JP3282635B2 - 光線路の劣化時期推定システム及び方法 - Google Patents
光線路の劣化時期推定システム及び方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光線路の接続損失，ケー
ブル損失，反射量等の諸特性を定期的に把握し、これら
の経時変化から光線路の劣化時期を推定するシステム及
び方法に関する。
ブル損失，反射量等の諸特性を定期的に把握し、これら
の経時変化から光線路の劣化時期を推定するシステム及
び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、光線路の諸特性の検査に関して
は、光線路建設終了時点に接続損失，ケーブル損失，反
射量の測定を行い、あらかじめ決められている工事規格
値と比較しこの規格値を満足すれば正常な光線路である
と認知し、運用に供していた。定期試験においても上記
工事規格値を判定値としており、この値を満足しない心
線について故障心線と判定し、直ちに修正を行うように
していた。
は、光線路建設終了時点に接続損失，ケーブル損失，反
射量の測定を行い、あらかじめ決められている工事規格
値と比較しこの規格値を満足すれば正常な光線路である
と認知し、運用に供していた。定期試験においても上記
工事規格値を判定値としており、この値を満足しない心
線について故障心線と判定し、直ちに修正を行うように
していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の劣化時
期推定システムにおいては、サービスを維持するための
回線切替工事及び故障修理工事について計画稼動が組め
ず、要員確保が困難であるという欠点があった。
期推定システムにおいては、サービスを維持するための
回線切替工事及び故障修理工事について計画稼動が組め
ず、要員確保が困難であるという欠点があった。
【０００４】本発明の光線路の劣化時期推定システム及
び方法はこのような課題に着目してなされたものであ
り、その目的とするところは、光線路の劣化時期を推定
し、光線路が故障に至る以前に計画的心線切替及び修理
を実施して、通信サービスの突発的中断を事前に防止す
るための光線路設備に関する予防保全システムを提供す
ることにある。
び方法はこのような課題に着目してなされたものであ
り、その目的とするところは、光線路の劣化時期を推定
し、光線路が故障に至る以前に計画的心線切替及び修理
を実施して、通信サービスの突発的中断を事前に防止す
るための光線路設備に関する予防保全システムを提供す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】上記の目的を達
成するために、本発明のシステムは、光線路の接続損
失、ケーブル損失、反射量等の伝送特性を定期的に測定
し、その経時変化から光ファイバの劣化状態を診断する
システムにおいて、上記光線路の特性を定期的に測定す
る試験装置を該試験装置からデータ回線を通してデータ
を収集し、異常データの判定を行う試験データ収集・判
定装置と、異常データ、設備データを収容するデータベ
ースと、該データベースの異常データから光線路の伝送
特性の劣化時期を推定する劣化推定装置から構成され
る。
成するために、本発明のシステムは、光線路の接続損
失、ケーブル損失、反射量等の伝送特性を定期的に測定
し、その経時変化から光ファイバの劣化状態を診断する
システムにおいて、上記光線路の特性を定期的に測定す
る試験装置を該試験装置からデータ回線を通してデータ
を収集し、異常データの判定を行う試験データ収集・判
定装置と、異常データ、設備データを収容するデータベ
ースと、該データベースの異常データから光線路の伝送
特性の劣化時期を推定する劣化推定装置から構成され
る。
【０００６】また、本発明のシステムは、光線路特性を
定期的に測定する複数の試験装置と、該試験装置からデ
ータ回線を通してデータを収集する試験データ収集装置
と、各試験装置からの試験データ、線路設備データ及び
確信度データを収容する第１のデータベースと、各試験
装置対応の劣化診断結果及び故障事例のデータを収容す
