JP3306413B2 - 誤り訂正装置および誤り訂正方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、データ転送システ
ムのための誤り訂正装置および誤り訂正方法に関し、特
に積符号などの多次元符号の誤り訂正と検査を高速に処
理するための装置および方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】大量の情報量を有する映像情報等の記録
再生や伝送がデジタル信号として行なわれるようになる
に伴い、記録された情報あるいは伝送される情報に対す
る信頼性を高めるために誤り訂正および誤り検査の重要
度が増大する。とくに、リアルタイムでの記録や再生が
必要となる場合、このような大量の情報に対する誤り訂
正や検査を行なうためには、高速な処理が必要になる。

【０００３】従来のデータ転送システム、たとえば記録
再生可能な光磁気ディスク装置は、受信したデータに積
符号からなる誤り訂正符号を付加して、記憶媒体にデー
タの格納を行なう。

【０００４】その後、格納されたデータは必要に応じて
誤り訂正装置へ呼出され、誤りの訂正がなされた後、誤
り検査符号（以下、ＥＤＣとよぶ）で誤り検査がなさ
れ、誤りがないことが確認された後、外部に出力され
る。

【０００５】また、再生専用光ディスク装置においても
同様に、格納されたデータは必要に応じて誤り訂正装置
へ呼出され、誤り訂正がなされた後、誤り検査符号で誤
り検査がなされ、誤りがないことが確認された後、外部
に出力される。

【０００６】従来の誤り訂正方法において、たとえば、
ＤＶＤ（Digital Video Disc）においては、ディスクか
ら読出されたデータは、一旦、たとえばＳＤＲＡＭ（Sy
nchronous Dynamic Random Access Memory）等の外部半
導体記憶素子のバッファに格納される。その後、誤り訂
正装置によりデータが呼出され、誤りが訂正される。

【０００７】たとえば、ＤＶＤでは、データを長方形に
並べ、縦方向（ＰＯ）と横方向（ＰＩ）の２方向の誤り
訂正符号を付加した積符号が用いられる。

【０００８】図１７は、従来のＤＶＤの誤り訂正積記号
のフォーマットである。２次元に配列された１７２バイ
ト（Ｂｙｔｅ）×１９２行（ｒｏｗ）の情報データに、
横方向の１０バイト（Ｂｙｔｅ）のパリティＰＩ（誤り
訂正内符号）と、縦方向の１６バイト（Ｂｙｔｅ）のパ
リティＰＯ（誤り訂正外符号）が付加されたデータを１
ブロックとしている。また、図１７において、横方向を
ＰＩ方向とも呼び、縦方向をＰＯ方向とも呼ぶことにす
る。

【０００９】図１８は、図１７に示したＤＶＤの誤り訂
正積符号（誤り訂正内符号および誤り訂正外符号）と誤
り検査符号（ＥＤＣ）との関連を示す図である。

【００１０】上記１ブロックは、１６個のセクタに分か
れ、１つのセクタは、１７２Ｂｙｔｅ×１２行のデータ
配列で構成され、これらのデータ配列は、その末尾に４
ＢｙｔｅのＥＤＣを含んでいる。

【００１１】図１９は、誤り検査符号を含む１セクタの
データ配列を示す図であり、先頭ビットから降順に番号
を割り振ったものである。

【００１２】１セクタ分のデータは、ビットデータｂ１
６５１１からビットデータｂ０に至るデータとして配列
されており、ビットデータｂ３１−ｂ０がＥＤＣに対応
している。

【００１３】図２０は、以上のような構成を有するＤＶ
Ｄデータに対する誤り訂正および誤り検査を行なう第１
の従来例の構成を説明するための概略ブロック図であ
る。

【００１４】図２０を参照して、復号を行なう基本的な
パターンは、たとえば以下のような手順による。

【００１５】１）データバス２１を介して入力信号がデ
ータバッファ（ＳＤＲＡＭ）２４に格納され、データバ
ッファ２４からＰＩ方向誤り訂正回路２０がＰＩ方向の
データを読込みシンドロームを計算する。

【００１６】２）上記ＰＩ方向のシンドロームの値より
ＰＩ方向誤り訂正回路２０が、誤り量および誤り位置を
検出し、データバッファ２４に格納されているデータに
対して誤り訂正を行なう。

【００１７】３）次に、データバッファ２４からＰＯ方
向誤り訂正回路２２がＰＯ方向のデータを読込みシンド
ロームを計算する。

【００１８】４）上記ＰＯ方向のシンドロームの値によ
りＰＯ方向誤り訂正回路２２が誤り量および誤り位置を
算出し、データバッファ２４に格納されているデータに
対して誤り訂正を行なう。

【００１９】以上の処理を繰返すことにより、誤りを訂
正する。 ５）これらの誤り訂正が終了後、誤り検査回路２３が、
データバッファ２４よりデータを読取り、誤り検査符号
を用いて誤りがないことを確認する。

【００２０】

【発明が解決しようとする課題】以上のような処理を行
なった場合に問題となるのは、誤り訂正後、再度データ
バッファ（ＳＤＲＡＭ）２４にアクセスを行ない、誤り
検査を行なうため、誤り訂正、誤り検査の作業に多くの
時間が必要となることである。

【００２１】たとえば、図２０に示す構造において、デ
ータバッファ２４から読出したデータを用いて誤り訂正
を行なった後に初めて、データバッファ２４からデータ
を誤り検査回路２３に読込むため、比較的時間を要する
データバッファ２４からのデータの読み書きの回数が多
くなり、それだけ処理に時間が必要となる。

【００２２】この問題を解決するため、たとえば、特開
平１１−５５１２９号公報に開示された方法がある。

【００２３】図２１は、特開平１１−５５１２９号公報
に開示された誤り訂正および誤り検査を行なう第２の従
来例の構成を説明するための概略ブロック図である。

【００２４】図２１に示した誤り訂正および誤り検査装
置の構造では、誤り訂正回路のためのデータバスと誤り
検査回路のためのデータバスが併用される構造を取る。

【００２５】また、図２２、図２３、図２４、図２５
は、それぞれ、図２１に示した誤り訂正および誤り検査
装置の処理の略図を示す第１〜第４の概念図である。

【００２６】図２２、図２３では、説明の簡単のために
誤り検査を行なうためのデータを１０列×４行＝４０個
と省略してある。

【００２７】図２１に示した誤り訂正および誤り検査装
置を用いた誤り検査は、２段階に分かれて実行される。

【００２８】第１段階では、たとえばＰＩ方向の誤り訂
正処理のために、バッファ３４からデータが読込まれ、
図２２に示すようなデータ配列の順序にしたがって、Ｄ
ＡＴＡシンドローム生成回路３６へ転送し、ＤＡＴＡシ
ンドロームを算出する。

【００２９】算出されたＤＡＴＡシンドロームは、記憶
素子３２に格納される。一方、第１段階では、ＤＡＴＡ
シンドロームの算出とは別に、ＰＩ方向の誤り訂正回路
３０によって検知された誤り量を用いて、図２２に示す
ようなデータ配列の順序に従って、ＥＲＲＯＲシンドロ
ームを算出する。

【００３０】第２段階では、さらに、ＰＯ方向の誤り訂
正回路３２によって検査された誤り量を用いて、図２３
に示すデータ配列の順序に従って、ＥＲＲＯＲシンドロ
ームの続きを算出する。

【００３１】最後に、図２４に示すように、この２つの
シンドローム、つまり、ＤＡＴＡシンドロームとＥＲＲ
ＯＲシンドロームとの排他的論理和を排他的論理和演算
器３５が演算して、最終的な検査シンドロームを算出す
る。この検査シンドロームに基づいて、判定回路３１が
誤り検出の結果を判定する。

【００３２】したがって、検査シンドロームを生成する
ために、再度データバッファ３４からデータを読込むこ
とを必要としないために、高速に、かつ誤り訂正と誤り
検査の処理を並行に行なうことができる。

【００３３】さらに、たとえば、ＰＯ方向の誤り訂正回
路３２において、誤り訂正シンドロームを計算した際
に、たとえば、第３列（ＣＯＬ３）の符号語に誤りがな
いとき、次に行なう誤り量と誤り位置の検出作業を省略
する処理に対応して、図２５に示すように、ＥＲＲＯＲ
シンドローム計算時においても、誤りがない符号語につ
いてはオフセット値を用いて演算の高速化が行なわれ
る。

【００３４】しかし、このオフセット計算のために、Ｅ
ＲＲＯＲシンドローム生成回路３８においては、縦方向
へ１行ずつ演算を行なう場合と、ある列から隣の列に処
理を移行する場合と、ある列から１列とばした列に処理
を移行する場合にそれぞれ対応して、３種以上のシンド
ロームに関する演算パスを有する演算処理回路が必要で
あり、回路規模が増大するという問題があった。

【００３５】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたものであって、その目的は、回路規模
を増大させることなく、記憶素子へのアクセス時間を短
縮し、誤り停止処理と並行して誤り検査処理を行なうこ
とにより、誤り検査処理に対する時間を短縮することが
可能な誤り訂正装置を提供することである。

