気温度が上昇することは乾燥機に供給された熱量に
対して被乾燥物の量が少なすぎるからであり、排気温度
が低下することは逆に乾燥機に供給された熱量に対して
被乾燥物の量が多すぎるという理論に基づいてなされる
ものである。
【0004】しかし通常はこのような調整方法により管
理することができるのであるが、汚泥等のペースト状物
質は含水率が高いと粘性も高く、乾燥機内での分散性も
悪化するから、このような場合は上記の方法では乾燥が
できない場合も生ずる。即ち乾燥機に投入されたペース
ト状物質の量が多すぎると、乾燥が不十分になりペース
ト状物質は十分に分散されなくなる。その結果、乾燥室
内壁や破砕攪拌翼などにペースト状物質が付着したり、
大きな塊を生じて熱風との有効接触面積が減少し、伝熱
特性が悪化して乾燥能率は極端に低下する。
理することができるのであるが、汚泥等のペースト状物
質は含水率が高いと粘性も高く、乾燥機内での分散性も
悪化するから、このような場合は上記の方法では乾燥が
できない場合も生ずる。即ち乾燥機に投入されたペース
ト状物質の量が多すぎると、乾燥が不十分になりペース
ト状物質は十分に分散されなくなる。その結果、乾燥室
内壁や破砕攪拌翼などにペースト状物質が付着したり、
大きな塊を生じて熱風との有効接触面積が減少し、伝熱
特性が悪化して乾燥能率は極端に低下する。
【0005】すると乾燥室に吹き込まれた熱風はペース
ト状物質と十分接触しないで乾燥機内を吹き抜けてしま
うので、排気温度は上昇する。このような状態において
従来方法による調整が行なわれたときには、排気温度を
設定値に保つべく、乾燥機へのペースト状物質の投入量
を増加させるか、あるいは供給熱量を減少させるように
なっているので、乾燥が進行するどころか乾燥機内での
ペースト状物質の付着はますます増加し、一層未乾燥の
方向に進んで最悪の場合には乾燥不能になってしまうと
いう問題が存在していた。
ト状物質と十分接触しないで乾燥機内を吹き抜けてしま
うので、排気温度は上昇する。このような状態において
従来方法による調整が行なわれたときには、排気温度を
設定値に保つべく、乾燥機へのペースト状物質の投入量
を増加させるか、あるいは供給熱量を減少させるように
なっているので、乾燥が進行するどころか乾燥機内での
ペースト状物質の付着はますます増加し、一層未乾燥の
方向に進んで最悪の場合には乾燥不能になってしまうと
いう問題が存在していた。
【0006】
【開発を試みた技術的事項】本発明はこのような背景に
鑑みなされたものであって、乾燥室の排気温度の上昇が
上記のような乾燥の進行によるものか、未乾燥に起因す
るものかどうかを判別し、その結果に応じて適宜の対応
をすることで、回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥
を安定して連続的に行なえるようにした回転乾燥機によ
るペースト状物質の乾燥方法に関するものである。
鑑みなされたものであって、乾燥室の排気温度の上昇が
上記のような乾燥の進行によるものか、未乾燥に起因す
るものかどうかを判別し、その結果に応じて適宜の対応
をすることで、回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥
を安定して連続的に行なえるようにした回転乾燥機によ
るペースト状物質の乾燥方法に関するものである。
【0007】
【目的達成の手段】即ち本出願に係る第一の発明たる回
転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法は、回転乾燥
機によりペースト状物質を連続的に乾燥する方法におい
て、乾燥室からの排出ガス温度と乾燥処理された製品の
水分量とをあらかじめ設定された所定値と比較すること
により、排出ガス温度の上昇が、ペースト状物質の乾燥
の進行によるものか、あるいはペースト状物質の分散性
の悪さに起因する未乾燥によるものか否かを判断して、
乾燥室へ投入するペースト状物質の量または乾燥室へ供
給する熱量のいずれか一方または双方を調整することを
特徴として成るものである。
転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法は、回転乾燥
機によりペースト状物質を連続的に乾燥する方法におい
て、乾燥室からの排出ガス温度と乾燥処理された製品の
水分量とをあらかじめ設定された所定値と比較すること
により、排出ガス温度の上昇が、ペースト状物質の乾燥
の進行によるものか、あるいはペースト状物質の分散性
