JP3281918B2 - 形状計測方法および装置 - Google Patents

形状計測方法および装置

Info

Publication number
JP3281918B2
JP3281918B2 JP28917999A JP28917999A JP3281918B2 JP 3281918 B2 JP3281918 B2 JP 3281918B2 JP 28917999 A JP28917999 A JP 28917999A JP 28917999 A JP28917999 A JP 28917999A JP 3281918 B2 JP3281918 B2 JP 3281918B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grid
phase
phase value
dimensional
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP28917999A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001108422A (ja
Inventor
元治 藤垣
吉春 森本
Original Assignee
和歌山大学長
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 和歌山大学長 filed Critical 和歌山大学長
Priority to JP28917999A priority Critical patent/JP3281918B2/ja
Publication of JP2001108422A publication Critical patent/JP2001108422A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3281918B2 publication Critical patent/JP3281918B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、計測装置、形状計
測、監視装置に関係し、非接触形状計測方法および装置
に関係する。
【0002】
【従来の技術】従来、非接触三次元形状計測法として
は、物体に格子を投影し、異なる角度からその格子を撮
影して得られた画像を解析することにより三次元形状を
求める格子投影法がよく用いられている。精度のよい計
測を行うためには、格子画像から格子位相値を精度よく
求めることと、格子位相値から三次元座標を計算すると
きに用いるパラメータを精度よく求めることが重要であ
る。
【0003】格子画像の解析法として、位相シフト法、
フーリエ変換格子法、ガボール変換格子法、フーリエ変
換位相シフト法などの位相解析法が開発されている。位
相解析法では、格子番号がすべての画素において実数値
で得られるため、精度のよい格子の解析が行える。特に
フーリエ変換位相シフト法は、ノイズの影響がほとんど
入らないため、きわめて精度よく位相値が得られる有効
な方法である。
【0004】上記の三次元座標を計算するときに用いる
パラメータには、従来、カメラとプロジェクタのレンズ
の中心位置や光軸の向きなどの光学系パラメータが用い
られてきた。計測対象物の形状は、その位置座標を用い
て計算される。
【0005】光学系パラメータを精度よく求める方法と
して、2次元格子が描かれた基準平面を平行移動し、そ
れぞれの位置で撮影した画像を用いる方法がある。この
方法では、従来よく用いられている立方体を用いる方法
と比較すると、情報量が格段に多いため、精度よく光学
系パラメータを求めることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、光学系パラメ
ータは、レンズ収差がないと仮定して求められているた
め、実際にはその影響が誤差として現れる。従来のよう
に計測精度がそれほど高くなければその影響は無視でき
るが、精度よく投影格子の位相値が得られ、計測精度が
向上すると、相対的にレンズの収差の影響が大きくな
り、無視できなくなる。
【0007】問題点は、テレビカメラとプロジェクタの
レンズの収差の影響が計測に入るため、計測結果に歪み
が生じることである。
【0008】テレビカメラとプロジェクタのレンズ収差
が影響しない方法が、特開平10−96606号におい
て開示されている。まず、基準平板上に描かれた2次元
格子の位相分布を求める。次に、描かれた2次元格子の
上に投影された格子の位相分布を求める。さらに、基準
平板をその法線方向に一定の距離だけ平行移動し、再び
基準平板上に描かれた2次元格子の位相分布とそこに投
影された格子の位相分布を求める。このようにして得ら
