JP3287327B2 - Manufacturing method of semiconductor resin sealed package - Google Patents

Manufacturing method of semiconductor resin sealed package

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、裏面放熱型の半導
体樹脂封止パッケージの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a backside heat dissipation type semiconductor.
The present invention relates to a method for manufacturing a body resin sealed package .

【0002】[0002]

【従来の技術】本発明が対象とする裏面放熱型の半導体
樹脂封止パッケージの製造方法は、マウントアイランド
の一部がパッケージ裏面側に露出している点で、一般の
半導体樹脂封止パッケージとは異なっている。このよう
な裏面放熱型の半導体樹脂封止パッケージは、パワーア
ンプなど、発熱量の大きな半導体素子を搭載する場合に
多く利用され、リード端子部だけでなく裏面ヒートシン
クも実装基板に半田付けされる。
2. Description of the Related Art A backside heat dissipation type semiconductor to which the present invention is directed.
The manufacturing method of the resin-sealed package is different from a general semiconductor resin-sealed package in that a part of the mount island is exposed on the back side of the package. Such a backside heat dissipation type semiconductor resin-sealed package is often used when mounting a semiconductor element having a large amount of heat, such as a power amplifier, and not only a lead terminal portion but also a backside heat sink is soldered to a mounting substrate.

【0003】そして、半導体素子で発生した多量の熱
は、裏面ヒートシンクを経由して実装基板側に放熱され
るので、半導体素子の過度な温度上昇を防止できると共
に、安定性が高く十分な信頼度を確保することができ
る。
Since a large amount of heat generated in the semiconductor element is radiated to the mounting substrate via the backside heat sink, an excessive rise in temperature of the semiconductor element can be prevented, and the semiconductor element has high stability and sufficient reliability. Can be secured.

【0004】従来、図4に示すような裏面放熱型の半導
体樹脂封止パッケージ50においては、裏面ヒートシン
ク51上に半導体素子52が載置されている。また、裏
面ヒートシンク51の両側には、図5にも示すようにリ
ード端子部53が配置されている。
Conventionally, in a backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package 50 as shown in FIG. 4, a semiconductor element 52 is mounted on a backside heat sink 51. Also, on both sides of the backside heat sink 51, lead terminal portions 53 are arranged as shown in FIG.

【0005】そして、図4に示すように、裏面ヒートシ
ンク51、半導体素子52、及びリード端子部53がモ
ールド樹脂54で被覆され、裏面ヒートシンク51が露
出されている。半導体素子52とリード端子部53と
は、モールド樹脂54の内部でボンディングワイヤー
(図示せず)によって電気的に接続されている。
[0005] As shown in FIG. 4, the backside heat sink 51, the semiconductor element 52, and the lead terminal 53 are covered with a mold resin 54, and the backside heat sink 51 is exposed. The semiconductor element 52 and the lead terminal portion 53 are electrically connected inside the molding resin 54 by a bonding wire (not shown).

【0006】この裏面放熱型の半導体樹脂封止パッケー
ジ50を、図6に示すように樹脂基板などの実装基板5
5に実装する場合には、まず実装基板55上にリード端
子部用半田パッド56及びヒートシンク用半田パッド5
7を設ける。次に、半田印刷機(図示せず)により実装
基板55の各半田パッド56、57上に半田ペーストの
印刷を行う。
[0006] As shown in FIG. 6, this backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package 50 is mounted on a mounting substrate 5 such as a resin substrate.
5, first, the solder pads 56 for the lead terminals and the solder pads 5 for the heat sink are mounted on the mounting board 55.
7 is provided. Next, solder paste is printed on each of the solder pads 56 and 57 of the mounting board 55 by a solder printing machine (not shown).

【0007】次に、搭載機(図示せず)により、印刷さ
れた半田ペースト上に、半導体樹脂封止パッケージ50
を載置し、赤外線リフロー装置(図示せず)などで半田
ペーストを溶融させる。これにより、半導体樹脂封止パ
ッケージ50の裏面ヒートシンク51及びリード端子部
53が、実装基板55の所定の位置に半田付けされる。
[0007] Next, a mounting device (not shown) puts a semiconductor resin sealing package 50 on the printed solder paste.
Is placed, and the solder paste is melted by an infrared reflow device (not shown) or the like. Thereby, the back surface heat sink 51 and the lead terminal portion 53 of the semiconductor resin sealing package 50 are soldered to predetermined positions on the mounting board 55.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
裏面放熱型の半導体樹脂封止パッケージ50において
は、次に説明する理由から裏面ヒートシンク51及び半
導体素子52とモールド樹脂54とが剥離して各種の問
題を発生することがあった。
However, in the conventional backside heat dissipation type semiconductor resin encapsulation package 50, the backside heat sink 51 and the semiconductor element 52 are separated from the molding resin 54 due to the following reasons. There was a problem.

