JP3299867B2 - アークセンサ調整装置 - Google Patents
アークセンサ調整装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、性能および特性が
被対象物ならびに使用条件、使用環境によって変化する
アークセンサの調整装置に関するものである。
被対象物ならびに使用条件、使用環境によって変化する
アークセンサの調整装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、製造品質向上のため、溶接用ロボ
ット、ハンドリングロボット等の自動化機器において、
センサによるフィードバック動作を行うシステムが多く
実用化されている。これらのシステムに搭載されている
センサの性能の評価およびセンサの特性値を決定するに
は、被対象物ならびに使用条件、使用環境をある程度限
定しなければ困難である。
ット、ハンドリングロボット等の自動化機器において、
センサによるフィードバック動作を行うシステムが多く
実用化されている。これらのシステムに搭載されている
センサの性能の評価およびセンサの特性値を決定するに
は、被対象物ならびに使用条件、使用環境をある程度限
定しなければ困難である。
【０００３】しかしながら、それらを限定して使用する
ことが難しいセンサ、例えば溶接現象の変化を利用して
溶接トーチの位置を補正するアークセンサという技術で
は、その検出原理からセンサの性能や、特性値が各種溶
接条件（溶接電流、電圧、被対象ワークの材質、板厚、
継ぎ手形状など）によって変化するため、アークセンサ
システムの教示作業を行う場合、ゲインやオフセット等
のセンサの特性値をオペレータが経験や勘に基づいて決
定するということがあった。
ことが難しいセンサ、例えば溶接現象の変化を利用して
溶接トーチの位置を補正するアークセンサという技術で
は、その検出原理からセンサの性能や、特性値が各種溶
接条件（溶接電流、電圧、被対象ワークの材質、板厚、
継ぎ手形状など）によって変化するため、アークセンサ
システムの教示作業を行う場合、ゲインやオフセット等
のセンサの特性値をオペレータが経験や勘に基づいて決
定するということがあった。
【０００４】このようなアークセンサシステムのゲイ
ン、オフセット等のセンサパラメータ調整方法として特
開平５−３２９６４５号公報に開示された方法がある。
以下、この公報に開示された従来のアークセンサモニタ
ー装置を説明する。
ン、オフセット等のセンサパラメータ調整方法として特
開平５−３２９６４５号公報に開示された方法がある。
以下、この公報に開示された従来のアークセンサモニタ
ー装置を説明する。
【０００５】図５は従来のアークセンサモニター装置を
示す。図５において、アークセンサ３２には、溶接電流
信号３８と溶接電圧信号３７が入力されている。溶接電
流信号３８は、アーク溶接機３０から母材である被溶接
物４１に接続されたケーブル４２に直列に挿入されたシ
ャント抵抗４４により検出される。溶接電圧信号３７
は、溶接機３０の溶接トーチ３９へ出力される電力の出
力端子４３の電圧信号である。
示す。図５において、アークセンサ３２には、溶接電流
信号３８と溶接電圧信号３７が入力されている。溶接電
流信号３８は、アーク溶接機３０から母材である被溶接
物４１に接続されたケーブル４２に直列に挿入されたシ
ャント抵抗４４により検出される。溶接電圧信号３７
は、溶接機３０の溶接トーチ３９へ出力される電力の出
力端子４３の電圧信号である。
【０００６】アークセンサ３２は、溶接中の溶接トーチ
３９の先端チップ４０と被溶接物４１との相対的な位置
ずれを入力信号に基づいて演算し、ロボット位置計算手
段３３に溶接トーチのチップ４０と被溶接物４１の間の
位置補正情報、即ち上下方向補正情報３５と、溶接トー
チのチップ４０の各オシレート端部位置補正情報、即ち
左右方向補正情報３６を出力する。
３９の先端チップ４０と被溶接物４１との相対的な位置
ずれを入力信号に基づいて演算し、ロボット位置計算手
段３３に溶接トーチのチップ４０と被溶接物４１の間の
位置補正情報、即ち上下方向補正情報３５と、溶接トー
チのチップ４０の各オシレート端部位置補正情報、即ち
左右方向補正情報３６を出力する。
【０００７】アークセンサモニタ３４は、この上下方向
補正情報３５と左右方向補正情報３６を入力情報とする
もので、オペレータの作業手順としては、まず、アーク
センサ倣いが無い状態で溶接を行う。この時、内部メモ
リーに記憶した上下方向補正情報３５と左右方向補正情
報３６の経時的な変化をグラフ表示させるとともに、上
下／左右方向補正情報の平均値と標準偏差を計算する。
補正情報３５と左右方向補正情報３６を入力情報とする
もので、オペレータの作業手順としては、まず、アーク
