JP3297286B2

JP3297286B2 - ディスク装置及びディスク装置の検査情報作成方法

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Publication number: JP3297286B2
Application number: JP02106896A
Authority: JP
Inventors: 光彦矢代
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1996-02-07
Filing date: 1996-02-07
Publication date: 2002-07-02
Anticipated expiration: 2016-02-07
Also published as: JPH09213019A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装
置、光磁気ディスク装置など、コンピュータの外部記憶
装置、或いは補助記憶装置として利用されるディスク装
置及びディスク装置の検査情報作成方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１６は従来例の説明図であり、Ａ図は
ディスク装置の説明図、Ｂ図はブロックの説明図であ
る。以下、図１６に基づいて従来の磁気ディスク装置に
ついて説明する。

【０００３】従来、外部記憶装置、或いは補助記憶装置
の１例として、磁気ディスク装置が知られていた。この
磁気ディスク装置にはディスクエンクロージャ（以下
「ＤＥ」と記す）１が設けてあり、このＤＥ１内には１
枚、或いは複数枚の磁気ディスク（記憶媒体）２が設け
てある。そして、前記磁気ディスク２は、スピンドル機
構により回転駆動されるように構成されている。また、
前記ディスク２に対してデータ（情報）のライト、或い
はリードを行うための磁気ヘッド３等が設けてある。

【０００４】ところで、前記のような磁気ディスク装置
を工場から出荷する際には、前記ディスク２にデータを
アクセスするための情報を書き込んでから出荷する。こ
の場合、一定長のアクセス単位（以下「ブロック」と記
す）のデータ（以下「ブロックデータ」と記す）をディ
スク（記憶媒体）上に予め書き込んでおくフォーマット
処理が行われている。

【０００５】前記フォーマット処理を行う場合には、前
記ブロックの識別等を行うために、ブロックデータに特
定の情報を付加することも行われる。この場合のブロッ
クデータの例をＢ図のに示す。この例では、１ブロッ
クデータは、ブロック識別情報の領域とユーザデータの
領域とで構成されている。

【０００６】すなわち、各ブロックデータは、ブロック
データの前半部分にブロック識別情報を持っている。こ
の場合、識別情報として、そのブロックのシリンダ番
号、トラック内の順番を示すセクタ番号等を書き込む。
また、ブロックデータの後半部分は、ユーザデータを書
き込むための領域であり、工場出荷時には、各ブロック
に同じダミーデータが書き込まれている。

【０００７】Ｂ図のに示したように、前記ブロック内
のデータの信頼性を向上させるために、ブロックデータ
の終端部分に誤り訂正符号や、誤り検出符号（ＥＣＣ、
ＣＲＣ等）の検査情報を付け加えることも行われてい
る。データ書き込み時には、そのブロックデータに対す
る検査情報を作成しておき、データ読み出し時に検査情
報をチェックしてデータの誤り発生の有無を調べること
で、誤ったデータを要求元（ホスト等）に送らずに済
み、データの信頼性を向上させている。

【０００８】この検査情報は、工場出荷時にもブロック
識別情報とダミーデータに対して作成され付加される。
検査情報の作成にはフィードバックレジスタと呼ばれる
レジスタが使用されることが多い。この時、データ書き
込み速度に応じて検査情報が作成されないと、ディスク
の回転待ちが発生し、書き込み処理が遅くなってしま
う。このため、検査情報作成用のフィードバックレジス
タをディスク２の回転待ちを発生させないような速度で
動作させている。工場出荷時の識別情報とダミーデータ
の書き込みにも同じ方法が適用されていて、識別情報は
ブロック毎に異なるが（変化データであるが）、ダミー
データは同じデータ（固定データ）である。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】前記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 (1) ：前記検査情報は工場出荷時にもブロックの識別情
報と、ダミーデータに対して作成され付加される。この
時、ダミーデータの書き込み速度に応じて検査情報が作
成されないと、ディスクの回転待ちが発生し、書き込み
処理が遅くなってしまう。

【００１０】(2) ：ダミーデータの書き込み速度に応じ
て検査情報が作成されないと、ディスクの回転待ちが発
生し、書き込み処理が遅くなってしまうため、検査情報
作成用のフィードバックレジスタをディスクの回転待ち
を発生させないような速度で動作させていた。従って、
フィードバックレジスタの制御が難しかった。

【００１１】(3) ：一般的に、識別情報の長さよりダミ
ーデータの長さの方が長い。このため、ブロックの後半
の長い同じダミーデータに対して、ブロック毎に検査情
報を繰り返し作成するという無駄を行っていた。すなわ
ち、検査情報の作成処理の効率が悪かった。

【００１２】本発明は、このような従来の課題を解決
し、変化データ及び固定データからなる一定長のブロッ
クデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査情
報を効率良く、かつ短時間で作成できるようにすること
を目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。本発明は前記の目的を達成するため、次のよ
うに構成した。 (1) ：データ内容が変化する変化データ及びデータ内容
が固定の固定データからなる一定長のブロックデータに
対して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を作成す
る検査情報作成部（検査情報作成手段）４１と、検査情
報作成部４１が作成した検査情報を前記ブロックデータ
に付加し、その検査情報付きブロックデータをディスク
（記憶媒体）２Ａに書き込むデータ書き込み部（データ
書き込み手段）４２と、メモリ４０を備えたディスク装
置において、検査情報作成部４１は、変化データが全て
０で固定データだけからなるブロックデータに対する検
査情報、及び固定データが全て０で変化データの或る１
ビットだけが１のブロックデータに対する検査情報を予
め作成してメモリ４０に格納しておく検査情報準備手段
と、変化データ及び固定データからなる処理対象のブロ
ックデータに対して検査情報を作成する際、メモリ４０
を検索して変化データが全て０で固定データだけからな
るブロックデータに対する検査情報を求めると共に、前
記変化データの各ビットを調べて１のビットが有れば、
メモリを検索してそれに対応する検査情報を求め、その
検査情報を前記変化データが全て０で固定データだけか
らなるブロックデータに対する検査情報に加算すること
で、前記処理対象のブロックデータに対する検査情報を
作成する検査情報作成処理手段を備えた。

【００１４】(2) ：データ内容が変化する変化データ及
びデータ内容が固定の固定データからなる一定長のブロ
ックデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査
情報を作成する検査情報作成部（検査情報作成手段）４
１と、前記検査情報作成部４１が作成した検査情報を前
記ブロックデータに付加し、その検査情報付きブロック
データをディスク（記憶媒体）２Ａに書き込むデータ書
き込み部（データ書き込み手段）４２と、メモリ４０を
備えたディスク装置において、前記検査情報作成部４１
は、変化データが全て０で固定データだけからなるブロ
ックデータに対する検査情報、及び固定データが全て０
で変化データの或る１ビットだけが１のブロックデータ
に対する検査情報を予め作成してメモリ４０に格納して
おき、変化データ及び固定データからなる処理対象のブ
ロックデータに対して検査情報を作成する際、前記メモ
リ４０を検索して変化データが全て０で固定データだけ
からなるブロックデータに対する検査情報を求めると共
に、前記変化データの各ビットを調べて１のビットが有
れば、メモリを検索してそれに対応する検査情報を求
め、その検査情報を前記変化データが全て０で固定デー
タだけからなるブロックデータに対する検査情報に加算
することで、前記処理対象のブロックデータに対する検
査情報を作成するように構成した。

【００１５】(3) ：データ内容が変化する変化データ及
びデータ内容が固定の固定データからなる一定長のブロ
ックデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査
情報を作成する検査情報作成部（検査情報作成手段）４
１と、検査情報作成部４１が作成した検査情報を前記ブ
ロックデータに付加し、その検査情報付きブロックデー
タをディスク（記憶媒体）２Ａに書き込むデータ書き込
み部（データ書き込み手段）４２と、メモリ４０を備え
たディスク装置において、検査情報処理部４１は、変化
データが全て０で固定データだけからなるブロックデー
タに対する検査情報、及び固定データが全て０で変化デ
ータの或る１ビットだけが１のブロックデータに対する
検査情報を予め作成してメモリ４０に格納しておき、変
化データ及び固定データからなる処理対象のブロックデ
ータに対する検査情報を作成する際、そのブロックデー
タの変化データと、前記ブロックデータより１つ前に処
理したブロックデータの変化データを抽出して両者の差
異を求め、前記差異の変化データに対して各ビットを調
べ、１のビットが有れば、前記メモリ４０を検索してそ
れに対応する検査情報を求め、その検査情報を前記処理
対象のブロックデータより１つ前に処理したブロックデ
ータに対する検査情報に加算することで、前記処理対象
のブロックデータに対する検査情報を作成するように構
成した。

【００１６】(4) ：データ内容が変化する変化データ及
びデータ内容が固定の固定データからなる一定長のブロ
ックデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査
情報を作成する検査情報作成部（検査情報作成手段）４
１と、検査情報作成部４１が作成した検査情報を前記ブ
ロックデータに付加し、その検査情報付きブロックデー
タをディスク（記憶媒体）２Ａに書き込むデータ書き込
み部（データ書き込み手段）４２と、メモリ４０を備え
たディスク装置において、検査情報作成部４１は、変化
データが全て０で固定データだけからなるブロックデー
タに対する検査情報、及び固定データが全て０で変化デ
ータを複数ビット単位の複数の領域に分割し、或る１つ
の領域だけがビット１を含む非零の領域で、残りの領域
を全て０としておき、前記非零の領域の全てのビットパ
ターンに対する検査情報を予め作成してメモリ４０に格
納しておき、変化データ及び固定データからなる処理対
象のブロックデータに対する検査情報を作成する際、前
記メモリ４０を検索して変化データが全て０で固定デー
タだけからなるブロックデータに対する検査情報を求め
ると共に、前記変化データを複数ビット単位の複数の領
域に分割し、前記各領域を調べて、少なくともビット１
が存在する非零の領域が有れば、前記メモリを検索して
その領域のビットパターンに対応する検査情報を求め、
その検査情報を前記変化データが全て０で固定データだ
けからなるブロックデータに対する検査情報に加算する
ことで、前記処理対象のブロックデータに対する検査情
報を作成するように構成した。

【００１７】(5) ：データ内容が変化する変化データ及
びデータ内容が固定の固定データからなる一定長のブロ
ックデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査
情報を作成する検査情報作成部（検査情報作成手段）４
１と、検査情報作成部４１が作成した検査情報を前記ブ
ロックデータに付加し、その検査情報付きブロックデー
タをディスク（記憶媒体）２Ａに書き込むデータ書き込
み部（データ書き込み手段）４２と、メモリ４０を備え
たディスク装置において、検査情報作成部４１は、変化
データが全て０で固定データだけからなるブロックデー
タに対する検査情報、及び固定データが全て０で変化デ
ータを複数ビット単位の複数の領域に分割し、或る１つ
の領域だけがビット１を含む非零の領域で、残りの領域
を全て０としておき、前記非零の領域の全てのビットパ
ターンに対する検査情報を予め作成してメモリ４０に格
納しておき、変化データ及び固定データからなる処理対
象のブロックデータに対する検査情報を作成する際、そ
のブロックデータの変化データと、前記ブロックデータ
より１つ前に処理したブロックデータの変化データを抽
出して両者の差異を求め、前記差異の変化データを複数
ビット単位の複数の領域に分割し、前記各領域を調べ
て、少なくともビット１が存在する非零の領域が有れ
ば、前記メモリ４０を検索してその領域のビットパター
ンに対応する検査情報を求め、その検査情報を前記処理
対象のブロックデータより１つ前に処理したブロックデ
ータに対する検査情報に加算することで、前記処理対象
のブロックデータに対する検査情報を作成するように構
成した。

