JP3319827B2 - 非同期転送モード（ａｔｍ）伝送テストセル発生器 - Google Patents
非同期転送モード（ａｔｍ）伝送テストセル発生器Info
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- test
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
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- H04L12/00—Data switching networks
- H04L12/54—Store-and-forward switching systems
- H04L12/56—Packet switching systems
- H04L12/5601—Transfer mode dependent, e.g. ATM
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- Signal Processing (AREA)
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- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Description
【０００１】
【技術分野】本発明はパケット伝送、特にテストセルの
発生に関する。
発生に関する。
【０００２】
【背景技術】伝送設備の性能を評価するためにはテスト
パターンあるいはテストシーケンスを発生し、挿入する
装置が知られている。このような従来周知の装置は特定
のデータの流れのある予め定められた所にある一定の周
波数でテストパターンあるいはシーケンスを挿入するの
が代表的である。
パターンあるいはテストシーケンスを発生し、挿入する
装置が知られている。このような従来周知の装置は特定
のデータの流れのある予め定められた所にある一定の周
波数でテストパターンあるいはシーケンスを挿入するの
が代表的である。
【０００３】最近開発された伝送システムのあるもの、
例えば、非同期転送モード（ＡＴＭ）システムでは、そ
の各々が個々のパケット化されたデータの流れを含むい
わゆる論理チャネルの性能を評価することが必要であ
る。このような複数の論理チャネルが複合データ流を形
成し、これが単一の伝送媒体を通して典型的に伝送され
る。ＡＴＭ伝送はいわゆるセルごとに行なわれ、各セル
は固定長パケットになっている。固定長のパケットを満
杯にするデータが存在しない場合には、いわゆる空きセ
ルが挿入される。さらに混合されたデータ流の中へいず
れかの特定の論理チャネルの個々のパケットは、他の論
理チャネルの個々のパケットあるいはセルに関して、予
め配列されたあるいは予め割当てられた位置を持たな
い。これは個々の論理チャネル中の他のパケットすなわ
ちセルに関連した予め定められたシーケンスになってい
るだけである。従って、テストパターンあるいはテスト
シーケンスを挿入すべき従来のような固定した帯域が存
在するわけではない。ＡＴＭシステムのテストパターン
すなわちテストセルは空きセルが存在するとき、あるい
は有用なセルが入力されていないときだけ挿入される。
この両方は以降テストセル挿入機会と呼ぶ。このような
テストセル挿入機会は典型的には不均一的に生ずる。し
かし所望のテストセルをある予め定められた平均周波数
で挿入することが望ましい。ＡＴＭシステムではテスト
セルを挿入する機会は不均一な性質を持つために従来の
装置では満足な動作は望めない。
例えば、非同期転送モード（ＡＴＭ）システムでは、そ
の各々が個々のパケット化されたデータの流れを含むい
わゆる論理チャネルの性能を評価することが必要であ
る。このような複数の論理チャネルが複合データ流を形
成し、これが単一の伝送媒体を通して典型的に伝送され
る。ＡＴＭ伝送はいわゆるセルごとに行なわれ、各セル
は固定長パケットになっている。固定長のパケットを満
杯にするデータが存在しない場合には、いわゆる空きセ
ルが挿入される。さらに混合されたデータ流の中へいず
れかの特定の論理チャネルの個々のパケットは、他の論
理チャネルの個々のパケットあるいはセルに関して、予
め配列されたあるいは予め割当てられた位置を持たな
い。これは個々の論理チャネル中の他のパケットすなわ
ちセルに関連した予め定められたシーケンスになってい
るだけである。従って、テストパターンあるいはテスト
シーケンスを挿入すべき従来のような固定した帯域が存
在するわけではない。ＡＴＭシステムのテストパターン
すなわちテストセルは空きセルが存在するとき、あるい
は有用なセルが入力されていないときだけ挿入される。
この両方は以降テストセル挿入機会と呼ぶ。このような
テストセル挿入機会は典型的には不均一的に生ずる。し
かし所望のテストセルをある予め定められた平均周波数
で挿入することが望ましい。ＡＴＭシステムではテスト
セルを挿入する機会は不均一な性質を持つために従来の
装置では満足な動作は望めない。
【０００４】
【発明の概要】従来のテストセル発生と挿入装置および
それとＡＴＭシステムとの関係に関する問題はテストセ
ルの挿入を不均一に実行でき、混合データ流において各
テストセル挿入機会でテストセルを挿入でき、挿入され
るテストセルの実際の数は挿入されるべき数を越えない
ようになっているシステムによって解決される。このよ
うにして空きセルが不均一に生ずる混合データ流での所
望の予め定めたテストセル挿入率が実現される。
それとＡＴＭシステムとの関係に関する問題はテストセ
ルの挿入を不均一に実行でき、混合データ流において各
テストセル挿入機会でテストセルを挿入でき、挿入され
るテストセルの実際の数は挿入されるべき数を越えない
ようになっているシステムによって解決される。このよ
うにして空きセルが不均一に生ずる混合データ流での所
望の予め定めたテストセル挿入率が実現される。
【０００５】本発明の一実施例においては、予め定めら
れた数のセル時間が生じたことの第１の表示、すなわち
予め定めた数のセル挿入が実際に生じたことの表現と、
第１の表示と、第２の表示とに応動して挿入されるべき
テストセルの数が実際に生じたテストセル挿入の数を越
えている限りテストセル挿入付勢信号を発生することに
よって混合データ流に所望の平均周波数でテストセルの
挿入が行なわれる。
れた数のセル時間が生じたことの第１の表示、すなわち
予め定めた数のセル挿入が実際に生じたことの表現と、
