JP3294974B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JP3294974B2 JP3294974B2 JP24352195A JP24352195A JP3294974B2 JP 3294974 B2 JP3294974 B2 JP 3294974B2 JP 24352195 A JP24352195 A JP 24352195A JP 24352195 A JP24352195 A JP 24352195A JP 3294974 B2 JP3294974 B2 JP 3294974B2
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- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は複数の振動子からな
る探触子によりエコー信号を受信し、遅延加算を行う機
能を持つ超音波診断装置に関する。
る探触子によりエコー信号を受信し、遅延加算を行う機
能を持つ超音波診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】超音波診断装置の送受信において複数の
振動子から構成される探触子により、広範囲の被検部位
について質の高い画像を得る手法は最近ではよく用いら
れている。
振動子から構成される探触子により、広範囲の被検部位
について質の高い画像を得る手法は最近ではよく用いら
れている。
【0003】図9はリニアスキャンにおける複数の振動
子によりエコー信号を受信した場合の信号の合成を示す
ものである。1〜8は振動子、52〜57は遅延線、6
0は加算器、100は反射体である。
子によりエコー信号を受信した場合の信号の合成を示す
ものである。1〜8は振動子、52〜57は遅延線、6
0は加算器、100は反射体である。
【0004】反射体100により反射した信号を振動子
1〜8で受信するとき、反射体100から各振動子まで
の距離は異なるため、反射体から各振動子までの信号の
到達時間に差が発生する。この時間差を遅延線52〜5
7により補正し、加算器60により加算して1つの出力
を得る。この手法を以後、フォーカスをすると言う。
1〜8で受信するとき、反射体100から各振動子まで
の距離は異なるため、反射体から各振動子までの信号の
到達時間に差が発生する。この時間差を遅延線52〜5
7により補正し、加算器60により加算して1つの出力
を得る。この手法を以後、フォーカスをすると言う。
【0005】このフォーカスをすることでビームを細く
絞ることができ、分解能を向上することができるほか、
ランダムノイズを低減することができ、S/N比を向上
させることができる。遅延線52〜57としてはアナロ
グ方式の遅延線がよく用いられているが、最近ではA/
D変換器とディジタルメモリを組み合わせたディジタル
遅延線も使用され始めている。アナログ遅延線における
遅延時間の切り換えは中間タップ付きのアナログ遅延線
のタップをアナログスイッチで切り換える方式が一般的
である。
絞ることができ、分解能を向上することができるほか、
ランダムノイズを低減することができ、S/N比を向上
させることができる。遅延線52〜57としてはアナロ
グ方式の遅延線がよく用いられているが、最近ではA/
D変換器とディジタルメモリを組み合わせたディジタル
遅延線も使用され始めている。アナログ遅延線における
遅延時間の切り換えは中間タップ付きのアナログ遅延線
のタップをアナログスイッチで切り換える方式が一般的
である。
【0006】リニアスキャンにおいては反射体からアパ
チャー中心へ延ばした線(以下、ビームと称する)は振
動子の配列方向と垂直である。したがってアパチャー中
心から対称な位置にある振動子、すなわち振動子1と
8,振動子2と7,振動子3と6,振動子4と5に必要
な遅延時間は等しいため、各々の遅延時間の等しい信号
を加算してから遅延手段に入力することで遅延手段の数
を半分に減らすことができる。この方式をフォールド・
オーバと呼ぶ。
チャー中心へ延ばした線(以下、ビームと称する)は振
動子の配列方向と垂直である。したがってアパチャー中
心から対称な位置にある振動子、すなわち振動子1と
8,振動子2と7,振動子3と6,振動子4と5に必要
な遅延時間は等しいため、各々の遅延時間の等しい信号
を加算してから遅延手段に入力することで遅延手段の数
を半分に減らすことができる。この方式をフォールド・
オーバと呼ぶ。
【0007】このフォールド・オーバを行った例を図1
0に示す。61〜64は加算器である。2次元スキャン
を考慮にいれたリニアスキャンの遅延加算部を図11に
示す。1〜16は振動子、21〜28は2:1のアナロ
グスイッチ、29は8:4のクロスポイントスイッチ
(以下、CPSと略す)部で、電圧−電流変換器61〜
68と、8:4のCPS70と、電流−電圧変換器71
〜74により構成されている。130は遅延加算部で、
可変遅延線30〜32と加算器33〜35より構成され
ている。
0に示す。61〜64は加算器である。2次元スキャン
を考慮にいれたリニアスキャンの遅延加算部を図11に
示す。1〜16は振動子、21〜28は2:1のアナロ
グスイッチ、29は8:4のクロスポイントスイッチ
(以下、CPSと略す)部で、電圧−電流変換器61〜
68と、8:4のCPS70と、電流−電圧変換器71
〜74により構成されている。130は遅延加算部で、
可変遅延線30〜32と加算器33〜35より構成され
ている。
【0008】次に図11における動作を説明する。リニ
アスキャンにおけるビームの移動は選択する振動子をス
イッチで順次切り換えていくことで行われる。16個の
振動子1〜16のうち8個を選択するようになってお
り、アナログスイッチ21〜28を全てa側にすること
で振動子1〜8が選択され、ビームの位置は振動子4と
振動子5の中間に設定される。
アスキャンにおけるビームの移動は選択する振動子をス
イッチで順次切り換えていくことで行われる。16個の
振動子1〜16のうち8個を選択するようになってお
り、アナログスイッチ21〜28を全てa側にすること
で振動子1〜8が選択され、ビームの位置は振動子4と
振動子5の中間に設定される。
【0009】次に、アナログスイッチ21をb側に接続
すると、振動子1の代わりに振動子9が選択され、アパ
チャーは振動子2〜9となりビーム位置は振動子5と振
動子6の間に移動する。以下、同様にアナログスイッチ
21〜28を順次切り換えていくことでビームの位置を
移動させることができる。
すると、振動子1の代わりに振動子9が選択され、アパ
チャーは振動子2〜9となりビーム位置は振動子5と振
動子6の間に移動する。以下、同様にアナログスイッチ
21〜28を順次切り換えていくことでビームの位置を
移動させることができる。
【0010】アナログスイッチ21〜28で選択された
信号はCPS部29に入力される。CPS部29ではア
ナログスイッチ21〜28を通過した8つの信号を、必
要な遅延時間の等しい2つずつの信号を加算し、a〜d
の4種類を出力するフォールド・オーバを行う。CPS
部29に入力した信号は電圧−電流交換器61〜68に
より電流信号に変換され、CPS70の接続により電流
加算されたのち、電流−電圧変換器71〜74により電
圧信号に変換されて出力される。
信号はCPS部29に入力される。CPS部29ではア
ナログスイッチ21〜28を通過した8つの信号を、必
要な遅延時間の等しい2つずつの信号を加算し、a〜d
の4種類を出力するフォールド・オーバを行う。CPS
部29に入力した信号は電圧−電流交換器61〜68に
より電流信号に変換され、CPS70の接続により電流
加算されたのち、電流−電圧変換器71〜74により電
圧信号に変換されて出力される。
【0011】CPS部29より出力された信号は遅延加
算部130に入力され、遅延線30〜32および加算器
33〜35により遅延加算されて出力される。遅延加算
部130の実際の構成について説明する。
算部130に入力され、遅延線30〜32および加算器
33〜35により遅延加算されて出力される。遅延加算
部130の実際の構成について説明する。
【0012】図12は遅延加算部の構成の一例である。
50は可変遅延線51〜54からなる遅延線群、329
は4:3のCPS部、150は固定遅延線90,91と
加算器33,34より構成される遅延加算部である。
50は可変遅延線51〜54からなる遅延線群、329
は4:3のCPS部、150は固定遅延線90,91と
加算器33,34より構成される遅延加算部である。
【0013】次に図12における動作を説明する。ビー
ムの移動およびフォールド・オーバについては図10お
よび図11において説明した通りである。CPS部29
より出力されたa〜dの4種類の信号は遅延線群50に
入力する。遅延加算ブロックは、比較的短い可変遅延線
51〜54よりなる遅延線群50とCPS部329、比
較的長い固定遅延線90,91と加算器33,34より
なる遅延加算部150より構成される。
ムの移動およびフォールド・オーバについては図10お