【００１８】（作用）前記構成に基づく本発明の作用
を、図１に基づいて説明する。：前記(1) 、(2) の作用前記検査情報作成部４１は、変化データが全て０で固定
データだけからなるブロックデータに対する検査情報、
及び固定データが全て０で変化データの或る１ビットだ
けが１のブロックデータに対する検査情報を予め作成し
てメモリ４０に格納しておく。

【００１９】そして、前記検査情報作成部４１は、変化
データ及び固定データからなる処理対象のブロックデー
タに対して検査情報を作成する際、メモリ４０を検索し
て変化データが全て０で固定データだけからなるブロッ
クデータに対する検査情報を求める。

【００２０】次に、前記変化データの各ビットを調べて
１のビットが有れば、メモリ４０を検索してそれに対応
する検査情報を求め、その検査情報を前記変化データが
全て０で固定データだけからなるブロックデータに対す
る検査情報に加算する。このようにして、前記処理対象
のブロックデータに対する検査情報を作成する。

【００２１】前記のようにすれば、変化データ及び固定
データからなる一定長のブロックデータに対して誤り訂
正／検出等を行うための検査情報を効率良く作成するこ
とができる。

【００２２】：前記(3) の作用検査情報作成部４１は、変化データが全て０で固定デー
タだけからなるブロックデータに対する検査情報、及び
固定データが全て０で変化データの或る１ビットだけが
１のブロックデータに対する検査情報を予め作成してメ
モリ４０に格納しておく。

【００２３】そして、検査情報作成部４１は、変化デー
タ及び固定データからなる処理対象のブロックデータに
対する検査情報を作成する際、そのブロックデータの変
化データと、前記ブロックデータより１つ前に処理した
ブロックデータの変化データを抽出して両者の差異を求
め、前記差異の変化データに対して各ビットを調べ、１
のビットが有れば、メモリ４０を検索してそれに対応す
る検査情報を求め、その検査情報を前記処理対象のブロ
ックデータより１つ前に処理したブロックデータに対す
る検査情報に加算する。このようにして、前記処理対象
のブロックデータに対する検査情報を作成する。

【００２４】前記のようにすれば、特に、変化データが
昇順、或いは降順で変化するブロックデータに対して、
検査情報が効率良く、かつ短時間で作成できる。：前記(4) の作用検査情報作成部４１は、変化データが全て０で固定デー
タだけからなるブロックデータに対する検査情報、及び
固定データが全て０で変化データを複数ビット単位の複
数の領域に分割し、或る１つの領域だけがビット１を含
む非零の領域で、残りの領域を全て０としておき、前記
非零の領域の全てのビットパターンに対する検査情報を
予め作成してメモリ４０に格納しておく。

【００２５】そして、検査情報作成部４１は、変化デー
タ及び固定データからなる処理対象のブロックデータに
対する検査情報を作成する際、メモリ４０を検索して変
化データが全て０で固定データだけからなるブロックデ
ータに対する検査情報を求めると共に、前記変化データ
を複数ビット単位の複数の領域に分割し、前記各領域を
調べて、少なくともビット１が存在する非零の領域が有
れば、前記メモリを検索してその領域のビットパターン
に対応する検査情報を求め、その検査情報を前記変化デ
ータが全て０で固定データだけからなるブロックデータ
に対する検査情報に加算する。このようにして、前記処
理対象のブロックデータに対する検査情報を作成する。

【００２６】前記のようにすれば、各領域毎に検査情報
を求めて加算するだけの簡単な処理で、効率良く検査情
報を作成することができる。：前記(5) の作用検査情報作成部４１は、変化データが全て０で固定デー
タだけからなるブロックデータに対する検査情報、及び
固定データが全て０で変化データを複数ビット単位の複
数の領域に分割し、或る１つの領域だけがビット１を含
む非零の領域で、残りの領域を全て０としておき、前記
非零の領域の全てのビットパターンに対する検査情報を
予め作成してメモリ４０に格納しておく。

【００２７】そして、検査情報作成部４１は、変化デー
タ及び固定データからなる処理対象のブロックデータに
対する検査情報を作成する際、そのブロックデータの変
化データと、前記ブロックデータより１つ前に処理した
ブロックデータの変化データを抽出して両者の差異を求
め、前記差異の変化データを複数ビット単位の複数の領
域に分割し、前記各領域を調べて、少なくともビット１
が存在する非零の領域が有れば、前記メモリ４０を検索
してその領域のビットパターンに対応する検査情報を求
め、その検査情報を前記処理対象のブロックデータより
１つ前に処理したブロックデータに対する検査情報に加
算する。このようにして、前記処理対象のブロックデー
タに対する検査情報を作成する。

【００２８】前記のようにすれば、特に、変化データが
昇順、或いは降順で変化するブロックデータに対して、
各領域毎に検査情報を求めて加算するだけの簡単な処理
で、効率良く検査情報を作成することができる。

【００２９】

【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態を図面に
基づいて詳細に説明する。なお、以下の例は、磁気ディ
スク装置に適用した例である。 §１：磁気ディスク装置の説明・・・図２参照図２は磁気ディスク装置のブロック図である。

【００３０】図示のように、磁気ディスク装置は、ディ
スク制御部１０と、リード／ライト回路１１と、ポジシ
ョン回路１２と、ＤＥ（ディスクエンクロージャ）１で
構成されている。そして、ディスク制御部１０には、Ｍ
ＰＵ１３、ＲＡＭ１４、ＥＥＰＲＯＭ１５、ハードディ
スクコントローラ（以下「ＨＤＣ」と記す）１７等が設
けてあり、リード／ライト回路１１には、符号化／復号
化回路（ＤＥＣ／ＥＮＣ）２４、復調回路（ＭＯＤ）２
５、バイアス電流制御回路（ＢＩＡＳＣＯＮＴ）２６
等が設けてある。

【００３１】また、ポジション回路１２には、コミュニ
ケーションＩＣ（ＣＯＭＩＣ）１８、ディジタル・シ
グナル・プロセッサ（以下「ＤＳＰ」と記す）１９、サ
ーボ復調回路（サーボＬＳＩ）２３、メモリ２２、ＶＣ
Ｍドライバ（ＶＣＭＤＲＶ）２０、ＤＣＭドライバ
（ＤＣＭＤＲＶ）２１等が設けてある。更に、ＤＥ１
には、ボイスコイルモータ（以下「ＶＣＭ」と記す）２
８、スピンドルモータ（ＤＣＭ：直流モータ）２９、サ
ーボヘッドＩＣ３０、データヘッドＩＣ３２、サーボヘ
ッド３１、データヘッド３３−１〜３３−ｎが設けてあ
る。

【００３２】サーボヘッド３１は、磁気ディスクのサー
ボ面のサーボ情報を読み出すものであり、データヘッド
３３−１〜３３−ｎは、磁気ディスクのデータ面のデー
タ、及びサーボ情報を読み出すものである。ＶＣＭ２８
はヘッドアクチュエータを駆動するものであり、その一
部にはＶＣＭコイルが設けてある。スピンドルモータ
（ＤＣＭ）２９は、スピンドル機構の回転駆動源であ
り、磁気ディスクを回転駆動するものである。

【００３３】サーボヘッドＩＣ３０は、サーボヘッド３
１を駆動するものである。データヘッドＩＣ３２は、デ
ータヘッド３３−１〜３３−ｎを駆動するものである。
この場合、データヘッドＩＣ３２は、ヘッドセレクト信
号により、リードヘッドとライトヘッドを選択して駆動
する。

【００３４】ＤＳＰ１９は、ＭＰＵ１３からのシーク指
示に応じて、ヘッドの移動量を計算し、ＶＣＭドライバ
２０を介してＶＣＭ２８のＶＣＭコイルをサーボ制御す
ると共に、ＤＣＭドライバ２１を介してスピンドルモー
タ２９を定速回転制御する。メモリ２２は、ＤＳＰ１９
がアクセスするメモリであり、該ＤＳＰ１９が制御に必
要なデータを格納するものである。サーボ復調回路（サ
ーボＬＳＩ）２３は、サーボヘッド３１から読み出され
たサーボ信号を復調して、ＤＳＰ１９へ出力するもので
ある。

【００３５】ＶＣＭドライバ２０は、ＤＳＰ１９の指令
量に応じて、ＶＣＭ２８のＶＣＭコイルを駆動するもの
である。コミュニケーションＩＣ（ＣＯＭＩＣ）１８
は、ＤＳＰ１９と、ＭＰＵ１３との間の情報通信等を行
うものである。復調回路（ＭＯＤ）２５は、データヘッ
ドＩＣ３２からのリードデータを復調して、ビタビ（VI
TERBI ）符号に変換し、符号化／復号化回路２４へ出力
すると共に、シリンダサーボ信号（ＳＹＬ．ＳＥＲＶ
Ｏ）をＤＳＰ１９へ出力するものである。

【００３６】符号化／復号化回路２４は、復調回路２５
から送られたビタビ（VITERBI ）符号を復号化して、Ｈ
ＤＣ１７へ出力すると共に、書き込みデータをビタビ符
号に変換してデータヘッドＩＣ３２へ出力するものであ
る。バイアス電流制御回路２６は、コミュニケーション
ＩＣ１８の指示により、データヘッドＩＣ３２を介し
て、データヘッド３３−１〜３３−ｎに流れるバイアス
電流を制御するものである。

【００３７】ＭＰＵ１３は、インターフェース用のプロ
セッサであり、各種のインターフェース制御を行うもの
である。また、ＭＰＵ１３は、ＨＤＣ１７を介して上位
装置（ホスト）から受信したコマンドに基づいて、ディ
スクに書き込むブロックデータに対して検査情報を作成
するものである。この場合、ＭＰＵ１３はＲＡＭ１４を
ワーク用のメモリとして検査情報の作成処理を行う。

【００３８】ＥＥＰＲＯＭ１５は、ＭＰＵ１３がアクセ
スする不揮発性のメモリであり、ＭＰＵ１３が任意にデ
ータを書き込めるようになっている。ＲＡＭ１４は、Ｍ
ＰＵ１３がアクセスする揮発性のメモリであり、ワーク
用として使用するものである。ＨＤＣ１７は、ＳＣＳＩ
−２のインターフェースを有し、上位装置（ホスト）の
発行したコマンドの受信処理、コマンドの解析処理、或
いはデータの送受信処理等を行うものである。

