JP3313673B2 - 縦型熱処理炉の設置構造 - Google Patents

縦型熱処理炉の設置構造

Info

Publication number
JP3313673B2
JP3313673B2 JP25910099A JP25910099A JP3313673B2 JP 3313673 B2 JP3313673 B2 JP 3313673B2 JP 25910099 A JP25910099 A JP 25910099A JP 25910099 A JP25910099 A JP 25910099A JP 3313673 B2 JP3313673 B2 JP 3313673B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exhaust
furnace
heat treatment
tube
vertical heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP25910099A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001085337A (ja
Inventor
研作 藤田
Original Assignee
九州日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 九州日本電気株式会社 filed Critical 九州日本電気株式会社
Priority to JP25910099A priority Critical patent/JP3313673B2/ja
Publication of JP2001085337A publication Critical patent/JP2001085337A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3313673B2 publication Critical patent/JP3313673B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は縦型熱処理炉設置
構造に係り、特に排気系により炉心管内の反応ガスの流
れを均一化させる縦型熱処理炉設置構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術の縦型熱処理炉の一例を図6に
示す。
【0003】炉心管71内はヒーター77により所定の
温度(800℃〜1200℃)に高温加熱されている。
複数枚(50枚〜200枚)の半導体基板72を互いに
所定の間隔を維持して搭載した石英ボート73を上下動
可能なステージである保温筒ベース75上の保温筒76
の上面上に載置し、保温筒ベース75を上昇させること
により半導体基板72が石英ボート73と共に炉心管7
1内に挿入される。
【0004】次に炉心管71内にMFC(マス・フロー
・コントローラ)79を介し、所定流量(10L/mi
n〜50L/min)の反応ガス(水素・酸素・窒素・
シラン等のガスを一種類あるいは複数種類)78Aがガ
ス供給管74から供給される。供給された反応ガス78
Aにより、半導体基板上に薄膜を形成する。そして、供
給された反応ガスは、排気ガス78Bとして炉心管排気
口81経て、工場排気口へ排出される。
【0005】ところが、従来技術による縦型熱処理炉で
は、炉心管排気口81が1箇所しか無いため、ガス排気
口81から遠い方の反応ガスは排気口に近づくにつれて
斜流78Cとなる。
【0006】従って、半導体基板上に形成される薄膜
は、その影響を受け、半導体基板(ウェハー)に対し不
均一に供給され、排気口に遠い方で厚くなり、近い方で
薄くなる。従って、薄膜形成時のウェハー面内均一性を
悪化させる。
【0007】このために、特開平7−14782号公報
には、半導体基板(ウェハー)の面内均一性向上を図る
ために、保温筒ベース側に排気口を設けた縦型熱処理炉
が開示されている。
【0008】しかしながらこの場合、ウェハーを載せた
ボートを炉心管内に入出炉させるために保温筒ベースは
上下動するので、保温筒ベース下に設けられた排気管を
可動にしなければならず、構造が複雑になり、また可動
することによるゴミの発塵の可能性を持つという問題点
を有している。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】このように図6に示す
従来技術では、薄膜形成等においてウェハー面内均一性
が悪化してしまう。
【0010】また、保温筒ベース側に排気口を設けた縦
型熱処理炉では、構造が複雑になり、またゴミの発塵の
懸念も生じる。
【0011】したがって本発明の目的は、半導体基板
(ウェハー)面内の均一な処理を可能にし、簡素化され
た構造で且つ発塵の恐れがない、有効な縦型熱処理炉お
よびその設置構造を提供することである。
【0012】
【0013】
【課題を解決するための手段】 本発明特徴は、筒状の
炉心管内に複数の半導体基板を搭載したボートを載置
し、前記炉心管内に反応ガスを流して前記半導体基板に
熱処理を施す縦型熱処理炉の炉心管排気口と工場排気口
とを排気ダクトで接続する縦型熱処理炉の設置構造にお
いて、前記炉心管に複数の炉心管排気口を設け、前記工
場排気口から一番遠い前記炉心管排気口に接続する前記
排気ダクトの距離に合わせるように、それよりも近い前
記炉心管排気口に接続する前記排気ダクトの道程を迂回