よび図11において説明した通りである。CPS部29
より出力されたa〜dの4種類の信号は遅延線群50に
入力する。遅延加算ブロックは、比較的短い可変遅延線
51〜54よりなる遅延線群50とCPS部329、比
較的長い固定遅延線90,91と加算器33,34より
なる遅延加算部150より構成される。
【0014】この構成は、たとえば特開昭53−289
89号公報などに開示されており、アナログ遅延線をタ
ップ切替により遅延時間を切り換えて使用するときのタ
ップの数を低減することができる特長を持つ方式で、マ
スタースレーブと呼ばれる。
89号公報などに開示されており、アナログ遅延線をタ
ップ切替により遅延時間を切り換えて使用するときのタ
ップの数を低減することができる特長を持つ方式で、マ
スタースレーブと呼ばれる。
【0015】たとえば、量子化遅延単位を10nse
c、最大遅延量を300nsecとしたとき、可変遅延
線51〜54は10nescごとに中間タップを持つ1
00nsecの遅延線、固定遅延線90,91は中間タ
ップのない100nsecの遅延線とし、たとえばdの
信号が230nsecの遅延量が必要な場合、可変遅延
線54により30nsecの遅延時間を選択し、CPS
部329によりhとkを接続して固定遅延線90,91
により100nsecずつの遅延をとることで、合計2
30nsecの遅延時間を設定することができる。
c、最大遅延量を300nsecとしたとき、可変遅延
線51〜54は10nescごとに中間タップを持つ1
00nsecの遅延線、固定遅延線90,91は中間タ
ップのない100nsecの遅延線とし、たとえばdの
信号が230nsecの遅延量が必要な場合、可変遅延
線54により30nsecの遅延時間を選択し、CPS
部329によりhとkを接続して固定遅延線90,91
により100nsecずつの遅延をとることで、合計2
30nsecの遅延時間を設定することができる。
【0016】つぎに受信時のフォーカス位置設定の変更
について説明する。超音波画像は2次元に浅い部位から
深い部位まで表示され、どの深さにおいても分解能の高
い画像が得られることが要求される。超音波エコーは送
信パルスを発してから時間が経過するにつれ深い部位か
らのものとなっていくが、これに合わせて、遅延時間の
設定を変え、浅い部位から次第に深い部位へとフォーカ
スを変更していくことで、全ての深さで分解能の優れた
画像を得ることができる。この方法はダイナミックフォ
ーカスと呼ばれている。
について説明する。超音波画像は2次元に浅い部位から
深い部位まで表示され、どの深さにおいても分解能の高
い画像が得られることが要求される。超音波エコーは送
信パルスを発してから時間が経過するにつれ深い部位か
らのものとなっていくが、これに合わせて、遅延時間の
設定を変え、浅い部位から次第に深い部位へとフォーカ
スを変更していくことで、全ての深さで分解能の優れた
画像を得ることができる。この方法はダイナミックフォ
ーカスと呼ばれている。
【0017】ダイナミックフォーカスにおいては受信期
間中に遅延線のタップを切り換えるため、信号の不連続
による遅延線での過渡的ノイズが発生し、画面にスジが
入るなどの影響が出る。特に分解能を向上するため、フ
ォーカスの切り換えを細かく行う場合、遅延線の過渡的
ノイズが多くなり問題となる。
間中に遅延線のタップを切り換えるため、信号の不連続
による遅延線での過渡的ノイズが発生し、画面にスジが
入るなどの影響が出る。特に分解能を向上するため、フ
ォーカスの切り換えを細かく行う場合、遅延線の過渡的
ノイズが多くなり問題となる。
【0018】それを解決する方法として図13のような
方式が考えられている。図13において、250,25
1は第1,第2の遅延加算部で同一のもの、80は2:
1のアナログスイッチである。
方式が考えられている。図13において、250,25
1は第1,第2の遅延加算部で同一のもの、80は2:
1のアナログスイッチである。
【0019】図13の動作について説明する。CPS2
9から信号a〜dが出力されるところまでは図11と同
様である。CPS29の出力信号a〜dは第1の遅延加
算部250と第2の遅延加算部251の両方に入力され
る。アナログスイッチ80は、第1の遅延加算部250
と第2の遅延加算部251のいずれかの出力を選択す
る。
9から信号a〜dが出力されるところまでは図11と同
様である。CPS29の出力信号a〜dは第1の遅延加
算部250と第2の遅延加算部251の両方に入力され
る。アナログスイッチ80は、第1の遅延加算部250
と第2の遅延加算部251のいずれかの出力を選択す
る。
【0020】受信期間中フォーカス位置の切り換えを行
う場合には、たとえばアナログスイッチ80をaに接続
し、第1の遅延加算部250を選択しておき、第2の遅
延加算部251を切り換えるべきフォーカスに設定す
る。切替によるノイズの発生が収まったらアナログスイ
ッチ80をb側に接続し、第2の遅延加算部251を選
択する。つぎに第1の遅延加算部250をさらに次にフ
ォーカス位置に設定する、という動作を順次行ったこと
で切替ノイズの影響をなくしながらダイナミックフォー
カスをきめ細かに行うことができる。この方式はピンポ
ン方式と呼ばれ、たとえば特公昭62−4982号公報
に示されている。
う場合には、たとえばアナログスイッチ80をaに接続
し、第1の遅延加算部250を選択しておき、第2の遅
延加算部251を切り換えるべきフォーカスに設定す
る。切替によるノイズの発生が収まったらアナログスイ
ッチ80をb側に接続し、第2の遅延加算部251を選
択する。つぎに第1の遅延加算部250をさらに次にフ
ォーカス位置に設定する、という動作を順次行ったこと
で切替ノイズの影響をなくしながらダイナミックフォー
カスをきめ細かに行うことができる。この方式はピンポ
ン方式と呼ばれ、たとえば特公昭62−4982号公報
に示されている。
【0021】次にセクタスキャンでの複数振動子からの
受信信号を合成する方法につき図14を用いて説明す
る。図14において1〜8は振動子、52〜58は遅延
線、60は加算器、100は反射体である。
受信信号を合成する方法につき図14を用いて説明す
る。図14において1〜8は振動子、52〜58は遅延
線、60は加算器、100は反射体である。
【0022】セクタスキャンにおいてはビーム角を偏向
するため、振動子の配列方向とビームのなす角θは自在
に変化する。したがって、リニアスキャンで行われるよ
うなフォールドオーバを用いることができず、チャンネ
ルの数だけ、図14においては8チャンネル分の遅延手
段を用意する必要がある。
するため、振動子の配列方向とビームのなす角θは自在
に変化する。したがって、リニアスキャンで行われるよ
うなフォールドオーバを用いることができず、チャンネ
ルの数だけ、図14においては8チャンネル分の遅延手
段を用意する必要がある。
【0023】セクタスキャンはビームの偏向角を変える
ことでスキャンを行うため、つねに同一の振動子群を用
いる。また、セクタスキャンにおいては偏向を行うた
め、一般にリニアスキャンに較べ必要な遅延時間が長く
なるという特徴がある。
ことでスキャンを行うため、つねに同一の振動子群を用
いる。また、セクタスキャンにおいては偏向を行うた
め、一般にリニアスキャンに較べ必要な遅延時間が長く
なるという特徴がある。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】上記のようにリニアス
キャンとリニアスキャンの両方を1台の装置で実現する
場合、次のような問題点が発生する。
キャンとリニアスキャンの両方を1台の装置で実現する
場合、次のような問題点が発生する。
【0025】まず、セクタスキャンでは偏向によりスキ
ャンを行うためフォールドオーバが不可能であり、チャ
ンネルの数だけの遅延手段を用意しなければならない。
したがって、たとえば図12,図13のようなリニアス
キャン用遅延加算部をセクタスキャンに対応しようとす
ると、CPS部29以降の回路が8チャンネルに対応し
ていなければならず、物量が2倍になる。
ャンを行うためフォールドオーバが不可能であり、チャ
ンネルの数だけの遅延手段を用意しなければならない。
したがって、たとえば図12,図13のようなリニアス
キャン用遅延加算部をセクタスキャンに対応しようとす
ると、CPS部29以降の回路が8チャンネルに対応し
ていなければならず、物量が2倍になる。
【0026】また、セクタスキャンにおいては一般にリ
ニアスキャンに較べ長い遅延時間が必要であり回路規模
が大きくなるほか、フォーカスを切り換えてから遅延線
の過渡応答が落ち着くまで時間がかかるのでピンポン方
式を用いてもフォーカスの切り換えを細かく行うことが
できず、ピンポン方式を用いるメリットが少なくなる。
ニアスキャンに較べ長い遅延時間が必要であり回路規模
が大きくなるほか、フォーカスを切り換えてから遅延線
の過渡応答が落ち着くまで時間がかかるのでピンポン方
式を用いてもフォーカスの切り換えを細かく行うことが
できず、ピンポン方式を用いるメリットが少なくなる。
【0027】さらにまた、リニアスキャンではアパチャ