【００３９】ところで、以下に説明する検査情報の作成
処理は、上位装置（ホスト）からのコマンドに基づいて
前記ＭＰＵ１３が行う処理であり、ＭＰＵ１３が作成し
た検査情報は、処理対象のブロックデータに付加され
る。そして、検査情報付きのブロックデータは、ＭＰＵ
１３→ＨＤＣ１７→符号化／復号化回路（ＤＥＣ／ＥＮ
Ｃ）２４→データヘッドＩＣ３２の経路で送られ、デー
タヘッド３３−１〜３３−ｎのいずれかのデータヘッド
により磁気ディスクに順次書き込まれる。なお、前記検
査情報作成部４１はＭＰＵ１３に対応し、データ書き込
み部４２は、前記リード／ライト回路１１等に対応す
る。

【００４０】§２：検査情報作成処理の基本的な説明・
・・図３参照図３はブロックデータの説明図である。前記のような磁
気ディスク装置を工場から出荷する際には、前記磁気デ
ィスクにデータをアクセスするための情報を書き込んで
から出荷する。この場合、一定長のアクセス単位である
ブロックのデータ（ブロックデータ）を磁気ディスク上
に予め書き込んでおくフォーマット処理が行われてい
る。

【００４１】また、前記フォーマット処理を行う場合に
は、前記ブロックの識別等を行うために、ブロックデー
タに特定の情報を付加することも行われる。この場合の
ブロックデータの例をに示す。この例の場合、１ブロ
ックデータはブロック識別情報の領域とユーザデータの
領域とで構成されている。

【００４２】すなわち、１ブロックデータは、ブロック
データの前半部分にブロック識別情報を持っている。こ
の場合、前記識別情報として、そのブロックのシリンダ
番号、トラック内の順番を示すセクタ番号等を書き込
む。また、ブロックデータの後半部分は、ユーザのデー
タを書き込むための領域であり、工場出荷時には、各ブ
ロックに同じダミーデータを書き込む。

【００４３】更に、に示したように、ブロック内のデ
ータの信頼性を向上させるために、ブロックデータの終
端部分に誤り訂正符号や誤り検出符号等の検査情報（Ｅ
ＣＣ、ＣＲＣ等の情報）を付け加えることも行われてい
る。そして、データ書き込み時にそのブロックデータに
対する検査情報を作成しておき、データ読み出し時に検
査情報をチェックしてデータの誤り発生の有無を調べる
ことで、誤ったデータを要求元（上位装置）に送らずに
済み、データの信頼性を向上させている。

【００４４】この検査情報は、工場出荷時にもブロック
識別情報とダミーデータに対して作成され付加される。
工場出荷時の識別情報とダミーデータの書き込みにも同
じ方法が適用されていて、識別情報はブロック毎に異な
るが、ダミーデータは同じである。そこで、のよう
に、１ブロックを、内容が変化する変化データと内容が
変化しない固定データ（ダミーデータ）とに分け、これ
らの一定長のブロックデータに対し検査情報を作成す
る。そして、検査情報付きのブロックデータを順次磁気
ディスクに書き込む。

【００４５】§３：検査情報の説明前記誤り訂正符号や誤り検出符号等の検査情報を作成す
る場合、一般的には、巡回符号と呼ばれる符号を用いて
おり、対象となるデータ（入力データ）を多項式Ｖ
（ｘ）によって表現し、そのデータ多項式Ｖ（ｘ）を生
成多項式と呼ばれる多項式Ｇ（ｘ）で除算して｛Ｖ
（ｘ）／Ｇ（ｘ）｝、その剰余を多項式で表現した剰余
多項式Ｒ（ｘ）を検査情報とすることが行われる。すな
わち、Ｖ（ｘ）／Ｇ（ｘ）を計算し、その剰余を多項式
で表現した剰余多項式Ｒ（ｘ）を検査情報とすることが
行われている。

【００４６】一般に、Ｖ（ｘ）は、データの各ビット
（１又は０）を係数とし、ｘを変数とする多項式で表現
されるから、例えば、データが「１１１０１０」の場
合、前記データを多項式で表現すると、Ｖ（ｘ）＝１・
ｘ⁵＋１・ｘ⁴＋１・ｘ³＋０・ｘ²＋１・ｘ＋０＝ｘ
⁵＋ｘ⁴＋ｘ³＋ｘとなる。この時、生成多項式Ｇ
（ｘ）が、Ｇ（ｘ）＝ｘ²＋１であるとすると、Ｖ
（ｘ）／Ｇ（ｘ）の商は、ｘ³＋ｘ ²＋１となり、その
剰余はｘ＋１となる。すなわち、剰余多項式Ｒ（ｘ）＝
ｘ＋１となり、検査情報が得られる。

【００４７】ところで、前記データ多項式Ｖ（ｘ）は、
複数の多項式の和として、すなわち、Ｖ（ｘ）＝Ｖ１
（ｘ）＋Ｖ２（ｘ）＋Ｖ３（ｘ）＋・・・Ｖｎ（ｘ）の
ように表現できるものである。そこで、データ多項式Ｖ
（ｘ）を複数の多項式で表現した場合の各多項式Ｖ１
（ｘ）、Ｖ２（ｘ）、Ｖ３（ｘ）、・・・Ｖｎ（ｘ）
を、それぞれ生成多項式Ｇ（ｘ）で除算し、求められた
各剰余多項式Ｒ１（ｘ）、Ｒ２（ｘ）、Ｒ３（ｘ）、・
・・Ｒｎ（ｘ）とする。

【００４８】つまり、Ｖ１（ｘ）／Ｇ（ｘ）の剰余多項
式をＲ１（ｘ）とし、Ｖ２（ｘ）／Ｇ（ｘ）の剰余多項
式をＲ２（ｘ）とし、Ｖ３（ｘ）／Ｇ（ｘ）の剰余多項
式をＲ３（ｘ）とし、以下同様にしてＶｎ（ｘ）／Ｇ
（ｘ）の剰余多項式をＲｎ（ｘ）とする。

【００４９】そして、前記各剰余多項式Ｒ１（ｘ）、Ｒ
２（ｘ）、Ｒ３（ｘ）、・・・Ｒｎ（ｘ）を加算した多
項式Ｈ（ｘ）＝Ｒ１（ｘ）＋Ｒ２（ｘ）＋Ｒ３（ｘ）＋
・・・Ｒｎ（ｘ）を求めると、この多項式Ｈ（ｘ）は、
前記剰余多項式Ｒ（ｘ）と等しくなる、すなわち、Ｈ
（ｘ）＝Ｒ（ｘ）となるものである。なお、前記の点に
関しての詳細な説明は、例えば、「岩波講座・情報科
学」、情報と符号の理論、第４巻、１９８２年８月１０
日発行、第１４３頁〜第１７６頁、第７章「巡回符号」
の項）を参照されたい。

【００５０】前記のように、Ｖ（ｘ）をＧ（ｘ）で割っ
た時の剰余多項式Ｒ（ｘ）を求める際に、Ｖ（ｘ）を幾
つかの多項式に分解し、それぞれの多項式をＧ（ｘ）で
割って求めた剰余多項式をすべて加えると、Ｖ（ｘ）を
Ｇ（ｘ）で割った時の剰余多項式Ｒ（ｘ）に等しくな
る。このことを利用して、検査情報を次のようにして作
成する。 §４：検査情報作成処理例１の処理概要の説明検査情報作成処理例１では、検査情報を次のようにして
作成する。

【００５１】(1) ：１つのブロックデータをダミーデー
タのような内容の変化しない固定データと、識別情報の
ように内容の変化する変化データとに分離する。そし
て、データブロックの変化データが全て０で、固定デー
タだけが存在するデータに対して検査情報Ｐ₀を予め作
成しＲＡＭ１４に格納しておく。

【００５２】(2) ：次に固定データが全て０で、変化デ
ータの一部が１（ｉ番目のビットのみ１）で残り全てが
０であるようなブロックデータに対して検査情報Ｐ
_i（ｉ＝１，２，３・・・ｎ）を作成し、ＲＡＭ１４に
格納しておく。

【００５３】すなわち、前記検査情報Ｐ_iは、変化デー
タの全てのパターンを尽くすのに必要な数だけ作成して
ＲＡＭ１４へ格納しておく。例えば、変化データが８ビ
ットであり、１ビット単位に分割して、或る１ビットだ
けが１で残りの７ビットが全て０であるパターンの場
合、検査情報Ｐ_iは８個作成しＲＡＭ１４に格納してお
く。

【００５４】(3) ：実際の磁気ディスクへの書き込み用
ブロックデータ（処理対象のブロックデータ）に対して
検査情報を作成する場合、先ず、ＲＡＭ１４を検索して
固定データに対する検査情報Ｐ₀を求める。次に変化デ
ータの各ビットをチェックして１のビットが有れば、Ｒ
ＡＭ１４を検索して前記１のビットに対応する検査情報
Ｐ_iを求めて前記検査情報Ｐ₀に加算する。このように
して最終的に得られた結果をデータブロックに対する検
査情報とする。以上のような処理を行うことで、固定デ
ータと変化データからなるデータに対して無駄無く検査
情報を作成することができる。

【００５５】§５：準備処理例１の説明・・・図４、図
５参照図４は準備処理例１のフローチャート、図５は準備処理
例１の説明図である。以下、図４、図５に基づいて、後
述する検査情報作成処理例１、及び２に対する準備処理
（これを準備処理例１とする）を説明する。なお、図４
のＳ１〜Ｓ５は各処理ステップを示す。また、変化デー
タは８ビットのデータであるとする。

【００５６】(1) ：フローチャートによる処理の説明・
・・図４参照この例では、１ブロックデータは、８ビットの変化デー
タ（識別情報）と、ｎビット（ｎ：任意の整数）の固定
データ（ダミーデータ）からなる一定長のブロックデー
タで構成されており、この１ブロックデータに作成した
検査情報を付加して磁気ディスクに書き込むものとす
る。この場合、固定データは、ダミーデータなのでデー
タ内容（データパターン、或いはデータのビットパター
ン）が固定（全て同じ）である。

【００５７】以下に説明する準備処理は、前記ＭＰＵ１
３がＲＡＭ１４をワーク用メモリとして使用することで
行う準備処理である。この準備処理では、ＭＰＵ１３
は、上位装置（ホスト）から受信したコマンド及びデー
タを基に、変化データのビットパターンを作成し、前記
各ビットパターン毎に変化データと固定データからなる
ブロックデータのパターンを作成しＲＡＭ１４に格納し
ておく。その後、ＭＰＵ１３は前記ＲＡＭ１４内のブロ
ックデータの各ビットパターンを基に検査情報を次のよ
うにして作成する。

【００５８】先ず、ＭＰＵ１３は、変化データが全て０
で固定データだけからなるブロックデータに対して検査
情報Ｐ₀を作成しＲＡＭ１４に格納する（Ｓ１）。次
に、ＭＰＵ１３は、パラメータｉを初期化してｉを１に
する。すなわち、検査情報Ｐ_iのパラメータｉの値を１
にする（ｉ←１）（Ｓ２）。そして、変化データのｉビ
ット目（１≦ｉ≦８）だけが１で、残りの変化データと
固定データが全て０であるブロックデータに対して検査
情報Ｐ_iを作成し、前記検査情報Ｐ_iをＲＡＭ１４に格
納する（Ｓ３）。