第１の表示と、第２の表示とに応動して挿入されるべき
テストセルの数が実際に生じたテストセル挿入の数を越
えている限りテストセル挿入付勢信号を発生することに
よって混合データ流に所望の平均周波数でテストセルの
挿入が行なわれる。
【０００６】本発明の一実施例においては、予め定めら
れた数のテストセルが生じたことを示す第１の表示を生
ずるプログラマブルカウンタと、予め定められた数のテ
ストセルが挿入されたことの第２の表示を生ずるプログ
ラマブルカウンタを用いて混合データ流に所望の平均数
のテストセルの挿入が行なわれる。これらのカウンタの
各々には特定の計数サイクルが終了したあと、特定の初
期計数値が与えられる。各々のテストセルの初期数と、
セルカウンタの特定の数は所望のセル帯域幅を提供する
ためにはじめにプログラムされている。次に実効テスト
セル挿入帯域は（ｎ／ｍ）×（ｃ）として定義され、こ
こでｃはセルのクロック周波数であり、“ｍ”セル時間
の内に“ｎ”個のテストセルを挿入することを要求す
る。これはテストセルカウンタが計数サイクルを完了し
たときにｎ−１を格納し、またセルカウンタがその計数
サイクルを完了したときにｍ−１を格納することによっ
て実現される。他の実施例においてはセルカウンタとテ
ストセルカウンタの特定の初期値はテストセル挿入の平
均周波数を適応的に調整するために制御して変更され
る。
れた数のテストセルが生じたことを示す第１の表示を生
ずるプログラマブルカウンタと、予め定められた数のテ
ストセルが挿入されたことの第２の表示を生ずるプログ
ラマブルカウンタを用いて混合データ流に所望の平均数
のテストセルの挿入が行なわれる。これらのカウンタの
各々には特定の計数サイクルが終了したあと、特定の初
期計数値が与えられる。各々のテストセルの初期数と、
セルカウンタの特定の数は所望のセル帯域幅を提供する
ためにはじめにプログラムされている。次に実効テスト
セル挿入帯域は（ｎ／ｍ）×（ｃ）として定義され、こ
こでｃはセルのクロック周波数であり、“ｍ”セル時間
の内に“ｎ”個のテストセルを挿入することを要求す
る。これはテストセルカウンタが計数サイクルを完了し
たときにｎ−１を格納し、またセルカウンタがその計数
サイクルを完了したときにｍ−１を格納することによっ
て実現される。他の実施例においてはセルカウンタとテ
ストセルカウンタの特定の初期値はテストセル挿入の平
均周波数を適応的に調整するために制御して変更され
る。
【０００７】
【実施例】図１は簡単化されたブロック図の形で、本発
明の一実施例を含むテストセル発生器１００を示してい
る。受信されたＡＴＭのセルの流れは経路１０１を通し
て空き検出ユニット１０４とバッファ１０７に与えられ
る。受信されたＡＴＭセルの流れはＡＴＭセルの連続し
た流れであり、これは一般に空きセルと塞りセルを含ん
でいる。この説明の目的では、入来したＡＴＭの回線速
度は１５５．５２Mb／s であり、これはＳＴＭ−１速度
として知られているが、本発明はこの点に関して限定さ
れるものではない。ＡＴＭセルの流れにはビット／ワー
ドのクロックが伴っており、これはその実装によって、
もし実装が直列であれば、ＡＴＭセルの流れのビット周
波数のクロックであり、特にもしデータを並列バスで伝
送するときにはＡＴＭセル流のビット周波数の整数分の
１となる。ビット／ワードクロックは経路１０２を経由
してサブセルタイミングユニット１１７に与えられる。
さらに、固定長セルの境界を示す情報を提供するセルク
ロックを与える。セルクロックは経路１０３を経由して
サブチャネルタイミングユニット１１７、テストセルカ
ウンタ１１９、セルカウンタ１２０および制御カウンタ
１２１に与えられる。ビット／ワードクロックおよびセ
ルクロックはライン周波数、この例では１５５．５２Mb
／s のＳＴＭ−１周波数から周知の方法で誘導される。
明の一実施例を含むテストセル発生器１００を示してい
る。受信されたＡＴＭのセルの流れは経路１０１を通し
て空き検出ユニット１０４とバッファ１０７に与えられ
る。受信されたＡＴＭセルの流れはＡＴＭセルの連続し
た流れであり、これは一般に空きセルと塞りセルを含ん
でいる。この説明の目的では、入来したＡＴＭの回線速
度は１５５．５２Mb／s であり、これはＳＴＭ−１速度
として知られているが、本発明はこの点に関して限定さ
れるものではない。ＡＴＭセルの流れにはビット／ワー
ドのクロックが伴っており、これはその実装によって、
もし実装が直列であれば、ＡＴＭセルの流れのビット周
波数のクロックであり、特にもしデータを並列バスで伝
送するときにはＡＴＭセル流のビット周波数の整数分の
１となる。ビット／ワードクロックは経路１０２を経由
してサブセルタイミングユニット１１７に与えられる。
さらに、固定長セルの境界を示す情報を提供するセルク
ロックを与える。セルクロックは経路１０３を経由して
サブチャネルタイミングユニット１１７、テストセルカ
ウンタ１１９、セルカウンタ１２０および制御カウンタ
１２１に与えられる。ビット／ワードクロックおよびセ
ルクロックはライン周波数、この例では１５５．５２Mb
／s のＳＴＭ−１周波数から周知の方法で誘導される。
【０００８】空き検出ユニット１０４はセルのヘッダの
内容にもとずいて、入来セルが空きであるかどうかを判
定する。これは周知の方法で受信されたセルヘッダを期
待される空きセルのパターンと比較することによって行
なわれる。例えば、ＡＴＭの空きセルはＣＣＩＴＴ勧告
Ｉ．３６１のＢ−ＩＳＤＮ ＡＴＭレイヤ仕様に規定さ
れたヘッダを持っている。空き検出ユニット１０４はこ
のような空きセルを検出したときにアクティブ空きセル
表示信号（論理１）を発生する。この結果得られた空き
セル表示信号は経路１３１を通してＡＮＤゲート１１４
に与えられ、ここでこれは制御カウンタ１２１から経路
１１５を通して与えられたテストセル挿入付勢信号（す
なわち第２の制御信号）と組合わされてテストセル挿入
制御信号（すなわち第１の制御信号）を発生する。テス
トセル挿入制御信号は経路１１１を経由してテストパタ
ーン発生器１１０、セレクタ１０５およびテストセルカ
ウンタ１１９に与えられる。もしテストセル挿入制御信
号がアクティブ（すなわち論理１）であれば、そのとき
にだけセレクタ１０５はテストセルアセンブラ１１３か
ら供給されたテストセルを選択して経路１０９上の出力
として与える。もし入来セルが空きでなければ、あるい
はテストセル挿入付勢信号がアクティブでなければ（す
なわち論理０）そのときにはセレクタ１０５はバッファ
１０７から経路１０８に信号を与え、この信号は入来Ａ