【0009】すなわち、モールド樹脂材は吸湿特性を有
しており、半導体樹脂封止パッケージ50のモールド樹
脂封止が行われてから、実装基板55に実装されるまで
の間に、保管環境にもよるがかなりの水分がパッケージ
内に吸湿される。この吸湿された水分は、実装基板55
への実装時に加熱され、モールド樹脂54と裏面ヒート
シンク51及び半導体素子52との界面に集中し、これ
が気化することによって膨張して、パッケージ内部にお
いて裏面ヒートシンク51及び半導体素子52とモール
ド樹脂54とを剥離させる方向(裏面ヒートシンク51
が下に抜ける方向)に応力が作用する。
That is, the molding resin material has a moisture absorbing property, and is stored in a storage environment between the time when the molding resin sealing of the semiconductor resin sealing package 50 is performed and the time when the molding resin material is mounted on the mounting substrate 55. Depending, however, considerable moisture is absorbed into the package. The moisture absorbed by the mounting board 55
During mounting on the package, it is concentrated at the interface between the mold resin 54 and the backside heat sink 51 and the semiconductor element 52, and expands due to vaporization. Direction of peeling (backside heat sink 51
Stress acts in the direction in which it comes down).

【0010】裏面放熱型ではない、すなわち、裏面ヒー
トシンクが露出していない一般的な放熱型の半導体樹脂
封止パッケージ(図示せず)においては、ヒートシンク
が完全にモールド樹脂内に取り囲まれているので、上述
のような応力が作用したとしてもヒートシンク及び半導
体素子が剥離しにくい。しかし、裏面放熱型の半導体樹
脂封止パッケージ50では、裏面ヒートシンク51の下
面が露出しているので、上述の応力を支えることができ
ず、裏面ヒートシンク51及び半導体素子52とモール
ド樹脂54との界面に剥離部58が発生してしまうので
ある。
[0010] In a general heat dissipation type semiconductor resin sealed package (not shown) which is not the backside heat dissipation type, that is, the backside heatsink is not exposed, the heatsink is completely surrounded by the mold resin. Even if the above-mentioned stress acts, the heat sink and the semiconductor element are not easily peeled off. However, in the backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package 50, since the lower surface of the backside heat sink 51 is exposed, the above-mentioned stress cannot be supported. The peeling portion 58 is generated at the same time.

【0011】このような剥離部58が発生すると、水分
が剥離部58に蓄積されて半導体素子52の特性を劣化
させる原因となる。また、剥離が著しい場合には、リフ
ロー工程で加熱された時点で半導体素子52とリード端
子部53とを内部接続しているボンディングワイヤーが
切断されてしまうこともあった。
When such a stripped portion 58 is generated, moisture is accumulated in the stripped portion 58 and causes the characteristics of the semiconductor element 52 to deteriorate. Further, when the peeling is remarkable, the bonding wire that internally connects the semiconductor element 52 and the lead terminal portion 53 may be cut off when heated in the reflow step.

【0012】このような問題点を解決するため、図7に
示すように裏面ヒートシンク51の端部にエッチンクに
よるテーパー部59を設け、このテーパー部59をモー
ルド樹脂54に係止させることによって剥離し難くした
技術もあるが、微少な剥離を完全に防止することはでき
なかった。
In order to solve such a problem, as shown in FIG. 7, a tapered portion 59 formed by etching is provided at an end of the backside heat sink 51, and the tapered portion 59 is peeled off by being locked to the mold resin 54. There was a technique that made it difficult, but it was not possible to completely prevent minute peeling.

【0013】本発明は、かかる問題を解決することを目
的としてなされたものであり、裏面ヒートシンク及び半
導体素子とモールド樹脂との剥離を確実に防止すること
が可能な裏面放熱型の半導体樹脂封止パッケージの製造
方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problem, and has a backside heat sink and a backside heat dissipation type semiconductor resin encapsulation capable of reliably preventing separation of a semiconductor element from a mold resin. Package manufacturing
The aim is to provide a method .

