JP3318055B2 - 内径測定装置 - Google Patents

内径測定装置

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JP3318055B2
JP3318055B2 JP16194693A JP16194693A JP3318055B2 JP 3318055 B2 JP3318055 B2 JP 3318055B2 JP 16194693 A JP16194693 A JP 16194693A JP 16194693 A JP16194693 A JP 16194693A JP 3318055 B2 JP3318055 B2 JP 3318055B2
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/08Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
    • G01B11/12Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters internal diameters

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  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は長手に延びた本体の内径
測定装置に係り、特に軸線D1 と内径を有する長手の円
筒状の包被に沿って挿入されて変位し内径を測定する内
径測定装置に関する。本発明の有利な適用は光ファイバ
の製造分野にあり、本発明の装置は光ファイバのプリフ
ォームを形成するために製造されるシリコンチューブの
全体の長さに沿って内径を高精度に測定するのに用いら
れる。このような製造されたシリコンチューブは一般に
極めて長く、1.50mあるいはそれ以上の長さであ
り、約20mmの内径を有している。
【0002】
【従来の技術】従来、内側マイクロメータのフィーラを
備えた内径測定装置が知られており、この装置はブレー
ドを備えており、これらのブレードは測定されるチュー
ブの一方の端部へ挿入されこのチューブに同様に挿入さ
れたスプレッダによって機械的に広げられ、ブレードが
チューブの内壁に接触する。スプレッダはまたチューブ
の外側に載置されたバーニアに機械的に接触してブレー
ドの広がりを読むことが可能であり、この広がりが測定
されるべき内径に対応する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
装置は次のような欠点を有していた。まず、測定するの
に用いることができる有効なチューブの長さは装置の長
さによって制限されており、装置の長さはブレードをチ
ューブの内壁に接触するようにできるスプレッダのねじ
り容量によって制限されていた。この結果、従来の装置
によっては、例えば光ファイバのプリフォームを形成す
る用いられる非常に長いチューブの内径を測定すること
ができなかった。
【0004】さらに、バーニアから読まれる内径の値は
あまり正確ではなかった。測定の精度は測定を行う人に
依存する。この結果、マイクロメータのフィーラを用い
て得られる平均精度は5ミクロンのオーダであり、この
精度はある種の応用には十分でない。
【0005】さらに、フランスの特許文献FR−A26
51312は透明で内壁と外壁とが同軸の円筒状のチュ
ーブの内径を測定する技術を開示している。
【0006】この技術は、チューブを大気中の置き、こ
のチューブの軸線に垂直な断面においてチューブに対し
て平行に変位させられた入射レーザビームによってチュ
ーブを走査し;屈折されることなくチューブから離れる
ような仕方でチューブを通過の際にチューブの内壁の少
なくとも1個の反射部によるビームを検出し、チューブ
の軸線を通過するビームとは別のこのビームは対で生
じ;この2個の対における2個のビームの間の距離を決
定し、チューブの内径および外径を決定する;工程を備
えている。
【0007】この知られた技術の大きな欠点は、機械に
よってつや消しされたチューブ内径、従って光ビームが
透過でないチューブの内径を測定することに適しないと
いうことである。
【0008】
【課題を解決するための手段】従来の技術の種々の欠点
を軽減するための、本発明の内径測定装置は、軸線D1
に沿って延び内径(110)を有する円筒状の包被(1
00)に挿入されて、前記内径(100)を測定するた
めに包被に沿って軸線方向へ変位される内径測定装置で
あって:測定装置(400);および前記測定装置と揃
えて配設された読み取りヘッド(200);を備え、前
記読み取りヘッド(200)は:略球状の形状をし磁性
材料でつくられ、前記軸線D1 に対して半径方向へ可動
な接触部材(310、320、330);弾性手段(5
00)で駆動された状態で前記測定装置(400)に対
して前記軸線D1 に沿って動くのに適したトランスミッ
タ(210)であって、前記弾性手段(500)は前記
トランスミッタ(210)と前記測定装置(400)と