ＴＭセル流を遅らせたもので、経路１０９上の出力とな
る。これはテストセルの発生と挿入は入来データ流に空
きセルが存在するときのみに生じ、さもなければ、入来
データ流はそのまま通過するという本発明の装置の構成
に従っている。バッファ１０７からのセルはバッファ１
０７によって挿入される固定遅延以外は変わることはな
い。バッファ１０７は入来セルが空きセルであるかどう
かを判定するために空き検出ユニット１０４のためにセ
ル時間の一部をとる必要があるために要求される。
内容にもとずいて、入来セルが空きであるかどうかを判
定する。これは周知の方法で受信されたセルヘッダを期
待される空きセルのパターンと比較することによって行
なわれる。例えば、ＡＴＭの空きセルはＣＣＩＴＴ勧告
Ｉ．３６１のＢ−ＩＳＤＮ ＡＴＭレイヤ仕様に規定さ
れたヘッダを持っている。空き検出ユニット１０４はこ
のような空きセルを検出したときにアクティブ空きセル
表示信号（論理１）を発生する。この結果得られた空き
セル表示信号は経路１３１を通してＡＮＤゲート１１４
に与えられ、ここでこれは制御カウンタ１２１から経路
１１５を通して与えられたテストセル挿入付勢信号（す
なわち第２の制御信号）と組合わされてテストセル挿入
制御信号（すなわち第１の制御信号）を発生する。テス
トセル挿入制御信号は経路１１１を経由してテストパタ
ーン発生器１１０、セレクタ１０５およびテストセルカ
ウンタ１１９に与えられる。もしテストセル挿入制御信
号がアクティブ（すなわち論理１）であれば、そのとき
にだけセレクタ１０５はテストセルアセンブラ１１３か
ら供給されたテストセルを選択して経路１０９上の出力
として与える。もし入来セルが空きでなければ、あるい
はテストセル挿入付勢信号がアクティブでなければ（す
なわち論理０）そのときにはセレクタ１０５はバッファ
１０７から経路１０８に信号を与え、この信号は入来Ａ
ＴＭセル流を遅らせたもので、経路１０９上の出力とな
る。これはテストセルの発生と挿入は入来データ流に空
きセルが存在するときのみに生じ、さもなければ、入来
データ流はそのまま通過するという本発明の装置の構成
に従っている。バッファ１０７からのセルはバッファ１
０７によって挿入される固定遅延以外は変わることはな
い。バッファ１０７は入来セルが空きセルであるかどう
かを判定するために空き検出ユニット１０４のためにセ
ル時間の一部をとる必要があるために要求される。
【０００９】ある種の条件下では、経路１０１上の入来
ＡＴＭセルの流れは有用なＡＴＭセルを全く含まないこ
とが前もって分っている。例えば、入来ＡＴＭ回線は切
れていたり、動作していなかったりすることもある。こ
のような状況においては、これが空きセル時間であるか
どうかにかかわりなく、すべてのセル時間はテストセル
挿入機会となる。このような条件の場合には、空きセル
が実際に検出されたかどうかにかかわりなく、経路１３
１上の空き検出ユニット１０８の出力をいつも強制的に
アクティブにすることによって容易に対処することがで
きる。従って、この状況は以降は特別の条件としては取
扱かわない。
ＡＴＭセルの流れは有用なＡＴＭセルを全く含まないこ
とが前もって分っている。例えば、入来ＡＴＭ回線は切
れていたり、動作していなかったりすることもある。こ
のような状況においては、これが空きセル時間であるか
どうかにかかわりなく、すべてのセル時間はテストセル
挿入機会となる。このような条件の場合には、空きセル
が実際に検出されたかどうかにかかわりなく、経路１３
１上の空き検出ユニット１０８の出力をいつも強制的に
アクティブにすることによって容易に対処することがで
きる。従って、この状況は以降は特別の条件としては取
扱かわない。
【００１０】テストセル挿入制御信号によって付勢され
たとき、テストパターン発生器１１０は個々のテストセ
ルのペイロードに挿入するべきテスト信号を生成する。
テストパターン発生器１１０の典型的な実施例ではＰＮ
パターンとも呼ばれる疑似ランダムのビットシーケンス
を発生し、このシーケンスは連続したテストセルにわた
って継続する。しかしながら、固定的でも周期的でも任
意の適切なテストパターンをこの目的で使用でき、本発
明はこの点に制約されるものではない。さらに、シーケ
ンス番号やテストパターンにもとずく誤り検出符号等の
補助情報をセルのペイロードとして挿入することができ
る。この説明の目的で本発明の範囲を制約することな
く、これらの補助機能をテストパターン発生器１１０に
組み込んでおくと仮定して良い。
たとき、テストパターン発生器１１０は個々のテストセ
ルのペイロードに挿入するべきテスト信号を生成する。
テストパターン発生器１１０の典型的な実施例ではＰＮ
パターンとも呼ばれる疑似ランダムのビットシーケンス
を発生し、このシーケンスは連続したテストセルにわた
って継続する。しかしながら、固定的でも周期的でも任
意の適切なテストパターンをこの目的で使用でき、本発
明はこの点に制約されるものではない。さらに、シーケ
ンス番号やテストパターンにもとずく誤り検出符号等の
補助情報をセルのペイロードとして挿入することができ
る。この説明の目的で本発明の範囲を制約することな
く、これらの補助機能をテストパターン発生器１１０に
組み込んでおくと仮定して良い。
【００１１】テストセルヘッダ発生器１１２はテストセ
ルのヘッダを発生する。これは一般にルーティングと宛
先の情報、運転と保守に関する情報およびヘッダの誤り
検出・訂正情報を含んでいる。テストセルヘッダは経路
１０６を通して与えられ、テストパターンおよび他のペ
イロード情報は経路１１８を通してテストセルアセンブ
ラ１１３に与えられる。ここでこれらはテストセルに組
立てられる。このテストセル組立てのシーケンシングは
サブセルタイミングユニット１１７によって行なわれる
が、これは入来ビット／ワードクロックとセルクロック
にテストセルの生成と組立てを同期し、経路１２８、１
２９、１３０を通してタイミング制御信号を送り、テス
トセルの種々の部分を生成するテストセルヘッダ発生器
１１２、テストパターン発生器１１０、テストアセンブ
ラ１１３の動作を調整する。結果として得られたテスト
セルは経路１１６を通してセレクタ１０５に与えられ、
次にテストセル挿入制御信号がアクティブであるときに
は経路１０９への出力として与えられる。
ルのヘッダを発生する。これは一般にルーティングと宛
先の情報、運転と保守に関する情報およびヘッダの誤り
検出・訂正情報を含んでいる。テストセルヘッダは経路
１０６を通して与えられ、テストパターンおよび他のペ
