JP3282641B2 - 光周波数領域反射測定装置 - Google Patents
光周波数領域反射測定装置Info
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- JP3282641B2 JP3282641B2 JP30931093A JP30931093A JP3282641B2 JP 3282641 B2 JP3282641 B2 JP 3282641B2 JP 30931093 A JP30931093 A JP 30931093A JP 30931093 A JP30931093 A JP 30931093A JP 3282641 B2 JP3282641 B2 JP 3282641B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ通信線路に
おける反射光もしくは後方散乱光の発生箇所を高い距離
分解能で同定し、故障箇所、異常箇所を発見するための
測定装置に関するものである。
おける反射光もしくは後方散乱光の発生箇所を高い距離
分解能で同定し、故障箇所、異常箇所を発見するための
測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】高い距離分解能で、光部品または光ファ
イバーからの反射光及び後方散乱光の強度分布を測定す
ることが可能な分布型光センサーとして、Ｃ−ＯＦＤＲ
（Coherent Optical Frequency Domain Reflectometry)
が知られている。
イバーからの反射光及び後方散乱光の強度分布を測定す
ることが可能な分布型光センサーとして、Ｃ−ＯＦＤＲ
（Coherent Optical Frequency Domain Reflectometry)
が知られている。
【０００３】Ｃ−ＯＦＤＲでは、周波数が時間に対して
直線的に繰り返し掃引されたコヒーレントな光を用いる
ことにより、光周波数領域における反射光及び後方散乱
光の強度分布測定を可能にしている。具体的には、図７
に示すように、光源Ｌからの直線周波数掃引された光を
信号光Ａと参照光Ｂとに分けた後、信号光を被測定光部
品、例えば光ファイバ100 に入射し、反射又は後方散乱
された反射光Ｃと参照光Ｂとの間のビード周波数信号を
受信器Ｄで受信し、スペクトラムアナライザーＥで解析
している。このとき、両光の周波数差はその遅延時間差
に比例するため、反射光強度分布を光周波数領域で測定
することができる。特に距離分解能が高い場合には、受
信帯域幅を狭く設定することができるため、低雑音で測
定を行なえるという方式上の利点を有する。このときの
周波数掃引波形を図8aに、測定波形を図8bに示した。図
8aの縦軸ｆは光周波数、横軸ｔは時間を表し、図8bの縦
軸Ｉは強度、横軸Δｆは周波数差を表す。
直線的に繰り返し掃引されたコヒーレントな光を用いる
ことにより、光周波数領域における反射光及び後方散乱
光の強度分布測定を可能にしている。具体的には、図７
に示すように、光源Ｌからの直線周波数掃引された光を
信号光Ａと参照光Ｂとに分けた後、信号光を被測定光部
品、例えば光ファイバ100 に入射し、反射又は後方散乱
された反射光Ｃと参照光Ｂとの間のビード周波数信号を
受信器Ｄで受信し、スペクトラムアナライザーＥで解析
している。このとき、両光の周波数差はその遅延時間差
に比例するため、反射光強度分布を光周波数領域で測定
することができる。特に距離分解能が高い場合には、受
信帯域幅を狭く設定することができるため、低雑音で測
定を行なえるという方式上の利点を有する。このときの
周波数掃引波形を図8aに、測定波形を図8bに示した。図
8aの縦軸ｆは光周波数、横軸ｔは時間を表し、図8bの縦
軸Ｉは強度、横軸Δｆは周波数差を表す。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ｃ−Ｏ
ＦＤＲにおける周波数掃引には、極めて高精度な線形性
が要求され、且つ周波数掃引速度として、１〜100THz／
秒程度の高い値が必要とされる。また反射光と参照光と
の干渉によるビード信号を継続的に得るためには、それ
らの間の光路長差が光の可干渉距離内に入っていなけれ
ばならない。しかしながら半導体レーザーを光源として
用い、注入電流制御により周波数を掃引する場合には、
可干渉距離が短いために測定可能範囲を広くとれないと
いう問題、及び線形周波数掃引が難しく充分な測定精度