の間に位置し、前記トランスミッタ(210)は外側形
状が略円錐である本体を有し、この本体は前記接触部材
を前記包被(100)の内側壁に接触させておくように
前記接触部材を支持する、トランスミッタ(210);
および前記トランスミッタに対して前記接触部材を支持
して保持するための軸線方向へ分極した剛体の保持手段
(260)であって、この保持手段は、前記トランスミ
ッタ(210)に関して前記接触部材(310、32
0、330)の反対側に位置するとともに前記軸線D1
に垂直な分極平面の支持表面(260a)を有して前記
接触部材(310、320、330)の支持表面として
機能する、保持手段(260);を備え、これによって
前記接触部材(310、320、330)の任意の半径
方向の変位が前記測定装置(400)によって測定され
るトランスミッタ(210)の軸線方向の変位を与える
ことを特徴とする。
【0009】”磁性材料”という言葉はここでは磁石と
接触して磁化される材料を指すように用いられ、この材
料によって構成された部材は磁石によって引きつけられ
る。
【0010】このようにして、本発明の内径測定装置を
チューブ等の包被の内側で変位させることによって、前
記チューブの内径を全体の長さに渡って高精度に測定す
ることが可能である。装置全体が測定されるチューブの
内側で変位させるときこのチューブの内径が一定のまま
である限り、前記トランスミッタは前記トランスミッタ
の軸線方向の変位を測定するための測定装置から一定の
距離のままにある。前記チューブの径が変化するときは
いつでも、チューブの内側壁に接触した接触部材は半径
方向へ軸線D1 に対して対称に動き、これによってトラ
ンスミッタの軸線方向の変位を与える。トランスミッタ
の軸線方向のこの変位を測定することによって、チュー
ブの内径の変化に対応する前記接触部材の変位が導かれ
る。
【0011】前記接触部材が、磁石のような剛体の保持
手段によって保持され、軸線方向へ動けないようになっ
ていることは特色ある。これに対して、弾性手段によっ
て前記接触手段に対して押し付けられて保持されている
前記トランスミッタは半径方向へ動くことができず、軸
線方向へのみ動くことができる。
【0012】本発明の好適な実施例において、前記トラ
ンスミッタは、ベース(250)と、対で90度に傾斜
した3個の平面(211、221、231)とを備える
正3面体(210)であり、この3面体は前記ベース
(250)が前記測定装置(400)に面するように配
置され、前記弾性手段(500)は前記3面体(21
0)の前記ベース(250)と前記測定装置(400)
との間に位置する。
【0013】このようにして、球形状の接触部材は磁
石、包被の内側壁および3面体の平面の合いだに保持さ
れる。チューブの内径が変化するときはいつでも、接触
部材の各々は、前記軸線D1 に垂直であり3面体に対応
するスラスト平面に関し45度オフセットした半径方向
の軸線に沿って動く。この結果、トランスミッタの軸線
方向の変位は前記接触部材の半径方向の変位に等しく、
従って、前記トランスミッタの変位を測定することによ
ってチューブの内側半径の変化が直接得られる。
【0014】さらに、本発明の一実施例において、前記
接触部材はキャリブレーションされた鋼球(310、3
20、330)である。
【0015】さらに、前記装置の前記測定装置は測定さ
れる部材の内径より小さい外径を有しているので、測定
される部材の内側を本発明による装置が軸線方向へ変位
する間、便宜上の理由から、包被の内側壁と前記測定装
置との間で前記測定装置に横側に付けられたスプレッダ
ガイドを有することが好適である。
【0016】このようにして、スプレッダガイドは前記
部材の内側壁を滑り、測定装置を前記部材の軸線D1 に
中心位置合わせさせ、これによって読み取りヘッドを中
心位置合わせする。
【0017】前記読み取りヘッド(200)は交換可能
に前記測定装置(400)に固定され、好適にはネジ留
めされ、測定される内径に合っていることが好適であ
る。
【0018】本発明に従って、標準的な測定装置は異な
る複数お読み取りヘッドを受けることができ、各々のヘ
ッドは測定される異なる包被の内径に対応するものが供
給される。
【0019】本発明の好適な実施例において、前記測定
装置は光ビーム(401、302)を軸線D1 に沿って
供給するとともに受け取るのに適した干渉計(400)
であり、この干渉計は、入射光ビーム(401)を反射
し戻り光ビーム(402)とするのに適した反射鏡(2
10)を有する。
【0020】このようにして、測定されるチューブの内
径が一定である限り、トランスミッタは干渉計から一定
の距離のままであり、入射するビームと反射鏡によって
反射されたビームは一定の長さの経路を通過し、干渉計
の中で重ね合わされて定常的な干渉フリンジを形成す
る。チューブの径が変化するとき、接触部材はは半径方
向へ動き、これによってトランスミッタを軸線方向へ動
かし、この結果、入射シャッタ2ビームと反射鏡によっ
て反射したビームが通過する経路の長さが変化し、干渉
フリンジが動くのが観察される。この干渉フリンジの変