イロード情報は経路１１８を通してテストセルアセンブ
ラ１１３に与えられる。ここでこれらはテストセルに組
立てられる。このテストセル組立てのシーケンシングは
サブセルタイミングユニット１１７によって行なわれる
が、これは入来ビット／ワードクロックとセルクロック
にテストセルの生成と組立てを同期し、経路１２８、１
２９、１３０を通してタイミング制御信号を送り、テス
トセルの種々の部分を生成するテストセルヘッダ発生器
１１２、テストパターン発生器１１０、テストアセンブ
ラ１１３の動作を調整する。結果として得られたテスト
セルは経路１１６を通してセレクタ１０５に与えられ、
次にテストセル挿入制御信号がアクティブであるときに
は経路１０９への出力として与えられる。
【００１２】図１のテストセルカウンタ１１９、セルカ
ウンタ１２０、制御カウンタ１２１の構成はテストセル
発生装置１００の帯域挿入能力を可変にする中心的装置
である。カウンタ１１９、１２０、１２１はテストセル
挿入制御信号に応動してテストセル挿入付勢信号を発生
する。テストセル挿入信号の平均周波数が所望の予め定
められた周波数より低くいか等しければ、テストセル挿
入付勢信号はアクティブ状態に保たれ、これによって各
機会に（すなわち空きセル時間ごとに）テストセル挿入
をできるようにする。もしテストセル挿入の平均周波数
が所望の予め定められた周波数より高ければ、テストセ
ル挿入付勢信号は不活性となり、これによってテストセ
ルの挿入を一時的に消勢してこれによって平均のテスト
セル挿入周波数を低下する。このフィードバックプロセ
スについては以下により詳しく述べる。
ウンタ１２０、制御カウンタ１２１の構成はテストセル
発生装置１００の帯域挿入能力を可変にする中心的装置
である。カウンタ１１９、１２０、１２１はテストセル
挿入制御信号に応動してテストセル挿入付勢信号を発生
する。テストセル挿入信号の平均周波数が所望の予め定
められた周波数より低くいか等しければ、テストセル挿
入付勢信号はアクティブ状態に保たれ、これによって各
機会に（すなわち空きセル時間ごとに）テストセル挿入
をできるようにする。もしテストセル挿入の平均周波数
が所望の予め定められた周波数より高ければ、テストセ
ル挿入付勢信号は不活性となり、これによってテストセ
ルの挿入を一時的に消勢してこれによって平均のテスト
セル挿入周波数を低下する。このフィードバックプロセ
スについては以下により詳しく述べる。
【００１３】開始条件としてカウンタ１１９、１２０に
はそれぞれｎ−１、ｍ−１の値か格納され、ｃをセルク
ロック周波数、すなわちシステムの入力と出力における
単位時間当りのセルの数とすると、所望のテストセル挿
入周波数はｎ／ｍ×ｃであると仮定する。テストセル挿
入周波数は総回線周波数を越えることはできないから、
ｎはｍより小さくなければならない。ラッチ１２２と１
２３ははじめにコントローラ１２４（図示せず）によっ
て、例えば値ｎ−１、ｍ−１にそれぞれプログラムさ
れ、所望のテストセル挿入周波数を実現する。カウンタ
１１９、１２０は説明の目的でダウンカウンタとなって
いるが、これが０まで計数したときには、カウンタ１９
０、１２０にはそれぞれラッチ１２２、１２３からの値
が再格納される。すなわちカウンタ１１９、１２０に
は、それぞれの計数サイクルの終りで、それぞれの初期
計数値が格納される。
はそれぞれｎ−１、ｍ−１の値か格納され、ｃをセルク
ロック周波数、すなわちシステムの入力と出力における
単位時間当りのセルの数とすると、所望のテストセル挿
入周波数はｎ／ｍ×ｃであると仮定する。テストセル挿
入周波数は総回線周波数を越えることはできないから、
ｎはｍより小さくなければならない。ラッチ１２２と１
２３ははじめにコントローラ１２４（図示せず）によっ
て、例えば値ｎ−１、ｍ−１にそれぞれプログラムさ
れ、所望のテストセル挿入周波数を実現する。カウンタ
１１９、１２０は説明の目的でダウンカウンタとなって
いるが、これが０まで計数したときには、カウンタ１９
０、１２０にはそれぞれラッチ１２２、１２３からの値
が再格納される。すなわちカウンタ１１９、１２０に
は、それぞれの計数サイクルの終りで、それぞれの初期
計数値が格納される。
【００１４】さらに制御カウンタは初期には０にセット
されていると仮定する。制御カウンタ１２１はアップ／
ダウンカウンタとして示されており、これはそのインク
レメント（ＩＮＣＲ）制御路１２６にアクティブ信号を
受信したときには増分し、これがデクレメント（ＤＥＣ
Ｒ）制御路１２５にアクティブ信号を受信したときには
減分するように動作する。もし制御カウンタ１２１がそ
のインクレメント路１２６とデクレメント路１２５に同
時にアクティブ信号を受信したときには、これは先の計
数値を保持する。すべてのカウンタ１１９、１２０、１
２１は経路１０３を通して与えられるセルクロックに同
期して動作する。
されていると仮定する。制御カウンタ１２１はアップ／
ダウンカウンタとして示されており、これはそのインク
レメント（ＩＮＣＲ）制御路１２６にアクティブ信号を
受信したときには増分し、これがデクレメント（ＤＥＣ
Ｒ）制御路１２５にアクティブ信号を受信したときには
減分するように動作する。もし制御カウンタ１２１がそ
のインクレメント路１２６とデクレメント路１２５に同
時にアクティブ信号を受信したときには、これは先の計
数値を保持する。すべてのカウンタ１１９、１２０、１
２１は経路１０３を通して与えられるセルクロックに同
期して動作する。
【００１５】セルカウンタ１２０の１計数サイクルをｍ
セル時間と定義する。ｍセルの１計数サイクルの間にセ
ルカウンタ１２０は１周し、次にこれはインクレメント
路１２６にアクティブ出力を与える。これはセルクロッ
ク期間ごとに１回カウントダウンするからである。制御
カウンタ１２１は経路１２６に与えられたアクティブ状
態に応動して増分し、これによってテストセル挿入付勢
信号を活性化し、上述したようにこれに続く計数サイク
ルでテストセルの挿入が開始する。
セル時間と定義する。ｍセルの１計数サイクルの間にセ
ルカウンタ１２０は１周し、次にこれはインクレメント
路１２６にアクティブ出力を与える。これはセルクロッ
ク期間ごとに１回カウントダウンするからである。制御
カウンタ１２１は経路１２６に与えられたアクティブ状
態に応動して増分し、これによってテストセル挿入付勢
信号を活性化し、上述したようにこれに続く計数サイク
ルでテストセルの挿入が開始する。
【００１６】経路１０１上の入来ＡＴＭセルの流れに充
