JP3292449B2 - チップ部品の電気特性測定端子及びこれを用いた電気特性測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、チップ部品の電気
特性測定端子及びこれを用いた電気特性測定装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、チップ抵抗器等のチップ部品に対
する電気特性の測定は自動的に行われるようになり部品
生産の効率が図られている。

【０００３】図２は、この種のチップ部品の電気特性測
定装置の要部を示す外観図である。図において、１は直
方体形状を有しその長手方向両端部のそれぞれに外部電
極１ａが形成されている例えばチップ抵抗等のチップ部
品、１１はチップ部品支持ユニット、２０は測定端子、
３１は駆動ユニット、３２は測定処理ユニットである。

【０００４】チップ部品支持ユニット１１は、外周部に
所定間隔をあけて凹凸部が形成された歯車形状を有し、
水平に載置されて図示せぬステッピングモータ等によっ
て回転される。また、チップ部品支持ユニット１１の外
周部奥部には所定位置においてチップ部品１が装填さ
れ、電気特性が測定された後に良品と不良品が分別され
て排出される。

【０００５】測定端子２０は、チップ部品支持ユニット
１１の外周部上に位置するように駆動ユニット３１によ
って支持されると共に、駆動ユニット３１によって上下
方向に移動される。この測定端子２０は、例えば図３の
（ａ）（ｂ）に示すように、導電部材からなる円柱形状
の２つの測定用電極片（以下、電極片と称する）２１
ａ，２１ｂを有し、これらの電極片２１ａ，２１ｂのそ
れぞれは、その一端が筐体２２の底面に形成された開口
部２２ａ ，２２ｂを介して、筐体２２内に設けられた
摺動筒２３ａ，２３ｂに挿入され、他端は下方向を向け
て筐体２２の外部に突出されている。ここで、図３の
（ａ）は正面断面図、図３の（ｂ）は底面図である。

【０００６】また、摺動筒２３ａ，２３ｂ内に挿入され
た電極片２１ａ，２１ｂの一端はコイルバネ２４ａ，２
４ｂによって弾性支持されている。

【０００７】ここで、電極片２１ａ，２１ｂの間隔は、
双方の電極片２１ａ，２１ｂがチップ部品の両端の異な
る外部電極１ａに当接できる間隔に設定されている。

【０００８】駆動ユニット３１は、チップ部品支持ユニ
ット１１の回転に同期して測定端子２０を上下移動し、
測定に際しては測定端子２０の下方に移動させて、電極
片２１ａ，２１ｂをチップ部品１の外部電極に当接す
る。

【０００９】測定処理ユニット３２は、ＣＰＵを主体と
する中央処理部及び電極片２１ａ，２１ｂへの通電回路
及び抵抗値測定回路等から構成され、電極片２１ａ，２
１ｂを介してチップ部品１に通電し、その抵抗値を測定
する。

【００１０】前述の構成によれば、チップ部品１の抵抗
値測定に際しては、図４に示すように、測定端子２０の
電極片２１ａ，２１ｂのそれぞれがチップ部品１の外部
電極１ａに当接された状態で通電され、抵抗値の測定が
行われる。

【００１１】これにより、自動的に高速な電気特性の測
定が行われる。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の装置においては、測定を行うにつれ、電極片２
１ａ、２１ｂの先端部に塵や埃等の絶縁物が付着して測
定精度が低下し、良品を不良品としてして誤判定するこ
とが多々あった。

【００１３】この問題点を解決する手段として、図５の
（ａ）（ｂ）に示すように、電極片２１ａ，２１ｂの先
端を、断面楔状に尖らし、先端面の面積を小さくして、
先端面への塵や埃等の絶縁物の付着を防止する方法が考
えられた。ここで、図５の（ａ）は正面断面図、図５の
（ｂ）は底面図である。

【００１４】しかし、このように先端が尖った電極片２
１ａ，２１ｂを用いて測定を行った場合、チップ部品１
に傷を付けたり、チップ部品１にクラックを発生させた
りすることがあった。

【００１５】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、塵や
埃の影響を受けずに高精度に電気特性を測定できるチッ
プ部品の電気特性測定端子及びこれを用いた電気特性測
定装置を提供することにある。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために請求項１では、直方体形状の素体の両端部
に外部電極を備えたチップ部品の電気特性測定端子であ
って、所定形状の可動体に支持された平行な２つの支軸
と、所定の長さを有し、前記各支軸の回りに回動可能に
前記各支軸に支持されると共に、互いに電気的に絶縁さ
れた少なくとも２つの測定用電極片と、前記２つの支軸
を結ぶ辺の近傍位置を定位置とし、それぞれの支軸に支
持された測定用電極片を前記定位置に弾性支持する弾性
支持手段とを備え、前記測定用電極片は、前記定位置に
おいて、前記２つの測定用電極片の互いに対向する先端
面の間に前記チップ部品の両端部の外部電極間の間隔に
相当する間隙が形成され且つ前記外部電極に接触する面
が前記２つの支軸を結ぶ辺よりもチップ部品側に位置す
るように設けられているチップ部品の電気特性測定端子
を提案する。

【００１７】該チップ部品の電気特性測定端子によれ
ば、電気特性測定に際しては、例えば平板上に載置され
たチップ部品に対して上方向から２つの測定用電極片の
対向端部をチップ部品のほぼ真上にして、２つの測定用
電極片のそれぞれが異なる外部電極に当接するように測
定端子が徐々に下降される。これにより、前記測定用電
極片がチップ部品の外部電極に当接した際には、弾性支
持されながら測定用電極片が支軸の回りに回動し、チッ
プ部品の上面の両端の外部電極が形成されている辺の部
分が測定用電極片に当接する。この後、測定端子がさら
に下降されるに伴いこれらの接触位置は徐々に移動す
る。この状態で、前記測定用電極片を介してチップ部品
に通電され、電気特性が測定される。従って、前記測定
用電極片とチップ部品の接触位置はこれらを当接させた
状態で移動しているので、測定用電極片への埃等の絶縁
物の付着が防止される。

【００１８】また、請求項２では、請求項１に記載のチ
ップ部品の電気特性測定端子において、前記測定用電極
片の先端部には前記外部電極に接触する平面に対して垂
直な方向に突出した突出部を有し、該突出部に前記外部
電極に接触する平面が形成されているチップ部品の電気
特性測定端子を提案する。

【００１９】該チップ部品の電気特性測定端子によれ
ば、前記測定用電極片の先端部の前記接触面が他の部分
よりも突出しているので、微少なチップ部品の電気特性
を測定する際にも位置合わせ等を容易に行うことができ
る。

【００２０】また、請求項３では、直方体形状の素体の
両端部に外部電極を備えたチップ部品の電気特性測定装
置において、測定対象となるチップ部品の外部電極に通
電する測定端子と、該測定端子を前記チップ部品に接触
させる端子移動手段とを設けると共に、前記測定端子
は、所定形状の可動体と、該可動体に支持され、前記端
子移動手段による移動方向に直交して配置されると共に
互いに平行な２つの支軸と、所定の長さを有し、前記各
支軸の回りに回動可能に前記各支軸に支持されると共
に、互いに電気的に絶縁された少なくとも２つの測定用
電極片と、前記２つの支軸を結ぶ辺の近傍位置を定位置
とし、それぞれの支軸に支持された測定用電極片を前記
定位置に弾性支持する弾性支持手段とを備え、前記測定
用電極片は、前記定位置において、前記２つの測定用電
極片の互いに対向する先端面の間に前記チップ部品の両
端部の外部電極間の間隔に相当する間隙が形成され且つ
前記外部電極に接触する面が前記２つの支軸を結ぶ辺よ
りもチップ部品側に位置するように設けられているチッ
プ部品の電気特性測定装置を提案する。

【００２１】該チップ部品の電気特性測定装置によれ
ば、電気特性測定に際しては、例えば平板上に載置され
たチップ部品に対して、端子移動手段によって上方向か
ら２つの測定用電極片の対向端部をチップ部品のほぼ真
上にして、２つの測定用電極片のそれぞれが異なる外部
電極に当接するように測定端子が徐々に下降される。こ
れにより、前記測定用電極片がチップ部品の外部電極に
当接した際には、弾性支持されながら測定用電極片が支
軸の回りに回動し、チップ部品の上面の両端の外部電極
が形成されている辺の部分が測定用電極片に当接する。
この後、測定端子がさらに下降されるに伴いこれらの接
触位置は徐々に移動する。この状態で、前記測定用電極
片を介してチップ部品に通電され、電気特性が測定され
る。従って、前記測定用電極片とチップ部品の接触位置
はこれらを当接させた状態で移動しているので、測定用
電極片への埃等の絶縁物の付着が防止される。

【００２２】また、請求項４では、請求項３に記載のチ
ップ部品の電気特性測定装置において、前記測定用電極
片の先端部には前記外部電極に接触する平面に対して垂
直な 方向に突出した突出部を有し、該突出部に前記外部
電極に接触する平面が形成されているチップ部品の電気
特性測定装置を提案する。

【００２３】該チップ部品の電気特性測定装置によれ
ば、前記測定用電極片の先端部の前記接触面が他の部分
よりも突出しているので、微少なチップ部品の電気特性
を測定する際にも位置合わせ等を容易に行うことができ
る。

【００２４】また、請求項５では、請求項３に記載のチ
ップ部品の電気特性測定装置において、前記２つの測定
用電極片を１組として２組の測定用電極片を備えている
チップ部品の電気特性測定装置を提案する。

【００２５】該チップ部品の電気特性測定装置によれ
ば、チップ部品の両端のそれぞれの外部電極に２つの電
極片が当接されるので、例えばチップ部品の抵抗値を測
定する際に四端子法を用いることができ、高精度で抵抗
値の測定を行うことができる。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。図１は、本発明の第１の実施形態
におけるチップ部品の電気特性測定装置の要部を示す外
観図、図６の（ａ）（ｂ）は第１の実施形態における測
定端子を示す構成図である。ここで、図６の（ａ）は正
面図、図６の（ｂ）は底面図である。図において、前述
した従来例と同一構成部分は同一符号を持って表しその
説明を省略する。また、従来例と第１の実施形態との相
違点は、従来の測定端子２０に代えて本願発明の測定端
子４１を設けたことにある。

【００２７】即ち、測定端子４１は、図６の（ａ）
（ｂ）に示すように、筐体（可動体）４１１によって水
平に支持された平行な２つの支軸４１２ａ，４１２ｂを
有し、この支軸４１２ａ，４１２ｂの回りに回動可能に
各支軸４１２ａ，４１２ｂに支持された測定用電極片
（以下、電極片と称する）４１３ａ，４１３ｂを備えて
いる。

【００２８】これらの電極片４１３ａ，４１３ｂは、略
Ｌ字形状を有し、互いに電気的に絶縁され、２つの支軸
を結ぶ辺の近傍位置を定位置としてその水平片が配置さ
れ、これらの水平片の先端は所定間隔をあけて対向して
いる。この間隔は、測定対象となるチップ部品１の両端
の外部電極間の間隔にほぼ相当している。

【００２９】一方、電極片４１３ａ，４１３ｂの垂直片
は、一端が筐体４１１に固定されたコイルバネ４１４
ａ，４１４ｂを用いて、その回動方向に弾性支持されて
いる。

【００３０】前述の構成によれば、チップ部品１の電気
特性測定に際しては、図７の（ａ）（ｂ）（Ｃ）に示す
ように、例えば平板上に載置されたチップ部品１に対し
て上方向から２つの電極片４１３ａ，４１３ｂの対向端
部をチップ部品のほぼ真上にして、２つの電極片４１３
ａ，４１３ｂのそれぞれが異なる外部電極１ａに当接す
るように測定端子４１が徐々に下降される。

【００３１】これにより、電極片４１３ａ，４１３ｂが
チップ部品１の外部電極１ａに当接した際には、コイル
バネ４１４ａ，４１４ｂによって弾性支持されながら電
極片４１３ａ，４１３ｂが支軸４１２ａ，４１２ｂの回
りに回動し、チップ部品１の上面の両端の外部電極１ａ
が形成されている辺の部分が電極片４１３ａ，４１３ｂ
に当接する。

【００３２】この後、測定端子４１がさらに下降される
に伴いこれらの接触位置は徐々に移動する。この状態
で、電極片４１３ａ，４１３ｂを介してチップ部品１に
通電され、電気特性が測定される。

【００３３】従って、電極片４１３ａ，４１３ｂとチッ
プ部品１の接触位置が移動している、即ち滑らせて当接
されているので、電極片４１３ａ，４１３ｂの当接面へ
の埃等の絶縁物の付着が防止されるので、電極片４１３
ａ，４１３ｂとチップ部品１の外部電極１ａとの間の接
触抵抗が低減され、高精度の測定を行うことができると
共に、チップ部品１の両端の外部電極１ａのそれぞれに
当接された電極片４１３ａ，４１３ｂはチップ部品１の
中央部に向けて押し当てられるため、電極片４１３ａ，
４１３ｂの外部電極１ａとの接触精度をさらに向上させ
ることができる。

【００３４】次に、本発明の第２の実施形態を説明す
る。第２の実施形態では、図８の（ａ）（ｂ）に示すよ
うに、第１の実施形態における測定端子４１の電極片４
１３ａ，４１３ｂの先端部を下方向にやや突出した突出
部４１５ａ，４１５ｂを有する電極片４１６ａ，４１６
ｂを用いた測定端子４１’を構成した。ここで、図８の
（ａ）は正面図、図８の（ｂ）は底面図である。

【００３５】この測定端子４１’によれば、図９の
（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、チップ部品１の電気
特性測定に際しては、例えば平板上に載置されたチップ
部品１に対して上方向から２つの電極片４１６ａ，４１
６ｂの対向端部をチップ部品１のほぼ真上にして、２つ
の電極片４１６ａ，４１６ｂのそれぞれが異なる外部電
極１ａに当接するように測定端子４１’が徐々に下降さ
れる。

【００３６】これにより、電極片４１６ａ，４１６ｂの
先端の突出部４１５ａ，４１５ｂがチップ部品１の外部
電極１ａに当接した際には、コイルバネ４１４ａ，４１
４ｂによって弾性支持されながら電極片４１６ａ，４１
６ｂが支軸４１２ａ，４１２ｂの回りに回動し、チップ
部品１の上面の両端の外部電極１ａが形成されている辺
の部分が電極片４１６ａ，４１６ｂに当接する。

【００３７】この後、測定端子４１’がさらに下降され
るに伴いこれらの接触位置は徐々に移動する。この状態
で、電極片４１６ａ，４１６ｂを介してチップ部品１に
通電され、電気特性が測定される。

【００３８】従って、電極片４１６ａ，４１６ｂの突出
部４１５ａ，４１５ｂとチップ部品１の接触位置は滑ら
せて当接され、移動しているので、電極片４１６ａ，４
１６ｂの当接面への埃等の絶縁物の付着が防止されるの
で、電極片４１６ａ，４１６ｂとチップ部品１の外部電
極１ａとの間の接触抵抗が低減され、高精度の測定を行
うことができると共に、チップ部品１の両端の外部電極
１ａのそれぞれに当接された電極片４１６ａ，４１６ｂ
はチップ部品１の中央部に向けて押し当てられるため、
電極片４１６ａ，４１６ｂの外部電極１ａとの接触精度
をさらに向上させることができる。

【００３９】また、電極片４１６ａ，４１６ｂに突出部
４１５ａ，４１５ｂを形成したことにより、微少なチッ
プ部品１の電気特性を測定する際にも位置合わせ等を容
易に行うことができる。

【００４０】次に、本発明の第３の実施形態を説明す
る。図１０は、第３の実施形態における測定端子を示す
構成図である。図において、前述した第２の実施形態と
同一構成部分は同一符号をもって表しその説明を省略す
る。また、第２の実施形態と第３の実施形態との相違点
は、電極片を４つ設けた測定端子４１”を備えたことに
ある。

【００４１】即ち、測定端子４１”の支軸４１２ａには
２つの電極片４１６ａ，４１６ｃが回動自在に支持され
ると共に、これらの間には絶縁フィルム４１７ａが介在
され電極片４１６ａ，４１６ｃは互いに電気的に絶縁さ
れている。また、支軸４１２ｂには２つの電極片４１６
ｂ，４１６ｄが回動自在に支持されると共に、これらの
間には絶縁フィルム４１７ｂが介在され電極片４１６
ｂ，４１６ｄは互いに電気的に絶縁されている。

【００４２】前述の構成よりなる測定端子４１”によれ
ば、電気特性の測定に際して、図１１に示すようにチッ
プ部品１の両端のそれぞれの外部電極１ａに２つの電極
片が当接されるので、例えばチップ部品１の抵抗値を測
定する際に四端子法を用いることができ、高精度で抵抗
値の測定を行うことができる。

【００４３】次に、本発明に係る第１参考例を説明す
る。図１２の（ａ）（ｂ）は、本発明に係る第１参考例
のチップ部品の電気特性測定装置における測定端子を示
す構成図である。ここで、（ａ）は正面図、（ｂ）は底
面図をそれぞれ表している。図において、４２は測定端
子で、筐体（可動体）４２１によって水平に支持された
支軸４２２を有し、この支軸４２２の回りに回動可能に
支軸４２２に支持された測定用電極片（以下、電極片と
称する）４２３ａ，４２３ｂを備えている。

【００４４】これらの電極片４２３ａ，４２３ｂは所定
の長さを有すると共に、互いに電気的に絶縁され、支軸
４２２を頂点として所定の角度をなす２辺の位置を定位
置とし、先端部を下方に向けられ、コイルバネ４２４
ａ，４２４ｂによって回動方向に弾性支持されている。

【００４５】また、電極片４２３ａ，４２３ｂの先端部
の間隔は、測定対象となるチップ部品１の長さよりも若
干広く設定されている。

【００４６】前述の構成によれば、チップ部品１の電気
特性測定に際しては、図１３の（ａ）（ｂ）（ｃ）に示
すように、例えば平板上に載置されたチップ部品１に対
して上方向から２つの電極片４２３ａ，４２３ｂの対向
端部をチップ部品のほぼ真上にして、２つの電極片４２
３ａ，４２３ｂのそれぞれが異なる外部電極１ａに当接
するように測定端子４２が徐々に下降される。

【００４７】これにより、電極片４２３ａ，４２３ｂが
チップ部品１の外部電極１ａに当接した際には、コイル
バネ４２４ａ，４２４ｂによって弾性支持されながら電
極片４２３ａ，４２３ｂが支軸４２２の回りに回動し、
チップ部品１の上面の両端の外部電極１ａが形成されて
いる辺の部分が電極片４２３ａ，４２３ｂに当接する。

【００４８】この後、測定端子４２がさらに下降される
に伴いこれらの接触位置は徐々に移動する。この状態
で、電極片４２３ａ，４２３ｂを介してチップ部品１に
通電され、電気特性が測定される。

【００４９】従って、電極片４２３ａ，４２３ｂとチッ
プ部品１の接触位置は滑らせて当接され、移動している
ので、電極片４２３ａ，４２３ｂの当接面への埃等の絶
縁物の付着が防止されるので、電極片４２３ａ，４２３
ｂとチップ部品１の外部電極１ａとの間の接触抵抗が低
減され、高精度の測定を行うことができると共に、チッ
プ部品１の両端の外部電極１ａのそれぞれに当接された
電極片４２３ａ，４２３ｂはチップ部品１の中央部に向
けて押し当てられるため、電極片４２３ａ，４２３ｂの
外部電極１ａとの接触精度をさらに向上させることがで
きる。

【００５０】尚、第１参考例の電極片の数を４つにし
て、図１４の第２参考例に示すように、４つの電極片４
２３ａ〜４２３ｄを設けて、四端子法による測定を可能
にすることも容易である。

【００５１】次に、本発明の第３参考例を説明する。図
１５は、本発明の第３参考例のチップ部品の電気特性測
定装置における測定端子を示す構成図である。図におい
て、４３は測定端子で、筐体（可動体）４３１を有し、
この筐体４３１には所定の間隔をあけて水平方向に延び
る摺動筒４３２ａ，４３２ｂが固定されている。さら
に、摺動筒４３２ａ，４３２ｂ内には、水平方向に摺動
可能な電極片４３３ａ，４３３ｂの一端部が挿入され、
摺動筒４３２ａ，４３２ｂに設けられたコイルバネ４３
４ａ，４３４ｂによって弾性支持され、水平方向に往復
移動可能になっている。

【００５２】また、電極片４３３ａ，４３３ｂの他端部
は所定の間隔、即ちチップ部品の両端に形成された外部
電極の間隔よりもややせまい間隔をあけて対向し、電極
片４３３ａ，４３３ｂの対向部分は、チップ部品への当
接面とは反対方向、即ち上方向に所定の角度で折り曲げ
られて形成されている。

【００５３】前述の構成によれば、チップ部品１の電気
特性測定に際しては、図１６の（ａ）（ｂ）（ｃ）に示
すように、例えば平板上に載置されたチップ部品１に対
して上方向から２つの電極片４３３ａ，４３３ｂの対向
端部をチップ部品１のほぼ真上にして、２つの電極片４
３３ａ，４３３ｂのそれぞれの先端部が異なる外部電極
１ａに当接するように測定端子４３が徐々に下降され
る。

【００５４】これにより、電極片４３３ａ，４３３ｂが
チップ部品１の外部電極１ａに当接した際には、弾性支
持されながら電極片４３３ａ，４３３ｂがほぼ水平方向
に移動し、チップ部品１の上面の両端の外部電極１ａが
形成されている辺の部分が電極片４３３ａ，４３３ｂの
先端部に当接する。

【００５５】この後、測定端子４３がさらに下降される
に伴い、電極片４３３ａ，４３３ｂの先端部が所定角度
に曲げて形成されているので、これらの接触位置は徐々
に移動する。この状態で、電極片４３３ａ，４３３ｂを
介してチップ部品１に通電され、電気特性が測定され
る。

【００５６】従って、電極片４３３ａ，４３３ｂとチッ
プ部品１の接触位置は滑らせて当接され、移動している
ので、電極片４３３ａ，４３３ｂへの埃等の絶縁物の付
着が防止されるので、電極片４３３ａ，４３３ｂとチッ
プ部品１の外部電極１ａとの間の接触抵抗が低減され、
高精度の測定を行うことができると共に、チップ部品１
の両端の外部電極１ａのそれぞれに当接された電極片４
３３ａ，４３３ｂはチップ部品１の中央部に向けて押し
当てられるため、電極片４３３ａ，４３３ｂの外部電極
１ａとの接触精度をさらに向上させることができる。

【００５７】尚、第３参考例を改良して、図１７の第４
参考例に示すように、４つの電極片４３３ａ〜４３３ｄ
を設けて、四端子法による測定を可能にすることも容易
である。

【００５８】また、前述した第１乃至第３の実施形態は
一例であり、本願発明がこれらに限定されることはな
い。

【００５９】

【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１記
載のチップ部品の電気特性測定端子によれば、測定に際
して、測定用電極片とチップ部品の接触位置は移動する
ため、測定用電極片への埃等の絶縁物の付着が防止され
るので、前記測定用電極片とチップ部品の外部電極との
間の接触抵抗が低減され、高精度の測定を行うことがで
きると共に、前記チップ部品の両端の外部電極のそれぞ
れに当接された測定用電極片はチップ部品の中央部に向
けて押し当てられるため、測定用電極片の外部電極との
接触精度をさらに向上させることができる。

【００６０】また、請求項２に記載のチップ部品の電気
特性測定端子によれば、上記の効果に加えて、前記測定
用電極片の先端部の前記接触面が他の部分よりも突出し
ているので、微少なチップ部品の電気特性を測定する際
にも位置合わせ等を容易に行うことができる。

【００６１】また、請求項３に記載のチップ部品の電気
特性測定装置によれば、測定に際して、測定用電極片と
チップ部品の接触位置は移動するため、測定用電極片へ
の埃等の絶縁物の付着が防止されるので、前記測定用電
極片とチップ部品の外部電極との間の接触抵抗が低減さ
れ、高精度の測定を行うことができると共に、前記チッ
プ部品の両端の外部電極のそれぞれに当接された測定用
電極片はチップ部品の中央部に向けて押し当てられるた
め、測定用電極片の外部電極との接触精度をさらに向上
させることができる。

【００６２】また、請求項４に記載のチップ部品の電気
特性測定装置によれば、上記の効果に加えて、前記測定
用電極片の先端部の前記接触面が他の部分よりも突出し
ているので、微少なチップ部品の電気特性を測定する際
にも位置合わせ等を容易に行うことができる。

【００６３】また、請求項５に記載のチップ部品の電気
特性測定装置によれば、上記の効果に加えて、チップ部
品の両端のそれぞれの外部電極に２つの電極片が当接さ
れるので、例えばチップ部品の抵抗値を測定する際に四
端子法を用いることができ、高精度で抵抗値の測定を行
うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態におけるチップ部品の
電気特性測定装置の要部を示す外観図

【図２】従来例のチップ部品の電気特性測定装置の要部
を示す外観図

【図３】従来例の測定端子を示す構成図

【図４】従来例における測定方法を説明する図

【図５】他の従来例の測定端子を示す構成図

【図６】本発明の第１の実施形態における測定端子を示
す構成図

【図７】本発明の第１の実施形態における測定方法を説
明する図

【図８】本発明の第２の実施形態における測定端子を示
す構成図

【図９】本発明の第２の実施形態における測定方法を説
明する図

【図１０】本発明の第３の実施形態における測定端子を
示す構成図

【図１１】本発明の第３の実施形態における測定方法を
説明する図

【図１２】本発明に係る第１参考例における測定端子を
示す構成図

【図１３】本発明に係る第１参考例における測定方法を
説明する図

【図１４】本発明に係る第２参考例における測定端子を
示す構成図

【図１５】本発明に係る第３参考例における測定端子を
示す構成図

【図１６】本発明に係る第３参考例における測定方法を
説明する図

【図１７】本発明に係る第４参考例における測定端子を
示す構成図

【符号の説明】

１…チップ部品、１ａ…外部電極、１１…チップ部品支
持ユニット、２０…測定端子、２１ａ，２１ｂ…測定用
電極片、２２…筐体、２２ａ，２２ｂ…開口部、２３
ａ，２３ｂ…摺動筒、２４ａ，２４ｂ…コイルバネ、３
１…駆動ユニット、３２…測定処理ユニット、４１，４
１’，４１”…測定端子、４１１…筐体、４１２ａ，４
１２ｂ…支軸、４１３ａ，４１３ｂ…測定用電極片、４
１４ａ，４１４ｂ…コイルバネ、４１５ａ，４１５ｂ…
突出部、４１６ａ，４１６ｂ，４１６ｃ，４１６ｄ…測
定用電極片、４２…測定端子、４２１…筐体、４２２…
支軸、４２３ａ，４２３ｂ，４２３ｃ，４２３ｄ…測定
用電極片、４２４ａ，４２４ｂ…コイルバネ、４３…測
定端子、４３１…筐体、４３２ａ，４３２ｂ…摺動筒、
４３３ａ，４３３ｂ，４３３ｃ，４３３ｄ…測定用電極
片、４３４ａ，４３４ｂ…コイルバネ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 島方 正己 東京都台東区上野６丁目16番20号 太陽 誘電株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−172969（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−263471（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−116761（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−138375（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭58−175464（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭62−180769（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01R 27/02 G01R 1/073 G01R 31/00

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 直方体形状の素体の両端部に外部電極を
   備えたチップ部品の電気特性測定端子であって、 所定形状の可動体に支持された平行な２つの支軸と、 所定の長さを有し、前記各支軸の回りに回動可能に前記
   各支軸に支持されると共に、互いに電気的に絶縁された
   少なくとも２つの測定用電極片と、 前記２つの支軸を結ぶ辺の近傍位置を定位置とし、それ
   ぞれの支軸に支持された測定用電極片を前記定位置に弾
   性支持する弾性支持手段とを備え、 前記測定用電極片は、前記定位置において、前記２つの
   測定用電極片の互いに対向する先端面の間に前記チップ
   部品の両端部の外部電極間の間隔に相当する間隙が形成
   され且つ前記外部電極に接触する面が前記２つの支軸を
   結ぶ辺よりもチップ部品側に位置するように設けられて
   いる ことを特徴とするチップ部品の電気特性測定端子。
2. 【請求項２】 前記測定用電極片の先端部には前記外部
   電極に接触する平面に対して垂直な方向に突出した突出
   部を有し、該突出部に前記外部電極に接触する平面が形
   成されている ことを特徴とする請求項１に記載のチップ
   部品の電気特性測定端子。
3. 【請求項３】 直方体形状の素体の両端部に外部電極を
   備えたチップ部品の電気特性測定装置において、 測定対象となるチップ部品の外部電極に通電する測定端
   子と、 該測定端子を前記チップ部品に接触させる端子移動手段
   とを設けると共に、 前記測定端子は、所定形状の可動体と、 該可動体に支持され、前記端子移動手段による移動方向
   に直交して配置されると共に互いに平行な２つの支軸
   と、 所定の長さを有し、前記各支軸の回りに回動可能に前記
   各支軸に支持されると共に、互いに電気的に絶縁された
   少なくとも２つの測定用電極片と、 前記２つの支軸を結ぶ辺の近傍位置を定位置とし、それ
   ぞれの支軸に支持された測定用電極片を前記定位置に弾
   性支持する弾性支持手段とを備え、 前記測定用電極片は、前記定位置において、前記２つの
   測定用電極片の互いに対向する先端面の間に前記チップ
   部品の両端部の外部電極間の間隔に相当する間隙が形成
   され且つ前記外部電極に接触する面が前記２つの支軸を
   結ぶ辺よりもチップ部品側に位置するように設けられて
   いる ことを特徴とするチップ部品の電気特性測定装置。
4. 【請求項４】 前記測定用電極片の先端部には前記外部
   電極に接触する平面に対して垂直な方向に突出した突出
   部を有し、該突出部に前記外部電極に接触する平面が形
   成されている ことを特徴とする請求項３に記載のチップ
   部品の電気特性測定装置。
5. 【請求項５】 前記２つの測定用電極片を１組として２
   組の測定用電極片を備えていることを特徴とする請求項
   ３に記載のチップ部品の電気特性測定装置。