がとれないという問題があり、充分な長さを有する光フ
ァイバーの測定は不可能であった。
ＦＤＲにおける周波数掃引には、極めて高精度な線形性
が要求され、且つ周波数掃引速度として、１〜100THz／
秒程度の高い値が必要とされる。また反射光と参照光と
の干渉によるビード信号を継続的に得るためには、それ
らの間の光路長差が光の可干渉距離内に入っていなけれ
ばならない。しかしながら半導体レーザーを光源として
用い、注入電流制御により周波数を掃引する場合には、
可干渉距離が短いために測定可能範囲を広くとれないと
いう問題、及び線形周波数掃引が難しく充分な測定精度
がとれないという問題があり、充分な長さを有する光フ
ァイバーの測定は不可能であった。
【０００５】またコヒーレント光源としてＹＡＧレーザ
ー等の狭帯域幅光源を用い、外部変調器により光周波数
を掃引する方式では、外部変調器により10〜数10GHz の
周波数を掃引するが、変調時における０次成分及び高次
変調成分の除去が難しく、また要求される周波数掃引精
度〜10kHz （全周波数掃引範囲に対して10-6の精度）を
満足することが困難であった。そのため長距離光ファイ
バーの測定は可能でも、測定距離分解能を高くすること
は難しかった。
ー等の狭帯域幅光源を用い、外部変調器により光周波数
を掃引する方式では、外部変調器により10〜数10GHz の
周波数を掃引するが、変調時における０次成分及び高次
変調成分の除去が難しく、また要求される周波数掃引精
度〜10kHz （全周波数掃引範囲に対して10-6の精度）を
満足することが困難であった。そのため長距離光ファイ
バーの測定は可能でも、測定距離分解能を高くすること
は難しかった。
【０００６】本発明は、以上の問題点を解決し、広い範
囲にわたって、高い距離分解能が可能になる光周波数領
域反射測定装置を提供することを目的とする。
囲にわたって、高い距離分解能が可能になる光周波数領
域反射測定装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、1)極めてコヒーレントな光を発生するレ
ーザー光源と、2)該光源より生じた光の強度もしくは位
相に変調をかけるための高速外部変調器と、3)該高速外
部変調器からの出力光をパルス化するためのパルス変調
器と、4)該パルス変調器の出力光を２波に分波する光方
向性結合器と、5)該光方向性結合器の一方の出力光を増
幅するための光増幅器と、6)該光増幅器中で生じた自然
放出雑音光を低減するための狭帯域光フィルターと、7)
該狭帯域光フィルターの出力光の偏光状態を制御するた
めの偏光制御素子と、8)該偏光制御素子の出力光の伝搬
時間に遅延を与えるための遅延線と、9)遅延線の出力光
の周波数を一定量シフトさせるための光周波数シフター
と、10) 該光周波数シフターの出力光のオンオフを行な
う光スイッチと、11) 前記高速外部変調器と前記パルス
変調器と該光スイッチとを同期制御するための外部同期
制御系と、12) 前記光方向性結合器の残りの出力ポート
からの出力光を２波に分波するための第２の光方向性結
合器と、13) 該第２の光方向性結合器の片方の出力光を
被測定光ファイバーに導き、且つ該被測定光ファイバー
からの反射もしくは後方散乱光を取り出すための第３の
光方向性結合器と、14) 該第３の光方向性結合器を介し
て取り出された反射光もしくは後方散乱光を前記第２の
光方向性結合器の残りの出力ポートより出力される光波
と合波しヘテロダイン検波するための平衡型ヘテロダイ
ン受信器と、15) 該平衡型ヘテロンダイン受信器からの
電気信号を周波数解析するためのスペクトラムアナライ
ザーと、16) 該スペクトラムアナライザーの測定値を加
算平均化するための信号処理系と、から構成される系に
おいて、前記光スイッチの出力光を、前記第１の光方向
性結合器の残りの入力ポートに入力することにより光ル
ープを構成し、2)の高速外部変調器と、10) の光スイッ
チとを同期制御することにより、極めて高精度な線形周
波数掃引を実現した装置であり、これにより、光ファイ
バーからの反射光及び後方散乱光強度の分布を高い距離
分解能で測定することを可能にした。
に、本発明は、1)極めてコヒーレントな光を発生するレ
ーザー光源と、2)該光源より生じた光の強度もしくは位
相に変調をかけるための高速外部変調器と、3)該高速外
部変調器からの出力光をパルス化するためのパルス変調
器と、4)該パルス変調器の出力光を２波に分波する光方
向性結合器と、5)該光方向性結合器の一方の出力光を増