分な空きセルが存在し、セルカウンタの１計数サイクル
でｎ個の所望のテストセルを挿入できる場合をまず考え
うる。この場合には、セルカウンタ１２０の計数サイク
ルによる最初のｎ個の空きセルの間に、ｎ個のテストセ
ルが挿入されている。テストセルカウンタ１１９は、経
路１１１を経由して供給されるテストセル挿入制御信号
がアクティブであるときだけ付勢されており、従ってテ
ストセルが実際に挿入されているときだけ活性化してい
るから、これらのテストセル挿入を計数することにな
る。従って、テストセルカウンタ１１９がｎ番目のテス
トセル挿入のときに０までカウントダウンすると、これ
はデクレメント路１２５にアクティブ出力を与える。こ
れによって、制御カウンタ１２１を０までデクレメント
し、これによってテストセル挿入付勢信号を不活性化
し、これによって、セルカウンタ１２０のその計数サイ
クルについてそれ以上テストセル挿入が行なわれないよ
うにする。次の計数サイクルの始めで、セルカウンタ１
２０は再び経路１２６を通してアクティブ出力を供給
し、これによって制御カウンタ１２１を増分する。次に
テストセル挿入サイクルが繰返されて、ｍ回のセル時間
ごとにｎ個のテストセルが挿入される。これによってｎ
／ｍ×ｃの所望のテストセル周波数を実現する。テスト
セルカウンタ１１９の計数サイクルは従ってｎテストセ
ル挿入となる。
分な空きセルが存在し、セルカウンタの１計数サイクル
でｎ個の所望のテストセルを挿入できる場合をまず考え
うる。この場合には、セルカウンタ１２０の計数サイク
ルによる最初のｎ個の空きセルの間に、ｎ個のテストセ
ルが挿入されている。テストセルカウンタ１１９は、経
路１１１を経由して供給されるテストセル挿入制御信号
がアクティブであるときだけ付勢されており、従ってテ
ストセルが実際に挿入されているときだけ活性化してい
るから、これらのテストセル挿入を計数することにな
る。従って、テストセルカウンタ１１９がｎ番目のテス
トセル挿入のときに０までカウントダウンすると、これ
はデクレメント路１２５にアクティブ出力を与える。こ
れによって、制御カウンタ１２１を０までデクレメント
し、これによってテストセル挿入付勢信号を不活性化
し、これによって、セルカウンタ１２０のその計数サイ
クルについてそれ以上テストセル挿入が行なわれないよ
うにする。次の計数サイクルの始めで、セルカウンタ１
２０は再び経路１２６を通してアクティブ出力を供給
し、これによって制御カウンタ１２１を増分する。次に
テストセル挿入サイクルが繰返されて、ｍ回のセル時間
ごとにｎ個のテストセルが挿入される。これによってｎ
／ｍ×ｃの所望のテストセル周波数を実現する。テスト
セルカウンタ１１９の計数サイクルは従ってｎテストセ
ル挿入となる。
【００１７】しかしながら、空きセルの存在は常時保証
されるわけではない。パケット化されたセル流中におけ
るセルの占有は統計的性質を持つからである。従って、
入力１０１における空きセルの平均発生率はもちろん延
長された期間における平均テストセル挿入周波数に少く
とも等しくなければならないが、その条件がセルカウン
タ１２０の１計数周期程度の短い期間で満足される保証
はない。この情報、すなわちｍセル時間の内にｎ個のテ
ストセルが挿入されなかったことを保持することは、空
きセルの形を持つテストセル挿入機会が一時的に不足し
ていても所望の予め定められた平均テストセル挿入周波
数を保つために必要である。この情報の保持は制御カウ
ンタ１２１によって行なわれる。もしセルカウンタ１２
０の１計数サイクルの間にｎ個のテストセルが挿入され
なければ、このときには制御カウンタ１２１は減分され
ないで、単にセルカウンタ１２０の継続する計数サイク
ルの各々でさらに増分され続ける。テストセル挿入付勢
信号は制御カウンタ１２１の計数値が１より大であると
きにはアクティブであるからテストセルの挿入は連続的
に付勢される。これによって一時的に所望の予め定めら
れたｎ／ｍ×ｃの平均周波数よりも一時的に大きい挿入
周波数が実現される。空きセルの発生が一度増加する
と、追加のテストセル挿入が所望の予め定められた平均
周波数に追い付き、制御カウンタ１２１が再び０にまで
減分されるまで、制御カウンタ１２１の減分周波数は一
時的にその増分周波数を越えることになる。
されるわけではない。パケット化されたセル流中におけ
るセルの占有は統計的性質を持つからである。従って、
入力１０１における空きセルの平均発生率はもちろん延
長された期間における平均テストセル挿入周波数に少く
とも等しくなければならないが、その条件がセルカウン
タ１２０の１計数周期程度の短い期間で満足される保証
はない。この情報、すなわちｍセル時間の内にｎ個のテ
ストセルが挿入されなかったことを保持することは、空
きセルの形を持つテストセル挿入機会が一時的に不足し
ていても所望の予め定められた平均テストセル挿入周波
数を保つために必要である。この情報の保持は制御カウ
ンタ１２１によって行なわれる。もしセルカウンタ１２
０の１計数サイクルの間にｎ個のテストセルが挿入され
なければ、このときには制御カウンタ１２１は減分され
ないで、単にセルカウンタ１２０の継続する計数サイク
ルの各々でさらに増分され続ける。テストセル挿入付勢
信号は制御カウンタ１２１の計数値が１より大であると
きにはアクティブであるからテストセルの挿入は連続的
に付勢される。これによって一時的に所望の予め定めら
れたｎ／ｍ×ｃの平均周波数よりも一時的に大きい挿入
周波数が実現される。空きセルの発生が一度増加する
と、追加のテストセル挿入が所望の予め定められた平均
周波数に追い付き、制御カウンタ１２１が再び０にまで
減分されるまで、制御カウンタ１２１の減分周波数は一
時的にその増分周波数を越えることになる。
【００１８】カウンタ１１９、１２０および１２１の最
大のサイズは（ａ）最小の可能なテストセル挿入周波数
はｎ＝２、ｍ＝Ｍのとき、すなわち２／ｍ×ｃであり、
（ｂ）テストセル挿入周波数の最小の増分は１／ｍ×ｃ
であることによって決定される。Ｍの大きい方の値を生
ずるこれらの２つのパラメータについてのシステムの要
求がセルカウンタ１２０の大きさを決める。典型的には
２進論理によるカウンタの一般的実装ではＭの値はそれ
より大きい２のべき表の値まで増加される。同様にテス
トセルカウンタ１９９の最大の大きさはテストセル周波
数の分解能を保ちながら実行する最大の可能なテストセ
ル挿入周波数によって決定され、テストセル周波数はＮ
／Ｍ×ｃとなる。
大のサイズは（ａ）最小の可能なテストセル挿入周波数