位は反射鏡の軸線方向の変位に比例するので、このフリ
ンジの変位を測定することによって反射鏡によって軸線
D1 に沿って通過された距離を導くことが可能である。
チューブの内径の変化に対応する接触部材の変位は反射
鏡の変位から導かれる。
【0021】前記反射鏡はトランスミッタを構成する前
記3面体のベースに鏡であり、この鏡は干渉計によって
放出されるビームに厳密に直角である。
【0022】さらに、本発明に従って、前記トランスミ
ッタは、ベース(250)と、対で90度に傾斜した3
個の平面(211、221、231)とを備えるガラス
の正3面体によって構成された反射体であることが好適
である。
【0023】本発明の他の実施例において、前記測定装
置は前記トランスミッタに接続された可動部材を有する
容量型センサーである。
【0024】この可動部材はトランスミッタとともに軸
線方向へ動くのに適しており、この動きは例えば、容量
部材の面積の変化あるいは誘電率の変化を与える。容量
の変化はセンサーによって記録される。このようにし
て、トランスミッタが軸線方向へ動くとき、可動部材は
同時に動き、トランスミッタの変位はセンサーおいて生
じて記録された容量の変化から導くことができる。
【0025】本発明の他の特色や効果は、添付する図面
とともに例示した好適な実施例についての以下の記載に
よってさらに明確になる。
【0026】
【実施例】図1は本発明の内径測定装置の一実施例を示
す。この装置は軸線D1 に沿って延びており内径110
を有する円筒の包被100の中に挿入されるように設計
されている。この装置はまた、包被100の全体の長さ
に渡って高精度に内径110を測定できるように、フレ
キシブルな引きケーブル460によって変位されるよう
になっている。
【0027】例えば、円筒状の包被100は、光ファイ
バの製造用にプリフォームを形成するために製造される
シリコンチューブであり、このプリフォームは大きな容
量でかつ機械的に高精度で形成される。典型例では、こ
のような製造されたシリコンチューブは約1.50mの
長さであり、約20mmの内径を有している。
【0028】図1から明らかなように、この装置は、こ
の一端でフレキシブルな引きケーブル460に接続され
た干渉計400のような測定装置を備えている。干渉計
400は光学型であり、入射光ビーム401を軸線D1
に沿って送り軸線D1 に沿う反射光402を検出するの
に適している。入射及び反射の光ビームは位相シフトを
表し、それらは干渉計の内部で重ね合わされ、干渉計は
この重ね合わせから生じる干渉フリンジの位置を測定す
るのに適している。
【0029】さらに、この内径測定装置は読み取りヘッ
ド200を備え、この読み取りヘッド200は干渉計4
00と揃えられて載置され、より正確にはケーブルに接
続されていない干渉計の端部において交換可能に取り付
けられている。読み取りヘッド200は円筒形状のケー
ジ201を備え、ケージ201はこの場合干渉計にねじ
込まれた一端を有し、このケージは反射鏡を備えたトラ
ンスミッタ210を含み、トランスミッタ210はこの
場合1個のベース250と3個の反射面211、22
1、231を有する固体ガラスの3面体によって構成さ
れている。反射面211、221、231は、この場合
3個のキャリブレイトされた鋼球310、320、33
0によって構成された接触部材とともに、互いに対に対
して90度の角度に傾斜している。
【0030】図2および図3により詳細に示すように、
トランスミッタ210を構成する反射3面体210は、
(図2に点線によって示される)固体のコーナーガラス
によって構成され、このコーナーガラスは90度の間隔
で研磨された3個の反査面211、221、231の外
側面と有し、スペースを節約するために上部を切り取ら
れ、これによって研磨された平面ベース250を有する
円筒部210aを形成している。図2において、3面体
210の先端240を通過するキューブの主対角面を見
ることができる。固体の3面体210は正3面体であ
り、すなわちダイアゴナルDに沿って120度の間隔に
ある端部211a、221a、231aを有する。
【0031】トランスミッタがベースの開口されたくぼ
みのある3面体によって構成してもよいということは注
目される。このような場合、このくぼみのある3面体の
90度の間隔にある3個の内側面が、3個の反射面を構
成するために、研磨されていなければならないか、ある
いは反射する物質でカバーされていなければならない。
【0032】当然、トランスミッタの一実施例としてト
ランスミッタが互いに90度の関係にある3個の反射す
る内部面を有する一方、対称な円錐を形成する外側面を
有する凹面体であることも可能でる。
【0033】図1に示すように、3面体210は干渉計
400とボール310、320、330の間に載置され
ており、ベース250は軸線D1 に対してほぼ垂直に面
し、軸線D1 はダイアゴナルDに一致しており、3個の
反射平面211、221および231の各々は対応する
ボール310、320あるいは330に接触しており、
ボール310、320あるいは330は包被100の内