【００５９】その後、ＭＰＵ１３は、パラメータｉをイ
ンクリメント（ｉ←ｉ＋１）し（Ｓ４）、ｉ＞８の条件
を満たしているか否かをチェックする（Ｓ５）。その結
果、前記条件を満たしていない場合は、再び、前記Ｓ３
の処理を繰り返して行う。そして、前記Ｓ５の処理で前
記条件を満たしたら、準備処理を終了する。このように
して準備処理が終了すると、ＲＡＭ１４には、検査情報
Ｐ₀〜Ｐ₈が格納された状態となる。その後、ブロック
データの書き込み時には、この検査情報を使用して各ブ
ロックの検査情報を作成する。

【００６０】(2) ：具体例による準備処理例１の説明・
・・図５参照前記準備処理例１の具体例を図５に基づいて説明する。
前記のようにしてＭＰＵ１３の処理によりＲＡＭ１４に
は図示のブロックデータの各ビットパターンが格納され
ており、これらの各ブロックデータのビットパターンに
対して検査情報を作成して再びＲＡＭ１４に格納する。

【００６１】この場合、ＲＡＭ１４に格納された各ブロ
ックデータのビットパターンは図示の通りである。すな
わち、変化データが全て０で固定データがｄ₁ｄ₂・・
・ｄ _nのブロックデータと、変化データが１０００００
００で固定データが全て０のブロックデータと、変化デ
ータが０１００００００で固定データが全て０のブロッ
クデータと、変化データが００１０００００で固定デー
タが全て０のブロックデータと、変化データが０００１
００００で固定データが全て０のブロックデータと、変
化データが００００１０００で固定データが全て０のブ
ロックデータと、変化データが０００００１００で固定
データが全て０のブロックデータと、変化データが００
００００１０で固定データが全て０のブロックデータ
と、変化データが０００００００１で固定データが全て
０のブロックデータ等の各ブロックデータのビットパタ
ーンである。

【００６２】このような状態でＭＰＵ１３は、前記各ブ
ロックデータに対する検査情報を作成しＲＡＭ１４に格
納する。この場合、変化データが全て０で固定データが
ｄ₁ｄ₂・・・ｄ_nのブロックデータに対する検査情報
をＰ₀とし、変化データが１０００００００で固定デー
タが全て０のブロックデータに対する検査情報をＰ₁と
し、変化データが０１００００００で固定データが全て
０のブロックデータに対する検査情報をＰ₂とし、変化
データが００１０００００で固定データが全て０のブロ
ックデータに対する検査情報をＰ₃とし、変化データが
０００１００００で固定データが全て０のブロックデー
タに対する検査情報をＰ₄とし、変化データが００００
１０００で固定データが全て０のブロックデータに対す
る検査情報をＰ₅とし、変化データが０００００１００
で固定データが全て０のブロックデータに対する検査情
報をＰ₆とし、変化データが００００００１０で固定デ
ータが全て０のブロックデータに対する検査情報をＰ₇
とし、変化データが０００００００１で固定データが全
て０のブロックデータに対する検査情報をＰ₈として、
各ブロックデータの検査情報を作成し、それぞれＲＡＭ
１４に格納しておく。

【００６３】§６：検査情報作成処理例１の説明・・・
図６、図７参照図６は検査情報作成処理例１のフローチャート、図７は
検査情報作成処理例１の説明図である。以下、図６、図
７に基づいて検査情報作成処理例１を説明する。なお、
図６のＳ１１〜Ｓ１９は各処理ステップを示す。

【００６４】(1) ：フローチャートによる処理の説明・
・・図６参照この処理は、ＭＰＵ１３が前記準備処理例１の処理によ
って作成したＲＡＭ１４上のデータを利用することで、
磁気ディスクへの書き込み用のブロックデータ（処理対
象のブロックデータ）に対して検査情報を作成する処理
である。この場合、ＭＰＵ１３は上位装置（ホスト）か
らのコマンドに基づいて、指定されたブロックデータに
対し検査情報の作成処理を行う。

【００６５】処理が開始されると、ＭＰＵ１３は次のよ
うにして検査情報を作成する。先ず、ＭＰＵ１３は、Ｒ
ＡＭ１４を検索して変化データが全て０で固定データだ
けからなるブロックデータに対する検査情報、すなわ
ち、固定データに対する検査情報Ｐ₀を求め、この検査
情報Ｐ₀を検査情報Ｐとする（Ｐ←Ｐ₀）（Ｓ１１）。
次に、処理対象のブロックデータから変化データを抽出
し、この変化データをＤとし（Ｄ←変化データ）（Ｓ１
２）、パラメータｉを１に設定する（ｉ←１）（Ｓ１
３）。

【００６６】そしてＭＰＵ１３は前記Ｄのｉビット目
（１≦ｉ≦８）が１か否かをチェックする（Ｓ１４）。
その結果、Ｄのｉビット目が０であれば何もしないが、
Ｄのｉビット目が１ならばＲＡＭ１４を検索して、その
ビットに対応する検査情報Ｐ_iを求め、その検査情報Ｐ
_iを前記検査情報Ｐに加算し、それを新たな検査情報Ｐ
（Ｐ←Ｐ＋Ｐ_i）とする（Ｓ１５）。

【００６７】次に、ＭＰＵ１３は、前記パラメータｉを
インクリメント（ｉ←ｉ＋１）し（Ｓ１６）、ｉ＞８の
条件を満たしたか否かを判断する（Ｓ１７）。その結
果、前記条件を満たしていない場合は、前記Ｓ１４の処
理から繰り返して行う。このようにして、前記ｉ＞８の
条件を満たしたら、検査情報Ｐを対象ブロックの検査情
報とする（Ｓ１８）。その後、引き続き次のブロックの
検査情報を作成する場合は（Ｓ１９）、前記Ｓ１１の処
理から繰り返して行う。

【００６８】(2) ：具体例による検査情報作成処理例１
の説明・・・図７参照例えば、図７のに示したように、変化データＤが「１
０１００００１」（８ビット）で、固定データがｄ₁、
ｄ₂・・・ｄ_nのブロックデータに対する検査情報は次
のようにして作成する。

【００６９】先ず、ＭＰＵ１３は、のように、変化デ
ータＤが全て０で固定データのみｄ ₁ｄ₂・・・ｄ_nの
ブロックデータに対する検査情報Ｐ₀を、ＲＡＭ１４を
検索して求め、この検査情報Ｐ₀を検査情報Ｐとする
（Ｐ←Ｐ₀）。次に、のように、変化データＤの１ビ
ット目だけが１で、残りの変化データＤ、及び固定デー
タが全て０であるブロックデータに対する検査情報Ｐ₁
をＲＡＭ１４を検索して求め、前記検査情報Ｐに加算す
る（Ｐ←Ｐ₀＋Ｐ₁）。

【００７０】次に、のように、変化データＤの３ビッ
ト目だけが１で、残りの変化データＤ、及び固定データ
が全て０であるブロックデータに対する検査情報Ｐ₃を
ＲＡＭ１４を検索して求め、前記検査情報Ｐに加算する
（Ｐ＝Ｐ₀＋Ｐ₁＋Ｐ₃）。次に、のように、変化デ
ータＤの８ビット目だけが１で、残りの変化データＤ、
及び固定データが全て０であるブロックデータに対する
検査情報Ｐ₈をＲＡＭ１４を検索して求め、前記検査情
報Ｐに加算する（Ｐ＝Ｐ₀＋Ｐ₁＋Ｐ₃＋Ｐ₈）。

【００７１】このようにして前記処理対象のブロックデ
ータに対する検査情報Ｐが、Ｐ＝Ｐ ₀＋Ｐ₁＋Ｐ₃＋Ｐ
₈として作成される。なお、作成した検査情報Ｐ＝Ｐ₀
＋Ｐ ₁＋Ｐ₃＋Ｐ₈は、前記処理対象のブロックデータ
に付加され、ＭＰＵ１３の指示により、磁気ディスクに
書き込まれる。

【００７２】§７：検査情報作成処理２の説明・・・図
８、図９参照図８は検査情報作成処理例２のフローチャート、図９は
検査情報作成処理例２の説明図である。以下、図８、図
９に基づいて検査情報作成処理例２を説明する。なお、
図８のＳ２１〜Ｓ３１は各処理ステップを示す。また、
変化データは８ビットとする。

【００７３】(1) ：フローチャートによる処理の説明・
・・図８参照この処理は、ＭＰＵ１３が前記準備処理例１の処理によ
って作成したＲＡＭ１４上のデータを利用して検査情報
を作成する処理である。この場合、ＭＰＵ１３は上位装
置（ホスト）からのコマンドに基づき、指定されたブロ
ックデータに対して検査情報の作成処理を行う。

【００７４】以下の説明では、処理対象のブロックデー
タを今回（ｍ＋１）のブロックデータとし、その変化デ
ータをＤ_m+1とする。また、今回（ｍ＋１）のブロック
データの１つ前に処理したブロックデータを前回（ｍ）
のブロックデータとし、その変化データをＤ_mとする。
更に、今回（ｍ＋１）のブロックデータに対する検査情
報をＰ_m+1、前回（ｍ）のブロックデータに対する検査
情報をＰ_m、変化データＤ_m+1とＤ_mとの差異（Ｄ_m+1
−Ｄ_m）で構成された変化データ（差異の変化データ）
をＤ_f（Ｄ_f＝Ｄ_m+1−Ｄ_m）とする。

【００７５】また、この例では、磁気ディスクへ書き込
むブロックデータ（処理対象のブロックデータ）の変化
データが、昇順の変化データであるとする。すなわち、
今回のブロックデータの変化データは、前回のブロック
データの変化データよりインクリメントされたデータ
（例えば、セクタ番号等は順次インクリメントされたデ
ータである）となっている例である。

【００７６】検査情報作成処理が開始されると、ＭＰＵ
１３は次のようにして検査情報を作成する。先ず、ＭＰ
Ｕ１３は初期化処理を行い、Ｄ_m＝０とする。また、Ｒ
ＡＭ１４を検索して、変化データが全て０で固定データ
だけからなるブロックデータの検査情報Ｐ₀を求め、こ
の検査情報Ｐ₀をＰ_mとする（Ｐ_m←Ｐ₀）（Ｓ２
１）。

