JP3314210B2 - 磁粉探傷方法 - Google Patents
磁粉探傷方法Info
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- JP3314210B2 JP3314210B2 JP19210291A JP19210291A JP3314210B2 JP 3314210 B2 JP3314210 B2 JP 3314210B2 JP 19210291 A JP19210291 A JP 19210291A JP 19210291 A JP19210291 A JP 19210291A JP 3314210 B2 JP3314210 B2 JP 3314210B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁粉探傷方法に係り、
特に容器管台表面における溶接部等の探傷検査に好適な
磁粉探傷方法に関する。
特に容器管台表面における溶接部等の探傷検査に好適な
磁粉探傷方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、容器等に取付けられた管の内表面
の溶接部等の欠陥を発見するため、例えば図９に示すよ
うな極間式磁粉探傷器等により探傷検査が行われてい
た。すなわち、図９において、磁粉探傷器は、Ｕ字形の
磁化部２を有し、Ｕ字形の両端の突出部が磁極とされ
る。磁化部２は電源ケーブル８を介して導電可能とされ
ている。
の溶接部等の欠陥を発見するため、例えば図９に示すよ
うな極間式磁粉探傷器等により探傷検査が行われてい
た。すなわち、図９において、磁粉探傷器は、Ｕ字形の
磁化部２を有し、Ｕ字形の両端の突出部が磁極とされ
る。磁化部２は電源ケーブル８を介して導電可能とされ
ている。
【０００３】上記構成による探傷検査において、図９お
よび図１０、または図１１および図１２に示すように、
磁化部２の両極を被検査体１６における被検査部２０近
傍の部位に、被検査部２０を挟んで接触させ導電させる
と、被検査部２０を含む範囲が励磁し、両極間に磁束ｗ
が誘導される。それから被検査部２０の表面に磁粉１８
を散布すると、被検査体１６に亀裂等の欠陥部がある場
合、その部分は不連続点となり、磁束ｗが乱れて欠陥部
が局所的に磁化されるため、磁粉１８は不連続点に付着
する等して、磁束分布Ｒｗの乱れが検出される。その検
出結果の検討により、被検査体１６の健全性評価を得て
いた。
よび図１０、または図１１および図１２に示すように、
磁化部２の両極を被検査体１６における被検査部２０近
傍の部位に、被検査部２０を挟んで接触させ導電させる
と、被検査部２０を含む範囲が励磁し、両極間に磁束ｗ
が誘導される。それから被検査部２０の表面に磁粉１８
を散布すると、被検査体１６に亀裂等の欠陥部がある場
合、その部分は不連続点となり、磁束ｗが乱れて欠陥部
が局所的に磁化されるため、磁粉１８は不連続点に付着
する等して、磁束分布Ｒｗの乱れが検出される。その検
出結果の検討により、被検査体１６の健全性評価を得て
いた。
【０００４】その他の磁粉探傷器として、プロット式磁
粉探傷器が案出されている。
粉探傷器が案出されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術は、磁
化手段の形状、寸法による被検査体への位置合わせの制
約の点について配慮されておらず、例えば小口径の管
（内径１００ｍｍ以下の管）の内面を探傷検査する場合
には、図１３および図１４に示すように被検査部に磁化
手段を接近させることができないため、検査を実施する
ことができないという問題があった。また、構造が複雑
で機器を容易に操作できないため、検査能率が悪い等の
問題があった。
化手段の形状、寸法による被検査体への位置合わせの制
約の点について配慮されておらず、例えば小口径の管
（内径１００ｍｍ以下の管）の内面を探傷検査する場合
には、図１３および図１４に示すように被検査部に磁化
手段を接近させることができないため、検査を実施する
ことができないという問題があった。また、構造が複雑
で機器を容易に操作できないため、検査能率が悪い等の
問題があった。
【０００６】本発明の目的は、磁粉探傷装置を改良する
ことにより、小口径の管をも検査可能とする等、装置の