幅するための光増幅器と、6)該光増幅器中で生じた自然
放出雑音光を低減するための狭帯域光フィルターと、7)
該狭帯域光フィルターの出力光の偏光状態を制御するた
めの偏光制御素子と、8)該偏光制御素子の出力光の伝搬
時間に遅延を与えるための遅延線と、9)遅延線の出力光
の周波数を一定量シフトさせるための光周波数シフター
と、10) 該光周波数シフターの出力光のオンオフを行な
う光スイッチと、11) 前記高速外部変調器と前記パルス
変調器と該光スイッチとを同期制御するための外部同期
制御系と、12) 前記光方向性結合器の残りの出力ポート
からの出力光を２波に分波するための第２の光方向性結
合器と、13) 該第２の光方向性結合器の片方の出力光を
被測定光ファイバーに導き、且つ該被測定光ファイバー
からの反射もしくは後方散乱光を取り出すための第３の
光方向性結合器と、14) 該第３の光方向性結合器を介し
て取り出された反射光もしくは後方散乱光を前記第２の
光方向性結合器の残りの出力ポートより出力される光波
と合波しヘテロダイン検波するための平衡型ヘテロダイ
ン受信器と、15) 該平衡型ヘテロンダイン受信器からの
電気信号を周波数解析するためのスペクトラムアナライ
ザーと、16) 該スペクトラムアナライザーの測定値を加
算平均化するための信号処理系と、から構成される系に
おいて、前記光スイッチの出力光を、前記第１の光方向
性結合器の残りの入力ポートに入力することにより光ル
ープを構成し、2)の高速外部変調器と、10) の光スイッ
チとを同期制御することにより、極めて高精度な線形周
波数掃引を実現した装置であり、これにより、光ファイ
バーからの反射光及び後方散乱光強度の分布を高い距離
分解能で測定することを可能にした。
【０００８】更に本発明は、2)の高速外部変調器と、音
響光学スイッチとを同期制御することにより、極めて高
精度な線形周波数掃引を実現した装置を提供するもので
ある。
響光学スイッチとを同期制御することにより、極めて高
精度な線形周波数掃引を実現した装置を提供するもので
ある。
【０００９】
【作用】本発明の基本的な構成を図１に示す。極めてコ
ヒーレントな光を発生するレーザー光源１より生じた光
の周波数は、高速外部変調器２により時間に依存する振
幅または位相変調を受け、時間に対して微少量ｆだけ線
形周波数掃引される。そして高速変調器２からの出力光
はパルス変調器３によりパルス化された後、第１の光方
向性結合器４により２波に分波される。光方向性結合器
の一方の出力光は光増幅器５により増幅され、光増幅器
中で生じた自然放出雑音光は、狭帯域光フィルター６に
より低減され、出力光の偏光状態は偏光制御素子７によ
り制御される。偏光制御素子７の出力光の伝搬時間は光
遅延線８により遅延を受け、その周波数は光周波数シフ
ター９により、高速外部変調器２による微小周波数掃引
量に相当する分だけ一定のシフトｆを受ける。光周波数
シフター９の出力光は光スイッチ10によりオンオフされ
る。
ヒーレントな光を発生するレーザー光源１より生じた光
の周波数は、高速外部変調器２により時間に依存する振
幅または位相変調を受け、時間に対して微少量ｆだけ線
形周波数掃引される。そして高速変調器２からの出力光
はパルス変調器３によりパルス化された後、第１の光方
向性結合器４により２波に分波される。光方向性結合器
の一方の出力光は光増幅器５により増幅され、光増幅器
中で生じた自然放出雑音光は、狭帯域光フィルター６に
より低減され、出力光の偏光状態は偏光制御素子７によ
り制御される。偏光制御素子７の出力光の伝搬時間は光
遅延線８により遅延を受け、その周波数は光周波数シフ
ター９により、高速外部変調器２による微小周波数掃引
量に相当する分だけ一定のシフトｆを受ける。光周波数
シフター９の出力光は光スイッチ10によりオンオフされ
る。
【００１０】ここで光スイッチ10の出力光を、光方向性
結合器４の残りの入力ポートに入力することにより光ル
ープを構成し、高速外部変調器２と、パルス変調器３
と、光スイッチ10とを外部同期制御系11により同期制御
し、光ループに入射した光パルスがループを多数回周回
するようにする。更に、光パルスの時間幅が光ループの
周回時間に等しくなるように光遅延線の長さを調整し、
光ループから出力されるパルス列が、擬似的な連続光と
見なせるようにする。このとき、この擬似的な連続光の
光周波数は、時間に対して極めて正確に線形掃引される
ことになる。
結合器４の残りの入力ポートに入力することにより光ル