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明に係る半導体樹脂封止パッケージの製造方
法は、「実装基板側に配置される裏面ヒートシンク上に
半導体素子が載置され、前記裏面ヒートシンクの側方に
リード端子部が配置され、前記裏面ヒートシンク、前記
半導体素子及び前記リード端子部が樹脂によって被覆さ
れ、前記裏面ヒートシンクが露出されている半導体樹脂
封止パッケージの製造方法において、前記裏面ヒートシ
ンクの端部に前記樹脂の内部に向かう折れ曲がり部を形
成する際に、前記折れ曲がり部の曲げ基点となる部分で
前記実装基板との対向面側に凹部を設けた後に、折り曲
げること」(請求項1)、を特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, a method of manufacturing a semiconductor-resin-sealed package according to the present invention is described in which a semiconductor element is mounted on a backside heat sink disposed on a mounting substrate side. A method of manufacturing a semiconductor-resin-sealed package in which a lead terminal portion is disposed on a side of the back heat sink, the back heat sink, the semiconductor element, and the lead terminal portion are covered with a resin, and the back heat sink is exposed. When forming a bent portion toward the inside of the resin at an end portion of the backside heat sink, after forming a concave portion on the side facing the mounting substrate at a portion serving as a bending base point of the bent portion, bending is performed. " (Claim 1).

【0015】(作用) 本発明に係る裏面放熱型の半導体樹脂封止パッケージの
製造方法によれば、裏面ヒートシンクの折れ曲がり部及
び凹部がモールド樹脂に係止されるので、裏面ヒートシ
ンクを剥離させる応力が作用した場合でも、裏面ヒート
シンク及び半導体素子がモールド樹脂から剥離するのを
確実に防止することができる。また、凹部を設けること
によって、折れがり部の基点の肉厚が薄くなるので、折
り曲げ加工が容易になる。
(Function) The backside heat dissipation type semiconductor resin sealed package according to the present invention is provided .
According to the manufacturing method, since the bent portion and the concave portion of the backside heat sink are locked to the mold resin, even when a stress for separating the backside heatsink is applied, it is ensured that the backside heatsink and the semiconductor element are separated from the mold resin. Can be prevented. In addition, by providing the concave portion, the thickness of the base point of the bent portion is reduced, so that the bending process is facilitated.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明により製造される半
導体樹脂封止パッケージの製造方法について、図面を参
照して詳細に説明する。図1は本発明により製造される
裏面放熱型の半導体樹脂封止パッケージ10を示す図、
図2は図1のA矢視図、図3は本発明に係る半導体樹脂
封止パッケージの製造方法の作用を説明する図である。
図1から分かるように、本発明により製造される裏面放
熱型の半導体樹脂封止パッケージ10は、樹脂基板など
の実装基板17(図3)側に配置される裏面ヒートシン
ク11上に半導体素子12が載置されている。この半導
体素子12は、例えばパワーアンプなど、発熱量の大き
な半導体素子が用いられる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, a semiconductor device manufactured according to the present invention will be described.
A method for manufacturing the conductive resin sealed package will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package 10 manufactured according to the present invention;
FIG. 2 is a view taken in the direction of the arrow A in FIG. 1, and FIG.
As can be seen from FIG. 1, the backside heat dissipation type semiconductor resin encapsulation package 10 manufactured by the present invention has a semiconductor element 12 on a backside heat sink 11 arranged on a mounting substrate 17 (FIG. 3) side such as a resin substrate. It is placed. As the semiconductor element 12, a semiconductor element having a large heat value such as a power amplifier is used.

【0017】また、裏面ヒートシンク11の両側には、
図2にも示すようにリード端子部13が配置されてい
る。そして、裏面ヒートシンク11、半導体素子12及
びリード端子部13がモールド樹脂14によって被覆さ
れると共に、裏面ヒートシンク11が露出されている。
On both sides of the backside heat sink 11,
As shown in FIG. 2, the lead terminal portion 13 is provided. Then, the backside heat sink 11, the semiconductor element 12, and the lead terminal portion 13 are covered with the mold resin 14, and the backside heat sink 11 is exposed.

【0018】また、この半導体樹脂封止パッケージ10
は、図1に示すように裏面ヒートシンク11の端部にモ
ールド樹脂14の内部に向かう折れ曲がり部15が適宜
な角度で設けられている。更に、この折れ曲がり部15
の曲げ基点における実装基板17との対向面側には、凹
部16が全長に亘って連続的又は断続的に設けられてい
る。
The semiconductor resin sealed package 10
As shown in FIG. 1, a bent portion 15 directed toward the inside of the mold resin 14 is provided at an appropriate angle at an end of the backside heat sink 11. Further, the bent portion 15
A concave portion 16 is provided continuously or intermittently over the entire length on the side facing the mounting substrate 17 at the bending base point.