【００３６】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の誤り訂正
装置は、データブロックの第１の方向および第２の方向
の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号を含む
被訂正データに対する誤り訂正処理を行なう誤り訂正演
算手段を備え、データブロックは、第１の方向および第
２の方向に整列する複数のサブブロックに分割されてお
り、誤り訂正演算手段は、積符号の第１の方向について
誤り量を検出する第１の誤り訂正手段と、第２の方向を
訂正する第２の誤り訂正手段と、被訂正データを格納す
ることが可能な第１の記憶素子と、第１の方向について
の誤り量と、第１の記憶素子に格納されたデータとを用
いて第１の誤り訂正結果を算出する第１の論理演算手段
とを含み、誤り訂正演算手段による訂正が誤訂正でない
ことを確認するために、誤り検査符号による誤り検査を
行なう誤り検査手段をさらに備え、誤り検査符号は、デ
ータブロックの第１の方向のデータに誤り検査符号を連
続的に設けたものであって、誤り検査手段は、第１の誤
り訂正結果に基づいて、第１の方向に並ぶ複数のサブブ
ロックに対し、第１の関数を含む第１の演算を用いた第
１の漸化式に従う処理により、第１の方向の誤り訂正後
の誤り検査に対応する第１の誤り検査結果を生成する第
１方向誤り検査手段と、第２の方向の誤り訂正時に検出
された誤り量を用いて、第２の方向に並ぶ複数のサブブ
ロックの列に対し、第２の関数を含む第２の演算を用い
た第２の漸化式に従う処理を行い、さらに、サブブロッ
クの列ごとの第２の漸化式に従う処理結果に対し、第１
の漸化式に従う処理を行うことにより、第２の誤り検査
結果を算出し、第１および第２の誤り検査結果の論理演
算を行なうことで、第２の方向の誤り訂正後の誤り検査
を行なう第２方向誤り検査手段とを含む。

【００３７】請求項２記載の誤り訂正装置は、請求項１
記載の誤り訂正装置の構成に加えて、被訂正データを受
けて一時的に格納するための第２の記憶素子をさらに備
え、第１の記憶素子は、第２の記憶素子から読込んだ符
号語を格納する。

【００３８】請求項３記載の誤り訂正装置は、請求項１
または２記載の誤り訂正装置の構成に加えて、第２方向
誤り検査手段は、第２の方向の誤り訂正時に検出された
誤り量を用いて、第２の方向に並ぶ複数のサブブロック
の列に対し、第２の関数を含む第２の演算を用いた第２
の漸化式に従う処理を行う部分検査結果を算出する部分
誤り検査手段と、サブブロックの列ごとの第２の漸化式
に従う処理結果に対し、第１の漸化式に従う処理を行う
ことにより、第２の誤り検査結果を算出する集計誤り検
査手段を有する。

【００３９】請求項４記載の誤り訂正装置は、請求項３
記載の誤り訂正装置の構成に加えて、少なくとも第２の
誤り訂正手段と第１方向誤り検査手段とが並列的に動作
する。

【００４０】請求項５記載の誤り訂正装置は、請求項３
記載の誤り訂正装置の構成に加えて、第２方向誤り検査
手段は、第１方向誤り検査手段の検査結果を受けて格納
する第３の記憶素子と、第３の記憶素子に格納された第
１方向誤り検査手段の検査結果と集計誤り検査手段の検
査結果とを受けて、第２の方向の誤り訂正後の誤り検査
を行なうための第２の論理演算手段とをさらに含む。

【００４１】請求項６記載の誤り訂正装置は、請求項１
〜５のいずれか１項に記載の誤り訂正装置の構成に加え
て、第２方向誤り検査手段は、第１および第２の誤り検
査結果の排他的論理和演算を行なうことで、第２の方向
の誤り訂正後の誤り検査を行なう。

【００４２】請求項７記載の誤り訂正方法は、第１の方
向および第２の方向に整列する複数のサブブロックに分
割されたデータブロックの第１の方向および第２の方向
の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号を含む
被訂正データを受けて、第１の方向について誤り量を求
める処理を行なうステップと、誤り訂正前の被訂正デー
タと、第１の方向について検出された誤り量とを順次用
いて第１の誤り訂正結果を算出するステップと、被訂正
データを受けて、第２の方向について誤り訂正処理を行
なうステップと、第１の誤り訂正結果に基づいて、第１
の方向に並ぶ複数のサブブロックに対し、第１の関数を
含む第１の演算を用いた第１の漸化式に従う処理によ
り、第１の方向の誤り訂正後の誤り検査に対応する第１
の誤り検査結果を生成するステップと、第２の方向の誤
り訂正時に検出された誤り量を用いて、第２の方向に並
ぶ複数のサブブロックの列に対し、第２の関数を含む第
２の演算を用いた第２の漸化式に従う処理を行い、さら
に、サブブロックの列ごとの第２の漸化式に従う処理結
果に対し、第１の漸化式に従う処理を行うことにより、
第２の誤り検査結果を算出し、第１および第２の誤り検
査結果の論理演算を行なうことで、第２の方向の誤り訂
正後の誤り検査を行なうステップとを備える。

【００４３】請求項８記載の誤り訂正方法は、請求項７
記載の誤り訂正方法の構成に加えて、第２の方向の誤り
訂正後の誤り検査を行なうステップは、第２の方向の誤
り訂正時に検出された誤り量を用いて、第２の方向に並
ぶ複数のサブブロックの列に対し、第２の関数を含む第
２の演算を用いた第２の漸化式に従う処理を行い、部分
検査結果を算出するステップと、算出された複数の部分
検査結果に対し、第１の漸化式に従う処理を行うことに
より、第２の検査結果を算出するステップとを含む。

【００４４】請求項９記載の誤り訂正方法は、請求項７
または８記載の誤り訂正方法の構成に加えて、第２の方
向の誤り訂正後の誤り検査を行なうステップにおいて
は、第１および第２の誤り検査結果の排他的論理和演算
を行なうことで、第２の方向の誤り訂正後の誤り検査を
行なう。

【００４５】請求項１０記載の誤り訂正装置は、請求項
１または２記載の誤り訂正装置の構成に加えて、第２方
向誤り検査手段は、第２の方向の誤り訂正時に検出され
た誤り量を用いて、予め設定された誤り量と部分検査結
果との対応を示す演算テーブルに基づいて、第２の方向
に並ぶ複数のサブブロックの列に対し、第２の関数を含
む第２の演算を用いた第２の漸化式に従う処理を行い、
複数のサブブロックの列ごとに部分検査結果を出力する
部分誤り検査手段と、算出された複数の部分検査結果を
第１の方向に集計することにより、第２の検査結果を算
出する集計誤り検査手段を有する。

【００４６】請求項１１記載の誤り訂正装置は、請求項
１０記載の誤り訂正装置の構成に加えて、部分誤り検査
手段は、第２の方向の誤り訂正時に検出された誤り量に
対応する誤りデータを複数のステップにわたって順次受
け、部分誤り検査手段は、前ステップにおいて与えられ
た誤りデータに基づく部分検査データと現在ステップに
おいて与えられた誤りデータとの排他的論理和演算結果
を出力する排他的論理和演算手段と、排他的論理和演算
手段の出力を受けて、予め設定された誤りデータと部分
検査データとの対応を示す演算テーブルに基づいて、部
分検査データを出力する表演算手段と、表演算手段から
出力され部分検査データを受けて保持し、現在ステップ
において、前ステップにおける部分検査データを排他的
論理和演算手段に与えるデータ保持手段とを含み、表演
算手段は、最後のステップにおいて与えられた誤りデー
タに基づいて、データブロックの第２の方向に並ぶデー
タごとに部分検査結果を出力する。

【００４７】請求項１２記載の誤り訂正装置は、請求項
１１記載の誤り訂正装置の構成に加えて、表演算手段
は、排他的論理和演算手段の出力を受けて、所定数のグ
ループに分割するデータ分割手段と、データ分割手段の
出力をそれぞれ受けて、予め設定された誤りデータと部
分検査データとの対応を示す演算テーブルに基づいて、
部分検査データを出力する複数のサブ表演算手段と、複
数のサブ表演算手段からの出力を受けて、部分検査デー
タを出力する部分検査演算手段とを含む。

【００４８】

【発明の実施の形態】［実施の形態１］ ［ディスク再生装置１０００の構成］図１は、この発明
に係る誤り訂正および並行検査装置を備えたディスク再
生装置１０００の構成を示す概略ブロック図である。

【００４９】図１を参照して、ドライブ駆動回路１４９
により駆動されるドライブ１４１でディスクから読取ら
れたデータは、制御回路１４４中の信号読取回路１４２
で復調される。サーボ回路１４３は、信号読取回路１４
２に読み取られる信号に基づいて、ドライブ駆動回路１
４９を制御する。

【００５０】ディスクからのデータは、信号読取回路１
４２で復調された後、復号回路１４７中のデータバッフ
ァ１４に転送される。転送されたデータは、誤り訂正回
路１４５で誤りが訂正された後、誤り検査回路１４６で
誤りがないことを確認した後、デスクランブル処理が施
され、インターフェース１４８を介して情報データがホ
ストＰＣへ転送される。