ープを構成し、高速外部変調器２と、パルス変調器３
と、光スイッチ10とを外部同期制御系11により同期制御
し、光ループに入射した光パルスがループを多数回周回
するようにする。更に、光パルスの時間幅が光ループの
周回時間に等しくなるように光遅延線の長さを調整し、
光ループから出力されるパルス列が、擬似的な連続光と
見なせるようにする。このとき、この擬似的な連続光の
光周波数は、時間に対して極めて正確に線形掃引される
ことになる。
【００１１】次に、光ループの出力ポートから出力され
る擬似的な周波数掃引連続光は、第２の光方向性結合器
12により、信号光と参照光とに分波され、信号光は第３
の光方向性結合器13を介して、被測定光ファイバー100
に導かれる。被測定光ファイバー100 からの反射もしく
は後方散乱光は、第３の光方向性結合器13を介して取り
出され、第２の光方向性結合器12の残りの出力ポートよ
り出力される参照光波と合波され、平衡型ヘテロダイン
受信器14を用いてヘテロダイン検波される。平衡型ヘテ
ロダイン受信器14からの電気信号はスペクトラムアナラ
イザー15により周波数解析され、その測定値は、信号処
理系16により加算平均化処理される。
る擬似的な周波数掃引連続光は、第２の光方向性結合器
12により、信号光と参照光とに分波され、信号光は第３
の光方向性結合器13を介して、被測定光ファイバー100
に導かれる。被測定光ファイバー100 からの反射もしく
は後方散乱光は、第３の光方向性結合器13を介して取り
出され、第２の光方向性結合器12の残りの出力ポートよ
り出力される参照光波と合波され、平衡型ヘテロダイン
受信器14を用いてヘテロダイン検波される。平衡型ヘテ
ロダイン受信器14からの電気信号はスペクトラムアナラ
イザー15により周波数解析され、その測定値は、信号処
理系16により加算平均化処理される。
【００１２】このようにして、可干渉距離の長いコヒー
レント光の光周波数を、極めて正確に線形掃引すること
が可能になり、高距離分解能と広い測定範囲を有する光
周波数領域反射測定装置を構成することができる。
レント光の光周波数を、極めて正確に線形掃引すること
が可能になり、高距離分解能と広い測定範囲を有する光
周波数領域反射測定装置を構成することができる。
【００１３】
【実施例】図２は、本発明の第１の実施例の構成を示す
図である。18は、線幅数100Hz をもつコヒーレントな光
を発生するレーザー光源（例えば半導体レーザー励起Ｙ
ＡＧレーザー）であり、その可干渉距離は10数kmであ
る。19はレーザー光源より生じた光の振幅もしくは位相
に変調をかけるための高速外部変調器（例えばLiNbO3電
気光学変調素子）であり、光周波数のシフト量は時間τ
の間に、図３に示すようにＦ Hz からＦ′ Hz まで繰
り返し掃引される。Ｆは10〜数10GHz 程度であり、Ｆ′
−Ｆは100 〜数100MHz程度であるとする。ここで20は、
高速外部変調器19を駆動するための駆動系である。21
は、狭帯域光フィルターであり、図４に示すように０次
もしくは他の高次変調成分を除去し、１次変調成分だけ
を透過させる。高速変調器19からの周波数掃引出力光
は、パルス変調器22（例えば音響光学光パルス変調器）
によりパルス化される。このときパルス変調器によるパ
ルス時間幅はΔｔとし、高速外部変調器19と同期制御さ
れる。具体的には図５に示すように、線形周波数掃引さ
れた一部分がパルス変調器により時間的に取り出され
る。したがって取り出される光パルスの周波数は、周期
Ｔの間の時間Δｔの間にｆだけ線形掃引される。
図である。18は、線幅数100Hz をもつコヒーレントな光
を発生するレーザー光源（例えば半導体レーザー励起Ｙ
ＡＧレーザー）であり、その可干渉距離は10数kmであ
る。19はレーザー光源より生じた光の振幅もしくは位相
に変調をかけるための高速外部変調器（例えばLiNbO3電
気光学変調素子）であり、光周波数のシフト量は時間τ
の間に、図３に示すようにＦ Hz からＦ′ Hz まで繰
り返し掃引される。Ｆは10〜数10GHz 程度であり、Ｆ′
−Ｆは100 〜数100MHz程度であるとする。ここで20は、
高速外部変調器19を駆動するための駆動系である。21
は、狭帯域光フィルターであり、図４に示すように０次
もしくは他の高次変調成分を除去し、１次変調成分だけ
を透過させる。高速変調器19からの周波数掃引出力光
は、パルス変調器22（例えば音響光学光パルス変調器）