【００７７】次に、今回（ｍ＋１）の検査情報Ｐ_m+1を
前回（ｍ）の検査情報Ｐ_mとする（Ｐ_m+1←Ｐ_m）（Ｓ
２２）。なお、前記検査情報Ｐ_mは最初の処理時のみＰ
_m＝Ｐ₀なので、最初はＰ_m+1＝Ｐ₀である。次に、今
回（ｍ＋１）のブロックデータから抽出した変化データ
Ｄ_m+1と前回（ｍ）のブロックデータから抽出した変化
データＤ_mとの差異を求め（各ビット毎の対比によりＤ
_m+1−Ｄ_mの差異を求める）、前記差異のビットで構成
された変化データ（差異の変化データ）をＤ_fとする
（Ｄ_f←Ｄ_m+1−Ｄ_m）（Ｓ２３）。そして、パラメー
タｉを１に設定する（ｉ←１）（Ｓ２４）。

【００７８】その後、ＭＰＵ１３は前記差異の変化デー
タＤ_fのｉビット目（変化データＤ _fが８ビットの場
合、１≦ｉ≦８）が１か否かをチェックする（Ｓ２
５）。その結果、差異の変化データＤ_fのｉビット目が
０であれば何もしないが、Ｄ_fのｉビット目が１なら
ば、ＲＡＭ１４を検索してそれに対応する検査情報Ｐ_i
を求め、前記検査情報Ｐ_m+1に加算し、それを新たな今
回（ｍ＋１）の検査情報Ｐ_m+1とする（Ｐ_m+1←Ｐ_m+1
＋Ｐ_i）（Ｓ２６）。

【００７９】そしてＭＰＵ１３は、前記パラメータｉを
インクリメント（ｉ←ｉ＋１）し（Ｓ２７）、ｉ＞８の
条件を満たしたか否かを判断する（Ｓ２８）。その結
果、前記条件を満たしていない場合は、前記Ｓ２５の処
理から繰り返して行う。このようにして、前記ｉ＞８の
条件を満たしたら、検査情報Ｐ_m+1を今回（ｍ＋１）の
対象ブロックデータに対する検査情報とする（Ｓ２
９）。なお、この時作成した検査情報Ｐ_m+1は今回（ｍ
＋１）のブロックデータに付加され磁気ディスクに書き
込まれる。

【００８０】その後、次回の処理のため、前記今回（ｍ
＋１）の検査情報Ｐ_m+1を次のブロックデータに対する
処理の前回（ｍ）の検査情報Ｐ_mとしてＲＡＭ１４に格
納しておく（Ｓ３０）。そして、引き続き次のブロック
データの検査情報を作成する場合は（Ｓ３１）、前記Ｓ
２２の処理から繰り返して行う。

【００８１】(2) ：具体例による説明・・・図９参照以下、図９に基づいて具体例による処理を説明する。こ
の例では、前回（ｍ）のブロックデータはのように、
変化データＤ_mが「１０１０００００」（８ビット）
で、固定データがｄ₁ｄ₂・・・ｄ_n（少なくともビッ
ト１が存在する任意ビットの固定データ）であるとす
る。また、今回（ｍ＋１）のブロックデータはのよう
に、変化データＤ_m+1が「１０１００００１」（インク
リメントされたデータ）で、固定データがｄ₁ｄ₂・・
・ｄ_nであるとする。

【００８２】この例では、前回のブロックデータが
で、今回のブロックデータがであるが、最初のブロッ
クデータの検査情報を作成する場合は、前回のブロック
データは無い。そこで、前記のように最初のブロックデ
ータに対する検査情報の作成時には、変化データＤ_m＝
０として処理を行う。

【００８３】例えば、のブロックデータが最初のブロ
ックデータであるとすると、このブロックデータに対す
る検査情報の作成処理は次のようになる。この場合、Ｄ
_m＝０であるから、Ｄ_f＝Ｄ_m+1−Ｄ_m＝１０１０００
００−００００００００＝１０１０００００であり、Ｄ
_f＝Ｄ_m+1となる。従って、前記検査情報作成処理例１
と同じ処理により、に示したブロックデータに対する
検査情報は、Ｐ₀＋Ｐ ₁＋Ｐ₃となる。そして、に示
したブロックデータに対する検査情報の作成処理が終了
した時、その検査情報を次回の処理のために、前回の検
査情報Ｐ_m＝Ｐ ₀＋Ｐ₁＋Ｐ₃としてＲＡＭ１４に格納
しておく。

【００８４】この状態で次のに示したブロックデータ
に対する検査情報の作成処理を行う。先ず、に示した
ブロックデータから変化データＤ_m+1を抽出すると、Ｄ
_m+1＝１０１００００１（インクリメントされたデー
タ）てある。また、前回のブロックデータから抽出した
変化データＤ_mは、Ｄ_m＝１０１０００００である。従
って、Ｄ_m+1とＤ_mとの差異の変化データＤ_fは、Ｄ_f
＝Ｄ_m+1−Ｄ_m＝１０１００００１−１０１０００００
＝０００００００１となる。

【００８５】そこで、前記差異の変化データＤ_f＝００
０００００１に対する検査情報をＲＡＭ１４から検索す
ると、Ｐ₈が得られる。従って、のブロックデータに
対する検査情報Ｐ_m+1は、Ｐ_m+1＝Ｐ_m＋Ｐ₈＝Ｐ₀＋
Ｐ₁＋Ｐ₃＋Ｐ₈となる。

【００８６】なお、前記ブロックデータが降順の場合
（順次ディクリメントする場合）、すなわちのブロッ
クデータが今回のブロックデータであり、のブロック
データが前回のブロックデータであった場合は、前記差
異の変化データＤ_fをＤ_f＝Ｄ _m−Ｄ_m+1とし、検査情
報Ｐ_m+1をＰ_m+1＝Ｐ_m−Ｐ₈とすれば前記処理と同様
にして検査情報が作成可能である。

【００８７】§８：準備処理例２の説明・・・図１０、
図１１参照図１０は準備処理例２のフローチャート、図１１は準備
処理例２の説明図である。以下、図１０、図１１に基づ
いて、後述する検査情報作成処理例３、及び４に対する
準備処理（これを準備処理例２とする）を説明する。な
お、図１０のＳ４１〜Ｓ４５は各処理ステップを示す。
また、変化データは８ビットのデータとし、前記８ビッ
トの変化データをそれぞれ２ビット単位の領域に４分割
するものとする。すなわち、８ビットの変化データを２
ビット単位の４つの領域に分割して処理を行う例であ
る。

【００８８】(1) ：フローチャートによる処理の説明・
・・図１０参照この例では、１ブロックデータが８ビットの変化データ
（識別情報）と、ｎビット（ｎ：任意の整数）の固定デ
ータ（ダミーデータ）からなる一定長のブロックデータ
で構成されており、この１ブロックデータに検査情報を
付加して磁気ディスクに書き込むものとする。この場
合、固定データは、ダミーデータなのでデータ内容（デ
ータパターン、或いはデータのビットパターン）が固定
（全て同じ）である。

【００８９】この準備処理は、前記ＭＰＵ１３がＲＡＭ
１４をワーク用メモリとして使用することで行う処理で
ある。この場合、ＭＰＵ１３は、上位装置（ホスト）か
ら受信したコマンド及びデータを基に、準備処理で使用
する変化データのビットパターンを作成し、前記各ビッ
トパターン毎に変化データと固定データからなるブロッ
クデータのパターンを作成しＲＡＭ１４に格納してお
く。その後、ＭＰＵ１３は前記ＲＡＭ１４内のブロック
データの各ビットパターンを基に検査情報を作成しＲＡ
Ｍ１４に格納する。

【００９０】処理が開始されるとＭＰＵ１３は、変化デ
ータが全て０で固定データだけからなるブロックデータ
に対する検査情報Ｐ₀を作成し、ＲＡＭ１４に格納する
（Ｓ４１）。次に、ＭＰＵ１３は、パラメータｉを初期
化してｉを１とし（ｉ←１）（Ｓ４２）、検査情報Ｐ_ij
（ｉ：領域番号、ｊ：領域内のビットパターン番号）を
作成する（Ｓ４３）。

【００９１】すなわち、固定データが全て０で変化デー
タを複数ビット単位の複数の領域に分割し、或る１つの
領域だけがビット１を含む非零の領域で、残りの領域を
全て０にしておき、前記非零の領域の全てのビットパタ
ーンに対する検査情報Ｐ_ijを作成してＲＡＭ１４に格納
しておく。

【００９２】その後、ＭＰＵ１３は、パラメータｉ（領
域番号）をインクリメント（ｉ←ｉ＋１）し（Ｓ４
４）、ｉ＞４の条件を満たしているか否かを判断する
（Ｓ４５）。その結果、前記条件を満たしていない場合
は、再び、前記Ｓ４３の処理から繰り返して行う。そし
て、前記Ｓ４５の処理で前記条件を満たら、準備処理を
終了する。このようにして準備処理が終了すると、ＲＡ
Ｍ１４には、検査情報Ｐ₀、及びＰ_ij（例えば、１≦ｉ
≦４、０≦ｊ≦３）が格納された状態となり、この検査
情報を使用して各処理対象のブロックデータに対し検査
情報を作成する。

【００９３】(2) ：具体例による処理の説明・・・図１
１参照前記準備処理例２を図１１に基づいて具体的に説明す
る。この例では変化データが８ビットであり、この８ビ
ットの変化データを２ビットずつの４つの領域（領域番
号：ｉ）に分割して、各領域内の全てのビットパターン
（ビットパターン番号：ｊ）について検査情報の作成処
理を行うものとする。従って、この準備処理では、検査
情報Ｐ_ijは、１≦ｉ≦４、０≦ｊ≦３の範囲で変化する
ｉ、ｊについての全ての検査情報を作成する。

【００９４】この準備処理では、ＭＰＵ１３は、先ず、
変化データが全て０で固定データがｄ₁ｄ₂・・・ｄ_n
のブロックデータと、固定データが全て０で変化データ
を複数ビット単位の複数の領域に分割し、或る１つの領
域だけがビット１を含む非零の領域で、残りの領域を全
て０としたブロックデータを作成してＲＡＭ１４に格納
しておく。

【００９５】前記ＲＡＭ１４に格納するブロックデータ
は、図示のように、変化データが全て０で固定データが
ｄ₁ｄ₂・・・ｄ_nのブロックデータ、変化データが全
て０で固定データが全て０のブロックデータ、変化デー
タが０１００００００で固定データが全て０のブロック
データ、変化データが１０００００００で固定データが
全て０のブロックデータ、変化データが１１０００００
０で固定データが全て０のブロックデータ等である。

【００９６】この状態でＭＰＵ１３は、前記各ブロック
データの検査情報Ｐ₀及びＰ_ijを作成しＲＡＭ１４に格
納しておく。この場合、変化データが全て０で固定デー
タがｄ₁、ｄ₂・・・ｄ_nのブロックに対する検査情報
をＰ₀とする。また、固定データが全て０で変化データ
を複数ビット単位の複数の領域に分割し、或る１つの領
域だけがビット１を含む非零の領域で、残りの領域を全
て０としたブロックデータに対する検査情報をＰ_ij（１
≦ｉ≦４、０≦ｊ≦３）として作成しＲＡＭ１４に格納
しておく。