の悪さに起因する未乾燥によるものか否かを判断して、
乾燥室へ投入するペースト状物質の量または乾燥室へ供
給する熱量のいずれか一方または双方を調整することを
特徴として成るものである。
【0008】また本出願に係る第二の発明たる回転乾燥
機によるペースト状物質の乾燥方法は、前記要件に加
え、乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸収式水分計
により計測することを特徴として成るものである。これ
ら発明によって前記目的を達成しようとするものであ
る。
機によるペースト状物質の乾燥方法は、前記要件に加
え、乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸収式水分計
により計測することを特徴として成るものである。これ
ら発明によって前記目的を達成しようとするものであ
る。
【0009】
【発明の作用】本発明では乾燥室からの排出ガス温度に
加えて、乾燥処理された製品の水分量をも考慮して乾燥
室へ投入するペースト状物質の量あるいは乾燥室へ供給
する熱量を調整するようにしたから、排出ガス温度の上
昇がペースト状物質の乾燥の進行によるものか、ペース
ト状物質の分散性の悪さに起因する未乾燥によるものか
否かを判断でき、これによりペースト状物質の投入量の
調整や供給熱量の増加減少の適宜の措置を行なうことが
できる。また乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸収
式水分計により計測するようにすれば、非接触で連続的
に水分量を検知できる。
加えて、乾燥処理された製品の水分量をも考慮して乾燥
室へ投入するペースト状物質の量あるいは乾燥室へ供給
する熱量を調整するようにしたから、排出ガス温度の上
昇がペースト状物質の乾燥の進行によるものか、ペース
ト状物質の分散性の悪さに起因する未乾燥によるものか
否かを判断でき、これによりペースト状物質の投入量の
調整や供給熱量の増加減少の適宜の措置を行なうことが
できる。また乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸収
式水分計により計測するようにすれば、非接触で連続的
に水分量を検知できる。
【0010】
【実施例】以下本発明を図示の実施例に基づいて説明す
る。図1は本発明の方法を実施するための各種装置をフ
ローシートの形式で表したものであって、これに基づい
てペースト状物質の一例たる汚泥を乾燥する工程につい
て説明するが、その前に本発明の方法を実施する直接の
装置である回転乾燥機の構造について説明する。尚、ペ
ースト状物質とはし尿汚泥、下水汚泥等の汚泥類、果実
しぼり粕、蛋白汚泥等の有機スラッジ、その他ペースト
状の食品を含むものである。
る。図1は本発明の方法を実施するための各種装置をフ
ローシートの形式で表したものであって、これに基づい
てペースト状物質の一例たる汚泥を乾燥する工程につい
て説明するが、その前に本発明の方法を実施する直接の
装置である回転乾燥機の構造について説明する。尚、ペ
ースト状物質とはし尿汚泥、下水汚泥等の汚泥類、果実
しぼり粕、蛋白汚泥等の有機スラッジ、その他ペースト
状の食品を含むものである。
【0011】回転乾燥機1は図1、2に示すように円筒
状の回転ドラム2の内部に乾燥室3が形成され、その内
側に乾燥室3の長手方向に延びる破砕攪拌装置4が設け
られる。また乾燥室3の一端側には原料供給口5と熱風
供給口6とが形成され、一方他端側には製品を排出する
ための製品排出口7とガス排気口8とが形成される。回
転ドラム2は回転する円筒状の部材であって、その内側
には複数のリフタ9が長手方向に形成される。また破砕
攪拌装置4は、破砕攪拌軸10に対して複数の破砕攪拌
翼11を形成して成るものである。
状の回転ドラム2の内部に乾燥室3が形成され、その内
側に乾燥室3の長手方向に延びる破砕攪拌装置4が設け
られる。また乾燥室3の一端側には原料供給口5と熱風
供給口6とが形成され、一方他端側には製品を排出する
ための製品排出口7とガス排気口8とが形成される。回
転ドラム2は回転する円筒状の部材であって、その内側
には複数のリフタ9が長手方向に形成される。また破砕
攪拌装置4は、破砕攪拌軸10に対して複数の破砕攪拌
翼11を形成して成るものである。
【0012】次にこのような回転乾燥機1によるペース
ト状物質の乾燥方法について説明する。 i)原料の供給 まず原料定量供給機12内の汚泥は投入フィーダ13に