によりパルス化される。このときパルス変調器によるパ
ルス時間幅はΔｔとし、高速外部変調器19と同期制御さ
れる。具体的には図５に示すように、線形周波数掃引さ
れた一部分がパルス変調器により時間的に取り出され
る。したがって取り出される光パルスの周波数は、周期
Ｔの間の時間Δｔの間にｆだけ線形掃引される。
【００１４】次に、周波数線形掃引されたパルス光は、
内部に光増幅器23、狭帯域光フィルター24、偏光制御素
子25、光遅延素子26、光周波数シフター27、光スイッチ
28を含む光ループ回路29に、第１の光方向性結合器30を
経て入力される。光ループ回路29の１周回時間は、入力
パルス時間幅Δｔに等しくなるように調整される。ここ
で、光増幅器23、具体的にはエルビウムドープ光ファイ
バ増幅器等は、光ループの光学損失を補償するために挿
入され、光増幅器中で生じた自然放出雑音光は狭帯域光
フィルター24により低減される。狭帯域光フィルター24
の出力光の偏光状態は、偏光制御素子25により制御さ
れ、周回時間の調整は光遅延線26の長さを調整すること
により行われる。光ループ中を周回する光の周波数は、
光周波数シフター27により一定量のシフトを受ける。28
は、光のオンオフを行なう光スイッチであり、その状態
は、高速外部変調器19及びパルス変調器22と、外部同期
制御系31により同期が繰り返し制御される。このように
して多数回にわたる光ループ回路内のパルス周回が可能
になる。
内部に光増幅器23、狭帯域光フィルター24、偏光制御素
子25、光遅延素子26、光周波数シフター27、光スイッチ
28を含む光ループ回路29に、第１の光方向性結合器30を
経て入力される。光ループ回路29の１周回時間は、入力
パルス時間幅Δｔに等しくなるように調整される。ここ
で、光増幅器23、具体的にはエルビウムドープ光ファイ
バ増幅器等は、光ループの光学損失を補償するために挿
入され、光増幅器中で生じた自然放出雑音光は狭帯域光
フィルター24により低減される。狭帯域光フィルター24
の出力光の偏光状態は、偏光制御素子25により制御さ
れ、周回時間の調整は光遅延線26の長さを調整すること
により行われる。光ループ中を周回する光の周波数は、
光周波数シフター27により一定量のシフトを受ける。28
は、光のオンオフを行なう光スイッチであり、その状態
は、高速外部変調器19及びパルス変調器22と、外部同期
制御系31により同期が繰り返し制御される。このように
して多数回にわたる光ループ回路内のパルス周回が可能
になる。
【００１５】ここで、光周波数シフター27による周波数
シフト量は、ｆに等しくなるように調整する。具体的に
は音響光学周波数シフターを用い、周波数シフト量は10
0 〜200MHz程度とする。このとき光ループ回路29から出
力される周回パルス列は、図６に示すように、擬似的な
連続光と見なすことができ、しかもその周波数は時間に
対して極めて正確に線形掃引される。例えば、外部変調
器による周波数シフト量をＦ＝10GHz からＦ′＝10GHz
＋200MHzまで、時間に対して直線的に変化させ、それを
パルス幅Δｔ＝50μs で切り出すとする。時間Δｔの間
における周波数シフト量をｆ＝＋100MHz、光ループ周回
あたりの周波数シフト量を同様にｆ＝＋100MHzとする。
このとき200 回周回を行なわせるものとすると、時間10
msにわたって、光周波数は20GHz で正確に線形掃引され
る（周波数掃引速度は２THz/秒である）。また周回パル
ス同士は互いに干渉性をもつため、実質的な可干渉距離
は、2000km程度まで拡大される。
シフト量は、ｆに等しくなるように調整する。具体的に
は音響光学周波数シフターを用い、周波数シフト量は10
0 〜200MHz程度とする。このとき光ループ回路29から出
力される周回パルス列は、図６に示すように、擬似的な
連続光と見なすことができ、しかもその周波数は時間に
対して極めて正確に線形掃引される。例えば、外部変調
器による周波数シフト量をＦ＝10GHz からＦ′＝10GHz
＋200MHzまで、時間に対して直線的に変化させ、それを
パルス幅Δｔ＝50μs で切り出すとする。時間Δｔの間
における周波数シフト量をｆ＝＋100MHz、光ループ周回
あたりの周波数シフト量を同様にｆ＝＋100MHzとする。
このとき200 回周回を行なわせるものとすると、時間10
msにわたって、光周波数は20GHz で正確に線形掃引され
る（周波数掃引速度は２THz/秒である）。また周回パル