【００９７】その結果、図示のように、変化データが全
て０で固定データだけからなるブロックデータに対する
検査情報はＰ₀となる。また、固定データが全て０で変
化データのｉ＝１の領域以外が全て０のブロックデータ
に対する検査情報は、ｉ＝１の領域内のビットパターン
により次のようになる。すなわち、ｉ＝１の領域のビッ
トパターンが、００であれば検査情報はＰ₁₀、０１であ
れば検査情報はＰ₁₁、１０であればＰ₁₂、１１であれば
Ｐ₁₃となる。

【００９８】更に、固定データが全て０で変化データの
ｉ＝２の領域以外が全て０のブロックデータに対する検
査情報は、ｉ＝２の領域のビットパターンにより次のよ
うになる。すなわち、ｉ＝２の領域のビットパターン
が、００であれば検査情報はＰ ₂₀、０１であれば検査情
報はＰ₂₁、１０であればＰ₂₂、１１であればＰ₂₃とな
る。

【００９９】以下同様にして固定データが全て０で変化
データのｉ＝４の領域以外が全て０のブロックデータに
対する検査情報は、ｉ＝４の領域のビットパターンによ
り次のようになる。すなわち、ｉ＝４の領域のビットパ
ターンが、００であれば検査情報はＰ₄₀、０１であれば
検査情報はＰ₄₁、１０であればＰ₄₂、１１であればＰ ₄₃
となる。

【０１００】§９：検査情報作成処理例３の説明・・・
図１２、図１３参照図１２は検査情報作成処理例３のフローチャート、図１
３は検査情報作成処理例３の説明図である。以下、図１
２、図１３に基づいて検査情報作成処理例３を説明す
る。なお、図１２のＳ５１〜Ｓ５９は各処理ステップを
示す。

【０１０１】(1) ：フローチャートによる処理の説明・
・・図１２参照この処理は、ＭＰＵ１３が前記準備処理例２の処理によ
って作成したＲＡＭ１４上のデータを利用して検査情報
を作成する処理である。この場合、ＭＰＵ１３は上位装
置（ホスト）からのコマンドに基づいて、指定されたブ
ロックデータに対して検査情報の作成処理を行う。

【０１０２】前記処理が開始されると、ＭＰＵ１３は次
のようにして検査情報を作成する。先ず、ＭＰＵ１３
は、ＲＡＭ１４内の情報を検索して変化データが全て０
で固定データだけからなるブロックデータの検査情報Ｐ
₀を求め、この検査情報Ｐ₀を処理対象のブロックデー
タに対する検査情報Ｐとする（Ｐ←Ｐ₀）（Ｓ５１）。
次に、処理対象のブロックデータから変化データを抽出
し、その変化データを変化データＤとし（Ｄ←変化デー
タ）（Ｓ５２）、パラメータｉを１に設定する（ｉ←
１）（Ｓ５３）。

【０１０３】そして、ＭＰＵ１３は前記変化データＤの
ｉ番目の領域（１≦ｉ≦４）がビット１を含む非零の領
域か否かをチェックする（Ｓ５４）。その結果、Ｄのｉ
番目の領域が非零でなければ、すなわち、Ｄのｉ番目の
領域が全て０ビットならば何もしない。しかし、Ｄのｉ
番目の領域が非零であれば、すなわち、Ｄのｉ番目の領
域にビット１を含む場合には、ＲＡＭ１４を検索してそ
のｉ番目の領域の全てのビットパターンに対して検査情
報Ｐ_ijを求め、その検査情報Ｐ_ijを前記検査情報Ｐに加
算し、それを新たな検査情報Ｐとする（Ｐ←Ｐ＋Ｐ_ij）
（Ｓ５５）。

【０１０４】次に、ＭＰＵ１３は、前記パラメータｉを
インクリメント（ｉ←ｉ＋１）し（Ｓ５６）、ｉ＞４の
条件を満たしたか否かを判断する（Ｓ５７）。その結
果、前記条件を満たしていない場合は、前記Ｓ５４の処
理から繰り返して行う。このようにして、前記ｉ＞４の
条件を満たしたら、検査情報Ｐを対象ブロックの検査情
報とする（Ｓ５８）。その後、引き続き次のブロックの
検査情報を作成する場合は（Ｓ５９）、前記Ｓ５１の処
理から繰り返して行う。

【０１０５】(2) ：具体例による検査情報作成処理例３
の説明・・・図１３参照例えば、図１３のに示したように、変化データＤが、
「１０１００００１」（８ビット）で、固定データがｄ
₁、ｄ₂・・・ｄ_nのブロックデータ（磁気ディスクへ
の書き込み処理対象のブロックデータ）に対する検査情
報は次のようにして作成する。

【０１０６】先ず、ＭＰＵ１３は、ＲＡＭ１４を検索し
て、のように、変化データＤが全て０で固定データｄ
₁ｄ₂・・・ｄ_nだけからなるブロックデータに対する
検査情報Ｐ₀を、ＲＡＭ１４から検索して求め、これを
Ｐとする（Ｐ←Ｐ₀）。次に、前記に示したブロック
データから変化データ「１０１００００１」を抽出し、
これを変化データＤとする。そして、変化データＤを２
ビットずつ４つの領域に分割し、各領域毎の検査情報を
ＲＡＭ１４を検索して求め、これらの各検査情報を前記
検査情報Ｐに加算する。具体的には次の通りである。

【０１０７】先ず、のように、変化データＤの１番目
（ｉ＝１）の領域のビットパターン「１０」に対する検
査情報Ｐ₁₂をＲＡＭ１４を検索して求め、この検査情報
をＰ ₁₂を前記検査情報Ｐ（最初の処理でＰ＝Ｐ₀となっ
ている）に加算し、これを新たな検査情報Ｐとする（Ｐ
←Ｐ＋Ｐ₁₂＝Ｐ₀＋Ｐ₁₂）。

【０１０８】次に、に示したように、変化データＤの
２番目（ｉ＝２）の領域のビットパターン「１０」に対
する検査情報Ｐ₂₂をＲＡＭ１４を検索して求め、この検
査情報をＰ₂₂前記検査情報Ｐに加算し、これを新たな検
査情報Ｐとする（Ｐ←Ｐ＋Ｐ ₂₂＝Ｐ₀＋Ｐ₁₂＋Ｐ₂₂）。

【０１０９】次に、に示したように、変化データＤの
４番目（ｉ＝４）の領域のビットパターン「０１」に対
する検査情報Ｐ₄₁をＲＡＭ１４を検索して求め、この検
査情報Ｐ₄₁を前記検査情報Ｐに加算し、これを新たな検
査情報Ｐとする（Ｐ←Ｐ＋Ｐ ₂₂＝Ｐ₀＋Ｐ₁₂＋Ｐ₂₂＋Ｐ
₄₁）。

【０１１０】このようにしてｉ＝４の領域の全てのビッ
トパターンに対する検査情報を作成すると、前記処理対
象のブロックデータに対する検査情報Ｐ（Ｐ＝Ｐ₀＋Ｐ
₁₂＋Ｐ₂₂＋Ｐ₄₁）が作成される。なお、作成した検査情
報Ｐ＝Ｐ₀＋Ｐ₁₂＋Ｐ₂₂＋Ｐ ₄₁は、前記処理対象のブロ
ックデータに付加され、ＭＰＵ１３の指示により、磁気
ディスクに書き込まれる。

【０１１１】§１０：検査情報作成処理４の説明・・・
図１４、図１５参照図１４は検査情報作成処理例４のフローチャート、図１
５は検査情報作成処理例４の説明図である。以下、図１
４、図１５に基づいて検査情報作成処理例４を説明す
る。なお、図１４のＳ６１〜Ｓ７１は各処理ステップを
示す。また、変化データは８ビットとする。

【０１１２】(1) ：フローチャートによる処理の説明・
・・図１４参照この処理は、ＭＰＵ１３が前記準備処理例２の処理によ
って作成したＲＡＭ１４上のデータを利用して検査情報
を作成する処理である。この場合、ＭＰＵ１３は上位装
置（ホスト）からのコマンドに基づいて、指定されたブ
ロックデータに対して検査情報の作成処理を行う。

【０１１３】なお、以下の説明では、磁気ディスクへの
書き込み用のブロックデータ（処理対象ブロックデー
タ）を今回（ｍ＋１）のブロックデータとし、その変化
データをＤ_m+1とする。また、今回（ｍ＋１）のブロッ
クデータの１つ前に処理したブロックデータを前回
（ｍ）のブロックデータとし、その変化データをＤ_mと
する。

【０１１４】更に、今回（ｍ＋１）の検査情報を
Ｐ_m+1、前回（ｍ）の検査情報をＰ_m、変化データＤ
_m+1とＤ_mとの差異（Ｄ_m+1−Ｄ_m）の変化データをＤ
_f（Ｄ_f＝Ｄ _m+1−Ｄ_m）とする。そして、前記Ｄ_m+1
はＤ_mを順次インクリメントしたデータであるとする。

【０１１５】検査情報作成処理が開始されると、ＭＰＵ
１３は次のようにして検査情報を作成する。先ず、ＭＰ
Ｕ１３は、初期化処理を行い、Ｄ_m＝０とする。また、
ＲＡＭ１４を検索して、変化データが全て０で固定デー
タだけからなるブロックデータの検査情報Ｐ₀を求め、
この検査情報Ｐ₀をＰ_mの値とする（Ｐ_m←Ｐ₀）（Ｓ
６１）。

【０１１６】次に、今回（ｍ＋１）の検査情報Ｐ_m+1の
値を前回（ｍ）の検査情報Ｐ_m（最初の処理時のみＰ_m
＝Ｐ₀なので、Ｐ_m+1＝Ｐ₀である）とする（Ｐ_m+1←
Ｐ_m）（Ｓ６２）。その後、今回（ｍ＋１）のブロック
データから取り出した変化データＤ_m+1と前回（ｍ）の
ブロックデータから取り出した変化データＤ_mとの差異
を求め（各ビット毎の対比により差異のビットを取り出
し）、前記差異のビットで構成された変化データ（差異
の変化データ）をＤ_fとする（Ｄ_f←Ｄ_m+1−Ｄ_m）
（Ｓ６３）。そして、パラメータｉを１に設定する（ｉ
←１）（Ｓ６４）。

【０１１７】次にＭＰＵ１３は変化データＤ_fのｉ番目
の領域（１≦ｉ≦４）がビット１を含む非零の領域か否
かをチェックする（Ｓ６５）。その結果、Ｄ_fのｉ番目
の領域が非零でなければ、すなわち、差異の変化データ
Ｄ_fのｉ番目の領域が全て０ビットならば何もしない。
しかし、Ｄ_fのｉ番目の領域が非零であれば、すなわ
ち、Ｄ_fのｉ番目の領域にビット１を含む場合には、Ｒ
ＡＭ１４を検索して、そのｉ番目の領域の全てのビット
パターンに対して検査情報Ｐ_ijを求め、その検査情報Ｐ
_ijを前記検査情報Ｐ_m+1に加算し、それを新たな検査情
報Ｐとする（Ｐ_m+ ₁←Ｐ_m+1＋Ｐ_ij）（Ｓ６６）。