はｎ＝２、ｍ＝Ｍのとき、すなわち２／ｍ×ｃであり、
（ｂ）テストセル挿入周波数の最小の増分は１／ｍ×ｃ
であることによって決定される。Ｍの大きい方の値を生
ずるこれらの２つのパラメータについてのシステムの要
求がセルカウンタ１２０の大きさを決める。典型的には
２進論理によるカウンタの一般的実装ではＭの値はそれ
より大きい２のべき表の値まで増加される。同様にテス
トセルカウンタ１９９の最大の大きさはテストセル周波
数の分解能を保ちながら実行する最大の可能なテストセ
ル挿入周波数によって決定され、テストセル周波数はＮ
／Ｍ×ｃとなる。
【００１９】制御カウンタ１２１は最大の大きさｋは予
想されるトラヒックのバースト性と負荷によって決めて
も良い。高トラヒックと高バースト性の条件下では、充
分なテストセルが発生できない計数サイクルをいくつか
累積して制御カウンタが保持しておく必要がある。
想されるトラヒックのバースト性と負荷によって決めて
も良い。高トラヒックと高バースト性の条件下では、充
分なテストセルが発生できない計数サイクルをいくつか
累積して制御カウンタが保持しておく必要がある。
【００２０】図１においては、オーバフロー警報信号が
経路１２７に与えられ、制御カウンタ１２１がオーバフ
ローしたときに起動されるようになっている。この警報
オーバフロー信号は、例えば、コントローラ１２４によ
って処理されて、オペレータに対して警告を出すか、後
述するようにテストセル挿入周波数を適応的に低下する
のに使われる。
経路１２７に与えられ、制御カウンタ１２１がオーバフ
ローしたときに起動されるようになっている。この警報
オーバフロー信号は、例えば、コントローラ１２４によ
って処理されて、オペレータに対して警告を出すか、後
述するようにテストセル挿入周波数を適応的に低下する
のに使われる。
【００２１】ｍセルクロック時間中のはじめのｎ回の機
会にｎセルが挿入されるから、ｎとｍは共にプログラム
でき、テストセル発生装置１００はまた発生されたテス
トセルのトラヒックに与えるバースト性を制御すること
もできる。一例として、所望のテストセル挿入周波数が
容量の２５％、すなわち０．２５ｃであるとすると、こ
れはｎ＝２、ｍ＝８あるいはｎ＝５０、ｍ＝２００その
他によって発生でき、カウンタ１１９と１２０の大きさ
だけで制約される。ｎとｍのこれらの値によって、平均
のテストセル挿入周波数（この例では０．２５ｃ）が与
えられるが、得られるトラヒックのバースト性は大幅に
変動する。特に、この機能は同一の平均周波数でも、ピ
ーク周波数が異るようなトラヒックが存在する場合のシ
ステムあるいはネットワークのテストの性能を確認する
ための強化テストに使用できる。
会にｎセルが挿入されるから、ｎとｍは共にプログラム
でき、テストセル発生装置１００はまた発生されたテス
トセルのトラヒックに与えるバースト性を制御すること
もできる。一例として、所望のテストセル挿入周波数が
容量の２５％、すなわち０．２５ｃであるとすると、こ
れはｎ＝２、ｍ＝８あるいはｎ＝５０、ｍ＝２００その
他によって発生でき、カウンタ１１９と１２０の大きさ
だけで制約される。ｎとｍのこれらの値によって、平均
のテストセル挿入周波数（この例では０．２５ｃ）が与
えられるが、得られるトラヒックのバースト性は大幅に
変動する。特に、この機能は同一の平均周波数でも、ピ
ーク周波数が異るようなトラヒックが存在する場合のシ
ステムあるいはネットワークのテストの性能を確認する
ための強化テストに使用できる。
【００２２】ラッチ１２２、１２３はプログラムでき、
回路が動作中であっても、プログラムを変更することが
できる。一例として、制御カウンタ１２１がオーバフロ
ー直前で、アラームが生じたときには、コントローラが
行なうことができる動作のひとつは、テストセル挿入周
波数を予め定められた限界あるいは予め定められたスケ
ジュールの中で適応的にテストセル挿入周波数を減少す
ることである。遠隔地ではテストセルの受信が検出され
受信されたテストパターンは周知の方法で、予期された
テストパターンと比較され、誤りがあったかどうかを調
べることになる。
回路が動作中であっても、プログラムを変更することが
できる。一例として、制御カウンタ１２１がオーバフロ
ー直前で、アラームが生じたときには、コントローラが
行なうことができる動作のひとつは、テストセル挿入周
波数を予め定められた限界あるいは予め定められたスケ
ジュールの中で適応的にテストセル挿入周波数を減少す
ることである。遠隔地ではテストセルの受信が検出され
受信されたテストパターンは周知の方法で、予期された
テストパターンと比較され、誤りがあったかどうかを調
べることになる。
【図１】本発明の一実施例を含むテストセル発生装置の
簡単化されたブロック図。
簡単化されたブロック図。
１０４ 空きセル信号を発生する手段 １１１ 第１の制御信号 １１３ テストセルを組合せデータ流に挿入する手段 １１５ 第２の制御信号 １１８ テストセルを発生する手段
フロントページの続き (56)参考文献 特許3020746（ＪＰ，Ｂ２) 欧州特許出願公開456914（ＥＰ，Ａ １) 太田宏（外１名），ＡＴＭ網における 可変長モニタリングブロックを用いたＶ Ｐ伝送品質監視方式の検討，電子情報通 信学会技術研究報告，日本，1992年６月 24日，Ｖｏｌ．92 Ｎｏ．106，ｐｐ. 39−45，ＣＳ92−31 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 12/26 H04L 29/14
Claims (10)
- 【請求項１】 データ流にテストセルを挿入する装置で
あって、 データ流のテストセル挿入期間を検出しかつテストセル
挿入期間の検出時にのみテストセル挿入制御信号を発生
する手段と、 セルクロック信号及び第１の制御信号に応答して、デー
タ流に挿入されるテストセルの平均周波数を検出し、そ
してテストセル挿入の該検出した平均周波数が所定の値
に等しいか又は小さい場合にテストセル挿入付勢制御信
号を発生し、そしてそうでない場合にはテストセル挿入
消勢制御信号を発生する手段と、 該テストセル挿入制御信号及び該テストセル挿入付勢制
御信号に応答して、テストセルを発生しかつ挿入の該検
出した平均周波数が該所定の値に等しいか小さい場合に
のみ該第１の制御信号を発生する手段と、 該第１の制御信号に応答して、テストセルを発生しかつ
データ流に該発生したテストセルを挿入する手段とを含
み、該所定の平均テストセル挿入周波数が得られること
