JP3244436B2 - 物体情報検知装置 - Google Patents
物体情報検知装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は物体情報検知装置に
関する。特に、電磁波を用いて対象物体に関する情報を
検知するための検知装置に関する。
関する。特に、電磁波を用いて対象物体に関する情報を
検知するための検知装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電磁波を媒介として対象物体に関する情
報、すなわち検知領域内における物体の有無や個数、物
体の位置、距離、方向、大きさ、移動速度、物体温度、
バーコードのような符号情報などを検知するための物体
情報検知装置が広く用いられている。例えば、光電セン
サ、距離計測装置、速度センサ、バーコードリーダ等が
ある。これらの物体情報検知装置は、検知物体に向けて
放射線（光や放射線を含む）を放射して物体で反射され
た反射信号を受信することにより、あるいは物体から放
出された電磁波を受信することにより、物体情報を検知
している。
報、すなわち検知領域内における物体の有無や個数、物
体の位置、距離、方向、大きさ、移動速度、物体温度、
バーコードのような符号情報などを検知するための物体
情報検知装置が広く用いられている。例えば、光電セン
サ、距離計測装置、速度センサ、バーコードリーダ等が
ある。これらの物体情報検知装置は、検知物体に向けて
放射線（光や放射線を含む）を放射して物体で反射され
た反射信号を受信することにより、あるいは物体から放
出された電磁波を受信することにより、物体情報を検知
している。
【０００３】ところで、このような物体情報検知装置
は、一般にケース内に納められており、その前面窓を通
して電磁波を放出したり、電磁波を受信したりしてい
る。そのため、前面窓の汚れに対して敏感となり、前面
窓の汚れがひどくなると、誤検知する恐れがある。その
ため汚れ検知機能を備え、前面窓の汚れがひどくなった
場合には、報知するようにしたものが提案されている。
は、一般にケース内に納められており、その前面窓を通
して電磁波を放出したり、電磁波を受信したりしてい
る。そのため、前面窓の汚れに対して敏感となり、前面
窓の汚れがひどくなると、誤検知する恐れがある。その
ため汚れ検知機能を備え、前面窓の汚れがひどくなった
場合には、報知するようにしたものが提案されている。
【０００４】 （汚れ検知機能を備えた従来の距離計測装置） このような汚れ検知機能を備えた従来例としては、図１
〜図３に示すようなレーザー測距装置１がある。図１は
汚れ検知機能を備えた従来のレーザー測距装置１を示す
斜視図、図２はその概略断面図、図３はその構成を示す
ブロック図である。レーザー光を用いたレーザー測距装
置１の場合には、図１及び図２に示すように、前面にガ
ラス板や透明プラスチック板からなる前面窓２がはめら
れたケース３内に、測距用投光部４、測距用受光部５及
び汚れ検知部６等が納められている。
〜図３に示すようなレーザー測距装置１がある。図１は
汚れ検知機能を備えた従来のレーザー測距装置１を示す
斜視図、図２はその概略断面図、図３はその構成を示す
ブロック図である。レーザー光を用いたレーザー測距装
置１の場合には、図１及び図２に示すように、前面にガ
ラス板や透明プラスチック板からなる前面窓２がはめら
れたケース３内に、測距用投光部４、測距用受光部５及
び汚れ検知部６等が納められている。
【０００５】図３に示すように、測距用投光部４は、ス
キャナ８、レーザーダイオード（ＬＤ）９、レーザーダ
イオード駆動回路１０および走査位置検出装置１１から
なる。制御回路７は、レーザーダイオード駆動回路１０
を制御することによってレーザーダイオード９からレー
ザー光Ｌをパルス発光させ、スキャナ８を駆動してスキ
ャナ８でレーザー光Ｌを反射させることによって一定の
光走査領域内でレーザー光Ｌを走査し、対象物体に対し
てレーザー光Ｌを照射する。
キャナ８、レーザーダイオード（ＬＤ）９、レーザーダ
イオード駆動回路１０および走査位置検出装置１１から
なる。制御回路７は、レーザーダイオード駆動回路１０
を制御することによってレーザーダイオード９からレー
ザー光Ｌをパルス発光させ、スキャナ８を駆動してスキ
ャナ８でレーザー光Ｌを反射させることによって一定の
光走査領域内でレーザー光Ｌを走査し、対象物体に対し
てレーザー光Ｌを照射する。
【０００６】測距用受光部５は、フォトダイオード（Ｐ
Ｄ）のような受光素子１２および受光回路１３からな
る。受光素子１２は、対象物体で反射した反射レーザー
光Ｌを受光し、受光回路１３は、受光素子１２の受光レ
ベルと内部に設定されている受光スレッシュレベルとを
比較し、受光素子１２が受光スレッシュレベル以上の反
射レーザー光Ｌを受光したと判断すると、制御回路７へ
検知信号を出力する。