【０１１８】そしてＭＰＵ１３は、前記パラメータｉを
インクリメント（ｉ←ｉ＋１）し（Ｓ６７）、ｉ＞４の
条件を満たしたか否かを判断する（Ｓ６８）。その結
果、前記条件を満たしていない場合は、前記Ｓ６５の処
理から繰り返して行う。このようにして、前記ｉ＞４の
条件を満たしたら、検査情報Ｐ_m+1を今回（ｍ＋１）の
対象ブロックデータに対する検査情報とする（Ｓ６
９）。なお、この時作成した検査情報Ｐ_m+1は今回（ｍ
＋１）のブロックデータに付加され磁気ディスクに書き
込まれる。

【０１１９】その後、次回の処理のため、前記今回（ｍ
＋１）の検査情報Ｐ_m+1を次のブロックデータに対する
処理の前回（ｍ）の検査情報Ｐ_mとしてＲＡＭ１４に格
納しておく（Ｓ７０）。そして、引き続き次のブロック
データの検査情報を作成する場合は（Ｓ７１）、前記Ｓ
６２の処理から繰り返して行う。

【０１２０】(2) ：具体例による説明・・・図１５参照以下、図１５に基づいて具体例による処理を説明する。
この例では、前回（ｍ）のブロックデータはのよう
に、変化データＤ_mが「１０１０００００」（８ビッ
ト）で、固定データがｄ₁ｄ₂・・・ｄ_n（少なくとも
ビット１が存在する任意ビットの固定データ）であると
する。また、今回（ｍ＋１）のブロックデータはのよ
うに、変化データＤ_m+1が「１０１００００１」（８ビ
ット）で、固定データがｄ₁ｄ₂・・・ｄ_n」であると
する。

【０１２１】この例では、前回のブロックデータが
で、今回のブロックデータがであるが、最初のブロッ
クデータの検査情報を作成する場合は、前回のブロック
データは無く、Ｄ_m＝０である。このため、差異の変化
データＤ_fは処理対象のデータに等しい（Ｄ_f＝Ｄ_m+1
−Ｄ_m＝Ｄ_m+1）。従って、最初はＤ_f＝Ｄ_m+1として
前記フローチャートで示した順序に従ってブロックデー
タに対する検査情報を作成すれば良い。

【０１２２】そして、次の処理のために、前記最初の検
査情報をＲＡＭ１４に前回（ｍ）の検査情報Ｐ_mとして
格納しておく。なお、前記最初のブロックデータがに
示したブロックデータであった場合、その検査情報をＰ
_mとすると、Ｐ_m＝Ｐ₀＋Ｐ ₁₂＋Ｐ₂₂となる。前記のよ
うに、ＲＡＭ１４にに示した前回（ｍ）のブロックデ
ータとその検査情報Ｐ_m＝Ｐ₀＋Ｐ₁₂＋Ｐ₂₂が格納され
ている状態で、に示した今回（ｍ＋１）のブロックデ
ータに対し検査情報を作成する場合は、次のようにして
作成する。

【０１２３】先ず、ＲＡＭ１４を検索して前回のブロッ
クデータに対する検査情報Ｐ_mを求め、この検査情報Ｐ
_mを今回のブロックデータに対する検査情報Ｐ_m+1とす
る（Ｐ_m+1←Ｐ_m）。そして、に示した今回のブロッ
クデータの変化データＤ_m+1と、に示した前回のブロ
ックデータの変化データＤ_mとの差異を求め、その差異
の変化データＤ_f＝Ｄ_m+1−Ｄ_mを作成する。

【０１２４】この場合、Ｄ_m+1＝「１０１００００
１」、Ｄ_m＝「１０１０００００」であるから、Ｄ_f＝
Ｄ_m+1−Ｄ_m＝１０１００００１−１０１０００００＝
０００００００１となる。従って、前記Ｄ_f＝００００
０００１に対する検査情報を求めて前回の検査情報に加
算する。具体的には次の通りである。

【０１２５】前記差異の変化データＤ_f＝００００００
０１に対する検査情報を求める場合、この例では２ビッ
トずつの領域に分割し、各領域毎に非零（ビット１を含
む）か否かをチェックするが、この場合、ｉ＝１の領域
とｉ＝２の領域とｉ＝３の領域は全て０のビットからな
る領域であるから、これらの領域に対しては検査情報が
０なのでなにもしない。

【０１２６】しかし、ｉ＝４の領域は非零の領域（ビッ
トパターンが０１）なので、この領域に対する検査情報
Ｐ_ijをＲＡＭ１４を検索して求める。この場合求めた検
査情報Ｐ_ijはＰ_ij＝Ｐ₄₂となる。そこで前記Ｐ_ijを前記
Ｐ_mに加算することにより今回のブロックデータに対す
る検査情報Ｐ_m+1＝Ｐ_m＋Ｐ₄₂＝Ｐ₀＋Ｐ₁₂＋Ｐ₂₂＋Ｐ
₄₂が作成できる。なお、作成した前記検査情報Ｐ_m+1＝
Ｐ_m＋Ｐ₄₂＝Ｐ₀＋Ｐ ₁₂＋Ｐ₂₂＋Ｐ₄₂は、前記処理対象
のブロックデータに付加され、ＭＰＵ１３の指示によ
り、磁気ディスクに書き込まれる。

【０１２７】その後、次回の処理のため、前記今回（ｍ
＋１）の検査情報Ｐ_m+1を次のブロックデータに対する
処理の前回（ｍ）の検査情報Ｐ_mとしてＲＡＭ１４に格
納しておく。

【０１２８】（他の実施の形態）以上実施の形態につい
て説明したが、本発明は次のようにしても実施可能であ
る。

【０１２９】(1) ：前記の例では変化データが８ビット
の例であるが、このような例に限らず、変化データのビ
ット数は任意で良い。 (2) ：磁気ディスク装置に限らず、光磁気ディスクな
ど、データの書き込み可能な任意のディスク装置に適用
可能である。

【０１３０】(3) ：変化データを複数の領域に分割して
検査情報を作成する例では、各領域のビット数は２ビッ
トに限らず、４ビット、８ビットなど、変化データのビ
ット数に応じて任意に選定すれば良い。

【０１３１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 (1) ：変化データと固定データからなる一定長のブロッ
クデータに対して誤り訂正符号や誤り検出符号等の検査
情報を作成する際、変化データの内容をチェックし、予
め準備しておいたメモリ内の情報を検索して加算するこ
とで、簡単に検査情報が作成できる。従って、変化デー
タ及び固定データからなる一定長のブロックデータに対
して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を効率良
く、かつ短時間で作成できる。

【０１３２】(2) ：前記検査情報は工場出荷時にブロッ
クの識別情報と、ダミーデータに対して作成され付加さ
れる。この時、ダミーデータの書き込み速度に応じて検
査情報が作成されないと、ディスクの回転待ちが発生
し、書き込み処理が遅くなってしまう。

【０１３３】しかし、本願発明では、ブロックデータの
ディスクへの書き込み時に、準備処理で予め作成してお
いたメモリ内の情報を検索して加算することにより、効
率良く、かつ短時間で検査情報を作成することができ
る。従って、前記のようなディスクの回転待ちが発生せ
ず、ブロックデータの書き込み処理が効率良く、かつ高
速で実施可能である。

【０１３４】(3) ：一般的に、識別情報の長さよりダミ
ーデータの長さの方が長い。ところが、従来は、ブロッ
クデータの後半の長い同じダミーデータに対して、ブロ
ック毎に検査情報を繰り返し作成するという無駄を行っ
ていた。

【０１３５】しかし、本願発明は、前記データ長の長い
ダミーデータが固定データであることを利用し、変化デ
ータの内容をチェックし、予め準備しておいたメモリ内
の情報を検索して加算することで、簡単に検査情報が作
成できる。従って、ダミーデータがどんなに長くてもブ
ロックデータの検査情報が効率良く、かつ短時間で作成
できる。前記効果の外、各請求項に対応して次のような
効果がある。

【０１３６】(4) ：請求項１では、検査情報作成手段
は、変化データが全て０で固定データだけからなるブロ
ックデータに対する検査情報、及び固定データが全て０
で変化データの或る１ビットだけが１のブロックデータ
に対する検査情報を予め作成してメモリに格納しておく
検査情報準備手段と、変化データ及び固定データからな
る処理対象のブロックデータに対して検査情報を作成す
る際、前記メモリを検索して変化データが全て０で固定
データだけからなるブロックデータに対する検査情報を
求めると共に、前記変化データの各ビットを調べて１の
ビットが有れば、メモリを検索してそれに対応する検査
情報を求め、その検査情報を前記変化データが全て０で
固定データだけからなるブロックデータに対する検査情
報に加算することで、前記処理対象のブロックデータに
対する検査情報を作成する検査情報作成処理手段を備え
ている。

【０１３７】従って、変化データと固定データからなる
一定長のブロックデータに対して誤り訂正符号や誤り検
出符号等の検査情報を作成する際、変化データの内容を
チェックし、予め準備しておいたメモリ内の情報を検索
して加算することで、簡単に検査情報が作成できる。従
って、変化データ及び固定データからなる一定長のブロ
ックデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査
情報を効率良く、かつ短時間で作成できる。

【０１３８】(5) ：請求項２では、変化データが全て０
で固定データだけからなるブロックデータに対する検査
情報、及び固定データが全て０で変化データの或る１ビ
ットだけが１のブロックデータに対する検査情報を予め
作成してメモリに格納しておき、変化データ及び固定デ
ータからなる処理対象のブロックデータに対して検査情
報を作成する際、前記メモリを検索して変化データが全
て０で固定データだけからなるブロックデータに対する
検査情報を求めると共に、前記変化データの各ビットを
調べて１のビットが有れば、メモリを検索してそれに対
応する検査情報を求め、その検査情報を前記変化データ
が全て０で固定データだけからなるブロックデータに対
する検査情報に加算することで、前記処理対象のブロッ
クデータに対する検査情報を作成するようにしている。

【０１３９】従って、変化データと固定データからなる
一定長のブロックデータに対して誤り訂正符号や誤り検
出符号等の検査情報を作成する際、変化データの内容を
チェックし、予め準備しておいたメモリ内の情報を検索
して加算することで、簡単に検査情報が作成できる。従
って、変化データ及び固定データからなる一定長のブロ
ックデータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査
情報を効率良く、かつ短時間で作成できる。

【０１４０】(6) ：請求項３では、変化データが全て０
で固定データだけからなるブロックデータに対する検査
情報、及び固定データが全て０で変化データの或る１ビ
ットだけが１のブロックデータに対する検査情報を予め
作成してメモリに格納しておき、変化データ及び固定デ
ータからなる処理対象のブロックデータに対する検査情
報を作成する際、そのブロックデータの変化データと、
前記ブロックデータより１つ前に処理したブロックデー
タの変化データを抽出して両者の差異を求め、前記差異
の変化データに対して各ビットを調べ、１のビットが有
れば、前記メモリを検索してそれに対応する検査情報を
求め、その検査情報を前記処理対象のブロックデータよ
り１つ前に処理したブロックデータに対する検査情報に
加算することで、前記処理対象のブロックデータに対す
る検査情報を作成するようにしている。