る第２のデータベースと、該第２のデータベースの劣化
診断結果と故障事例を用いて劣化推定パラメータを変更
する劣化推定精度向上装置と、第１のデータベースから
の試験データ，線路設備データ，確信度データから劣化
推定時期を推定する劣化推定装置と、劣化推定結果を表
示する表示装置から構成される。
定期的に測定する複数の試験装置と、該試験装置からデ
ータ回線を通してデータを収集する試験データ収集装置
と、各試験装置からの試験データ、線路設備データ及び
確信度データを収容する第１のデータベースと、各試験
装置対応の劣化診断結果及び故障事例のデータを収容す
る第２のデータベースと、該第２のデータベースの劣化
診断結果と故障事例を用いて劣化推定パラメータを変更
する劣化推定精度向上装置と、第１のデータベースから
の試験データ，線路設備データ，確信度データから劣化
推定時期を推定する劣化推定装置と、劣化推定結果を表
示する表示装置から構成される。
【０００７】さらに、上記のシステムに係る発明の方法
は、定期試験データの開始時のデータを初期値とし、該
初期値も含めて測定値が故障規格値を超えている場合に
は故障心線として記録表示を行い、初期値と測定値の差
がノイズレベルを超える場合は測定値を異常データとし
てデータベースに記録し、該異常データが２個以上にな
った時に時間軸を補正した初期値と異常データを用い
て、３つの劣化曲線Ｆ1（ｔ）＝α（１−ｅt/τ1 ），
Ｆ2 （ｔ）＝γ（ｅt/τ2 −１），Ｆ3 （ｔ）＝βｔ
τ3 から最も相関度の高い劣化曲線を選定し、該最適劣
化曲線を用いて故障規格値を超える日数を推定して故障
予測日を表示し、該日数に応じて定期試験間隔を再設定
して定期試験を行い上述の手順を先頭から再度繰返す工
程を具備する。
は、定期試験データの開始時のデータを初期値とし、該
初期値も含めて測定値が故障規格値を超えている場合に
は故障心線として記録表示を行い、初期値と測定値の差
がノイズレベルを超える場合は測定値を異常データとし
てデータベースに記録し、該異常データが２個以上にな
った時に時間軸を補正した初期値と異常データを用い
て、３つの劣化曲線Ｆ1（ｔ）＝α（１−ｅt/τ1 ），
Ｆ2 （ｔ）＝γ（ｅt/τ2 −１），Ｆ3 （ｔ）＝βｔ
τ3 から最も相関度の高い劣化曲線を選定し、該最適劣
化曲線を用いて故障規格値を超える日数を推定して故障
予測日を表示し、該日数に応じて定期試験間隔を再設定
して定期試験を行い上述の手順を先頭から再度繰返す工
程を具備する。
【０００８】なお、Ｆ2 （ｔ）に代えて、Ｆ2 ′（ｔ）
＝γ（ｅt −１）を、Ｆ3 （ｔ）に代えてＦ3 ′（ｔ）
＝βｔを使用することもできる。Ｆ2 ′（ｔ），Ｆ3 ′
（ｔ）は、各々、Ｆ2 （ｔ），Ｆ3 （ｔ）に比べて未知
パラメータの数が少ないので、データが少ない場合には
該パラメータの値の決定が容易である。反面、データが
多くなった場合には、Ｆ2 （ｔ），Ｆ3 （ｔ）に比べて
予測精度が落ちる。
＝γ（ｅt −１）を、Ｆ3 （ｔ）に代えてＦ3 ′（ｔ）
＝βｔを使用することもできる。Ｆ2 ′（ｔ），Ｆ3 ′
（ｔ）は、各々、Ｆ2 （ｔ），Ｆ3 （ｔ）に比べて未知
パラメータの数が少ないので、データが少ない場合には
該パラメータの値の決定が容易である。反面、データが
多くなった場合には、Ｆ2 （ｔ），Ｆ3 （ｔ）に比べて
予測精度が落ちる。
【０００９】さらに、上記の工程に加えて、故障事例を
用いて劣化曲線パラメータを修正しこの修正劣化曲線に
より劣化時期の推定を行う工程を含む。
用いて劣化曲線パラメータを修正しこの修正劣化曲線に
より劣化時期の推定を行う工程を含む。
【００１０】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例を説明する図で
あって、１は伝送装置、２は光ファイバ、３はカプラ、
４は試験装置、５は試験データ収集・判定装置、６はデ
ータベース、７は劣化時期推定装置、８は推定結果の表
示装置、９はＧＰ−ＩＢはデータバスである。ここで、
試験装置４は、例えば特開平２−１６３２号公報、“光
線路試験方式”で示した光パルス試験器、光源及び受光