させることによって、それぞれの前記炉心管排気口から
工場排気口までの距離がたがいに等しくなるように同じ
内面積の排気ダクトで接続した縦型熱処理炉の設置構造
にある。
【0014】ここで、前記工場排気口に対して前記排気
ダクトはその道程がたがいに対象になるように設けられ
ていることができる。
【0015】
【0016】もしくは本発明の特徴は、筒状の炉心管内
に複数の半導体基板を搭載したボートを載置し、前記炉
心管内に反応ガスを流して前記半導体基板に熱処理を施
す縦型熱処理炉の炉心管排気口と工場排気口とを排気ダ
クトで接続する縦型熱処理炉の設置構造において、前記
炉心管排気口は4個以上であり、隣り合う炉心管排気口
どうしを第1の排気ダクトで接続し、さらに隣り合う前
記第1の排気ダクトのそれぞれの中央部どうしを前記第
2の排気ダクトで接続し、この第2の排気ダクトの中央
部に接続した他の排気ダクトを経由して前記工場排気口
に接続することによってそれぞれの前記炉心管排気口か
ら工場排気口までの距離が等しくなるように接続した
型熱処理炉の設置構造にある。
【0017】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明を説明
する。図1は本発明の実施の形態の縦型熱処理炉を示す
概略図である。
【0018】本発明の縦型熱処理炉は、薄膜の形成を行
う円筒状の炉心管1,多数の半導体基板2を互いに所定
の間隔を維持して支持する石英ボート3,水素,酸素,
窒素等の反応ガスを炉心管1内に供給するためのガス供
給管4,供給された反応ガスを排気する炉心管排気口1
1,12,供給する反応ガスの流量を制御するマス・フ
ロー・コントローラ(MFC)9及び炉心管内を所定の
温度に加熱する為のヒーター7を有し、さらにエレベー
タ機構(図示省略)の駆動により上昇、下降動作を行う
ステージである保温筒ベース5、保温筒ベース5上に設
けれその上面上に石英ボート3を載置する保温筒6を有
して構成されている。
【0019】反応ガス8Aは炉心管1の上部より供給さ
れ、炉心管1の下部、すなわち保温筒6の上面より下方
向の炉心管1の側壁に設けられた互いに等間隔の複数の
炉心管排気口11,12から排気ガス8Bとして排気さ
れる構造になっている。複数個(n≧2)の炉心管排気
口11,12は互いに同じ開口面積であり、さらにそこ
から工場の排気ラインまでの距離(道程)が同じになる
ように設置されている。
【0020】このように排気口は炉心管に設けられてい
るため、排気の構造が簡単であり、また不動の為ゴミ発
塵がない。
【0021】次ぎに動作について説明する。ヒーター7
により所定の温度(800℃〜1200℃)に高温加熱
された炉心管1内に、複数枚(50枚〜200枚)の半
導体基板2を搭載した石英ボート3をエレベータの上昇
駆動により下方向から挿入する。
【0022】次に炉心管1内にMFC6を介し、所定流
量(10L/min〜50L/min)の反応ガス(水
素・酸素・窒素・シラン等のガスを一種類あるいは複数
種類)をガス供給管4から供給する。
【0023】供給された反応ガス8Aは所定の反応を行
った後、排気される反応ガス8Bとしてそれぞれの炉心
管排気口11,12を経て、工場排気へ排出される。
【0024】このとき、本発明に関する炉心管排気口
は、複数個(n≧2)設けられており、また、次ぎに図
2〜図5を参照して説明するように工場排気までの道程
が同じになっている為、供給された反応ガスは最も近い
炉心管排気口から排気され、ガスは炉心管内で斜流とな
らない。したがって、半導体基板(ウェハー)面内の均
一な薄膜形成等の均一な熱処理を可能にする。
【0025】図2は本発明の第1の実施の形態による縦
型熱処理炉の設置構造を示す概略図であり、縦型熱処理
炉の近傍は図1のA−A部の平面断面図であるが、図面
が煩雑になるのを避けるために、保温筒等の図示は省略
している。
【0026】工場には工場全体の熱処理装置からの排気
ガスの流路となる排気通路91が設けられ、その先には
排気ガスを処理する排気ガス処理システム90が設けら
れている。
【0027】そして図1の縦型熱処理炉からの排気ガス
を受け取るための工場排気口51,52が排気通路91
に設けられているが、他の熱処理装置からの排気ガスを
排気ダクト31Aを通して受け取る工場排気口51Aも
同じ排気通路91に設けられている。
【0028】上述したように、炉心管1に同じ開口面積
を有して対称の位置に炉心管排気口11,12が設けら
れており、それぞれの炉心管排気口は排気ダクト31,
32により工場排気口51,52と接続連結している。
【0029】この排気ダクト31,32は互いに同じ内
断面積を有し、炉心管に対して対称の道程(延在形状)
となっている。すなわち炉心管排気口11から工場排気
口51までの距離と炉心管排気口12から工場排気口5
2までの距離とが等しくなっている。
【0030】したがってそれぞれの炉心管排気口より外
部の排気ガス抵抗は等しくなり、こらにより炉心管1の
内部の反応ガスの流れ状態も均一なり、半導体基板の均
一な面内処理を行うことができる。
【0031】図3は本発明の第2の実施の形態による縦
型熱処理炉の設置構造を示す概略図であり、図2と同じ
箇所を示している。
【0032】炉心管1に同じ開口面積を有して互いに同
じ間隔、すなわち90度の間隔で、に炉心管排気口1
3,14,15,16が設けられており、それぞれの炉
心管排気口は排気ダクト33,34,35,36により