【０１４１】前記のようにすれば、特に、変化データが
昇順、或いは降順で変化するブロックデータに対して、
検査情報が効率良く、かつ短時間で作成できる。 (7) ：請求項４では、変化データが全て０で固定データ
だけからなるブロックデータに対する検査情報、及び固
定データが全て０で変化データを複数ビット単位の複数
の領域に分割し、或る１つの領域だけがビット１を含む
非零の領域で、残りの領域を全て０としておき、前記非
零の領域の全てのビットパターンに対する検査情報を予
め作成してメモリに格納しておき、変化データ及び固定
データからなる処理対象のブロックデータに対する検査
情報を作成する際、前記メモリを検索して変化データが
全て０で固定データだけからなるブロックデータに対す
る検査情報を求めると共に、前記変化データを複数ビッ
ト単位の複数の領域に分割し、前記各領域を調べて、少
なくともビット１が存在する非零の領域が有れば、前記
メモリを検索してその領域のビットパターンに対応する
検査情報を求め、その検査情報を前記変化データが全て
０で固定データだけからなるブロックデータに対する検
査情報に加算することで、前記処理対象のブロックデー
タに対する検査情報を作成するようにしている。

【０１４２】前記のようにすれば、各領域毎に検査情報
を求めて加算するだけの簡単な処理で、効率良く検査情
報を作成することができる。 (8) ：請求項５では、変化データが全て０で固定データ
だけからなるブロックデータに対する検査情報、及び固
定データが全て０で変化データを複数ビット単位の複数
の領域に分割し、或る１つの領域だけがビット１を含む
非零の領域で、残りの領域を全て０としておき、前記非
零の領域の全てのビットパターンに対する検査情報を予
め作成してメモリに格納しておき、変化データ及び固定
データからなる処理対象のブロックデータに対する検査
情報を作成する際、そのブロックデータの変化データ
と、前記ブロックデータより１つ前に処理したブロック
データの変化データを抽出して両者の差異を求め、前記
差異の変化データを複数ビット単位の複数の領域に分割
し、前記各領域を調べて、少なくともビット１が存在す
る非零の領域が有れば、前記メモリを検索してその領域
のビットパターンに対応する検査情報を求め、その検査
情報を前記処理対象のブロックデータより１つ前に処理
したブロックデータに対する検査情報に加算すること
で、前記処理対象のブロックデータに対する検査情報を
作成するようにしている。

【０１４３】前記のようにすれば、特に、変化データが
昇順、或いは降順で変化するブロックデータに対して、
各領域毎に検査情報を求めて加算するだけの簡単な処理
で、効率良く検査情報を作成することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】実施の形態における磁気ディスク装置のブロッ
ク図である。

【図３】実施の形態におけるブロックデータの説明図で
ある。

【図４】実施の形態における準備処理例１のフローチャ
ートである。

【図５】実施の形態における準備処理例１の説明図であ
る。

【図６】実施の形態における検査情報作成処理例１のフ
ローチャートである。

【図７】実施の形態における検査情報作成処理例１の説
明図である。

【図８】実施の形態における検査情報作成処理例２のフ
ローチャートである。

【図９】実施の形態における検査情報作成処理例２の説
明図である。

【図１０】実施の形態における準備処理例２のフローチ
ャートである。

【図１１】実施の形態における準備処理例２の説明図で
ある。

【図１２】実施の形態における検査情報作成処理例３の
フローチャートである。

【図１３】実施の形態における検査情報作成処理例３の
説明図である。

【図１４】実施の形態における検査情報作成処理例４の
フローチャートである。

【図１５】実施の形態における検査情報作成処理例４の
説明図である。

【図１６】従来例の説明図である。

【符号の説明】

２Ａディスク（記憶媒体）１０ディスク制御部１１リード／ライト回路１２ポジション回路１３ＭＰＵ１４ＲＡＭ１５ＥＥＰＲＯＭ１７ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１８コミュニケーションＩＣ１９ＤＳＰ２０ＶＣＭドライバ２１ＤＣＭドライバ２２メモリ２３サーボＬＳＩ２４ＤＥＣ／ＥＮＣ２５復調回路２６バイアス電流制御回路２８ＶＣＭ２９スピンドルモータ３０サーボヘッドＩＣ３１サーボヘッド３２データヘッドＩＣ３３データヘッド４０メモリ４１検査情報作成部４２データ書き込み部

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】データ内容が変化する変化データ及びデー
タ内容が固定の固定データからなる一定長のブロックデ
ータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を
作成する検査情報作成手段と、前記検査情報作成手段が
作成した検査情報を前記ブロックデータに付加し、その
検査情報付きブロックデータを記憶媒体に書き込むデー
タ書き込み手段を備えたディスク装置において、前記検査情報作成手段は、変化データが全て０で固定デ
ータだけからなるブロックデータに対する検査情報、及
び固定データが全て０で変化データの或る１ビットだけ
が１のブロックデータに対する検査情報を予め作成して
メモリに格納しておく検査情報準備手段と、変化データ及び固定データからなる処理対象のブロック
データに対して検査情報を作成する際、前記メモリを検
索して変化データが全て０で固定データだけからなるブ
ロックデータに対する検査情報を求めると共に、前記変
化データの各ビットを調べて１のビットが有れば、メモ
リを検索してそれに対応する検査情報を求め、その検査
情報を前記変化データが全て０で固定データだけからな
るブロックデータに対する検査情報に加算することで、
前記処理対象のブロックデータに対する検査情報を作成
する検査情報作成処理手段を備えていることを特徴とし
たディスク装置。
【請求項２】データ内容が変化する変化データ及びデー
タ内容が固定の固定データからなる一定長のブロックデ
ータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を
作成する検査情報作成手段と、前記検査情報作成手段が
作成した検査情報を前記ブロックデータに付加し、その
検査情報付きブロックデータを記憶媒体に書き込むデー
タ書き込み手段を備えたディスク装置の検査情報作成方
法において、前記検査情報作成手段は、変化データが全て０で固定デ
ータだけからなるブロックデータに対する検査情報、及
び固定データが全て０で変化データの或る１ビットだけ
が１のブロックデータに対する検査情報を予め作成して
メモリに格納しておき、変化データ及び固定データからなる処理対象のブロック
データに対して検査情報を作成する際、前記メモリを検
索して変化データが全て０で固定データだけからなるブ
ロックデータに対する検査情報を求めると共に、前記変化データの各ビットを調べて１のビットが有れ
ば、メモリを検索してそれに対応する検査情報を求め、
その検査情報を前記変化データが全て０で固定データだ
けからなるブロックデータに対する検査情報に加算する
ことで、前記処理対象のブロックデータに対する検査情
報を作成することを特徴としたディスク装置の検査情報
作成方法。
【請求項３】データ内容が変化する変化データ及びデー
タ内容が固定の固定データからなる一定長のブロックデ
ータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を
作成する検査情報作成手段と、前記検査情報作成手段が
作成した検査情報を前記ブロックデータに付加し、その
検査情報付きブロックデータを記憶媒体に書き込むデー
タ書き込み手段を備えたディスク装置の検査情報作成方
法において、前記検査情報処理手段は、変化データが全て０で固定デ
ータだけからなるブロックデータに対する検査情報、及
び固定データが全て０で変化データの或る１ビットだけ
が１のブロックデータに対する検査情報を予め作成して
メモリに格納しておき、変化データ及び固定データからなる処理対象のブロック
データに対する検査情報を作成する際、そのブロックデ
ータの変化データと、前記ブロックデータより１つ前に
処理したブロックデータの変化データを抽出して両者の
差異を求め、前記差異の変化データに対して各ビットを調べ、１のビ
ットが有れば、前記メモリを検索してそれに対応する検
査情報を求め、その検査情報を前記処理対象のブロック
データより１つ前に処理したブロックデータに対する検
査情報に加算することで、前記処理対象のブロックデー
タに対する検査情報を作成することを特徴としたディス
ク装置の検査情報作成方法。
【請求項４】データ内容が変化する変化データ及びデー
タ内容が固定の固定データからなる一定長のブロックデ
ータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を
作成する検査情報作成手段と、前記検査情報作成手段が
作成した検査情報を前記ブロックデータに付加し、その
検査情報付きブロックデータを記憶媒体に書き込むデー
タ書き込み手段を備えたディスク装置の検査情報作成方
法において、前記検査情報処理手段は、変化データが全て０で固定デ
ータだけからなるブロックデータに対する検査情報、及
び固定データが全て０で変化データを複数ビット単位の
複数の領域に分割し、或る１つの領域だけがビット１を
含む非零の領域で、残りの領域を全て０としておき、前
記非零の領域の全てのビットパターンに対する検査情報
を予め作成してメモリに格納しておき、変化データ及び固定データからなる処理対象のブロック
データに対する検査情報を作成する際、前記メモリを検
索して変化データが全て０で固定データだけからなるブ
ロックデータに対する検査情報を求めると共に、前記変化データを複数ビット単位の複数の領域に分割
し、前記各領域を調べて、少なくともビット１が存在す
る非零の領域が有れば、前記メモリを検索してその領域
のビットパターンに対応する検査情報を求め、その検査
情報を前記変化データが全て０で固定データだけからな
るブロックデータに対する検査情報に加算することで、
前記処理対象のブロックデータに対する検査情報を作成
することを特徴としたディスク装置の検査情報作成方
法。
【請求項５】データ内容が変化する変化データ及びデー
タ内容が固定の固定データからなる一定長のブロックデ
ータに対して誤り訂正／検出等を行うための検査情報を
作成する検査情報作成手段と、前記検査情報作成手段が
作成した検査情報を前記ブロックデータに付加し、その
検査情報付きブロックデータを記憶媒体に書き込むデー
タ書き込み手段を備えたディスク装置の検査情報作成方
法において、前記検査情報処理手段は、変化データが全て０で固定デ
ータだけからなるブロックデータに対する検査情報、及
び固定データが全て０で変化データを複数ビット単位の
複数の領域に分割し、或る１つの領域だけがビット１を
含む非零の領域で、残りの領域を全て０としておき、前
記非零の領域の全てのビットパターンに対する検査情報
を予め作成してメモリに格納しておき、変化データ及び固定データからなる処理対象のブロック
データに対する検査情報を作成する際、そのブロックデ
ータの変化データと、前記ブロックデータより１つ前に
処理したブロックデータの変化データを抽出して両者の
差異を求め、前記差異の変化データを複数ビット単位の複数の領域に
分割し、前記各領域を調べて、少なくともビット１が存
在する非零の領域が有れば、前記メモリを検索してその
領域のビットパターンに対応する検査情報を求め、その
検査情報を前記処理対象のブロックデータより１つ前に
処理したブロックデータに対する検査情報に加算するこ
とで、前記処理対象のブロックデータに対する検査情報
を作成することを特徴としたディスク装置の検査情報作
成方法。