れた基準平板上の位相分布を元にして、試料物体表面上
の任意の点の3次元座標を算出する。
【0009】上記方法で基準平板に関して必要となるこ
とをまとめると、次の(1)および(2)のようにな
る。 (1)基準平板の表面上に固定された座標における縦方
向と横方向の位相分布を求めること(基準平板表面上に
描かれた2次元格子の縦成分と横成分の位相分布を求め
ることがこれにあたる)。 (2)基準平板の表面に投影された縦方向と横方向の格
子の位相分布を求めること。
【0010】上記(1)において、従来は、基準平板上
に描かれた2次元格子の位相分布を求める時に、フーリ
エ変換格子法を用いて2次元格子の縦成分と横成分を分
離し、格子1本につき−π〜πの範囲の値として算出さ
れた位相分布(−π〜πが繰り返すのこぎり波状の分布
となる)を求め、その位相分布を連続化(格子線1本ご
とに2kπ(kは整数)を加えることにより滑らかにつ
ながるようにすること)する際に基準となる点(k=0
とする格子点)を手作業で指定する必要があった。
【0011】上記2において、従来は、基準平板表面に
描かれた2次元格子の上にプロジェクタから格子画像を
投影していた。
【0012】この従来の方法の問題点は次の通りであ
る。 (1)基準平板に描かれている2次元格子の基準となる
点を手作業で示す必要があり、自動化が困難である。ま
た、基準平板に予め印を付けておく方法もあるが、位相
分布を求めるときに印が誤差の原因になる。 (2)フーリエ変換格子法で2次元格子の位相分布を求
める場合、画像の端部近傍では位相の誤差が大きくな
る。 (3)本来基準平板は平坦であることが前提であるにも
かかわらず、基準平板上に格子模様を描いているため
に、その印刷インクなどの凹凸が誤差の原因となる。 (4)基準平板表面に描かれた2次元格子の上にプロジ
ェクタから格子画像を投影していたために、基準平板に
投影した格子を撮影した画像において、場所ごと(描か
れた格子線上かそうでないかによって)にコントラスト
が異なり、投影格子の位相を算出する際の算出精度が場
所ごとにばらつく結果となる。(一般に、画像のコント
ラストが高いほど位相の算出精度は高い。)
【0013】本発明の目的は、上記の問題点を解決し、
テレビカメラとプロジェクタのレンズ収差が影響しない
形状計測方法において、基準平板の位相分布および基準
平板に投影された格子の位相分布を全自動で精度よく求
めることができる形状計測方法および装置を提供するこ
とである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明による形状計測方
法は、(1)画面表面に光拡散板が配置され、2次元格
子が表示され、基準表面を構成する表示装置を、前記基
準平面と直角方向に平行移動できるよう1軸テーブル上
に設置する工程と、(2)テレビカメラを前記の2次元
格子が写る位置に設置する工程と、(3)格子投影装置
を前記基準平面に格子が投影できる位置に設置する工程
と、(4)複数の位置における前記基準表面に表示され
た2次元格子を撮影した画像から位相値分布を計算して
その結果をコンピュータメモリに記録する工程と、
(5)複数の位置における前記基準表面に格子投影装置
から投影された2次元格子を撮影した画像を位相値デー
タに変換してコンピュータメモリに記録する工程と、
(6)試料物体上に格子投影装置から投影された2次元
格子を撮影し、それぞれの画素について、その画素の画
面内座標と投影格子の位相値および位相値分布計算メモ
リと撮影画像より変換した位相値データメモリとで計算
されたデータからその画素に写されている計測対象物上
の点の空間座標を算出する工程とを具えることを特徴と
する。
【0015】本発明による形状計測装置は、(1)画面
表面に光拡散板が配置され、2次元格子が表示され、基
準表面を構成する表示装置を、前記基準平面と直角方向
に平行移動できるよう1軸テーブル上に設置する手段
と、(2)テレビカメラを前記の2次元格子が写る位置
に設置する手段と、(3)格子投影装置を前記基準平面
に格子が投影できる位置に設置する手段と、(4)複数
の位置における前記基準表面に表示された2次元格子を
撮影した画像から位相値分布を計算してその結果をコン
ピュータメモリに記録する手段と、(5)複数の位置に
おける前記基準表面に格子投影装置から投影された2次
元格子を撮影した画像を位相値データに変換してコンピ
ュータメモリに記録する手段と、(6)試料物体上に格
子投影装置から投影された2次元格子を撮影し、それぞ
れの画素について、その画素の画面内座標と投影格子の
位相値および位相値分布計算メモリと撮影画像より変換
した位相値データメモリとで計算されたデータからその
画素に写されている計測対象物上の点の空間座標を算出
する手段とを具えることを特徴とする。
【0016】本発明によれば、基準板に液晶板等のディ
スプレイを用い、そのディスプレイの表面に光拡散板を
配置することにより、ディスプレイに映し出された格子
模様を光拡散板に表示し、また、プロジェクタからの投
影格子画像を同じ光拡散板上に投影することができ、同
一平面上における基準板の位相分布と投影された格子画
像の位相分布の両方を得ることができる。さらに、マー
クを表示するか、表示する格子画像のピッチを数種類用
いることにより、位相値の連続化を全自動で行うことが
できる。
【0017】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による形状計測装
置の一実施形態の構成を示す線図である。本形状計測装
置1は、液晶ディスプレイ2と、形状計測用コンピュー
タ3と、テレビカメラ4と、シャッタ付き格子投影用プ
ロジェクタ5とを具える。液晶ディスプレイ2は一軸の
移動ステージ6に取り付けられている。このステージ6
は形状計測用コンピュータ3に接続され、移動ステージ
制御信号によって液晶ディスプレイ2の表示面の法線方
向に移動することができる。液晶ディスプレイ2は、液
晶パネル7およびバックライト光源8を具え、形状計測
用コンピュータ3に接続され、基準平板格子画像を表示
する。液晶ディスプレイ2の液晶パネル7表面には光拡
散板9が貼り付けられている。光拡散板9には、白色の
均一な平面で、透過光が光拡散板から拡散されて放射さ
れるような材質を用いる。液晶ディスプレイ2のバック
ライト光源8は、コンピュータ3からのバックライト点
灯/消灯信号により点灯または消灯ができる。
【0018】テレビカメラ4は、液晶ディスプレイ2が
撮影できるように設置されている。プロジェクタ5は、
液晶ディスプレイ2上にその映像が投影できるように設
置されている。プロジェクタ5には、シャッタ機能が付
加されており、形状計測用コンピュータ3からの信号に
より開閉できるようになっている。
【0019】図2に液晶ディスプレイ2に格子画像を表
示する場合の信号の流れと、光拡散板9の表面の様子と
を示す。この場合には。液晶ディスプレイのバックライ
ト点灯信号によりバックライトを点灯する。液晶パネル
に表示される格子画像は、バックライトからの光の影絵
として光拡散板に裏(液晶パネル側)から投写される。
光拡散板の裏に投写された格子画像は、光拡散板の表か
ら散乱光として放射される。これをテレビカメラで撮影
すると、光拡散板の表面に格子画像が写されているよう
に写る。このように、基準平板に表示された格子画像を
撮影する場合には、光拡散板はディスプレイの表面とし
て機能する。
【0020】図3に基準平板に格子画像を投影する場合
の信号の流れと光拡散板表面の様子を示す。また、プロ
ジェクタの投影格子画像を撮影する場合には、格子投影
用プロジェクタからの格子画像は光拡散板表面に投影さ
れ、このとき、光拡散板はプロジェクタのスクリーンと
して機能する。
【0021】上記の機能を実現するために、光拡散板に
は、透過光も反射光もすべて散乱するような材質が求め
られる。例えば、市販されているバブルジェットプリン
タ用のバックプリントフィルム等を使用してもよい。
【0022】基準平板をディスプレイにすることによっ
て、従来では不可能であった複数の任意の画像を表示で
きるようになる。この特徴を用いて、次のようにして、
基準表面の表面上に固定された座標における縦方向と横
方向の位相成分を求めることができる。
【0023】第1の方法は、マークを表示する方法であ
る。格子画像の表示とは別にマークを表示して、基準の
位置を自動で示す(従来は、マークを初めから付けてお
くか、後でマークを手作業でつける必要があった)。こ
のマークの座標をコンピュータで自動的に求めて、その
座標を基準点として、位相接続を自動的に行う。
【0024】図4に、この方法の手順を示す。まず、ピ
ッチp画素の格子画像を液晶モニタ上に表示してこれを
カメラで撮影する。次に、表示している画像を左方向に
1画素分シフトして撮影する。ここで1画素分は、位相
2π/pに相当する。この操作をp−1回繰り返し、1
周期分位相シフトしたp枚の画像を撮影する。これらの
画像から各種位相シフト法により各点ごとに位相θ
(x,y)を計算し、位相分布とする。
【0025】x方向の位相θの分布をグラフに表すと、
−π〜πの範囲ののこぎり波状の繰り返しになる。この
繰り返しをなくし、単調増加にする操作を位相の連続化
という。位相の連続化を行うために、次のような操作を
行う。
【0026】まず、基準点画像を表示して、これを撮影
した画像から基準点の座標を求める。次に、位相の急変
部を境界として領域分割を行う。基準点の座標を含む領
域をk=0として、増加する方向の次の領域をk=1、
その次をk=2...また、位相が減少する方向の隣の
領域をk=−1、その次をk=−2...とする。連続
化後の位相φ(x,y)を次式により求める。φ=θ+
2kπ
【0027】第2の方法は、ピッチの異なる格子を表示
することで位相接続を自動で行う方法である。ピッチの
異なる複数の格子の位相値から位相の連続化を行うこと
もできる。図5に示すようにピッチp1画素とピッチp
2画素の2通りの格子について、それぞれ方法1の場合
と同様に位相シフト法により各点の位相値θ1とθ2を
求める。次に、後述の方法によりこれら2つの位相値の
組み合わせにより位相の連続化を行うと、連続化された
位相φが得られる。
【0028】以上のように、複数枚の画像を基準物体に
表示することができれば、基準点を示すような手作業の
必要はなく、自動で連続化された位相分布を求めること
ができる。上記はx方向の格子についての説明である
が、y方向についても同様の方法で連続化された位相分
布を得ることができる。また、位相計算にフーリエ変換
格子法ではなく、位相シフト法を用いることができるた
め、画像の端部近傍での位相の誤差が大きくなることは
なく、画面上のすべての点で誤差のばらつきのない位相
分布が得られることになる。
【0029】位相シフトしながら撮影された複数枚の画
像から、画像内の各点の位相値を求める方法の一つにフ
ーリエ変換位相シフト法がある。詳細は、特開平10−
096606号明細書を参照されたい。
【0030】−πからπの範囲の繰り返しとして得られ
た位相分布を連続化する方法の一つに、複数のピッチの
格子を用いた位相の自動連続化方法がある。格子の位相
値は格子1本につき2πの繰り返しとして得られる。こ
の繰り返しの位相値を隣の格子に移るたびに2πずつ足
していき、連続化することを位相接続または位相の連続
化と呼ぶ。ここでは、複数のピッチの異なる格子の位相
値から位相接続後の位相値を求める方法を説明する。
【0031】まず2種類の場合について説明する。ピッ
チの異なる2種類の格子の、各点におけるそれぞれの位
相値から位相接続後の位相値を予測する方法を用いる。
図6にその原理を示す。図中、太い実線A、Bは、それ
ぞれピッチp、pの格子の連続化前の位相値を表し
ている。ある点Xにおいて、それぞれの格子の位相値を
α、αとし、位相接続された位相値をそれぞれ
β、βとすると、β−β≦2πとなる範囲で
は、
【数1】 のようにβが得られる。βはαとαだけから求
められるため、段差や不連続部は影響しない。
【0032】次に、格子のピッチの種類がN種類の一般
の場合について説明する。αとβ は、それぞれ位相
接続前と後の位相値を表す。kは格子番号であり、n
は整数とし、θとθ’を、次式のように定義する。
【数2】 βは、次式のようになる。ここで、pは、i番目の
格子のピッチである。
【数3】 もし、n,...,nが0≦θ´<2πとなるよう
な組み合わせで選ばれているならば、θ´は次式のよう
にαから算出できる。
【数4】 ここで、
【数5】 と定義する。[]はガウス記号([]内の値を越えない
最大の整数)を表す。β は式(3)と(5)より次の
ようになる。
【数6】 このようにして、位相接続後の位相値βは、式(6)
と(7)とによってαの値から算出することができ
る。また、位相接続が可能な範囲は、式(3)と(4)
およびθ’の範囲(0≦θ’<2π)より、次のように
なる。
【数7】
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、テレビカメラとプロジ
ェクタのレンズ収差が影響しない形状計測方法におい
て、基準平板の位相分布および基準平板に投影された格
子の位相分布を全自動で精度よく求めることができる形
状計測方法および装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による形状計測装置の構成を示す線図
である。
【図2】 図1に示す形状計測装置の動作を説明する線
図である。
【図3】 図1に示す形状計測装置の動作を説明する線
図である。
【図4】 基準表面の表面上に固定された座標における
縦方向と横方向の位相成分を求める方法の手順を示す線
図である。
【図5】 基準表面の表面上に固定された座標における
縦方向と横方向の位相成分を求める他の方法の手順を示
す線図である。
【図6】 複数のピッチの異なる格子の位相値から位相
接続後の位相値を求める方法の原理を説明する線図であ
る。
【符号の説明】
1 形状計測装置 2 液晶ディスプレイ 3 形状計測用コンピュータ 4 テレビカメラ 5 シャッタ付き格子投影用プロジェクタ 6 移動ステージ 7 液晶パネル 8 バックライト光源 9 光拡散板

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (1)画面表面に光拡散板が配置され、
    2次元格子が表示され、基準表面を構成する表示装置
    を、前記基準平面と直角方向に平行移動できるよう1軸
    テーブル上に設置する工程と、(2)テレビカメラを前
    記の2次元格子が写る位置に設置する工程と、(3)格
    子投影装置を前記基準平面に格子が投影できる位置に設
    置する工程と、(4)複数の位置における前記基準表面
    に表示された2次元格子を撮影した画像から位相値分布
    を計算してその結果をコンピュータメモリに記録する工
    程と、(5)複数の位置における前記基準表面に格子投
    影装置から投影された2次元格子を撮影した画像を位相
    値データに変換してコンピュータメモリに記録する工程
    と、(6)試料物体上に格子投影装置から投影された2
    次元格子を撮影し、それぞれの画素について、その画素
    の画面内座標と投影格子の位相値および位相値分布計算
    メモリと撮影画像より変換した位相値データメモリとで
    計算されたデータからその画素に写されている計測対象
    物上の点の空間座標を算出する工程とを具えることを特
    徴とする形状計測方法。
  2. 【請求項2】 (1)画面表面に光拡散板が配置され、
    2次元格子が表示され、基準表面を構成する表示装置
    を、前記基準平面と直角方向に平行移動できるよう1軸
    テーブル上に設置する手段と、(2)テレビカメラを前
    記の2次元格子が写る位置に設置する手段と、(3)格
    子投影装置を前記基準平面に格子が投影できる位置に設
    置する手段と、(4)複数の位置における前記基準表面
    に表示された2次元格子を撮影した画像から位相値分布
    を計算してその結果をコンピュータメモリに記録する手
    段と、(5)複数の位置における前記基準表面に格子投
    影装置から投影された2次元格子を撮影した画像を位相
    値データに変換してコンピュータメモリに記録する手段
    と、(6)試料物体上に格子投影装置から投影された2
    次元格子を撮影し、それぞれの画素について、その画素
    の画面内座標と投影格子の位相値および位相値分布計算
    メモリと撮影画像より変換した位相値データメモリとで
    計算されたデータからその画素に写されている計測対象
    物上の点の空間座標を算出する手段とを具えることを特
    徴とする形状計測装置。
JP28917999A 1999-10-12 1999-10-12 形状計測方法および装置 Expired - Lifetime JP3281918B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28917999A JP3281918B2 (ja) 1999-10-12 1999-10-12 形状計測方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28917999A JP3281918B2 (ja) 1999-10-12 1999-10-12 形状計測方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001108422A JP2001108422A (ja) 2001-04-20
JP3281918B2 true JP3281918B2 (ja) 2002-05-13

Family

ID=17739802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28917999A Expired - Lifetime JP3281918B2 (ja) 1999-10-12 1999-10-12 形状計測方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3281918B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001094880A1 (fr) * 2000-06-07 2001-12-13 Citizen Watch Co., Ltd. Projecteur de motif de reseau utilisant un reseau de cristaux liquides
JP3554816B2 (ja) * 2000-09-14 2004-08-18 和歌山大学長 矩形波格子投影によるリアルタイム形状変形計測方法
JP2006003212A (ja) 2004-06-17 2006-01-05 Konica Minolta Sensing Inc 位相計測システム
JP4505318B2 (ja) * 2004-11-30 2010-07-21 ワイエムシステムズ株式会社 3次元形状測定装置、3次元形状測定方法および3次元形状測定プログラム
JP5689681B2 (ja) * 2007-08-17 2015-03-25 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 非接触プローブ
GB0915904D0 (en) 2009-09-11 2009-10-14 Renishaw Plc Non-contact object inspection
JP5825622B2 (ja) * 2011-04-08 2015-12-02 国立大学法人 和歌山大学 変位・ひずみ分布計測光学系と計測手法
JP6308637B1 (ja) 2017-05-08 2018-04-11 国立大学法人福井大学 特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置
CN112254681B (en) * 2020-10-26 2022-06-07 昆明理工大学 Divergent multi-line laser projection measurement simulation system and implementation method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001108422A (ja) 2001-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4286068B2 (ja) 画面の動画質評価方法
US6226416B1 (en) Apparatus and method for measuring rotation quantity of spherical object
EP1699233A1 (en) Image configuration device and image configuration method
JP4411588B2 (ja) 欠陥検査装置
JP3937024B2 (ja) モアレ縞を用いたずれ、パタ−ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法
WO2008126647A1 (ja) 形状測定装置及び形状測定方法
JP2008500529A (ja) デジタル画像化システムを特徴付ける方法
JP4581927B2 (ja) 表示装置のぎらつき測定方法およびぎらつき測定装置
JP3281918B2 (ja) 形状計測方法および装置
KR20060054208A (ko) 화면의 동화질 측정 평가 장치 및 방법
TWI484283B (zh) 影像計算量測方法、影像計算量測裝置及影像檢查裝置
EP0593183A2 (en) Video/cad image comparator system
JP3259031B2 (ja) 計測結果又は解析結果投影装置及び方法
JP3536097B2 (ja) 周波数変調格子による格子投影形状計測方法及び装置
JP2913021B2 (ja) 形状計測方法及び装置
JP3507865B2 (ja) Dmdを用いたccdカメラによる実時間形状計測方法と装置
Masaoka Line-based modulation transfer function measurement of pixelated displays
JPH0875542A (ja) 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置
JP2001004338A (ja) リアルタイム形状変形計測方法
EP0440396B1 (en) Method of measuring track displacement on a magnetic tape
JP3446020B2 (ja) 形状計測方法
JP4239294B2 (ja) スクリーンのmtf測定方法及び測定装置
US6266066B1 (en) Shadowbox input of illumination information
JP6884393B2 (ja) 射影変換を用いて変形格子を長方形格子や正方形格子に変換して位相解析を行なう方法および装置
CN102261897B (zh) 检查设备和检查方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3281918

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term