壁101と接触している。ケージ201は、円筒のケー
ジの断面の回り互いに等しい距離に配設された3個の窓
を有し、ボール310、320および330の各々は窓
202の一つを通って突き出ており、内壁201と接触
するようになっている。さらに、読み取りヘッド200
はまた弾性手段500を備えており、弾性手段500は
この場合、ばねによって構成され、ばねは3面体210
のベース250と干渉計400の空間に置かれたケージ
201のショルダー203との間に位置している。
【0034】ばね500は3面体をボール310、32
0および330に対して押し付ける関係を維持する。さ
らに、軸線方向に分極したマグネット260のようなケ
ージ201の近接する端部で受けられた剛体の保持手段
が、マグネットのN極を構成する平面260aを呈し、
平面260aは軸線D1 に垂直でありボール310、3
20および330に面し、これらの支持面として機能し
ている。マグネット260は、ボール310、320お
よび330をケージ201の全体の断面を横切って延び
る支持面260aに対して維持することによって、軸線
D1 に垂直な平面内でボール310、320および33
0を保持するように機能する。ボール310、320お
よび330はこのようにして、マグネット260、包被
100の内側壁101、および3面体の平面211、2
21および231の間に保持される。
【0035】さらに、図1に示す装置は、装置全体が包
被の内側に沿って引かれるときに干渉計が包被の中で中
心にあるようにするために、干渉計と包被100の内側
壁101との間で干渉計400に取り付けられた少なく
とも3個(2個のみ図示されている)のスプレッダガイ
ド410、420を備えている。
【0036】次に図1に示す装置の作用を記載する。包
被100の内径を包被の全体の長さに渡って高精度に測
定するために、図1に示す装置が包被100へ挿入さ
れ、この装置は包被の全体の長さに渡って引かれる。干
渉径400がフレキシブルな引きケーブル460によっ
て引かれる間、装置は3面体210に向かって入射ビー
ム401を射出する。入射ビーム401は研磨ベース2
50を介して固体の3面体210へ貫通し、3個の反射
平面211、221および231で3回反射し、その
後、入射経路に沿って3面体からもどって出てくる。
【0037】反射ビーム402はコード450によって
図示しない表示部に接続された干渉計によって検出さ
れ、表示部で、装置が包被に沿って動いている間、入射
ビーム401と反射ビーム402との間の干渉フリンジ
の位置を観察することあ可能である。
【0038】包被100の内径が一定のままである限
り、3面体210とボール310、320および330
によって構成される組み合わせ干渉計400に対して定
常的であり、従って、干渉径と3面体との間でビームが
通過する距離は一定のままである。この結果、入射ビー
ム401と反射ビーム402との間の干渉フリンジは定
常的のままである。
【0039】しかしながら、内径が変化すると、包被1
00の内側壁と接触するボール310、320および3
30の各々は、軸線D1 に対して半径方向にあるととも
に3面体の平面に対して45度の角度Φだけオフセット
した軸線Δに沿って動く。これらのボールの半径方向の
変位は、干渉計に対して3面体210の軸線方向に変位
させる。
【0040】ボール310、320および330はマグ
ネット260によって保持されており軸先方向へ動くこ
とができないということは特徴がある。しかしながら、
バネ500によって前記ボールに押し付けられた3面体
210は半径方向へ動くことができず、軸線方向におい
てのみ動くことができる。このように、内径110がよ
り小さくなるとき、前記ボールは軸線D1 の方向に向か
って半径方向へ動き、これによって前記3面体を干渉計
の方に向かって軸線方向へ動かす。
【0041】さらに、内径110が増加するとき、前記
ボールは内側壁101の方に向かって半径方向へ動き、
3面体210はバネ500に抗して干渉計から離れる方
へ軸方向に動く。3面体210が動くときはいつでも、
光ビームが通過する経路が変化し、入射ビーム401と
反射ビーム402との間の干渉フリンジは表示部上で動
くことが観察される。動く干渉フリンジの数を計数する
ことにより、前記光ビームが通過した経路の長さを決定
することができ、従って3面体の軸方向の変位を決定す
ることができる。簡単な幾何学によって、軸線D1 に沿
った3面体の変位は、3面体の対応する反射平面に対し
て45度にある各軸線Δに沿った各ボールの半径方向の
変位にちょうど等しいことが示される。前記包被の内径
の変化はこのようにして包被の全体の長さに渡って容易
に導かれる。
【0042】円筒状の包被の内径が約0.2ミクロンメ
ートル以内で得られることは、誤差が従来技術で得られ
るよりも約25倍小さいので極めて注目に値する。
【0043】本発明は上述した実施例に限定されず、本
発明の思想の範囲以内で当業者ならば種々の変形例の実
施が可能である。
【0044】例えば、本発明の一変形例において、測定
装置は、軸線方向に可動で前記トランスミッタに接続さ