Ｄ）のような受光素子１２および受光回路１３からな
る。受光素子１２は、対象物体で反射した反射レーザー
光Ｌを受光し、受光回路１３は、受光素子１２の受光レ
ベルと内部に設定されている受光スレッシュレベルとを
比較し、受光素子１２が受光スレッシュレベル以上の反
射レーザー光Ｌを受光したと判断すると、制御回路７へ
検知信号を出力する。
【０００７】制御回路７は、一定の発光タイミングを生
成し、その発光タイミングに同期してカウンタ（図示せ
ず）をスタートさせ、同時に発光タイミングに合わせて
測距用投光部４からレーザー光Ｌを出射及び走査させ、
対象物体で反射して戻ってきた反射レーザー光Ｌを測距
用受光部５で受光する。制御回路７は、受光素子１２が
受光スレッシュレベル以上の反射レーザー光Ｌを受光し
て受光回路１３から検知信号を受け取るとカウンタを停
止させ、カウンタの値から測距用投光部４での発光から
測距用受光部５での受光までの伝搬遅延時間を計測し、
この伝搬遅延時間に基づいて対象物体までの距離を演算
する。
成し、その発光タイミングに同期してカウンタ（図示せ
ず）をスタートさせ、同時に発光タイミングに合わせて
測距用投光部４からレーザー光Ｌを出射及び走査させ、
対象物体で反射して戻ってきた反射レーザー光Ｌを測距
用受光部５で受光する。制御回路７は、受光素子１２が
受光スレッシュレベル以上の反射レーザー光Ｌを受光し
て受光回路１３から検知信号を受け取るとカウンタを停
止させ、カウンタの値から測距用投光部４での発光から
測距用受光部５での受光までの伝搬遅延時間を計測し、
この伝搬遅延時間に基づいて対象物体までの距離を演算
する。
【０００８】また、車載用のレーザー測距装置１の場合
には、車速センサ１６により計測されている自車両の速
度も考慮した上で前方車両などの対象物体までの距離を
演算する場合もある。さらに、スキャナ８によるレーザ
ー光Ｌの出射方向（走査方向）は走査位置検出装置１１
によって検出され、走査位置情報が制御回路７へ送信さ
れているので、対象物体の存在する方向も検知すること
ができる。
には、車速センサ１６により計測されている自車両の速
度も考慮した上で前方車両などの対象物体までの距離を
演算する場合もある。さらに、スキャナ８によるレーザ
ー光Ｌの出射方向（走査方向）は走査位置検出装置１１
によって検出され、走査位置情報が制御回路７へ送信さ
れているので、対象物体の存在する方向も検知すること
ができる。
【０００９】このようなレーザー測距装置１では、レー
ザー光Ｌを送光してその反射光を受光するための前面窓
２が存在するが、この前面窓２は「気象状況」や「長い
間の使用環境」などによって汚れ、レーザー光Ｌが汚れ
により減衰、拡散するため、前面窓２の汚れはレーザー
測距装置１の基本性能に大きく影響を及ぼし、前面窓２
が非常に汚れているとレーザー測距装置１としての役割
を果たさなくなる。
ザー光Ｌを送光してその反射光を受光するための前面窓
２が存在するが、この前面窓２は「気象状況」や「長い
間の使用環境」などによって汚れ、レーザー光Ｌが汚れ
により減衰、拡散するため、前面窓２の汚れはレーザー
測距装置１の基本性能に大きく影響を及ぼし、前面窓２
が非常に汚れているとレーザー測距装置１としての役割
を果たさなくなる。
【００１０】そこで、このレーザー測距装置１では、汚
れ検知用フォトダイオード１４と汚れ検知用の受光回路
１５からなる汚れ検知部６を備え、図２に示すように測
距用投光部４から出射されて前面窓２の外面と空気との
界面で反射されたレーザー光Ｌを汚れ検知用フォトダイ
オード１４で検知するようにしている。そして、受光回
路１５は、汚れ検知用フォトダイオード１４の受光信号
をデジタル信号にＡ／Ｄ変換した後、制御回路７へ送信
する。制御回路７は、受光回路１５から受け取った受光
レベルと所定の汚れ判定しきい値レベルを比較し、図４
に示すように受光素子１２の受光レベルが汚れ判定しき
い値レベル以上になると、前面窓２の汚れにより反射光
が増加したためであると判断する。
れ検知用フォトダイオード１４と汚れ検知用の受光回路
１５からなる汚れ検知部６を備え、図２に示すように測
距用投光部４から出射されて前面窓２の外面と空気との
界面で反射されたレーザー光Ｌを汚れ検知用フォトダイ
オード１４で検知するようにしている。そして、受光回
路１５は、汚れ検知用フォトダイオード１４の受光信号
をデジタル信号にＡ／Ｄ変換した後、制御回路７へ送信
する。制御回路７は、受光回路１５から受け取った受光
レベルと所定の汚れ判定しきい値レベルを比較し、図４
に示すように受光素子１２の受光レベルが汚れ判定しき
い値レベル以上になると、前面窓２の汚れにより反射光
が増加したためであると判断する。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
汚れ検知処理方式では、測距用投光部４から出射された
レーザー光Ｌの前面窓２による反射光を利用して前面窓
