JPS6319505A - 携帯形多目的精密長さ測定方法 - Google Patents

携帯形多目的精密長さ測定方法

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JPS6319505A
JPS6319505A JP16375286A JP16375286A JPS6319505A JP S6319505 A JPS6319505 A JP S6319505A JP 16375286 A JP16375286 A JP 16375286A JP 16375286 A JP16375286 A JP 16375286A JP S6319505 A JPS6319505 A JP S6319505A
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JP
Japan
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laser beam
reflected light
mirror
length
light
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Pending
Application number
JP16375286A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Ootsuku
大津久 博之
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JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、マイクロメータ、ノギス、ダイヤルゲージ、
表面粗さゲージ、圧力ゲージおよび振動計等に利用して
好適な携帯形多目的精密長さ測定方法に関する。
[従来の技術] 近年、機械的長さの測定および変位の精密測定を行なう
方法としては、従来の光学的測定方法にレーザ光線を応
用した技術が開発されており、既に設置型測長器を始め
としてオートフォーカスカメラ、コンパクトディスクプ
レイヤー、レーザビデオディスクプレイヤー等に実用さ
れている。
一方、工場等の現場においては、機械的な長さあるいは
変位の測定を行なう場合、小型で携帯に便利なものが要
求されるため、マイクロメータ。
ノギス、ダイヤルゲージなどの各種膿械的な測定器が使
用されており、光学的測定方法による測定器はあまり使
用されていなかった。
[発明が解決しようとする問題点] しかるに、上記各種の機械的測定器は、温度変化、経時
変化等による誤差が生じ易く、光学的測定方法のものに
比べて精度に問題があった。また、上記曙械的澗定器は
1つの測定器の測定幅が限定されており、狭範囲な測定
幅しか測定できなかった。このため、測定目的に応じて
測定器を使い分けなければならず大変繁雑であった。
本発明はこのような事情に基いてなされたものであり、
その目的とするところは、各種測定目的に応じた広範囲
な測定を光学的測定法を利用して高精度に行なうことが
できる上、携帯形をなし得、工場等の現場における機械
的長さ測定および変位測定に利用して好適な携帯形多目
的N密長さ測定方法を提供することにある。
CfBIIii点を解決するための手段と作用〕本発明
は、上記問題点を解決し目的を達成するために、携帯形
の伸縮自在な筒状部材の一端内側からレーザ光線を発信
させるとともに、このレーザ光線を前記筒状部材の他端
内側にて反射させ、この反射光と前記レーザ光との干渉
測定を行なうことにより前記筒状部材の長手方向の長さ
を測定するようにしたものである。
[実施例] 以下、本発明方法の実施例について図面を参照しながら
説明する。
第1図は本発明方法の一実施例として形成された棒状精
密ゲージ10の基本構造を示す模式図である。同図にお
いて11は携帯に便利な筒状部材であって、隣合う筒体
がスライドすることにより図中矢印M方向に伸縮自在と
なっている。この筒状部材11における一方の端部12
aの内側にはレーザ光送受信処理部13が設けられてお
り、他方の端部12bの内側には上記レーザ光送受信処
理部13からのレーザ光線14を反射するための反射鏡
15が取付けられている。上記レーザ光送受信処理部1
3は、レーザ発信器、光干渉装置。
受光器、光干渉波計量器、長さ演算器および長さ表示器
から構成されており、レーザ光線14による干渉測定法
により、筒状部材11の両端部128.12b間の長さ
を精密測定するものとなっている。
第2図は上記レーザ光線による干渉測定法の原理の一例
を示す因である。レーザ光発信器21から発信されるレ
ーザ光線14は集光レンズ22にて集光され、その一部
14aは半透明123を通って反射!1115に到達し
、半透明鏡23により反射されたレーザ光線14k)は
固定ミラー24に到達する。上記反射!1115はレー
ザ光線到達面が中央でλ/8(λ:レーザ光線の波長)
だけずれており、これにより、反射鏡15に到達したレ
ーザ光線14aは反射光Aと、この反射光Aよりも位相
がλ/4波長ずれた反射光Bとになる。また、固定ミラ
ー24に到達したレーザ光線14t)は反射光Cとなる
。そして、前記反射$115からの反射光A、Bは、半
透明123にて上記固定ミラー24からの反射光Cとそ
れぞれ干渉し、干渉じま信号りを発生させてレンズ25
.プリズム26を介して複数の受光器D1〜Dnからな
る受光器群27に到達する。ここで、前記反射!115
が図中矢印Nで示す如く水平移動すると、移動量λ/2
を周期として干渉光の強さは変化し、この変化により受
光器群27からは干渉じま信号りの明部にてrHIGH
Jとなり暗部にてrLOWJとなるパルス信号Eが発生
される。すなわち、反l1115の移動1id−λH/
