JP3290705B2 - 共焦点光学系 - Google Patents

共焦点光学系

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JP3290705B2 JP20538292A JP20538292A JP3290705B2 JP 3290705 B2 JP3290705 B2 JP 3290705B2 JP 20538292 A JP20538292 A JP 20538292A JP 20538292 A JP20538292 A JP 20538292A JP 3290705 B2 JP3290705 B2 JP 3290705B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型レーザー顕微鏡
(SLM)等に使用される共焦点光学系に関する。
【0002】
【従来の技術】共焦点光学系は、従来の顕微鏡に比べて
結像特性が優れ、最近注目されている走査型レーザー顕
微鏡において利用されている。図5は従来の共焦点光学
系の一例を説明するための図である。光源12から射出
された光は、コリメートレンズ14により平行光束とな
り、偏光ビームスプリッター16で反射された後、対物
レンズ20により試料面22に集光される。試料面22
で反射された光は対物レンズ20に入射し再び平行光束
となり、偏光ビームスプリッター16に入射する。この
光は、1/4波長板(λ/4板)18を2回通過するこ
とにより、偏光方向が90°回転されるため、偏光ビー
ムスプリッター16を通過し、結像レンズ24に入射す
る。結像レンズ24により集光された光は、結像レンズ
24の焦点面に配置された遮光板30のピンホール32
を通過し、光電検出器34で受光される。対物レンズ2
0の合焦位置にある試料面22からの光は、実線で示し
た光路に沿って進み、ピンホール32を通過できるが、
非合焦位置にある試料面22、例えば、23で示される
面からの光の大部分は、破線で示した光路に沿って進む
ため、ピンホール32を通過できない。従って、光電検
出器34により得られる画像は、合焦位置にある試料面
22の情報のみを含むため、コントラストのある解像度
の高いものとなる。また、このように特定の試料面22
の像を得られる光学系は、光軸方向に分解能を有するこ
とを意味し、いわゆるオプチカルセクショニングを行な
うことができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の共焦
点光学系では、一般に結像レンズ24は1枚の凸レンズ
で構成される。この結像レンズ24に焦点距離の短いも
のを用いた場合、図6に示すように、エアリディスク径
W2は数十μmと非常に小さくなる。共焦点光学系で
は、エアリディスクの径に見合った径のピンホール32
を使用する必要があるため、エアリディスクの径が細く
なるとピンホール32の光学的な位置調整が困難になる
という不都合がある。また、逆に結像レンズ24に焦点
距離の長いものを用いた場合は、図7に示すように、エ
アリディスクの径W3は大きくなる。従って、ピンホー
ル32もその径が大きいものが使用できるため光学的な
調整は容易になる。しかし、その反面、結像レンズ24
の焦点距離が長いので、装置が大型になるという不都合
がある。
【0004】また、従来前述の例とは異なる例として、
図5のピンホール32の代わりに光採絞りを用いて共焦
点効果(セクショニング効果)を可変とする構成がUK
Patent GB 2184321Bに開示されて
いる。通常の光採絞りの最小径は、機構上1mm以下に
することが困難であり、大きなエアリディスク径を得る
ためには、概略1〜4mもの長い光路長が必要となり、
装置がより一層大型化してしまうという欠点があった。
【0005】本発明は、このような欠点を除去するため
なされたもので、ピンホール等の開口の位置調整、及
び、共焦点効果の調整が容易でかつ小形な共焦点光学系
を提供すること目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に対応する本発明の共焦点光学系は、光源
と、この光源からの光を試料に集光させる対物レンズ
と、試料からの光を集束させる結像光学素子と、結像光
学素子からの集束光を選択的に通過させる開口と、開口
を通過した光を受光する光電検出素子とを備えた共焦点
光学系において、結像光学素子として、前記試料側に配
置された凸レンズと前記光電検出器側に配置された凹レ
ンズからなるものを1組の光学素子群としたとき、この
光学素子群を少なくとも2組配置したことを特徴とす
る。
【0007】前記目的を達成するために、請求項2に対
応する本発明の共焦点光学系は、光源と、この光源から
の光を試料に集光させる対物レンズと、試料からの光を
集束させる結像光学素子と、結像光学素子からの集束光