より投入ホッパ14内に移送される。そしてこの投入ホ
ッパ14から回転乾燥機1における原料供給口5を介し
て原料を乾燥室3内へ供給する。
ト状物質の乾燥方法について説明する。 i)原料の供給 まず原料定量供給機12内の汚泥は投入フィーダ13に
より投入ホッパ14内に移送される。そしてこの投入ホ
ッパ14から回転乾燥機1における原料供給口5を介し
て原料を乾燥室3内へ供給する。
【0013】ii)乾燥処理 乾燥室3内へは熱風炉15からの熱風が熱風供給口6を
介して供給される。尚、熱風炉15から送られる熱風の
温度は、熱風炉15内の温度センサ16によって検知さ
れる。また乾燥室3では図3に示すように回転ドラム2
が回転することでリフタ9によって汚泥Aがドラム上部
へ持ち上げられて落下し、大塊汚泥は途中高速回転して
いる破砕攪拌装置4で細かく破砕される。乾燥表面が更
新された汚泥は、熱風と接触しながらドラム下部へ落下
し、再びリフタ9によってドラム上部へ持ち上げられる
という動作を繰り返す。平均水分が低くなり回転ドラム
2の中央に進む頃になると汚泥は小塊となり、回転ドラ
ム2の製品排出口7付近では汚泥は粒状化してカーテン
状に落下して最終的に製品排出口7から落下し、排出コ
ンベア17により排出される。また乾燥室3に供給され
た熱風は、ガス排気口8から排気ダンパ18を介して排
気ファン19により排気される。
介して供給される。尚、熱風炉15から送られる熱風の
温度は、熱風炉15内の温度センサ16によって検知さ
れる。また乾燥室3では図3に示すように回転ドラム2
が回転することでリフタ9によって汚泥Aがドラム上部
へ持ち上げられて落下し、大塊汚泥は途中高速回転して
いる破砕攪拌装置4で細かく破砕される。乾燥表面が更
新された汚泥は、熱風と接触しながらドラム下部へ落下
し、再びリフタ9によってドラム上部へ持ち上げられる
という動作を繰り返す。平均水分が低くなり回転ドラム
2の中央に進む頃になると汚泥は小塊となり、回転ドラ
ム2の製品排出口7付近では汚泥は粒状化してカーテン
状に落下して最終的に製品排出口7から落下し、排出コ
ンベア17により排出される。また乾燥室3に供給され
た熱風は、ガス排気口8から排気ダンパ18を介して排
気ファン19により排気される。
【0014】尚、排出コンベア17の途中には赤外線吸
収式水分計20が設けられ、これにより排出された製品
の水分量を測定できるようになっているとともに、その
測定結果は制御装置30に送られるようになっている。
この赤外線吸収式水分計20について説明すると、この
ものは基本的には近赤外域の特定波長光は水に著しく吸
収され、且つその吸収率は水の多少に依存するという特
性を利用した水分計である。しかし、光の反射率は被測
定物質の色、表面状態によって異なり、また受光素子に
到達する反射光のエネルギーは測定距離の変動によって
も影響を受けるため、光の反射を利用して水分を正確に
測定するには水の吸収による反射率の変化以外のすべて
の影響を排除する必要がある。そこで赤外線吸収式水分
計では、吸収波長近傍の水に吸収されにくい波長帯を比
較波長光として、被測定物質に吸収波長光と交互に照射
し、両波長光の反射エネルギーの比率を求めることによ
り、水の吸収による反射率の変化のみを測定できるよう
にしたものである。
収式水分計20が設けられ、これにより排出された製品
の水分量を測定できるようになっているとともに、その
測定結果は制御装置30に送られるようになっている。
この赤外線吸収式水分計20について説明すると、この
ものは基本的には近赤外域の特定波長光は水に著しく吸
収され、且つその吸収率は水の多少に依存するという特
性を利用した水分計である。しかし、光の反射率は被測
定物質の色、表面状態によって異なり、また受光素子に
到達する反射光のエネルギーは測定距離の変動によって
も影響を受けるため、光の反射を利用して水分を正確に
測定するには水の吸収による反射率の変化以外のすべて
の影響を排除する必要がある。そこで赤外線吸収式水分
計では、吸収波長近傍の水に吸収されにくい波長帯を比
較波長光として、被測定物質に吸収波長光と交互に照射
し、両波長光の反射エネルギーの比率を求めることによ
り、水の吸収による反射率の変化のみを測定できるよう
にしたものである。
【0015】因みにこのような赤外線吸収式水分計20
を適用することにより、製品と被接触の状態で連続的な
水分測定を行なうことができる。尚、もちろん水分計は
赤外線吸収式水分計以外の他の形式のものを適用しても
構わない。
を適用することにより、製品と被接触の状態で連続的な