2n(Hは干渉回数、nは屈折率)はλ/2波長毎に受
光器群27にて検知されるので、測定精度はレーザ光線
14の1/2波長すなわち約0.1〜0.4μmとなる
一方、受光器群27から発生されるパルス信号Eは光干
渉波計量器28に与えられ、ここでパルス信号Eのパル
ス数が計数され、さらに、長さ演算器29にて計数され
たパルス数が測定長さに換算される。そして、算出され
た測定長さすなわち反射!115の移動Jldは長さ表
示器30に表示される。
次に、上記移動lidの増減を検知する方法について説
明する。
反射1115からは第3図に示すようにλ/4波長の位
相ずれを生じて反射光AとBとが反射しており、今、反
射光Aは受光器群27の受光器D1にて検知され、反射
光Bは受光器[)nにて検知されるものとする。このと
き、受光器D1から出力されるパルス信号は第4図中E
1となり、受光器D2から出力されるパルス信号は第4
図中E2となる。ここで、反射鏡15の移動1dが増加
しているとき、受光器D1と受光器D2とからのパルス
信号El、E2の発生順序がE1→E2→E1→E2で
あるとすると、移動mdが減少しているときには発生順
序はE2→E1→E2→E1となる。すなわち、反射鏡
15を停止させる直前の上記反射鏡15の移動方向と最
後にパルスを発信させた受光器とを演算器29に記憶さ
せておけば、次に反射鏡15を移動させた際に受光器D
1゜D2のパルス信号E1.E2の発生順序によって移
動!dの増減が検知されるので、演算器29により速や
かに移動量dの増減が算出される。その結果、測定範囲
の変位員が高精度に測定可能となる。
以下、本実施例の棒状精密ゲージ10の適用例について
説明する。本実施例の棒状精密ゲージ10はそのままで
内側マイクロメータとして利用できる。また、第5図に
示す如く、筒状部材11の両端部12a、12bにそれ
ぞれショウ31゜32を取付けることにより外側マイク
ロゲージとして利用できる。ざらに、第6図に示す如く
バス33と組合わせてマイクロゲージを構成してもよい
一方、筒状部材11の他端12bに取付けられる反射鏡
15の取付は構造を、第7図に示す如くスプリング(ま
たは弾性ダンパ)34.35により図中矢印方向に伸縮
自在な弾性構造とする。こうすることより、ダイヤルゲ
ージとして利用できる。また、マイクロメータとしての
機能とダイヤルゲージとしての機能とを組合わせること
により、ハイドゲージ、デプスゲージ、シリンダゲージ
ネジマイクロゲージなどの各種ゲージに適用可能である
また、筒状部材11の一端12aに接触型温度計を内蔵
させると共に、レーザ光送受信処理部13に時計と温度
補正演算様能をもたせる。こうすることにより、機関ク
ランク軸のデフレクション用ゲージとして代用できる。
なお、この場合、上記レーザ光送受信処理部13に最大
値、R小値のホールド機能、自動記録様能、データ編集
機能等を計算器と組合わせてもたせることにより、自動
読取り、自動記録が可能としてもよい。
第8図は本実施例の棒状精密ゲージ10を平面度計に適
用した場合を示す構成図である。平面度計は、平面度針
本体41.測定点移動筒42.これら本体41と移動!
!i42とを連結する連絡管43により構成され、平面
度針本体41と測定点移動842とには連結管43を介
して液体44が貯留されており、本体41の液面と移動
lI42の液面には同一重量のフロート45.46が浮
遊している。このような平面度計に対して、棒状精密ゲ
ージ10は第8図に示す如く固定治具47により本体4
1に固定され、反射鏡15はフロート45に取付けられ
る。
被測定面48の平面度を測定する場合には、平面度針本
体41を被測定面48の任意の位置に設冒し、測定点移
動[43を被測定面48の測定位置に配置する。この状
態で、平面度針本体41側のフロート45の液面変化を
測定し、基準ポイントとする。その後、移動筒42を移
動させて測定位置をずらし、このときのフロート45の
液面変化を測定することにより、基準ポイントに対する
 −相対的な高低が測定される。したがって、平面度を
知ることができる。
本実施例の棒状v1密ゲージ10を平面度計に適用する
ことにより、次のような作用効果を秦する。
すなわち、本体41と移動@42とに貯留された液体4
4の液面を同一とするだけで測定可能な上、両者を被測
定面48に対して垂直にする必要はないので、容易に測
定することができる。また、測定ポイントの数、場所は
任意に選択でき、広範囲にわたって測定可能である。
第9図(a)(b)は本実施例の棒状精密ゲージ10を
表面、粗さゲージに適用した場合を示す正面断面図およ
び側面断面図である。この場合、棒状11密ゲージ1o
は磁石50により被測定面(不図示)に固定されたゲー
ジ滑り台51にて保持され、反射鏡15は取付は針52
の後端面に取付けられる。また、上記取付は針52の先
端部はビン53にて回動自在に保持されたレバー54の
一端に接触し、レバー54の他端には触針55が固定さ
れる。なお、上記ビン53はレバー中心よりも触針55
側に設けられる。こうすることにより、触針55の移動
量がレバー比により拡大されて反射鏡15に伝達される
この状態で、被測定面の表面粗さを測定する場合には、
棒状M密ゲージ10をゲージ滑り台51に沿って清らか
に移動させる。そうすると、触針55は表面粗さによっ
て上下し、これに応じて反射鏡15も上下するので、反
射鏡15の移動量を計測し、レバー比による移動量拡大
分を補正することにより、表面粗さを容易に測定できる
。この場合、レバー比を任意に設定することにより、測
定m度の向上をはかり得る。
第10図は本実施例の棒状精密ゲージ10を精密圧力ゲ
ージに適用した場合の構成図である。同図において、6
1は被測定対象としての圧力容器、62はぺO−ズ、6
3は棒状ゲージ10の一部であるベローズガイド筒であ