ー位置切替のためのスイッチ、たとえば図12における
アナログスイッチ21〜28がセクタスキャンでは無駄
になる。
ー位置切替のためのスイッチ、たとえば図12における
アナログスイッチ21〜28がセクタスキャンでは無駄
になる。
【0028】本発明はこのような従来の問題を解決する
ものであり、物量の増加を防ぎ、構成が簡潔で、低コス
トの超音波診断装置を提供することを目的とする。
ものであり、物量の増加を防ぎ、構成が簡潔で、低コス
トの超音波診断装置を提供することを目的とする。
【0029】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の超音波診
断装置は、セクタスキャンにおける受信信号を超音波か
ら電気信号に変換する複数の振動子と、複数の前記振動
子のうち隣り合った2つの前記振動子が入力側に接続さ
れる2入力2出力の第1のクロスポイントスイッチと、
前記第1のクロスポイントスイッチの一方の出力に接続
される遅延量が可変できる第1の遅延線と、前記第1の
遅延線の出力と前記第1クロスポイントスイッチの他方
の出力とに接続され加算する第2のクロスポイントスイ
ッチと、前記第2のクロスポイントスイッチの出力にそ
れぞれ接続される複数の遅延量が可変できる第2の遅延
線と複数の加算器により構成され前記第2のクロスポイ
ントスイッチの複数の出力信号を遅延し順次加算するこ
とで遅延加算出力を生成する遅延加算部とを備え、ビー
ム偏向の方向により隣り合った2つの前記振動子の信号
のうちどちらを前記遅延線に接続させるかを前記第1の
クロスポイントによって設定することにより、セクタス
キャン時に隣り合う2つのチャンネルのうちどちらに遅
延線を入れるかの選択をリニア時のアパチャー選択用の
アナログスイッチで行うことで物量を低減する。
断装置は、セクタスキャンにおける受信信号を超音波か
ら電気信号に変換する複数の振動子と、複数の前記振動
子のうち隣り合った2つの前記振動子が入力側に接続さ
れる2入力2出力の第1のクロスポイントスイッチと、
前記第1のクロスポイントスイッチの一方の出力に接続
される遅延量が可変できる第1の遅延線と、前記第1の
遅延線の出力と前記第1クロスポイントスイッチの他方
の出力とに接続され加算する第2のクロスポイントスイ
ッチと、前記第2のクロスポイントスイッチの出力にそ
れぞれ接続される複数の遅延量が可変できる第2の遅延
線と複数の加算器により構成され前記第2のクロスポイ
ントスイッチの複数の出力信号を遅延し順次加算するこ
とで遅延加算出力を生成する遅延加算部とを備え、ビー
ム偏向の方向により隣り合った2つの前記振動子の信号
のうちどちらを前記遅延線に接続させるかを前記第1の
クロスポイントによって設定することにより、セクタス
キャン時に隣り合う2つのチャンネルのうちどちらに遅
延線を入れるかの選択をリニア時のアパチャー選択用の
アナログスイッチで行うことで物量を低減する。
【0030】請求項2記載の超音波診断装置は、セクタ
スキャンにおける受信信号を超音波から電気信号に変換
する複数の振動子と、複数の前記振動子のうち隣り合っ
た一方の振動子に接続される遅延量が可変できる第1の
遅延線と、前記第1の遅延線の出力と複数の前記振動子
のうち隣り合った他方の振動子とに接続されるクロスポ
イントスイッチと、前記クロスポイントスイッチの出力
にそれぞれ接続される複数の遅延量が可変できる第2の
遅延線と複数の加算器により構成され前記クロスポイン
トスイッチの複数の出力信号を遅延し順次加算すること
で遅延加算出力を生成する遅延加算部とを備え、前記ク
ロスポイントの隣り合った2つの入力をこのクロスポイ
ントスイッチの内部接続によって加算し、この隣り合っ
た2つの入力の組み合わせがビーム偏向の方向により決
定されるもので、、隣り合った2chの組み合わせをビ
ームの方向により変えられるようにし、隣り合うチャン
ネルの選択を変えることでどちらに遅延線を入れるかの
選択を行うアナログスイッチが不要となり、物量が低減
できる。
スキャンにおける受信信号を超音波から電気信号に変換
する複数の振動子と、複数の前記振動子のうち隣り合っ
た一方の振動子に接続される遅延量が可変できる第1の
遅延線と、前記第1の遅延線の出力と複数の前記振動子
のうち隣り合った他方の振動子とに接続されるクロスポ
イントスイッチと、前記クロスポイントスイッチの出力
にそれぞれ接続される複数の遅延量が可変できる第2の
遅延線と複数の加算器により構成され前記クロスポイン
トスイッチの複数の出力信号を遅延し順次加算すること
で遅延加算出力を生成する遅延加算部とを備え、前記ク
ロスポイントの隣り合った2つの入力をこのクロスポイ
ントスイッチの内部接続によって加算し、この隣り合っ
た2つの入力の組み合わせがビーム偏向の方向により決
定されるもので、、隣り合った2chの組み合わせをビ
ームの方向により変えられるようにし、隣り合うチャン
ネルの選択を変えることでどちらに遅延線を入れるかの
選択を行うアナログスイッチが不要となり、物量が低減
できる。
【0031】
【0032】
【0033】
【0034】
【0035】
【0036】
【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
1〜図8に基づいて説明する。なお、従来例と同様の作
用をなすものには同一の符号を付けて説明する。
1〜図8に基づいて説明する。なお、従来例と同様の作
用をなすものには同一の符号を付けて説明する。
【0037】〔第1の実施の形態〕図1は〔第1の実施
の形態〕の超音波診断装置の遅延加算部を示す。図中1
〜8はエコー信号を電気信号に変換する振動子、41〜
48は振動子1〜8で得られたエコー信号に遅延をかけ
る可変遅延線、29は可変遅延線41〜48を通った8
chのエコー信号のうち2つずつを加算し4chの出力
を出すCPS部、130は可変遅延線30〜32と加算
器33〜35で構成される遅延加算器である。以上の構
成について、以下、その動作とともに、更に詳細に説明
する。
の形態〕の超音波診断装置の遅延加算部を示す。図中1
〜8はエコー信号を電気信号に変換する振動子、41〜
48は振動子1〜8で得られたエコー信号に遅延をかけ
る可変遅延線、29は可変遅延線41〜48を通った8
chのエコー信号のうち2つずつを加算し4chの出力
を出すCPS部、130は可変遅延線30〜32と加算
器33〜35で構成される遅延加算器である。以上の構
成について、以下、その動作とともに、更に詳細に説明
する。
【0038】まず、リニアスキャンにおいては可変遅延
線41〜48は遅延時間が零に設定され、従来例(図1
1)と同様な動作が行われる。次にセクタスキャンにお
ける動作について説明する。セクタスキャンにおいては
隣り合った2つずつのチャンネルが加算され、図1では
振動子1と2,振動子3と4,振動子5と6,振動子7
と8がそれぞれ加算される。可変遅延線41〜48はこ
の加算される2つのチャンネル間の信号の時間差を補正
するために用いられる。
線41〜48は遅延時間が零に設定され、従来例(図1
1)と同様な動作が行われる。次にセクタスキャンにお
ける動作について説明する。セクタスキャンにおいては
隣り合った2つずつのチャンネルが加算され、図1では
振動子1と2,振動子3と4,振動子5と6,振動子7
と8がそれぞれ加算される。可変遅延線41〜48はこ
の加算される2つのチャンネル間の信号の時間差を補正
するために用いられる。
【0039】ビーム方向がAである場合、振動子1より
2,振動子3より4,振動子5より6,振動子7より8
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、可変遅
延線41,43,45,47は遅延時間の設定は零、可
変遅延線42,44,46,48はそれぞれの2つの振
動子における時間を補正する値に設定される。
2,振動子3より4,振動子5より6,振動子7より8
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、可変遅
延線41,43,45,47は遅延時間の設定は零、可
変遅延線42,44,46,48はそれぞれの2つの振
動子における時間を補正する値に設定される。
【0040】ビーム方向がBの場合には、振動子1より
2,振動子3より4,振動子6より5,振動子8より7
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、可変遅
延線41,43,46,48は遅延時間の設定は零、可
変遅延線42,44,45,47はそれぞれ2つの振動
子における時間を補正する値に設定される。
2,振動子3より4,振動子6より5,振動子8より7
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、可変遅
延線41,43,46,48は遅延時間の設定は零、可
変遅延線42,44,45,47はそれぞれ2つの振動
子における時間を補正する値に設定される。
【0041】ビーム方向がCの場合、Aとは逆に、振動
子2より1,振動子4より3,振動子6より5,振動子
