JP3215023B2 - 超音波診断装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は複数の振動子からな
る探触子によりエコー信号を受信し、遅延加算を行なう
機能をもつ超音波診断装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】超音波診断装置の送受信において複数の
振動子から構成される探触子により、広範囲の被検部位
について質の高い画像を得る手法は最近ではよく用いら
れている。

【０００３】図７はリニアスキャンにおける複数の振動
子によりエコー信号を受信した場合の信号の合成を示し
ている。反射体１００により反射した信号を振動子１〜
８で受信するとき、反射体１００から各振動子１〜８ま
での距離は異なるため、反射体から各振動子までの信号
の到達時間に差が発生する。この時間差を遅延線１９１
〜１９８により補正し、加算器１８０により加算して１
つの出力を得る。

【０００４】この処理を、以後はフォーカスをすると言
う。フォーカスをすることでビームを細く絞ることがで
き、分解能を向上することができるほか、ランダムノイ
ズを低減することができ、Ｓ／Ｎ比を向上させることが
できる。

【０００５】遅延線１９１〜１９８としてはアナログ方
式の遅延線がよく用いられているが、最近ではＡ／Ｄ変
換器とディジタルメモリを組み合わせたディジタル遅延
線も使用され始めている。

【０００６】アナログ遅延線における遅延時間の切替
は、中間タップ付きのアナログ遅延線のタップをアナロ
グスイッチで切り換える方式が一般的である。リニアス
キャンにおいては、ビームは振動子の配列方向と垂直で
ある。従ってアパチャー中心から対称な位置にある振動
子、すなわち、振動子１と振動子８、振動子２と振動子
７、振動子３と振動子６、振動子４と振動子５に必要な
遅延時間は等しいため、図８に示すように各々の遅延時
間の等しい信号を加算器１８０〜１８４で加算してから
遅延手段に入力することで遅延線の数を半分に減らすこ
とができる。この方式をフォールド・オーバと呼ぶ。

【０００７】図９は２次元スキャンを考慮にいれたリニ
アスキャンの遅延加算部を示しており、１８はリニアス
キャン用探触子で、振動子１〜１６から構成されてい
る。２１〜２８はそれぞれ２：のアナログスイッチであ
る。３０は８：４のクロスポイントスイッチ部（以下、
ＣＰＳ部と称す）で、電圧−電流変換器１０６〜１１３
と、８：４のクロスポイントスイッチ（以下、ＣＰＳと
称す）１０５と、電流−電圧変換器１１４〜１１７とで
構成されている。５０は遅延加算部である。

【０００８】次に図９における動作を説明する。リニア
スキャンにおけるビームの移動は選択する振動子をスイ
ッチで順次切り換えていくことで行なわれる。図９にお
いては振動子１〜１６の１６個の振動子のうち８個を選
択するようになっており、アナログスイッチ２１〜２８
を全てａ側にすることで振動子１〜８が選択され、ビー
ムの位置は振動子４と振動子５の中間に設定される。

【０００９】次に、アナログスイッチ２１をｂ側に接続
すると、振動子１の代わりに振動子９が選択され、アパ
チャーは振動子２〜９となりビーム位置は振動子５と振
動子６の間に移動する。同様にアナログスイッチ２１〜
２８を順次切り換えていくことでビームの位置を移動さ
せることができる。

【００１０】アナログスイッチ２１〜２８で選択された
信号はＣＰＳ部３０に入力される。ＣＰＳ部３０ではア
ナログスイッチ２１〜２８を通過した８つの信号を、必
要な遅延時間の等しい２つずつの信号を加算し、４種類
の信号を出力する前記フォールド・オーバを行なう。Ｃ
ＰＳ部３０に入力した信号は電圧−電流変換器１０６〜
１１３により電流信号に変換され、ＣＰＳ１０５の接続
により電流加算されたのち、電流−電圧変換器１１４〜
１１７により電圧信号に変換されて出力される。ＣＰＳ
部３０より出力された信号は遅延加算部５０に入力さ
れ、遅延加算されて出力される。

【００１１】次に、セクタスキャンでの複数振動子から
の受信信号を合成する方法につき図１０を用いて説明す
る。図１０において、反射体１００により反射した信号
を振動子１〜８で受信するとき、反射体１００から各振
動子までの距離は異なるため、反射体から各振動子まで
の信号の到達時間に差が発生する。この時間差を遅延線
１９１〜１９８により補正し、加算器１８０により加算
して１つの出力を得る。

【００１２】セクタスキャンでは、振動子の配列方向と
ビームのなす角θを自在に変化させることによってスキ
ャンする。そのために、遅延線１９１〜１９８はリニア
スキャンの場合と異なり、すべて違った値となる。遅延
線１９１〜１９８の遅延時間を制御することにより、振
動子の配列方向とビームのなす角θをさまざまに変化さ
せることができる。この処理を以後、偏向をすると言
い、振動子の配列方向とビームのなす角θを偏向角と言
う。

【００１３】セクタスキャンを行うためのブロック図を
図１１に示す。１５０は遅延加算部である。セクタスキ
ャンでは常にすべての振動子１〜８を使用するため、リ
ニアスキャンで用いたアナログスイッチ２１〜２８およ
びＣＰＳ部３０を必要としない。また、セクタスキャン
では偏向によりスキャンを行なうため、フォールド・オ
ーバが不可能であり、振動子の数だけの遅延線を用意し
なければならない。また、ビームを偏向するために遅延
加算部１５０はリニアスキャンに比べ長い遅延線が必要
である。

【００１４】リニアスキャンとセクタスキャンの両方を
１台の装置で実現する方法として図１２に示すようなプ
リサミングディレイと呼ばれる方式が考えられている。
図１２はコネクタ１９にセクタスキャン用探触子１７を
接続した状態を示している。セクタスキャン用探触子１
７は、エコー信号を電気信号に変換する振動子１〜８で
構成されている。２１〜２８は振動子１〜８の信号を選
択する２：１のアナログスイッチ、８１〜８４は可変遅
延線、３０は可変遅延線８１〜８４を通った４つの信号
のうち２つずつを加算し４種類の信号を出力するＣＰＳ
部、５０は４つの信号をそれぞれ必要な遅延量だけ遅延
させ、それらを加算する遅延加算部である。

【００１５】リニアスキャンを行う場合の構成は、コネ
クタ１９にリニアスキャン用探触子１８を接続し、可変
遅延線８１〜８４は遅延時間が零に設定される。これは
図９と同じ構成となる。

【００１６】図１２の動作について説明する。リニアス
キャンにおいては、アナログスイッチ２１〜２８のａ側
に振動子１〜８が、ｂ側に振動子９〜１６が接続され、
可変遅延線８１〜８４は遅延時間が零に設定され、図９
とまったく同じ動作が行なわれる。

【００１７】セクタスキャンにおいては、アナログスイ
ッチ２１〜２８によって、隣り合った２つの信号のうち
どちらを可変遅延線８１〜８４に入力するかを選択し、
遅延線を通った信号と遅延線を通っていない信号をＣＰ
Ｓ部３０によって加算する。可変遅延線８１〜８４は２
つの信号の時間差を補正するために用いられる。

【００１８】ビーム方向がＡである場合、振動子２より
振動子１、振動子４より振動子３、振動子６より振動子
５、振動子８より振動子７のほうが速いタイミングで信
号を受信する。このときアナログスイッチ２１〜２８は
ｂ側を選択し、振動子１，３，５，７の信号は可変遅延
線８１〜８４を通るように設定され、可変遅延線８１〜
８４はそれぞれの２つの振動子における時間を補正する
値に設定される。

【００１９】ビーム方向がＢの場合には、振動子１より
振動子２、振動子３より振動子４、振動子６より振動子
５、振動子８より振動子７のほうが速いタイミングで信
号を受信するため、アナログスイッチ２１〜２４はａ側
を選択し、アナログスイッチ２５〜２８はｂ側を選択す
る。振動子２，４，５，７の信号は可変遅延線８１〜８
４を通るように設定され、可変遅延線８１〜８４はそれ
ぞれの２つの振動子における時間を補正する値に設定さ
れる。

【００２０】ビーム方向がＣの場合、Ａとは逆に、振動
子１より振動子２、振動子３より振動子４、振動子５よ
り振動子６、振動子７より振動子８のほうが速いタイミ
ングで信号を受信するため、アナログスイッチ２１〜２
８はａ側を選択し、振動子２，４，６，８の信号は可変
遅延線８１〜８４を通るように設定され、可変遅延線８
１〜８４はそれぞれの２つの振動子における時間を補正
する値に設定される。

【００２１】この方法によれば、ＣＰＳ部３０以降の信
号を受信信号数の半分で処理でき、リニアスキャンのフ
ォールドオーバー方式と多くの回路を共用でき、回路規
模の小さな超音波診断装置を実現できる。

【００２２】セクタスキャンはビームの偏向角を変える
ことでスキャンを行なうが、例えば循環器系の診断にお
いて肋間から心臓を診断する場合、肋骨に超音波信号の
一部が当たることによる反射を発生し、診断画像を劣化
させることがある。

【００２３】それを解決するために図１３に示すように
アパチャーの大きさを制限して、肋骨に超音波信号が直
接に当たらないようにする方法が用いられる。２０１，
２０３はそれぞれ振動子１，３より送受信される超音波
信号の経路、１４０は肋骨、１３５は各ビームの交わる
点（以下、ビーム仮想原点と呼ぶ）、１３４はセクタ走
査視野である。

【００２４】図１３の（ａ）に示すようにすべての振動
子を使ってスキャンを行う場合、ビーム方向をＡとした
ときに、振動子１より送信された超音波信号２０１は肋
骨１４０に当たって反射し、診断画像を劣化させる原因
となる。

【００２５】図１３の（ｂ）に示すようにアパチャーを
振動子３〜８に制限すれば、送信された超音波信号が肋
骨１４０には当たらないため、肋骨による反射の影響は
なくなる。

【００２６】図１３の（ｂ）はすべての振動子を使った
場合の走査視野を、図１３の（ｄ）はアパチャーの大き
さを制限し移動させた場合の走査視野１３４を示してい
る。アパチャーの大きさを制限し、位置を移動させた場
合はアパチャーの中心は振動子５と振動子６の間に移動
するため、ビーム仮想原点１３５は図１３の（ｄ）のよ
うに探触子の前方、つまり被検体内部に移動する。

【００２７】

【発明が解決しようとする課題】肋骨による反射の影響
をなくすためにアパチャーの大きさと位置を制御し、ビ
ームの位置を移動することは有効な手段である。しか
し、これを実現するためには専用のアパチャー制御回路
と、専用の膨大なフォーカスデータが必要である。

【００２８】本発明は、専用の回路を必要とせず、わず
かな制御データの増加だけでアパチャーを制御し、肋骨
による反射の影響を低減できる超音波診断装置を提供す
ることを目的とする。

【００２９】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の超音波診
断装置は、複数の振動子からなるリニアスキャン用の探
触子と複数の振動子からなるセクタスキャン用の探触子
とを差し替えて接続することができる超音波診断装置で
あって、リニアスキャンにおける同一の遅延時間を必要
とする振動子の出力信号を入力し加算を行うクロスポイ
ントスイッチを設け、セクタスキャンにおいて前記クロ
スポイントスイッチによりアパチャーの大きさと位置を
制御することを特徴とする。

【００３０】したがって、これまでリニアスキャンのみ
にしか用いていなかったＣＰＳ部を使用して、セクタス
キャンにおけるアパチャーの大きさと位置を制御するこ
とにより、スイッチなどの回路やフォーカスデータの追
加なく、わずかな制御データの増加だけでビームの位置
を変え、肋骨などによる反射の影響を低減する。

【００３１】請求項２記載の超音波診断装置は、複数の
振動子からなるリニアスキャン用の探触子と複数の振動
子からなるセクタスキャン用の探触子とを差し替えて接
続することができる超音波診断装置であって、振動子の
選択を行うアナログスイッチと、同一の遅延時間を必要
とする振動子の出力信号を入力し加算を行うクロスポイ
ントスイッチと、セクタスキャンにおける振動子の半数
の遅延線とを設け、前記アナログスイッチは、セクタス
キャンにおいて隣り合う２つの振動子のどちらの受信信
号を前記遅延線に入力するか選択し、前記クロスポイン
トスイッチは、前記振動子の出力あるいは前記遅延線を
通った振動子の出力を入力して隣り合う２つの出力信号
の加算を行い、かつ前記クロスポイントスイッチにより
アパチャーの大きさと位置を制御することを特徴とす
る。

【００３２】したがって、プリサミングディレイ方式を
用いた装置において、セクタスキャンではこれまで受信
信号の加算のみに用いていたＣＰＳ部を使用して、アパ
チャーの大きさと位置を制御することにより、スイッチ
などの回路やフォーカスデータの追加なく、わずかな制
御データの増加だけでビームの位置を変え、肋骨などに
よる反射の影響を低減する。

【００３３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
１〜図６に基づいて説明する。なお、従来例と同様の作
用をなすものには同一の符号を付けて説明する。

【００３４】〔第１の実施の形態〕図１はコネクタ１９
にセクタスキャン用探触子１７を接続した状態を示して
いる。また、リニアスキャンを行う場合は、コネクタ１
９にはリニアスキャン用探触子１８を接続する。

【００３５】図１において、セクタスキャン用探触子１
７はエコー信号を電気信号に変換する振動子１〜８で構
成される。１３０は８：８のＣＰＳ部、３１〜３８はＣ
ＰＳ部１３０の入力端子、４１〜４８はＣＰＳ部１３０
の出力端子、１５０は遅延加算部、５１〜５８は遅延加
算部１５０の入力端子である。

【００３６】この〔第１の実施の形態〕は図９に示した
従来例と比較し、ＣＰＳ部出力端子が２倍となっている
点が異なる。これは、セクタスキャンにおいてフォール
ドオーバを用いることができないことによる。

【００３７】〔第１の実施の形態〕のリニアスキャンに
おける動作は図９に示した従来例とまったく同じであ
る。リニアスキャンを行う場合は、コネクタ１９にリニ
アスキャン用探触子１８を接続し、アナログスイッチ２
１〜２８を設け、これにより振動子を順次切り換えてい
くことでアパチャーの移動を行う。

【００３８】次に、セクタスキャンにおいて、すべての
アパチャーを用いてスキャンを行っている場合について
図２を用いて説明する。１２０は音響ビーム、１３４は
セクタ走査視野、１３５はビーム仮想原点、θ１〜θ３
は音響ビーム１２０の偏向角度である。

【００３９】すべての振動子を用いてセクタスキャンを
行っている場合のＣＰＳ部１３０は、図２の（ａ）〜
（ｃ）に示すように向かい合う端子に接続され、接続状
態は音響ビーム１２０の偏向角度によらず、常に一定で
ある。

【００４０】次に、アパチャーを制限してスキャンを行
っている場合について図３を用いて説明する。１３７〜
１３９はアパチャーの中心、Ｄはビーム仮想原点１３５
とセクタスキャン用探触子１７の表面との距離である。

【００４１】音響ビーム１２０を図３の（ａ）に示すよ
うに偏向角度θ１で偏向した場合には、アパチャーは振
動子５〜８を用いる。この選択はＣＰＳ部１３０で行
う。選択された受信信号は遅延加算部１５０に入力する
が、このとき入力する遅延加算部１５０の端子は、すべ
てのアパチャーを使用したときアパチャーの中心付近が
入力される端子、つまり入力端子５３〜５６である。つ
まり、ＣＰＳ部１３０の接続状態は図３の（ａ）に示す
ようになる。

【００４２】音響ビーム１２０を図３の（ｂ）に示すよ
うに偏向角度θ２で偏向した場合には、図１３の（ａ）
に示すように、すべての振動子を用いることも可能であ
るが、受信信号の感度を一定にするため、およびＣＰＳ
部１３０におけるアパチャーの制御を簡単にするため、
図３の（ａ）と同じ大きさに制限する。つまり、アパチ
ャーは振動子３〜６を用いる。そして、図３の（ａ）と
同様に遅延加算部１５０の入力端子５３〜５６に入力す
る。このときのＣＰＳ部１３０の接続状態は図３の
（ｂ）のようになる。

【００４３】音響ビーム１２０を図３の（ｃ）に示すよ
うに偏向角度θ３で偏向した場合には、アパチャーは振
動子１〜４を用いる。そして、図３の（ａ）と同様に遅
延加算部の入力端子５３〜５６に入力する。このときの
ＣＰＳ部１３０の接続状態は図３の（ｃ）のようにな
る。

【００４４】遅延加算部１５０における遅延量は、音響
ビーム１２０の偏向角度が同一ならば、アパチャーの大
きさ，位置によらず一定である。つまり、図２の（ａ）
の遅延加算部１５０と図３の（ａ）の遅延加算部１５０
は同一の設定である。同様に、図２の（ｂ）と図３の
（ｂ）、図２の（ｃ）と図３の（ｃ）の遅延加算部１５
０は同一の設定である。

【００４５】アパチャーの位置を変え、ビームの位置を
変えたため、各音響ビーム１２０はセクタスキャン用探
触子１７の表面から距離Ｄだけ離れた点で交差する。し
たがって、走査視野１３４は図３の（ｄ）に示すように
なる。

【００４６】このように、リニアスキャンの音響ビーム
の位置変更用のＣＰＳ部１３０により、遅延加算部１５
０における遅延量を変えることなく、セクタスキャン時
のアパチャーの幅および位置を変えることができる。し
たがって、アパチャーの制御のためのフォーカスデータ
の増大を抑えることができ、リニアスキャン用のＣＰＳ
部１３０を使うため、スイッチなどの新たな専用の回路
を付け加えることなく実現できる。

【００４７】〔第２の実施の形態〕図４はコネクタ１９
にセクタスキャン用探触子１７を接続した状態を示して
いる。また、リニアスキャンを行う場合は、コネクタ１
９にはリニアスキャン用探触子１８を接続し、可変遅延
線８１〜８４は遅延時間を零に設定する。これは図９と
同じ構成となる。

【００４８】図４において、セクタスキャン用探触子１
７は振動子１〜８で構成されている。２１〜２８は振動
子１〜８の選択を行なう２：１のアナログスイッチ、８
１〜８４は可変遅延線、３０は８：４のＣＰＳ部、３１
〜３８はＣＰＳ部の入力端子、４１〜４４はＣＰＳ部の
出力端子、５０は遅延加算部、５１〜５４は遅延加算部
５０の入力端子である。

【００４９】まず、リニアスキャンにおいてはアナログ
スイッチ２１〜２８のａ側に振動子１〜８が、ｂ側に振
動子９〜１６が接続され、可変遅延線８１〜８４は遅延
時間が零に設定され、図９とまったく同じ動作が行なわ
れる。

【００５０】次に、セクタスキャンにおいて、すべての
アパチャーを用いてスキャンを行っている場合について
図５を用いて説明する。すべての振動子を用いてスキャ
ンを行っている場合のＣＰＳ部３０は、図５の（ａ）〜
（ｃ）に示すように隣り合う２つの信号を加算するため
のみに用いられ、スイッチの接続状態は音響ビーム１２
０の偏向角度によらず一定である。

【００５１】次に、アパチャーを制限してスキャンを行
っている場合について図６を用いて説明する。１３７〜
１３９はアパチャーの中心である。音響ビーム１２０を
図６の（ａ）に示すように偏向角度θ１で偏向した場合
には、アパチャーは振動子５〜８を用いる。この選択は
ＣＰＳ部３０で行う。選択された受信信号は隣り合う信
号を加算して遅延加算部５０に入力するが、このとき入
力する遅延加算部５０の端子は、すべてのアパチャーを
使用したときアパチャーの中心付近が入力される端子、
つまり入力端子５２，５３である。つまり、ＣＰＳ部３
０の接続状態は図６の（ａ）に示すようになる。

【００５２】音響ビーム１２０を図６の（ｂ）に示すよ
うに偏向角度θ２で偏向した場合には、図１３の（ａ）
に示すようにすべての振動子を用いることも可能である
が、受信信号の感度を一定にするため、およびＣＰＳ部
３０におけるアパチャーの制御を簡単にするため、図６
の（ａ）と同じ大きさに制限する。つまり、アパチャー
は振動子３〜６を用いる。そして、図６の（ａ）と同様
に遅延加算部の入力端子５２と５３に入力する。このと
きのＣＰＳ部３０の接続状態は図６の（ｂ）のようにな
る。

【００５３】音響ビーム１２０を図６の（ｃ）に示すよ
うに偏向角度θ３で偏向した場合には、アパチャーは振
動子１〜４を用いる。そして、図６の（ａ）と同様に遅
延加算部の入力端子５２，５３に入力する。このときの
ＣＰＳ部３０の接続状態は図６の（ｃ）のようになる。

【００５４】遅延加算部５０における遅延量は、音響ビ
ーム１２０の偏向角度が同一ならば、アパチャーの大き
さ、位置によらず一定である。つまり、図２の（ａ）の
遅延加算部５０と図３の（ａ）の遅延加算部５０は同一
の設定である。同様に、図２の（ｂ）と図３の（ｂ）、
図２の（ｃ）と図３の（ｃ）の遅延加算部５０は同一の
設定である。

【００５５】アパチャーの位置を変え、ビームの位置を
変えたため、各音響ビーム１２０はセクタスキャン用探
触子１７の表面から距離Ｄだけ離れた点で交差する。し
たがって、走査視野１３４は図６の（ｄ）に示すように
なる。

【００５６】このように、リニアスキャンの音響ビーム
のビーム位置変更用のＣＰＳ部３０により、遅延加算部
５０における遅延量とアナログスイッチ２１〜２８の設
定を変えることなく、セクタスキャン時のアパチャーの
幅および位置を変えることができる。したがって、アパ
チャーの制御のためのフォーカスデータの増大を抑える
ことができ、リニアスキャン用のＣＰＳ部３０を使うた
め、スイッチなどの新たな専用の回路を付け加えること
なく実現できる。

【００５７】

【発明の効果】請求項１の構成によると、リニアスキャ
ンとセクタスキャンの両方を行うことのできる装置にお
いて、従来のセクタスキャンでは使用していないリニア
スキャンのビーム選択用ＣＰＳ部を、セクタスキャンに
おいて制御することによって、アパチャーの大きさおよ
び位置を制御するので、スイッチなどの回路およびフォ
ーカスデータの増加がなく、ＣＰＳ部を制御するわずか
なデータの増加だけで、セクタスキャンにおけるアパチ
ャーの大きさと位置を変えることができ、それによって
ビームの位置を変えることのできる超音波診断装置を実
現できる。この装置は、特に肋間からの心臓の診断にお
ける肋骨の反射の影響を低減したセクタスキャンを実現
できる。

【００５８】請求項２の構成によると、プリサミングデ
ィレイ方式を用いた装置において、セクタスキャンでは
２信号の加算のみに使用しているリニアスキャンのビー
ム選択用のＣＰＳ部を、セクタスキャンにおいて制御す
ることによって、アパチャーの大きさおよび位置を制御
するので、スイッチなどの回路およびフォーカスデータ
の増加がなく、ＣＰＳ部を制御するわずかなデータの増
加だけで、セクタスキャンにおけるアパチャーの大きさ
と位置を変えることができ、それによってビームの位置
を変えることのできる超音波診断装置を実現できる。こ
の装置は、特に肋間からの心臓の診断における肋骨の反
射の影響を低減したセクタスキャンを実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の超音波診断装置の第１の実施の形態に
おける遅延加算を示す概略ブロック図である。

【図２】同実施の形態のすべての振動子を用いた場合の
動作を示す説明図である。

【図３】同実施の形態のアパチャーを制御した場合の動
作を示す説明図である。

【図４】本発明の超音波診断装置の第２の実施の形態の
遅延加算を示す概略ブロック図である。

【図５】同実施の形態のすべての振動子を用いた場合の
動作を示す説明図である。

【図６】同実施の形態のアパチャーを制御した場合の動
作を示す説明図である。

【図７】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンの説明図である。

【図８】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンにおけるフォールドオーバの説明図である。

【図９】従来例における超音波診断装置のリニアスキャ
ンにおける２次元スキャン方式の説明図である。

【図１０】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンの説明図である。

【図１１】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンにおける２次元スキャンの説明図である。

【図１２】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンにおけるプリサミングディレイ方式の説明図であ
る。

【図１３】従来例における超音波診断装置のセクタスキ
ャンにおけるアパチャー制御の説明図である。

【符号の説明】

１〜１６ 振動子 １７ セクタスキャン用探触子 １８ リニアスキャン用探触子 １９ コネクタ ２１〜２８ アナログスイッチ ３０ ＣＰＳ部 ３１〜３８ ＣＰＳ部の入力端子 ４１〜４８ ＣＰＳ部の出力端子 ５０ 遅延加算部 ５１〜５８ 遅延加算部の入力端子 ８１〜８４ 可変遅延線 １０５ ＣＰＳ １０６〜１１３ 電圧−電流変換器 １１４〜１１７ 電流−電圧変換器 １２０ 音響ビーム １３０ ＣＰＳ部 １３４ セクタ走査視野 １３５ ビーム仮想原点 １３７〜１３９ アパチャー中心 １５０ 遅延加算部 １８０ 加算器 １８１〜１８４ 加算器 １９１〜１９８ 可変遅延線

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−11027（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−256941（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−201240（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−231892（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−2737（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−51939（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) A61B 8/00 - 8/15

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の振動子からなるリニアスキャン用
   の探触子と複数の振動子からなるセクタスキャン用の探
   触子とを差し替えて接続することができる超音波診断装
   置であって、 リニアスキャンにおける同一の遅延時間を必要とする振
   動子の出力信号を入力し加算を行うクロスポイントスイ
   ッチを設け、 セクタスキャンにおいて前記クロスポイントスイッチに
   よりアパチャーの大きさと位置を制御する超音波診断装
   置。
2. 【請求項２】 複数の振動子からなるリニアスキャン用
   の探触子と複数の振動子からなるセクタスキャン用の探
   触子とを差し替えて接続することができる超音波診断装
   置であって、 振動子の選択を行うアナログスイッチと、 同一の遅延時間を必要とする振動子の出力信号を入力し
   加算を行うクロスポイントスイッチと、 セクタスキャンにおける振動子の半数の遅延線とを設
   け、 前記アナログスイッチは、セクタスキャンにおいて隣り
   合う２つの振動子のどちらの受信信号を前記遅延線に入
   力するか選択し、 前記クロスポイントスイッチは、前記振動子の出力ある
   いは前記遅延線を通った振動子の出力を入力して隣り合
   う２つの出力信号の加算を行い、 かつ前記クロスポイントスイッチによりアパチャーの大
   きさと位置を制御する超音波診断装置。