センサ倣いが無い状態で溶接を行う。この時、内部メモ
リーに記憶した上下方向補正情報３５と左右方向補正情
報３６の経時的な変化をグラフ表示させるとともに、上
下／左右方向補正情報の平均値と標準偏差を計算する。
【０００８】この上下方向補正情報の標準偏差により、
溶接条件そのものの安定度を理解することができ、左右
方向の標準偏差値からはアーク電圧の安定度を容易に理
解できるとともに、その平均値からその教示位置の通り
に倣い溶接を行うための中心補正値を知ることができ
る。
溶接条件そのものの安定度を理解することができ、左右
方向の標準偏差値からはアーク電圧の安定度を容易に理
解できるとともに、その平均値からその教示位置の通り
に倣い溶接を行うための中心補正値を知ることができ
る。
【０００９】また、この上下／左右方向補正情報を積分
処理し、その経時的な変化をみることで溶接トーチの動
きを推測することができ、これら平均値，標準偏差およ
び積分表示により、上下ゲインや左右ゲインの値が適正
かどうかを視覚的に判断することが可能となる。
処理し、その経時的な変化をみることで溶接トーチの動
きを推測することができ、これら平均値，標準偏差およ
び積分表示により、上下ゲインや左右ゲインの値が適正
かどうかを視覚的に判断することが可能となる。
【００１０】このように上記従来のアークセンサモニタ
ー装置は、アークセンサ回路から出力される上下方向補
正情報および左右方向補正情報を統計的処理によりオペ
レータが理解しやすい情報に変換して表示することで、
各情報の値のグラフィック表示を見て、アークセンサパ
ラメータをオペレータ自身が選択して設定することがで
きる。
ー装置は、アークセンサ回路から出力される上下方向補
正情報および左右方向補正情報を統計的処理によりオペ
レータが理解しやすい情報に変換して表示することで、
各情報の値のグラフィック表示を見て、アークセンサパ
ラメータをオペレータ自身が選択して設定することがで
きる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のアー
クセンサモニタ装置では、被対象物，使用条件，使用環
境である各種溶接条件（溶接電流，電圧，被対象ワーク
の材質，板厚，継ぎ手形状など）の変化によるセンサの
特性変化を見ることはできても、その特性変化からセン
サパラメータを決定するのはオペレータに委ねられてい
るため、溶接ならびにアークセンサシステム共に精通し
ていることがオペレータの十分条件となっており、溶接
およびアークセンサシステムについて熟知していない者
はもちろんのこと、溶接だけあるいはアークセンサシス
テムのみに精通している者でも、任意の使用条件下にお
いてのセンサパラメータの最適値の設定は難しいという
問題がある。
クセンサモニタ装置では、被対象物，使用条件，使用環
境である各種溶接条件（溶接電流，電圧，被対象ワーク
の材質，板厚，継ぎ手形状など）の変化によるセンサの
特性変化を見ることはできても、その特性変化からセン
サパラメータを決定するのはオペレータに委ねられてい
るため、溶接ならびにアークセンサシステム共に精通し
ていることがオペレータの十分条件となっており、溶接
およびアークセンサシステムについて熟知していない者
はもちろんのこと、溶接だけあるいはアークセンサシス
テムのみに精通している者でも、任意の使用条件下にお
いてのセンサパラメータの最適値の設定は難しいという
問題がある。
【００１２】つまり、センサを搭載したシステムならび
にその使用条件、使用環境に熟知しなければセンサの性
能を引き出すことができないという問題点を有してい
た。本発明は性能および特性が被対象物ならびに使用条
件，使用環境によって変化するアークセンサの適用可能
性、性能評価ならびにアークセンサパラメータの最適値
の決定、またアークセンサ処理の評価、さらにアークセ
ンサシステムの動作診断を、アークセンサシステムや前
記使用条件、前記使用環境に熟知していないものでも行
えるアークセンサ調整装置を提供することを目的とす
る。
にその使用条件、使用環境に熟知しなければセンサの性
能を引き出すことができないという問題点を有してい
た。本発明は性能および特性が被対象物ならびに使用条
件，使用環境によって変化するアークセンサの適用可能
性、性能評価ならびにアークセンサパラメータの最適値
の決定、またアークセンサ処理の評価、さらにアークセ
ンサシステムの動作診断を、アークセンサシステムや前
記使用条件、前記使用環境に熟知していないものでも行
えるアークセンサ調整装置を提供することを目的とす
る。
【００１３】
【課題を解決するための手段】請求項１記載のアークセ
ンサ調整装置は、溶接線の倣い制御を行うアークセンサ
システムに用いるアークセンサ調整装置において、アー
クセンサと所定の狙い位置における前記アークセンサの