適用範囲を拡大するとともにいずれの場合においても被
検査体の健全性評価が容易に得られるようにし、さらに
検査能率を向上させることにある。
ことにより、小口径の管をも検査可能とする等、装置の
適用範囲を拡大するとともにいずれの場合においても被
検査体の健全性評価が容易に得られるようにし、さらに
検査能率を向上させることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的は、複数の管台
を容器に溶接した溶接部を検査する磁粉探傷方法におい
て、磁化手段によって磁化された被検査部に磁粉供給手
段で磁粉を散布し、該磁粉によって示された磁束分布を
検出手段で検出する磁粉探傷装置であって、前記磁化手
段はスイッチを設けた把持部と該把持部に一方の端部を
固定したスティック状の磁化部とからなり、該磁化部は
珪素鋼板の積層体からなる鉄芯とその周りに巻装された
コイルとさらにその外周全体を覆う防水処理層とから構
成し、前記把持部のスイッチにより、前記磁化部のコイ
ルに通電可能とした磁粉探傷装置を用い、磁粉が散布さ
れた管台の溶接部内面の磁化は前記スティック状の磁化
部を容器の管台の内部に挿入して行い、磁粉が散布され
た前記管台の溶接部外面の磁化は前記スティック状の磁
化部を容器外部の隣り合う各管台の間に移動し配置して
行うようにすることにより達成される。
を容器に溶接した溶接部を検査する磁粉探傷方法におい
て、磁化手段によって磁化された被検査部に磁粉供給手
段で磁粉を散布し、該磁粉によって示された磁束分布を
検出手段で検出する磁粉探傷装置であって、前記磁化手
段はスイッチを設けた把持部と該把持部に一方の端部を
固定したスティック状の磁化部とからなり、該磁化部は
珪素鋼板の積層体からなる鉄芯とその周りに巻装された
コイルとさらにその外周全体を覆う防水処理層とから構
成し、前記把持部のスイッチにより、前記磁化部のコイ
ルに通電可能とした磁粉探傷装置を用い、磁粉が散布さ
れた管台の溶接部内面の磁化は前記スティック状の磁化
部を容器の管台の内部に挿入して行い、磁粉が散布され
た前記管台の溶接部外面の磁化は前記スティック状の磁
化部を容器外部の隣り合う各管台の間に移動し配置して
行うようにすることにより達成される。
【０００８】前記スティック状の磁化部は、容器の管台
の内部に挿入して、管台の溶接部内面を磁化するように
構成するのがよい。また、前記スティック状の磁化部を
容器外部の隣り合う管台の間に配置可能な構成とするこ
とにより、管台の溶接部外面を磁化するようにしてもよ
い。。
の内部に挿入して、管台の溶接部内面を磁化するように
構成するのがよい。また、前記スティック状の磁化部を
容器外部の隣り合う管台の間に配置可能な構成とするこ
とにより、管台の溶接部外面を磁化するようにしてもよ
い。。
【０００９】
【作用】スティック状の磁化手段に導電手段を介して電
流を通電させると、フレミングの法則で明らかなように
磁力線がスティック状磁化手段の先端から反対端に向か
う方向に発生し、すなわち同方向に磁束が生じる。その
法則を応用して、スティック状の磁化手段を被検査体に
位置合わせして前記のように磁化させると、磁化手段の
先端から磁束が発生し、磁束は被検査体表面を長手軸方
向に沿ってスティック状の磁化手段の反対端に向かうこ
とになる。特に、本発明はスティック状の磁化手段を被
検査部に接近させて励磁し、被検査体の外側に面する被
検査部を磁化させる。被検査体に亀裂等の欠陥部がある
場合、その部分は不連続点となり、磁束が乱れて欠陥部
が局所的に磁化される。その状態で磁粉を被検査部に散
布すると磁粉は不連続点に付着する等して、磁束分布の
乱れが検出される。このようにして被検査部の欠陥部の
存在あるいは欠陥の程度等が判明する。磁化手段はステ
ィック状であるため、スペースを要せずに位置合わせさ
れる。また、容器の管台を検査する場合も、探傷装置を
管台に対して位置合わせするのが容易であり、検査効率
も向上する。
流を通電させると、フレミングの法則で明らかなように
磁力線がスティック状磁化手段の先端から反対端に向か
う方向に発生し、すなわち同方向に磁束が生じる。その
法則を応用して、スティック状の磁化手段を被検査体に
位置合わせして前記のように磁化させると、磁化手段の