8より7のほうが速いタイミングで信号を受信するた
め、可変遅延線42,44,46,48は遅延時間の設
定は零、可変遅延線41,43,45,47はそれぞれ
の2つの振動子における時間を補正する値に設定され
る。
子2より1,振動子4より3,振動子6より5,振動子
8より7のほうが速いタイミングで信号を受信するた
め、可変遅延線42,44,46,48は遅延時間の設
定は零、可変遅延線41,43,45,47はそれぞれ
の2つの振動子における時間を補正する値に設定され
る。
【0042】このように遅延時間を補正された隣り合っ
た振動子の信号はCPS部29により加算され、4チャ
ンネルの信号として遅延加算される。この実施の形態に
おいては、CPS部29以降の信号をエコー信号の受信
チャンネル数の半分で処理でき、回路規模の小さな超音
波診断装置を実現できる。
た振動子の信号はCPS部29により加算され、4チャ
ンネルの信号として遅延加算される。この実施の形態に
おいては、CPS部29以降の信号をエコー信号の受信
チャンネル数の半分で処理でき、回路規模の小さな超音
波診断装置を実現できる。
【0043】〔第2の実施の形態〕 図2は請求項1に記載される発明を説明するもので、
〔第2の実施の形態〕における超音波診断装置の遅延加
算部を示す。図中1〜8はエコー信号を電気信号に変換
する振動子、131〜134は振動子1〜8の信号を選
択する2:2のCPS部、41〜44はCPS部131
〜134から出力されたエコー信号に遅延をかける可変
遅延線、29は可変遅延線41〜44を通った4chを
含むCPS部131〜134の8chの出力信号のうち
2つずつを加算し4chの出力を出すCPS部、30〜
32は可変遅延線、33〜35は加算器、130は可変
遅延線30〜32および加算器33〜35により構成さ
れる遅延加算部である。以上の構成について、以下、そ
の動作とともに、更に詳細に説明する。
〔第2の実施の形態〕における超音波診断装置の遅延加
算部を示す。図中1〜8はエコー信号を電気信号に変換
する振動子、131〜134は振動子1〜8の信号を選
択する2:2のCPS部、41〜44はCPS部131
〜134から出力されたエコー信号に遅延をかける可変
遅延線、29は可変遅延線41〜44を通った4chを
含むCPS部131〜134の8chの出力信号のうち
2つずつを加算し4chの出力を出すCPS部、30〜
32は可変遅延線、33〜35は加算器、130は可変
遅延線30〜32および加算器33〜35により構成さ
れる遅延加算部である。以上の構成について、以下、そ
の動作とともに、更に詳細に説明する。
【0044】まず、リニアスキャンにおいてはCPS部
131〜134はすべてa側に接続され、可変遅延線4
1〜44は遅延時間が零に設定され、従来例(図11)
と同様な動作が行われる。
131〜134はすべてa側に接続され、可変遅延線4
1〜44は遅延時間が零に設定され、従来例(図11)
と同様な動作が行われる。
【0045】次にセクタスキャンにおける動作について
説明する。セクタスキャンにおいては隣り合った2つず
つのチャンネルが加算される。図2は振動子1と2,振
動子3と4,…,振動子7と8が加算される。可変遅延
線41〜44はこの加算されるチャンネル間の信号の時
間差を補正するために用いられる。
説明する。セクタスキャンにおいては隣り合った2つず
つのチャンネルが加算される。図2は振動子1と2,振
動子3と4,…,振動子7と8が加算される。可変遅延
線41〜44はこの加算されるチャンネル間の信号の時
間差を補正するために用いられる。
【0046】ビーム方向がAである場合、振動子1より
2,振動子3より4,振動子5より6,振動子7より8
のほうが速いタイミングで信号を受信する。このときC
PS部131〜134はb側を選択し、振動子2,4,
6,8の信号は可変遅延線41〜44を通るように設定
され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つの振動子
における時間を補正する値に設定される。
2,振動子3より4,振動子5より6,振動子7より8
のほうが速いタイミングで信号を受信する。このときC
PS部131〜134はb側を選択し、振動子2,4,
6,8の信号は可変遅延線41〜44を通るように設定
され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つの振動子
における時間を補正する値に設定される。
【0047】ビーム方向がBの場合には、振動子1より
2,振動子3より4,振動子6より5,振動子8より7
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、CPS
部131,132はb側を選択し、CPS部133,1
34はa側を選択する。振動子2,4,5,7の信号は
可変遅延線41〜44を通るように設定され、可変遅延
線41〜44はそれぞれの2つの振動子における時間を
補正する値に設定される。
2,振動子3より4,振動子6より5,振動子8より7
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、CPS
部131,132はb側を選択し、CPS部133,1
34はa側を選択する。振動子2,4,5,7の信号は
可変遅延線41〜44を通るように設定され、可変遅延
線41〜44はそれぞれの2つの振動子における時間を
補正する値に設定される。
【0048】ビーム方向がCの場合、Aとは逆に、振動
子2より1,振動子4より3,振動子6より5,振動子
8より7のほが速いタイミングで信号を受信するため、
CPS部131〜134はa側を選択し、振動子1,
3,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通るように
設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つの振
動子における時間を補正する値に設定される。
子2より1,振動子4より3,振動子6より5,振動子
8より7のほが速いタイミングで信号を受信するため、
CPS部131〜134はa側を選択し、振動子1,
3,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通るように
設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つの振
動子における時間を補正する値に設定される。
【0049】この実施の形態においては、CPS部29
の以降の信号をエコー信号の受信チャンネル数の半分で
処理でき、回路規模の小さな超音波診断装置を実現でき
る。 〔第3の実施の形態〕 図3は請求項2に記載される発明を説明するもので、
〔第3の実施の形態〕における超音波診断装置の遅延加
算部を示す。
の以降の信号をエコー信号の受信チャンネル数の半分で
処理でき、回路規模の小さな超音波診断装置を実現でき
る。 〔第3の実施の形態〕 図3は請求項2に記載される発明を説明するもので、
〔第3の実施の形態〕における超音波診断装置の遅延加
算部を示す。
【0050】図中1〜8はエコー信号を電気信号に変換
する振動子、41〜44は振動子1,3,5,7のエコ
ー信号に遅延をかける可変遅延線、29は可変遅延線4
1〜44を通った4chと振動子2,4,6,8の4c
hのエコー信号のうち2つずつを加算し4chの出力を
出すCPS部、130は可変遅延線30〜32および加
算器33〜35で構成される遅延加算部である。以上の
構成について、以下、その動作とともに、更に詳細に説
明する。
する振動子、41〜44は振動子1,3,5,7のエコ
ー信号に遅延をかける可変遅延線、29は可変遅延線4
1〜44を通った4chと振動子2,4,6,8の4c
hのエコー信号のうち2つずつを加算し4chの出力を
出すCPS部、130は可変遅延線30〜32および加
算器33〜35で構成される遅延加算部である。以上の
構成について、以下、その動作とともに、更に詳細に説
明する。
【0051】まず、リニアスキャンにおいては可変遅延
線41〜44は遅延時間が零に設定され、図11の従来
例と同様な動作が行われる。次にセクタスキャンにおけ
る動作について説明する。セクタスキャンにおいて隣り
合った2つずつのチャンネルが加算される。可変遅延線
41〜44はこの加算されるチャンネル間の信号の時間
差を補正するために用いられる。
線41〜44は遅延時間が零に設定され、図11の従来
例と同様な動作が行われる。次にセクタスキャンにおけ
る動作について説明する。セクタスキャンにおいて隣り
合った2つずつのチャンネルが加算される。可変遅延線
41〜44はこの加算されるチャンネル間の信号の時間
差を補正するために用いられる。
【0052】ビーム方向が図3の(a)である場合、振
動子1より2,振動子3より4,振動子5より6,振動
子7より8のほうが速いタイミングで信号を受信する。
このときすべての振動子1〜8において可変遅延線41
〜44の挿入されている位置が振動子1,3,5,7の