を選択的に通過させる開口と、開口を通過した光を受光
する光電検出素子とを備えた共焦点光学系において、結
像光学素子として、前記試料側に配置された凸面鏡と前
記光電検出器側に配置された凹面鏡からなるものを1組
の光学素子群としたとき、この光学素子群を少なくとも
2組配置したことを特徴とする。
【0008】
【作用】請求項1に対応する発明によれば、結像光学素
子として凸レンズと凹レンズからなる光学素子群を少な
くとも2組配置したので、以下のような効果が得られ
る。すなわち、凸レンズから光の集束光までの距離は短
いが、結像光学素子の焦点距離は実効的に長くなる。こ
のため、この結像光学素子により集束される光のエアリ
ディスクの径は、比較的大きい。これに対応して光電検
出器の手前に配置される開口は径の大きなものとなり、
その位置調整が容易となる。また、結像光学素子から集
束点までの距離が短いので、装置が大型になることもな
い。
【0009】一方、結像光学素子から集束点までの距離
に対する焦点距離の比(テレフォト比)があまりにも大
きいと、光電検出器側に配置された凹レンズのパワーが
強く成り過ぎ、少しの部品精度・組立精度の誤差も許さ
れなくなる。この時は、テレフォト比の小さなレンズ群
を2組・3組と連結することにより、それぞれの部品精
度・組立精度の誤差を緩くすることができる。このレン
ズ群は、それぞれ異なるものであっても良いが、同じも
のを2組・3組と連結する方が製造上好ましいことは言
うまでもない。
【0010】請求項2に対応する発明によれば、結像光
学素子として、凸面鏡と凹面鏡からなる光学素子群を少
なくとも2組配置したので、前述の請求項1と同様な作
用効果が得られる。
【0011】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は、本発明の共焦点光学系の第1
の一実施例を示すものである。光源12から射出された
光は、コリメートレンズ14で平行光束にされた後、偏
光ビームスプリッター16でで反射され、対物レンズ2
0により試料面22に集光される。試料面22で反射さ
れた光は対物レンズ20に入射し再び平行光束となり、
偏光ビームスプリッター16に入射する。この光は、1
/4波長板18を2回通過することにより、偏光方向が
90°回転されるため、偏光ビームスプリッター16を
通過する。偏光ビームスプリッター16を通過した光
は、凸レンズ26と凹レンズ28からなり第1の結像光
学素子を構成する結像レンズ27、および、凸レンズ4
9と凹レンズ52からなり第2の結像光学素子を構成す
る結像レンズ50に入射して集束される。この集束光
は、光彩絞り51を通って光電検出器34に入射する。
【0012】なお、図1では、対物レンズ20の光の集
束点を試料に対して相対的に移動させる移動手段例えば
光偏光器については、対物レンズ20と1/4波長板1
8の間等に配置されることはいうまでもない。
【0013】この光学系において、結像レンズ27,5
0は、光の入射側に配置された凸レンズ26,49と光
の入射側の後方に配置された凹レンズ28,52とで構
成されているので、以下のような効果が得られる。すな
わち、凸レンズ26から光の集束点までの距離は短い
が、結像レンズ27の焦点距離は実効的に長くなる。同
様に、凸レンズ49から光の集束点までの距離は短い
が、結像レンズ50の焦点距離は実効的に長くなる。こ
のため、結像レンズ27により集束される光のエリアデ
ィスクの径は、比較的大きい。これに対応して光電検出
器34の手前に配置される光彩絞り51は径の大きなも
のとなり、その位置調整が容易となる。また、結像レン
ズ27,50から集束点までの距離が短いので、装置が
大型になることもない。
【0014】このように構成された結像レンズ27は、
いわゆるテレフォトタイプと呼ばれ、入射光はまず凸レ
ンズ26により急激に集束され、光束径が細くなったと
ころで凹レンズ28に入射し、集束の度合が弱められ
る。そして凹レンズ28で集束の度合が弱められ光は、
結像レンズ50の凸レンズ49により急激に集束され、
光束径が細くなったところで凹レンズ52に入射し、集
束の度合が弱められる。この結果、結像レンズ27,5
0の実効的な焦点距離は長くなるが、集束点が遠のくこ
とはない。従って、集束光のエアリーディスクの径は、
前述した従来の1枚の結像レンズ24を用いて同じ位置
に集束させた場合に比べて大きくなる。これに応じて、
遮光板30に設けられているピンホール32も、その径
が大きいものが使用される。これにより、ピンホール3
2の位置調整も容易に行なうことができる。また、結像
レンズ27,50からの集束点までの距離は、一枚の結
像レンズを用いた場合と同じであるから、光学系が大型
になることもない。
【0015】ここで、結像レンズ27だけでなく、結像