れた部材を含む容量型センサーでもよく、ここで、この
可動な部材の軸方向の動きが前記容量型センサーの容量
の変化を与える。このような容量の変化が測定され、前
記トランスミッタの変位を測定するのに用いられる。
【0045】さらに、上述の変形例において、前記トラ
ンスミッタは対称な円錐であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】測定される円筒の包被の内側位置における本発
明の内径測定装置の一実施例例の概略を示す断面図。
【図2】図1に示す装置の反射部の側面図。
【図3】軸線Dに沿って見た図2に示す反射部の平面
図。
【符号の説明】
100 包被 110 内径 200 読み取りヘッド 210 トランスミッタ 260 保持手段 310、320、330 接触部材 400 測定装置 500 弾性手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ガブリエル、ペラン フランス国プルベズル、ゴス、アール、 イアオン(番地なし) (56)参考文献 特開 平6−201302(JP,A) 実開 昭54−39066(JP,U) 実開 平3−125202(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 5/12 G01B 21/14

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】軸線D1 に沿って延び内径(110)を有
    する円筒状の包被(100)に挿入されて、前記内径
    (100)を測定するために包被に沿って軸線方向へ変
    位される内径測定装置であって:測定装置(400);
    および前記測定装置と揃えて配設された読み取りヘッド
    (200);を備え、 前記読み取りヘッド(200)は:略球状の形状をし磁
    性材料でつくられ、前記軸線D1 に対して半径方向へ可
    動な接触部材(310、320、330);弾性手段
    (500)で駆動された状態で前記測定装置(400)
    に対して前記軸線D1 に沿って動くのに適したトランス
    ミッタ(210)であって、前記弾性手段(500)は
    前記トランスミッタ(210)と前記測定装置(40
    0)との間に位置し、前記トランスミッタ(210)は
    外側形状が略円錐である本体を有し、この本体は前記接
    触部材を前記包被(100)の内側壁に接触させておく
    ように前記接触部材を支持する、トランスミッタ(21
    0);および前記トランスミッタに対して前記接触部材
    を支持して保持するための軸線方向へ分極した剛体の保
    持手段(260)であって、この保持手段は、前記トラ
    ンスミッタ(210)に関して前記接触部材(310、
    320、330)の反対側に位置するとともに前記軸線
    D1 に垂直な分極平面の支持表面(260a)を有して
    前記接触部材(310、320、330)の支持表面と
    して機能する、保持手段(260);を備え、 これによって前記接触部材(310、320、330)
    の任意の半径方向の変位が前記測定装置(400)によ
    って測定されるトランスミッタ(210)の軸線方向の
    変位を与えることを特徴とする内径測定装置。
  2. 【請求項2】前記トランスミッタは、ベース(250)
    と、対で90度に傾斜した3個の平面(211、22
    1、231)とを備える正3面体(210)であり、こ
    の3面体は前記ベース(250)が前記測定装置(40
    0)に面するように配置され、前記弾性手段(500)
    は前記3面体(210)の前記ベース(250)と前記
    測定装置(400)との間に位置することを特徴とする
    請求項1に記載の内径測定装置。
  3. 【請求項3】前記接触部材はキャリブレーションされた
    鋼球(310、320、330)であることを特徴とす
    る請求項1または請求項2に記載の内径測定装置。
  4. 【請求項4】前記接触部材は、3個のボール(310、
    320、330)を備え、前記ボール(310、32
    0、330)の各々を前記3面体(210)の平面(2
    11、221、231)の一つに対して支持することを
    特徴とする請求項2または請求項3に記載の内径測定装
    置。
  5. 【請求項5】前記包被(100)の内側壁と前記測定装
    置(400)との間に置かれたスプレッダガイド(41
    0、420)を備えることを特徴とする請求項1乃至請
    求項4のいずれかに記載の内径測定装置。
  6. 【請求項6】前記読み取りヘッド(200)は交換可能
    に前記測定装置(400)に固定され、好適にはネジ留
    めされ、測定される内径に合っていることを特徴とする
    請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の内径測定装
    置。