工場排気口53,54,55,56と接続連結してい
る。
【0033】この排気ダクト33,34,35,36は
互いに同じ内断面積を有しており、工場排気口から一番
遠い炉心管排気口に接続する排気ダクトの距離に合わせ
るように、それよりも近い炉心管排気口に接続する前記
排気ダクトの道程(延在形状)を迂回させている。
【0034】すなわち、炉心管排気口15から工場排気
口55までの距離と炉心管排気口16から工場排気口5
6までの距離とが等しく、且つ長くなっている。したが
って、炉心管排気口13から工場排気口53まで排気ダ
クト33及び炉心管排気口14から工場排気口54まで
排気ダクト34を迂回形状にして、排気ダクト33,3
4,35,36の長さが互いに等しくなるようにしてい
る。
【0035】このような設置構造を用いることにより、
排気ダクトにバンパー等の排気抵抗調整用の手段を別途
設けることなく、それぞれの炉心管排気口より外部の排
気ガス抵抗を等しくすることができる。
【0036】図4は本発明の第3の実施の形態による縦
型熱処理炉の設置構造を示す概略図であり、図2と同じ
箇所を示している。
【0037】炉心管1に同じ開口面積を有して対称の位
置に炉心管排気口17,18が設けられており、この炉
心管排気口17,18どうしを排気ダクト37で接続
し、この排気ダクト37の中央部分37Cと工場排気口
58とを排気ダクト38で接続することにより、炉心管
排気口17,18の排気抵抗を等しくしている。
【0038】図2と図4とを比較すると、図2では排気
ダクトどうしを接続する必要がないというメリットがあ
り、一方、図4では排気ダクトの全長が短くなり、また
工場排気口の数が少なくなるというメリットがある。
【0039】図5は本発明の第4の実施の形態による縦
型熱処理炉の設置構造を示す概略図であり、図2と同じ
箇所を示している。
【0040】炉心管1に同じ開口面積を有して互いに同
じ間隔、すなわち90度の間隔で、に炉心管排気口1
9,20,21,22が設けられている。
【0041】炉心管排気口19,21どうしを排気ダク
ト39で接続し、炉心管排気口20,22どうしを排気
ダクト40で接続している。排気ダクト39と排気ダク
ト40とは同じ内断面積を有し、かつ、炉心管1に対し
て互いに対称の形状になっている。
【0042】そして、排気ダクト39の中央部分39C
と排気ダクト40の中央部分40Cを排気ダクト41で
接続し、この排気ダクト41の中央部分41Cと工場排
気口62とを排気ダクト42で接続することにより、炉
心管排気口19,20,21,22より外側の排気ガス
抵抗を互いに等しくしている。
【0043】図3と図5とを比較すると、図3では排気
ダクトどうしを接続する必要がないというメリットがあ
り、一方、図5では排気ダクトの全長が短くなり、また
工場排気口の数が少なくなるというメリットがある。
【0044】上記した実施の形態では炉心管排気口が2
個の場合と4個の場合を例示した。しかし、炉心管排気
口が3個の場合や4個よりも多い場合も適宜これらの実
地の形態を選択或いは組み合わせて同様もしくは類似の
排気ダクト設置を行うことができる。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、炉
心管内に供給された反応ガスが斜流とならない為、半導
体基板(ウェハー)に対し均一に供給され、半導体基板
表面に形成される薄膜や熱処理層抵抗の半導体基板(ウ
ェハー)面内均一性を向上させることができる。
【0046】このため、本発明による薄膜形成を施して
作成された半導体基板上のトランジスタ等の特性のウェ
ハー面内均一性が向上し、その結果、半導体装置の歩留
が向上する。
【0047】また本発明の排気口は不動の炉心管に設け
てあるから、構造が簡素化され、且つ駆動による問題も
発生しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の縦型熱処理炉を示す図で
ある。
【図2】本発明の第1の実施の形態による縦型熱処理炉
の設置構造を示す図である。
【図3】本発明の第2の実施の形態による縦型熱処理炉
の設置構造を示す図である。
【図4】本発明の第3の実施の形態による縦型熱処理炉
の設置構造を示す図である。
【図5】本発明の第4の実施の形態による縦型熱処理炉
の設置構造を示す図である。
【図6】従来技術の縦型熱処理炉を示す図である。
【符号の説明】
1 炉心管 2 半導体基板 3 石英ボート 4 ガス供給管 5 保温筒ベース 6 保温筒 7 ヒーター 8A 供給される反応ガス 8B 排気される反応ガス 9 MFC 11,12,13,14,15,16,17,18,1
9,20,21,22炉心管排気口 31,31A,32,33,34,35,36,37,
38,39,40,41,42 排気ダクト 37C,39C,40C,41C 排気ダクトの中心
部分 51,51A,52,53,54,55,56,62
工場排気口 71 炉心管 72 半導体基板 73 石英ボート 74 ガス供給管 75 保温筒ベース 76 保温筒 77 ヒーター 78A 供給される反応ガス 78B 排気される反応ガス 78C 斜流になる反応ガス 79 MFC 81 炉心管排気口 90 排気ガス処理システム 91 排気通路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/205 H01L 21/22 511