先端から磁束が発生し、磁束は被検査体表面を長手軸方
向に沿ってスティック状の磁化手段の反対端に向かうこ
とになる。特に、本発明はスティック状の磁化手段を被
検査部に接近させて励磁し、被検査体の外側に面する被
検査部を磁化させる。被検査体に亀裂等の欠陥部がある
場合、その部分は不連続点となり、磁束が乱れて欠陥部
が局所的に磁化される。その状態で磁粉を被検査部に散
布すると磁粉は不連続点に付着する等して、磁束分布の
乱れが検出される。このようにして被検査部の欠陥部の
存在あるいは欠陥の程度等が判明する。磁化手段はステ
ィック状であるため、スペースを要せずに位置合わせさ
れる。また、容器の管台を検査する場合も、探傷装置を
管台に対して位置合わせするのが容易であり、検査効率
も向上する。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。なお、前記説明と同一の部材、要素には同一の符
号を付して説明する。
する。なお、前記説明と同一の部材、要素には同一の符
号を付して説明する。
【００１１】図１は本発明の一実施例による磁粉探傷装
置を示し、同図において磁化手段としての磁化部２は把
持部４によって保持されるとともに長手軸方向に延びて
おり、把持部４には通電手段としてのスイッチ６が設け
られている。スイッチ６には通電手段としての電源ケー
ブル８が接続されている。
置を示し、同図において磁化手段としての磁化部２は把
持部４によって保持されるとともに長手軸方向に延びて
おり、把持部４には通電手段としてのスイッチ６が設け
られている。スイッチ６には通電手段としての電源ケー
ブル８が接続されている。
【００１２】磁化部２は鉄芯１０を有し、その回りにコ
イル１２が巻装されている。コイル１２は表面において
絶縁シールされ、その外周全体には防水処理層１４が設
けられている。鉄芯１０は透磁率のよい材料からなり、
本実施例ではケイ素鋼板の積層体とされている。上記構
造に加えて、本実施例は、被検査体１６に生じた磁束分
布Ｒｗを検出するため、磁粉１８（図２乃至図８参照）
を被検査部２０に散布させる供給手段と、磁粉１８によ
って示された磁束分布Ｒｗの乱れ等を検出する検出手段
とを含めてなる。
イル１２が巻装されている。コイル１２は表面において
絶縁シールされ、その外周全体には防水処理層１４が設
けられている。鉄芯１０は透磁率のよい材料からなり、
本実施例ではケイ素鋼板の積層体とされている。上記構
造に加えて、本実施例は、被検査体１６に生じた磁束分
布Ｒｗを検出するため、磁粉１８（図２乃至図８参照）
を被検査部２０に散布させる供給手段と、磁粉１８によ
って示された磁束分布Ｒｗの乱れ等を検出する検出手段
とを含めてなる。
【００１３】上記構成において、電源ケーブル８を電源
（図示省略）に接続しスイッチ６をオンにしてコイル１
２に電流を通電させると、磁力線（磁束）ｗが磁化部２
の先端から反対端に向かって発生する。磁化部２を円筒
状被検査体１６の端部に位置合わせして磁束ｗを発生さ
せると、磁束ｗは磁化部２の先端から被検査体１６の表
面上を長手軸方向に沿って磁化部２の反対端、すなわち
把持部４に向かって誘導される。被検査部２０に欠陥部
がある場合、欠陥部において磁束ｗは乱れ、局所的に磁
化される。供給手段によって磁粉１８を被検査部２０に
散布すると磁化された欠陥部に磁粉１８が付着する等し
て、磁束分布Ｒｗの乱れが検出される。その検出結果を
分析することにより欠陥部の存在あるいは欠陥の程度等
が判明し、被検査体１６の健全性評価が得られる。
（図示省略）に接続しスイッチ６をオンにしてコイル１
２に電流を通電させると、磁力線（磁束）ｗが磁化部２
の先端から反対端に向かって発生する。磁化部２を円筒
状被検査体１６の端部に位置合わせして磁束ｗを発生さ
せると、磁束ｗは磁化部２の先端から被検査体１６の表
面上を長手軸方向に沿って磁化部２の反対端、すなわち
把持部４に向かって誘導される。被検査部２０に欠陥部
がある場合、欠陥部において磁束ｗは乱れ、局所的に磁
化される。供給手段によって磁粉１８を被検査部２０に
散布すると磁化された欠陥部に磁粉１８が付着する等し
て、磁束分布Ｒｗの乱れが検出される。その検出結果を
分析することにより欠陥部の存在あるいは欠陥の程度等