出力信号を計測するセンサ信号計測手段と、センサ信号
計測手段の出力信号をアークセンサ特性として記憶する
センサ特性記憶手段と、溶接線の倣い制御を行うアーク
センサシステムのゲインやオフセット等の溶接線倣い制
御に関するパラメータを設定するパラメータ設定手段
と、前記センサ特性記憶手段によって記憶されたセンサ
特性とパラメータ設定手段によって設定されたセンサパ
ラメータとに基づいてアークセンサシステムの倣い制御
を行ったときの軌跡を推定する倣い制御軌跡推定手段と
を設けたことを特徴とする。
ンサ調整装置は、溶接線の倣い制御を行うアークセンサ
システムに用いるアークセンサ調整装置において、アー
クセンサと所定の狙い位置における前記アークセンサの
出力信号を計測するセンサ信号計測手段と、センサ信号
計測手段の出力信号をアークセンサ特性として記憶する
センサ特性記憶手段と、溶接線の倣い制御を行うアーク
センサシステムのゲインやオフセット等の溶接線倣い制
御に関するパラメータを設定するパラメータ設定手段
と、前記センサ特性記憶手段によって記憶されたセンサ
特性とパラメータ設定手段によって設定されたセンサパ
ラメータとに基づいてアークセンサシステムの倣い制御
を行ったときの軌跡を推定する倣い制御軌跡推定手段と
を設けたことを特徴とする。
【００１４】請求項２記載のアークセンサ調整装置は、
請求項１において、倣い制御軌跡に関する条件を設定
し、倣い制御の推定結果より溶接線倣いの可否を評価す
る溶接線倣い評価手段を設けたことを特徴とする。
請求項１において、倣い制御軌跡に関する条件を設定
し、倣い制御の推定結果より溶接線倣いの可否を評価す
る溶接線倣い評価手段を設けたことを特徴とする。
【００１５】請求項３記載のアークセンサ調整装置は、
請求項２において、溶接線倣いの可否の推定結果により
アークセンサパラメータを選定するセンサパラメータ選
定手段を設けたことを特徴とする。
請求項２において、溶接線倣いの可否の推定結果により
アークセンサパラメータを選定するセンサパラメータ選
定手段を設けたことを特徴とする。
【００１６】請求項４記載のアークセンサ調整装置は、
請求項２，請求項３において、溶接線倣い評価手段によ
る溶接線倣いの可否によりアークセンサの処理の評価を
行うアークセンサ処理評価手段を設けたことを特徴とす
る。
請求項２，請求項３において、溶接線倣い評価手段によ
る溶接線倣いの可否によりアークセンサの処理の評価を
行うアークセンサ処理評価手段を設けたことを特徴とす
る。
【００１７】請求項５記載のアークセンサ調整装置は、
請求項１から請求項４の何れかにおいて、倣い制御軌跡
推定手段による倣い制御の推定結果によりアークセンサ
システムの動作診断を行うアークセンサ処理評価手段を
設けたことを特徴とする。
請求項１から請求項４の何れかにおいて、倣い制御軌跡
推定手段による倣い制御の推定結果によりアークセンサ
システムの動作診断を行うアークセンサ処理評価手段を
設けたことを特徴とする。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
１〜図４に基づいて説明する。 〔第１の実施の形態〕図１〜図３は第１の実施の形態を
示す。
１〜図４に基づいて説明する。 〔第１の実施の形態〕図１〜図３は第１の実施の形態を
示す。
【００１９】図１において、１はセンサ信号計測手段
で、図５に示すアークセンサ３２からのセンサ出力信号
を計測する。２はセンサ特性記憶手段で、センサ信号計
測手段１において計測されたセンサ信号を処理し、図２
に示すように各種溶接条件下での各変位に対してその時
のセンサ信号の平均値や標準偏差などセンサ特性値のテ
ーブルとして記憶する。３はパラメータ設定手段で、ゲ
インやオフセット等の溶接線倣い制御に関するパラメー
タが設定される。４は倣い制御軌跡推定手段で、センサ
特性記憶手段２によって記憶されたセンサ特性とパラメ
ータ設定手段３によって設定されたセンサパラメータと
に基づいて溶接トーチの倣い制御軌跡を推定する。５は
溶接線倣い評価手段で、倣い制御軌跡推定手段４の倣い
制御軌跡の推定結果に基づいて溶接線倣いの可否の評価
を実施する。６はセンサパラメータ選定手段６で、溶接
線倣い評価手段５によって評価された溶接線倣いの可否
に基づいてアークセンサパラメータの選定を行う。
で、図５に示すアークセンサ３２からのセンサ出力信号
を計測する。２はセンサ特性記憶手段で、センサ信号計
測手段１において計測されたセンサ信号を処理し、図２
に示すように各種溶接条件下での各変位に対してその時
のセンサ信号の平均値や標準偏差などセンサ特性値のテ
ーブルとして記憶する。３はパラメータ設定手段で、ゲ
インやオフセット等の溶接線倣い制御に関するパラメー
タが設定される。４は倣い制御軌跡推定手段で、センサ