【0019】この半導体樹脂封止パッケージ10を、図
3に示すように樹脂基板などの実装基板17に実装する
場合には、従来と同様に実装基板17上にリード端子部
用半田パッド18及びヒートシンク用半田パッド19を
設ける。次に、半田印刷機(図示せず)により実装基板
17の各半田パッド18、19上に半田ペーストを印刷
する。
When the semiconductor resin-sealed package 10 is mounted on a mounting board 17 such as a resin board as shown in FIG. 3, a solder pad 18 for a lead terminal portion and a heat sink A solder pad 19 is provided. Next, a solder paste is printed on each of the solder pads 18 and 19 of the mounting board 17 by a solder printing machine (not shown).

【0020】次に、搭載機(図示せず)で印刷された半
田ペースト上に、半導体樹脂封止パッケージ10の裏面
ヒートシンク11及びリード端子部13を下向きにして
載置し、赤外線リフロー装置(図示せず)などで半田ペ
ーストを溶融させる。これにより、半導体樹脂封止パッ
ケージ10の裏面ヒートシンク11及びリード端子部1
3が、実装基板17の所定の位置に半田付けされて実装
される。
Next, the heat sink 11 and the lead terminals 13 of the semiconductor resin sealing package 10 are placed on the solder paste printed by a mounting machine (not shown) with the infrared reflow device (FIG. (Not shown) to melt the solder paste. Thereby, the back surface heat sink 11 and the lead terminal portion 1 of the semiconductor resin sealing package 10 are formed.
3 is mounted on a predetermined position of the mounting board 17 by soldering.

【0021】このように、本発明により製造される半導
体樹脂封止パッケージ10は、裏面ヒートシンク11の
端部にモールド樹脂14の内部に向かう折れ曲がり部1
5を設け、更にこの折れ曲がり部15の折り曲げ基点に
おける実装基板17との対向面側に凹部16を設けたの
で、裏面ヒートシンク11のモールド樹脂14に対する
係止力が大きくなる。
As described above, the semiconductor resin sealing package 10 manufactured according to the present invention has the bent portion 1 toward the inside of the mold resin 14 at the end of the backside heat sink 11.
5 and the concave portion 16 is provided on the surface of the bent portion 15 facing the mounting substrate 17 at the bending base point, so that the locking force of the rear heat sink 11 to the mold resin 14 is increased.

【0022】したがって、モールド樹脂14の吸湿性に
よって内部に蓄積された水分が、実装時に加熱されて膨
張し、その膨張による応力が裏面ヒートシンク11をモ
ールド樹脂14から剥離する方向に作用した場合でも、
裏面ヒートシンク11及び半導体素子12がモールド樹
脂14から剥離するのを確実に防止することができる。
Therefore, even if the moisture accumulated inside due to the hygroscopicity of the mold resin 14 is heated and expanded at the time of mounting, and the stress due to the expansion acts in the direction of peeling the backside heat sink 11 from the mold resin 14,
Separation of the backside heat sink 11 and the semiconductor element 12 from the mold resin 14 can be reliably prevented.