出力であるから、遅延線の挿入により振動子1と2,振
動子3と4,振動子5と6,振動子7と8の時間補正を
行うことは不可能である。そこで、CPS部29では振
動子2と3,振動子4と5,振動子6と7の信号を加
算、振動子1の信号はそのまま出力し、振動子8の信号
は結線しないことにする。可変遅延線42は振動子2と
振動子3の、可変遅延線43は振動子4と振動子5の、
遅延線44は振動子6と振動子7の時間差を補正し、可
変遅延線41は入力が1チャンネルであるから、補正が
不要であり遅延時間を零とする。以上のような動作によ
り、〔第2の実施の形態〕のように2つの振動子のどち
らに遅延線を入れるかを切り換えるCPS部を用意する
ことがなくなり、〔第2の実施の形態〕よりもさらに回
路規模の小さな超音波診断装置を実現できる。
動子1より2,振動子3より4,振動子5より6,振動
子7より8のほうが速いタイミングで信号を受信する。
このときすべての振動子1〜8において可変遅延線41
〜44の挿入されている位置が振動子1,3,5,7の
出力であるから、遅延線の挿入により振動子1と2,振
動子3と4,振動子5と6,振動子7と8の時間補正を
行うことは不可能である。そこで、CPS部29では振
動子2と3,振動子4と5,振動子6と7の信号を加
算、振動子1の信号はそのまま出力し、振動子8の信号
は結線しないことにする。可変遅延線42は振動子2と
振動子3の、可変遅延線43は振動子4と振動子5の、
遅延線44は振動子6と振動子7の時間差を補正し、可
変遅延線41は入力が1チャンネルであるから、補正が
不要であり遅延時間を零とする。以上のような動作によ
り、〔第2の実施の形態〕のように2つの振動子のどち
らに遅延線を入れるかを切り換えるCPS部を用意する
ことがなくなり、〔第2の実施の形態〕よりもさらに回
路規模の小さな超音波診断装置を実現できる。
【0053】ビーム方向が図3の(b)の場合には、振
動子1より2,振動子3より4,振動子6より5,振動
子8より7のほうが速いタイミングで信号を受信する。
このとき振動子5〜8においては可変遅延線43,44
により2つの振動子間の遅延時間を補正し、CPS部2
9により加算することができるが、振動子1〜4の信号
については可変遅延線41,42の挿入されている位置
が振動子1,3の出力であるから、振動子4の信号を振
動子3より遅くすることは不可能である。そこで、CP
S部29では振動子2と振動子3の信号を加算、振動子
1の信号はそのまま出力し、振動子4の信号は結線しな
いことにする。可変遅延線42は振動子2と振動子3の
時間差を補正し、可変遅延線41は入力が1チャンネル
であるから、補正が不要であり遅延時間は零とする。な
お、この場合には遅延線32は遅延量が零となるので図
面から省いている。
動子1より2,振動子3より4,振動子6より5,振動
子8より7のほうが速いタイミングで信号を受信する。
このとき振動子5〜8においては可変遅延線43,44
により2つの振動子間の遅延時間を補正し、CPS部2
9により加算することができるが、振動子1〜4の信号
については可変遅延線41,42の挿入されている位置
が振動子1,3の出力であるから、振動子4の信号を振
動子3より遅くすることは不可能である。そこで、CP
S部29では振動子2と振動子3の信号を加算、振動子
1の信号はそのまま出力し、振動子4の信号は結線しな
いことにする。可変遅延線42は振動子2と振動子3の
時間差を補正し、可変遅延線41は入力が1チャンネル
であるから、補正が不要であり遅延時間は零とする。な
お、この場合には遅延線32は遅延量が零となるので図
面から省いている。
【0054】ビーム方向が図3の(c)の場合、Aとは
逆に、振動子2より1,振動子4より3,振動子6より
5,振動子8より7のほうが速いタイミングで信号を受
信する。CPS部29では振動子1と2,振動子3と
4,振動子5と6,振動子7と8の信号を加算する。振
動子1,3,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通
り、それぞれの加算される2つの振動子における時間を
補正する値に設定される。
逆に、振動子2より1,振動子4より3,振動子6より
5,振動子8より7のほうが速いタイミングで信号を受
信する。CPS部29では振動子1と2,振動子3と
4,振動子5と6,振動子7と8の信号を加算する。振
動子1,3,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通
り、それぞれの加算される2つの振動子における時間を
補正する値に設定される。
【0055】ビーム方向BおよびAにおいては使用でき
るチャンネル数が1チャンネル減るが、実際の装置にお
いては使用するチャンネル数が数十〜百数十と多いため
問題は少ない。
るチャンネル数が1チャンネル減るが、実際の装置にお
いては使用するチャンネル数が数十〜百数十と多いため
問題は少ない。
【0056】〔第4の実施の形態〕図4は〔第4の実施
の形態〕における超音波診断装置の遅延加算部を示す。
図中1〜8はエコー信号を電気信号に変換する振動子、
21〜28は振動子1〜8の選択を行う2:1のアナロ
グスイッチ、41〜44はアナログスイッチ25〜28
から出力されたエコー信号に遅延をかける可変遅延線、
29は可変遅延線41〜44を通った4chのエコー信
号とアナログスイッチ21〜24の4chの出力のうち
2つずつを加算し4chの出力を出すCPS部、130
は遅延加算部で、可変遅延線30〜32と加算器33〜
35で構成されている。
の形態〕における超音波診断装置の遅延加算部を示す。
図中1〜8はエコー信号を電気信号に変換する振動子、
21〜28は振動子1〜8の選択を行う2:1のアナロ
グスイッチ、41〜44はアナログスイッチ25〜28
から出力されたエコー信号に遅延をかける可変遅延線、
29は可変遅延線41〜44を通った4chのエコー信
号とアナログスイッチ21〜24の4chの出力のうち
2つずつを加算し4chの出力を出すCPS部、130
は遅延加算部で、可変遅延線30〜32と加算器33〜
35で構成されている。
【0057】以上の構成について、以下、その動作とと
もに、更に詳細に説明する。まず、リニアスキャンにお
いては16チャンネルの振動子が用意され、アナログス
イッチ21〜28のa側が振動子1〜8に、b側が振動
子9〜15に接続される。この場合の動作においては可
変遅延線41〜44は遅延時間が零に設定され、図11
の従来例と同様な動作が行われる。
もに、更に詳細に説明する。まず、リニアスキャンにお
いては16チャンネルの振動子が用意され、アナログス
イッチ21〜28のa側が振動子1〜8に、b側が振動
子9〜15に接続される。この場合の動作においては可
変遅延線41〜44は遅延時間が零に設定され、図11
の従来例と同様な動作が行われる。
【0058】セクタスキャンにおいては、図4に示すよ
うに振動子1〜8がアナログスイッチ21〜28に1対
2の形で接続される。セクタスキャンにおいては隣り合
った2つずつのチャンネルがCPS部29において加算
され、図4では振動子1と2,振動子3と4,…,振動
子7と8が加算される。可変遅延線41〜44はこの加
算される2つのチャンネル間の信号の時間差を補正する
ために用いられる。
うに振動子1〜8がアナログスイッチ21〜28に1対
2の形で接続される。セクタスキャンにおいては隣り合
った2つずつのチャンネルがCPS部29において加算
され、図4では振動子1と2,振動子3と4,…,振動
子7と8が加算される。可変遅延線41〜44はこの加
算される2つのチャンネル間の信号の時間差を補正する
ために用いられる。
【0059】ビーム方向がAである場合、振動子1より
2,振動子3より4,振動子5より6,振動子7より8
のほうが速いタイミングで信号を受信する。このときア
ナログスイッチ21〜24はa側を選択し、アナログス
イッチ25〜28はb側を選択する。これにより振動子
2,4,6,8の信号は可変遅延線41〜44を通るよ
うに設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つ
の振動子における時間を補正する値に設定される。
2,振動子3より4,振動子5より6,振動子7より8
のほうが速いタイミングで信号を受信する。このときア
ナログスイッチ21〜24はa側を選択し、アナログス
イッチ25〜28はb側を選択する。これにより振動子
2,4,6,8の信号は可変遅延線41〜44を通るよ
うに設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つ
の振動子における時間を補正する値に設定される。
【0060】ビーム方向がBの場合には、振動子1より
2,振動子3より4,振動子6より5,振動子8より7
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、アナロ
グスイッチ21,22,27,28はb側を選択し、ア
ナログスイッチ23〜26はa側を選択する。振動子
2,4,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通るよ