  7. 【請求項7】前記測定装置は光ビーム(401、30
    2)を軸線D1 に沿って供給するとともに受け取るのに
    適した干渉計(400)であり、この干渉計は、入射光
    ビーム(401)を反射し戻り光ビーム(402)とす
    るのに適した反射鏡(210)を有することを特徴とす
    る請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の内径測定装
    置。
  8. 【請求項8】前記トランスミッタは、ベース(250)
    と、対で90度に傾斜した3個の平面(211、22
    1、231)とを備えるガラスの正3面体によって構成
    された反射体であることを特徴とする請求項7に記載の
    内径測定装置。
  9. 【請求項9】前記測定装置は前記トランスミッタに接続
    された可動部材を有する容量型センサーであることを特
    徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の内径
    測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100520283C (zh) * 2004-06-09 2009-07-29 北京航空航天大学 螺纹钢三参数在线测量系统
KR101581694B1 (ko) * 2014-11-13 2016-01-04 승리전력기술(주) 관로 변형 측정장치
CN108692666A (zh) * 2018-03-28 2018-10-23 郑州郑大智能科技股份有限公司 一种气缸套内径检测装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109443437B (zh) * 2018-12-08 2023-11-14 宁波宏志机器人科技有限公司 一种弯管线外检测设备
KR102422452B1 (ko) * 2020-07-20 2022-07-19 (주)센트랄모텍 볼너트 내경 자동화 측정 장치
CN115046474B (zh) * 2022-05-20 2023-03-10 浙江大学 一种管状件内外表面测量系统及测量方法
CN114674674B (zh) * 2022-05-26 2022-09-06 四川航天拓达玄武岩纤维开发有限公司 一种玄武岩纤维管材质检用线性测量装置及测量方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB531568A (en) * 1939-07-26 1941-01-07 Alan Faraday Campbell Pollard Improvements in and relating to indicating comparators
US2571161A (en) * 1946-02-23 1951-10-16 Foster M Poole Automatic recording tube calipers for inside measurements within cylinders
GB2072837B (en) * 1981-03-10 1984-08-08 Diffracto Ltd Dimension determining apparatus
CH649379A5 (fr) * 1982-09-06 1985-05-15 Tesa Sa Appareil de mesure d'alesages.
EP0255300A3 (en) * 1986-07-29 1989-04-26 Unisearch Limited High sensitivity strain detector
JPH0495807A (ja) * 1990-08-13 1992-03-27 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 管内径測定器
DE9114646U1 (ja) * 1991-11-25 1992-02-06 Optimess Gesellschaft Fuer Optoelektronische Inspektions- Und Messtechnik Mbh I.G., O-6500 Gera, De

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100520283C (zh) * 2004-06-09 2009-07-29 北京航空航天大学 螺纹钢三参数在线测量系统
KR101581694B1 (ko) * 2014-11-13 2016-01-04 승리전력기술(주) 관로 변형 측정장치
CN108692666A (zh) * 2018-03-28 2018-10-23 郑州郑大智能科技股份有限公司 一种气缸套内径检测装置
CN108692666B (zh) * 2018-03-28 2020-04-10 郑州郑大智能科技股份有限公司 一种气缸套内径检测装置

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