が判明し、被検査体１６の健全性評価が得られる。
【００１４】本実施例によると、小口径の管（内径１０
０ｍｍ以下の管）においても、容易に磁化部２を挿入す
る等、位置合わせすることができ、従来の技術では困難
または不可能とされていた被検査体にも容易に探傷検査
を実施できる。さらに従来の技術よりも磁束分布Ｒｗの
範囲が広くなるので、１回の磁化で広い範囲を探傷検査
することができる。また、コイル１２の巻数、長さを調
節して磁場の強さを容易に変えられ、適正な磁束密度を
得ることができる。磁場の強さの確認検査については一
般のＪＩＳ検査片を全方向で適用できる。さらに把持部
４およびスイッチ６が配設され、全体として単純な構成
になるため、操作が容易となるとともに装置のコンパク
ト化も実現できる。
０ｍｍ以下の管）においても、容易に磁化部２を挿入す
る等、位置合わせすることができ、従来の技術では困難
または不可能とされていた被検査体にも容易に探傷検査
を実施できる。さらに従来の技術よりも磁束分布Ｒｗの
範囲が広くなるので、１回の磁化で広い範囲を探傷検査
することができる。また、コイル１２の巻数、長さを調
節して磁場の強さを容易に変えられ、適正な磁束密度を
得ることができる。磁場の強さの確認検査については一
般のＪＩＳ検査片を全方向で適用できる。さらに把持部
４およびスイッチ６が配設され、全体として単純な構成
になるため、操作が容易となるとともに装置のコンパク
ト化も実現できる。
【００１５】次に図２から図８までを参照して、本発明
による磁粉探傷方法の実施例を説明する。なお、上記説
明と同一の内容については説明を省略する。
による磁粉探傷方法の実施例を説明する。なお、上記説
明と同一の内容については説明を省略する。
【００１６】図２の実施例は小径の管の内部を探傷検査
する例であり、同実施例による磁束分布Ｒｗａを図３に
示す。図３に示すように、本実施例によって得られる磁
束分布Ｒｗａは磁化部２を偏らせた側の被検査体１６ａ
内部のほぼ半分にわたっており、極間式磁粉探傷器のよ
うな従来の技術によって得られる磁束分布Ｒｗａよりも
広くなる。従って被検査部２０ａを広範囲にわたり一度
に磁粉探傷検査でき、検査効率を向上できる。
する例であり、同実施例による磁束分布Ｒｗａを図３に
示す。図３に示すように、本実施例によって得られる磁
束分布Ｒｗａは磁化部２を偏らせた側の被検査体１６ａ
内部のほぼ半分にわたっており、極間式磁粉探傷器のよ
うな従来の技術によって得られる磁束分布Ｒｗａよりも
広くなる。従って被検査部２０ａを広範囲にわたり一度
に磁粉探傷検査でき、検査効率を向上できる。
【００１７】図４の実施例は細管の内部を探傷検査する
例であり、同実施例による磁束分布Ｒｗｂを図５に示
す。本実施例によって得られる磁束分布Ｒｗｂは、被検
査体１６ｂ内部のほぼ全域にわたっており、本実施例に
よると一回の操作で被検査部２０ｂをほぼ全て探傷検査
でき、検査効率はさらに向上する。
例であり、同実施例による磁束分布Ｒｗｂを図５に示
す。本実施例によって得られる磁束分布Ｒｗｂは、被検
査体１６ｂ内部のほぼ全域にわたっており、本実施例に
よると一回の操作で被検査部２０ｂをほぼ全て探傷検査
でき、検査効率はさらに向上する。
【００１８】図６の実施例は管台の溶接部を外側から探
傷検査する例であり、本実施例を図１１および図１２に
示す従来の技術と比較すると、従来の技術の場合、磁束
分布Ｒｗｃ´は狭い範囲に限られる。そのため、被検査
部２０ｃ´の全てを探傷検査するには、図１２に示すよ
うに少なくとも３回乃至４回、磁束分布Ｒｗｃ´を変え
て検査する必要がある。一方、本実施例においては被検
査体１６ｃの上部に磁化部２を位置合わせすることによ
って被検査部２０ｃの全てにわたる磁束分布Ｒｗｃを得
ることができるので、１回の磁化操作で探傷検査を完了
できる。さらに従来の例よりも磁化部２の位置合わせが
容易となる。
傷検査する例であり、本実施例を図１１および図１２に
示す従来の技術と比較すると、従来の技術の場合、磁束
分布Ｒｗｃ´は狭い範囲に限られる。そのため、被検査
部２０ｃ´の全てを探傷検査するには、図１２に示すよ
うに少なくとも３回乃至４回、磁束分布Ｒｗｃ´を変え
て検査する必要がある。一方、本実施例においては被検