を特徴とする装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、テスト
セル挿入期間を検出する該手段は、データ流に空きセル
を検出しかつ空きセルが検出されたことを示す該テスト
セル挿入制御信号を発生することを特徴とする装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載の装置において、該組合
せデータ流は非同期転送モード（ＡＴＭ）の組合せデー
タ流であることを特徴とする装置。 - 【請求項４】 請求項２に記載の装置において、テスト
セルの該平均周波数を検出しかつ該テストセル挿入付勢
制御信号を発生する該手段は、該セルクロック信号に応
答して、第１の予め定められた数の、データ流のセル期
間が生じたことを示す第１の表示を発生する手段と、該
第１の制御信号及び該セルクロック信号に応答して該第
１の予め定められた数のテストセル期間の間に第２の予
め定められた数のテストセルがデータ流に挿入されたこ
とを示す第２の表示を発生する手段と、該第１の予め定
められた数のセル期間の間に、該第２の予め定められた
数のテストセルが挿入された時に該第１の表示及び該第
２の表示に応答して該テストセル挿入付勢制御信号を発
生する手段とを含むことを特徴とする装置。 - 【請求項５】 請求項４に記載の装置において、該第１
の表示を発生する該手段は、該第第１の予め定められた
数を計数したときに該第１の表示を発生する第１のカウ
ンタ手段を含み、テストセルの挿入の該平均周波数を検
出しかつ該テストセル挿入付勢制御信号を発生する前記
手段は、該第１の表示の計数値が該第２の表示の計数値
より大きい限り、テストセルの発生及び挿入を付勢する
ための該テストセル挿入付勢制御信号を発生するために
該第１及び第２の表示を供給されるカウンタ手段を含む
ことを特徴とする装置。 - 【請求項６】 請求項５に記載の装置において、該第１
の予め定められた数は該第２の予め定められた数より小
さいことを特徴とするテストセル装置。 - 【請求項７】 請求項５に記載の装置において、該第２
の制御信号を発生する該カウンタはアップ／ダウンカウ
ンタであることを特徴とする装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の装置において、該第１
のカウンタ手段は該第１の予め定められた数を計数する
ようにプログラムされたプログラマブルカウンタであ
り、該第２のカウンタ手段は該第２の予め定められた数
を計数するようプログラムされたプログラマブルカウン
タであることを特徴とする装置。 - 【請求項９】 請求項８に記載の装置において、さらに
該第１の予め定められた数および／あるいは第２の予め
定められた数を調整する手段を含むことを特徴とする装
置。 - 【請求項１０】 請求項９に記載の装置において、さら
に該第１の予め定められた数および／あるいは該第２の
予め定められた数を適応的に調整する手段を含むことを
特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US93123792A | 1992-08-17 | 1992-08-17 | |
| US931237 | 1992-08-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06224904A JPH06224904A (ja) | 1994-08-12 |
| JP3319827B2 true JP3319827B2 (ja) | 2002-09-03 |
Family
ID=25460453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20244193A Expired - Fee Related JP3319827B2 (ja) | 1992-08-17 | 1993-08-17 | 非同期転送モード（ａｔｍ）伝送テストセル発生器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5457700A (ja) |
| EP (1) | EP0583920B1 (ja) |
| JP (1) | JP3319827B2 (ja) |
| CA (1) | CA2097350C (ja) |
| DE (1) | DE69318773T2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0600683B1 (en) * | 1992-12-04 | 2001-10-10 | AT&T Corp. | Packet network interface |
| JPH08167907A (ja) * | 1994-12-15 | 1996-06-25 | Nec Corp | Ａｔｍセル交換装置 |
| JP2690713B2 (ja) * | 1995-06-30 | 1997-12-17 | 宮城日本電気株式会社 | Ｖｐ−ｆｅｒｆセル生成方法 |
| US5553058A (en) * | 1995-07-10 | 1996-09-03 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Centralized load minimizing method for periodical routing verification tests scheduling |
| US5638357A (en) * | 1995-08-25 | 1997-06-10 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Distributed method for periodical routing verification test scheduling |
| US5812528A (en) * | 1995-11-17 | 1998-09-22 | Telecommunications Techniques Corporation | Measuring round trip time in ATM network virtual connections |
| US5764626A (en) * | 1995-11-17 | 1998-06-09 | Telecommunications Techniques Corporation | Rate-matched cell identification and modification, replacement, or insertion for test and measurement of ATM network virtual connections |
