JP3254590B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JP3254590B2 JP3254590B2 JP03109893A JP3109893A JP3254590B2 JP 3254590 B2 JP3254590 B2 JP 3254590B2 JP 03109893 A JP03109893 A JP 03109893A JP 3109893 A JP3109893 A JP 3109893A JP 3254590 B2 JP3254590 B2 JP 3254590B2
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- JP
- Japan
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- measurement
- cell blank
- value
- reaction vessel
- wavelengths
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
- G01N35/04—Details of the conveyor system
- G01N2035/0401—Sample carriers, cuvettes or reaction vessels
- G01N2035/0437—Cleaning cuvettes or reaction vessels
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、生化学的分析や免疫
学的分析等を行なう自動分析装置に係り、特に、測定精
度に対する信頼性を大幅に向上させることができる自動
分析装置に関する。
学的分析等を行なう自動分析装置に係り、特に、測定精
度に対する信頼性を大幅に向上させることができる自動
分析装置に関する。
【０００２】
【従来技術とその課題】周知のように、検体試料に試薬
を添加して呈色反応させ、この反応状態を測定項目に対
応する特定波長で比色測定して項目測定値を求め、か
つ、該測定作業が終了した後、当該反応容器を洗浄して
再使用するように構成されてなる自動分析装置にあって
は、洗浄水が収容された反応容器のセルブランク値を上
記特定波長を含む複数の波長、例えば、１２波長で求
め、この１２波長で得られたセルブランク値の中から、
測定項目に対応する特定波長と同じ波長で求められたセ
ルブランク値（以下、特定セルブランク値という。）に
基づき上記特定波長で測定された項目測定値を補正する
ことで真正測定値を求めるように構成されているのが一
般的である。
を添加して呈色反応させ、この反応状態を測定項目に対
応する特定波長で比色測定して項目測定値を求め、か
つ、該測定作業が終了した後、当該反応容器を洗浄して
再使用するように構成されてなる自動分析装置にあって
は、洗浄水が収容された反応容器のセルブランク値を上
記特定波長を含む複数の波長、例えば、１２波長で求
め、この１２波長で得られたセルブランク値の中から、
測定項目に対応する特定波長と同じ波長で求められたセ
ルブランク値（以下、特定セルブランク値という。）に
基づき上記特定波長で測定された項目測定値を補正する
ことで真正測定値を求めるように構成されているのが一
般的である。
【０００３】このようにセルブランク値を複数の波長で
予め測定しておくのは、当該反応容器による項目測定作
業が上記洗浄作業後に行われ、当該セルブランク測定時
ではこの後に行われる当該反応容器で行われる測定項目
が不明であることから、当該自動分析装置で測定可能な
全波長で予めセルブランク値を求めておき、上記項目測
定値が求められた後、上記特定波長と同じ波長で求めら
れた特定セルブランク値で補正しなければ、真正測定値
を求められないためである。
予め測定しておくのは、当該反応容器による項目測定作
業が上記洗浄作業後に行われ、当該セルブランク測定時
ではこの後に行われる当該反応容器で行われる測定項目
が不明であることから、当該自動分析装置で測定可能な
全波長で予めセルブランク値を求めておき、上記項目測
定値が求められた後、上記特定波長と同じ波長で求めら
れた特定セルブランク値で補正しなければ、真正測定値
を求められないためである。
【０００４】しかしながら、上記のように構成されてな
る従来の自動分析装置にあっては、セルブランク値を求
める全波長を一箇所のセルブランク測定位置で同時に照
射して求める構成であるため、図３に示すように、上記
測定項目値を求める特定波長が透過する反応容器の中心
位置（特定波長が集光する反応容器の予め設定された焦
点位置をいう。以下、同じ）と特定セルブランク値の測
定部位が必ずしも一致せず、該特定セルブランク値の測
定位置が上記反応容器の中心位置から離れるほど、真正
測定値に対する誤差が大きくなる、という問題を有して
いた。
る従来の自動分析装置にあっては、セルブランク値を求
める全波長を一箇所のセルブランク測定位置で同時に照
射して求める構成であるため、図３に示すように、上記
測定項目値を求める特定波長が透過する反応容器の中心
位置（特定波長が集光する反応容器の予め設定された焦
点位置をいう。以下、同じ）と特定セルブランク値の測
定部位が必ずしも一致せず、該特定セルブランク値の測
定位置が上記反応容器の中心位置から離れるほど、真正
測定値に対する誤差が大きくなる、という問題を有して
いた。
【０００５】この発明は、かかる現状に鑑み創案された
ものであって、その目的とするところは、特定セルブラ
ンク値の測定位置を反応容器の中心位置へと可及的に近
ずけることで、真正測定値に対する信頼性を大幅に向上
させることができる自動分析装置を提供しようとするも
のである。
ものであって、その目的とするところは、特定セルブラ
ンク値の測定位置を反応容器の中心位置へと可及的に近
ずけることで、真正測定値に対する信頼性を大幅に向上
させることができる自動分析装置を提供しようとするも
のである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明にあっては、反応容器内の試料を測定項目
に対応する特定波長で測定して項目測定値を求めるとと
もに、洗浄水が収容された反応容器のセルブランク値を
上記特定波長を含む複数の波長で求め、上記項目測定値
をセルブランク値に基づき補正することで真正測定値を
求めるように構成されてなる自動分析装置を技術的前提
とし、上記セルブランク値を求めるセルブランク測定位
置を複数箇所とし、これら各セルブランク測定位置で
は、上記複数波長の少なくとも１以上の波長光が各セル
ブランク測定位置で重複しないように選択されて上記反
応容器に照射されることを特徴とするものである。
め、この発明にあっては、反応容器内の試料を測定項目
に対応する特定波長で測定して項目測定値を求めるとと
もに、洗浄水が収容された反応容器のセルブランク値を
上記特定波長を含む複数の波長で求め、上記項目測定値
をセルブランク値に基づき補正することで真正測定値を
求めるように構成されてなる自動分析装置を技術的前提
とし、上記セルブランク値を求めるセルブランク測定位
置を複数箇所とし、これら各セルブランク測定位置で
は、上記複数波長の少なくとも１以上の波長光が各セル
ブランク測定位置で重複しないように選択されて上記反
応容器に照射されることを特徴とするものである。
【０００７】
【実施例】以下、添付図面に示す一実施例に基き、この
発明を詳細に説明する。
発明を詳細に説明する。
【０００８】図１乃至図３に示すように、この実施例に
係る自動分析装置は、複数個の反応容器１が保持されて
なる反応テーブルＴが、図示はしないがサンプリング位
置，試薬分注位置，光学測定位置，洗浄位置を経てセル
ブランク測定位置Ｐ1 ，Ｐ2位置へと間欠移送された
後、反応容器１内の洗浄水が廃棄され、再びサンプリン
グ位置へと間欠移送されるように構成されている。尚、
この実施例において、サンプリング装置，試薬分注装
置，光学測定装置，洗浄装置及び反応テーブル駆動装置
等は、公知の自動分析装置と同様に構成されているの
で、その詳細な説明をここでは省略する。また、この実
施例では、セルブランク値を測定する波長を説明の都合
上１２波長として説明する。
係る自動分析装置は、複数個の反応容器１が保持されて
なる反応テーブルＴが、図示はしないがサンプリング位
置，試薬分注位置，光学測定位置，洗浄位置を経てセル
ブランク測定位置Ｐ1 ，Ｐ2位置へと間欠移送された
後、反応容器１内の洗浄水が廃棄され、再びサンプリン
グ位置へと間欠移送されるように構成されている。尚、
この実施例において、サンプリング装置，試薬分注装
置，光学測定装置，洗浄装置及び反応テーブル駆動装置
等は、公知の自動分析装置と同様に構成されているの
で、その詳細な説明をここでは省略する。また、この実
施例では、セルブランク値を測定する波長を説明の都合
上１２波長として説明する。
【０００９】セルブランク測定位置Ｐ1 では、図２に示
すように、上記１２波長のうちの６波長Ｌ1 乃至Ｌ6 が
フィルタ４Ａによって選択されて反応容器１及び反応容
器１内に収容された洗浄水を透過し、受光素子５Ａに受
光されて、各吸光度がマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）等
で構成されてなる制御装置の記憶回路（図示せず）に記
憶される。尚、図中符号３は、セルブランク値測定用の
光源である。
すように、上記１２波長のうちの６波長Ｌ1 乃至Ｌ6 が
フィルタ４Ａによって選択されて反応容器１及び反応容
器１内に収容された洗浄水を透過し、受光素子５Ａに受
光されて、各吸光度がマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）等
で構成されてなる制御装置の記憶回路（図示せず）に記
憶される。尚、図中符号３は、セルブランク値測定用の
光源である。
【００１０】このようにしてセルブランク測定位置Ｐ1
で６波長Ｌ1 乃至Ｌ6 によるセルブランク測定が終了し
た後、当該反応容器１はセルブランク測定位置Ｐ2 へと
移送される。
で６波長Ｌ1 乃至Ｌ6 によるセルブランク測定が終了し
た後、当該反応容器１はセルブランク測定位置Ｐ2 へと
移送される。
【００１１】このセルブランク測定位置Ｐ2 では、図２
に示すように、上記１２波長のうちの６波長Ｌ7 乃至Ｌ
12がフィルタ４Ｂによって選択されて反応容器１及び反
応容器１内に収容された洗浄水を透過し、受光素子５Ｂ
に受光されて、各吸光度が制御装置の記憶回路（図示せ
ず）に記憶される。
に示すように、上記１２波長のうちの６波長Ｌ7 乃至Ｌ
12がフィルタ４Ｂによって選択されて反応容器１及び反
応容器１内に収容された洗浄水を透過し、受光素子５Ｂ
に受光されて、各吸光度が制御装置の記憶回路（図示せ
ず）に記憶される。
【００１２】この後、上記反応容器１は、洗浄水廃棄位
置（図示せず）へと移送され、該位置で洗浄水が廃棄さ
れた後、サンプリング位置へと移送され、該位置で検体
試料が所要量反応容器１内に分注された後、測定項目に
対応する試薬が当該反応容器１内に分注され、測定項目
に対応する特定波長、例えば、波長Ｌ3 により光学測定
される。
置（図示せず）へと移送され、該位置で洗浄水が廃棄さ
れた後、サンプリング位置へと移送され、該位置で検体
試料が所要量反応容器１内に分注された後、測定項目に
対応する試薬が当該反応容器１内に分注され、測定項目
に対応する特定波長、例えば、波長Ｌ3 により光学測定
される。
【００１３】このようにして項目測定値が求められる
と、自動分析装置の制御装置は、当該特定波長Ｌ3 と同
じ波長に対応する波長Ｌ3 で測定された特定セルブラン
ク値を記憶回路から呼び出し、該特定セルブランク値に
基づき真正測定値を演算処理して求めるように構成され
ている。尚、この特定セルブランク値に基づく真正測定
値の演算処理法は、従来の自動分析装置に適用されてい
る演算処理方法と同様であるので、その詳細な説明をこ
こでは省略する。
と、自動分析装置の制御装置は、当該特定波長Ｌ3 と同
じ波長に対応する波長Ｌ3 で測定された特定セルブラン
ク値を記憶回路から呼び出し、該特定セルブランク値に
基づき真正測定値を演算処理して求めるように構成され
ている。尚、この特定セルブランク値に基づく真正測定
値の演算処理法は、従来の自動分析装置に適用されてい
る演算処理方法と同様であるので、その詳細な説明をこ
こでは省略する。
【００１４】尚、上記実施例では、セルブランク測定位
置を２箇所に分割し、かつ、セルブランク測定波長を、
各セルブランク測定位置Ｐ1 ，Ｐ2 で重複しないように
２グループに選択した場合を例に取り説明したが、この
発明にあってはこれに限定されるものではなく、セルブ
ランク測定位置を複数箇所に分割し、かつ、セルブラン
ク測定波長を、各セルブランク測定位置で重複しないよ
うに、分割されたセルブランク測定位置数で割って上記
誤差を可及的に小さくすることもできるが、この分割数
が多い場合には、反応テーブルが大型化し、かつ、部品
点数も増加するので、全波長の数だけ上記セルブランク
測定位置を設けるのは避けるのが望ましい。
置を２箇所に分割し、かつ、セルブランク測定波長を、
各セルブランク測定位置Ｐ1 ，Ｐ2 で重複しないように
２グループに選択した場合を例に取り説明したが、この
発明にあってはこれに限定されるものではなく、セルブ
ランク測定位置を複数箇所に分割し、かつ、セルブラン
ク測定波長を、各セルブランク測定位置で重複しないよ
うに、分割されたセルブランク測定位置数で割って上記
誤差を可及的に小さくすることもできるが、この分割数
が多い場合には、反応テーブルが大型化し、かつ、部品
点数も増加するので、全波長の数だけ上記セルブランク
測定位置を設けるのは避けるのが望ましい。
【００１５】
【発明の効果】この発明に係る自動分析装置は、以上説
明したように、特定セルブランク値の測定位置を反応容
器の中心位置へと可及的に近ずけることができるので、
項目測定値を測定する反応容器の部位と特定セルブラン
ク値を測定する位置のズレを小さくして真正測定値に対
する信頼性を大幅に向上させることができる、という優
れた効果を奏する
明したように、特定セルブランク値の測定位置を反応容
器の中心位置へと可及的に近ずけることができるので、
項目測定値を測定する反応容器の部位と特定セルブラン
ク値を測定する位置のズレを小さくして真正測定値に対
する信頼性を大幅に向上させることができる、という優
れた効果を奏する
【図１】この発明の一実施例に係る自動分析装置の要部
の概略的な構成を示す平面説明図である。
の概略的な構成を示す平面説明図である。
【図２】同自動分析装置のセルブランク測定位置Ｐ1 ，
Ｐ2 における選択された波長光の透過状態を夫々示す説
明図である。
Ｐ2 における選択された波長光の透過状態を夫々示す説
明図である。
【図３】セルブランク値を測定する波長の照射範囲を示
すグラフである。
すグラフである。
１ 反応容器 ２ 洗浄水 ３ セルブランク測定光 ４Ａ，４Ｂ フィルタ ５Ａ，５Ｂ 受光素子 Ｌ1 乃至Ｌ12 セルブランク測定波長
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 35/00 - 35/10 G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/03 - 21/15 G01N 21/17 - 21/61 G01N 21/75 - 21/83
Claims (1)
- 【請求項１】 反応容器内の試料を測定項目に対応する
特定波長で測定して項目測定値を求めるとともに、洗浄
水が収容された反応容器のセルブランク値を上記特定波
長を含む複数の波長で求め、上記項目測定値をセルブラ
ンク値に基づき補正することで真正測定値を求めるよう
に構成されてなる自動分析装置において、上記セルブラ
ンク値を求めるセルブランク測定位置を複数箇所とし、
これら各セルブランク測定位置では、上記複数波長の少
なくとも１以上の波長光が各セルブランク測定位置で重
複しないように選択されて上記反応容器に照射されるこ
とを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03109893A JP3254590B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03109893A JP3254590B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06222063A JPH06222063A (ja) | 1994-08-12 |
| JP3254590B2 true JP3254590B2 (ja) | 2002-02-12 |
Family
ID=12321930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03109893A Expired - Fee Related JP3254590B2 (ja) | 1993-01-28 | 1993-01-28 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3254590B2 (ja) |
-
1993
- 1993-01-28 JP JP03109893A patent/JP3254590B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06222063A (ja) | 1994-08-12 |
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