査体１６ｃの上部に磁化部２を位置合わせすることによ
って被検査部２０ｃの全てにわたる磁束分布Ｒｗｃを得
ることができるので、１回の磁化操作で探傷検査を完了
できる。さらに従来の例よりも磁化部２の位置合わせが
容易となる。
【００１９】図７の実施例は管寄せのような複数の管が
直立した管台の溶接部を外側から探傷検査する例であ
り、同実施例による磁束分布Ｒｗｄを図８に示す。この
ように小口径の管台が密集した被検査体１６ｄの構造に
おいて、従来の技術では磁化手段を被検査部２０ｄに接
近させることは著しく困難または不可能なため、探傷検
査を実施することができなかった。本実施例によると磁
化部２を被検査部２０ｄに容易にアクセスでき、被検査
部２０ｄの探傷検査が可能となるのみならず、さらに図
８に示すように複数の被検査部２０ｄにかかる磁束分布
Ｒｗｄが得られるため、１回の磁化で広範囲にわたり探
傷検査を実施でき、検査効率を向上することができる。
直立した管台の溶接部を外側から探傷検査する例であ
り、同実施例による磁束分布Ｒｗｄを図８に示す。この
ように小口径の管台が密集した被検査体１６ｄの構造に
おいて、従来の技術では磁化手段を被検査部２０ｄに接
近させることは著しく困難または不可能なため、探傷検
査を実施することができなかった。本実施例によると磁
化部２を被検査部２０ｄに容易にアクセスでき、被検査
部２０ｄの探傷検査が可能となるのみならず、さらに図
８に示すように複数の被検査部２０ｄにかかる磁束分布
Ｒｗｄが得られるため、１回の磁化で広範囲にわたり探
傷検査を実施でき、検査効率を向上することができる。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、磁化手段をスティック
状としたので、被検査体への接近が容易になり、小口径
の被検査体にも容易に探傷検査を実施できる等、被検査
体の健全性評価が容易に得られる。また、磁化手段とし
てのコイルの巻数、長さが容易に調節されるので磁場の
強さを容易に変えられ、適正な磁束密度を得ることがで
きる。さらに装置全体が簡単でコンパクトな構造になる
とともに磁束分布が広くなるので検査効率を向上できる
等の効果がある。
状としたので、被検査体への接近が容易になり、小口径
の被検査体にも容易に探傷検査を実施できる等、被検査
体の健全性評価が容易に得られる。また、磁化手段とし
てのコイルの巻数、長さが容易に調節されるので磁場の
強さを容易に変えられ、適正な磁束密度を得ることがで
きる。さらに装置全体が簡単でコンパクトな構造になる
とともに磁束分布が広くなるので検査効率を向上できる
等の効果がある。
【図１】本発明の一実施例による磁粉探傷装置の一部断
面図である。
面図である。
【図２】本発明の一実施例による磁粉探傷方法を示す断
面図である。
面図である。
【図３】図２実施例における磁束分布Ｒｗａを示す平面
図である。
図である。
【図４】本発明の他の実施例による磁粉探傷方法を示す
断面図である。
断面図である。
【図５】図４実施例における磁束分布Ｒｗｂを示す平面
図である。
図である。
【図６】本発明のさらに別の実施例による磁粉探傷方法
を示す正面図である。
を示す正面図である。
【図７】本発明のさらに別の実施例による磁粉探傷方法
を示す正面図である。
を示す正面図である。
【図８】図７実施例における磁束分布Ｒｗｄを示す平面
図である。
図である。
【図９】従来の技術による磁粉探傷装置および方法の一
例を示す断面図である。
例を示す断面図である。
【図１０】図９の平面図である。
【図１１】従来の技術による磁粉探傷方法の他の一例を
示す正面図である。
示す正面図である。
【図１２】図１１の磁粉探傷方法における磁束分布Ｒｗ
ｃ´を示す平面図である。
ｃ´を示す平面図である。
【図１３】図９に示す従来の技術における課題の一例を
示す断面図である。
示す断面図である。
【図１４】図１３の平面図である。
２ 磁化部 ４ 把持部 ６ スイッチ ８ 電源ケーブル １０ 鉄芯 １２ コイル １４ 防水処理層 １６ 被検査体 １８ 磁粉 ２０ 被検査部 ｗ 磁束 Ｒｗ 磁束分布