器、１×Ｎ光スイッチ、光カプラ等で構成されるもので
ある。試験データとしては光パルス試験器により測定さ
れた光線路の接続損失、ケーブル損失、反射量及び光源
と受光器により測定されたケーブル全損失である。
あって、１は伝送装置、２は光ファイバ、３はカプラ、
４は試験装置、５は試験データ収集・判定装置、６はデ
ータベース、７は劣化時期推定装置、８は推定結果の表
示装置、９はＧＰ−ＩＢはデータバスである。ここで、
試験装置４は、例えば特開平２−１６３２号公報、“光
線路試験方式”で示した光パルス試験器、光源及び受光
器、１×Ｎ光スイッチ、光カプラ等で構成されるもので
ある。試験データとしては光パルス試験器により測定さ
れた光線路の接続損失、ケーブル損失、反射量及び光源
と受光器により測定されたケーブル全損失である。
【００１１】本実施例の動作を図２に示す動作手順で説
明する。
明する。
【００１２】まず、試験装置で定期試験間隔を設定し
（ステップＳＡ１）、光線路建設直後あるいはケーブル
切替工事直後に光パルス試験により得られたケーブル損
失，接続損失，反射量を初期値として試験データ収集・
判定装置５を経由しデータベース６へ記録する（ステッ
プＳＡ２）。この場合、初期値が故障規格値を超えてい
るかどうかを試験データ収集・判別装置５において判定
し（ステップＳＡ３）、もし超えている場合はＧＰ−Ｉ
Ｂデータバス９を通して故障心線としてデータベース６
へ記録し（ステップＳＡ４）、表示装置８により故障表
示を行う（ステップＳＡ５）。
（ステップＳＡ１）、光線路建設直後あるいはケーブル
切替工事直後に光パルス試験により得られたケーブル損
失，接続損失，反射量を初期値として試験データ収集・
判定装置５を経由しデータベース６へ記録する（ステッ
プＳＡ２）。この場合、初期値が故障規格値を超えてい
るかどうかを試験データ収集・判別装置５において判定
し（ステップＳＡ３）、もし超えている場合はＧＰ−Ｉ
Ｂデータバス９を通して故障心線としてデータベース６
へ記録し（ステップＳＡ４）、表示装置８により故障表
示を行う（ステップＳＡ５）。
【００１３】次に、定期試験間隔経過後に試験装置４で
試験を実施し（ステップＳＡ６）、測定値が故障規格値
を超えているかどうかを判定し（ステップＳＡ７）、超
えていれば前述のステップＳＡ４，ＳＡ５の処理を行な
い、超えていない場合には初期値との差をもとめこれが
ノイズレベルを超えていないかどうか判定する（ステッ
プＳＡ８）。この差がノイズレベル以下の場合は測定値
は記録しない（ステップＳＡ９）で、定期試験のモード
（ステップＳＡ６）へ戻る。ノイズレベルを超えている
場合は異常データであると判断し、これが１回目の場合
データを記録して定期試験モードへ戻る（ステップＳＡ
１０→ＳＡ１９→ＳＡ６）。
試験を実施し（ステップＳＡ６）、測定値が故障規格値
を超えているかどうかを判定し（ステップＳＡ７）、超
えていれば前述のステップＳＡ４，ＳＡ５の処理を行な
い、超えていない場合には初期値との差をもとめこれが
ノイズレベルを超えていないかどうか判定する（ステッ
プＳＡ８）。この差がノイズレベル以下の場合は測定値
は記録しない（ステップＳＡ９）で、定期試験のモード
（ステップＳＡ６）へ戻る。ノイズレベルを超えている
場合は異常データであると判断し、これが１回目の場合
データを記録して定期試験モードへ戻る（ステップＳＡ
１０→ＳＡ１９→ＳＡ６）。
【００１４】異常データの検知が２回目の場合は、初期
値に関して、１回目，２回目のデータを直線で結んだ線
上に時間軸の分だけ移動して補正を行う（ステップＳＡ
１１→ＳＡ１２）。補正された初期値を原点とし第ｎ回
目までの異常データ（初期値との差がノイズレベルを超
えたデータ）に対し、Ｆ1 （ｔ）＝α（１−
ｅt/τ1 ），Ｆ2 （ｔ）＝γ（ｅt/τ2 −１），Ｆ
3 （ｔ）＝βｔτ3の関数の中から最も相関度の高い関
数を選定する（ステップＳＡ１３）。
値に関して、１回目，２回目のデータを直線で結んだ線
上に時間軸の分だけ移動して補正を行う（ステップＳＡ
１１→ＳＡ１２）。補正された初期値を原点とし第ｎ回
目までの異常データ（初期値との差がノイズレベルを超