ス同士は互いに干渉性をもつため、実質的な可干渉距離
は、2000km程度まで拡大される。
【００１６】32は光ループ回路29の周波数掃引出力光を
信号光と参照光とに分波する第２の光方向性結合器であ
り、33は信号光を被測定光ファイバ100 に導き、且つ該
被測定光ファイバー100 からの反射もしくは後方散乱光
を取り出すための第３の光方向性結合器である。34は、
第３の光方向性結合器を介して取り出された反射光及び
後方散乱光を前記第２の光方向性結合器の残りの出力ポ
ートより出力される光波と合波しヘテロダイン検波する
ための平衡型ヘテロダイン受信器であり、その出力信号
はスペクトラムアナライザー35により周波数解析され
る。ここで参照光成分に付随している自然放出光雑音成
分に起因する受信感度の低下は、平衡型ヘテロダイン受
信器を用いることにより相当量低減することが可能であ
る。36は、スペクトラムアナライザーの測定値を加算平
均化するための信号処理系であり、加算平均することに
より信号対雑音比を改善する。
信号光と参照光とに分波する第２の光方向性結合器であ
り、33は信号光を被測定光ファイバ100 に導き、且つ該
被測定光ファイバー100 からの反射もしくは後方散乱光
を取り出すための第３の光方向性結合器である。34は、
第３の光方向性結合器を介して取り出された反射光及び
後方散乱光を前記第２の光方向性結合器の残りの出力ポ
ートより出力される光波と合波しヘテロダイン検波する
ための平衡型ヘテロダイン受信器であり、その出力信号
はスペクトラムアナライザー35により周波数解析され
る。ここで参照光成分に付随している自然放出光雑音成
分に起因する受信感度の低下は、平衡型ヘテロダイン受
信器を用いることにより相当量低減することが可能であ
る。36は、スペクトラムアナライザーの測定値を加算平
均化するための信号処理系であり、加算平均することに
より信号対雑音比を改善する。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明における光
周波数領域反射測定装置は、高距離分解能と、極めて広
い測定可能距離を同時に実現することが可能であるとい
う点で従来の方法とは全く異なる新規高性能な測定装置
であり、実用に供して極めて優れた効果を奏するもので
ある。
周波数領域反射測定装置は、高距離分解能と、極めて広
い測定可能距離を同時に実現することが可能であるとい
う点で従来の方法とは全く異なる新規高性能な測定装置
であり、実用に供して極めて優れた効果を奏するもので
ある。
【図１】本発明における光周波数領域反射測定装置の基
本構成図である。
本構成図である。
【図２】本発明における光周波数領域反射測定装置の実
施例を示す図である。
施例を示す図である。
【図３】高速外部変調器による微小線形周波数掃引を説
明する図である。
明する図である。
【図４】狭帯域光フィルターにおける０次光及び高次変
調成分の除去法を説明する図である。
調成分の除去法を説明する図である。
【図５】光パルス変調器による入力パルスの抽出法を説
明する図である。
明する図である。
【図６】光ループ回路の出力パルス列の強度及び光周波
数の線形掃引を説明する図である。
数の線形掃引を説明する図である。
【図７】従来のＣ−ＯＦＤＲの概念図である。
【図８】図8aは、周波数掃引波形を示す図である。図8b
は、測定波形を示す図である。
は、測定波形を示す図である。
１ レーザー光源 ２ 高速外部変調器 ３ パルス変調器 ４ 第１の光方向性結合器 ５ 光増幅器 ６ 狭帯域光フィルター ７ 偏光制御素子 ８ 光遅延線 ９ 光周波数シフター 10 光スイッチ 11 外部制御系 12 第２の光方向性結合器 13 第３の光方向性結合器 14 平衡型ヘテロダイン受信器 15 スペクトラムアナライザー 16 信号処理系 17 音響光学素子 18 レーザー光源 19 高速外部変調器 20 外部変調器駆動系 21 狭帯域光フィルター 22 パルス変調器 23 光増幅器 24 狭帯域光フィルター 25 偏光制御素子 26 光遅延線 27 光周波数シフター 28 光スイッチ 29 光ループ 30 第１の光方向性結合器 31 外部制御系 32 第２の光方向性結合器 33 第３の光方向性結合器 34 平衡型ヘテダイン受信器 35 スペクトラムアナライザー 36 信号処理系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−322699（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−232540（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08