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 筒状の炉心管内に複数の半導体基板を搭
    載したボートを載置し、前記炉心管内に反応ガスを流し
    て前記半導体基板に熱処理を施す縦型熱処理炉の炉心管
    排気口と工場排気口とを排気ダクトで接続する縦型熱処
    理炉の設置構造において、前記工場排気口から一番遠い
    前記炉心管排気口に接続する前記排気ダクトの距離に合
    わせるように、それよりも近い前記炉心管排気口に接続
    する前記排気ダクトの道程を迂回させることによってそ
    れぞれの前記炉心管排気口から工場排気口までの距離が
    等しくなるように接続したことを特徴とする縦型熱処理
    炉の設置構造。
  2. 【請求項2】 前記工場排気口に対して前記排気ダクト
    はその道程がたがいに対になるように設けられている
    ことを特徴とする請求項1記載の縦型熱処理炉の設置構
    造。
  3. 【請求項3】 筒状の炉心管内に複数の半導体基板を搭
    載したボートを載置し、前記炉心管内に反応ガスを流し
    て前記半導体基板に熱処理を施す縦型熱処理炉の炉心管
    排気口と工場排気口とを排気ダクトで接続する縦型熱処
    理炉の設置構造において、前記炉心管排気口は4個以上
    であり、隣り合う炉心管排気口どうしを第1の排気ダク
    トで接続し、さらに隣り合う前記第1の排気ダクトのそ
    れぞれの中央部どうしを前記第2の排気ダクトで接続
    し、この第2の排気ダクトの中央部に接続した他の排気
    ダクトを経由して前記工場排気口に接続したことによっ
    てそれぞれの前記炉心管排気口から工場排気口までの距
    離が等しくなるように接続したことを特徴とする縦型熱
    処理炉の設置構造。
  4. 【請求項4】 前記工場排気口に対して前記排気ダクト
    はその道程がたがいに対称になるように設けられている
    ことを特徴とする請求項3記載の縦型熱処理炉の設置構
    造。
JP25910099A 1999-09-13 1999-09-13 縦型熱処理炉の設置構造 Expired - Fee Related JP3313673B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25910099A JP3313673B2 (ja) 1999-09-13 1999-09-13 縦型熱処理炉の設置構造