| US5699346A (en) * | 1995-11-17 | 1997-12-16 | Telecommunications Techniques Corporation | Measuring burst rate and burst size in ATM network virtual connections |
| US5761191A (en) * | 1995-11-28 | 1998-06-02 | Telecommunications Techniques Corporation | Statistics collection for ATM networks |
| JP2827998B2 (ja) * | 1995-12-13 | 1998-11-25 | 日本電気株式会社 | Ａｔｍ交換方法 |
| KR0150522B1 (ko) * | 1995-12-19 | 1998-11-02 | 양승택 | 광대역 종합정보 통신망(b-isdn) 프로토콜 및 트래픽 시험 장치 및 그 방법 |
| US5822304A (en) * | 1996-03-22 | 1998-10-13 | Hewlett-Packard Company | Scanning for active ATM virtual channel/virtual path identifiers |
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| JPH09284299A (ja) * | 1996-04-16 | 1997-10-31 | Toshiba Corp | 通信制御方法及びその装置 |
| KR100204061B1 (ko) | 1996-12-21 | 1999-06-15 | 이계철 | 에이티엠 교환시스템에서의 시험기능을 구비한 가입자제어모듈 |
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| GB2383240B (en) | 2001-12-17 | 2005-02-16 | Micron Technology Inc | DVi link with parallel test data |
| GB2383137B (en) * | 2001-12-17 | 2005-06-29 | Micron Technology Inc | DVI link with circuit and method for test |
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|---|---|---|---|---|
| DE2852805A1 (de) * | 1978-12-06 | 1980-06-12 | Siemens Ag | Verfahren und schaltungsanordnung zur messung der uebertragungseigenschaften eines messobjektes |
| US4397020A (en) * | 1980-09-11 | 1983-08-02 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Error monitoring in digital transmission systems |
| FR2646975B1 (fr) * | 1989-05-10 | 1991-08-30 | Schlumberger Ind Sa | Generateur de donnees numeriques |
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| FR2660501B1 (fr) * | 1990-03-27 | 1992-06-05 | Cit Alcatel | Simulateur de reseau en technique temporelle asynchrone. |
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-
1993
- 1993-05-31 CA CA002097350A patent/CA2097350C/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-05 EP EP93306180A patent/EP0583920B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-08-05 DE DE69318773T patent/DE69318773T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-08-17 JP JP20244193A patent/JP3319827B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-12-21 US US08/361,002 patent/US5457700A/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 太田宏（外１名），ＡＴＭ網における可変長モニタリングブロックを用いたＶＰ伝送品質監視方式の検討，電子情報通信学会技術研究報告，日本，１９９２年６月２４日，Ｖｏｌ．９２ Ｎｏ．１０６，ｐｐ．３９−４５，ＣＳ９２−３１ |
Also Published As
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|---|---|
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| EP0583920B1 (en) | 1998-05-27 |
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| US5457700A (en) | 1995-10-10 |
| DE69318773D1 (de) | 1998-07-02 |
| CA2097350A1 (en) | 1994-02-18 |
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