特性記憶手段２によって記憶されたセンサ特性とパラメ
ータ設定手段３によって設定されたセンサパラメータと
に基づいて溶接トーチの倣い制御軌跡を推定する。５は
溶接線倣い評価手段で、倣い制御軌跡推定手段４の倣い
制御軌跡の推定結果に基づいて溶接線倣いの可否の評価
を実施する。６はセンサパラメータ選定手段６で、溶接
線倣い評価手段５によって評価された溶接線倣いの可否
に基づいてアークセンサパラメータの選定を行う。
【００２０】オペレータの作業手順としては、各種溶接
条件，溶接環境において図３に示すように開先内におい
てチップから母材の間の距離が変化するようなティーチ
ングパターンで、アークセンサ倣いが無い状態で一度テ
スト溶接を行う。次に、倣い制御軌跡評価時に必要な評
価データとして、溶接結果から溶接品質要求基準を満足
している範囲（以下、評価範囲と称す）を選定する。そ
して、本センサ調整装置を操作し、センサ信号を受信
し、評価範囲や動作速度、倣い制御軌跡を推定したい変
位変化パターン等の入力を行い、実際にアークセンサの
溶接トーチの倣い制御軌跡の推定し、その推定結果から
溶接線倣いの可否の評価、アークセンサパラメータの選
定を行う。こうして、各種溶接条件、溶接環境下におけ
る溶接線倣いの可否、つまりアークセンサの適用性の判
定とアークセンサのパラメータの最適値の選定を行うこ
とができる。
条件，溶接環境において図３に示すように開先内におい
てチップから母材の間の距離が変化するようなティーチ
ングパターンで、アークセンサ倣いが無い状態で一度テ
スト溶接を行う。次に、倣い制御軌跡評価時に必要な評
価データとして、溶接結果から溶接品質要求基準を満足
している範囲（以下、評価範囲と称す）を選定する。そ
して、本センサ調整装置を操作し、センサ信号を受信
し、評価範囲や動作速度、倣い制御軌跡を推定したい変
位変化パターン等の入力を行い、実際にアークセンサの
溶接トーチの倣い制御軌跡の推定し、その推定結果から
溶接線倣いの可否の評価、アークセンサパラメータの選
定を行う。こうして、各種溶接条件、溶接環境下におけ
る溶接線倣いの可否、つまりアークセンサの適用性の判
定とアークセンサのパラメータの最適値の選定を行うこ
とができる。
【００２１】また、あらかじめアークセンサの適用可能
性が確認されている溶接条件、溶接環境下において、本
調整装置を用いて溶接線倣いの可否の評価を行うこと
で、アークセンサシステムの動作診断を行うことができ
る。
性が確認されている溶接条件、溶接環境下において、本
調整装置を用いて溶接線倣いの可否の評価を行うこと
で、アークセンサシステムの動作診断を行うことができ
る。
【００２２】なお、本例ではセンサ信号収集時のテスト
溶接として図３に示すようなティーチングパターンを一
度溶接するとしているが、これは開先内におけるチップ
から母材の間の距離の変化を収集時のセンサ信号と関連
づけられるティーチングパターンであればどのようなパ
ターンと溶接回数であってもかまわないことは言うまで
もなく、また、アークセンサの適用性の評価やパラメー
タの選定、および動作診断は図２に示したアークセンサ
特性のテーブルから判断してもよく、このテーブルとし
ては図２に示し項目だけであるとは限らず、本アークセ
ンサ調整装置を動作装置であるロボット制御装置に組み
込んで使用しても、あるいはロボット制御装置とは独立
したパーソナルコンピュータ装置などのマイクロプロセ
ッサを利用した装置にしてもよく、ロボット制御装置と
してはマイクロプロセッサを利用した装置にしてもよい
のは言うまでもない。
溶接として図３に示すようなティーチングパターンを一
度溶接するとしているが、これは開先内におけるチップ
から母材の間の距離の変化を収集時のセンサ信号と関連
づけられるティーチングパターンであればどのようなパ
ターンと溶接回数であってもかまわないことは言うまで
もなく、また、アークセンサの適用性の評価やパラメー
タの選定、および動作診断は図２に示したアークセンサ
特性のテーブルから判断してもよく、このテーブルとし
ては図２に示し項目だけであるとは限らず、本アークセ
ンサ調整装置を動作装置であるロボット制御装置に組み
込んで使用しても、あるいはロボット制御装置とは独立
したパーソナルコンピュータ装置などのマイクロプロセ
ッサを利用した装置にしてもよく、ロボット制御装置と
してはマイクロプロセッサを利用した装置にしてもよい
のは言うまでもない。
【００２３】〔第２の実施の形態〕図４は第２の実施の
形態を示す。この実施の形態では、第１の実施の形態で
のセンサ信号計測手段１が、センサ入力信号計測手段１
ａとセンサ出力信号推定手段１ｂとで構成されている。
センサ入力信号計測手段１ａは、アークセンサ３２に入
力されるセンサ入力信号を計測する。センサ出力信号推
定手段１ｂはセンサ入力信号計測手段１ａで計測された