水分測定を行なうことができる。尚、もちろん水分計は
赤外線吸収式水分計以外の他の形式のものを適用しても
構わない。
【0016】また赤外線吸収式水分計20を設ける位置
は、本実施例のものを拡大して示した図4に示すよう
に、水平方向に配置された排出コンベア17のトラフ蓋
17aに設ける他、回転乾燥機1の製品排出口7以降に
図5(a)に示すようなフライトコンベア21を有する
場合には、ケーシング22の側部にフライト部23と連
絡する測定部24を形成し、この測定部24の上部に赤
外線吸収式水分計20を設けてもよい。尚このような構
成を採る場合には赤外線吸収式水分計20とフライト部
23から測定部24内に流れ込む製品Bとの距離を一定
に保つため、ケーシング22と測定部24との境界にレ
ベル調整板25を設けることができ、また測定部24に
流れ込んだ製品Bが直接、下側のフライト部23に流れ
込まないようにショートパス防止板26を設けることが
できる。
は、本実施例のものを拡大して示した図4に示すよう
に、水平方向に配置された排出コンベア17のトラフ蓋
17aに設ける他、回転乾燥機1の製品排出口7以降に
図5(a)に示すようなフライトコンベア21を有する
場合には、ケーシング22の側部にフライト部23と連
絡する測定部24を形成し、この測定部24の上部に赤
外線吸収式水分計20を設けてもよい。尚このような構
成を採る場合には赤外線吸収式水分計20とフライト部
23から測定部24内に流れ込む製品Bとの距離を一定
に保つため、ケーシング22と測定部24との境界にレ
ベル調整板25を設けることができ、また測定部24に
流れ込んだ製品Bが直接、下側のフライト部23に流れ
込まないようにショートパス防止板26を設けることが
できる。
【0017】更に製品の移送路に図5(b)に示すよう
に斜めに形成されるシュート27がある場合には、途中
に赤外線吸収式水分計20を設け、そのやや上流側には
上側から流路の一部をさえぎるショートパス防止板28
aを設け、一方やや下流側には下側から流路の一部をさ
えぎるショートパス防止板28bを設けるようにしても
よい。因みにこのような構造を採用した場合には、二枚
のショートパス防止板28a、28bの間での製品Bと
赤外線吸収式水分計20との距離を一定に保つことがで
きる。またガス排気口8と排気ファン19との間には、
乾燥室3から排出される排出ガスの温度を計測するため
の排気温度計29が設けられ、その測定結果は制御装置
30に送られるようになっている。
に斜めに形成されるシュート27がある場合には、途中
に赤外線吸収式水分計20を設け、そのやや上流側には
上側から流路の一部をさえぎるショートパス防止板28
aを設け、一方やや下流側には下側から流路の一部をさ
えぎるショートパス防止板28bを設けるようにしても
よい。因みにこのような構造を採用した場合には、二枚
のショートパス防止板28a、28bの間での製品Bと
赤外線吸収式水分計20との距離を一定に保つことがで
きる。またガス排気口8と排気ファン19との間には、
乾燥室3から排出される排出ガスの温度を計測するため
の排気温度計29が設けられ、その測定結果は制御装置
30に送られるようになっている。
【0018】iii)乾燥条件の制御 以上のようにして汚泥の乾燥処理がなされるのである
が、この乾燥処理は連続的になされるため、汚泥Aは以
下のような制御に基づいて原料供給口5から乾燥室3内
へ連続的に供給される。まず赤外線吸収式水分計20に
より製品Bの水分量が測定され、また排気温度計29に
より排出ガスの温度が測定され、この測定値が信号とな
って制御装置30に送られる。その結果、排出ガスの温
度と製品の水分量とがあらかじめ設定された所定値と比
較して大きいか小さいかによって各々次の制御がなされ
る。
が、この乾燥処理は連続的になされるため、汚泥Aは以
下のような制御に基づいて原料供給口5から乾燥室3内
へ連続的に供給される。まず赤外線吸収式水分計20に
より製品Bの水分量が測定され、また排気温度計29に
より排出ガスの温度が測定され、この測定値が信号とな
って制御装置30に送られる。その結果、排出ガスの温
度と製品の水分量とがあらかじめ設定された所定値と比
較して大きいか小さいかによって各々次の制御がなされ
る。
【0019】排出ガスの温度が所定値を超え、製品の
水分量も所定値を超えている場合この場合は汚泥が十分
に乾燥されないまま排出ガスが温度上昇しているのであ
るから、投入フィーダ13へ信号を送りその駆動速度を