２の汚れを検出しているので、従来の汚れ検知処理方式
では、前面窓２の内部で検出した汚れレベルと、前面窓
２の汚れによる実際の測距処理の性能低下レベルとが一
定の関係にないという問題があった。
汚れ検知処理方式では、測距用投光部４から出射された
レーザー光Ｌの前面窓２による反射光を利用して前面窓
２の汚れを検出しているので、従来の汚れ検知処理方式
では、前面窓２の内部で検出した汚れレベルと、前面窓
２の汚れによる実際の測距処理の性能低下レベルとが一
定の関係にないという問題があった。
【００１２】また、汚れの色（つまり、汚れによる光吸
収率の違い）によっても汚れ検知出力が異なり、正確に
汚れを検知できなかった。具体的にいうと、白い汚れに
は反応し易く、汚れ検知精度が高くなるが、黒い汚れや
水分の多い汚れなどでは反応しにくくて汚れ検知精度が
低下するという問題があった。
収率の違い）によっても汚れ検知出力が異なり、正確に
汚れを検知できなかった。具体的にいうと、白い汚れに
は反応し易く、汚れ検知精度が高くなるが、黒い汚れや
水分の多い汚れなどでは反応しにくくて汚れ検知精度が
低下するという問題があった。
【００１３】これらの問題は、本来であれば測距用投受
光部４，５と同様に、汚れによる「光の透過具合」の変
化を検出したいところを、実際には「光の反射具合」の
変化で間接的に計測しようとしているために起こる問題
である。
光部４，５と同様に、汚れによる「光の透過具合」の変
化を検出したいところを、実際には「光の反射具合」の
変化で間接的に計測しようとしているために起こる問題
である。
【００１４】本発明は叙上の従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、各種物体情
報検知装置において、検知のために電磁波を透過させる
透明ないしほぼ透明な部材の汚れの程度を光の透過具合
によって直接的に検知することができるようにすること
にある。
れたものであり、その目的とするところは、各種物体情
報検知装置において、検知のために電磁波を透過させる
透明ないしほぼ透明な部材の汚れの程度を光の透過具合
によって直接的に検知することができるようにすること
にある。
【００１５】
【発明の開示】本発明の物体情報検知装置は電磁波放射
手段と電磁波検知手段を備え、電磁波放射手段から放射
される電磁波を該電磁波の波長域で透明ないしほぼ透明
な部材を透過させて電磁波検知手段で電磁波を受信する
ことにより、物体に関する情報を検知する装置におい
て、前記透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側面を基
準としたとき、前記電磁波放射手段および前記電磁波検
知手段が配置されているのと同じ側に、汚れ検知のため
の発光素子と汚れ検知のための受光素子を配置し、か
つ、汚れ検知のための発光素子から出射した光が、前記
透明ないしほぼ透明な部材を少なくとも２度透過した
後、汚れ検知のための受光素子へ導かれるように、前記
透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側面に、断面三角
形状をした突起部からなる反射体を設けた構成としてい
る。
手段と電磁波検知手段を備え、電磁波放射手段から放射
される電磁波を該電磁波の波長域で透明ないしほぼ透明
な部材を透過させて電磁波検知手段で電磁波を受信する
ことにより、物体に関する情報を検知する装置におい
て、前記透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側面を基
準としたとき、前記電磁波放射手段および前記電磁波検
知手段が配置されているのと同じ側に、汚れ検知のため
の発光素子と汚れ検知のための受光素子を配置し、か
つ、汚れ検知のための発光素子から出射した光が、前記
透明ないしほぼ透明な部材を少なくとも２度透過した
後、汚れ検知のための受光素子へ導かれるように、前記
透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側面に、断面三角
形状をした突起部からなる反射体を設けた構成としてい
る。
【００１６】このような反射体としては、例えば、前記
突起部の斜面を反射体とすることが考えられる。
突起部の斜面を反射体とすることが考えられる。
【００１７】また、このような物体情報検知装置として
は、電磁波のうちでも光（可視光、赤外線、紫外線な
ど）を用いるものが典型的であって、発光素子から出射
された光を受光素子で受光することにより物体の情報、
すなわち検知領域内における物体の有無や個数、物体の
位置、距離、方向、大きさ、移動速度、物体温度、バー
コードのような符号情報などを検知するものが一般的で
ある。
は、電磁波のうちでも光（可視光、赤外線、紫外線な
ど）を用いるものが典型的であって、発光素子から出射
された光を受光素子で受光することにより物体の情報、