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西茂 俊明 広島県呉市宝町６番９号 バブコック日 立株式会社 呉工場内 (56)参考文献 特開 昭55−152453（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−250558（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−299455（ＪＰ，Ａ) 実開 昭57−64751（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭62−155367（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭62−155368（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 27/84
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の管台を容器に溶接した溶接部を検
査する磁粉探傷方法において、磁化手段によって磁化さ
れた被検査部に磁粉供給手段で磁粉を散布し、該磁粉に
よって示された磁束分布を検出手段で検出する磁粉探傷
装置であって、前記磁化手段はスイッチを設けた把持部
とこの把持部に一方の端部を固定したスティック状の磁
化部とからなり、該磁化部は珪素鋼板の積層体からなる
鉄芯と、その周りに巻装されたコイルと、さらにその外
周全体を覆う防水処理層とから構成し、前記把持部のス
イッチにより、前記磁化部のコイルに通電可能とした磁
粉探傷装置を用い、前記スティック状の磁化部を容器の
管台の内部に挿入して、管台の溶接部内面を管台の長手
方向に磁化する工程と、前記スティック状の磁化部を容
器外部の隣り合う各管台の間に立設し、管台の溶接部外
面を管台の長手方向に磁化する工程を有することを特徴
とする磁粉探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19210291A JP3314210B2 (ja) | 1991-07-31 | 1991-07-31 | 磁粉探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19210291A JP3314210B2 (ja) | 1991-07-31 | 1991-07-31 | 磁粉探傷方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534318A JPH0534318A (ja) | 1993-02-09 |
| JP3314210B2 true JP3314210B2 (ja) | 2002-08-12 |
Family
ID=16285691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19210291A Expired - Fee Related JP3314210B2 (ja) | 1991-07-31 | 1991-07-31 | 磁粉探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3314210B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104792860A (zh) * | 2015-04-29 | 2015-07-22 | 南京迪威尔高端制造股份有限公司 | 一种盲孔磁粉探伤感应式手雷弹探头 |
| JP6615505B2 (ja) * | 2015-06-17 | 2019-12-04 | 東日本旅客鉄道株式会社 | 磁粉探傷検査装置 |
| CN114509497B (zh) * | 2022-01-04 | 2023-07-25 | 东方电气集团东方锅炉股份有限公司 | 短管座角焊缝缺陷磁粉检测装置和方法 |
-
1991
- 1991-07-31 JP JP19210291A patent/JP3314210B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0534318A (ja) | 1993-02-09 |
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