センサ入力信号がアークセンサ本体回路に入力された場
合にアークセンサ３２から出力されるセンサ出力信号を
推定する。
形態を示す。この実施の形態では、第１の実施の形態で
のセンサ信号計測手段１が、センサ入力信号計測手段１
ａとセンサ出力信号推定手段１ｂとで構成されている。
センサ入力信号計測手段１ａは、アークセンサ３２に入
力されるセンサ入力信号を計測する。センサ出力信号推
定手段１ｂはセンサ入力信号計測手段１ａで計測された
センサ入力信号がアークセンサ本体回路に入力された場
合にアークセンサ３２から出力されるセンサ出力信号を
推定する。
【００２４】センサ特性記憶手段２は、センサ出力信号
推定手段１ｂで推定されたセンサ出力信号を処理し、図
２に示すように各種溶接条件下での各変位に対してその
時のセンサ信号の平均値や標準偏差などセンサ特性値の
テーブルとし記憶する。
推定手段１ｂで推定されたセンサ出力信号を処理し、図
２に示すように各種溶接条件下での各変位に対してその
時のセンサ信号の平均値や標準偏差などセンサ特性値の
テーブルとし記憶する。
【００２５】パラメータ設定手段３は、ゲインやオフセ
ット等の溶接線倣い制御に関するパラメータが設定され
る。倣い制御軌跡推定手段４は、センサ特性記憶手段２
によって記憶されたセンサ特性とパラメータ設定手段３
によって設定されたセンサパラメータに基づいて溶接ト
ーチの倣い制御軌跡を推定する。
ット等の溶接線倣い制御に関するパラメータが設定され
る。倣い制御軌跡推定手段４は、センサ特性記憶手段２
によって記憶されたセンサ特性とパラメータ設定手段３
によって設定されたセンサパラメータに基づいて溶接ト
ーチの倣い制御軌跡を推定する。
【００２６】溶接線倣い評価手段５は、倣い制御軌跡推
定手段４によって推定された倣い制御の推定結果から溶
接線倣いの可否の評価を行う。アークセンサ処理評価手
段７は、溶接線倣い評価手段５による溶接線倣いの可否
の評価結果に基づいてセンサ信号計測手段１でのアーク
センサ処理の評価を行う。
定手段４によって推定された倣い制御の推定結果から溶
接線倣いの可否の評価を行う。アークセンサ処理評価手
段７は、溶接線倣い評価手段５による溶接線倣いの可否
の評価結果に基づいてセンサ信号計測手段１でのアーク
センサ処理の評価を行う。
【００２７】オペレータの作業手順としては、各種溶接
条件，溶接環境において図３に示すように開先内におい
てチップから母材の間の距離が変化するようなティーチ
ングパターンで、アークセンサ倣いが無い状態で一度テ
スト溶接を行う。次に、倣い制御軌跡評価時に必要な評
価データとして、溶接結果から溶接品質要求基準を満足
している範囲（以下、評価範囲と称す）を選定する。そ
して、本センサ調整装置を操作し、センサ入力信号を受
信し、評価範囲や動作速度、倣い制御軌跡を推定したい
変位変化パターン等の入力を行い、実際にアークセンサ
の溶接トーチの倣い制御軌跡の推定し、その推定結果か
ら溶接線倣いの可否の評価、アークセンサ処理の評価を
行う。
条件，溶接環境において図３に示すように開先内におい
てチップから母材の間の距離が変化するようなティーチ
ングパターンで、アークセンサ倣いが無い状態で一度テ
スト溶接を行う。次に、倣い制御軌跡評価時に必要な評
価データとして、溶接結果から溶接品質要求基準を満足
している範囲（以下、評価範囲と称す）を選定する。そ
して、本センサ調整装置を操作し、センサ入力信号を受
信し、評価範囲や動作速度、倣い制御軌跡を推定したい
変位変化パターン等の入力を行い、実際にアークセンサ
の溶接トーチの倣い制御軌跡の推定し、その推定結果か
ら溶接線倣いの可否の評価、アークセンサ処理の評価を
行う。
【００２８】こうして、各種溶接条件、溶接環境下にお
ける溶接線倣いの可否、つまりアークセンサの適用性の
判定とアークセンサ処理の最適化を行うことができる。
なお、本例ではセンサ入力信号収集時のテスト溶接とし
て図３に示すようなティーチングパターンを一度溶接す
るとしているが、これは開先内におけるチップから母材
の間の距離の変化を収集時のセンサ入力信号と関連づけ
られるティーチングパターンであればどのようなパター
ンと溶接回数であってもかまわないことは言うまでもな
く、また、アークセンサの適用性の評価、ならびにアー
クセンサの処理の評価は図２に示したアークセンサ特性
のテーブルから判断してもよく、このテーブルとしては
図２に示し項目だけであるとは限らず、本アークセンサ
調整装置を動作装置であるロボット制御装置に組み込ん
で使用しても、あるいはロボット制御装置とは独立した
パーソナルコンピュータ装置などのマイクロプロセッサ
を利用した装置にしてもよく、ロボット制御装置として
はマイクロプロセッサを利用した装置にしてもよいのは
言うまでもない。
ける溶接線倣いの可否、つまりアークセンサの適用性の
判定とアークセンサ処理の最適化を行うことができる。
なお、本例ではセンサ入力信号収集時のテスト溶接とし
て図３に示すようなティーチングパターンを一度溶接す
るとしているが、これは開先内におけるチップから母材
の間の距離の変化を収集時のセンサ入力信号と関連づけ
られるティーチングパターンであればどのようなパター
ンと溶接回数であってもかまわないことは言うまでもな
く、また、アークセンサの適用性の評価、ならびにアー
クセンサの処理の評価は図２に示したアークセンサ特性
のテーブルから判断してもよく、このテーブルとしては
図２に示し項目だけであるとは限らず、本アークセンサ
調整装置を動作装置であるロボット制御装置に組み込ん
で使用しても、あるいはロボット制御装置とは独立した
パーソナルコンピュータ装置などのマイクロプロセッサ
を利用した装置にしてもよく、ロボット制御装置として
はマイクロプロセッサを利用した装置にしてもよいのは
言うまでもない。
【００２９】この第２の実施の形態ではセンサパラメー
タ選定手段６は設けられていないが、センサパラメータ
選定手段６を併設することもできる。上記の各実施の形
態では、溶接線倣い評価手段５とセンサパラメータ選定
手段６，溶接線倣い評価手段５とアークセンサ処理評価
手段７，あるいは溶接線倣い評価手段５とセンサパラメ
ータ選定手段６とアークセンサ処理評価手段７を有して
いたが、倣い制御軌跡推定手段４の溶接トーチの倣い制
御軌跡の推定に基づいて、性能および特性が被対象物な
らびに使用条件，使用環境によって変化するアークセン
サの適用可能性、性能評価をすることもできる。
タ選定手段６は設けられていないが、センサパラメータ
選定手段６を併設することもできる。上記の各実施の形
態では、溶接線倣い評価手段５とセンサパラメータ選定
手段６，溶接線倣い評価手段５とアークセンサ処理評価
手段７，あるいは溶接線倣い評価手段５とセンサパラメ
ータ選定手段６とアークセンサ処理評価手段７を有して
いたが、倣い制御軌跡推定手段４の溶接トーチの倣い制
御軌跡の推定に基づいて、性能および特性が被対象物な
らびに使用条件，使用環境によって変化するアークセン
サの適用可能性、性能評価をすることもできる。
【００３０】
【発明の効果】本発明の請求項１記載のアークセンサ調
整装置は、溶接線の倣い制御を行うアークセンサシステ
ムに用いるアークセンサ調整装置において、アークセン
サと所定の狙い位置における前記アークセンサの出力信
号を計測するセンサ信号計測手段と、センサ信号計測手
段の出力信号をアークセンサ特性として記憶するセンサ
特性記憶手段と、溶接線の倣い制御を行うアークセンサ
システムのゲインやオフセット等の溶接線倣い制御に関
するパラメータを設定するパラメータ設定手段と、前記
センサ特性記憶手段によって記憶されたセンサ特性とパ
ラメータ設定手段によって設定されたセンサパラメータ
とに基づいてアークセンサシステムの倣い制御を行った
ときの軌跡を推定する倣い制御軌跡推定手段とを設けた
ため、倣い制御軌跡推定手段による推定結果に基づい
て、性能および特性が被対象物ならびに使用条件，使用
環境によって変化するアークセンサの適用可能性、性能
評価を実施でき、センサを搭載したシステムならびにそ
の使用条件、使用環境に熟知していないオペレータであ
っても、センサの性能を引き出すことに寄与できる。
整装置は、溶接線の倣い制御を行うアークセンサシステ
ムに用いるアークセンサ調整装置において、アークセン
サと所定の狙い位置における前記アークセンサの出力信
号を計測するセンサ信号計測手段と、センサ信号計測手
段の出力信号をアークセンサ特性として記憶するセンサ
特性記憶手段と、溶接線の倣い制御を行うアークセンサ
システムのゲインやオフセット等の溶接線倣い制御に関
するパラメータを設定するパラメータ設定手段と、前記
センサ特性記憶手段によって記憶されたセンサ特性とパ
ラメータ設定手段によって設定されたセンサパラメータ
とに基づいてアークセンサシステムの倣い制御を行った
ときの軌跡を推定する倣い制御軌跡推定手段とを設けた
ため、倣い制御軌跡推定手段による推定結果に基づい
て、性能および特性が被対象物ならびに使用条件，使用
環境によって変化するアークセンサの適用可能性、性能
評価を実施でき、センサを搭載したシステムならびにそ
の使用条件、使用環境に熟知していないオペレータであ
っても、センサの性能を引き出すことに寄与できる。
【００３１】請求項２記載のアークセンサ調整装置は、
請求項１において、倣い制御軌跡に関する条件を設定
し、倣い制御の推定結果より溶接線倣いの可否を評価す
る溶接線倣い評価手段を設けたため、溶接線倣い評価手
段による評価結果に基づいて、性能および特性が被対象
物ならびに使用条件，使用環境によって変化するアーク
センサの適用可能性、性能評価を実施でき、センサを搭
載したシステムならびにその使用条件、使用環境に熟知
していないオペレータであっても、センサの性能を引き
出すことに寄与できる。
請求項１において、倣い制御軌跡に関する条件を設定
し、倣い制御の推定結果より溶接線倣いの可否を評価す
る溶接線倣い評価手段を設けたため、溶接線倣い評価手
段による評価結果に基づいて、性能および特性が被対象
物ならびに使用条件，使用環境によって変化するアーク
センサの適用可能性、性能評価を実施でき、センサを搭
載したシステムならびにその使用条件、使用環境に熟知
していないオペレータであっても、センサの性能を引き
出すことに寄与できる。
【００３２】請求項３記載のアークセンサ調整装置は、
請求項２において、溶接線倣いの可否の推定結果により
アークセンサパラメータを選定するセンサパラメータ選
定手段を設けたため、センサを搭載したシステムならび
にその使用条件、使用環境に熟知していないオペレータ
であっても、アークセンサパラメータが自動的に最適値
に設定される。
請求項２において、溶接線倣いの可否の推定結果により
アークセンサパラメータを選定するセンサパラメータ選
定手段を設けたため、センサを搭載したシステムならび
にその使用条件、使用環境に熟知していないオペレータ
であっても、アークセンサパラメータが自動的に最適値
に設定される。
【００３３】請求項４記載のアークセンサ調整装置は、
請求項２，請求項３において、溶接線倣い評価手段によ
る溶接線倣いの可否によりアークセンサの処理の評価を
行うアークセンサ処理評価手段を設けたため、センサを
搭載したシステムならびにその使用条件、使用環境に熟
知していないオペレータであっても、アークセンサ処理
が最適かどうかが判断できる。
請求項２，請求項３において、溶接線倣い評価手段によ
る溶接線倣いの可否によりアークセンサの処理の評価を
行うアークセンサ処理評価手段を設けたため、センサを
搭載したシステムならびにその使用条件、使用環境に熟
知していないオペレータであっても、アークセンサ処理
が最適かどうかが判断できる。
【００３４】請求項５記載のアークセンサ調整装置は、
請求項１から請求項４の何れかにおいて、倣い制御軌跡
推定手段による倣い制御の推定結果によりアークセンサ
システムの動作診断を行うアークセンサ処理評価手段を
設けたため、使用条件下でのアークセンサシステムの適
用性、ならびに最適アークセンサパラメータを決定と、
前記アークセンサの処理の評価、および前記アークセン
サシステムの動作診断を行うことができるもので、性能
および特性が被対象物ならびに使用条件、使用環境によ
って変化するアークセンサの適用可能性、性能評価なら
びにアークセンサパラメータの最適値の決定、またアー
クセンサ処理の評価、さらにアークセンサシステムの動
作診断を、前記システムや前記使用条件、前記使用環境
に熟知していないものでも行えるものである。
請求項１から請求項４の何れかにおいて、倣い制御軌跡
推定手段による倣い制御の推定結果によりアークセンサ
システムの動作診断を行うアークセンサ処理評価手段を
設けたため、使用条件下でのアークセンサシステムの適
用性、ならびに最適アークセンサパラメータを決定と、
前記アークセンサの処理の評価、および前記アークセン
サシステムの動作診断を行うことができるもので、性能
および特性が被対象物ならびに使用条件、使用環境によ
って変化するアークセンサの適用可能性、性能評価なら
びにアークセンサパラメータの最適値の決定、またアー
クセンサ処理の評価、さらにアークセンサシステムの動
作診断を、前記システムや前記使用条件、前記使用環境
に熟知していないものでも行えるものである。
【図１】本発明のアークセンサ調整装置の第１の実施の
形態の構成図である。
形態の構成図である。
【図２】同実施の形態のアークセンサ特性のテーブルの
説明図である。
説明図である。
【図３】同実施の形態でテスト溶接を行うときのティー
チングパターン図である。
チングパターン図である。
【図４】第２の実施の形態の構成図である。
【図５】従来のアークセンサモニタ装置の構成図であ
る。
る。
１ センサ信号計測手段 ２ センサ特性記憶手段 ３ パラメータ設定手段 ４ 倣い制御軌跡推定手段 ５ 溶接線倣い評価手段 ６ センサパラメータ選定手段 ７ アークセンサ処理評価手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B23K 9/127 B23K 9/12
Claims (5)
- 【請求項１】 溶接線の倣い制御を行うアークセンサシ
ステムに用いるアークセンサ調整装置において、 アークセンサと所定の狙い位置における前記アークセン
サの出力信号を計測するセンサ信号計測手段と、 センサ信号計測手段の出力信号をアークセンサ特性とし
て記憶するセンサ特性記憶手段と、 溶接線の倣い制御を行うアークセンサシステムのゲイン
やオフセット等の溶接線倣い制御に関するパラメータを
設定するパラメータ設定手段と、 前記センサ特性記憶手段によって記憶されたセンサ特性
とパラメータ設定手段によって設定されたセンサパラメ
ータとに基づいてアークセンサシステムの倣い制御を行
ったときの軌跡を推定する倣い制御軌跡推定手段とを設
けたアークセンサ調整装置。 - 【請求項２】 倣い制御軌跡に関する条件を設定し、倣
い制御の推定結果より溶接線倣いの可否を評価する溶接
線倣い評価手段を設けた請求項１記載のアークセンサ調
整装置。 - 【請求項３】 溶接線倣いの可否の推定結果によりアー
クセンサパラメータを選定するセンサパラメータ選定手
段を設けた請求項２記載のアークセンサ調整装置。 - 【請求項４】 溶接線倣い評価手段による溶接線倣いの
可否によりアークセンサの処理の評価を行うアークセン
サ処理評価手段を設けた請求項２，請求項３記載のアー
クセンサ調整装置。 - 【請求項５】 倣い制御軌跡推定手段による倣い制御の
推定結果によりアークセンサシステムの動作診断を行う
アークセンサ処理評価手段を設けた請求項１から請求項
４の何れかに記載のアークセンサ調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23060695A JP3299867B2 (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | アークセンサ調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23060695A JP3299867B2 (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | アークセンサ調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0970663A JPH0970663A (ja) | 1997-03-18 |
| JP3299867B2 true JP3299867B2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=16910395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23060695A Expired - Fee Related JP3299867B2 (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | アークセンサ調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3299867B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5081134B2 (ja) * | 2008-11-18 | 2012-11-21 | 株式会社ダイヘン | ロボット用アークセンサの倣いパラメータの設定方法、及びロボット用アークセンサの倣いパラメータの設定装置 |
| JP6367985B2 (ja) | 2017-01-26 | 2018-08-01 | ファナック株式会社 | アークセンサ調整装置、及びアークセンサ調整方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63180373A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-25 | Fanuc Ltd | 自動溶接装置 |
| JPH0679778B2 (ja) * | 1987-03-13 | 1994-10-12 | 株式会社安川電機 | 溶接線追従方法 |
| JPH0270385A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-09 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 溶接条件選定方法 |
| JP3200104B2 (ja) * | 1991-09-03 | 2001-08-20 | 株式会社アマダ | 自動溶接システム |
-
1995
- 1995-09-08 JP JP23060695A patent/JP3299867B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0970663A (ja) | 1997-03-18 |
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