すなわち検知領域内における物体の有無や個数、物体の
位置、距離、方向、大きさ、移動速度、物体温度、バー
コードのような符号情報などを検知するものが一般的で
ある。
【００１８】また、透明ないしほぼ透明な部材は汚れの
付着する環境にあるものが対象となるが、特に、電磁波
放射手段や電磁波検知手段を収納しているケース３の前
面窓２などがある。
付着する環境にあるものが対象となるが、特に、電磁波
放射手段や電磁波検知手段を収納しているケース３の前
面窓２などがある。
【００１９】本発明の物体情報検知装置にあっては、透
明ないしほぼ透明な部材を透過する光の透過具合（透過
光量の変化）を直接的に検出することにより、当該部材
の汚れを検出しているので、検出した汚れレベルとその
汚れによる実際の物体情報検知処理の性能低下レベルと
が一定の関係に保たれ、正しく汚れを検知することがで
きる。また、光の透過具合を直接的に検出しているの
で、汚れの色に影響されることなく、正しく汚れを検知
することができる。
明ないしほぼ透明な部材を透過する光の透過具合（透過
光量の変化）を直接的に検出することにより、当該部材
の汚れを検出しているので、検出した汚れレベルとその
汚れによる実際の物体情報検知処理の性能低下レベルと
が一定の関係に保たれ、正しく汚れを検知することがで
きる。また、光の透過具合を直接的に検出しているの
で、汚れの色に影響されることなく、正しく汚れを検知
することができる。
【００２０】従って、物体情報検知装置の誤検知の原因
となる汚れを早期に発見して汚れの除去を促すことがで
き、物体情報検知装置の誤検知を防止でき、物体情報検
知装置の信頼性を向上させることができる。
となる汚れを早期に発見して汚れの除去を促すことがで
き、物体情報検知装置の誤検知を防止でき、物体情報検
知装置の信頼性を向上させることができる。
【００２１】
【発明の実施の形態】図５は本発明の一実施形態による
レーザー測距装置（レーザーレーダ）２１の外観斜視
図、図６はその概略断面図である。レーザー測距装置２
１は、ケース３内に納められており、ケース３の前面開
口には、ガラス板もしくは透明プラスチック板からなる
前面窓２が設けられている。しかして、ケース３内に納
められた測距用投光部４からは、前面窓２を通して検知
領域へレーザー光Ｌが出射及び走査され、対象物体で反
射された反射レーザー光Ｌは前面窓２を通して測距用受
光部５に受光される。
レーザー測距装置（レーザーレーダ）２１の外観斜視
図、図６はその概略断面図である。レーザー測距装置２
１は、ケース３内に納められており、ケース３の前面開
口には、ガラス板もしくは透明プラスチック板からなる
前面窓２が設けられている。しかして、ケース３内に納
められた測距用投光部４からは、前面窓２を通して検知
領域へレーザー光Ｌが出射及び走査され、対象物体で反
射された反射レーザー光Ｌは前面窓２を通して測距用受
光部５に受光される。
【００２２】また、図７は当該レーザー測距装置２１の
構成を示すブロック図である。測距用投光部４、測距用
受光部５、走査位置検出装置１１、車速センサ１６等の
構成や機能、制御回路７の測距のためのアルゴリズム等
については、従来例と同じであるので、再度説明するこ
とは省略し、同一構成部分には同一の符号を付与するに
止める。
構成を示すブロック図である。測距用投光部４、測距用
受光部５、走査位置検出装置１１、車速センサ１６等の
構成や機能、制御回路７の測距のためのアルゴリズム等
については、従来例と同じであるので、再度説明するこ
とは省略し、同一構成部分には同一の符号を付与するに
止める。
【００２３】さらに、このレーザー測距装置２１は、前
面窓２の汚れを検知するために、汚れ検知用発光素子
（発光ダイオード）２２、投光レンズ２３及び発光素子
駆動回路２４で構成された汚れ検知用発光部２５と、汚
れ検知用受光素子（フォトダイオード）２６、受光レン
ズ２７及び汚れ検知用の受光回路２８で構成された汚れ
検知用受光部２９とを備えている。
面窓２の汚れを検知するために、汚れ検知用発光素子
（発光ダイオード）２２、投光レンズ２３及び発光素子
駆動回路２４で構成された汚れ検知用発光部２５と、汚
れ検知用受光素子（フォトダイオード）２６、受光レン
ズ２７及び汚れ検知用の受光回路２８で構成された汚れ
検知用受光部２９とを備えている。
【００２４】図６に示すように、汚れ検知用発光部２５
と汚れ検知用受光部２９は、測距用投光部４や測距用受
光部５等とともにレーザー測距装置２１のケース３内に
配置されている。汚れ検知用発光部２５の前方で、測距
用投光部４によるレーザー光Ｌの光走査領域（破線で示
す）にかからないようにして、前面窓２の外面には透明
な断面三角形状をした突起物３０が一体成形もしくは付
加されている。この突起物３０は空気の屈折率よりも大
きな屈折率を有するガラスもしくは透明プラスチックに
より形成されている。