えたデータ）に対し、Ｆ1 （ｔ）＝α（１−
ｅt/τ1 ），Ｆ2 （ｔ）＝γ（ｅt/τ2 −１），Ｆ
3 （ｔ）＝βｔτ3の関数の中から最も相関度の高い関
数を選定する（ステップＳＡ１３）。
【００１５】ここで、図３にステップＳＡ１３を詳細に
記述しており、図３に従って補足説明する。まず、デー
タ列Ｄ（Ｆ（ｔ），ｔ）を入力し（ステップＳＢ１）、
このデータ列と曲線Ｆ1 （ｔ）α（１−ｅt/τ1 ）の係
数α，τ1 を最小２乗法により決定し（ステップＳＢ
２）、さらに求めた曲線Ｆ1 （ｔ）とデータ列Ｄとの相
関係数Ｒ1 を求める（ステップＳＢ３）。上述と同様な
処理をＦ2 （ｔ）＝γ（ｅt/τ2 −１），Ｆ3 （ｔ）＝
βｔτ3 に実施し、各曲線に対する相関係数Ｒ2，Ｒ3
を求める（ステップＳＢ４〜ＳＢ７）。次に最も大きい
相関係数を与える曲線を劣化推定曲線として採用する
（ステップＳＢ８〜ＳＢ１１）。
記述しており、図３に従って補足説明する。まず、デー
タ列Ｄ（Ｆ（ｔ），ｔ）を入力し（ステップＳＢ１）、
このデータ列と曲線Ｆ1 （ｔ）α（１−ｅt/τ1 ）の係
数α，τ1 を最小２乗法により決定し（ステップＳＢ
２）、さらに求めた曲線Ｆ1 （ｔ）とデータ列Ｄとの相
関係数Ｒ1 を求める（ステップＳＢ３）。上述と同様な
処理をＦ2 （ｔ）＝γ（ｅt/τ2 −１），Ｆ3 （ｔ）＝
βｔτ3 に実施し、各曲線に対する相関係数Ｒ2，Ｒ3
を求める（ステップＳＢ４〜ＳＢ７）。次に最も大きい
相関係数を与える曲線を劣化推定曲線として採用する
（ステップＳＢ８〜ＳＢ１１）。
【００１６】図４〜図６には光線路特性の劣化の状態を
ヒートサイクル、低温状況での加速劣化試験、及び屋外
長時間放置試験で測定した結果を示している。図４の場
合が曲線Ｆ1 （ｔ）、図５の場合が曲線Ｆ2 （ｔ）、図
６の場合がＦ3 （ｔ）で推定可能である。この様に実験
的に光線路に生じるであろう劣化のパターンは前述した
３曲線に大別され、これらの曲線により、光線路の劣化
時期が推定できることがわかる。
ヒートサイクル、低温状況での加速劣化試験、及び屋外
長時間放置試験で測定した結果を示している。図４の場
合が曲線Ｆ1 （ｔ）、図５の場合が曲線Ｆ2 （ｔ）、図
６の場合がＦ3 （ｔ）で推定可能である。この様に実験
的に光線路に生じるであろう劣化のパターンは前述した
３曲線に大別され、これらの曲線により、光線路の劣化
時期が推定できることがわかる。
【００１７】なお、ここで示したデータに対してはＦ2
（ｔ）に代えてＦ2 ′（ｔ）を、Ｆ3 （ｔ）に代えてＦ
3 ′（ｔ）を用いてもほぼ同様の予測が行えた。前述し
たように、Ｆ2 ′（ｔ），Ｆ3 ′（ｔ）は未知パラメー
タの数が少ないので、劣化曲線を決定するのは容易であ
るが、パラメータ数が少ない分微調整ができず、場合に
よっては予測精度がＦ2 （ｔ），Ｆ3 （ｔ）を用いた時
より悪くなることもある。
（ｔ）に代えてＦ2 ′（ｔ）を、Ｆ3 （ｔ）に代えてＦ
3 ′（ｔ）を用いてもほぼ同様の予測が行えた。前述し
たように、Ｆ2 ′（ｔ），Ｆ3 ′（ｔ）は未知パラメー
タの数が少ないので、劣化曲線を決定するのは容易であ
るが、パラメータ数が少ない分微調整ができず、場合に
よっては予測精度がＦ2 （ｔ），Ｆ3 （ｔ）を用いた時
より悪くなることもある。
【００１８】ここで、図２に戻り、上述のようにステッ
プＳＡ１３により最適な劣化時期推定曲線が選定され、
これにより故障規格値を超える日数を計算する。故障発
生日付は記録され、故障予測日が表示される（ステップ
ＳＡ１４〜ＳＡ１５）。ここで、故障規格値は、異常発
生部分がコネクタか融着接続点かケーブル区間等により
異なっており、これらはあらかじめ実験等により決定さ
れる値である。
プＳＡ１３により最適な劣化時期推定曲線が選定され、
これにより故障規格値を超える日数を計算する。故障発
生日付は記録され、故障予測日が表示される（ステップ
ＳＡ１４〜ＳＡ１５）。ここで、故障規格値は、異常発
生部分がコネクタか融着接続点かケーブル区間等により
異なっており、これらはあらかじめ実験等により決定さ
れる値である。