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25910099A JP3313673B2 (ja) 1999-09-13 1999-09-13 縦型熱処理炉の設置構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001085337A JP2001085337A (ja) 2001-03-30
JP3313673B2 true JP3313673B2 (ja) 2002-08-12

Family

ID=17329332

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25910099A Expired - Fee Related JP3313673B2 (ja) 1999-09-13 1999-09-13 縦型熱処理炉の設置構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3313673B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001085337A (ja) 2001-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3252960B2 (ja) 原子層エピタキシー工程のための半導体薄膜蒸着装置
JP3373990B2 (ja) 成膜装置及びその方法
JP2714577B2 (ja) 熱処理装置及び熱処理方法
KR100797929B1 (ko) 반도체 웨이퍼에 실리콘 질화물층을 형성하는 방법
US6863732B2 (en) Heat treatment system and method
US6204194B1 (en) Method and apparatus for producing a semiconductor device
WO2000070662A1 (fr) Dispositif pour former un depot d'un film
JP2003531489A (ja) ウェハーを熱処理する方法および装置
CN111725108A (zh) 半导体加工设备
JP4355441B2 (ja) 熱処理装置及び熱処理方法及び半導体デバイスの製造方法
JP3313673B2 (ja) 縦型熱処理炉の設置構造
JPH11288893A (ja) 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法
JP2005286051A (ja) 基板処理装置
JP2002261028A (ja) 半導体装置の製造用基板載置治具と縦型炉の組合わせ、基板載置治具、及び半導体装置の製造方法
JP2806315B2 (ja) 半導体製造装置
JP4083331B2 (ja) 半導体装置の製造装置
JP3083415B2 (ja) 半導体製造装置
JP3450033B2 (ja) 熱処理装置
JPS61290713A (ja) 処理装置
JP3037287B1 (ja) 半導体製造装置および半導体の製造方法
WO2024069721A1 (ja) 基板処理装置、基板処理方法、半導体装置の製造方法及びプログラム
JPH0997768A (ja) 縦型拡散炉
JPH111775A (ja) 成膜処理装置
JP2992576B2 (ja) 縦型熱処理装置
KR100244040B1 (ko) 반도체 제조장치 및 기판처리방법

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020507

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090531

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees