JP3299466B2 - 配線路探査装置 - Google Patents
配線路探査装置Info
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線路に通常流れ
ている電流の周波数とは異なる周波数の電流を配線路に
印加し、この電流を開閉器側で探査して、該配線路がど
の開閉器に接続されているかを探査する配線路探査装置
に関するものである。
ている電流の周波数とは異なる周波数の電流を配線路に
印加し、この電流を開閉器側で探査して、該配線路がど
の開閉器に接続されているかを探査する配線路探査装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の配線路探査装置として
は、配線路に通常流れている電流の周波数とは異なる所
定周波数の電流を印加する送信器と、送信器から印加さ
れた電流によって発生する磁束を探査する受信器とを備
えたものがあり、受信器の先端部には配線路と対向する
探査面が設けられ、受信器本体の探査面近傍に、探査面
に対して平行方向に探査コイルが１個配設されていた。
は、配線路に通常流れている電流の周波数とは異なる所
定周波数の電流を印加する送信器と、送信器から印加さ
れた電流によって発生する磁束を探査する受信器とを備
えたものがあり、受信器の先端部には配線路と対向する
探査面が設けられ、受信器本体の探査面近傍に、探査面
に対して平行方向に探査コイルが１個配設されていた。
【０００３】ここで、送信器から配線路に電流を印加す
ることによって、配線路の近傍に磁束を発生させること
ができ、この磁束の向きに探査コイルを合わせることに
より、磁束に応じた電圧が探査コイルに誘起するので、
目的とする配線路を探査することができる。
ることによって、配線路の近傍に磁束を発生させること
ができ、この磁束の向きに探査コイルを合わせることに
より、磁束に応じた電圧が探査コイルに誘起するので、
目的とする配線路を探査することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記構成の配線路探査
装置では、配線路が片側導体で、配線路を中心とする円
周状の磁束が形成される場合には、受信器の探査面に略
平行な方向の磁束が発生するので、配線路を探査するこ
とができるが、配線路が往復導体の場合、往復導体の略
中間位置では探査面に略直交する方向の磁束が発生する
ので、探査面に平行配置された探査コイルには殆ど電圧
が誘起せず、配線路の探査が難しいという問題点があっ
た。
装置では、配線路が片側導体で、配線路を中心とする円
周状の磁束が形成される場合には、受信器の探査面に略
平行な方向の磁束が発生するので、配線路を探査するこ
とができるが、配線路が往復導体の場合、往復導体の略
中間位置では探査面に略直交する方向の磁束が発生する
ので、探査面に平行配置された探査コイルには殆ど電圧
が誘起せず、配線路の探査が難しいという問題点があっ
た。
【０００５】本発明は上記問題点に鑑みて為されたもの
であり、請求項１乃至３の発明の目的は、配線路が往復
導体の場合でも確実に配線路を検出することのできる配
線路探査装置を提供することにある。請求項４の発明の
目的は、請求項１乃至３の発明の目的に加えて、受信器
の操作性を向上させた配線路探査装置を提供することに
ある。
であり、請求項１乃至３の発明の目的は、配線路が往復
導体の場合でも確実に配線路を検出することのできる配
線路探査装置を提供することにある。請求項４の発明の
目的は、請求項１乃至３の発明の目的に加えて、受信器
の操作性を向上させた配線路探査装置を提供することに
ある。
【０００６】請求項５及び６の発明の目的は、請求項１
乃至４の発明の目的に加えて、磁束の検出感度を高めた
配線路探査装置を提供することにある。
乃至４の発明の目的に加えて、磁束の検出感度を高めた
配線路探査装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明では、上
記目的を達成するために、配線路に所定の周波数の電流
を印加する送信器と、所定周波数の電流により配線路に
発生する磁束を検出して目的とする配線路を探査する受
信器とから構成される配線路探査装置において、受信器
本体の先端部に配線路と対向する探査面を設け、受信器
本体内部の探査面近傍に、磁束を検出するための２個の
探査コイルを探査面に対して略同一の角度で異なる方向
に傾斜させて配設し、探査コイルによって夫々検出され
るコイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベクト
ル差を切り替えて出力する切替手段を設け、切替手段の
出力に基づいて磁束を検出しているので、コイル軸方向
の磁束ベクトルのベクトル和又はベクトル差を求めるこ
とにより、探査面に対して平行な方向の磁束と垂直な方
向の磁束を共に検出することができる。また、ベクトル
和及びベクトル差の内、いずれか一方の出力を大きくす
ることができる。
記目的を達成するために、配線路に所定の周波数の電流
を印加する送信器と、所定周波数の電流により配線路に
発生する磁束を検出して目的とする配線路を探査する受
信器とから構成される配線路探査装置において、受信器
本体の先端部に配線路と対向する探査面を設け、受信器
本体内部の探査面近傍に、磁束を検出するための２個の
探査コイルを探査面に対して略同一の角度で異なる方向
に傾斜させて配設し、探査コイルによって夫々検出され
るコイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベクト
ル差を切り替えて出力する切替手段を設け、切替手段の
出力に基づいて磁束を検出しているので、コイル軸方向
の磁束ベクトルのベクトル和又はベクトル差を求めるこ
とにより、探査面に対して平行な方向の磁束と垂直な方
向の磁束を共に検出することができる。また、ベクトル
和及びベクトル差の内、いずれか一方の出力を大きくす
ることができる。
【０００８】請求項２の発明では、請求項１の発明にお
いて、２個の探査コイルが直列に接続され、切替手段が
探査コイルの接続を同一極性と逆極性に切り替えている
ので、簡単な回路構成で切替手段を構成することができ
る。請求項３の発明では、請求項１の発明において、２
個の探査コイルに誘起された電圧を加算する加算器と、
２個の探査コイルに誘起された電圧を減算する減算器と
を備え、切替手段が加算器又は減算器の出力を切り替え
て出力しているので、探査コイルの極性を切り替える場
合に比べて、スイッチの数を１個減らすことができ、接
点不良などの不具合が発生する可能性を低減することが
できる。
いて、２個の探査コイルが直列に接続され、切替手段が
探査コイルの接続を同一極性と逆極性に切り替えている
ので、簡単な回路構成で切替手段を構成することができ
る。請求項３の発明では、請求項１の発明において、２
個の探査コイルに誘起された電圧を加算する加算器と、
２個の探査コイルに誘起された電圧を減算する減算器と
を備え、切替手段が加算器又は減算器の出力を切り替え
て出力しているので、探査コイルの極性を切り替える場
合に比べて、スイッチの数を１個減らすことができ、接
点不良などの不具合が発生する可能性を低減することが
できる。
【０００９】請求項４の発明では、配線路に所定の周波
数の電流を印加する送信器と、所定周波数の電流により
配線路に発生する磁束を検出して目的とする配線路を探
査する受信器とから構成される配線路探査装置におい
て、受信器本体の先端部に配線路と対向する探査面を設
け、受信器本体内部の探査面近傍に、磁束を検出するた
めの２個の探査コイルを探査面に対して略同一の角度で
異なる方向に傾斜させて配設し、両探査コイルによって
検出される磁束ベクトルのベクトル和とベクトル差の大
きさを比較する比較手段と、比較手段の比較結果に基づ
いてベクトル和とベクトル差の内、大きい方の値に基づ
いて磁束の強弱を表示する表示手段とを設けているの
で、コイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベク
トル差を求めることにより、探査面に対して平行な方向
の磁束と垂直な方向の磁束を共に検出することができ
る。また、切替手段の切り替え操作を行うことなく、探
査面に対して平行な方向の磁束と垂直な方向の磁束を検
出することができる。
数の電流を印加する送信器と、所定周波数の電流により
配線路に発生する磁束を検出して目的とする配線路を探
査する受信器とから構成される配線路探査装置におい
て、受信器本体の先端部に配線路と対向する探査面を設
け、受信器本体内部の探査面近傍に、磁束を検出するた
めの２個の探査コイルを探査面に対して略同一の角度で
異なる方向に傾斜させて配設し、両探査コイルによって
検出される磁束ベクトルのベクトル和とベクトル差の大
きさを比較する比較手段と、比較手段の比較結果に基づ
いてベクトル和とベクトル差の内、大きい方の値に基づ
いて磁束の強弱を表示する表示手段とを設けているの
で、コイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベク
トル差を求めることにより、探査面に対して平行な方向
の磁束と垂直な方向の磁束を共に検出することができ
る。また、切替手段の切り替え操作を行うことなく、探
査面に対して平行な方向の磁束と垂直な方向の磁束を検
出することができる。
【００１０】請求項５の発明では、請求項１乃至４の発
明において、２個の探査コイルが、探査面に対して約３
０°から約６０°までの傾斜角で異なる方向に傾斜させ
て配設されているので、探査面に対して平行な方向と垂
直な方向の内、いずれか一方の検出方向では、探査コイ
ルが検出する磁束ベクトルを大きくすることができ、他
方の検出方向では、磁束に対して平行に配設した１本の
コイルと同程度の磁束を検出することができる。
明において、２個の探査コイルが、探査面に対して約３
０°から約６０°までの傾斜角で異なる方向に傾斜させ
て配設されているので、探査面に対して平行な方向と垂
直な方向の内、いずれか一方の検出方向では、探査コイ
ルが検出する磁束ベクトルを大きくすることができ、他
方の検出方向では、磁束に対して平行に配設した１本の
コイルと同程度の磁束を検出することができる。
【００１１】請求項６の発明では、請求項１乃至４の発
明において、２個の探査コイルが、探査面に対して約４
５°の傾斜角で異なる方向に傾斜させて配設されている
ので、探査面に対して平行な方向においても、垂直な方
向においても、磁束に対して平行に配設された１本のコ
イルの約√２倍の磁束を検出することができる。
明において、２個の探査コイルが、探査面に対して約４
５°の傾斜角で異なる方向に傾斜させて配設されている
ので、探査面に対して平行な方向においても、垂直な方
向においても、磁束に対して平行に配設された１本のコ
イルの約√２倍の磁束を検出することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して説明する。 （実施形態１）本実施形態の配線路探査装置は、配線路
に所定周波数の電流を印加する送信器と、この電流によ
り発生する磁束を検出することによって目的とする配線
路を探査する受信器とから構成される。
して説明する。 （実施形態１）本実施形態の配線路探査装置は、配線路
に所定周波数の電流を印加する送信器と、この電流によ
り発生する磁束を検出することによって目的とする配線
路を探査する受信器とから構成される。
【００１３】図１に示すように、受信器１は、略直方体
状に形成された本体２を備え、本体２の長手方向の一端
部２ａには、配線路と対向させる探査面２ｂが設けら
れ、本体２内の探査面２ｂ近傍には配線路に発生する磁
束を検出するための２個の探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が配設
される。この時、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 は探査面２ｂに
対して略同一の傾斜角で異なる方向に傾けて配設されて
いる。
状に形成された本体２を備え、本体２の長手方向の一端
部２ａには、配線路と対向させる探査面２ｂが設けら
れ、本体２内の探査面２ｂ近傍には配線路に発生する磁
束を検出するための２個の探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が配設
される。この時、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 は探査面２ｂに
対して略同一の傾斜角で異なる方向に傾けて配設されて
いる。
【００１４】また、本体２の前面には、電池の電圧チェ
ック用の発光ダイオードＬＤ1 と、探査コイルＬ1 ，Ｌ
2 によって検出された磁束の大きさに応じて音量が変化
するブザーＢｚと、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 によって検出
された磁束の大きさに応じて点灯数が変化する発光ダイ
オードＬＤ2 〜ＬＤ6 とが設けられ、本体２の一方の側
面には電源スイッチＳ1 が、他方の側面には後述する演
算回路の切り替えを行うためのスイッチＳ2 が配設され
る。
ック用の発光ダイオードＬＤ1 と、探査コイルＬ1 ，Ｌ
2 によって検出された磁束の大きさに応じて音量が変化
するブザーＢｚと、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 によって検出
された磁束の大きさに応じて点灯数が変化する発光ダイ
オードＬＤ2 〜ＬＤ6 とが設けられ、本体２の一方の側
面には電源スイッチＳ1 が、他方の側面には後述する演
算回路の切り替えを行うためのスイッチＳ2 が配設され
る。
【００１５】また、図４に示すように、送信器１０は、
本体１１の側面に突設されたコネクタ１２と、本体１１
の前面に設けられた動作表示用の発光ダイオードＬＤ7
とを備えている。そして、コネクタ１２と配線路との間
を図示しないケーブルで接続し、送信器１０からケーブ
ルを介して配線路に所定周波数の電流を印加して、この
電流による磁束を配線路に発生させる。
本体１１の側面に突設されたコネクタ１２と、本体１１
の前面に設けられた動作表示用の発光ダイオードＬＤ7
とを備えている。そして、コネクタ１２と配線路との間
を図示しないケーブルで接続し、送信器１０からケーブ
ルを介して配線路に所定周波数の電流を印加して、この
電流による磁束を配線路に発生させる。
【００１６】この受信器１の回路構成を図２に示す回路
図を参照して説明する。端子ｔ1 ，ｔ2 間には電池（図
示せず）が接続されており、電源回路４は電源スイッチ
Ｓ1 を介して接続された電池を電源として、各部に動作
用の電源を供給する。また、電圧チェック用の発光ダイ
オードＬＤ1 、抵抗Ｒ11及びツェナーダイオードＺＤ1
からなる直列回路が、電源スイッチＳ1 を介して端子ｔ
1 ，ｔ2間に接続されており、電源スイッチＳ1 のオン
時に、電池の電圧がツェナーダイオードＺＤ1 のツェナ
ー電圧よりも高ければ、発光ダイオードＬＤ1 に電流が
流れ、電池電圧が所定値よりも大きいことを発光表示す
る。
図を参照して説明する。端子ｔ1 ，ｔ2 間には電池（図
示せず）が接続されており、電源回路４は電源スイッチ
Ｓ1 を介して接続された電池を電源として、各部に動作
用の電源を供給する。また、電圧チェック用の発光ダイ
オードＬＤ1 、抵抗Ｒ11及びツェナーダイオードＺＤ1
からなる直列回路が、電源スイッチＳ1 を介して端子ｔ
1 ，ｔ2間に接続されており、電源スイッチＳ1 のオン
時に、電池の電圧がツェナーダイオードＺＤ1 のツェナ
ー電圧よりも高ければ、発光ダイオードＬＤ1 に電流が
流れ、電池電圧が所定値よりも大きいことを発光表示す
る。
【００１７】演算回路５は、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 がそ
れぞれ検出したコイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル
和又はベクトル差を求めて、ベクトル和又はベクトル差
の大きさに応じた電圧をレベル判別回路６及び増幅回路
７に出力する。そして、レベル判別回路６は、演算回路
５の出力に基づいて５個の発光ダイオードＬＤ2 〜ＬＤ
6 を点灯させて、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検出した磁束
の大きさを例えば５段階で点灯表示する。また、増幅回
路７は演算回路５の出力電圧を増幅し、磁束の大きさに
応じた音量でブザーＢｚを鳴動させる。したがって、探
査コイルＬ1 ，Ｌ2 によって検出される磁束が最も大き
いところで、発光ダイオードＬＤ2 〜ＬＤ6 の点灯数及
びブザーＢｚの音量が最大となることから、目的とする
配線路を検出することができる。なお、探査コイル
Ｌ1 ，Ｌ2 によって検出される磁束の大小に応じて、ブ
ザーＢｚの音量を変化させる代わりに、ブザーＢｚの鳴
動音の高低を変化させてもよい。
れぞれ検出したコイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル
和又はベクトル差を求めて、ベクトル和又はベクトル差
の大きさに応じた電圧をレベル判別回路６及び増幅回路
７に出力する。そして、レベル判別回路６は、演算回路
５の出力に基づいて５個の発光ダイオードＬＤ2 〜ＬＤ
6 を点灯させて、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検出した磁束
の大きさを例えば５段階で点灯表示する。また、増幅回
路７は演算回路５の出力電圧を増幅し、磁束の大きさに
応じた音量でブザーＢｚを鳴動させる。したがって、探
査コイルＬ1 ，Ｌ2 によって検出される磁束が最も大き
いところで、発光ダイオードＬＤ2 〜ＬＤ6 の点灯数及
びブザーＢｚの音量が最大となることから、目的とする
配線路を検出することができる。なお、探査コイル
Ｌ1 ，Ｌ2 によって検出される磁束の大小に応じて、ブ
ザーＢｚの音量を変化させる代わりに、ブザーＢｚの鳴
動音の高低を変化させてもよい。
【００１８】ところで、図３に示すように、演算回路５
では端子ｔ3 ，ｔ4 間に探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が切替手
段たるスイッチＳ2a，Ｓ2bを介して直列に接続される。
スイッチＳ2aが探査コイルＬ2 の端子ｃ側（探査コイル
Ｌ2 の巻き始め）に接続され、スイッチＳ2bが探査コイ
ルＬ2 の端子ｄ側（探査コイルＬ2 の巻き終わり）に接
続された場合（図３中に実線で示す）、探査コイル
Ｌ1 ，Ｌ2 はコイルの巻き方向を同じ向きにして接続さ
れる。一方、スイッチＳ2aが探査コイルＬ2 の端子ｄ側
に接続され、スイッチＳ2bが探査コイルＬ2 の端子ｃ側
に接続された場合（図３中に破線で示す）、探査コイル
Ｌ1 ，Ｌ2 はコイルの巻き方向を逆向きにして接続され
る。なお、スイッチＳ2a，Ｓ2bは、スイッチＳ2 を操作
することによって連動して切り替えられる。
では端子ｔ3 ，ｔ4 間に探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が切替手
段たるスイッチＳ2a，Ｓ2bを介して直列に接続される。
スイッチＳ2aが探査コイルＬ2 の端子ｃ側（探査コイル
Ｌ2 の巻き始め）に接続され、スイッチＳ2bが探査コイ
ルＬ2 の端子ｄ側（探査コイルＬ2 の巻き終わり）に接
続された場合（図３中に実線で示す）、探査コイル
Ｌ1 ，Ｌ2 はコイルの巻き方向を同じ向きにして接続さ
れる。一方、スイッチＳ2aが探査コイルＬ2 の端子ｄ側
に接続され、スイッチＳ2bが探査コイルＬ2 の端子ｃ側
に接続された場合（図３中に破線で示す）、探査コイル
Ｌ1 ，Ｌ2 はコイルの巻き方向を逆向きにして接続され
る。なお、スイッチＳ2a，Ｓ2bは、スイッチＳ2 を操作
することによって連動して切り替えられる。
【００１９】ここで、図５（ａ）に示すように、開閉器
２１に接続された配線路２０が片側導体で、配線路２０
内を紙面の表側から裏側に向かって電流が流れる場合、
配線路２０の周囲には、配線路２０を中心とする時計周
りの円周状の磁束３０が発生するので、探査面２ｂの近
傍には探査面２ｂと略平行な方向の磁束（矢印Ａ）が発
生する。
２１に接続された配線路２０が片側導体で、配線路２０
内を紙面の表側から裏側に向かって電流が流れる場合、
配線路２０の周囲には、配線路２０を中心とする時計周
りの円周状の磁束３０が発生するので、探査面２ｂの近
傍には探査面２ｂと略平行な方向の磁束（矢印Ａ）が発
生する。
【００２０】この時、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 は、探査面
２ｂと直交する面内に、探査面２ｂに対して略同一の傾
斜角で異なる方向に傾斜させて配設されるので、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 は所定の傾斜角で磁束３０と交差する。
したがって、探査コイルＬ1，Ｌ2 によってそれぞれ検
出される磁束の大きさは、探査面２ｂと平行に１本の探
査コイルを配置した場合に比べて小さくなる。
２ｂと直交する面内に、探査面２ｂに対して略同一の傾
斜角で異なる方向に傾斜させて配設されるので、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 は所定の傾斜角で磁束３０と交差する。
したがって、探査コイルＬ1，Ｌ2 によってそれぞれ検
出される磁束の大きさは、探査面２ｂと平行に１本の探
査コイルを配置した場合に比べて小さくなる。
【００２１】また、探査コイルＬ1 の端子ｂ（コイルの
巻き終わり）及び探査コイルＬ2 の端子ｃ（コイルの巻
き始め）は、探査面２ｂに近い側に配置されているの
で、図５（ｂ）及び図６（ａ）〜（ｆ）に示すように、
探査コイルＬ1 ，Ｌ2 によって検出される磁束ベクトル
ｖ2 ，ｖ3 は、それぞれ、端子ｂ，ｄ（コイルの巻き終
わり）から端子ａ，ｃ（コイルの巻き始め）に向かうベ
クトルとなる。ここで、端子ｂ，ｄから端子ａ，ｃに向
かう磁束ベクトルを正とする。磁束ベクトルｖ2，ｖ3
の探査面２ｂと平行なベクトル成分ｖ2h，ｖ3hは位相が
同じになり、探査面２ｂに垂直なベクトル成分ｖ2v，ｖ
3vは位相が反転しているので、磁束ベクトルｖ2 ，ｖ3
のベクトル和を求めることによって、探査面２ｂに垂直
なベクトル成分の和（ｖ2v＋ｖ3v）は零となり、探査面
２ｂに平行なベクトル成分の和（ｖ 2h＋ｖ3h）のみを得
ることができる。
巻き終わり）及び探査コイルＬ2 の端子ｃ（コイルの巻
き始め）は、探査面２ｂに近い側に配置されているの
で、図５（ｂ）及び図６（ａ）〜（ｆ）に示すように、
探査コイルＬ1 ，Ｌ2 によって検出される磁束ベクトル
ｖ2 ，ｖ3 は、それぞれ、端子ｂ，ｄ（コイルの巻き終
わり）から端子ａ，ｃ（コイルの巻き始め）に向かうベ
クトルとなる。ここで、端子ｂ，ｄから端子ａ，ｃに向
かう磁束ベクトルを正とする。磁束ベクトルｖ2，ｖ3
の探査面２ｂと平行なベクトル成分ｖ2h，ｖ3hは位相が
同じになり、探査面２ｂに垂直なベクトル成分ｖ2v，ｖ
3vは位相が反転しているので、磁束ベクトルｖ2 ，ｖ3
のベクトル和を求めることによって、探査面２ｂに垂直
なベクトル成分の和（ｖ2v＋ｖ3v）は零となり、探査面
２ｂに平行なベクトル成分の和（ｖ 2h＋ｖ3h）のみを得
ることができる。
【００２２】したがって、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2 によ
って検出される磁束ベクトルｖ2 ，ｖ3 のベクトル和ｖ
1 を求めることによって、演算回路５の出力を大きくす
ることができる。すなわち、図３に示す回路において、
スイッチＳ2aを端子ｃ側に接続するとともにスイッチＳ
2bを端子ｄ側に接続することによって、探査コイル
Ｌ 1 ，Ｌ2 の接続を同一極性とし、探査コイルＬ1 ，Ｌ
2 に誘起される電圧を加算する。
って検出される磁束ベクトルｖ2 ，ｖ3 のベクトル和ｖ
1 を求めることによって、演算回路５の出力を大きくす
ることができる。すなわち、図３に示す回路において、
スイッチＳ2aを端子ｃ側に接続するとともにスイッチＳ
2bを端子ｄ側に接続することによって、探査コイル
Ｌ 1 ，Ｌ2 の接続を同一極性とし、探査コイルＬ1 ，Ｌ
2 に誘起される電圧を加算する。
【００２３】一方、図７（ａ）に示すように、開閉器２
１に接続された２本の配線路２０ａ，２０ｂが往復導体
で、一方の配線路２０ａに紙面の表側から裏側に向かっ
て電流が流れるとともに、他方の配線路２０ｂに紙面の
裏側から表側に向かって電流が流れる場合、配線路２０
ａ，２０ｂを流れる電流によって、配線路２０ａ，２０
ｂの近傍には、配線路２０ａを中心とする時計周りの円
周状の磁束３０ａと、配線路２０ｂを中心とする反時計
周りの円周状の磁束３０ｂとが発生するので、配線路２
０ａ，２０ｂから略中間の位置では、探査面２ｂと略直
交する方向の磁束（矢印Ｂ）が発生する。
１に接続された２本の配線路２０ａ，２０ｂが往復導体
で、一方の配線路２０ａに紙面の表側から裏側に向かっ
て電流が流れるとともに、他方の配線路２０ｂに紙面の
裏側から表側に向かって電流が流れる場合、配線路２０
ａ，２０ｂを流れる電流によって、配線路２０ａ，２０
ｂの近傍には、配線路２０ａを中心とする時計周りの円
周状の磁束３０ａと、配線路２０ｂを中心とする反時計
周りの円周状の磁束３０ｂとが発生するので、配線路２
０ａ，２０ｂから略中間の位置では、探査面２ｂと略直
交する方向の磁束（矢印Ｂ）が発生する。
【００２４】この時、図７（ｂ）及び図８（ａ）〜
（ｆ）に示すように、探査コイルＬ1 によって検出され
た磁束ベクトルｖ2 は探査コイルＬ1 の端子ｂから端子
ａに向かうベクトルとなり、探査コイルＬ2 によって検
出された磁束ベクトル（−ｖ3 ）は探査コイルＬ2 の端
子ｃから端子ｄに向かうベクトルとなる。磁束ベクトル
ｖ 2 ，（−ｖ3 ）の探査面２ｂと平行なベクトル成分ｖ
2h，（−ｖ3h）は位相が反転し、探査面２ｂに垂直なベ
クトル成分ｖ2v，（−ｖ3v）は位相が同じになるので、
磁束ベクトルｖ2 ，（−ｖ3 ）の和、即ち、磁束ベクト
ルｖ2 ，ｖ3 のベクトル差を求めることによって、探査
面２ｂに平行なベクトル成分の和｛ｖ2h＋（−ｖ3h）｝
は零となり、探査面２ｂに垂直なベクトル成分の和｛ｖ
2v＋（−ｖ3v）｝のみを得ることができる。
（ｆ）に示すように、探査コイルＬ1 によって検出され
た磁束ベクトルｖ2 は探査コイルＬ1 の端子ｂから端子
ａに向かうベクトルとなり、探査コイルＬ2 によって検
出された磁束ベクトル（−ｖ3 ）は探査コイルＬ2 の端
子ｃから端子ｄに向かうベクトルとなる。磁束ベクトル
ｖ 2 ，（−ｖ3 ）の探査面２ｂと平行なベクトル成分ｖ
2h，（−ｖ3h）は位相が反転し、探査面２ｂに垂直なベ
クトル成分ｖ2v，（−ｖ3v）は位相が同じになるので、
磁束ベクトルｖ2 ，（−ｖ3 ）の和、即ち、磁束ベクト
ルｖ2 ，ｖ3 のベクトル差を求めることによって、探査
面２ｂに平行なベクトル成分の和｛ｖ2h＋（−ｖ3h）｝
は零となり、探査面２ｂに垂直なベクトル成分の和｛ｖ
2v＋（−ｖ3v）｝のみを得ることができる。
【００２５】したがって、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2 によ
って検出される磁束ベクトルｖ2 ，ｖ3 のベクトル差を
求めることによって、演算回路５の出力を大きくするこ
とができる。すなわち、図３に示す回路において、スイ
ッチＳ2aを端子ｄ側に接続するとともにスイッチＳ2bを
端子ｃ側に接続することによって、探査コイルＬ1 ，Ｌ
2 の接続を逆極性とし、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 に誘起さ
れる電圧を減算して、演算回路５の出力を大きくする。
って検出される磁束ベクトルｖ2 ，ｖ3 のベクトル差を
求めることによって、演算回路５の出力を大きくするこ
とができる。すなわち、図３に示す回路において、スイ
ッチＳ2aを端子ｄ側に接続するとともにスイッチＳ2bを
端子ｃ側に接続することによって、探査コイルＬ1 ，Ｌ
2 の接続を逆極性とし、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 に誘起さ
れる電圧を減算して、演算回路５の出力を大きくする。
【００２６】このように、スイッチＳ2a，Ｓ2bを切り替
えることにより、両探査コイルＬ1，Ｌ2 が検出した磁
束ベクトルのベクトル和、又は、ベクトル差を求めてい
るので、探査面２ｂに対して平行な方向及び直交する方
向の磁束を検出することができる。また、演算回路５の
出力を磁束ベクトルのベクトル和、又は、ベクトル差に
切り替えているので、ベクトル和とベクトル差の内、よ
り大きな値を出力させることができ、磁束の検出感度を
高めることができる。さらに、ベクトル和又はベクトル
差の切替手段をスイッチＳ2a，Ｓ2bだけで構成している
ので、簡単な回路構成により切替手段を実現することが
できる。 （実施形態２）本実施形態の演算回路５の回路図を図９
に示す。
えることにより、両探査コイルＬ1，Ｌ2 が検出した磁
束ベクトルのベクトル和、又は、ベクトル差を求めてい
るので、探査面２ｂに対して平行な方向及び直交する方
向の磁束を検出することができる。また、演算回路５の
出力を磁束ベクトルのベクトル和、又は、ベクトル差に
切り替えているので、ベクトル和とベクトル差の内、よ
り大きな値を出力させることができ、磁束の検出感度を
高めることができる。さらに、ベクトル和又はベクトル
差の切替手段をスイッチＳ2a，Ｓ2bだけで構成している
ので、簡単な回路構成により切替手段を実現することが
できる。 （実施形態２）本実施形態の演算回路５の回路図を図９
に示す。
【００２７】実施形態１では、直列接続された探査コイ
ルＬ1 ，Ｌ2 の極性を同一極性と逆極性に切り替えるこ
とによって、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検出したコイル
軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベクトル差を求
めていたが、本実施形態では、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2
に誘起された電圧を加算することによって、両探査コイ
ルＬ1 ，Ｌ2 が検出したコイル軸方向の磁束ベクトルの
ベクトル和、即ち、探査面２ｂに対して平行な方向の磁
束を求める加算器５ａと、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2 に誘
起された電圧を減算することによって、両探査コイルＬ
1 ，Ｌ2 が検出したコイル軸方向の磁束ベクトルのベク
トル差、即ち、探査面２ｂに対して直交する方向の磁束
を求める減算器５ｂと、演算回路５の出力を加算器５ａ
又は減算器５ｂの出力に切り替える切替手段たるスイッ
チＳ2 とから演算回路５を構成する。
ルＬ1 ，Ｌ2 の極性を同一極性と逆極性に切り替えるこ
とによって、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検出したコイル
軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベクトル差を求
めていたが、本実施形態では、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2
に誘起された電圧を加算することによって、両探査コイ
ルＬ1 ，Ｌ2 が検出したコイル軸方向の磁束ベクトルの
ベクトル和、即ち、探査面２ｂに対して平行な方向の磁
束を求める加算器５ａと、両探査コイルＬ1 ，Ｌ2 に誘
起された電圧を減算することによって、両探査コイルＬ
1 ，Ｌ2 が検出したコイル軸方向の磁束ベクトルのベク
トル差、即ち、探査面２ｂに対して直交する方向の磁束
を求める減算器５ｂと、演算回路５の出力を加算器５ａ
又は減算器５ｂの出力に切り替える切替手段たるスイッ
チＳ2 とから演算回路５を構成する。
【００２８】ここで、探査コイルＬ1 にはコンデンサＣ
1 及び抵抗Ｒ1 が接続されており、探査コイルＬ1 、コ
ンデンサＣ1 及び抵抗Ｒ1 により共振回路を構成する。
この共振回路の共振周波数は送信器１０によって印加さ
れる電流の周波数と略一致しているので、それ以外の周
波数成分を取り除くことができる。また、探査コイルＬ
2 、抵抗Ｒ2 及びコンデンサＣ2 からなる共振回路も同
様の機能を有している。
1 及び抵抗Ｒ1 が接続されており、探査コイルＬ1 、コ
ンデンサＣ1 及び抵抗Ｒ1 により共振回路を構成する。
この共振回路の共振周波数は送信器１０によって印加さ
れる電流の周波数と略一致しているので、それ以外の周
波数成分を取り除くことができる。また、探査コイルＬ
2 、抵抗Ｒ2 及びコンデンサＣ2 からなる共振回路も同
様の機能を有している。
【００２９】加算器５ａはオペアンプＯＰ1 及び抵抗Ｒ
3 〜Ｒ6 より構成され、オペアンプＯＰ1 の反転入力端
子に抵抗Ｒ3 ，Ｒ4 を介してそれぞれ探査コイルＬ1 ，
Ｌ2が接続される。そして、オペアンプＯＰ1 は、探査
コイルＬ1 の両端電圧ＶL1にゲイン（−Ｒ5 ／Ｒ3 ）を
乗じた値と、探査コイルＬ2 の両端電圧ＶL2にゲイン
（−Ｒ5 ／Ｒ4 ）を乗じた値とを加算して出力する。こ
こで、抵抗Ｒ3 〜Ｒ5 の抵抗値が等しければ、オペアン
プＯＰ1 の出力電圧は（ＶL1＋ＶL2）となる。
3 〜Ｒ6 より構成され、オペアンプＯＰ1 の反転入力端
子に抵抗Ｒ3 ，Ｒ4 を介してそれぞれ探査コイルＬ1 ，
Ｌ2が接続される。そして、オペアンプＯＰ1 は、探査
コイルＬ1 の両端電圧ＶL1にゲイン（−Ｒ5 ／Ｒ3 ）を
乗じた値と、探査コイルＬ2 の両端電圧ＶL2にゲイン
（−Ｒ5 ／Ｒ4 ）を乗じた値とを加算して出力する。こ
こで、抵抗Ｒ3 〜Ｒ5 の抵抗値が等しければ、オペアン
プＯＰ1 の出力電圧は（ＶL1＋ＶL2）となる。
【００３０】一方、減算器５ｂはオペアンプＯＰ2 及び
抵抗Ｒ7 〜Ｒ10より構成され、オペアンプＯＰ2 の非反
転入力端子に抵抗Ｒ7 を介して探査コイルＬ1 が接続さ
れ、オペアンプＯＰ2 の非反転入力端子に抵抗Ｒ8 を介
して探査コイルＬ2 が接続される。そして、オペアンプ
ＯＰ2 は、探査コイルＬ1 の両端電圧ＶL1にゲイン〔Ｒ
10（Ｒ8 ＋Ｒ9 ）／｛Ｒ8 （Ｒ7 ＋Ｒ10）｝〕を乗じた
値から、探査コイルＬ 2 の両端電圧ＶL2にゲイン（−Ｒ
9 ／Ｒ8 ）を乗じた値を減算して出力する。ここで、抵
抗Ｒ7 〜Ｒ10の抵抗値が等しければ、オペアンプＯＰ2
の出力電圧は（ＶL1−ＶL2）となる。
抵抗Ｒ7 〜Ｒ10より構成され、オペアンプＯＰ2 の非反
転入力端子に抵抗Ｒ7 を介して探査コイルＬ1 が接続さ
れ、オペアンプＯＰ2 の非反転入力端子に抵抗Ｒ8 を介
して探査コイルＬ2 が接続される。そして、オペアンプ
ＯＰ2 は、探査コイルＬ1 の両端電圧ＶL1にゲイン〔Ｒ
10（Ｒ8 ＋Ｒ9 ）／｛Ｒ8 （Ｒ7 ＋Ｒ10）｝〕を乗じた
値から、探査コイルＬ 2 の両端電圧ＶL2にゲイン（−Ｒ
9 ／Ｒ8 ）を乗じた値を減算して出力する。ここで、抵
抗Ｒ7 〜Ｒ10の抵抗値が等しければ、オペアンプＯＰ2
の出力電圧は（ＶL1−ＶL2）となる。
【００３１】加算器５ａ及び減算器５ｂの出力端はスイ
ッチＳ2 を介して出力端子ｔ5 に接続されており、スイ
ッチＳ2 の切り替えによって、加算器５ａ又は減算器５
ｂの出力を選択して、出力端子ｔ5 から出力させること
ができる。本実施形態の演算回路５では、探査コイルＬ
1 ，Ｌ2 が検出したコイル軸方向の磁束ベクトルのベク
トル和又はベクトル差をただ一つのスイッチＳ2 で切り
替えて出力しているので、実施形態１のように２個のス
イッチＳ2a，Ｓ2bを設けた場合に比べて、スイッチの接
点不良などの故障が発生する可能性が低くなり、装置の
信頼性が向上する。
ッチＳ2 を介して出力端子ｔ5 に接続されており、スイ
ッチＳ2 の切り替えによって、加算器５ａ又は減算器５
ｂの出力を選択して、出力端子ｔ5 から出力させること
ができる。本実施形態の演算回路５では、探査コイルＬ
1 ，Ｌ2 が検出したコイル軸方向の磁束ベクトルのベク
トル和又はベクトル差をただ一つのスイッチＳ2 で切り
替えて出力しているので、実施形態１のように２個のス
イッチＳ2a，Ｓ2bを設けた場合に比べて、スイッチの接
点不良などの故障が発生する可能性が低くなり、装置の
信頼性が向上する。
【００３２】なお、演算回路５以外の構成は実施形態１
の配線路探査装置と同様であるので、その説明は省略す
る。 （実施形態３）本実施形態の配線路探査装置の受信器の
正面図を図１０（ａ）に、側面図を図１０（ｂ）に、演
算回路の回路図を図１１に示す。
の配線路探査装置と同様であるので、その説明は省略す
る。 （実施形態３）本実施形態の配線路探査装置の受信器の
正面図を図１０（ａ）に、側面図を図１０（ｂ）に、演
算回路の回路図を図１１に示す。
【００３３】本実施形態の受信器１は、図１０（ａ）
（ｂ）に示すように、スイッチＳ2 が設けられていない
点以外は図１に示す受信器１と同様であるので、同一の
構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。
また、図１１に示すように、演算回路５では、図９の演
算回路５において、スイッチＳ2 の代わりに、加算器５
ａ及び減算器５ｂの出力値を比較し、大きい方の値を選
択して出力端子ｔ5 から出力させる比較手段たる比較回
路５ｅを設けている。なお、比較回路５ｅ以外の構成は
図９の演算回路５と同様であるので、同一の構成要素に
は同一の符号を付し、その説明を省略する。
（ｂ）に示すように、スイッチＳ2 が設けられていない
点以外は図１に示す受信器１と同様であるので、同一の
構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。
また、図１１に示すように、演算回路５では、図９の演
算回路５において、スイッチＳ2 の代わりに、加算器５
ａ及び減算器５ｂの出力値を比較し、大きい方の値を選
択して出力端子ｔ5 から出力させる比較手段たる比較回
路５ｅを設けている。なお、比較回路５ｅ以外の構成は
図９の演算回路５と同様であるので、同一の構成要素に
は同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００３４】比較回路５ｅは、オペアンプＯＰ3 及びダ
イオードＤ1 からなるバッファ回路５ｃと、オペアンプ
ＯＰ4 及びダイオードＤ2 からなるバッファ回路５ｄと
から構成される。バッファ回路５ｃでは、オペアンプＯ
Ｐ3 の出力端子と反転入力端子がダイオードＤ1 を介し
て接続され、オペアンプＯＰ3 の非反転入力端子に加算
器５ａの出力が入力され、オペアンプＯＰ3 の出力端子
から加算器５ａの出力がそのまま出力される。同様に、
バッファ回路５ｄでは、オペアンプＯＰ4 の出力端子と
反転入力端子がダイオードＤ2 を介して接続され、オペ
アンプＯＰ4 の非反転入力端子に減算器５ｂの出力が入
力され、オペアンプＯＰ4 の出力端子から減算器５ｂの
出力がそのまま出力される。そして、バッファ回路５
ｃ，５ｄの出力は共に出力端子ｔ5 に接続されており、
加算器５ａ、減算器５ｂの出力の内、大きい方の出力が
出力端子ｔ5 から出力される。
イオードＤ1 からなるバッファ回路５ｃと、オペアンプ
ＯＰ4 及びダイオードＤ2 からなるバッファ回路５ｄと
から構成される。バッファ回路５ｃでは、オペアンプＯ
Ｐ3 の出力端子と反転入力端子がダイオードＤ1 を介し
て接続され、オペアンプＯＰ3 の非反転入力端子に加算
器５ａの出力が入力され、オペアンプＯＰ3 の出力端子
から加算器５ａの出力がそのまま出力される。同様に、
バッファ回路５ｄでは、オペアンプＯＰ4 の出力端子と
反転入力端子がダイオードＤ2 を介して接続され、オペ
アンプＯＰ4 の非反転入力端子に減算器５ｂの出力が入
力され、オペアンプＯＰ4 の出力端子から減算器５ｂの
出力がそのまま出力される。そして、バッファ回路５
ｃ，５ｄの出力は共に出力端子ｔ5 に接続されており、
加算器５ａ、減算器５ｂの出力の内、大きい方の出力が
出力端子ｔ5 から出力される。
【００３５】尚、演算回路５及びスイッチＳ2 以外の構
成は実施形態１又は２と同様であるので、その説明は省
略する。 （実施形態４）本実施形態では、実施形態１、２又は３
の配線路探査装置において、図１２（ａ）乃至（ｄ）に
示すように、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面２ｂに対し
て約３０°の傾斜角で異なる方向に夫々傾斜させて配置
している。
成は実施形態１又は２と同様であるので、その説明は省
略する。 （実施形態４）本実施形態では、実施形態１、２又は３
の配線路探査装置において、図１２（ａ）乃至（ｄ）に
示すように、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面２ｂに対し
て約３０°の傾斜角で異なる方向に夫々傾斜させて配置
している。
【００３６】図１２（ａ）（ｂ）に示すように、探査面
２ｂに対して直交する方向に磁束が発生した場合、探査
コイルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトル
の探査面２ｂに垂直な方向のベクトル成分の大きさは、
１本のコイルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合
の略（１／２）倍となる。したがって、探査コイル
Ｌ 1 ，Ｌ2 が検出した磁束ベクトルのベクトル差をとれ
ば、１本のコイルを探査面２ｂに対して垂直に配置した
場合と略同じ大きさの磁束を検出することができる。
２ｂに対して直交する方向に磁束が発生した場合、探査
コイルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトル
の探査面２ｂに垂直な方向のベクトル成分の大きさは、
１本のコイルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合
の略（１／２）倍となる。したがって、探査コイル
Ｌ 1 ，Ｌ2 が検出した磁束ベクトルのベクトル差をとれ
ば、１本のコイルを探査面２ｂに対して垂直に配置した
場合と略同じ大きさの磁束を検出することができる。
【００３７】図１２（ｃ）（ｄ）に示すように、探査面
２ｂに対して平行な方向の磁束が発生した場合、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの
探査面２ｂに平行なベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合の略（√
３／２）倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ 2
が検出した磁束ベクトルのベクトル和をとれば、１本の
コイルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合に比べ
て略√３倍の大きさの磁束を検出することができる。
２ｂに対して平行な方向の磁束が発生した場合、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの
探査面２ｂに平行なベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合の略（√
３／２）倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ 2
が検出した磁束ベクトルのベクトル和をとれば、１本の
コイルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合に比べ
て略√３倍の大きさの磁束を検出することができる。
【００３８】このように、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査
面２ｂに対して約３０°の傾きで異なる方向に傾斜させ
て配置すれば、探査面２ｂに対して垂直な方向の磁束が
発生した場合は、１本のコイルを探査面２ｂに垂直に配
置した場合と略同じ大きさの磁束を検出することがで
き、探査面２ｂに対して平行な方向に磁束が発生した場
合は、１本のコイルを探査面２ｂに平行に配置した場合
に比べて約√３倍の大きさの磁束を検出することができ
る。
面２ｂに対して約３０°の傾きで異なる方向に傾斜させ
て配置すれば、探査面２ｂに対して垂直な方向の磁束が
発生した場合は、１本のコイルを探査面２ｂに垂直に配
置した場合と略同じ大きさの磁束を検出することがで
き、探査面２ｂに対して平行な方向に磁束が発生した場
合は、１本のコイルを探査面２ｂに平行に配置した場合
に比べて約√３倍の大きさの磁束を検出することができ
る。
【００３９】また、図１３（ａ）乃至（ｄ）に示すよう
に、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面２ｂに対して約６０
°の傾斜角で異なる方向に夫々傾斜させて配置すると、
図１３（ａ）（ｂ）に示すように、探査面２ｂに対して
直交する方向に磁束が発生した場合、探査コイルＬ1 ，
Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの探査面２ｂ
に垂直な方向のベクトル成分の大きさは、１本のコイル
を探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略（√３／
２）倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検
出した磁束ベクトルのベクトル差をとれば、１本のコイ
ルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略√３倍
の大きさの磁束を検出することができる。
に、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面２ｂに対して約６０
°の傾斜角で異なる方向に夫々傾斜させて配置すると、
図１３（ａ）（ｂ）に示すように、探査面２ｂに対して
直交する方向に磁束が発生した場合、探査コイルＬ1 ，
Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの探査面２ｂ
に垂直な方向のベクトル成分の大きさは、１本のコイル
を探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略（√３／
２）倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検
出した磁束ベクトルのベクトル差をとれば、１本のコイ
ルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略√３倍
の大きさの磁束を検出することができる。
【００４０】図１３（ｃ）（ｄ）に示すように、探査面
２ｂに対して平行な方向の磁束が発生した場合、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの
探査面２ｂに平行なベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合の略１／
２倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検出
した磁束ベクトルのベクトル和をとれば、１本のコイル
を探査面２ｂに対して平行に配置した場合に比べて略同
じ大きさの磁束を検出することができる。
２ｂに対して平行な方向の磁束が発生した場合、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの
探査面２ｂに平行なベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合の略１／
２倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検出
した磁束ベクトルのベクトル和をとれば、１本のコイル
を探査面２ｂに対して平行に配置した場合に比べて略同
じ大きさの磁束を検出することができる。
【００４１】このように、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査
面２ｂに対して約６０°の傾きで異なる方向に傾斜させ
て配置すれば、探査面２ｂに対して垂直な方向の磁束が
発生した場合は、１本のコイルを探査面２ｂに垂直に配
置した場合の約√３倍の大きさの磁束を検出することが
でき、探査面２ｂに対して平行な方向に磁束が発生した
場合は、１本のコイルを探査面２ｂに平行に配置した場
合と略同じ大きさの磁束を検出することができる。
面２ｂに対して約６０°の傾きで異なる方向に傾斜させ
て配置すれば、探査面２ｂに対して垂直な方向の磁束が
発生した場合は、１本のコイルを探査面２ｂに垂直に配
置した場合の約√３倍の大きさの磁束を検出することが
でき、探査面２ｂに対して平行な方向に磁束が発生した
場合は、１本のコイルを探査面２ｂに平行に配置した場
合と略同じ大きさの磁束を検出することができる。
【００４２】以上より、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面
２ｂに対して約３０°〜約６０°の傾きで異なる方向に
傾斜させて配置した場合、探査面２ｂに対して平行な方
向又は垂直な方向の内、いずれか一方の検出方向では、
磁束の方向に対して平行に配置したコイルの磁束検出感
度と略同じ感度とすることができ、他方の検出方向で
は、磁束の方向に対して平行に配置したコイルの磁束検
出感度よりも高感度とすることができる。
２ｂに対して約３０°〜約６０°の傾きで異なる方向に
傾斜させて配置した場合、探査面２ｂに対して平行な方
向又は垂直な方向の内、いずれか一方の検出方向では、
磁束の方向に対して平行に配置したコイルの磁束検出感
度と略同じ感度とすることができ、他方の検出方向で
は、磁束の方向に対して平行に配置したコイルの磁束検
出感度よりも高感度とすることができる。
【００４３】さらに、図１４（ａ）乃至（ｄ）に示すよ
うに、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面２ｂに対して約４
５°の傾斜角で異なる方向に夫々傾斜させて配置する
と、図１４（ａ）（ｂ）に示すように、探査面２ｂに対
して直交する方向に磁束が発生した場合、探査コイルＬ
1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの探査面
２ｂに垂直な方向のベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略（１
／√２）倍となる。したがって、探査コイルＬ1，Ｌ2
が検出した磁束ベクトルのベクトル差をとれば、１本の
コイルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略√
２倍の大きさの磁束を検出することができる。
うに、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査面２ｂに対して約４
５°の傾斜角で異なる方向に夫々傾斜させて配置する
と、図１４（ａ）（ｂ）に示すように、探査面２ｂに対
して直交する方向に磁束が発生した場合、探査コイルＬ
1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの探査面
２ｂに垂直な方向のベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略（１
／√２）倍となる。したがって、探査コイルＬ1，Ｌ2
が検出した磁束ベクトルのベクトル差をとれば、１本の
コイルを探査面２ｂに対して垂直に配置した場合の略√
２倍の大きさの磁束を検出することができる。
【００４４】図１４（ｃ）（ｄ）に示すように、探査面
２ｂに対して平行な方向の磁束が発生した場合、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの
探査面２ｂに平行なベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合の略１／
√２倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検
出した磁束ベクトルのベクトル和をとれば、１本のコイ
ルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合に比べて略
√２倍の大きさの磁束を検出することができる。
２ｂに対して平行な方向の磁束が発生した場合、探査コ
イルＬ1 ，Ｌ2 によって夫々検出される磁束ベクトルの
探査面２ｂに平行なベクトル成分の大きさは、１本のコ
イルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合の略１／
√２倍となる。したがって、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 が検
出した磁束ベクトルのベクトル和をとれば、１本のコイ
ルを探査面２ｂに対して平行に配置した場合に比べて略
√２倍の大きさの磁束を検出することができる。
【００４５】このように、探査コイルＬ1 ，Ｌ2 を探査
面２ｂに対して約４５°の傾きで異なる方向に傾斜させ
て配置すれば、探査面２ｂに対して垂直な方向の磁束が
発生した場合も、探査面２ｂに対して平行な方向の磁束
が発生した場合も、同様に、磁束の方向に平行に配置さ
れたコイルの略√２倍の大きさの磁束を検出することが
でき、探査面２ｂに対して垂直な方向及び平行な方向の
磁束検出感度を同程度に高く設定することができる。
面２ｂに対して約４５°の傾きで異なる方向に傾斜させ
て配置すれば、探査面２ｂに対して垂直な方向の磁束が
発生した場合も、探査面２ｂに対して平行な方向の磁束
が発生した場合も、同様に、磁束の方向に平行に配置さ
れたコイルの略√２倍の大きさの磁束を検出することが
でき、探査面２ｂに対して垂直な方向及び平行な方向の
磁束検出感度を同程度に高く設定することができる。
【００４６】
【発明の効果】請求項１の発明は、上述のように、配線
路に所定の周波数の電流を印加する送信器と、所定周波
数の電流により配線路に発生する磁束を検出して目的と
する配線路を探査する受信器とから構成される配線路探
査装置において、受信器本体の先端部に配線路と対向す
る探査面を設け、受信器本体内部の探査面近傍に、磁束
を検出するための２個の探査コイルを探査面に対して略
同一の角度で異なる方向に傾斜させて配設し、探査コイ
ルによって夫々検出されるコイル軸方向の磁束ベクトル
のベクトル和又はベクトル差を切り替えて出力する切替
手段を設け、切替手段の出力に基づいて磁束を検出して
いるので、コイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又
はベクトル差を求めることにより、探査面に対して平行
な方向の磁束と垂直な方向の磁束を共に検出することが
できるという効果がある。また、ベクトル和及びベクト
ル差の内、いずれか一方の出力を大きくすることができ
るので、探査面に対して平行な方向又は垂直な方向の磁
束の検出感度を高めることができるという効果もある。
路に所定の周波数の電流を印加する送信器と、所定周波
数の電流により配線路に発生する磁束を検出して目的と
する配線路を探査する受信器とから構成される配線路探
査装置において、受信器本体の先端部に配線路と対向す
る探査面を設け、受信器本体内部の探査面近傍に、磁束
を検出するための２個の探査コイルを探査面に対して略
同一の角度で異なる方向に傾斜させて配設し、探査コイ
ルによって夫々検出されるコイル軸方向の磁束ベクトル
のベクトル和又はベクトル差を切り替えて出力する切替
手段を設け、切替手段の出力に基づいて磁束を検出して
いるので、コイル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又
はベクトル差を求めることにより、探査面に対して平行
な方向の磁束と垂直な方向の磁束を共に検出することが
できるという効果がある。また、ベクトル和及びベクト
ル差の内、いずれか一方の出力を大きくすることができ
るので、探査面に対して平行な方向又は垂直な方向の磁
束の検出感度を高めることができるという効果もある。
【００４７】請求項２の発明は、請求項１の発明におい
て、２個の探査コイルが直列に接続され、切替手段が探
査コイルの接続を同一極性と逆極性に切り替えているの
で、簡単な回路構成で切替手段を構成することができる
という効果がある。請求項３の発明は、請求項１の発明
において、２個の探査コイルに誘起された電圧を加算す
る加算器と、２個の探査コイルに誘起された電圧を減算
する減算器とを備え、切替手段が加算器又は減算器の出
力を切り替えて出力しているので、探査コイルの極性を
切り替える場合に比べて、スイッチの数を１個減らすこ
とができ、接点不良などの不具合が発生する可能性を低
減でき、信頼性が向上するという効果がある。
て、２個の探査コイルが直列に接続され、切替手段が探
査コイルの接続を同一極性と逆極性に切り替えているの
で、簡単な回路構成で切替手段を構成することができる
という効果がある。請求項３の発明は、請求項１の発明
において、２個の探査コイルに誘起された電圧を加算す
る加算器と、２個の探査コイルに誘起された電圧を減算
する減算器とを備え、切替手段が加算器又は減算器の出
力を切り替えて出力しているので、探査コイルの極性を
切り替える場合に比べて、スイッチの数を１個減らすこ
とができ、接点不良などの不具合が発生する可能性を低
減でき、信頼性が向上するという効果がある。
【００４８】請求項４の発明は、配線路に所定の周波数
の電流を印加する送信器と、所定周波数の電流により配
線路に発生する磁束を検出して目的とする配線路を探査
する受信器とから構成される配線路探査装置において、
受信器本体の先端部に配線路と対向する探査面を設け、
受信器本体内部の探査面近傍に、磁束を検出するための
２個の探査コイルを探査面に対して略同一の角度で異な
る方向に傾斜させて配設し、両探査コイルによって検出
される磁束ベクトルのベクトル和とベクトル差の大きさ
を比較する比較手段と、比較手段の比較結果に基づいて
ベクトル和とベクトル差の内、大きい方の値に基づいて
磁束の強弱を表示する表示手段とを設けているので、コ
イル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベクトル差
を求めることにより、探査面に対して平行な方向と垂直
な方向の磁束を共に検出できるという効果がある。ま
た、切替手段の切り替え操作を行うことなく、探査面に
対して平行な方向の磁束と垂直な方向の磁束を検出で
き、操作性が向上するという効果がある。
の電流を印加する送信器と、所定周波数の電流により配
線路に発生する磁束を検出して目的とする配線路を探査
する受信器とから構成される配線路探査装置において、
受信器本体の先端部に配線路と対向する探査面を設け、
受信器本体内部の探査面近傍に、磁束を検出するための
２個の探査コイルを探査面に対して略同一の角度で異な
る方向に傾斜させて配設し、両探査コイルによって検出
される磁束ベクトルのベクトル和とベクトル差の大きさ
を比較する比較手段と、比較手段の比較結果に基づいて
ベクトル和とベクトル差の内、大きい方の値に基づいて
磁束の強弱を表示する表示手段とを設けているので、コ
イル軸方向の磁束ベクトルのベクトル和又はベクトル差
を求めることにより、探査面に対して平行な方向と垂直
な方向の磁束を共に検出できるという効果がある。ま
た、切替手段の切り替え操作を行うことなく、探査面に
対して平行な方向の磁束と垂直な方向の磁束を検出で
き、操作性が向上するという効果がある。
【００４９】請求項５の発明は、２個の探査コイルが、
探査面に対して約３０°から約６０°までの傾斜角で異
なる方向に傾斜させて配設されているので、探査面に対
して平行な方向と垂直な方向の内、いずれか一方の検出
方向では、探査コイルが検出する磁束ベクトルを大きく
することができ、他方の検出方向では、磁束に対して平
行に配設した１本のコイルと同程度の磁束を検出できる
という効果がある。
探査面に対して約３０°から約６０°までの傾斜角で異
なる方向に傾斜させて配設されているので、探査面に対
して平行な方向と垂直な方向の内、いずれか一方の検出
方向では、探査コイルが検出する磁束ベクトルを大きく
することができ、他方の検出方向では、磁束に対して平
行に配設した１本のコイルと同程度の磁束を検出できる
という効果がある。
【００５０】請求項６の発明は、２個の探査コイルが、
探査面に対して約４５°の傾斜角で異なる方向に傾斜さ
せて配設されているので、探査面に対して平行な方向に
おいても、垂直な方向においても、磁束に対して平行に
配設された１本のコイルの約√２倍の磁束を検出できる
という効果がある。
探査面に対して約４５°の傾斜角で異なる方向に傾斜さ
せて配設されているので、探査面に対して平行な方向に
おいても、垂直な方向においても、磁束に対して平行に
配設された１本のコイルの約√２倍の磁束を検出できる
という効果がある。
【図１】実施形態１の受信器を示し、（ａ）は正面図、
（ｂ）は側面図である。
（ｂ）は側面図である。
【図２】同上の受信器の回路図である。
【図３】同上の受信器の演算回路を示す回路図である。
【図４】同上の送信器を示し、（ａ）は正面図、（ｂ）
は側面図である。
は側面図である。
【図５】（ａ）（ｂ）は同上の受信器の動作を説明する
説明図である。
説明図である。
【図６】（ａ）〜（ｆ）は同上の磁束ベクトルのベクト
ル和を求める説明図である。
ル和を求める説明図である。
【図７】（ａ）（ｂ）は同上の受信器の別の動作を説明
する説明図である。
する説明図である。
【図８】（ａ）〜（ｆ）は同上の磁束ベクトルのベクト
ル差を求める説明図である。
ル差を求める説明図である。
【図９】実施形態２の受信器の演算回路を示す回路図で
ある。
ある。
【図１０】実施形態３の受信器を示し、（ａ）は正面
図、（ｂ）は側面図である。
図、（ｂ）は側面図である。
【図１１】同上の受信器の演算回路を示す回路図であ
る。
る。
【図１２】（ａ）〜（ｄ）は実施形態４の受信器の動作
を説明する説明図である。
を説明する説明図である。
【図１３】（ａ）〜（ｄ）は同上の受信器の別の動作を
説明する説明図である。
説明する説明図である。
【図１４】（ａ）〜（ｄ）は同上の受信器のまた別の動
作を説明する説明図である。
作を説明する説明図である。
１ 受信器 ２ 本体 ２ａ 端部 ２ｂ 探査面 Ｓ2 スイッチ Ｌ1 ，Ｌ2 探査コイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−170075（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−213620（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−95873（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−81570（ＪＰ，Ｕ) 実開 平２−109276（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭46−41156（ＪＰ，Ｂ１) 実公 平６−20146（ＪＰ，Ｙ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 31/02 G01R 33/02 G01R 15/18
Claims (6)
- 【請求項１】配線路に所定の周波数の電流を印加する送
信器と、前記所定周波数の電流により前記配線路に発生
する磁束を検出して目的とする配線路を探査する受信器
とから構成される配線路探査装置において、受信器本体
の先端部に前記配線路と対向する探査面を設け、前記受
信器本体内部の前記探査面近傍に、前記磁束を検出する
ための２個の探査コイルを前記探査面に対して略同一の
角度で異なる方向に傾斜させて配設し、前記探査コイル
によって夫々検出されるコイル軸方向の磁束ベクトルの
ベクトル和又はベクトル差を切り替えて出力する切替手
段を設け、前記切替手段の出力に基づいて磁束を検出し
て成ることを特徴とする配線路探査装置。 - 【請求項２】２個の前記探査コイルが直列に接続され、
前記切替手段が前記探査コイルの接続を同一極性と逆極
性に切り替えることを特徴とする請求項１記載の配線路
探査装置。 - 【請求項３】２個の前記探査コイルに誘起された電圧を
加算する加算器と、２個の前記探査コイルに誘起された
電圧を減算する減算器とを備え、前記切替手段が前記加
算器又は前記減算器の出力を切り替えて出力することを
特徴とする請求項１記載の配線路探査装置。 - 【請求項４】配線路に所定の周波数の電流を印加する送
信器と、前記所定周波数の電流により前記配線路に発生
する磁束を検出して目的とする配線路を探査する受信器
とから構成される配線路探査装置において、受信器本体
の先端部に前記配線路と対向する探査面を設け、前記受
信器本体内部の前記探査面近傍に、前記磁束を検出する
ための２個の探査コイルを前記探査面に対して略同一の
角度で異なる方向に傾斜させて配設し、両探査コイルに
よって検出される磁束ベクトルのベクトル和とベクトル
差の大きさを比較する比較手段と、前記比較手段の比較
結果に基づいてベクトル和とベクトル差の内、大きい方
の値に基づいて磁束の強弱を表示する表示手段とを設け
てなることを特徴とする配線路探査装置。 - 【請求項５】２個の前記探査コイルが、前記探査面に対
して約３０°から約６０°までの傾斜角で異なる方向に
傾斜させて配設されて成ることを特徴とする請求項１乃
至４記載の配線路探査装置。 - 【請求項６】２個の前記探査コイルが、前記探査面に対
して約４５°の傾斜角で異なる方向に傾斜させて配設さ
れて成ることを特徴とする請求項１乃至４記載の配線路
探査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01413697A JP3299466B2 (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | 配線路探査装置 |
| TW86115802A TW388796B (en) | 1997-01-28 | 1997-10-24 | Wiring route probing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01413697A JP3299466B2 (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | 配線路探査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10213617A JPH10213617A (ja) | 1998-08-11 |
| JP3299466B2 true JP3299466B2 (ja) | 2002-07-08 |
Family
ID=11852739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01413697A Expired - Fee Related JP3299466B2 (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | 配線路探査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3299466B2 (ja) |
| TW (1) | TW388796B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB0914259D0 (en) * | 2009-08-14 | 2009-09-30 | Sentec Ltd | Air cored current sensor |
-
1997
- 1997-01-28 JP JP01413697A patent/JP3299466B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-10-24 TW TW86115802A patent/TW388796B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW388796B (en) | 2000-05-01 |
| JPH10213617A (ja) | 1998-08-11 |
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