【００１９】次に、記録されている異常データの数が１
０個以上の場合は、増加量の最も小さい測定値から削除
する（ステップＳＡ１６〜ＳＡ１７）。その後、定期試
験の間隔を再設定し、測定値を記録して、定期試験モー
ドへ戻る（ステップＳＡ１８〜ＳＡ１９，ＳＡ６）。
０個以上の場合は、増加量の最も小さい測定値から削除
する（ステップＳＡ１６〜ＳＡ１７）。その後、定期試
験の間隔を再設定し、測定値を記録して、定期試験モー
ドへ戻る（ステップＳＡ１８〜ＳＡ１９，ＳＡ６）。
【００２０】定期試験の間隔設定の詳細を図７に示して
おり、以下これについて説明する。まず、定期試験の前
回測定日と今回測定日の間隔を求めこれをＤa とする
（ステップＳＣ１）。又、今回測定日と劣化時期推定に
より判明した故障発生日との間隔をＤb とする（ステッ
プＳＣ２）、次に、Ｄa がＤb ／２より大きい場合はＤ
a が長すぎると判断してＤa をＤb の半分に設定して、
新設定のＤa （＝Ｄb ／２）に今回の測定日を加えて新
しく次回の測定日とする（ステップＳＣ３→ＳＣ４→Ｓ
Ｃ１４）。
おり、以下これについて説明する。まず、定期試験の前
回測定日と今回測定日の間隔を求めこれをＤa とする
（ステップＳＣ１）。又、今回測定日と劣化時期推定に
より判明した故障発生日との間隔をＤb とする（ステッ
プＳＣ２）、次に、Ｄa がＤb ／２より大きい場合はＤ
a が長すぎると判断してＤa をＤb の半分に設定して、
新設定のＤa （＝Ｄb ／２）に今回の測定日を加えて新
しく次回の測定日とする（ステップＳＣ３→ＳＣ４→Ｓ
Ｃ１４）。
【００２１】Ｄa ＜Ｄb ／４であれば短かすぎると判断
しＤa を２倍に設定する（ステップＳＣ５，ＳＣ６）。
Ｄa がＤb ／２とＤb ／４の間であればＤa をＤb とす
る（ステップＳＣ７，ＳＣ８）。Ｄa が９０日より長く
なった場合は、Ｄa を９０とする（ステップＳＣ９，Ｓ
Ｃ１０）。又、オペレータによる設定値Ｄc がＤa より
小さい場合はＤa は元のままとし、逆の場合はＤa をＤ
c とする（ステップＳＣ１１，ＳＣ１２，ＳＣ１３）。
以上のようにして定期試験の間隔を決定する。上記した
ように、第１の実施例においては、光線路故障の発生日
を推定することが出来るため、心線切替工事及び心線修
理工事の稼動を顧客の意向を考慮した形で計画的に組む
ことができるので工事要員・機材の確保が容易になり経
済的に工事が行える。又、突発的な故障発生とならない
のでサービス性の向上が図れる。
しＤa を２倍に設定する（ステップＳＣ５，ＳＣ６）。
Ｄa がＤb ／２とＤb ／４の間であればＤa をＤb とす
る（ステップＳＣ７，ＳＣ８）。Ｄa が９０日より長く
なった場合は、Ｄa を９０とする（ステップＳＣ９，Ｓ
Ｃ１０）。又、オペレータによる設定値Ｄc がＤa より
小さい場合はＤa は元のままとし、逆の場合はＤa をＤ
c とする（ステップＳＣ１１，ＳＣ１２，ＳＣ１３）。
以上のようにして定期試験の間隔を決定する。上記した
ように、第１の実施例においては、光線路故障の発生日
を推定することが出来るため、心線切替工事及び心線修
理工事の稼動を顧客の意向を考慮した形で計画的に組む
ことができるので工事要員・機材の確保が容易になり経
済的に工事が行える。又、突発的な故障発生とならない
のでサービス性の向上が図れる。
【００２２】図８は本発明の第２の実施例であり、６Ａ
は第１のデータベースであり、各試験装置４−１〜４−
Ｎに対する小データベースをすべて収容したものであ
る。例えば、６Ａ−１は試験装置４−１に関する異常試
験データ６Ａ−１１，線路設備データ６Ａ−１２，確信
度データ６Ａ−１３を有する小データベースである。１
０はデータ回線、１１は劣化推定精度向上装置、１２は
線路構成データメインテナンス装置、６Ｃは線路設備デ
ータベースである。６Ｂは第２のデータベースである、
各試験装置に対する診断・故障事例の小データベースを
収容したものである。
は第１のデータベースであり、各試験装置４−１〜４−
Ｎに対する小データベースをすべて収容したものであ
る。例えば、６Ａ−１は試験装置４−１に関する異常試
験データ６Ａ−１１，線路設備データ６Ａ−１２，確信