レンズ50を設けた効果について説明する。図4は、本
出願人が先に出願した先願(特願平3ー126054
号)の実施例と類似し、かつピンホール32を有する遮
光板30を設けず、この代わりに光採絞り51を用いた
共焦点光学系の例である。この場合、凸レンズ26の焦
点距離を約100mm、凹レンズ28の焦点距離を−1
0mm、レンズ間隔を約90mmとすると、凸レンズ2
6から集束点に置かれた光採絞り51の距離は約350
mmとなり、全体としてfは3500となる。従ってテ
レフォト比は、 テレフォト比=レンズから集束点までの距離÷焦点距離
=350/3500=0.1 となる。このようなテレフォト比の小さい光学系は、部
品の加工精度や組立精度に高い精度を要求される。
【0016】一方、図1の実施例は、図4の結像レンズ
(第1のテレフォト光学系)27の他に、凸レンズ49
と凹レンズ52からなる結像レンズ(第2のテレフォト
光学系)50を1組追加した共焦点光学系であり、この
場合は次のようになる。結像レンズ50の凸レンズ49
の焦点距離は、結像レンズ27の凸レンズ26と同じで
あるが、結像レンズ50の凹レンズ52の焦点距離は約
−33mmにしてある。従って、結像レンズ27のテレ
フォト比は約0.32になる。結像レンズ50は、結像
レンズ27と全く同じものであり、結像レンズ27の凸
レンズ26から集束点に置かれた光採絞り51までの距
離は約350mmになるように配置されている。このよ
うに、2組の結像レンズ27,50を配置接続すること
によって全体のテレフォト比は約0.1になり、図4と
同じ結果になる。ここで、各レンズの傾きに対する像の
ずれを、図1と図4で比較すると以下のようになる。
【0017】同じ像のずれ量(心ずれ許容量)に対し
て、凸レンズの傾きは、図1の場合約5°であり、図4
の場合約0.17°である。また、凹レンズの傾きは、
図1の場合約0.5°であり、図4の場合約0.17°
である。このように、図1の方が、図4に比べて部品の
加工精度や組立精度に余裕があることが分かる。従っ
て、加工や組立も容易に行える。
【0018】図1では、テレフォト比が約0.32のテ
レフォト光学系を接続しているが、特にこの数字に限定
されるものではない。ただし、加工性や組立性を考慮す
ると、テレフォト比が0.2以上にするのが望ましい。
また接続するテレフォト光学系の数も必要に応じては2
組以上接続することも可能である。
【0019】以上述べた第1の実施例によれば、結像光
学素子として凸レンズ26と凹レンズ28からなる結像
レンズ27、ならびに、凸レンズ49と凹レンズ52か
らなる結像レンズ50で構成されるため、集束点までの
距離を変えることなく焦点距離が実効的に長くなる。従
って、装置を大型にすることなく、比較的に大きな径の
開口が使用できるようになり、光学調整が容易に行なえ
るようになる。また、従来のピンホール32を有する遮
光板30の代わりに、光採絞り51を用いた共焦点光学
系をコンパクトに構成することができ、共焦点効果(セ
クショニング効果)を連続的に可変できるようになる。
【0020】図2は、本発明の共焦点光学系の第2の実
施例の要部、すなわち、図1の結像レンズ27,50の
代わりに2組のテレフォト光学系431,432を用い
たものである。すなわち、テレフォト光学系431は、
中央部に開口421hを有する凹面鏡421とこれに対
向して配置された小径の凸面鏡441とを備えている。
テレフォト光学系432は、テレフォト光学系431と
同様に、中央部に開口422hを有する凹面鏡422と
これに対向して配置された小径の凸面鏡442とを備え
ているが、テレフォト光学系431に比べて直径寸法が
小さくなっている点が異なる。
【0021】図の構成において、テレフォト光学系43
1に入射した光は、凸面鏡441で遮られる一部を除い
て凹面鏡421に入射する。凹面鏡421に入射した光
はその鏡面で反射されて集束性光束となり、凸面鏡44
1に入射する。凸面鏡441に入射した光はその鏡面で
反射されると共に集束の度合いが弱められ、凹面鏡42
1の開口部421hを通過する。そして、開口部421
hを通過した光は、凸面鏡442で遮られる一部を除い
て凹面鏡422に入射する。凹面鏡422に入射した光
はその鏡面で反射されて集束性光束となり、凸面鏡44
2に入射する。凸面鏡442に入射した光はその鏡面で
反射されると共に集束の度合いが弱められ、凹面鏡42
2の開口部422hを通過し、その後方で集束される。
【0022】この構成の反射結像光学系も、上述の結像
光学系と同様、集束点までの距離を長くすることなく、
実効的な焦点距離が短くなる。従って、図1の実施例と
同様の効果が得られる。さらに、図2は鏡421,44
1,422,442を使用しているため、色収差が発生
せず、波長域もレンズに比べて広い範囲で使用できる。
【0023】図3は、本発明の共焦点光学系の第2の実
施例の要部、すなわち、図1の結像レンズ27,50の
代わりに2組のテレフォト光学系471,472を用い
たものである。すなわち、テレフォト光学系471は、
凹面鏡461と凸面鏡481で構成されている。テレフ
ォト光学系472は、テレフォト光学系471と同様
に、凹面鏡462とこれに対向して配置された小径の凸
面鏡482とを備えているが、テレフォト光学系471
に比べて直径寸法が小さくなっている点が異なる。
【0024】この図3の実施例も図2の実施例と同様、
集束点までの距離を長くすることなく、実効的な焦点距
離が短くなる。さらに、鏡461,481,462,4
82を使用しているため、色収差が発生せず、波長域も
レンズに比べて広い範囲で使用できる。
【0025】本発明は上述の実施例に何等限定されるも
のではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々多くの
変形が可能である。例えば、実施例では反射型の共焦点
光学系を挙げて説明したが、本発明が透過型の共焦点光
学系にも適用できることはいうまでもない。また蛍光も
反射光学系と同じように適用できる。さらに、図1の実
施例では、テレフォト光学系の構成として、結像レンズ
27,50を2組用いた例をあげたが、必要に応じて2
組を超えてもよく、また、図2、図3のテレフォト光学
系も必要に応じて2組を超えてもよい。
【0026】
【発明の効果】以上述べた本発明によれば、ピンホール
等の開口の位置調整、及び、共焦点効果の調整が容易で
かつ小形な共焦点光学系を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による共焦点光学系の第1の実施例を示
す図。
【図2】本発明による共焦点光学系の第2の実施例の結
像光学素子のみを示す図。
【図3】本発明による共焦点光学系の第3の実施例の結
像光学素子のみを示す図。
【図4】図1の実施例の効果を説明するための図。
【図5】従来の共焦点光学系の第1の例を示す図。
【図6】図5の問題点を説明するための図。
【図7】図5の問題点を説明するための図。
【符号の説明】
12…光源、14…コリメートレンズ、16…偏光ビー
ムスプリッター、18…1/4波長板、20…対物レン
ズ、22…試料面、26…凸レンズ、27…結像レン
ズ、28…凹レンズ、34…光電検出器、421,42
2,461,462…凹面鏡、431,432,47
1,472…テレフォト光学系、441,442,48
1,482…凸面鏡、49…凸レンズ、50…結像レン
ズ、51…光彩絞り、52…凹レンズ。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−350818(JP,A) 特開 平4−146410(JP,A) 特開 平4−407(JP,A) 特開 昭49−129547(JP,A) 特表 平5−509178(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 21/00 G02B 21/06

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、 前記光源からの光を試料に集光させる対物レンズと、 前記試料からの光を集束させる結像光学素子と、 前記結像光学素子からの集束光を選択的に通過させる開
    口と、 前記開口を通過した光を受光する光電検出素子とを備え
    た共焦点光学系において、 前記結像光学素子として、前記試料側に配置された凸レ
    ンズと前記光電検出器側に配置された凹レンズからなる
    ものを1組の光学素子群としたとき、この光学素子群を
    少なくとも2組配置したことを特徴とする共焦点光学
    系。
  2. 【請求項2】 光源と、 前記光源からの光を試料に集光させる対物レンズと、 前記試料からの光を集束させる結像光学素子と、 前記結像光学素子からの集束光を選択的に通過させる開
    口と、 前記開口を通過した光を受光する光電検出素子とを備え
    た共焦点光学系において、 前記結像光学素子として、前記試料側に配置された凸面
    鏡と前記光電検出器側に配置された凹面鏡からなるもの
    を1組の光学素子群としたとき、この光学素子群を少な
    くとも2組配置したことを特徴とする共焦点光学系。
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KR102011262B1 (ko) * 2017-09-26 2019-08-16 허철 반도체 소자 가공용 렌즈의 반사광 차단 필터 및 이를 이용한 노광용 광학계

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