【0023】したがって、従来のように、裏面ヒートシ
ンク11及び半導体素子12とモールド樹脂14との間
に剥離部が発生することがないので、この剥離部に蓄積
した水分で半導体素子12の特性が劣化するのを防止す
ることができ、安定性及び信頼性を上げることができ
る。また、折れ曲がり部15の基点に凹部16を設ける
ことによって、基点の肉厚が薄くなり折り曲げ加工が容
易になる。これにより加工時にヒートシンク平坦部に加
わる応力を低減することが出来、ヒートシンク平坦部の
平坦性を確保することができる。
Therefore, unlike the conventional case, no peeling portion is generated between the backside heat sink 11 and the semiconductor element 12 and the mold resin 14, and the characteristics of the semiconductor element 12 are degraded by the moisture accumulated in the peeling portion. Can be prevented, and stability and reliability can be improved. Further, by providing the concave portion 16 at the base point of the bent portion 15, the thickness of the base point is reduced, and the bending process is facilitated. As a result, the stress applied to the heat sink flat portion during processing can be reduced, and the flatness of the heat sink flat portion can be ensured.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る半導
体樹脂封止パッケージの製造方法によれば、裏面ヒート
シンクの折れ曲がり部及び凹部がモールド樹脂に係止さ
れるので、裏面ヒートシンクをモールド樹脂から剥離さ
せる応力が作用した場合でも、裏面ヒートシンク及び半
導体素子がモールド樹脂から剥離するのを確実に防止す
ることができ、これにより、半導体素子の特性劣化を防
止できると共に、安定性及び信頼性を向上させることが
可能な半導体樹脂封止パッケージを製造することができ
る。そして、本発明に係る半導体樹脂封止パッケージの
製造方法においては、凹部が折れ曲がり部の基点に設け
られているので、基点の肉厚が薄くなり、折り曲げ加工
が容易な生産性の高い半導体樹脂封止パッケージの製造
方法を提供することができる。
As described above, the semiconductor device according to the present invention is
According to the manufacturing method of the body resin sealing package, since the bent portion and the concave portion of the backside heat sink are locked to the mold resin, the backside heatsink and the semiconductor element can be used even when a stress acts to separate the backside heatsink from the mold resin. It is possible to reliably prevent peeling from the mold resin, thereby preventing deterioration of characteristics of the semiconductor element and improving stability and reliability.
A possible semiconductor resin-sealed package can be manufactured . And, of the semiconductor resin sealed package according to the present invention,
In the manufacturing method, since the concave portion is provided at the base point of the bent portion, the thickness of the base point is reduced, and it is possible to provide a method of manufacturing a semiconductor resin encapsulated package that is easy to bend and has high productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明により製造される裏面放熱型の半導体樹
脂封止パッケージを示す図である。
FIG. 1 is a backside heat dissipation type semiconductor tree manufactured by the present invention .
It is a figure which shows a fat sealing package .

【図2】図1のA矢視図である。FIG. 2 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 1;

【図3】本発明に係る裏面放熱型の半導体樹脂封止パッ
ケージの製造方法の作用を説明する図である。
FIG. 3 is a semiconductor resin sealing package of a backside heat dissipation type according to the present invention.
It is a figure explaining an operation of a manufacturing method of a cage .

【図4】従来例に係る裏面放熱型の半導体樹脂封止パッ
ケージを示す図である。
FIG. 4 is a view showing a backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package according to a conventional example.

【図5】図4のB矢視図である。FIG. 5 is a view taken in the direction of arrow B in FIG. 4;

【図6】従来例に係る裏面放熱型の半導体樹脂封止パッ
ケージの作用を説明する図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating the operation of a backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package according to a conventional example.

【図7】従来例に係る裏面放熱型の半導体樹脂封止パッ
ケージの別の例を示す図である。
FIG. 7 is a view showing another example of a backside heat dissipation type semiconductor resin sealing package according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 半導体樹脂封止パッケージ 11 裏面ヒートシンク 12 半導体素子 13 リード端子部 14 モールド樹脂 15 折れ曲がり部 16 凹部 17 実装基板 18 リード端子部用半田パッド 19 ヒートシンク用半田パッド DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Semiconductor resin sealing package 11 Backside heat sink 12 Semiconductor element 13 Lead terminal part 14 Mold resin 15 Bend part 16 Concave part 17 Mounting substrate 18 Lead terminal part solder pad 19 Heat sink solder pad

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】実装基板側に配置される裏面ヒートシンク
上に半導体素子が載置され、前記裏面ヒートシンクの側
方にリード端子部が配置され、前記裏面ヒートシンク、
前記半導体素子及び前記リード端子部が樹脂によって被
覆され、前記裏面ヒートシンクが露出されている半導体
樹脂封止パッケージの製造方法において、 前記裏面ヒートシンクの端部に前記樹脂の内部に向かう
折れ曲がり部を形成する際に、前記折れ曲がり部の曲げ
基点となる部分で前記実装基板との対向面側に凹部を設
けた後に、折り曲げることを特徴とする半導体樹脂封止
パッケージの製造方法。
A semiconductor element is mounted on a backside heat sink disposed on a mounting substrate side, and a lead terminal portion is disposed on a side of the backside heat sink.
In the method for manufacturing a semiconductor resin-encapsulated package in which the semiconductor element and the lead terminal portion are covered with a resin and the backside heat sink is exposed, a bent portion toward the inside of the resin is formed at an end of the backside heat sink. In this case, a method of manufacturing a semiconductor resin-sealed package is characterized in that a concave portion is provided at a portion serving as a bending base point of the bent portion on the side facing the mounting substrate, and then the bent portion is bent.
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