度データ６Ａ−１３を有する小データベースである。１
０はデータ回線、１１は劣化推定精度向上装置、１２は
線路構成データメインテナンス装置、６Ｃは線路設備デ
ータベースである。６Ｂは第２のデータベースである、
各試験装置に対する診断・故障事例の小データベースを
収容したものである。
【００２３】次に、本実施例の動作を説明する。本実施
例の基本動作は第１の実施例の動作を説明した図２と同
じである。主な相異点は、図２のステップＳＡ１３であ
り、この詳細を図９に示し以下説明する。まず図３に示
した劣化時期推定フロー（ステップＳＡ１３）により劣
化時期を推定し、その結果を劣化推定精度向上装置１１
へ転送する（ステップＳＣ１）。データベース６Ｂから
過去の診断事例又は故障事例を取り出して、劣化曲線の
各種パラメータを修正し（ステップＳＣ２）、その修正
されたパラメータをデータベース６Ａの確信度データベ
ース６Ａ−１３へ収容する（ステップＳＣ３）。その
後、劣化推定装置７においてデータベース６Ａの確信度
データベース６Ａ−１３をアクセスして、修正されたパ
ラメータを用いた劣化曲線から劣化時期を推定する（ス
テップＳＣ４）。
例の基本動作は第１の実施例の動作を説明した図２と同
じである。主な相異点は、図２のステップＳＡ１３であ
り、この詳細を図９に示し以下説明する。まず図３に示
した劣化時期推定フロー（ステップＳＡ１３）により劣
化時期を推定し、その結果を劣化推定精度向上装置１１
へ転送する（ステップＳＣ１）。データベース６Ｂから
過去の診断事例又は故障事例を取り出して、劣化曲線の
各種パラメータを修正し（ステップＳＣ２）、その修正
されたパラメータをデータベース６Ａの確信度データベ
ース６Ａ−１３へ収容する（ステップＳＣ３）。その
後、劣化推定装置７においてデータベース６Ａの確信度
データベース６Ａ−１３をアクセスして、修正されたパ
ラメータを用いた劣化曲線から劣化時期を推定する（ス
テップＳＣ４）。
【００２４】尚、試験装置は第１の実施例に比べて遠隔
地に複数設置され、データ回線で試験データ収集・判定
装置５に接続されている。又、線路設備データは線路設
備データベース６Ｃからデータ回線により線路構成デー
タメインテナンス装置１２に接続されており、ここで工
事や修理のたびに修正される。修正されたデータは線路
設備データベース６Ｃに配送されこれにより原本が修正
されると共にデータベース６Ａの中の線路設備データ６
Ａ−１２も修正される。このように、第２の実施例は第
１の実施例に比べて、過去の事例を参考にして曲線パラ
メータを修正するため劣化時期の推定精度が向上する効
果がある。
地に複数設置され、データ回線で試験データ収集・判定
装置５に接続されている。又、線路設備データは線路設
備データベース６Ｃからデータ回線により線路構成デー
タメインテナンス装置１２に接続されており、ここで工
事や修理のたびに修正される。修正されたデータは線路
設備データベース６Ｃに配送されこれにより原本が修正
されると共にデータベース６Ａの中の線路設備データ６
Ａ−１２も修正される。このように、第２の実施例は第
１の実施例に比べて、過去の事例を参考にして曲線パラ
メータを修正するため劣化時期の推定精度が向上する効
果がある。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光線路故障の発生日を推定することができるため、心線
路切替工事及び心線修理工事の稼動を顧客の意向を考慮
した形で計画的に実施することができるようになるの
で、工事要員、機材の確保が容易になり経済的に工事が
行える利点がある。又、突発的な故障発生とならないの
でサービス性の向上が図れる利点がある。
光線路故障の発生日を推定することができるため、心線
路切替工事及び心線修理工事の稼動を顧客の意向を考慮
した形で計画的に実施することができるようになるの
で、工事要員、機材の確保が容易になり経済的に工事が
行える利点がある。又、突発的な故障発生とならないの
でサービス性の向上が図れる利点がある。
【図１】本発明の第１の実施例の装置構成を示す図であ
る。
る。
【図２】図１に示す構成の動作フローチャートである。
【図３】劣化推定曲線の選定フローチャートである。
【図４】劣化推定対象光線路の劣化状態を示す実験結果
の一部である。
の一部である。
【図５】劣化推定対象光線路の劣化状態を示す実験結果
の一部である。
の一部である。
【図６】劣化推定対象光線路の劣化状態を示す実験結果
の一部である。
の一部である。
【図７】定期試験間隔を求めるフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施例を示す図である。
【図９】図８の動作を示すフローチャートである。
１…伝送装置、２…光ファイバ、３…カプラ、４…試験
装置、５…試験データ収集・判定装置、６，６Ａ，６
Ｂ，６Ｃ…データベース、７…劣化時期推定装置、８…
表示装置、９…ＧＰ−ＩＢバス、１０…データ回線、１
１…劣化推定精度向上装置、１２…線路構成データメイ
ンテナンス装置。
装置、５…試験データ収集・判定装置、６，６Ａ，６
Ｂ，６Ｃ…データベース、７…劣化時期推定装置、８…
表示装置、９…ＧＰ−ＩＢバス、１０…データ回線、１
１…劣化推定精度向上装置、１２…線路構成データメイ
ンテナンス装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 跡部 直之 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 永井 良史 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 審査官 田邉 英治 (56)参考文献 特開 平４−95843（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−196543（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−223696（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−165926（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08
Claims (5)
- 【請求項１】 光線路の接続損失、ケーブル損失、反射
量等の伝送特性を定期的に測定し、その経時変化から光
ファイバの劣化状態を診断するシステムにおいて、 上記光線路の特性を定期的に測定する試験装置を該試験
装置からデータ回線を通してデータを収集し、異常デー
タの判定を行う試験データ収集・判定装置と、異常デー
タ、設備データを収容するデータベースと、該データベ
ースの異常データから光線路の伝送特性の劣化時期を推
定する劣化推定装置から構成されることを特徴とする劣
化時期推定システム。 - 【請求項２】 定期試験データの開始時のデータを初期
値とし、該初期値も含めて測定値が故障規格値を越えて
いる場合には、故障心線として表示を行い、初期値と測
定値の差がノイズレベルを越える場合には、測定値を異
常値データとしてデータベースに記録し、該異常データ
が２つ以上になったときに初期値と異常データを用い
て、３つの劣化曲線、 Ｆ１（ｔ）＝α（１−ｅｔ／τ１）、Ｆ２（ｔ）＝γ（ｅｔ／τ２ −１） Ｆ３（ｔ）＝βｔτ３の中から最も相関度の高い劣化曲
線を選定し、該最適劣化曲線を用いて故障規格値を越え
る日数を推定して故障予測日を表示することを特徴とす
る請求項１記載のシステムに係る光線路の劣化時期推定
方法。 - 【請求項３】 定期試験データの開始時のデータを初期
値とし、該初期値も含めて測定値が故障規格値を越えて
いる場合には故障心線として記録表示を行い、初期値と
測定値の差がノイズレベルを越える場合は測定値を異常
データとしてデータベースに記録し、 該異常データが２個以上になった時に時間軸を補正した
初期値と異常データを用いて、３つの劣化曲線Ｆ
１（ｔ）＝α（１−ｅｔ／τ１）、Ｆ２’（ｔ）＝γ
（ｅｔ−１）、Ｆ３’（ｔ）＝βｔから最も相関度の高
い劣化曲線を選定し、 該最適劣化曲線を用いて故障規格値を越える日数を推定
して故障予測日を表示し、 該日数に応じて定期試験間隔を再設定して定期試験を行
い上述の手順を先頭から再度繰返すことを特徴とする請
求項１記載のシステムに係る光線路の劣化時期推定方
法。 - 【請求項４】 光線路特性を定期的に測定する複数の試
験装置と、 該試験装置からデータ回線を通してデータを収集する試
験データ収集装置と、 各試験装置からの試験データ、線路設備データ及び確信
度データを収容する第１のデータベースと、 各試験装置対応の劣化診断結果及び故障事例のデータを
収容する第２のデータベースと、 該第２のデータベースの劣化診断結果と故障事例を用い
て劣化推定パラメータを変更する劣化推定精度向上装置
と、 第１のデータベースからの試験データ、線路設備デー
タ、確信度データから劣化推定時期を推定する劣化推定
装置と、 劣化推定結果を表示する表示装置から構成されることを
特徴とする光線路の劣化時期推定システム。 - 【請求項５】 故障事例を用いて劣化曲線パラメータを
修正しこの修正劣化曲線により劣化時期の推定を行うこ
とを特徴とする請求項２または３記載の光線路の劣化時
期推定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07981293A JP3282635B2 (ja) | 1992-10-02 | 1993-04-06 | 光線路の劣化時期推定システム及び方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26516792 | 1992-10-02 | ||
| JP4-265167 | 1992-10-02 | ||
| JP07981293A JP3282635B2 (ja) | 1992-10-02 | 1993-04-06 | 光線路の劣化時期推定システム及び方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06167425A JPH06167425A (ja) | 1994-06-14 |
| JP3282635B2 true JP3282635B2 (ja) | 2002-05-20 |
Family
ID=26420809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07981293A Expired - Lifetime JP3282635B2 (ja) | 1992-10-02 | 1993-04-06 | 光線路の劣化時期推定システム及び方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3282635B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6799154B1 (en) * | 2000-05-25 | 2004-09-28 | General Electric Comapny | System and method for predicting the timing of future service events of a product |
| JP4660293B2 (ja) * | 2005-06-21 | 2011-03-30 | 中国電力株式会社 | 光ファイバの浸水判定方法、光ファイバの保守方法 |
| JP2007225378A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Toshiba Corp | 光伝送路診断システム |
| JP6008110B2 (ja) * | 2012-10-01 | 2016-10-19 | 三菱電機株式会社 | 伝送路品質判定装置、映像監視レコーダ装置、伝送路品質判定方法 |
-
1993
- 1993-04-06 JP JP07981293A patent/JP3282635B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06167425A (ja) | 1994-06-14 |
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