と汚れ検知用受光部２９は、測距用投光部４や測距用受
光部５等とともにレーザー測距装置２１のケース３内に
配置されている。汚れ検知用発光部２５の前方で、測距
用投光部４によるレーザー光Ｌの光走査領域（破線で示
す）にかからないようにして、前面窓２の外面には透明
な断面三角形状をした突起物３０が一体成形もしくは付
加されている。この突起物３０は空気の屈折率よりも大
きな屈折率を有するガラスもしくは透明プラスチックに
より形成されている。
【００２５】しかして、制御部７が発光素子駆動回路２
４を制御すると、汚れ検知用発光素子２２から汚れ検知
光Ｒがパルス状に、あるいは連続的に出射され、汚れ検
知光Ｒは投光レンズ２３によりほぼコリメートされた
後、前面窓２から突起物３０の一方斜面３０ａに入射す
る。当該斜面３０ａに入射した汚れ検知光Ｒは斜面３０
ａ（この斜面３０ａには金属蒸着膜等による鏡面加工を
施してあっても良い）で全反射して他方の斜面から屈折
しながら前面窓２の外部へ出射し、再度前面窓２の外面
に入射する。前面窓２の外面へ戻ってきた汚れ検知光Ｒ
は前面窓２を透過して汚れ検知用受光部２９に受光され
る。汚れ検知用受光部２９では、戻ってきた汚れ検知光
Ｒを受光レンズ２７で汚れ検知用受光素子２６の受光面
に結像させる。受光回路２８は、汚れ検知用受光素子２
６の受光信号をデジタル信号にＡ／Ｄ変換した後、その
受光レベル情報を制御回路７へ送信する。
４を制御すると、汚れ検知用発光素子２２から汚れ検知
光Ｒがパルス状に、あるいは連続的に出射され、汚れ検
知光Ｒは投光レンズ２３によりほぼコリメートされた
後、前面窓２から突起物３０の一方斜面３０ａに入射す
る。当該斜面３０ａに入射した汚れ検知光Ｒは斜面３０
ａ（この斜面３０ａには金属蒸着膜等による鏡面加工を
施してあっても良い）で全反射して他方の斜面から屈折
しながら前面窓２の外部へ出射し、再度前面窓２の外面
に入射する。前面窓２の外面へ戻ってきた汚れ検知光Ｒ
は前面窓２を透過して汚れ検知用受光部２９に受光され
る。汚れ検知用受光部２９では、戻ってきた汚れ検知光
Ｒを受光レンズ２７で汚れ検知用受光素子２６の受光面
に結像させる。受光回路２８は、汚れ検知用受光素子２
６の受光信号をデジタル信号にＡ／Ｄ変換した後、その
受光レベル情報を制御回路７へ送信する。
【００２６】制御回路７は、受光回路２８から受け取っ
た受光レベルを所定の汚れ判定しきい値レベルと比較す
る。前面窓２の外面に汚れが付着して汚れている場合に
は、透過光が遮られて汚れ検知用受光素子２６の受光レ
ベルが低下するので、図９に示すように、汚れ検知用受
光素子２６の受光レベルが汚れ判定しきい値レベル以下
の異常レベルであれば、前面窓２が汚れていると判定
し、汚れ検知用受光素子２６の受光レベルが汚れ判定し
きい値レベル以上の正常レベルにあれば、前面窓２が汚
れていないと判定する。制御回路７は、汚れがひどいと
判定した場合には、警報ブザーを鳴らしたり、表示パネ
ルなどに警告メッセージを表示したりする。なお、汚れ
判定しきい値レベルを複数設定し、一層汚れがひどくな
った場合には測距データの出力を停止するようにしても
よい。
た受光レベルを所定の汚れ判定しきい値レベルと比較す
る。前面窓２の外面に汚れが付着して汚れている場合に
は、透過光が遮られて汚れ検知用受光素子２６の受光レ
ベルが低下するので、図９に示すように、汚れ検知用受
光素子２６の受光レベルが汚れ判定しきい値レベル以下
の異常レベルであれば、前面窓２が汚れていると判定
し、汚れ検知用受光素子２６の受光レベルが汚れ判定し
きい値レベル以上の正常レベルにあれば、前面窓２が汚
れていないと判定する。制御回路７は、汚れがひどいと
判定した場合には、警報ブザーを鳴らしたり、表示パネ
ルなどに警告メッセージを表示したりする。なお、汚れ
判定しきい値レベルを複数設定し、一層汚れがひどくな
った場合には測距データの出力を停止するようにしても
よい。
【００２７】前面窓２の汚れがひどいという警報を受け
取った利用者は、前面窓２を清掃した後、リセットボタ
ン等をオンにし、再び汚れ検知機能を動作させる。
取った利用者は、前面窓２を清掃した後、リセットボタ
ン等をオンにし、再び汚れ検知機能を動作させる。
【００２８】図８は制御回路７が汚れ判定を行なうため
のアルゴリズムを示すフロー図であって、Ｎ回連続して
汚れ判定した場合に警報等を出力してエラー処理するよ
うにしている。すなわち、制御部７が受光回路２８から
受光レベル情報を受信すると（Ｓ３１）、当該受光レベ
ルと汚れ判定しきい値レベルとを比較し（Ｓ３２）、受
光レベルが汚れ判定しきい値レベル以下であればエラー
カウンタを「１」増加させ（Ｓ３３）、受光レベルが汚
れ判定しきい値レベル以上であればエラーカウンタを
「０」にリセットする（Ｓ３４）。エラーカウンタをイ
ンクリメントした場合には、エラーカウンタの値が既定
値のＮ以上であるか否かを判定し（Ｓ３５）、受光レベ
ルがＮ回連続して汚れ判定しきい値レベルより低くてエ
ラーカウンタがＮになっている場合には、エラー処理す
る（Ｓ３６）。すなわち、警報を鳴らしたり、表示パネ
ルに表示したりする。
のアルゴリズムを示すフロー図であって、Ｎ回連続して
汚れ判定した場合に警報等を出力してエラー処理するよ
うにしている。すなわち、制御部７が受光回路２８から
受光レベル情報を受信すると（Ｓ３１）、当該受光レベ
ルと汚れ判定しきい値レベルとを比較し（Ｓ３２）、受
光レベルが汚れ判定しきい値レベル以下であればエラー
カウンタを「１」増加させ（Ｓ３３）、受光レベルが汚
れ判定しきい値レベル以上であればエラーカウンタを
「０」にリセットする（Ｓ３４）。エラーカウンタをイ
ンクリメントした場合には、エラーカウンタの値が既定
値のＮ以上であるか否かを判定し（Ｓ３５）、受光レベ
ルがＮ回連続して汚れ判定しきい値レベルより低くてエ
ラーカウンタがＮになっている場合には、エラー処理す
る（Ｓ３６）。すなわち、警報を鳴らしたり、表示パネ
ルに表示したりする。
【００２９】このように、このレーザー測距装置２１に
設けられている汚れ検知方式では、前面窓２を透過する
汚れ検知光Ｒによって汚れを検知しているので、精度よ
く汚れを検知することができる。従って、レーザー測距
装置２１が車両下部（例えばバンパー位置など）に取り
付けられていて汚れ易い場合でも、汚れがひどくなって
誤計測する前に注意を促すことができる。
設けられている汚れ検知方式では、前面窓２を透過する
汚れ検知光Ｒによって汚れを検知しているので、精度よ
く汚れを検知することができる。従って、レーザー測距
装置２１が車両下部（例えばバンパー位置など）に取り
付けられていて汚れ易い場合でも、汚れがひどくなって
誤計測する前に注意を促すことができる。
【００３０】（第２の実施形態） 図１０は本発明の第２の実施形態によるレーザー測距装
置４１を示す概略断面図である。この実施形態は、第１
の実施形態において、汚れ検知用発光部２５と汚れ検知
用受光部２９の位置を入れ替えて汚れ検知光Ｒの進む方
向を逆にしたものである。従って、汚れ検知用発光部２
５から出射された汚れ検知光Ｒは前面窓２を透過した
後、突起物３０の斜面３０ｂから突起物３０内に入り、
突起物３０の斜面３０ａで反射して前面窓２を透過し、
汚れ検知用受光部２９に受光される。
置４１を示す概略断面図である。この実施形態は、第１
の実施形態において、汚れ検知用発光部２５と汚れ検知
用受光部２９の位置を入れ替えて汚れ検知光Ｒの進む方
向を逆にしたものである。従って、汚れ検知用発光部２
５から出射された汚れ検知光Ｒは前面窓２を透過した
後、突起物３０の斜面３０ｂから突起物３０内に入り、
突起物３０の斜面３０ａで反射して前面窓２を透過し、
汚れ検知用受光部２９に受光される。
【００３１】（第３の実施形態） 図１１は本発明の第３の実施形態によるレーザー測距装
置４２を示す概略断面図である。汚れの検知位置は、測
距用のレーザー光Ｌの通過する部分が望ましい。従っ
て、第１及び第２の実施形態のように、測距用投光部４
の前方に限らず、測距用受光部５の前方で汚れを検知す
るようにしてもよい。
置４２を示す概略断面図である。汚れの検知位置は、測
距用のレーザー光Ｌの通過する部分が望ましい。従っ
て、第１及び第２の実施形態のように、測距用投光部４
の前方に限らず、測距用受光部５の前方で汚れを検知す
るようにしてもよい。
【００３２】（第４の実施形態）図１２ は本発明の第4の実施形態によるレーザー測距装
置５０を示す断面図である。これまでの実施形態にあっ
ては、ケース３の前面窓２に付着した汚れを検出してい
たが、この実施形態では、レーザー測距装置５０の前方
に位置している部材の汚れを検知する。例えば、レーザ
ー測距装置５０が車載用の場合には、車両のダッシュボ
ード上などに設置し、フロントガラス５１を通して前方
車両までの距離を計測する場合がある。このような場合
には、ケース３の前面窓２の汚れよりも車両のフロント
ガラス５１の汚れが問題となる。
置５０を示す断面図である。これまでの実施形態にあっ
ては、ケース３の前面窓２に付着した汚れを検出してい
たが、この実施形態では、レーザー測距装置５０の前方
に位置している部材の汚れを検知する。例えば、レーザ
ー測距装置５０が車載用の場合には、車両のダッシュボ
ード上などに設置し、フロントガラス５１を通して前方
車両までの距離を計測する場合がある。このような場合
には、ケース３の前面窓２の汚れよりも車両のフロント
ガラス５１の汚れが問題となる。
【００３３】この実施形態では、比較的柔軟で屈折率の
大きな透明プラスチックにより形成された三角プリズム
状の突起物５２を粘着剤もしくは接着剤５３によってフ
ロントガラス５１の外面に接着している。ダッシュボー
ド上に設置されたレーザー測距装置５０の汚れ検知用発
光部２５から出射された汚れ検知光Ｒは、前面窓２及び
フロントガラス５１を通って突起物５２の斜面５２ａで
全反射され、突起物５２の別な斜面からフロントガラス
５１の外側へ出た後、再びフロントガラス５１及び前面
窓２を通って汚れ検知用受光部２９に受光される。
大きな透明プラスチックにより形成された三角プリズム
状の突起物５２を粘着剤もしくは接着剤５３によってフ
ロントガラス５１の外面に接着している。ダッシュボー
ド上に設置されたレーザー測距装置５０の汚れ検知用発
光部２５から出射された汚れ検知光Ｒは、前面窓２及び
フロントガラス５１を通って突起物５２の斜面５２ａで
全反射され、突起物５２の別な斜面からフロントガラス
５１の外側へ出た後、再びフロントガラス５１及び前面
窓２を通って汚れ検知用受光部２９に受光される。
【００３４】しかして、車両のフロントガラス５１の汚
れを汚れ検知用受光部２９の受光レベルの低下によって
検知し、汚れがひどくなった場合には報知する。
れを汚れ検知用受光部２９の受光レベルの低下によって
検知し、汚れがひどくなった場合には報知する。
【００３５】（第５の実施形態）図１３ は本発明の第5の実施形態によるレーザー測距装
置５４を示す断面図である。この実施形態にあっては、
汚れ検知用受光部２９は、ケース３内に納められておら
ず、例えばプラスッチック板からなる前面窓２内に埋め
込まれている。同様に、汚れ検知用発光部２５を前面窓
２内に埋め込むようにしてもよい。これにより、レーザ
ー測距装置５４における省スペース化を図ることができ
る。
置５４を示す断面図である。この実施形態にあっては、
汚れ検知用受光部２９は、ケース３内に納められておら
ず、例えばプラスッチック板からなる前面窓２内に埋め
込まれている。同様に、汚れ検知用発光部２５を前面窓
２内に埋め込むようにしてもよい。これにより、レーザ
ー測距装置５４における省スペース化を図ることができ
る。
【図１】従来例の物体情報検知装置の外観斜視図であ
る。
る。
【図２】同上の物体情報検知装置の構成を示す断面図で
ある。
ある。
【図３】同上の物体情報検知装置の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図４】同上の物体情報検知装置の汚れ判定方法を説明
する図である。
する図である。
【図５】本発明の第１の実施形態による物体情報検知装
置の外観斜視図である。
置の外観斜視図である。
【図６】同上の物体情報検知装置の構成を示す断面図で
ある。
ある。
【図７】同上の物体情報検知装置の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図８】物体情報検知装置における汚れ判定のためのア
ルゴリズムを説明するフロー図である。
ルゴリズムを説明するフロー図である。
【図９】同上の物体情報検知装置の汚れ判定方法を説明
する図である。
する図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態による物体情報検知
装置の構成を示す断面図である。
装置の構成を示す断面図である。
【図１１】本発明の第３の実施形態による物体情報検知
装置の構成を示す断面図である。
装置の構成を示す断面図である。
【図１２】本発明の第４の実施形態による物体情報検知
装置の構成を示す断面図である。
装置の構成を示す断面図である。
【図１３】本発明の第５の実施形態による物体情報検知
装置の構成を示す断面図である。
装置の構成を示す断面図である。
２ 前面窓 ３ ケース ４ 計測用投光部 ５ 計測用受光部 ２５ 汚れ検知用発光部 ２９ 汚れ検知用受光部 ３０ 突起物 ３０ａ 突起物の斜面 ５１ 車両のフロントガラス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−145982（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−151827（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−167945（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−105780（ＪＰ，Ａ) 実開 昭60−137389（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01S 17/02 G01N 21/88 G01V 3/12 G01V 13/00
Claims (4)
- 【請求項１】 電磁波放射手段と電磁波検知手段を備
え、電磁波放射手段から放射される電磁波を該電磁波の
波長域で透明ないしほぼ透明な部材を透過させて電磁波
検知手段で電磁波を受信することにより、物体に関する
情報を検知する装置において、 前記透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側面を基準と
したとき、前記電磁波放射手段および前記電磁波検知手
段が配置されているのと同じ側に、汚れ検知のための発
光素子と汚れ検知のための受光素子を配置し、 かつ、汚れ検知のための発光素子から出射した光が、前
記透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側面を少なくと
も２度透過した後、汚れ検知のための受光素子へ導かれ
るように、前記透明ないしほぼ透明な部材の汚れ付着側
面に、断面三角形状をした突起部からなる反射体を設け
たことを特徴とする物体情報検知装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載した物体情報検知装置に
おいて、 前記突起部 の斜面を前記反射体としたことを特徴とする
物体情報検知装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載した物体情報検知
装置において、 前記電磁波が光であって、電磁波放射手段が発光素子、
電磁波検知手段が受光素子であることを特徴とする物体
情報検知装置。 - 【請求項４】 請求項１又は２に記載した物体情報検知
装置において、 前記透明ないしほぼ透明な部材が、前記電磁波放射手
段、電磁波検知手段、汚れ検知のための発光素子、およ
び汚れ検知のための受光素子を収納するケースの前面窓
であることを特徴とする物体情報検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27141496A JP3244436B2 (ja) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | 物体情報検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27141496A JP3244436B2 (ja) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | 物体情報検知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090412A JPH1090412A (ja) | 1998-04-10 |
| JP3244436B2 true JP3244436B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=17499718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27141496A Expired - Fee Related JP3244436B2 (ja) | 1996-09-19 | 1996-09-19 | 物体情報検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3244436B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005227220A (ja) | 2004-02-16 | 2005-08-25 | Denso Corp | 距離検出装置 |
| JP4098341B1 (ja) | 2006-12-28 | 2008-06-11 | 北陽電機株式会社 | 走査式測距装置の光学窓汚れ検出装置 |
| JP5439684B2 (ja) | 2009-07-17 | 2014-03-12 | オプテックス株式会社 | レーザスキャンセンサ |
| JP6365364B2 (ja) | 2015-03-17 | 2018-08-01 | 株式会社デンソーウェーブ | 光学的距離測定装置 |
| JP7162227B2 (ja) * | 2018-08-29 | 2022-10-28 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 距離測定装置 |
| JP7497436B2 (ja) * | 2019-12-27 | 2024-06-10 | ウェイモ エルエルシー | 遮蔽物検出のためのシステムおよび方法 |
| US20220317258A1 (en) * | 2021-03-31 | 2022-10-06 | Gm Cruise Holdings Llc | Optical method for shaping the transmit beam profile of a flash lidar system |
-
1996
- 1996-09-19 JP JP27141496A patent/JP3244436B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1090412A (ja) | 1998-04-10 |
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