【００５１】なお、以下の説明では、ＤＶＤを例にとっ
て、これに記録されたデータに対応する積符号の誤り訂
正および並行検査装置ならびに方法について説明する
が、本発明はこのような場合に限定されることなく、図
１８に示したように、１ブロックのデータに対して誤り
訂正積符号が配置され、かつこの１ブロック中のセクタ
ごとに所定の誤り検査符号が配置されるデータに対する
積符号の誤り訂正および並行検査装置ならびに方法に適
用可能なものである。

【００５２】［積符号の誤り訂正および並行検査装置の
構成］図２は、図１に示した復号回路１４７の構成を説
明するための概略ブロック図である。また、図３は、復
号回路中の排他的論理和回路９の動作を説明するための
概念図である。

【００５３】以下、この図２を用いて、復号回路１４７
の構成および動作の説明を行なう。復号回路１４７の処
理の第１ステップでは、信号読取回路１４２からの入力
データがデータバス１３を介して、データバッファ１４
に転送される。ここでは、たとえばＳＤＲＡＭをデータ
バッファ１４として使用するものとする。

【００５４】処理の第２ステップでは、データバッファ
１４より読取られたデータは、第１の方向（ＰＩ方向）
の誤り訂正回路１０に転送される。さらに、並行して、
たとえばデータブロックに対して少なくとも１行分のデ
ータが記憶素子１１に保存される。

【００５５】第３のステップでは、記憶素子１１からＰ
Ｉ方向の誤り検査回路３へ排他的論理和回路９を介して
データ配列が転送される。このデータのうち、ＰＩ方向
誤り訂正回路１０で誤りが検出されたものに関しては、
ＰＩ方向誤り訂正回路１０より誤り量を出力し、これら
の排他的論理和が図３に示すように、排他的論理和回路
９で計算され、誤りが訂正されたデータ配列がＰＩ方向
の誤り検査回路３に転送される。

【００５６】第４のステップでは、ＰＩ方向誤り検査回
路３から算出された検査結果データが、ＰＩ方向判定回
路１に転送される。

【００５７】ここでいう検査結果とは、後に詳しく説明
するように、たとえば｛Ｉ（ｘ）ｍｏｄ ｇ（ｘ）｝Ｅ
ｘｏｒ ＥＤＣ等の計算結果である。

【００５８】ＰＩ方向誤り検査回路３で算出された検査
結果データは、記憶素子２によって保持され、後に述べ
るＰＯ方向の誤り検査結果の判定に用いられる。

【００５９】第５のステップでは、データバッファ１４
からＰＯの誤り訂正回路１２にデータ配列が送り込ま
れ、ＰＯ方向の誤り訂正が行なわれる。

【００６０】この実施の形態では、誤り訂正の処理速度
を高めるために、ＰＩ方向の誤り訂正回路１０とＰＯ方
向の誤り訂正回路１２を個別に配備した構成となってい
る。

【００６１】このとき、誤りが検出されたものに関して
は、ＰＯ方向誤り訂正回路１２より誤り量を出力し、誤
りのないデータに関しては誤り量を０としたデータ配列
が、ＰＯ方向の誤り訂正回路１２から、ＰＯ方向の部分
誤り検査回路８に転送される。

【００６２】部分誤り検査回路８では、後に詳しく説明
するように、列ごとの検査結果を計算し、レジスタ７に
その結果を保持する。

【００６３】なお、第３のステップのＰＩ方向の誤り訂
正が終了した時点で、データバス１３を介してデータバ
ッファ１４へＰＯ方向誤り訂正回路１２からアクセスが
可能となるので、以上説明した第５のステップは、第３
のステップのＰＩ方向の誤り訂正が終了した時点で開始
してもよい。

【００６４】第６のステップでは、ＰＯ方向の部分誤り
検査回路８により計算された結果をレジスタ７より呼出
し、ＰＯ方向の誤り検査の行方向についての集計をＰＯ
方向集計誤り検査回路６にて行なう。

【００６５】これらの回路により高速に計算された結果
と記憶素子２に保持されたＰＩ方向の誤り検査結果の排
他的論理和を排他的論理和回路５で演算して、その結果
をＰＯ方向誤り判定回路４に転送することで判定を行な
う。

【００６６】第７ステップでは、以上説明したように積
符号により誤り訂正され、検査の結果誤りのないことが
示されたデータバッファ１４上の情報データをホストの
要求に従って、ホストＰＣに転送する。

【００６７】これらのＰＩ方向およびＰＯ方向の誤り検
査は、それぞれＰＩ方向およびＰＯ方向の誤り訂正と、
ほぼ並行して実行されるため、処理速度は非常に高速
で、かつＰＩ方向およびＰＯ方向のどちらの誤り訂正実
行後でも検査が並行して終了しているため、ＰＩ方向お
よびＰＯ方向のいずれかの誤り訂正実行後において、検
査結果に異常がないことが判明すれば、直ちに情報デー
タのホストへの転送が可能となる。

【００６８】ただし、以上の説明では、ＰＩ系列の誤り
訂正とＰＯ系列の誤り訂正を１回ずつ行なう構成につい
て説明したが、本発明はこのような構成には限定され
ず、これらＰＩ系列の誤り訂正とＰＯ系列の誤り訂正を
２回以上繰返して行なう訂正装置に関しても、適用する
ことは可能である。

【００６９】［誤り計算方法の詳細］次に、本発明の誤
り計算の計算方法の詳細を説明する。

【００７０】図１３に示した単位セクタは、１６５１２
個の１ビットのデータから形成され、これらのデータを
用いてｉ番目のセクタのＥＤＣであるＥＤＣｉは以下の
式で表わされる。

【００７１】以下で、ｂｊは図１３に示した１ビットの
データである。

【００７２】

【数１】

【００７３】すなわち、データによって計算される多項
式Ｉ（ｘ）を多項式ｇ（ｘ）で割り算を行なったときの
余り（検査シンドローム）がＥＤＣｉ（ｘ）に等しけれ
ば誤りがないことを示すものである。

【００７４】図４は、図１８に示したデータ構成のうち
パリティーチェックデータを除いた１６個のセクタにつ
いて、誤り検査の処理におけるデータ処理単位の配列を
示す概念図である。

【００７５】図４においては、各セクタにおいて、デー
タを処理する単位が４バイト（Byte）であることに応じ
て、このような４バイトごとのデータを、ｉをセクタ番
号、ｊを列番号、ｋを行番号として、データｄａｔａ＿
ｉｊｋで表す。ここで、ｉ，ｊ，ｋはそれぞれ正の整数
であり、０≦ｉ≦１５、０≦ｊ≦４２、０≦ｋ≦１１で
ある。

【００７６】図５および図６は、以下に説明する誤り訂
正および誤り検査の処理において処理されるデータ配列
の順序を示す第１および第２の概念図である。

【００７７】上述したように図５および６に示すとお
り、誤り検査を行なうための１つのセクタ内のデータ処
理単位の個数は４３×１２＝５１６個であり、各データ
処理単位ｄａｔａ＿ｉｊｋは３２ビット（８ビット×
４）の値である。

【００７８】このような符号により、基本的にたとえば
ＤＶＤのフォーマットでの検証が可能である。以下、図
５および６に示すようなデータ構造についての誤り訂正
を説明する。

【００７９】各データ処理単位ｄａｔａ＿ｉｊｋに対応
する多項式を、Ｉ（ｉ，ｊ，ｋ）で表わしたとき、ｉ番
目のセクタに対するＥＤＣｉは、以下の式で定義するこ
とにより計算される。

【００８０】

【数２】

【００８１】ここで、ｂｉｊｋｍは、図１３に示したデ
ータ配列において、データ処理単位ｄａｔａ＿ｉｊｋに
対応するビットデータのうち、下位から第ｍビット目の
１ビットのデータを示す。

【００８２】したがって、｛Ｉ（ｘ）ｍｏｄ ｇ
（ｘ）｝Ｅｘｏｒ Ｉ（ｉ，４２，１１）が０であれ
ば、この第ｉ番目のセクタに誤りがないことを示してい
る。ここで、記号Ｅｘｏｒは、２つの多項式の同じ次数
同士の係数の排他的論理和演算を実行し、その結果を係
数とする多項式を作る演算であるものとする。

【００８３】ここで、上記計算を以下の多項式Ｙに対す
る関数ｆｐｉを用いて変形することを行なう。

【００８４】

【数３】

【００８５】このような関数ｆｐｉを用いると、上記計
算は以下の繰返し計算として実行することが可能であ
る。

【００８６】

【数４】

【００８７】したがって、Ｆ（ｉ，４２，１１）が０で
あれば、この第ｉ番目のセクタに誤りがないことを示し
ている。

【００８８】ここで、この演算ｆｐｉは、図５の矢印１
個分の演算に相当する。これらの演算は、たとえば、テ
ーブル化することにより高速に実行することができる。

【００８９】さらに、第ｉ番目のセクタについての上記
式（８）による計算は下記の多項式Ｙに対する関数ｆｐ
ｏを用いることにより変形することができる。

【００９０】

【数５】

【００９１】たとえば、以下のような２種類の繰返し計
算に変形することが可能となる。 ｉ） １種類目の計算：

【００９２】

【数６】

【００９３】ii） ２種類目の計算：

【００９４】

【数７】

【００９５】ここで、１種類目の計算は、図２に示した
ＰＯ方向部分誤り検査回路８の行なう処理に対応し、２
種類目の計算は、ＰＯ方向集計誤り検査回路６の行なう
処理に対応している。