減じて乾燥室3内への汚泥Aの投入量を減少させるか、
乾燥室3へ供給する熱量を増加させればよい。尚、乾燥
室3へ供給する熱量を増加させる場合には、乾燥室3へ
供給する熱風の温度を上げてもよいし、熱風の吹込み量
を増加させてもよい。因みにこのような場合は、従来の
ように排出ガスの温度のみで制御していたときは汚泥の
投入量を増加してしまい、余計に乾燥が困難な状況とな
るが、本発明の方法は特にこのような場合に特有の効果
を有するものである。
水分量も所定値を超えている場合この場合は汚泥が十分
に乾燥されないまま排出ガスが温度上昇しているのであ
るから、投入フィーダ13へ信号を送りその駆動速度を
減じて乾燥室3内への汚泥Aの投入量を減少させるか、
乾燥室3へ供給する熱量を増加させればよい。尚、乾燥
室3へ供給する熱量を増加させる場合には、乾燥室3へ
供給する熱風の温度を上げてもよいし、熱風の吹込み量
を増加させてもよい。因みにこのような場合は、従来の
ように排出ガスの温度のみで制御していたときは汚泥の
投入量を増加してしまい、余計に乾燥が困難な状況とな
るが、本発明の方法は特にこのような場合に特有の効果
を有するものである。
【0020】排出ガスの温度が所定値を超え、製品の
水分量は所定値を超えていない場合この場合は汚泥は所
定の乾燥処理はなされているが、乾燥する汚泥の量が足
りないのであるから、乾燥室3内へ供給する汚泥の量を
増加するか、乾燥室3へ供給する熱量を減らしてもよ
い。尚、乾燥室3へ供給する熱量を減少させる場合に
は、乾燥室3へ供給する熱風の温度を下げてもよいし、
熱風の吹込み量を減少させてもよい。このようにするこ
とによって、過乾燥による燃料等のムダを省くことがで
きる。
水分量は所定値を超えていない場合この場合は汚泥は所
定の乾燥処理はなされているが、乾燥する汚泥の量が足
りないのであるから、乾燥室3内へ供給する汚泥の量を
増加するか、乾燥室3へ供給する熱量を減らしてもよ
い。尚、乾燥室3へ供給する熱量を減少させる場合に
は、乾燥室3へ供給する熱風の温度を下げてもよいし、
熱風の吹込み量を減少させてもよい。このようにするこ
とによって、過乾燥による燃料等のムダを省くことがで
きる。
【0021】排出ガスの温度は所定値を超えていない
が、製品の水分量は所定値を超えている場合この場合は
汚泥が十分に乾燥されていないのであるから、乾燥室3
内へ供給する汚泥の量を減少するか、乾燥室3へ供給す
る熱量を増加してもよい。尚、乾燥室3へ供給する熱量
を増加させる方法は前述したとおりである。
が、製品の水分量は所定値を超えている場合この場合は
汚泥が十分に乾燥されていないのであるから、乾燥室3
内へ供給する汚泥の量を減少するか、乾燥室3へ供給す
る熱量を増加してもよい。尚、乾燥室3へ供給する熱量
を増加させる方法は前述したとおりである。
【0022】排出ガスの温度は所定値を超えず、製品
の水分量も所定値を超えていない場合この場合は十分な
乾燥処理がなされているから、そのままの状態を維持す
ればよい。
の水分量も所定値を超えていない場合この場合は十分な
乾燥処理がなされているから、そのままの状態を維持す
ればよい。
【0023】
【発明の効果】本発明では乾燥室からの排出ガス温度と
乾燥処理された製品の水分量との関係から乾燥室へ投入
するペースト状物質の量または乾燥室へ供給する熱量を
調整するようにしたから、排出ガスの温度の上昇が汚泥
の乾燥が完了したものによるのか、あるいは汚泥が乾燥
せず空気室内を通過した排出ガスによるものなのかを判
定でき、特に排出ガスの温度が所定値を超え、製品の水
分量も所定値を超えている場合に汚泥の投入量を増加し
てしまい、余計に乾燥が困難な状況となるような事態を
確実に回避できる。
乾燥処理された製品の水分量との関係から乾燥室へ投入
するペースト状物質の量または乾燥室へ供給する熱量を
調整するようにしたから、排出ガスの温度の上昇が汚泥
の乾燥が完了したものによるのか、あるいは汚泥が乾燥
せず空気室内を通過した排出ガスによるものなのかを判
定でき、特に排出ガスの温度が所定値を超え、製品の水
分量も所定値を超えている場合に汚泥の投入量を増加し
てしまい、余計に乾燥が困難な状況となるような事態を
確実に回避できる。
【0024】また本発明では乾燥室に供給される熱量に
見合ったペースト状物質が投入されることになるので、
燃料等のムダを省き効率よく乾燥処理ができるようにな
る。更に乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸収式水
分計により計測するようにすれば、非接触で連続的に水
分量を検知できる。従って連続的なきめ細かな乾燥機の
制御をすることができる。
見合ったペースト状物質が投入されることになるので、
燃料等のムダを省き効率よく乾燥処理ができるようにな
る。更に乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸収式水
分計により計測するようにすれば、非接触で連続的に水
分量を検知できる。従って連続的なきめ細かな乾燥機の
制御をすることができる。
【図1】本発明の乾燥方法を適用した回転乾燥機を主体
とする各種装置の関係を示すフローシートである。
とする各種装置の関係を示すフローシートである。
【図2】回転乾燥機を拡大して示す縦断側面図である。
【図3】同上横断面図である。
【図4】赤外線吸収式水分計の設置状態を示す縦断面図
である。
である。
【図5】同上他の二種の設置態様を示す縦断面図であ
る。
る。
【符号の説明】 1 回転乾燥機 2 回転ドラム 3 乾燥室 4 破砕攪拌装置 5 原料供給口 6 熱風供給口 7 製品排出口 8 ガス排気口 9 リフタ 10 破砕攪拌軸 11 破砕攪拌翼 12 原料定量供給機 13 投入フィーダ 14 投入ホッパ 15 熱風炉 16 温度センサ 17 排出コンベア 17a トラフ蓋 18 排気ダンパ 19 排気ファン 20 赤外線吸収式水分計 21 フライトコンベア 22 ケーシング 23 フライト部 24 測定部 25 レベル調整板 26 ショートパス防止板 27 シュート 28a ショートパス防止板 28b ショートパス防止板 29 排気温度計 30 制御装置 A 汚泥 B 製品
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−150499(JP,A) 特開 昭64−34500(JP,A) 特公 平2−14603(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C02F 11/12
Claims (2)
- 【請求項1】 回転乾燥機によりペースト状物質を連続
的に乾燥する方法において、乾燥室からの排出ガス温度
と乾燥処理された製品の水分量とをあらかじめ設定され
た所定値と比較することにより、排出ガス温度の上昇
が、ペースト状物質の乾燥の進行によるものか、あるい
はペースト状物質の分散性の悪さに起因する未乾燥によ
るものか否かを判断して、乾燥室へ投入するペースト状
物質の量または乾燥室へ供給する熱量のいずれか一方ま
たは双方を調整することを特徴とする回転乾燥機による
ペースト状物質の乾燥方法。 - 【請求項2】 乾燥処理された製品の水分量を赤外線吸
収式水分計により計測することを特徴とする請求項1記
載の回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法。
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JP20498691A JP3326502B2 (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法 |
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JP20498691A JP3326502B2 (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法 |
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ID=16499585
Family Applications (1)
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JP20498691A Expired - Lifetime JP3326502B2 (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 回転乾燥機によるペースト状物質の乾燥方法 |
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1991
- 1991-05-14 JP JP20498691A patent/JP3326502B2/ja not_active Expired - Lifetime
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