って、ベローズ62の頂部に反射&1115を取付ける
。この状態において、圧力容器61内の圧力が変化する
とベローズ62か伸縮するので、このべO−ズ62の変
位を測定することにより、圧力測定が可能となる。これ
は、現在使用されている各種の圧力ゲージに対する精度
チェック用の基準ゲージとして大変好適である。
第11図は本実施例の棒状精密ゲージ10を振動計とし
て適用した場合の構成図である。同図において71は筒
状の撮動検知用治具であり、先端部を治具71から突出
させた振動針72は治具71の内部にてスプリング73
.74によって揺動自在に保持されている。また、上記
振動針72の後端部には反射!1115が取付けられて
いる。この状態において、振動針72を被測定対象(不
図示)に垂直に押付けると、振動針72が振動し、この
撮動に応じて反射l!15が上下動する。このとき、レ
ーザ光送受信処理部13にて反射鏡15の振幅と周期が
測定され、上記測定データが演算処理されて最大振幅、
最小振幅、平均振幅、振動速度ならびに機動加速度等が
算出され、表示および記録がなされる。このように、棒
状精密ゲージ10を振動計に適用することにより、スプ
リング73.74の強さを調整して振動状態に応じた計
測が可能となるという効果を秦する。
以上説明したように、本実施例の棒状精密ゲージ10に
対し、計測目的に応じた特殊計測用治具を専用アダプタ
を介して取付けることにより、多種類の高精度な計測が
可能となる。また、棒状精密ゲージ10は携帯形であり
、例えばペンシル状に形成することにより持運び易く可
搬性に富んだものとなる。したがって、工場等の現場に
おいては、マイクロメータ、ノギス、ダイヤルゲージ。
表面粗さゲージ、圧力ゲージ、振動計等として容易に使
用することができる。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではない。
例えば、前記実施例では筒状部材11をスライド式とし
たが、ジVパラ式の筒体、ゴム管などのように伸縮自在
でかつ両端が有限長で接続されているものであればよい
。また、干渉測定方法として第2図に示す原理の方法を
適用した場合を示したが、これに限定されるものではな
く、他の原理に基く方法を適用できるのは言うまでもな
い。このほか、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変
形実施可能であるのは勿論である。
[発明の効1F 以上詳述したように、本発明によれば、各種測定目的に
応じた広範囲な測定を光学的測定法を利用して高精度に
行なうことができる上、携帯形をなし得、工場等の現場
における機械的長さ測定および変位測定に利用して好適
な携帯形多目的精密長さ測定方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法に基いて形成された棒状精密ゲージ
の構成図、第2図は干渉測定法の原理説明図、第3図、
第4図は測定距離の増減検知方法を説明するための図、
第5図〜第11図は棒状精密ゲージの適用例を示す図で
あって、第5図、第6図はマイクロゲージに適用した場
合の構成図、第7図はダイヤルゲージに適用した場合の
構成図、第8図は平面度針に適用した場合の構成図、第
9図(a)(b)は表面粗さゲージに適用した場合の構
成図、第10図は精密圧力ゲージに適用した場合の構成
図、第11図は振動計に適用した場合の構成図である。 10・・・棒状精密ゲージ、11・・・筒状部材、13
・・・レーザ光送受信処理部、14・・・レーザ光線、
15・・・反射鏡。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第4図 第5図      第6図 第7図 第8図 (a)          (b) 第9図 第10図 第11図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 携帯形の伸縮自在な筒状部材の一端内側からレーザ光線
    を発信させるとともに、このレーザ光線を前記筒状部材
    の他端内側にて反射させ、この反射光と前記レーザ光と
    の干渉測定を行なうことにより前記筒状部材の長手方向
    の長さを測定するようにしたことを特徴とする携帯形多
    目的精密長さ測定方法。
JP16375286A 1986-07-14 1986-07-14 携帯形多目的精密長さ測定方法 Pending JPS6319505A (ja)

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JPS6319505A true JPS6319505A (ja) 1988-01-27

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2387650A (en) * 2002-04-20 2003-10-22 Mark Paul Norman Displacement sensors
CN102636123A (zh) * 2012-04-13 2012-08-15 四川大学 迈克尔逊干涉测量金属丝杨氏模量
US8858524B2 (en) 2006-11-30 2014-10-14 First Quality Products, Inc. Skin friendly diaper
JP2017219496A (ja) * 2016-06-10 2017-12-14 小国町森林組合 測定器
JP2024032366A (ja) * 2022-08-29 2024-03-12 蜂谷工業株式会社 削孔管理システム、削孔管理プログラム、及び測定機

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