【００９６】これは、図６に示すところの列データのみ
を使って、ＰＯ方向部分誤り検査回路８が部分シンドロ
ームを計算し、その後、ＰＯ方向部分誤り検査回路８か
らの結果に基づいて、ＰＯ方向集計誤り検査回路６が集
計演算することにより、誤り検査をすることが可能であ
ることを示す。

【００９７】また、この演算には、２種類の計算ｆｐｉ
とｆｐｏだけを用いることで回路が構成できる。

【００９８】したがって、図６において、この演算ｆｐ
ｉは、ＰＩ方向の矢印演算を示し、ｆｐｏはＰＯ方向の
矢印の演算を示す。

【００９９】また、ある列ｊの誤りがない場合、Ｇ
（ｉ，ｊ，１１）は計算をする必要がなく、値は０とな
るので、図１９のように３種類のシンドローム演算に対
応した余分な回路を必要とせず、非常に簡単で高速な計
算をすることが可能となる。

【０１００】［誤り訂正および誤り検査の処理フロー］
図７は、以上説明した誤り訂正および誤り検査の処理フ
ローを説明するためのフローチャートである。

【０１０１】図７を参照して、まず、誤り訂正および誤
り検査の処理が開始されると（ステップＳ１００）、制
御変数ＣＮＴの値が０に初期化される（ステップＳ１０
２）。

【０１０２】つづいて、変数ＣＮＴの値が１だけインク
リメントされ（ステップＳ１０４）、データバッファ１
４からデータがＰＩ方向誤り訂正回路１０に与えられ
（ステップＳ１０６）、算出されたシンドロームに基づ
いて、ＰＩ方向の誤り訂正処理が行なわれる（ステップ
Ｓ１０８）。

【０１０３】ＰＩ方向の誤り訂正が終了すると、引き続
いて、ＰＩ方向誤り検査回路３において、ＰＩ方向の誤
り検査が実行される（ステップＳ１１０）。

【０１０４】ＰＩ方向の誤り検査の結果、全セクタにつ
いて、ＰＩ方向についての誤り検査の結果ＥＤＣＰＩｉ
（ｉ＝０〜１５）が０であるかが判断される（ステップ
Ｓ１１２）。全セクタについて、ＰＩ方向についての誤
り検査の結果ＥＤＣＰＩｉが０であれば、誤りはすべて
訂正されているものとして、処理が終了する（ステップ
Ｓ１２２）。

【０１０５】一方、１つのセクタについてでもＰＩ方向
についての誤り検査の結果ＥＤＣＰＩｉが０でない場合
は、ＰＯ方向誤り訂正回路１２にデータバッファ１４か
らデータが与えられる（ステップＳ１１４）。

【０１０６】ＰＯ方向の誤り訂正処理が行なわれ（ステ
ップＳ１１６）、ＰＯ方向の誤り訂正が終了すると、引
き続いて、ＰＯ方向部分誤り検査回路８およびＰＯ方向
集計誤り検査回路６において、ＰＯ方向の誤り検査が実
行される（ステップＳ１１８）。

【０１０７】ＰＯ方向の誤り検査の結果、全セクタにつ
いて、ＰＯ方向についての誤り検査の結果ＥＤＣＰＯｉ
（ｉ＝０〜１５）が０であるか、および制御変数ＣＮＴ
の値が２であるかが判断される（ステップＳ１２０）。
全セクタについて、ＰＯ方向についての誤り検査の結果
ＥＤＣＰＩｉが０であれば、誤りはすべて訂正されてい
るものとして、また変数ＣＮＴ＝２の場合は必要回数分
の処理が終了したものとして処理が終了する（ステップ
Ｓ１２２）。

【０１０８】一方、全セクタについて、ＰＯ方向につい
ての誤り検査の結果ＥＤＣＰＩｉが０でなく、かつ、変
数ＣＮＴ＝２でない場合は、処理はステップＳ１０４に
復帰する（ステップＳ１２０）。

【０１０９】なお、以上の説明では、ＰＩ方向の誤り検
査が終了した後に、ＰＯ方向の誤り訂正処理を行なうこ
ととしたが、ＰＩ方向の誤り訂正が終了した後に、並行
してＰＯ方向の誤り訂正処理を行なうこととしてもよ
い。

【０１１０】また、誤り訂正と誤り検査は、２回通り行
なうこととしたが、システムの動作条件等により、この
回数は１回でも、あるいは、３回以上でも構わない。

【０１１１】図８は、図７に示したステップＳ１１０の
ＰＩ方向誤り検査処理を説明するためのフローチャート
である。

【０１１２】まず、ＰＩ方向誤り検査処理が開始すると
（ステップＳ２００）、つづいて、セクタ番号を示すセ
クタ番号変数ｉ（ｉ：正の整数）の値が０に初期化され
る（ステップＳ２０２）。

【０１１３】つづいて、１６セクタ分のＥＤＣ検査を行
なう処理ループＬＢ２０１〜ＬＥ２０１に処理が移行す
る。つまり、処理ループＬＢ２０１からＬＥ２０１まで
の処理が、１６セクタ分について行なわれるまで繰り返
される（ループＬＢ２０１〜ＬＥ２０１）。

【０１１４】まず、ｉ番目のセクタに対応するセクタＥ
ＤＣ値変数ＥＤＣＰＩｉの値を０に初期化し、行番号変
数ｋの値も０に初期化する（ステップＳ２０４）。ここ
で、セクタＥＤＣ値変数ＥＤＣＰＩｉは、式（８）に示
した計算を行なうための変数である。

【０１１５】つづいて、各セクタ内のＥＤＣ検査を行な
う処理ループＬＢ２０２〜ＬＥ２０２に処理が移行す
る。つまり、処理ループＬＢ２０２からＬＥ２０２まで
の処理が、セクタ内のすべてのデータについて行なわれ
るまで繰り返される（ループＬＢ２０２〜ＬＥ２０
２）。

【０１１６】まず、列番号変数ｊの値が０に初期化され
る（ステップＳ２０６）。つぎに、各セクタ内の行ごと
の処理を行なう処理ループＬＢ２０３〜ＬＥ２０３に処
理が移行する。つまり、処理ループＬＢ２０３からＬＥ
２０３までの処理が、１つのデータ処理単位の行に含ま
れるすべてのデータ処理単位の列について行なわれるま
で繰り返される（ループＬＢ２０３〜ＬＥ２０３）。

【０１１７】処理ループＬＢ２０３〜ＬＥ２０３におい
ては、ＰＩ方向誤り検査回路３は、ＰＩ方向に４バイト
ごとのデータを読取り、変数ｄａｔａ＿ｉｊｋに代入す
る（ステップＳ２０８）。

【０１１８】次に、上記式（８）に基づいて、 ＥＤＣＰＩｉ ＝ｆｐｉ｛ＥＤＣＰｉ｝Ｅｘｏｒ ｄａｔａ＿ｉｊｋ …（１２） の演算を行なう。

【０１１９】つぎに、変数ｊの値が１だけインクリメン
トされて、処理がデータ処理単位の次の列に移行する
（ステップＳ２１２）。

【０１２０】１つのデータ処理単位の行に含まれるすべ
てのデータ処理単位の列について、ステップＳ２０８〜
Ｓ２１２の処理を繰り返す（ループＬＢ２０３〜ＬＥ２
０３）。

【０１２１】つぎに、変数ｋの値が１だけインクリメン
トされて、処理がデータ処理単位の次の行に移行する
（ステップＳ２１４）。

【０１２２】セクタ内のデータに対する処理が終了する
まで、ステップＳ２０６〜Ｓ２１４の処理を繰り返す
（ループＬＢ２０２〜ＬＥ２０２）。

【０１２３】１つのセクタの処理が終了すると、変数ｉ
の値が１だけインクリメントされて、次のセクタに処理
が移行して（ステップＳ２１６）、再び、処理はステッ
プＳ２０２に復帰する。全セクタの処理が終了するま
で、ステップＳ２０２からステップＳ２１６までの処理
が繰り返される（ループＬＢ２０１〜ＬＥ２０１）。

【０１２４】全セクタに対する処理が終了すると、ＰＩ
方向誤り検査処理が終了する（ステップＳ２１８）。

【０１２５】図９および図１０は、図７に示したＰＯ方
向誤り検査処理のステップＳ１１８を説明するための第
１および第２のフローチャートである。

【０１２６】まず、ＰＯ方向誤り検査処理が開始すると
（ステップＳ３００）、列番号変数ｊの値が０に初期化
される（ステップＳ３０２）。

【０１２７】つづいて、すべての列に対応する部分誤り
検査を行なう処理ループＬＢ３０１〜ＬＥ３０１に処理
が移行する。つまり、処理ループＬＢ３０１からＬＥ３
０１までの処理が、すべての列について行なわれるまで
繰り返される（ループＬＢ３０１〜ＬＥ３０１）。

【０１２８】まず、セクタ番号変数ｉの値が０に初期化
される（ステップＳ３０４）。つぎに、各列に対応する
部分誤り検査を行なう処理ループＬＢ３０２〜ＬＥ３０
２に処理が移行する。

【０１２９】まず、列毎のセクタＥＤＣ値を表すセクタ
ＥＤＣ値変数ＥＤＣＰＯｉｊの値と、行番号変数ｋの値
を０に初期化する（ステップＳ３０６）。ここで、セク
タＥＤＣ値変数ＥＤＣＰＯｉｊは、式（１０）で示した
１種類目の計算を行なうための変数である。ただし、以
下に説明するように、図９に示した処理では、式（１
０）に示したデータを用いて処理をそのまま行なうので
はなく、誤り量だけを用いて処理を単純化している。

【０１３０】すなわち、つづいて、セクタ毎の部分誤り
検査を行なう処理ループＬＢ３０３〜ＬＥ３０３に処理
が移行する。（ループＬＢ３０３〜ＬＥ３０３）。

【０１３１】処理ループＬＢ３０３〜ＬＥ３０３におい
ては、ＰＯ方向部分誤り検査回路８は、誤りが検出され
ている位置にはその誤り量を、それ以外の位置には０を
配したデータを、ＰＯ方向に４バイトごと読取り、変数
ｄａｔａ＿ｉｊｋに代入する（ステップＳ３０８）。な
お、検査する列に誤りが検出されない場合は処理ループ
ＬＢ３０２〜ＬＥ３０２を省略することが可能である。

【０１３２】次に、上記式（１０）に基づいて、 ＥＤＣＰＯｉｊ ＝ｆｐｏ｛ＥＤＣＰＯｉｊ｝Ｅｘｏｒ ｄａｔａ＿ｉｊｋ …（１３） の演算を行なう。

【０１３３】行番号変数ｋの値を１だけインクリメント
し、処理が次の行に移行する（ステップＳ３１２）。

【０１３４】ｉ番目のセクタのｊ番目の列内のデータに
対する処理が終了するまで、ステップＳ３０８〜Ｓ３１
２を繰り返す（ループＬＢ３０３〜ＬＥ３０３）。

【０１３５】ｉ番目のセクタのｊ番目の列の処理が終了
すると、変数ｉの値が１だけインクリメントされ、次の
セクタに処理が移行して（ステップＳ３１４）、再び、
処理はステップＳ３０６に復帰する。１５番目のセクタ
のｊ番目の列に対する処理が終了するまで、ステップＳ
３０６からステップＳ３１４までの処理が繰り返される
（ループＬＢ３０２〜ＬＥ３０２）。

【０１３６】すべてのセクタのｊ番目の列に対する処理
が終了すると、変数ｊの値が１だけインクリメントさ
れ、次の列に処理が移行して（ステップＳ３１６）、再
び、処理はステップＳ３０４に復帰する。４２番目の列
に対する処理が終了するまで、ステップＳ３０４からス
テップＳ３１６までの処理が繰り返される（ループＬＢ
３０１〜ＬＥ３０１）。

【０１３７】図１０を参照して、ループＬＢ３０１〜Ｌ
Ｅ３０１の処理が終了すると続いて、変数ｉ値が０にリ
セットされる（ステップＳ３２０）。

【０１３８】つづいて、集計誤り検査を行なう処理ルー
プＬＢ３０４〜ＬＥ３０４に処理が移行する。つまり、
処理ループＬＢ３０４からＬＥ３０４までの処理が、す
べてのセクタについて行なわれるまで繰り返される（ル
ープＬＢ３０４〜ＬＥ３０４）。

【０１３９】つぎに、ｉ番目のセクタに対応するＥＤＣ
値変数ＥＤＣＰＯｉの値と変数ｊの値が０に初期化され
る（ステップＳ３２２）。

【０１４０】つづいて、各セクタに対応する集計誤り検
査を行なう処理ループＬＢ３０５〜ＬＥ３０５に処理が
移行する。

【０１４１】処理ループＬＢ３０５〜ＬＥ３０５におい
ては、ＰＯ方向集計誤り検査回路６は、ＰＩ方向に、上
記式（１１）に基づいて、 ＥＤＣＰＯｉ ＝ｆｐｉ｛ＥＤＣＰＯｉ｝Ｅｘｏｒ ＥＤＣＰＯｉｊ …（１４） の演算および代入処理を行なう（ステップＳ３２４）。

【０１４２】次に、変数ｊの値を１だけインクリメント
し、処理は次の列に移行する（ステップＳ３２６）。

【０１４３】処理中のセクタのすべての列に対する処理
が終了するまで、ステップＳ３２４〜Ｓ３２６を繰り返
す（ループＬＢ３０５〜ＬＥ３０５）。

【０１４４】ｉ番目のセクタのすべての列についての処
理が終了すると、つづいて、排他的論理和演算器５によ
り ＥＤＣＰＯｉ＝ＥＤＣＰＩｉ Ｅｘｏｒ ＥＤＣＰＯｉ という演算処理が行なわれる（ステップＳ３２８）。こ
れにより、ｉ番目のセクタについて誤りが存在するか否
かの判定が、ＰＯ方向判定回路４により行なわれる。

【０１４５】制御変数ｉの値が１だけインクリメントさ
れ（ステップＳ３３０）、次のセクタに処理が移動し
て、再び、処理はステップＳ３２２に復帰する。最後セ
クタの処理が終了するまで、ステップＳ３２２からステ
ップＳ３３０までの処理が繰り返される（ループＬＢ３
０４〜ＬＥ３０４）。

【０１４６】ループＬＢ３０４〜ＬＥ３０４の処理が終
了すると、誤り訂正、検査の処理は終了し、次の処理
（図７の処理ステップＳ１２０）に移行する（ステップ
Ｓ３２０）。

【０１４７】［実施の形態２］実施の形態１で説明した
とおり、誤り検査の対象となる単位セクタは、図１９に
示した１６５１２個のデータ（ｂｉ）から形成され、こ
れらのデータを用いてｉ番目のセクタに対するＥＤＣｉ
は、式（１）〜（３）により表される。

【０１４８】実施の形態１においては、式（１）で表さ
れるこのＥＤＣｉ（ｘ）を計算するにあたり、式（９）
で定義される関数ｆｐｏより演算を単純化することによ
り、図２に示すＰＯ方向部分誤り検査回路８が、図９の
ステップＳ３１０において説明したように、式（１３）
により表される演算を行なう構成となっていた。

【０１４９】以下では、説明の簡単のために、関数ｆｐ
ｏより行なわれる処理を以下の式（１５）により表す。

【０１５０】

【数８】

【０１５１】ここで、ｇ（ｘ）は３2次の多項式であ
る。したがって、式（１５）を実行するためには３３ビ
ットの演算器を用いることで実行することが可能であ
る。しかしながら、実施の形態２においては、より演算
速度を向上させるために、２³²通りの数値に対する演算
結果の表を予め準備しておき、この表に基づいて式（１
５）に対応する演算処理を行なう構成とする。

【０１５２】なお式（１０）に示されているとおり、Ｊ
ｋ（ｘ）としては、たとえば、式（６）で表される式が
代入される。

【０１５３】図１１は、このような構成での演算を実現
するＰＯ方向部分誤り検査回路８の構成を説明するため
の概略ブロック図である。

【０１５４】図１１を参照して、ＰＯ方向部分誤り検査
回路８は、ＰＯ方向誤り訂正回路１２の出力を受ける排
他的論理和演算回路８２と、排他的論理和演算回路８２
の出力を受けて、上述したような３２ビットデータに対
する２³²通りの演算結果に対応する表に基づいて、式
（１５）で表される演算結果を出力する表変換回路８４
と、表変換回路８４の出力を受けて一時保持するための
レジスタ回路８６とを含む。

【０１５５】排他的論理和演算回路８２は、ＰＯ方向誤
り訂正回路１２から与えられるＩ（ｉ，ｊ，ｋ）（ｋ＝
１〜１１）を順次受け、レジスタ８６に保持された１ス
テップ前の表変換回路８４の出力との排他的論理和演算
結果を再び表変換回路８４に与える。

【０１５６】すなわち、排他的論理和演算回路８２、表
変換回路８４およびレジスタ８６からなる処理ループに
より式（１０）に相当する演算を行なうことが可能であ
る。

【０１５７】図１２および図１３は、図１１に示したＰ
Ｏ方向部分誤り検査回路８と、レジスタ７およびＰＯ方
向集計誤り検査回路６の行なう動作を説明するためのフ
ローチャートであり、実施の形態１の図９および図１０
と対比される図である。

【０１５８】図１２および図１３に示した処理が、図９
に示した処理と異なる点は、ステップＳ３１０′におい
て、ＰＯ方向誤り訂正回路１２から与えられるデータｄ
ａｔａ＿ｉｊｋと、レジスタ回路８６に保持されたデー
タ等を排他的論理和演算回路８２が排他的論理和演算し
た結果に対して、表変換回路８４が変換処理を行なうこ
とで、変数ＥＤＣＰＯｉｊの値を更新して、レジスタ８
６に再び与える処理を行なう構成となっている点であ
る。

【０１５９】その他の点は、図９および図１０に示した
処理と同様であるので、同一部分には同一符号を付して
その説明は繰返さない。

【０１６０】以上のような構成により、ＰＯ方向部分誤
り検査回路８は、予め設けられている表（テーブル）に
基づいて変数ＥＤＣＰＯｉｊの値を更新する処理を行な
うので、演算処理が高速化され、誤り訂正時間が短縮さ
れるという効果がある。

【０１６１】［実施の形態３］実施の形態２において
は、ＰＯ方向部分誤り検査回路８の行なう処理、すなわ
ち式（１５）で表される処理を、予め計算した結果に基
づいて生成された表により演算処理する表変換回路８４
により演算処理する構成について説明した。

【０１６２】実施の形態３においては、式（１５）で表
される演算処理を、さらにより高速に行なうための構成
について説明する。

【０１６３】なお、実施の形態３の復号回路の構成も、
図２に示した復号回路１４７の構成と基本的に同様であ
る。以下に説明するように、ＰＯ方向部分誤り検査回路
８の構成が異なる。

【０１６４】すなわち、式（１５）において、式Ｊｋ
（ｘ）は、以下の式（１６）のように分解することがで
きる。

【０１６５】

【数９】

【０１６６】すなわち、Ｊｋ（ｘ）は７次の式Ｊｋ−ｉ
（ｘ）を用いて４分割することが可能である。

【０１６７】この式（１６）を用いると、式（１５）
は、以下の式（１７）のように変形することができる。

【０１６８】

【数１０】

【０１６９】したがって、式（１７）の各項に対応し
て、後に説明するように２⁸通りの表を予め備えこの表
に基づいてＰＯ方向部分誤り検査の演算処理を行なう表
変換回路が４個と、これら４個の表変換回路からの出力
に対して排他的論理和演算を行なうための排他的論理和
演算器を３個設けることで、演算処理を行なうことが可
能となる。

【０１７０】図１４は、このような構成を有するＰＯ方
向部分誤り検査回路８の構成を説明するための概略ブロ
ック図である。

【０１７１】図１４を参照して、実施の形態３のＰＯ方
向部分誤り検査回路８は、ＰＯ方向誤り訂正回路１２か
らのデータｄａｔａ＿ｉｊｋを受ける排他的論理和演算
回路８０２と、排他的論理和演算回路８０２の出力を受
けて８ビットごとのデータに分割するためのデータ分割
回路８０４と、データ分割回路８０４から出力される８
ビットごとのデータをそれぞれ受けて、式（１７）の各
項に対応する演算を予め計算された２⁸通りの表に基づ
いて、それぞれ計算するための表変換回路８１０、８１
２、８１４および８１６と、表変換回路８１０および８
１２の出力を受けて、排他的論理和演算結果を出力する
ための排他的論理和演算回路８２０と、表変換回路８１
４および８１６の出力を受けて、排他的論理和演算結果
を出力する排他的論理和演算回路８２２と、排他的論理
和演算回路８２０および８２２の出力を受けて、排他的
論理和演算結果を、図２に示すレジスタ７に対して出力
するための排他的論理和演算回路８２４と、排他的論理
和演算回路８２４の出力を受けて、一時格納するための
レジスタ８２６とを含む。

【０１７２】排他的論理和演算回路８０２は、ＰＯ方向
誤り訂正回路１２からのデータｄａｔａ＿ｉｊｋとレジ
スタ８２６からの出力とを受けて、排他的論理和演算処
理を行ない、その結果をデータ分割回路８０４に与え
る。

【０１７３】図１５および図１６は、図１４に示した実
施の形態３のＰＯ方向部分誤り検査回路８と、図２に示
したレジスタ７およびＰＯ方向集計誤り検査回路６が行
なう処理を説明するためのフローチャートである。

【０１７４】図１５および図１６を参照して、まず、Ｐ
Ｏ方向誤り検査処理が開始されると（ステップＳ４０
０）、列番号変数ｊの値が０に初期化される（ステップ
Ｓ４０２）。

【０１７５】続いて、すべての列に対する部分誤り検査
を行なう処理ループＬＢ４０１〜ＬＥ４０１に処理が移
行する。つまり、処理ループＬＢ４０１〜ＬＥ４０１ま
での処理が、すべての列について行なわれるまで繰返さ
れる（ループＬＢ４０１〜ＬＥ４０１）。

【０１７６】まず、セクタ番号変数ｉの値が０に初期化
される（ステップＳ４０４）。次に、各列に対応する部
分誤り検査を行なうための処理ループＬＢ４０２〜ＬＥ
４０２に処理が移行する。

【０１７７】まず、列ごとのセクタＥＤＣ値を表すセク
タＥＧＣ値変数ＥＤＣＰＯｉｊの値と、行番号変数ｋの
値を０に初期化する（ステップＳ４０６）。ここで、セ
クタＥＤＣ値変数ＥＤＣＰＯｉｊは、式（１７）で表し
た計算を行なうための変数である。ただし、図９に示し
た処理と同様に、式（１７）で処理されるのは、誤り行
に対応するデータだけである。

【０１７８】続いて、セクタごとの部分誤り検査を行な
う処理ループＬＢ４０３〜ＬＥ４０３に処理が移行する
（ループＬＢ４０３〜ＬＥ４０３）。

【０１７９】処理ループＬＢ４０３〜ＬＥ４０３におい
ては、ＰＯ方向部分誤り検査回路８は、誤りが検出され
ている位置にはその誤り量を、それ以外の位置には０を
配したデータを、ＰＯ方向ごとに４バイトごと読取り、
データ分割回路８０４は、このデータを先頭から１バイ
トずつに分割する。以下、この分割された１バイトずつ
のデータを変数Ｈ１〜Ｈ４と表す（ステップＳ４０
８）。この処理に対応して、表変換回路８１０〜８１６
に、それぞれ変数Ｈ１〜Ｈ４に対応する値が与えられ
る。

【０１８０】表変換回路８１０は、変数Ｈ１に対応する
データをデータ分割回路８０４から受取り、先頭から１
バイトがこの変数Ｈ１の値に等しく、残り３バイトのビ
ットデータがすべて０に対応する４バイトの値に変換し
て、これを対応するテーブル（演算表）に従って変換し
出力する。この表変換回路８１０の出力するデータを変
数ＨＡと表す（ステップＳ４１０）。この処理に対応し
て、表変換回路８１０からの出力が排他的論理和演算回
路８２０に与えられる。

【０１８１】表変換回路８１２は、変数Ｈ２に対応する
データをデータ分割回路８０４から受取り、先頭から２
バイト目の１バイト分のデータがこの変数Ｈ２の値に等
しく、残り３バイトのビットデータがすべて０に対応す
る４バイトの値に変換して、これを対応するテーブル
（演算表）に従って変換し出力する。この表変換回路８
１２の出力するデータを変数ＨＢと表す（ステップＳ４
１２）。この処理に対応して、表変換回路８１２からの
出力が排他的論理和演算回路８２０に与えられる。

【０１８２】表変換回路８１４は、変数Ｈ３に対応する
データをデータ分割回路８０４から受取り、先頭から３
バイト目の１バイト分のデータがこの変数Ｈ３の値に等
しく、残り３バイトのビットデータがすべて０に対応す
る４バイトの値に変換して、これを対応するテーブル
（演算表）に従って変換し出力する。この表変換回路８
１４の出力するデータを変数ＨＣと表す（ステップＳ４
１４）。この処理に対応して、表変換回路８１４からの
出力が排他的論理和演算回路８２２に与えられる。

【０１８３】表変換回路８１６は、変数Ｈ４に対応する
データをデータ分割回路８０４から受取り、先頭から４
バイト目の１バイト分のデータがこの変数Ｈ４の値に等
しく、残り３バイトのビットデータがすべて０に対応す
る４バイトの値に変換して、これを対応するテーブル
（演算表）に従って変換し出力する。この表変換回路８
１６の出力するデータを変数ＨＤと表す（ステップＳ４
１６）。この処理に対応して、表変換回路８１６からの
出力が排他的論理和演算回路８２２に与えられる。

【０１８４】続いて、セクタＥＤＣ値変数ＥＤＣＰＯｉ
ｊの値は、排他的論理和演算回路８２０、８２２および
８２４により、以下の式（１８）による処理により演算
される（ステップＳ４１８）。

【０１８５】

【数１１】

【０１８６】行番号変数ｋの値を１だけインクリメント
し、処理が次の行に移行する（ステップＳ４２０）。

【０１８７】ｉ番目のセクタのｊ番目の列内のデータに
対する処理が終了するまで、ステップＳ４０８〜Ｓ４１
２を繰返す（ループＬＢ４０３〜ＬＥ４０３）。

【０１８８】図１６を参照して、ｉ番目のセクタのｊ番
目の列の処理が終了すると、変数ｉの値が１だけインク
リメントされ、次のセクタに処理が移行して（ステップ
Ｓ４２２）、再び、処理はステップＳ４０６に復帰す
る。１５番目のセクタのｊ番目の列に対する処理が終了
するまで、ステップＳ４０６からステップＳ４２２まで
の処理が繰り返される（ループＬＢ４０２〜ＬＥ４０
２）。

【０１８９】すべてのセクタのｊ番目の列に対する処理
が終了すると、変数ｊの値が１だけインクリメントさ
れ、次の列に処理が移行して（ステップＳ４２４）、再
び、処理はステップＳ４０４に復帰する。４２番目の列
に対する処理が終了するまで、ステップＳ４０４からス
テップＳ４２４までの処理が繰り返される（ループＬＢ
４０１〜ＬＥ４０１）。

【０１９０】ループＬＢ４０１〜ＬＥ４０１の処理が終
了すると続いて、変数ｉ値が０にリセットされる（ステ
ップＳ４３０）。

【０１９１】つづいて、集計誤り検査を行なう処理ルー
プＬＢ４０４〜ＬＥ４０４に処理が移行する。つまり、
処理ループＬＢ４０４からＬＥ４０４までの処理が、す
べてのセクタについて行なわれるまで繰り返される（ル
ープＬＢ４０４〜ＬＥ４０４）。

【０１９２】つぎに、ｉ番目のセクタに対応するＥＤＣ
値変数ＥＤＣＰＯｉの値と変数ｊの値が０に初期化され
る（ステップＳ４３２）。

【０１９３】つづいて、各セクタに対応する集計誤り検
査を行なう処理ループＬＢ４０５〜ＬＥ４０５に処理が
移行する。

【０１９４】処理ループＬＢ４０５〜ＬＥ４０５におい
ては、ＰＯ方向集計誤り検査回路６は、ＰＩ方向に、上
記式（１１）に基づいて、 ＥＤＣＰＯｉ ＝ｆｐｉ｛ＥＤＣＰＯｉ｝Ｅｘｏｒ ＥＤＣＰＯｉｊ …（１４） の演算および代入処理を行なう（ステップＳ４３４）。

【０１９５】次に、変数ｊの値を１だけインクリメント
し、処理は次の列に移行する（ステップＳ４３６）。

【０１９６】処理中のセクタのすべての列に対する処理
が終了するまで、ステップＳ４３４〜Ｓ４３６を繰り返
す（ループＬＢ４０５〜ＬＥ４０５）。

【０１９７】ｉ番目のセクタのすべての列についての処
理が終了すると、つづいて、排他的論理和演算器５によ
り ＥＤＣＰＯｉ＝ＥＤＣＰＩｉ Ｅｘｏｒ ＥＤＣＰＯｉ という演算処理が行なわれる（ステップＳ４３８）。こ
れにより、ｉ番目のセクタについて誤りが存在するか否
かの判定が、ＰＯ方向判定回路４により行なわれる。

【０１９８】制御変数ｉの値が１だけインクリメントさ
れ（ステップＳ４４０）、次のセクタに処理が移動し
て、再び、処理はステップＳ４３２に復帰する。最後セ
クタの処理が終了するまで、ステップＳ４３２からステ
ップＳ４４０までの処理が繰り返される（ループＬＢ４
０４〜ＬＥ４０４）。

【０１９９】ループＬＢ４０４〜ＬＥ４０４の処理が終
了すると、誤り訂正、検査の処理は終了し、次の処理
（図７の処理ステップＳ１２０）に移行する（ステップ
Ｓ４４２）。

【０２００】以上のような処理によっても、ＰＯ方向部
分誤り検査回路８の処理を行なうことができ、かつ、Ｐ
Ｏ方向部分誤り検査処理を８ビットごとに分割してテー
ブルを用い、かつ並列処理を行なうので、より高速に処
理を行なうことが可能となる。

【０２０１】なお、ここで、一般に、関数ｆｐｏは、元
のデータをｎビット、データの分割数をｍとすると（ｍ
はｎの約数）、表の大きさとして必要なのは２^(n/m)個
のデータに対応する大きさであり、表の数はｍ個だけ必
要となる。また、排他的論理和演算器の数は（ｍ−１）
個となる。ただし、１個の演算機でｎビットの演算がで
きるものとする。

【０２０２】したがって、このように分割した表に基づ
いて計算する表変換回路を用いることで、大幅に回路規
模を削減することができる。

【０２０３】さらに、この発明によれば、記憶素子およ
び回路規模を増加させることなく、記憶素子へのアクセ
ス時間を短縮し、誤り訂正処理と並行して誤り検査処理
を行なうことにより、誤り検査処理に要する時間を短縮
することが可能となる。

【０２０４】今回開示された実施の形態はすべての点で
例示であって制限的なものではないと考えられるべきで
ある。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求
の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味お
よび範囲内でのすべての変更が含まれることが意図され
る。

【０２０５】

【発明の効果】この発明によれば、記憶素子および回路
規模を増加させることなく、記憶素子へのアクセス時間
を短縮し、誤り訂正処理と並行して誤り検査処理を行な
うことにより、誤り検査処理に要する時間を短縮するこ
とが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明に係る誤り訂正および並行検査装置
を備えたディスク再生装置１０００の構成を示す概略ブ
ロック図である。

【図２】 図１に示した復号回路１４７の構成を説明す
るための概略ブロック図である。

【図３】 復号回路中の排他的論理和回路９の動作を説
明するための概念図である。

【図４】 誤り検査の処理におけるデータ処理単位の配
列を示す概念図である。

【図５】 誤り訂正および誤り検査の処理において処理
されるデータ配列の順序を示す第１の概念図である。

【図６】 誤り訂正および誤り検査の処理において処理
されるデータ配列の順序を示す第２の概念図である。

【図７】 誤り訂正および誤り検査の処理フローを説明
するためのフローチャートである。

【図８】 図７に示したステップＳ１１０のＰＩ方向誤
り検査処理を説明するためのフローチャートである。

【図９】 図７に示したＰＯ方向誤り検査処理を説明す
るための第１のフローチャートである。

【図１０】 図７に示したＰＯ方向誤り検査処理を説明
するための第２のフローチャートである。

【図１１】 ＰＯ方向部分誤り検査回路８の構成を説明
するための概略ブロック図である。

【図１２】 ＰＯ方向部分誤り検査回路８と、レジスタ
７およびＰＯ方向集計誤り検査回路６の行なう動作を説
明するための第１のフローチャートである。

【図１３】 ＰＯ方向部分誤り検査回路８と、レジスタ
７およびＰＯ方向集計誤り検査回路６の行なう動作を説
明するための第２のフローチャートである。

【図１４】 ＰＯ方向部分誤り検査回路８の構成を説明
するための概略ブロック図である。

【図１５】 ＰＯ方向部分誤り検査回路８とレジスタ７
およびＰＯ方向集計誤り検査回路６が行なう処理を説明
するための第１のフローチャートである。

【図１６】 ＰＯ方向部分誤り検査回路８とレジスタ７
およびＰＯ方向集計誤り検査回路６が行なう処理を説明
するための第２のフローチャートである。

【図１７】 従来のＤＶＤの誤り訂正積記号のフォーマ
ットである。

【図１８】 図１７に示したＤＶＤの誤り訂正積符号と
誤り検査符号（ＥＤＣ）との関連を示す図である。

【図１９】 誤り検査符号を含む１セクタのデータ配列
を示す図であり、先頭ビットから降順に番号を割り振っ
たものである。

【図２０】 ＤＶＤデータに対する誤り訂正および誤り
検査を行なう第１の従来例の構成を説明するための概略
ブロック図である。

【図２１】 第２の従来例の構成を説明するための概略
ブロック図である。

【図２２】 図２１に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第１の概念図である。

【図２３】 図２１に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第２の概念図である。

【図２４】 図２１に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第３の概念図である。

【図２５】 図２１に示した誤り訂正および誤り検査装
置の処理の略図を示す第４の概念図である。

【符号の説明】

１ ＰＩ方向判定回路、２ 記憶素子、３ ＰＩ方向誤
り検査回路、４ ＰＯ方向判定回路、５，９ 排他的論
理和回路、６ ＰＯ方向集計誤り検査回路、７レジス
タ、８ ＰＯ方向部分誤り検査回路、１０ ＰＩ方向誤
り訂正回路、１１ 記憶素子、１２ ＰＯ方向誤り訂正
回路、１３ データバス、１４ データバッファ、８２
排他的論理和演算回路、８４ 表変換回路、８６ レ
ジスタ、１４１ ドライブ、１４２ 信号読取回路、１
４３ サーボ回路、１４４ 制御回路、１４５ 誤り訂
正回路、１４６ 誤り検査回路、１４７ 復号回路、１
４８ インターフェース回路、１４９ ドライブ駆動回
路、８０２，８２０，８２２，８２４ 排他的論理和演
算回路、８０４ データ分割回路、８１０，８１２，８
１４，８１６ 表変換回路、８２６ レジスタ。

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｃ ５７２Ｆ (56)参考文献 特開2000−114983（ＪＰ，Ａ) 特開2000−106530（ＪＰ，Ａ) 特許2605270（ＪＰ，Ｂ２) 特許2605271（ＪＰ，Ｂ２) 特許2714129（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H03M 13/29 G06F 11/10 330 G11B 20/00 H04L 1/00

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データブロックの第１の方向および第２
   の方向の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号
   を含む被訂正データに対する誤り訂正処理を行なう誤り
   訂正演算手段を備え、前記データブロックは、前記第１の方向および前記第２
   の方向に整列する複数のサブブロックに分割されてお
   り、 前記誤り訂正演算手段は、 前記積符号の第１の方向について誤り量を検出する第１
   の誤り訂正手段と、 前記第２の方向を訂正する第２の誤り訂正手段と、 前 記被訂正データを格納することが可能な第１の記憶素
   子と、前記第１の方向についての誤り量と、前記第１の記憶素
   子に格納されたデータとを用いて第１の誤り訂正結果を
   算出する第１の論理演算手段とを含み、 前記誤り訂正演算手段による訂正が誤訂正でないことを
   確認するために、誤り検査符号による誤り検査を行なう
   誤り検査手段をさらに備え、 前記誤り検査符号は、前記データブロックの第１の方向
   のデータに誤り検査符号を連続的に設けたものであっ
   て、 前記誤り検査手段は、 前 記第１の誤り訂正結果に基づいて、前記第１の方向に
   並ぶ複数の前記サブブロックに対し、第１の関数を含む
   第１の演算を用いた第１の漸化式に従う処理により、前
   記第１の方向の誤り訂正後の誤り検査に対応する第１の
   誤り検査結果を生成する第１方向誤り検査手段と、 前記第２の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
   て、前記第２の方向に並ぶ複数の前記サブブロックの列
   に対し、第２の関数を含む第２の演算を用いた第２の漸
   化式に従う処理を行い、さらに、前記サブブロックの列
   ごとの前記第２の漸化式に従う処理結果に対し、前記第
   １の漸化式に従う処理を行うことにより、第２の誤り検
   査結果を算出し、前記第１および前記第２の誤り検査結
   果の論理演算を行なうことで、前記第２の方向の誤り訂
   正後の誤り検査を行なう第２方向誤り検査手段とを含
   む、誤り訂正装置。
2. 【請求項２】 前記被訂正データを受けて一時的に格納
   するための第２の記憶素子をさらに備え、 前記第１の記憶素子は、前記第２の記憶素子から読込ん
   だ符号語を格納する、請求項１記載の誤り訂正装置。
3. 【請求項３】 前記第２方向誤り検査手段は、 前記第２の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
   て、前記第２の方向に並ぶ複数の前記サブブロックの列
   に対し、第２の関数を含む第２の演算を用いた第２の漸
   化式に従う処理を行う部分検査結果を算出する部分誤り
   検査手段と、前記サブブロックの列ごとの前記第２の漸化式に従う処
   理結果に対し、前記第１の漸化式に従う処理を行うこと
   により、第２の誤り検査結果を算出する 集計誤り検査手
   段を有する、請求項１または２記載の誤り訂正装置。
4. 【請求項４】 少なくとも前記第２の誤り訂正手段と第
   １方向誤り検査手段とが並列的に動作する、請求項３記
   載の誤り訂正装置。
5. 【請求項５】 前記第２方向誤り検査手段は、 前記第１方向誤り検査手段の検査結果を受けて格納する
   第３の記憶素子と、 前記第３の記憶素子に格納された前記第１方向誤り検査
   手段の検査結果と前記集計誤り検査手段の検査結果とを
   受けて、前記第２の方向の誤り訂正後の誤り検査を行な
   うための第２の論理演算手段とをさらに含む、請求項３
   記載の誤り訂正装置。
6. 【請求項６】 前記第２方向誤り検査手段は、前記第１
   および前記第２の誤り検査結果の排他的論理和演算を行
   なうことで、前記第２の方向の誤り訂正後の誤り検査を
   行なう、請求項１〜５のいずれか１項に記載の誤り訂正
   装置。
7. 【請求項７】 第１の方向および第２の方向に整列する
   複数のサブブロックに分割されたデータブロックの前記
   第１の方向および前記第２の方向の誤り訂正が可能な積
   符号を有する誤り訂正符号を含む被訂正データを受け
   て、前記第１の方向について誤り量を求める処理を行な
   うステップと、 誤 り訂正前の前記被訂正データと、前記第１の方向につ
   いて検出された誤り量とを順次用いて第１の誤り訂正結
   果を算出するステップと、前記被訂正データを受けて、前記第２の方向について誤
   り訂正処理を行なうステップと、 前記第１の誤り訂正結果に基づいて、前記第１の方向に
   並ぶ複数の前記サブブロックに対し、第１の関数を含む
   第１の演算を用いた第１の漸化式に従う処理により、前
   記第１の方向の誤り訂正後の誤り検査に対応する第１の
   誤り検査結果を生成するステップと、 前記第２の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
   て、前記第２の方向に並ぶ複数の前記サブブロックの列
   に対し、第２の関数を含む第２の演算を用いた第２の漸
   化式に従う処理を行い、さらに、前記サブブロックの列
   ごとの前記第２の漸化式に従う処理結果に対し、前記第
   １の漸化式に従う処理を行うことにより、第２の誤り検
   査結果を算出し、前記第１および前記第２の誤り検査結
   果の論理演算を行なうことで、前記第２の方向の誤り訂
   正後の誤り検査を行なうステップとを備える、誤り訂正
   方法。
8. 【請求項８】 前記第２の方向の誤り訂正後の誤り検査
   を行なうステップは、 前記第２の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
   て、前記第２の方向に並ぶ複数の前記サブブロックの列
   に対し、第２の関数を含む第２の演算を用いた第２の漸
   化式に従う処理を行い、部分検査結果を算出するステッ
   プと、 算出された複数の前記部分検査結果に対し、前記第１の
   漸化式に従う処理を行うことにより、第２の検査結果を
   算出するステップとを含む、請求項７記載の誤り訂正方
   法。
9. 【請求項９】 前記第２の方向の誤り訂正後の誤り検査
   を行なうステップにおいては、 前記第１および前記第２の誤り検査結果の排他的論理和
   演算を行なうことで、前記第２の方向の誤り訂正後の誤
   り検査を行なう、請求項７または８記載の誤り訂正方
   法。
10. 【請求項１０】 前記第２方向誤り検査手段は、 前記第２の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用い
    て、予め設定された前記誤り量と部分検査結果との対応
    を示す演算テーブルに基づいて、前記第２の方向に並ぶ
    複数の前記サブブロックの列に対し、第２の関数を含む
    第２の演算を用いた第２の漸化式に従う処理を行い、前
    記複数のサブブロックの列ごとに前記部分検査結果を出
    力する部分誤り検査手段と、 算出された複数の前記部分検査結果を第１の方向に集計
    することにより、第２の検査結果を算出する集計誤り検
    査手段を有する、請求項１または２記載の誤り訂正装
    置。
11. 【請求項１１】 前記部分誤り検査手段は、前記第２の
    方向の誤り訂正時に検出された誤り量に対応する誤りデ
    ータを複数のステップにわたって順次受け、 前記部分誤り検査手段は、 前ステップにおいて与えられた誤りデータに基づく部分
    検査データと現在ステップにおいて与えられた誤りデー
    タとの排他的論理和演算結果を出力する排他的論理和演
    算手段と、 前記排他的論理和演算手段の出力を受けて、予め設定さ
    れた前記誤りデータと部分検査データとの対応を示す演
    算テーブルに基づいて、前記部分検査データを出力する
    表演算手段と、 前記表演算手段から出力され前記部分検査データを受け
    て保持し、現在ステップにおいて、前ステップにおける
    前記部分検査データを前記排他的論理和演算手段に与え
    るデータ保持手段とを含み、 前記表演算手段は、最後のステップにおいて与えられた
    前記誤りデータに基づいて、前記データブロックの第２
    の方向に並ぶデータごとに前記部分検査結果を出力す
    る、請求項１０記載の誤り訂正装置。
12. 【請求項１２】 前記表演算手段は、 前記排他的論理和演算手段の出力を受けて、所定数のグ
    ループに分割するデータ分割手段と、 前記データ分割手段の出力をそれぞれ受けて、予め設定
    された前記誤りデータと部分検査データとの対応を示す
    演算テーブルに基づいて、前記部分検査データを出力す
    る複数のサブ表演算手段と、 前記複数のサブ表演算手段からの出力を受けて、前記部
    分検査データを出力する部分検査演算手段とを含む、請
    求項１１記載の誤り訂正装置。