Claims (2)
- 【請求項１】 1)極めてコヒーレントな光を発生するレ
ーザー光源と、 2)該光源より生じた光の振幅もしくは位相に変調をかけ
るための高速外部変調器と、 3)該高速変調器からの出力光をパルス化するためのパル
ス変調器と、 4)該パルス変調器の出力光を２波に分波するための第１
の光方向性結合器と、 5)該光方向性結合器の一方の出力光を増幅するための光
増幅器と、 6)該光増幅器中で生じた自然放出雑音光を低減するため
の狭帯域光フィルターと、 7)光波の偏光状態を制御するための偏光制御素子と、 8)光波の伝搬時間に遅延を与えるための遅延線と、 9)光波の周波数を一定量シフトさせるための光周波数シ
フターと、 10) 該光周波数シフターの出力光のオンオフを行なう光
スイッチと、 11) 前記高速外部変調器と、前記パルス変調器と、該光
スイッチとを同期制御するための外部同期制御系と、 12) 前記第１の光方向性結合器の残りの出力ポートから
の出力光を２波に分波するための第２の光方向性結合器
と、 13) 該第２の光方向性結合器の片方の出力光を被測定光
ファイバーに導き、且つ該被測定光ファイバーからの反
射もしくは後方散乱光を取り出すための第３の光方向性
結合器と、 14) 該第３の光方向性結合器を介して取り出された反射
光もしくは後方散乱光を、前記第２の光方向性結合器の
残りの出力ポートより出力される光波と合波しヘテロダ
イン検波するための平衡型ヘテロダイン受信器と、 15) 該平衡型ヘテロダイン受信器からの電気信号を周波
数解析するためのスペクトラムアナライザーと、 16) 該スペクトラムアナライザーの測定値を加算平均化
するための信号処理系とから構成される系において、 前記光スイッチの出力を、前記第１の光方向性結合器の
残りの入力ポートに入力することにより光ループを構成
することを特徴とする光周波数領域反射測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の光周波数領域反射測定装
置において、前記光ループ中の、光周波数シフターと光
スイッチの機能を、音響光学光周波数シフターを用いて
兼用したことを特徴とする光周波数領域反射測定装置。
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|---|---|---|---|
| JP30931093A JP3282641B2 (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | 光周波数領域反射測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30931093A JP3282641B2 (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | 光周波数領域反射測定装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07159280A JPH07159280A (ja) | 1995-06-23 |
| JP3282641B2 true JP3282641B2 (ja) | 2002-05-20 |
Family
ID=17991479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30931093A Expired - Fee Related JP3282641B2 (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | 光周波数領域反射測定装置 |
Country Status (1)
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-
1993
- 1993-12-09 JP JP30931093A patent/JP3282641B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH07159280A (ja) | 1995-06-23 |
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