うに設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つ
の振動子における時間を補正する値に設定される。
2,振動子3より4,振動子6より5,振動子8より7
のほうが速いタイミングで信号を受信するため、アナロ
グスイッチ21,22,27,28はb側を選択し、ア
ナログスイッチ23〜26はa側を選択する。振動子
2,4,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通るよ
うに設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つ
の振動子における時間を補正する値に設定される。
【0061】ビーム方向がCの場合、Aとは逆に、振動
子2より1,振動子4より3,振動子6より5,振動子
8より7のほうが速いタイミングで信号を受信するた
め、アナログスイッチ21〜24はb側を選択し、アナ
ログスイッチ25〜28はa側を選択する。振動子1,
3,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通るように
設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つの振
動子における時間を補正する値に設定される。
子2より1,振動子4より3,振動子6より5,振動子
8より7のほうが速いタイミングで信号を受信するた
め、アナログスイッチ21〜24はb側を選択し、アナ
ログスイッチ25〜28はa側を選択する。振動子1,
3,5,7の信号は可変遅延線41〜44を通るように
設定され、可変遅延線41〜44はそれぞれの2つの振
動子における時間を補正する値に設定される。
【0062】この実施の形態においては、CPS部29
の以降の信号をエコー信号の受信チャンネル数の半分で
処理できるとともに、リニアスキャンで使用するアパチ
ャー位置選択用アナログスイッチ21〜28をセクタス
キャンにおける遅延線の選択にも使用でき、回路規模の
小さな超音波診断装置を実現できる。
の以降の信号をエコー信号の受信チャンネル数の半分で
処理できるとともに、リニアスキャンで使用するアパチ
ャー位置選択用アナログスイッチ21〜28をセクタス
キャンにおける遅延線の選択にも使用でき、回路規模の
小さな超音波診断装置を実現できる。
【0063】この実施の形態において振動子1〜8とア
ナログスイッチ21〜28、および可変遅延線41〜4
4の配置を変えた例を図5に示す。最近の傾向として、
アナログスイッチ21〜28は電子式スイッチを用いる
ことが多く、また、集積化のため複数のスイッチを1つ
のパッケージに納めるのが一般的である。この場合、1
つのパッケージの中で接続されていない線間での信号の
洩れ、つまりクロストークが問題となる。
ナログスイッチ21〜28、および可変遅延線41〜4
4の配置を変えた例を図5に示す。最近の傾向として、
アナログスイッチ21〜28は電子式スイッチを用いる
ことが多く、また、集積化のため複数のスイッチを1つ
のパッケージに納めるのが一般的である。この場合、1
つのパッケージの中で接続されていない線間での信号の
洩れ、つまりクロストークが問題となる。
【0064】同じ量のクロストークがある場合でも距離
的に離れた振動子の信号が洩れた場合のほうが本来の信
号に対する時間的なずれが大きいため、画像に与える影
響が大きい。図4において複数のアナログスイッチを1
つのパッケージに収めた場合、例えばアナログスイッチ
21と22,アナログスイッチ23と24,アナログス
イッチ25と26,アナログスイッチ27と28を2チ
ャンネルずつ1パッケージに収めると、例えば、アナロ
グスイッチ21と22では振動子1〜4までの信号間に
クロストークが発生する。これに対し図5のような配置
を行うとアナログスイッチ21と22においては振動子
1と2の信号しか入力されないため、クロストークによ
る問題は起こりにくくなる。
的に離れた振動子の信号が洩れた場合のほうが本来の信
号に対する時間的なずれが大きいため、画像に与える影
響が大きい。図4において複数のアナログスイッチを1
つのパッケージに収めた場合、例えばアナログスイッチ
21と22,アナログスイッチ23と24,アナログス
イッチ25と26,アナログスイッチ27と28を2チ
ャンネルずつ1パッケージに収めると、例えば、アナロ
グスイッチ21と22では振動子1〜4までの信号間に
クロストークが発生する。これに対し図5のような配置
を行うとアナログスイッチ21と22においては振動子
1と2の信号しか入力されないため、クロストークによ
る問題は起こりにくくなる。
【0065】この配置は以下に示す〔第5〜第7の実施
の形態〕においても全く同様に対応が可能である。 〔第5の実施の形態〕図6は〔第5の実施の形態〕にお
ける超音波診断装置の遅延加算部を示す。
の形態〕においても全く同様に対応が可能である。 〔第5の実施の形態〕図6は〔第5の実施の形態〕にお
ける超音波診断装置の遅延加算部を示す。
【0066】図中1〜16はエコー信号を電気信号に変
換する振動子、21〜28は振動子1〜16から8ch
を選択する2:1のアナログスイッチ、129は8:8
のCPS部、30〜32は可変遅延線、33〜35は加
算器であり可変遅延線30〜32と加算器33〜35は
2対設けられ、第1の遅延加算部250と第2の遅延加
算部251を形成している。108,109は2:1の
アナログスイッチである。
換する振動子、21〜28は振動子1〜16から8ch
を選択する2:1のアナログスイッチ、129は8:8
のCPS部、30〜32は可変遅延線、33〜35は加
算器であり可変遅延線30〜32と加算器33〜35は
2対設けられ、第1の遅延加算部250と第2の遅延加
算部251を形成している。108,109は2:1の
アナログスイッチである。
【0067】以上の構成について、以下、その動作とと
もに、更に詳細に説明する。リニアスキャンにおいては
振動子1〜16のうちアパチャー位置にあわせてアナロ
グスイッチ21〜28で選択された8chの信号がCP
S部129に入力する。リニアスキャンではフォールド
オーバによりCPS部129で2chずつの信号が加算
され4chの出力がa〜dとe〜fにそれぞれ1本ずつ
出力される。アナログスイッチ109はa側に接続さ
れ、アナログスイッチ108には第1,第2遅延加算部
250,251の両方の出力が入力されており、ダイナ
ミックフォーカスのためのピンポン動作を行う。
もに、更に詳細に説明する。リニアスキャンにおいては
振動子1〜16のうちアパチャー位置にあわせてアナロ
グスイッチ21〜28で選択された8chの信号がCP
S部129に入力する。リニアスキャンではフォールド
オーバによりCPS部129で2chずつの信号が加算
され4chの出力がa〜dとe〜fにそれぞれ1本ずつ
出力される。アナログスイッチ109はa側に接続さ
れ、アナログスイッチ108には第1,第2遅延加算部
250,251の両方の出力が入力されており、ダイナ
ミックフォーカスのためのピンポン動作を行う。
【0068】次にセクタスキャンにおける動作について
説明する。セクタスキャンにおいては、アナログスイッ
チ21〜28はa側に接続され、振動子1〜8が選択さ
れる。この実施の形態では2chごとの加算は行われな
い。アナログスイッチ21〜28の出力はCPS部12
9に入力されるが、その出力は加算されず、CPS部1
29のa〜hの8chに出力される。セクタスキャン時
にはアナログスイッチ109はb側に接続され、第1の
遅延加算部250と第2の遅延加算部251は縦列に接
続され、セクタスキャンに必要な長い遅延時間を確保す
る。アナログスイッチ108はb側に接続される。
説明する。セクタスキャンにおいては、アナログスイッ
チ21〜28はa側に接続され、振動子1〜8が選択さ
れる。この実施の形態では2chごとの加算は行われな
い。アナログスイッチ21〜28の出力はCPS部12
9に入力されるが、その出力は加算されず、CPS部1
29のa〜hの8chに出力される。セクタスキャン時
にはアナログスイッチ109はb側に接続され、第1の
遅延加算部250と第2の遅延加算部251は縦列に接
続され、セクタスキャンに必要な長い遅延時間を確保す
る。アナログスイッチ108はb側に接続される。
【0069】この実施の形態においては、リニアスキャ
ンで用いたピンポン方式のための2系統の遅延線を縦列
に接続することでセクタスキャンに必要な長い遅延量を
確保し、回路規模の小さな超音波診断装置を実現でき
る。
ンで用いたピンポン方式のための2系統の遅延線を縦列
に接続することでセクタスキャンに必要な長い遅延量を
確保し、回路規模の小さな超音波診断装置を実現でき
る。
【0070】〔第6の実施の形態〕図7は〔第6の実施
の形態〕におけるセクタスキャン時の超音波診断装置の
遅延加算部の状態を示す。
の形態〕におけるセクタスキャン時の超音波診断装置の
遅延加算部の状態を示す。
【0071】図7において領域Aは比較的ビームの偏向
が少ないためにリニアスキャンのために用意したピンポ
ン方式の遅延加算部2つのうちの一方のみで遅延時間が
足りる領域であり、領域Bは〔第5の実施の形態〕に述
べたようにピンポン方式の2つの遅延加算部を縦列に接
続しなければ遅延時間が確保できない領域である。つま
り、セクタスキャン時にも、ピンポン方式の片方の遅延
加算部のみで遅延加算が行うことが可能な領域において
はピンポン方式を用い、遅延加算部の一方のみで遅延加
算が行うことができない領域についてはピンポン方式を
行わず遅延加算部を縦列接続するものである。
が少ないためにリニアスキャンのために用意したピンポ
ン方式の遅延加算部2つのうちの一方のみで遅延時間が
足りる領域であり、領域Bは〔第5の実施の形態〕に述
べたようにピンポン方式の2つの遅延加算部を縦列に接
続しなければ遅延時間が確保できない領域である。つま
り、セクタスキャン時にも、ピンポン方式の片方の遅延
加算部のみで遅延加算が行うことが可能な領域において
はピンポン方式を用い、遅延加算部の一方のみで遅延加
算が行うことができない領域についてはピンポン方式を
行わず遅延加算部を縦列接続するものである。
【0072】この構成によると、表示領域の中心付近で
はきめ細かなフォーカス設定を行うことができるので分
解能を向上でき、より鮮明な画像を得ることができる。 〔第7の実施の形態〕図8は〔第7の実施の形態〕にお
ける超音波診断装置の遅延加算部を示す。
はきめ細かなフォーカス設定を行うことができるので分
解能を向上でき、より鮮明な画像を得ることができる。 〔第7の実施の形態〕図8は〔第7の実施の形態〕にお
ける超音波診断装置の遅延加算部を示す。
【0073】図中1〜16はエコー信号を電気信号に変
換する振動子、21〜28は振動子1〜16から8ch
を選択する2:1のアナログスイッチ、29は8:4の
CPS部、51〜54は比較的短い遅延時間の可変遅延
線、30〜32は固定遅延線33〜35は加算器〔図1
1と同様で、図8では固定遅延線32と加算器35は図
示されていない〕であり、可変遅延線51〜54と固定
遅延線30〜32および加算器33〜35は2対設けら
れ、第1の遅延線群254と第1の遅延加算部252と
で構成される部分と、第2の遅延線群255と第2の遅
延加算部253とで構成される部分とを形成している。
229は4:6のCPS部、329は4:3のCPS
部、108,109はアナログスイッチである。
換する振動子、21〜28は振動子1〜16から8ch
を選択する2:1のアナログスイッチ、29は8:4の
CPS部、51〜54は比較的短い遅延時間の可変遅延
線、30〜32は固定遅延線33〜35は加算器〔図1
1と同様で、図8では固定遅延線32と加算器35は図
示されていない〕であり、可変遅延線51〜54と固定
遅延線30〜32および加算器33〜35は2対設けら
れ、第1の遅延線群254と第1の遅延加算部252と
で構成される部分と、第2の遅延線群255と第2の遅
延加算部253とで構成される部分とを形成している。
229は4:6のCPS部、329は4:3のCPS
部、108,109はアナログスイッチである。
【0074】以上の構成について、以下、その動作とと
もに、更に詳細に説明する。リニアスキャンにおける動
作では振動子1〜16のうちアパチャー位置にあわせて
アナログスイッチ21〜28で選択された8chの信号
がCPS部29に入力する。アナログスイッチ121〜
124はa側に接続されている。リニアスキャンではC
PS部129で2chずつの信号が加算され4chの出
力がa〜dに出力される。アナログスイッチ125〜1
28はa側に接続されており、CPS部29の出力は第
1,第2の遅延線群254,255に入力する。アナロ
グスイッチ109はa側に接続され、アナログスイッチ
108には第1,第2の遅延加算部252,253の出
力の両方が入力されており、ダイナミックフォーカスの
ためのピンポン動作を行う。
もに、更に詳細に説明する。リニアスキャンにおける動
作では振動子1〜16のうちアパチャー位置にあわせて
アナログスイッチ21〜28で選択された8chの信号
がCPS部29に入力する。アナログスイッチ121〜
124はa側に接続されている。リニアスキャンではC
PS部129で2chずつの信号が加算され4chの出
力がa〜dに出力される。アナログスイッチ125〜1
28はa側に接続されており、CPS部29の出力は第
1,第2の遅延線群254,255に入力する。アナロ
グスイッチ109はa側に接続され、アナログスイッチ
108には第1,第2の遅延加算部252,253の出
力の両方が入力されており、ダイナミックフォーカスの
ためのピンポン動作を行う。
【0075】次にセクタスキャンにおける動作について
説明する。セクタスキャンにおいては、アナログスイッ
チ21〜28は〔第4の実施の形態〕で述べたようにビ
ームの角度により切り換えられる。アナログスイッチ1
21〜128はb側に接続される。つまり、アナログス
イッチ25〜28の出力はアナログスイッチ125〜1
28を経て第2の遅延線群255に入力される。すなわ
ち第2の遅延線群255はセクタスキャン時には隣り合
う2つの振動子の信号の時間差を補正する遅延線とな
る。
説明する。セクタスキャンにおいては、アナログスイッ
チ21〜28は〔第4の実施の形態〕で述べたようにビ
ームの角度により切り換えられる。アナログスイッチ1
21〜128はb側に接続される。つまり、アナログス
イッチ25〜28の出力はアナログスイッチ125〜1
28を経て第2の遅延線群255に入力される。すなわ
ち第2の遅延線群255はセクタスキャン時には隣り合
う2つの振動子の信号の時間差を補正する遅延線とな
る。
【0076】第2の遅延線群255の出力はアナログス
イッチ121〜124およびCPS部329に入力され
るが、CPS部329はすべての接続がオフされている
ため、信号はアナログスイッチ121〜124のみに入
力される。アナログスイッチ121〜124はb側に接
続されており、これらの信号はCPS部29に入力さ
れ、アナログスイッチ21〜24の出力と加算されa〜
dの4chの出力を得る。
イッチ121〜124およびCPS部329に入力され
るが、CPS部329はすべての接続がオフされている
ため、信号はアナログスイッチ121〜124のみに入
力される。アナログスイッチ121〜124はb側に接
続されており、これらの信号はCPS部29に入力さ
れ、アナログスイッチ21〜24の出力と加算されa〜
dの4chの出力を得る。
【0077】a〜dの4chの出力信号は遅延線群25
4により細かい遅延を行われ、CPS部229に入力す
る。アナログスイッチ109がb側に接続されているた
め、第1,第2の遅延加算部252,253は縦列に接
続されており、CPS部229により選択された第1,
第2の遅延加算部252,253のタップから入力し、
b側に接続されたアナログスイッチ108より出力され
る。
4により細かい遅延を行われ、CPS部229に入力す
る。アナログスイッチ109がb側に接続されているた
め、第1,第2の遅延加算部252,253は縦列に接
続されており、CPS部229により選択された第1,
第2の遅延加算部252,253のタップから入力し、
b側に接続されたアナログスイッチ108より出力され
る。
【0078】この実施の形態においては、リニアスキャ
ンで用いた2系統の遅延線を縦列に接続することでセク
タスキャンに必要な長い遅延量を確保するとともに、マ
スタスレーブ方式のスレーブ部の一方、ここでは第2の
遅延線群255を2チャンネルずつ加算に使用すること
で、回路規模の小さな超音波診断装置を実現できる。
ンで用いた2系統の遅延線を縦列に接続することでセク
タスキャンに必要な長い遅延量を確保するとともに、マ
スタスレーブ方式のスレーブ部の一方、ここでは第2の
遅延線群255を2チャンネルずつ加算に使用すること
で、回路規模の小さな超音波診断装置を実現できる。
【0079】なお、セクタスキャンはビームを偏向する
という性質上、リニアスキャンにくらべ必要な遅延量が
多い。しかし、〔第6の実施の形態〕で述べたようにビ
ームの偏向角の小さい場合には遅延量はそれほど必要で
はない。この実施の形態においては第1の遅延加算部2
52の固定遅延線30〜31および第2の遅延加算部2
53の固定遅延線30〜31が縦列に接続されるが、偏
向角の小さい場合にはこの固定遅延部の一部あるいは多
くは不要となる。このような場合に例えば第1の遅延加
算部252においてすべての信号を加算してしまい、第
2の遅延加算部253は加算された信号が通るだけとい
った使用をすると、アナログ遅延線による信号の劣化を
引き起こすだけで何等得るところはない。従って、加算
された信号が通るだけの遅延線の遅延量はできるだけ少
なくすることが肝要である。
という性質上、リニアスキャンにくらべ必要な遅延量が
多い。しかし、〔第6の実施の形態〕で述べたようにビ
ームの偏向角の小さい場合には遅延量はそれほど必要で
はない。この実施の形態においては第1の遅延加算部2
52の固定遅延線30〜31および第2の遅延加算部2
53の固定遅延線30〜31が縦列に接続されるが、偏
向角の小さい場合にはこの固定遅延部の一部あるいは多
くは不要となる。このような場合に例えば第1の遅延加
算部252においてすべての信号を加算してしまい、第
2の遅延加算部253は加算された信号が通るだけとい
った使用をすると、アナログ遅延線による信号の劣化を
引き起こすだけで何等得るところはない。従って、加算
された信号が通るだけの遅延線の遅延量はできるだけ少
なくすることが肝要である。
【0080】
【発明の効果】本発明によれば、隣り合った2chを入
れ換えることのできるクロスポイントスイッチを用いる
ことで、振動子の直後に置く遅延線の物量を半分に減ら
すことができ、回路規模の少ない超音波診断装置を実現
できるという利点を有する。
れ換えることのできるクロスポイントスイッチを用いる
ことで、振動子の直後に置く遅延線の物量を半分に減ら
すことができ、回路規模の少ない超音波診断装置を実現
できるという利点を有する。
【0081】
【0082】
【0083】
【0084】
【0085】
【0086】
【図1】本発明の〔第1の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図2】本発明の〔第2の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図3】本発明の〔第3の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図4】本発明の〔第4の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図5】本発明の〔第4の実施の形態〕においてアナロ
グスイッチおよび遅延線の配置を変えた超音波診断装置
の遅延加算を示す概略ブロック図
グスイッチおよび遅延線の配置を変えた超音波診断装置
の遅延加算を示す概略ブロック図
【図6】本発明の〔第5の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図7】本発明の〔第6の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図8】本発明の〔第7の実施の形態〕における超音波
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
診断装置の遅延加算を示す概略ブロック図
【図9】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンの説明図
ンの説明図
【図10】従来例における超音波診断装置のリニアスキ
ャンにおけるフォールドオーバの説明図
ャンにおけるフォールドオーバの説明図
【図11】従来例における超音波診断装置のリニアスキ
ャンにおける2次元スキャン方式の説明図
ャンにおける2次元スキャン方式の説明図
【図12】従来例における超音波診断装置のリニアスキ
ャンにおけるマスタスレーブ方式の説明図
ャンにおけるマスタスレーブ方式の説明図
【図13】従来例における超音波診断装置のリニアスキ
ャンにおけるピンポン方式の説明図
ャンにおけるピンポン方式の説明図
【図14】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンの説明図
ャンの説明図
1〜16 振動子 21〜28 2:1のアナログスイッチ 29 8:4のクロスポイントスイッチ部 30〜32 可変遅延線 33,34,35 加算器 41〜48 可変遅延線 50 遅延線群 51〜54 可変遅延線 52〜58 遅延線 60 加算器 61〜68 電圧−電流変換器 70 8:4のクロスポイントスイッチ 71〜74 電流−電圧変換器 80 2:1のアナログスイッチ 90,91 固定遅延線 100 反射体 108,109 アナログスイッチ 121〜128 アナログスイッチ 129 4:3のCPS部 130 遅延加算部 131〜134 2:2の CPS部 150 遅延加算部 250〜253 遅延加算部 254,255 遅延線群 229 4:6のCPS部 329 4:3のCPS部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−51939(JP,A) 特開 平7−155318(JP,A) 特開 平1−201240(JP,A) 特開 昭53−28989(JP,A) 特開 昭56−112234(JP,A) 特開 昭63−242242(JP,A) 実開 昭55−158706(JP,U) 実開 昭57−14067(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) A61B 8/00 - 8/15
Claims (2)
- 【請求項1】セクタスキャンにおける受信信号を超音波
から電気信号に変換する複数の振動子と、複数の前記振
動子のうち隣り合った2つの前記振動子が入力側に接続
される2入力2出力の第1のクロスポイントスイッチ
と、前記第1のクロスポイントスイッチの一方の出力に
接続される遅延量が可変できる第1の遅延線と、前記第
1の遅延線の出力と前記第1クロスポイントスイッチの
他方の出力とに接続され加算する第2のクロスポイント
スイッチと、前記第2のクロスポイントスイッチの出力
にそれぞれ接続される複数の遅延量が可変できる第2の
遅延線と複数の加算器により構成され前記第2のクロス
ポイントスイッチの複数の出力信号を遅延し順次加算す
ることで遅延加算出力を生成する遅延加算部とを備え、
ビーム偏向の方向により隣り合った2つの前記振動子の
信号のうちどちらを前記遅延線に接続させるかを前記第
1のクロスポイントによって設定することを特徴とする
超音波診断装置。 - 【請求項2】セクタスキャンにおける受信信号を超音波
から電気信号に変換する複数の振動子と、複数の前記振
動子のうち隣り合った一方の振動子に接続される遅延量
が可変できる第1の遅延線と、前記第1の遅延線の出力
と複数の前記振動子のうち隣り合った他方の振動子とに
接続されるクロスポイントスイッチと、前記クロスポイ
ントスイッチの出力にそれぞれ接続される複数の遅延量
が可変できる第2の遅延線と複数の加算器により構成さ
れ前記クロスポイントスイッチの複数の出力信号を遅延
し順次加算することで遅延加算出力を生成する遅延加算
部とを備え、前記クロスポイントの隣り合った2つの入
力をこのクロスポイントスイッチの内部接続によって加
算し、この隣り合った2つの入力の組み合わせがビーム
偏向の方向により決定されることを特徴とする超音波診
断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24352195A JP3294974B2 (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24352195A JP3294974B2 (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0984795A JPH0984795A (ja) | 1997-03-31 |
JP3294974B2 true JP3294974B2 (ja) | 2002-06-24 |
Family
ID=17105150
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24352195A Expired - Fee Related JP3294974B2 (ja) | 1995-09-22 | 1995-09-22 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
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Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP3924263B2 (ja) | 2003-06-09 | 2007-06-06 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 超音波診断装置 |
JP5460144B2 (ja) * | 2008-08-11 | 2014-04-02 | キヤノン株式会社 | 超音波受信ビーム成形装置 |
JP5405225B2 (ja) * | 2009-07-29 | 2014-02-05 | 日立アロカメディカル株式会社 | 超音波診断装置 |
CN104812311B (zh) * | 2012-12-07 | 2017-07-04 | 株式会社日立制作所 | 超声波探头及超声波诊断装置 |
-
1995
- 1995-09-22 JP JP24352195A patent/JP3294974B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0984795A (ja) | 1997-03-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |