JP3239441B2

JP3239441B2 - 画像形成装置

Info

Publication number: JP3239441B2
Application number: JP13774492A
Authority: JP
Inventors: 秀幸矢野; 晴美久郷; 順治荒矢; 典夫橋本; 卓史渋谷; 正古屋
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1992-04-28
Filing date: 1992-04-28
Publication date: 2001-12-17
Anticipated expiration: 2016-12-17
Also published as: JPH05307287A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子写真装置（静電複
写機）・同プリンター等のように、像担持体としての被
帯電体にこれを帯電処理（除電処理も含む）する工程を
含む作像プロセスを適用して画像形成物（コピー，プリ
ント）を出力する画像形成装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、電子写真・静電記録等の作像プロ
セスにおいて、像担持体としての被帯電体である電子写
真感光体・静電記録誘電体等の帯電処理手段（帯電装
置）としては、コロナ帯電器が使用されてきた。

【０００３】近年は、これに変わって、接触帯電装置が
実用化されてきている。これは、オゾンレス，低電力等
を目的としており、この中でも特に帯電部材として導電
ローラを用いたローラ帯電方式が帯電の安定性という点
から好ましく用いられている。ローラ帯電では、導電性
の弾性ローラ（帯電ローラ）を被帯電体に加圧当接さ
せ、これに高電圧を印加することによって被帯電体の帯
電を行う。

【０００４】具体的には、帯電は接触帯電部材から被帯
電体への放電によって行われるため、ある閾値電圧以上
の電圧を印加することによって帯電が開始される。この
電圧を帯電開始電圧Ｖ_thと称する。

【０００５】例を示すと、被帯電体としての、厚さ２５
μｍのＯＰＣ感光体（層）に対して帯電ローラを加圧当
接させた場合には、約６４０Ｖ以上の電圧を印加すれば
感光体の表面電位が上昇し始め、それ以降は印加電圧に
対して傾き１で線形に感光体表面電位が増加する。

【０００６】以上のことから、電子写真に必要とされる
所望の感光体表面電位Ｖ_Dを得るためには帯電ローラに
はＶ_D＋Ｖ_thのＤＣ電圧（直流電圧）を印加すれば良い
ことになる。このようにしてＤＣ電圧のみを接触帯電部
材に印加して帯電を行う方法を以下「接触ＤＣ帯電」と
称する。

【０００７】しかし、接触ＤＣ帯電においては環境変動
によって接触帯電部材の抵抗値が変動するため、また感
光体（感光層）が削れることによって膜厚が変化する
と、帯電開始電圧Ｖ_thの値が変動するため、感光体の表
面電位を所望の値Ｖ_Dにすることが難しかった。

【０００８】このため、更なる帯電の均一化を図るため
に特開昭６３−１４９６６９号公報に開示されるよう
に、所望の感光体表面電位Ｖ_Dに相当するＤＣ電圧に２
×Ｖ_th以上のピーク間電圧を持つＡＣ成分を重畳した振
動電圧（時間と共に電圧値が周期的変化する電圧）を接
触帯電部材に印加する帯電方式（以下「接触ＡＣ帯電」
と称す）が用いられる。これは、ＡＣ成分による電位の
ならし効果を目的としたものであり、被帯電体の電位は
ＡＣ電位のピークの中央であるＶ_Dに収束し、環境等の
外乱に影響される事はない。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】（Ａ）電子写真に用い
られる感光体には、ＺｎＯ，ＣｄＳ，Ｓｅ，ａ−Ｓｉ等
の無機材料を用いたもの、また近年は有機材料（ＯＰ
Ｃ）を用いたものが多く実用化されているが、どれも使
用環境、光露光の蓄積、感光体削れ等の要因によって感
度が変化してしまうという問題があった。また、同じ材
料を用いても感光体の製造時のばらつき等が存在するた
め、露光部電位Ｖ_Lを一定に保つ事が困難であった。

【００１０】レーザビームを用いた電子写真装置、特に
プリンターにおいてこのような感光体感度の変化がある
と、画像濃度が一定しない、ライン幅が変化してフォン
ト（字体）が汚くなる等の問題点が発生してしまう。

【００１１】これを防止するために従来は感光体表面電
位を測定する手段を設ける等の方法が用いられてきた
が、これはコストの上昇を招く、スペースを余分にとる
ため低価格機，小型機への適応が難しかった。

【００１２】また、従来は感光体の製造時のばらつきを
補正するために、あらかじめ感光ドラムの感度を測定
し、それぞれに合った露光量になるように装置を調整す
る方法や、またカートリッジ方式の場合にはドラム感度
を示すいわゆる「感度コマ」をそれぞれのカートリッジ
に装着し、プリンター等の本体はその感度コマを読み取
って最適な露光量を調節する等の方法をとっていたが、
これも構造の複雑化，コストの上昇を招く結果となって
いた。

【００１３】（Ｂ）接触ＡＣ帯電・接触ＤＣ帯電の何れ
においても、耐久通紙によって感光体が削れ、厚みが減
少すると次に述べるような問題が発生してくる。

【００１４】感光体表面を一定電位Ｖ_Dに帯電するため
に必要な電荷量Ｑは、感光体の静電容量Ｃによって決定
され、この電荷量は感光体の厚みｄに対して反比例す
る。

【００１５】従って、削れた感光ドラムを同じ電位Ｖ_D
にまで帯電するためには初期より多い電荷（帯電電流）
が必要な事になる。

【００１６】しかし、帯電電流が大きくなると接触帯電
部材のインピーダンスによる電圧降下が顕著になってく
る。

【００１７】一般的に帯電ローラは、感光体にピンホー
ルが生じた場合にここに帯電電流が集中する事を防ぐた
めに抵抗層を有しており、ローラ抵抗として１０５〜１
０６Ωのインピーダンス値を持っている。また、低温低
湿環境等で耐久通紙を行うと更にローラ抵抗が上昇する
事と、感光体の削れによる帯電電流の増加が合わさる
と、電位Ｖ_Dの降下量が１００〜２００Ｖにもなり、画
像カブリを生じる事がある。

【００１８】以上の事から、良好な画像を得るためには
感光体の厚みは１５μｍ程度以上必要であり、これ以上
の削れを生じた場合には安定した画像を保証する事がで
きず、感光体の寿命を越したと考えられることができ
る。

【００１９】しかし従来、感光体の厚みを直接知る手段
として有効なものは少なく、感光体ドラムの通算回転数
をカウントし、間接的に削れ量を算出する他には良い方
法がなく、この方法も使用環境、クリーニング装置の状
態等で削れ量は変化するため信頼性にかけるものであっ
た。

【００２０】（Ｃ）また、コロナ帯電器で感光体を帯電
する際に流れるＤＣ電流から感光体の状況（感光体膜
厚、露光の履歴等）を検知する方法も特開平４−５７０
６８号公報等で開示されているが、これらは帯電装置と
してコロナ帯電器を用いているため感光体からアースへ
流れ込む電流を測定するものであり、この場合、感光体
からアースに流れる電流は帯電に寄与したものばかりで
なく、シールド電流や、現像手段，転写手段等から感光
体へ流れ込む電流も同時に測定してしまうという欠点を
持っていた。

【００２１】また、感光体上のトナーがクリーニングさ
れる際には、感光体の導電層が保持していたトナーの電
荷に対応する電流もアースに逃げるため、この電流によ
る誤差も避けられないものであった。

【００２２】コロナ帯電器でこれらの問題を解決するた
めには、実際に帯電に付与するＤＣ電流のみを精度良く
検知するために帯電電流以外の電流分は除く必要があ
り、スコロトロン帯電器のワイヤ電流からシールド電流
・グリッド電流等を減じた電流を測定しなければなら
ず、誤差を生じやすい、構成が複雑になる等の問題があ
った。

【００２３】本発明は上述（Ａ）乃至（Ｃ）のような問
題点を解消することを目的としている。

【００２４】

【課題を解決するための手段】本発明は下記の構成を特
徴とする画像形成装置である。

【００２５】（１）感光体と、感光体と接触し直流成分
と交流成分が重畳した電圧が印加される帯電部材と、帯
電部材により帯電された感光体を、デジタル画素信号に
対応して変調した光により選択的に除電することで静電
潜像を形成する露光手段と、静電潜像を現像する現像手
段と、感光体上の現像像を転写材に転写する転写手段
と、を有し、帯電部材は転写後電位を除去されていない
感光体を帯電する画像形成装置において、前記帯電手段
により表面を電位Ｖ_Dに帯電した感光体に前記露光手段
による露光で除電された露光部電位Ｖ_L部を帯電部材に
より所定電位Ｖ１に帯電させるときに帯電部材に流れる
直流電流Ｉ_DCを測定し、この測定値を元に電位Ｖ_Lを検
知することを特徴とする画像形成装置。

【００２６】（２）電流Ｉ_DCの測定は、接触帯電部材に
電力を供給する電源に対して直接流入あるいは流出する
電流で行なわれることを特徴とする（１）に記載の画像
形成装置。

【００２７】（３）検知した露光部電位Ｖ_Lを基にして
露光手段の条件を制御することを特徴とする（１）に記
載の画像形成装置。

【００２８】（４）露光手段の制御対象が光量（光強
度）であることを特徴とする（２）に記載の画像形成装
置。

【００２９】（５）あらかじめ接触帯電部材によって感
光体の表面電位を電位Ｖ２から電位Ｖ３に変化させると
きに流れる直流電流Ｉ_DC′を測定することによって感光
体の膜厚ｄを検知し、これに基づいて露光部電位Ｖ_Lを
検知することを特徴とする（１）に記載の画像形成装
置。

【００３０】（６）接触帯電部材に印加する電圧が、所
望する感光体の電位に相当する直流成分と、感光体の帯
電開始電圧Ｖ_thの２倍以上のピーク間電圧を持つ交流成
分を重畳したものであることを特徴とする（１）に記載
の画像形成装置。

【００３１】（７）接触帯電部材に印加する電圧の直流
成分を電圧Ｖ２と電圧Ｖ３に切り換える手段を有するこ
とを特徴とする（５）に記載の画像形成装置。

【００３２】（８）電圧Ｖ１＝０であることを特徴とす
る（１）に記載の画像形成装置。

【００３３】（９）接触帯電部材がローラ形状を成して
いることを特徴とする（１）に記載の画像形成装置。

【００３４】（１０）感光体と、感光体と接触し直流成
分と交流成分が重畳した電圧が印加される帯電部材と、
帯電部材により帯電された感光体を、デジタル画素信号
に対応して変調した光により選択的に除電することで静
電潜像を形成する露光手段と、静電潜像を現像する現像
手段と、感光体上の現像像を転写材に転写する転写手段
と、を有し、帯電部材は転写後電位を除去されていない
感光体を帯電する画像形成装置において、前記帯電手段
により表面を電位Ｖ_Dに帯電した感光体に前記露光手段
による露光で除電された露光部電位Ｖ_L部を帯電部材に
より所定電位Ｖ１に帯電させるときに帯電部材に流れる
直流電流Ｉ_DCを測定し、この測定値に応じて作像プロセ
ス条件を制御することを特徴とする画像形成装置。

【００３５】（１１）電流Ｉ_DCの測定は、接触帯電部材
に電力を供給する電源に対して直接流入あるいは流出す
る電流で行なわれることを特徴とする（１０）に記載の
画像形成装置。

【００３６】（１２）作像プロセス条件の変化対象が現
像バイアス条件であることを特徴とする（１０）に記載
の画像形成装置。

【００３７】（１３）作像プロセス条件の変化対象が帯
電バイアスであることを特徴とする（１０）に記載の画
像形成装置。

【００３８】（１４）電位Ｖ１＝０であることを特徴と
する（１０）に記載の画像形成装置。

【００３９】（１５）像担持体としての被帯電体に帯電
処理工程を含む作像プロセスを適用して画像形成物を出
力させる画像形成装置において、表面が電位Ｖ_Dに帯電
された被帯電体に、デジタル画素信号に対応して変調し
た光により選択的に除電することで静電潜像を形成する
露光手段による露光で除電された露光部電位Ｖ_Lを接触
帯電を行なうことによって電位Ｖ１にまで帯電させる時
に接触帯電部材に流れる直流電流Ｉ_DCを測定し、これを
基にして電位Ｖ_Lを検知する手段と、被帯電体に形成さ
れた画像を転写材に転写する転写手段とを有し、前記直
流電流Ｉ_DC測定時は、前記被帯電体露光部電位Ｖ_Lの転
写部通過前後の電位変動が略０Ｖであるように前記転写
手段を制御することを特徴とする画像形成装置。

【００４０】（１６）電流Ｉ_DCの測定は、接触帯電部材
に電力を供給する電源に対して直流流入あるいは流出す
る電流で行なわれることを特徴とする（１５）に記載の
画像形成装置。

【００４１】（１７）転写手段の転写部材が被帯電体に
接触していることを特徴とする（１５）に記載の画像形
成装置。

【００４２】（１８）露光部電位Ｖ_L検知時は、転写手
段に印加する電圧を帯電された被帯電体表面電位Ｖ_Dと
０Ｖの間に制御することを特徴とする（１５）に記載の
画像形成装置。

【００４３】（１９）露光部電位Ｖ_L検知時に電気回路
上で転写部材を電気的にフロートにすることを特徴とす
る（１７）に記載の画像形成装置。

【００４４】（２０）露光部電位Ｖ_L検知時には転写部
材を被帯電体表面から物理的に離し接触させないことを
特徴とする（１７）に記載の画像形成装置。

【００４５】（２１）転写手段がコロナ放電を利用した
手段であることを特徴とする（１５）に記載の画像形成
装置。

【００４６】（２２）露光部電位Ｖ_L検知時には転写バ
イアスを０Ｖにすることを特徴とする（１７）に記載の
画像形成装置。

【００４７】

【００４８】

【００４９】

【００５０】

【００５１】

【００５２】

【００５３】

【００５４】

【００５５】

【００５６】

【００５７】

【００５８】

【００５９】

【００６０】

【００６１】

【００６２】

【００６３】

【００６４】

【００６５】

【作用】．接触帯電方式では接触帯電部材に流れる電
流はコロナ帯電器と違って全て被帯電体としての感光体
に供給されるから、この電流を検出することにより感光
体の状況検知、例えば感光体の厚み検知、感光体の露光
部電位Ｖ_Lの検知が可能である。

【００６６】これは、接触帯電部材によって感光体の表
面電位をＶcontrastだけ変化させた時に流れる帯電ＤＣ
電流Ｉ_DCを測定することによって、これと反比例する感
光体の膜厚等を検知する手法であり、先に述べたように
接触ＡＣ帯電を用いた場合、感光体表面電位を常に所望
の電位Ｖ_Dに収束させることができるため、Ｖcontrast
を環境等によらず一定に保つことができ、特に有利であ
る。

【００６７】これについて今少し説明すると、感光体の
状況の検知のための測定原理は、感光体の電位をある量
（Ｖcontrast）だけ変化させた時に、接触帯電部材に流
れる直流電流量を測定することにより求められる。

【００６８】感光体表面電位をＶcontrast変化させる時
に必要なＤＣ電流を論理的に計算すると以下のようにな
る。

【００６９】感光体の厚みをｄ、比誘電率を ε、真空中の誘電率を ε０、接触帯電部材の有効帯電幅をＬ、プロセススピードをＶｐとし、感光体表面電位をＶcontrast変化させる時に、以
下の関係式が導かれる。ここで、Ｃは帯電処理を受ける
感光体の静電容量を表している。

【００７０】帯電電荷量：Ｑ＝∫Ｉ・ｄｔ＝Ｃ・Ｖcontrast →帯電電流：Ｉ＝ｄ／ｄｔ（Ｖcontrast）ここで、ｄＣ／ｄｔ＝ε・ε０・Ｌ・Ｖｐ／ｄであるので、帯電電流：Ｉ＝ε・ε０・Ｌ・Ｖｐ・Ｖcontrast／ｄ ‥‥‥（１）式となる。これより、帯電電流Ｉはｄに反比例し、Ｖcont
rastに比例することがわかる。

【００７１】例えば、除電後の電位０Ｖから帯電電位Ｖ
_Dにまで帯電させたときに流れるＤＣ電流Ｉより、帯電
電位Ｖ_Dが既知のとき膜厚ｄが検知できる。

【００７２】更に膜厚ｄが既知のとき、露光部電位Ｖ_L
から帯電電位Ｖ_Dにまで帯電させたときに流れるＤＣ電
流Ｉより露光部電位Ｖ_Lが検知できる。

【００７３】．本発明では均一帯電された感光体に光
露光を行い、露光部電位Ｖ_Lを与えた後に、接触帯電を
行って電位を既知の電位Ｖ１にまで変化させ、感光体の
電位を一定量Ｖcontrast（｜Ｖ_L−Ｖ１｜）だけ変化さ
せたときに接触帯電部材に流れるＤＣ電流（帯電ＤＣ電
流）Ｉ_DCを測定し、この関係から露光部電位Ｖ_Lを検知
することを特徴とする。これによって感光体の環境、使
用状況、製造時の感度ばらつきを検知することも可能で
ある。

【００７４】そして露光部電位Ｖ_Lが所望の値と異なっ
ていたときに、露光手段を制御する。露光手段の制御は
電位Ｖ_Lが所望の値になるようにフィードバックをかけ
ることも可能であるし、意図的に異なった値に収束させ
ることもできる。

【００７５】また、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCはＶcontrastだけ
の関数ではなく、感光体の厚みｄによっても変化するた
め、あらかじめ感光体の厚みｄを検知しておき、より測
定の精度を上げることができる。

【００７６】本発明では、帯電部材に接触帯電部材を用
いているため、電源から接触帯電部材に流れ込む電流は
実際に帯電に寄与するＤＣ電流であり、従来方式では難
しかった感光体を含む負荷の上流側で帯電ＤＣ電流Ｉ_DC
の測定が可能である。

【００７７】このような構成を取ることによって、従来
のコロナ帯電器を用いた手法で問題になっていた、現像
手段，転写手段，トナーのクリーニングによって発生す
る誤差電流を簡単に除去できるようになり、露光部電位
Ｖ_Lや感光体膜厚ｄ等の感光体状況を精度良く検知する
ことが可能になった。

【００７８】．本発明は、前記検知された帯電ＤＣ電
流Ｉ_DCをもとに作像プロセス条件を調整（変化）させる
ことを特徴としており、これにより画像不良等の問題点
を軽減もしくは除去できる。

【００７９】．本発明は、感光体に形成された画像を
転写材に転写する転写手段を有する画像形成装置におい
て、前記検知された帯電ＤＣ電流Ｉ_DCから露光部電位Ｖ
_Lを検知する手段を具備させて、前記ＤＣ電流測定時
は、感光体の露光部電位Ｖ_Lに対して転写部通過前後の
電位変動が略０Ｖであるように転写手段を制御すること
を特徴としており、これによって感光体の環境，使用状
況，製造時の感度ばらつきを検知することも可能であ
る。

【００８０】そして露光部電位Ｖ_Lが所望の値と異なっ
ていたときに、露光手段を制御する。露光手段の制御
は、電位Ｖ_Lが所望の値になるようにフィードバックを
かけることも可能であるし、意図的に異なった値に収束
させることもできる。

【００８１】また、電流Ｉ_DCはＶcontrastだけの関数で
はなく感光体の厚みによっても変化するため、予め感光
体の厚みｄを検知しておき、より測定の精度を上げるこ
とができる。

【００８２】

【００８３】

【００８４】なお、電子写真装置においては、ユーザが
画像濃度，画像ライン幅調整をできるように濃度ボリュ
ーム（以下濃度のレベルを‘Ｆ値’と略す）が備えられ
ている。この手段としては、反転現像の場合、露光部電
位Ｖ_Lと現像バイアス電圧Ｖ_DCの差によって与えられる
現像コントラストを変化させる方法がある。この現像コ
ントラストを大きく取れば画像濃度が高く画像ライン幅
は太くなり、反対に小さく取れば画像濃度は薄く画像ラ
インは細くなる。

【００８５】また、現像バイアス電圧Ｖ_DCと帯電電位Ｖ
_Dとの差で与えられる反転コントラストの変化による反
転カブリや帯電ムラを防ぐために、Ｆ値によって現像バ
イアス電圧Ｖ_DCを変えたときは帯電電位Ｖ_Dも変えるよ
うな制御を行っている。

【００８６】一般的には、図２２に示すように、現像バ
イアス電圧Ｖ_DCと帯電電位Ｖ_Dとの設定値を変更する。
例えば代表的な値としては、Ｆ１（濃度最大）：Ｖ_DC1＝−６００Ｖ、Ｖ_D1＝−７５０ＶＦ１（濃度中央）：Ｖ_DC5＝−５００Ｖ、Ｖ_D5＝−７００ＶＦ１（濃度最小）：Ｖ_DC9＝−４００Ｖ、Ｖ_D9＝−６５０Ｖとなっており、Ｆ値に対応してＶ_D＝−６５０〜−７５０Ｖ、Ｖ_DC＝−４００〜−６００Ｖの範囲で任意の値をとる。

【００８７】接触帯電部材で感光体の状況を検知する際
には、Ｆ値に対応して帯電電位Ｖ_Dが変化するため前記
の（１）式中のＶcontrastが変化し、帯電電流Ｉを測
定しただけでは感光体の膜厚ｄや露光部電位Ｖ_Lが正し
く算出されないといった問題点が生じた。

【００８８】本発明は接触帯電部材に印加する直流電圧
を帯電電流測定時に検知することで、接触帯電を用いて
の感光体の状況検知を正しく行うことができ、上述の問
題を解消できた。

【００８９】

【００９０】

【００９１】

【実施例】［Ｉ］以下の第１乃至第３の実施例は前記特
許請求の範囲の請求項１乃至同８に記載の発明について
の実施例である。

【００９２】〈第１の実施例〉（図１〜図３）（１）画像形成装置例（図１）図１は本実施例の画像形成装置の概略構成図である。本
実施例の画像形成装置は電子写真プロセス利用のレーザ
ービームプリンターである。

【００９３】２は像担持体としての回転ドラム型の電子
写真感光体（被帯電体、ドラムとも記す）であり、矢示
の時計方向に所定のプロセススピード（周速度）をもっ
て回転駆動される。

【００９４】１は接触帯電部材としての帯電ローラであ
り、感光体２に並行に配列して不図示の加圧手段により
所定の押圧力をもって圧接させてあり、本例の場合は感
光体の回転に伴い従動回転する。この帯電ローラ１に対
して高圧電源１Ａより所定の帯電バイアスが印加される
ことで、回転感光体２の周面が所定の極性・電位に接触
帯電にて帯電処理される。高圧電源１Ａは帯電ローラ１
に対する印加電圧を変化させることが可能となってい
る。

【００９５】３はレーザスキャナであり、目的の画像情
報の時系列電気デジタル画素信号に対応して変調したレ
ーザー光Ｌを出力して上記帯電処理された回転感光体２
面を走査し感光体２面をイメージ露光する。これにより
感光体面のイメージ露光部分が除電されて目的の画像情
報に対応した静電潜像が感光体２面に形成される。

【００９６】次いでその静電潜像がトナー現像器４によ
って反転現像されて感光体２面のイメージ露光部にトナ
ーが付着することでトナー像として可視化される。４１
は現像ローラまたは現像スリーブである。４Ａは現像ロ
ーラ４１に対する現像バイアス印加高圧電源である。

【００９７】そのトナー像が感光体２と転写装置として
の転写ローラ５との圧接部である転写部において、不図
示の給紙機構部から所定のタイミングで転写部へ給送さ
れた転写材１１に対して順次に転写されていく。５Ａは
転写ローラ５に対して所定の転写バイアスを印加する高
圧電源である。

【００９８】転写部を通ってトナー像転写を受けた転写
材１１は回転感光体２面から分離されて熱定着ローラ対
７に導入されて転写トナー像の定着処理を受けて画像形
成物（プリント）として機外へ排出される。

【００９９】転写材１１へのトナー像転写後の回転感光
体２面はクリーニング器６のウレタン製カウンターブレ
ード６１によって転写残りトナー等の残留付着物がかき
落とされて清浄面化され、次の画像形成に繰り返し供さ
れる。

【０１００】本例のプリンターは感光体２・帯電ローラ
１・現像器４・クリーニング器６の４つのプロセス機器
を共通のカートリッジハウジング内に所定に配設して一
括してプリンター本体に対して着脱交換自在のプロセス
カートリッジ８としてある。該カートリッジ８をプリン
ター本体に対して所定に装着することでプリンター本体
側とカートリッジ８側とが所定に機械的・電気的にカッ
プリングして画像形成実行可能状態になる。

【０１０１】感光体２の感光層２ａは本例では負帯電の
ＯＰＣ（有機光導電体）であり、電荷発生層の上に厚さ
ｄ＝２５μｍの電荷輸送層（Carrier Transfer Layer：
以下ＣＴ層と略す）を配置し、直径３０ｍｍのアルミド
ラム２ｂ上に塗工したものである。本例では、ＣＴ層は
ヒゾラゾン系のＣＴ剤をバインダーとしてポリカーボネ
ート樹脂に分散したものを用いており、耐久通紙によっ
て少しずつ削れを生じる。

【０１０２】感光体２の回転周速即ちプロセススピード
は９５ｍｍ／ｓｅｃとしてある。

【０１０３】帯電ローラ１は芯金１ｃに同心一体にロー
ラ状に導電性ゴム層１ｂを形成し、その外周に高抵抗表
面層１ａを形成したものを用いた。高抵抗表面層１ａは
感光体２にピンホール等の低耐圧欠陥部が生じた場合、
この部分に帯電電流が集中し、帯電ローラ表面の電位が
降下して横筋の帯電不良になることを防ぐためのもので
ある。

【０１０４】レーザスキャナ３のレーザ光源としては７
８０ｎｍの半導体レーザを用いている。

【０１０５】現像器４は一成分磁性トナーを用いたジャ
ンピング現像方式のものを用いている。

【０１０６】転写ローラ５に対しては３ＫＶの転写バイ
アスを印加している。

【０１０７】なお、以上のプリンター構成は、以下に順
次に示す第２乃至第１２の実施例、及び第１乃至第６の
参考例のプリンターにおいても全て或は一部を除き共通
の構成である。

【０１０８】（２）感光体１の露光部電位Ｖ_Lの検知方
法（図２・図３）感光体表面電位をＶcontrast変化させるときに必要な帯
電ＤＣ電流（帯電電流）の理論的計算は前記作用の項の
で述べた（１）式の通りである。

【０１０９】前記（１）式において、ε，ε０，Ｌ，Ｖ
ｐ，ｄは定数とみなすことができるため、帯電電流Ｉは
ｄに反比例し、Ｖcontrastに比例することがわかる。

【０１１０】本実施例では、ε＝３、ε０＝８．８５×
１０^-12［Ｆ／ｍ］、Ｌ＝２３０ｍｍ、Ｖｐ＝９５ｍｍ
／ｓｅｃの値を用いる。また簡単のため、以後Ｋ＝ε・ε０・Ｌ・ＶｐＩ＝Ｋ・Ｖcontrast／ｄとする。

【０１１１】そこで、本実施例では接触ＡＣ帯電によっ
て感光体表面電位をＶ_Dにしておき、これに画像露光を
行うことによって得られた露光部電位Ｖ_Lを再びＶ_Dに帯
電するとき（ここではＶ１＝Ｖ_Dとする）、すなわち電
位をＶcontrast＝｜Ｖ_L−Ｖ_D｜変化させることにより流れる帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定す
ることにより、露光部電位Ｖ_Lを検知する。

【０１１２】特に、接触ＡＣ帯電を行うことによって電
位Ｖ_Lは安定して瞬時に電位Ｖ_Dに収束するため、本手法
は少ない誤差で測定を行うことができる。

【０１１３】本実施例では、この値を用いて、電位Ｖ_L
を一定に保つため露光量にフィードバックをかける。

【０１１４】以下に実際に画像出力を行った例を示す。

【０１１５】先に示した電子写真方式のプリンターは、
初期電位設定値がＶ_D＝−７００Ｖ、Ｖ_L＝−１５０Ｖであるが、１５°Ｃ×１０％ＲＨの低温低湿環境（以
下、Ｌ／Ｌ環境と略す）になると、ＣＴ層の移動度が低
下するため感度が悪くなり、Ｖ_L＝−１９０Ｖにまで上
昇する。

【０１１６】この結果、通常環境下では１９０ミクロン
に設定しておいたライン幅（３００ｄｐｉでの２ドット
ライン）が１７０ミクロンと細くなってしまった。この
ため、文字が細ってしまい、印字された字体が本来のフ
ォントと異なったように見え画像品質を低下させてしま
った。

【０１１７】そこで、本実施例では非画像形成時として
のプリントの前回転時に電位Ｖ_L検知行い、これを補正
することとした。

【０１１８】具体的なシーケンスを図２に示す。まず、
通常通り感光体表面を電位Ｖ_Dに帯電し、これに画像露
光を行う。これによって露光を受けた部分は電位Ｖ_Lに
除去されるが、この部分は再び帯電部を通過することに
よって電位Ｖ_Dにまで帯電される。この時、接触帯電部
材である帯電ローラ１に流れる帯電ＤＣ電流Ｉ_DCは感光
体表面を電位Ｖ_L→電位Ｖ_Dに帯電するための電流（図２
中、Ａ部の電流）であり、前記（１）式に示されるよう
に感光体膜厚ｄが既知であればこれを求めることができ
る。

【０１１９】そして、この値が本来必要とされる電位Ｖ
_Lの値と異なっている場合、露光量を変化させ、これが
環境、製造時の感度ばらつき等に関わらず一定に保たれ
るように図３のフローチャートに示されるような制御を
行う。

【０１２０】具体的に、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定には、
高圧回路１Ａの保護抵抗（１０ｋΩ）の両端のＤＣ電圧
を測定し、ＤＣコントローラに信号を送る。本実施例で
は誤差を少なくするために、測定はプリンター本体のシ
ーケンスに同期させて、レーザ露光を行い感光体の露光
部電位Ｖ_Lを電位Ｖ_Dに上げた後のドラム一回転分の信号
の平均化をした値を用いている。

【０１２１】また、電流Ｉ_DCの測定は先に述べた理由か
ら負荷の上流で行う必要があるため、本実施例では高圧
回路１Ａ内の抵抗両端電圧から電流の計算を行った。

【０１２２】まず、通常環境（２５°Ｃ×６５％ＲＨ：
以下、Ｎ／Ｎ環境と略す）で上記制御を行った時、電位
Ｖ_Lを電位Ｖ_Dにするための帯電ＤＣ電流Ｉ_DCは１２．８
μＡ流れた。前記（１）式よりＩ_DC＝Ｋ・Ｖcontrast／
ｄであり、ここではｄ＝２５μｍ、Ｖcontrast＝｜Ｖ_L
−Ｖ_D｜＝｜Ｖ_L−（−７００）｜とすると、Ｖ_L＝−１
５０Ｖと求めることができるため露光量に対して特別な
制御は行わない。

【０１２３】しかし、Ｌ／Ｌ環境では同様の測定を行っ
た時、Ｉ_DC＝１１．８μＡとなり、これより計算される
Ｖ_L＝−１９０Ｖとなった。図３のフローチャートに基
づき露光量のフィードバック制御を行い、初期値の２．
３μＪ／ｃｍ²から０．２μＪ／ｃｍ²づつ変化させた結
果、露光量２．６μＪ／ｃｍ²でＮ／Ｎ環境と同じ−１
５０ＶのＶ_L値を得ることができるようになった。従っ
て、その後の画像形成は露光量２．６μＪ／ｃｍ²に変
更して行ったところライン幅を目標の値をとすることが
でき、本制御を行わなかった場合のような画像品質の劣
化を防止することができた。

【０１２４】感光体２の製造時の感度ばらつきが生じた
場合にも、同様の制御を行うことによって電位Ｖ_Lを一
定に保つことができるため、本発明を電子写真装置に適
用すれば、露光量のメンテナンスフリーの実現が、また
カートリッジ方式の場合には感度コマを廃止することが
出来、印字品質の安定化、製造コストの低減等に多大な
効果を得ることができるようになった。

【０１２５】またこのように露光部電位Ｖ_Lを連続的に
変化させてフィードバックを行う方法の他にも、あらか
じめ数段階の可変レベルを設けておき、測定された電位
Ｖ_Lが目標値より低かった場合（例として、１０Ｖ以上
低かった時）には光量を１０％上げ、逆に高すぎた場合
（例として、１０Ｖ以上）には光量を１０％減じるとい
った、離散的な制御を行うことも可能である。

【０１２６】〈第２の実施例〉（図４〜図６）本実施例では、前記第１の実施例１と同様の制御を行う
が、前実施例のようにＶ１＝Ｖ_Dではなく、Ｖ１＝０Ｖ
として測定を行うことを特徴とし、測定の精度向上を目
的とする。

【０１２７】前記第１の実施例１の構成においても、通
常使用条件下では問題の無い測定を行う事ができるが、
感光体２は製造時や使用時にピンホールが生じてしまう
事がある。先に述べたように、接触帯電部材１に抵抗値
を持たせる事によって、画像に対してピンホールが与え
る影響を最小限にとどめているが、図４の（ａ）に示す
ようにピンホール２１に対してはリーク電流がある程度
流れ込む事は避けられない。

【０１２８】このリーク電流を露光部電位Ｖ_Lを検知す
るために測定する帯電ＤＣ電流と分離する事は難しいた
め、測定誤差を引き起こす可能性がある。

【０１２９】そこで、本実施例では前記第１の実施例の
ように感光体２の表面電位をＶ_LからＶ_Dに帯電する時に
流れる電流ではなく、接触帯電部材としての帯電ローラ
１によって電位Ｖ_Lから０Ｖに除電する時の電位を測定
する（図４の（ｂ））。この場合には、ＤＣ電圧的には
接触帯電部材１もピンホール部２１の電位も０Ｖである
ため本質的にリーク電流は流れない。

【０１３０】本実施例で測定を行うシーケンスについて
以下に述べる。

【０１３１】実験を行った装置構成，条件等は第１の実
施例と同じであるが、測定のシーケンス，フローチャー
トをそれぞれ図５・図６のように変更する。

【０１３２】感光体２ははじめ接触帯電部材１によって
電位Ｖ_Dにまで均一帯電され（接触ＡＣ帯電）、その
後、画像露光を行われる事によって電位Ｖ_Lにまで除電
を受ける。しかし、この電位Ｖ_Lは感光体の感度，環境
等で変化するため、これを補正するために露光量の制御
を行う。

【０１３３】本制御は、感光体電位をＶ_Lとした後に接
触帯電部材１に印加するＤＣ電圧を０Ｖとして０Ｖへの
除電を行う。この時、接触帯電部材１には感光体２を電
位Ｖ_L→０Ｖに除電するための帯電ＤＣ電流がドラム１
周分の時間だけ流れる（図５中のＢ部分）。この電流値
は前記（１）式でＶcontrast＝｜Ｖ_L−０Ｖ｜とした時
の値であるので、これからＶ_L＝Ｉ_DC／Ｋと求めること
ができる。

【０１３４】実際にピンホール２１が開いた感光体２
（Ｖ_L＝−１５０Ｖとなる感度を持った感光体）でＮ／
Ｎ環境下にて測定を行ったところ、第１の実施例では、
帯電ＤＣ電流にはピンホールに流れ込むリーク電流が含
まれてしまいＶ_L＝−７５Ｖと誤測定をしてしまったが
（第１の実施例の測定でＩ_DC＝１４．５μＡ）、本実施
例による制御を行うと、Ｉ_DC＝３．５μＡ（Ｖ_L＝−１
５０Ｖ）となり、リーク電流による誤測定を防止する事
に成功し、ピンホール２１が存在しても正しい値を測定
できることが判った。

【０１３５】実際に測定される帯電ＤＣ電流は上記のよ
うに数μＡと小さいため、リーク電流が測定に及ぼす影
響は大きく、本実施例の方法を用いる事によってより精
度の良い測定ができるようになった。

【０１３６】〈第３の実施例〉（図７）本実施例では、耐久通紙によって感光体２が削れた場合
に測定に及ぼす誤差の要因を防止するために、あらかじ
め感光体２の膜厚を検知し、その値によって電位Ｖ_Lの
補正を行う事を特徴とする。

【０１３７】前記第１及び第２の実施例のように、本発
明は環境，製造時における感光体の感度ふれ，ピンホー
ル等の要因によらず露光部電位Ｖ_Lを検知する事が可能
であり、これに基づいて露光量を制御し電位Ｖ_Lを所望
の値に補正する事が可能になる事が示されたが、先に述
べた（１）式から判るように、本発明において測定に用
いる帯電ＤＣ電流はＩ_DC＝Ｋ・Ｖcontrast／ｄだけであ
るため、電流Ｉ_DCからＶcontrastと膜厚ｄを分離する事
はできない。つまり、前実施例では耐久通紙等で感光体
膜厚ｄが変化した場合に測定誤差となる。

【０１３８】そこで、あらかじめ感光体２の膜厚ｄを検
知する。これは図７のフローチャートに示すように、ま
ず、接触帯電部材１にＡＣ電圧を印加しながらＤＣ電圧
をＶ２とし、感光体表面電位をＶ２に収束させる。次に
ＤＣ電圧をＶ３にまで変化させ、この時に流れる帯電Ｄ
Ｃ電流Ｉ_DC′を測定する。一般的には測定を単純化でき
るためＶ２＝０、Ｖ３＝Ｖ_Dとする事が好ましいが、異
なった値を使用する事も可能である。

【０１３９】従って、前記（１）式によりこの帯電ＤＣ
電流はＩ_DC′＝Ｋ・Ｖcontrast／ｄ（Ｖcontrast＝Ｖ２−Ｖ
３）となるため、ここから感光体膜厚ｄを検知する事が可能
である。

【０１４０】なお、ここで前記第２の実施例で示したピ
ンホール２１（図４）による誤測定の可能性を除去する
ために、０Ｖ→Ｖ_Dの帯電時ではなく、Ｖ_D→０Ｖへの除
電時電流を用いることもでき、この方が測定精度上好ま
しいのは前述した通りである。

【０１４１】以上のように感光体膜厚ｄを測定した後
は、前記第１もしくは第２の実施例と同様に露光部電位
Ｖ_Lの検知を行う。ただ、この時の帯電ＤＣ電流Ｉ_DCか
ら電位Ｖ_Lを算出する際は、膜厚検知工程で求めた感光
体膜厚ｄの値を用いて補正を行う。これは前記（１）式
のＩ_DC＝Ｋ・Ｖcontrast／ｄにｄを代入して計算を行え
ば良い。

【０１４２】具体的に本実施例の方法を用いて本制御を
行った例を示す。耐久通紙を８０００枚行った後に画像
出力を行った。まず、感光体膜厚検知のシーケンスを行
ったところ、０ＶからＶ_Dにまで帯電するためにＩ_DC′
＝２７．０μＡの電流が流れた。これを前記（１）式に
代入すると、Ｖcontrast＝−７００Ｖのため、ｄ＝１５
μｍと計算され、正しい膜厚を測定できた。

【０１４３】次に、前記第１の実施例の電位Ｖ_L検知の
シーケンスを行ったところ、Ｉ_DC＝１９μＡの電流が流
れた。この値を膜厚が２５μｍと仮定して電位Ｖ_Lを計
算すると、Ｖ_L＝＋１２０Ｖなり、負帯電のＯＰＣとし
て考えにくい値となった。

【０１４４】しかし、本実施例で、あらかじめ測定して
おいて膜厚ｄ＝１５μｍの値を使用して電位Ｖ_Lを計算
すると、Ｖ_L＝−２００Ｖとなった。

【０１４５】この状態で実際に測定器で電位測定を行う
とＶ_L＝−２００Ｖとなり、本方法で正しい測定が行え
ることが明らかになった。

【０１４６】以上述べたように、本実施例の手法を用い
る事により、耐久通紙等によって感光体膜厚ｄが変化し
た場合でも精度良く露光部電位Ｖ_Lを検知する事が可能
になった。

【０１４７】以上第１乃至第３の実施例に示したよう
に、本発明においては感光体露光部電位Ｖ_Lに対して接
触ＡＣ帯電を行い、これを帯電、または除電するときに
流れる帯電ＤＣ電流を測定する事によって電位Ｖ_Lを検
知する事が可能になった。そして、種々の要因での電位
Ｖ_L変動によって発生する画像品質の劣化を防止するた
めに露光手段を制御し、どんな条件下でも電位Ｖ_Lを一
定に保つ事が可能になった。

【０１４８】これは、従来のように電位測定装置など電
位Ｖ_Lを測定するための特別な手段を設けることなし
に、帯電ＤＣ電流の測定でけで本発明を実現することが
可能なため、低コストで信頼性の高い効果を得ることが
可能である。具体的には電子写真装置本体設置時等に行
っていた露光量調整のメンテナンスが不要になり、カー
トリッジ方式のプロセスユニットでは、それぞれの感光
体感度を装置本体に伝えるために従来設けられていた、
いわゆる「感度コマ」を廃止する事が可能になった。

【０１４９】［ＩＩ］以下の第４乃至第６の実施例は前
記特許請求の範囲の請求項９乃至同１２に記載の発明に
ついての実施例である。

【０１５０】〈第４の実施例〉（図８）本実施例において、帯電ＤＣ電流Ｉ_DC，露光部電位Ｖ_L
の測定・検知要領は前述第１乃至第３の実施例と同様で
ある。

【０１５１】前述のように帯電ＤＣ電流Ｉ_DCより露光部
電位Ｖ_Lを知ることが可能であり、特に接触ＡＣ帯電を
行なうことにより電位Ｖ_Lから安定して瞬時に電位Ｖ_Dに
収束するため本手法は少ない誤差で測定を行うことがで
きる。

【０１５２】また接触帯電方式であるがゆえに、接触帯
電部材から出力される電流がすべて感光体を帯電（除
電）する電荷量となるから、この電流を測定するだけで
帯電電流（除電電流）を直接検出することができ、コロ
ナ帯電器のようにシールド電流を分離したり、あるいは
現像の転写等を分離した感光体への流入電流を測定した
りする必要がなく、たいへん簡易に帯電電流が測定でき
る。

【０１５３】この検知された帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの値に応
じて、本実施例では、現像ローラ４１に印加する現像バ
イアスのＤＣ成分Ｖｄｅｖ．を変化させることを特徴と
している。すなわち現像コントラストが一定になるよう
に上記のＤＣ成分Ｖｄｅｖ．をコントロールすることに
なる。

【０１５４】先に示した電子写真方式のプリンターは前
述したようにジャンピング現像方式を用いており、現像
バイアスはＡＣ成分ピーク間電圧１６００Ｖ_PP、周波数１８００Ｈ_Z ＤＣ成分Ｖｄｅｖ．＝−５００Ｖであり、初期電位設定値がＶ_D＝−７００Ｖ、Ｖ_L＝−１
５０Ｖであるが、Ｌ／Ｌ環境になると、ＣＴ層の移動度
が低下するため感度が悪くなり、Ｖ_L＝−１９０Ｖにま
で上昇する。この結果、通常環境下では１９０ミクロン
に設定しておいたライン幅（３００ｄｐｉでの２ドット
ライン）が１７０ミクロンと細くなってしまった。この
ため、文字が細ってしまい、印字された字体が本来のフ
ォントと異なったように見え画像品質を低下させてしま
った。

【０１５５】そこで本実施例ではプリントの前回転時に
帯電ＤＣ電流Ｉ_DC測定を行ない、この検知された電流Ｉ
_DCに応じて現像バイアスのＤＣ成分Ｖｄｅｖ．を調整す
ることにした。

【０１５６】帯電ＤＣ電流Ｖ_Dの測定・検知シーケンス
は前述第１の実施例の図２と同じである。

【０１５７】そして検知された帯電ＤＣ電流Ｉ_DCにより
露光部電位Ｖ_Lを知ることができるから、この検知され
た電流Ｉ_DCの値に応じて現像バイアスのＤＣ成分Ｖｄｅ
ｖ．を変化させて画像形成のためのコントラストが一定
となるように図８のフローチャートで示されるような制
御を行なう。

【０１５８】具体的に帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定には、前
述したように高圧回路１Ａの保護抵抗（１０ＫΩ）の両
端のＤＣ電圧を測定し、コントローラに信号を送る。本
実施例では誤差を少なくするため、測定は本体のシーケ
ンスに同期させて、レーザ露光を行ないＶ_LをＶ_Dに上げ
た後のドラム一回転分の信号の平均化をした値を用いて
いる。

【０１５９】まず、Ｎ／Ｎ環境で上記制御を行なったと
き、電位Ｖ_Lを電位Ｖ_Dにするための帯電ＤＣ電流Ｉ_DCは
１２．８μＡ流れた。前記（１）式よりＩ_DC＝Ｋ・Ｖcontrast／ｄであり、ここではｄ＝２５μｍ、Ｖcontrast＝Ｖ_L−Ｖ_D＝Ｖ_L−（−７００Ｖ）とするとＶ_D＝−１５０Ｖと求めることができたため、現像バイアスＤＣ成分Ｖｄ
ｅｖ．は既定値のままである。

【０１６０】しかし、Ｌ／Ｌ環境では同様の測定を行な
ったとき、Ｉ_DC＝１１．８μＡとなり、これより露光部
電位Ｖ_L＝−１９０Ｖとなった。このため図８のフロー
チャートに基づきＶｄｅｖ．を計算によって−５４０Ｖ
に設定し、Ｎ／Ｎ環境と同じく画像形成のためのコント
ラストが３５０Ｖとなるようにした。従って、その後の
画像形成の結果、ライン幅を目標の値とすることがで
き、本制御を行なわなかった場合のような画像品質の劣
化を防止することができた。

【０１６１】感光体の製造時の感度ばらつきが生じた場
合にも同様の制御を行なうことにより、画像形成のため
のコントラストを一定に保つことができる。

【０１６２】〈第５の実施例〉（図９）本実施例は前記第４の実施例と同様に帯電ＤＣ電流Ｉ_DC
測定を行ない、検知された電流Ｉ_DCの値に応じて、ジャ
ンピング現像の現像バイアスのＡＣ成分の周波数Ｖｄｅ
ｖ．ｆを変化させる。帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの変化、すなわ
ち露光部部位Ｖ_Lの変化によるライン幅変化を上記周波
数Ｖｄｅｖ．ｆを調整させることで補正するものであ
る。

【０１６３】画像形成装置としてのプリンターは前記第
１の実施例のプリンター（図１）と同様であり、Ｎ／Ｎ
環境下での初期電位設定値がＶ_D＝−７００Ｖ、Ｖ_L＝−
１５０Ｖであるが、Ｌ／Ｌ環境下ではＶ_L＝−１９０Ｖ
まで上昇する。

【０１６４】そこで本実施例ではプリントの前回転時に
帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの検知を行ない、この検知されたＩ_DC
値に応じて前記周波数Ｖｄｅｖ．ｆを調整することにし
た。帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定方法は前記第４の実施例と
同様である。

【０１６５】具体的には図９のフローチャートに示され
るような制御を行なう。実際にＮ／Ｎ環境下で電流Ｉ_DC
検知を行なったところ、Ｉ_DC＝１２．８μＡ（Ｖ_L＝−１５０Ｖ）となったので、現像バイアスのＡＣ成分Ｖｄｅｖ．ｆ
（＝１８００Ｈ_Z）に対して調整は行わない。

【０１６６】しかし、Ｌ／Ｌ環境ではＩ_DC＝１１．８μ
Ａ（Ｖ_L＝−１９０Ｖ）となったため、図９のフローチ
ャートに基づきＶｄｅｖ．ｆを調整し、１８００Ｈ_Zか
ら１７００Ｈ_Zに変更した。これはらあらかじめ実験に
よりもとめたＩ_DC値とＶｄｅｖ．ｆとの関係を示すテー
ブルから引き出したものである。

【０１６７】従って、その後の画像形成はＶｄｅｖ．ｆ
を１７００Ｈ_Zに変更して行なったところ、ライン幅を
目標の値とすることができ、画像品質の劣化を防止する
ことができた。

【０１６８】〈第６の実施例〉（図１０）本実施例では検知された帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの値に応じて
接触帯電部材１に印加する帯電バイアスのＤＣ電圧（以
下Ｖ_C・_DC）を制御することを特徴としている。すなわち
検知された電流Ｉ_DCに応じてＶ_C・_DCを制御し、結果Ｖ_D
を変化させ所望の電流Ｉ_DCにフィードバックすることに
なる。

【０１６９】本実施例で用いるプリンターは前記第１の
実施例で用いたプリンター（図１）と同様で、Ｎ／Ｎ環
境下での初期電位設定値がＶ_D＝−７００Ｖ、Ｖ_L＝−１
５０Ｖであるが、Ｌ／Ｌ環境下ではＶ_L＝−１９０Ｖま
で上昇する。

【０１７０】そこで本実施例ではプリントの前回転時に
電流Ｉ_DC検知を行い、この検知された電流Ｉ_DCに応じ
て、Ｖ_C・_DCを調整することにした。

【０１７１】電流Ｉ_DCの測定方法は前記第４の実施例と
は異なり、電位Ｖ_Lから０Ｖへ除電されるときに流れる
帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定することにした。

【０１７２】具体的には前記第２の実施例で説明した図
５のシーケンスと同様に該シーケンスのＢの部分を測定
する。

【０１７３】この電流値は前記（１）式でＶcontrast＝
｜Ｖ_L−０｜とした時の値であるので、Ｖ_L＝ｄ・Ｉ_DC／
Ｋと求めることができる。

【０１７４】このようにして検知された電流Ｉ_DCの値が
所望のＩ_DCの値と異なっている場合、検知されたＩ_DCの
値に応じて、Ｖ_C・_DCを変化させ、よってＶ_Dを変化さ
せ、所望Ｉ_DCが得られるよう図１０のフローチャートに
示されるような制御を行う。

【０１７５】実際にＮ／Ｎ環境下で電流Ｉ_DC検知を行っ
たところＩ_DC＝３．５μＡ（Ｖ_L＝−１５０Ｖ）となっ
たので、Ｖ_C・_DC（＝−７００Ｖ）に対して特別な調整は
行わない。

【０１７６】しかし、Ｌ／Ｌ環境ではＩ_DC＝４．５μＡ
（Ｖ_L＝−１９０Ｖ）となったため図１０のフローチャ
ートに基づきＶ_C・_DCのフィードバック制御を行った。初
期値の−７００Ｖ（＝Ｖ_D）から１０Ｖずつ変化させた
結果、−６００Ｖで通常環境と同じＩ_DC＝３．５μＡ
（Ｖ_L＝−１５０Ｖ）を得ることができるようになっ
た。

【０１７７】従って、その後の画像形成はＶ_C・_DCを−６
００Ｖに変更して行ったところライン幅を目標の値とす
ることができ画像品質の劣化を防止することができた。

【０１７８】以上の第４乃至第６の実施例においては検
知された電流Ｉ_DCの値に応じて変化させる、電子写真プ
ロセス条件として、現像バイアスのＤＣ電圧、現像バイ
アスのＡＣ成分周波数、帯電バイアスを用いたが、現像
バイアスのＡＣ成分のピーク間電圧Ｖ_PPでもよい。また
上記の組み合わせも可能である。更に他の条件をして現
像ローラの対感光ドラムスピード、感光ドラム−現像ロ
ーラ間ギャップ、現像ブレード設定などの現像条件を選
ぶことができる。

【０１７９】以上の第４乃至第６の実施例のように、本
発明においては感光体露光部電位Ｖ_Lに対して、接触帯
電を行ない、これを帯電または除電するときに流れる帯
電（除電）ＤＣ電流Ｉ_DCを測定することによりこの検知
された帯電ＤＣ電流（除電）の値に応じて種々の作像プ
ロセス条件（電子写真プロセス条件）を変化させること
で種々の要因での露光部電位Ｖ_L変動によって発生する
画像品質の劣化防止を低コストで簡単に実現可能となっ
た。

【０１８０】［III］以下の第７乃至第１０の実施例
は前記特許請求の範囲の請求項１３乃至同１９に記載の
発明についての実施例である。

【０１８１】〈第７の実施例〉（図１１）本実施例における画像形成装置としてのプリンターの構
成は前述第１の実施例の図１のものと同様である。ただ
し、本実施例において感光体２の感光層２ａの電荷輸送
層（ＣＴ層）の厚さｄは２３μｍであり、プロセススピ
ードは４７．７ｍｍ／ｓｅｃである。また転写ローラ５
に対する転写バイアスは２ｋＶにしてある。

【０１８２】感光体の露光部電位Ｖ_Lの検知方法は前記
第１の実施例に述べたのと同様である。ただし本実施例
においては、接触帯電部材（帯電ローラ）１の有効帯電
幅Ｌは２７０ｍｍ、プロセススピードＶ_Pは上記のよう
に４７．７ｍｍ／ｓｅｃである。

【０１８３】本実施例では接触ＡＣ帯電において、感光
体表面に直流電圧−６００Ｖを印加して感光体表面電位
Ｖ１を−６００Ｖにした。次に画像露光をして感光体表
面電位（露光部電位）Ｖ_Lを−１２０Ｖにした。更に、
感光体表面に直流電圧−６００Ｖ印加して感光体表面電
位をＶ_LからＶ１に変化させた時に流れる帯電ＤＣ電流
Ｉ_DCを測定することでＶ_Lを検知する。

【０１８４】この際、転写部材である帯電ローラ５が感
光体表面電位Ｖ_Lに与える影響を防ぐ必要がある。

【０１８５】転写ローラ５が電位Ｖ_Lに与える影響につ
いて図１１により説明する。

【０１８６】転写ローラ５には、画像形成時にはスイッ
チ１０１が第１接点１０２に接続され、第１転写バイア
ス電源５Ａより２ｋＶの転写バイアスがかけられてい
る。電位Ｖ_L検知時にも画像形成時と同じこの２ｋＶの
転写バイアスを印加してしまうと感光体表面電位を帯電
（除電）してしまい、露光部電位Ｖ_Lへの影響は無視で
きないものとなる。

【０１８７】実際に、転写ローラ５を介して装着するこ
とによる露光部電位Ｖ_Lの変動を調べたところ、転写ロ
ーラ到達前の露光部電位Ｖ_Lは略設定値通りの−１２
０．２Ｖであったのに対し、転写ローラ通過後の露光部
電位Ｖ_Lは−１０２．６であり、１７．６Ｖの測定誤差
となって表れていた。

【０１８８】そこで、本実施例では転写ローラ５による
露光部電位Ｖ_Lへの影響を回避するために、帯電ＤＣ電
流Ｉ_DCを測定する時には図１１のスイッチ１０１を第２
接点１０３に切り換え、第２電源５Ｂにより露光部電位
Ｖ_Lと同等（本実施例では−１２０Ｖ）の転写バイアス
を印加することにした。

【０１８９】なお、上記の電位Ｖ_L測定時に転写ローラ
５に印加する第２電源５Ｂによる転写バイアスを、画像
形成時に転写ローラ５に印加する第１電源５Ａによる転
写バイアスと区別するために、「Ｖ_L検知時転写バイア
ス」と称することにする。

【０１９０】その結果、Ｖ_L検知時転写バイアスを露光
部電位Ｖ_L（設定値の−１２０Ｖ）にした時に転写電流
Ｉｔｒが略０（μＡ）になることが確認された。

【０１９１】望ましくは、本実施例のように、Ｉ_DC測定
転写バイアスを露光部電位Ｖ_Lの設定値と同じ電位にす
ることであるが、Ｖ_L検知時転写バイアスを０Ｖにして
も、測定された転写電流Ｉｔｒは略０μＡなので、感光
体膜厚ｄの検知、あるいは露光部電位Ｖ_Lの検知に対す
る測定誤差にはほとんど影響を及ぼさないレベルであっ
た。

【０１９２】実際に、Ｉ_DC測定転写バイアスを露光部電
位Ｖ_Lにする測定法で帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定してＶ_Lを
求めた。６０００枚の耐久試験後にＶcontrast（＝｜Ｖ
_L−Ｖ１｜）に流れた帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定し、前述
（１）式より算出したＶcontrastをもとにＶ１を求めた
ところ、−１４０．９Ｖであり、表面電位計で測定した
Ｖ_L時の感光体表面電位は−１３９．９Ｖであった。

【０１９３】そこで、露光量を２．０μＪ／ｃｍ²から
徐々に変えて２．２μＪ／ｃｍ²の時に同様の測定を行
ったところ、前記（１）式のＶcontrastから求めたＶ_L
は−１２０．３Ｖに対し、表面電位計で測定したＶ_Lは
１２０．６Ｖとなり、略一致した。

【０１９４】更に、露光量の制御を感度コマと同様にし
て、設定した露光部電位Ｖ_Lに対して誤差が±１５Ｖの
範囲内であれば露光量は初期設定値の２．０μＪ／ｃｍ
²のままにし、誤差が−１５〜−３０Ｖの場合には露光
量を２．２μＪ／ｃｍ²、誤差が＋１５〜＋３０Ｖの場
合には露光量を１．８μＪ／ｃｍ²にすることでも、従
来通りの画像品質を維持することが可能となり、制御法
としても簡単なものとなった。

【０１９５】従って、Ｉ_DC測定転写バイアスを露光部電
位Ｖ_Lと等しくして帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定することに
より、露光部電位Ｖ_Lを精度良く求めることができ、表
面電位を安定させて得るために露光量を制御するための
大きな装置を必要とせずに常に安定した電位Ｖ_Lを維持
することが可能になった。

【０１９６】その結果、ライン幅を常に目標の値にする
ことができ、本制御を行わなかった場合のような画像品
質の劣化を防止することができた。

【０１９７】感光体の製造時の感度ばらつきが生じた場
合には、同様の制御を行うことによって露光部電位Ｖ_L
を一定に保つことができるため、本発明を電子写真装置
に適用すれば、露光量のメンテナンスフリーの実現が、
カートリッジ方式の場合には感度コマを廃止することが
でき、印字品質の安定化、製造コストの低減等に多大な
効果を得ることができるようになった。

【０１９８】〈第８の実施例〉（図１２）本実施例は前記第７の実施例と同様の制御を行うが、本
実施例においては転写電流Ｉｔｒが流れないように電気
回路上で対策をとったものである。

【０１９９】つまり帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定する時にの
み図１２において、スイッチ１０１がフロート側の接点
１０４に接続されるような回路にすることで、電荷の流
れを止め、転写ローラ５と感光体２表面を同電位にする
ことで転写電流Ｉｔｒが流れるのを防止したものであ
る。

【０２００】本方式は回路上で切り替えるだけなので対
応が簡単であり、また、前記の第７の実施例のようにＩ
_DC測定転写バイアスを必要としないので、構成も簡単な
ものとなるという特徴を有している。

【０２０１】本方式で実際に６０００枚の耐久試験後の
帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定し、前記（１）式のＶcontrast
より露光部電位Ｖ_Lを算出したところ、露光量２．０μ
Ｊ／ｃｍ²のもとでは−１４１．２Ｖであり、表面電位
計で測定したＶ_L時の感光体表面電位−１３９．９Ｖに
対して１％以下の誤差範囲で測定ができた。

【０２０２】その後、前記の第７の実施例と同様のシー
ケンスで露光量を制御したところ、同様の結果が得られ
たので、本実施例の方式を用いることでも露光部電位Ｖ
_Lを精度良く検知でき、安定した露光部電位Ｖ_Lを維持す
ることが可能となった。

【０２０３】〈第９の実施例〉（図１３）本実施例は、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを転写ローラ５が感光体
２表面から離れている時に測定することを特徴とするも
のである。

【０２０４】構成としては図１３の（ａ）・（ｂ）に示
す通りである。転写時は（ａ）のように転写ローラ５は
転写ローラ軸受部材１４がソレノイド１２による電界効
果のため矢印ａの方向に押され、感光体２表面に当接し
て転写しているが、少なくとも露光部電位Ｖ_L測定時に
は（ｂ）のようにソレノイド１２による電界を止め、転
写ローラ５はバネ１３によって矢印ｂの方向に引かれ光
感光体２表面から離れるというものである。

【０２０５】帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定を、転写ローラ５
が感光体２表面から離れている時に行うことにより、転
写ローラ５による感光体２表面から離れている時に行う
ことにより、転写ローラ５が感光体２の表面電位変化を
完全に防止でき、更に、現行のシーケンスに組み込みよ
いという利点が上げられる。

【０２０６】前記（１）式のＶcontrast（＝｜Ｖ_L−Ｖ
１｜）に応じて流れるＤＣ電流Ｉ_DCをもとに電位Ｖ_Lを
検知し、電位Ｖ_Lを設定値に補正するために最適な露光
量に制御するという一連の流れを満足するために、紙間
では制御するための十分な時間が得られない、後回転時
では露光量の制御ができないという理由のため、帯電Ｄ
Ｃ電流Ｉ_DCの測定は前回転時に行った。

【０２０７】実際に前回転時に露光部電位Ｖ_Lの検知を
行い、転写ローラ５を感光ドラム２表面から離して帯電
ＤＣ電流Ｉ_DCを測定し、（１）式をもとに電位Ｖ_Lを算
出した。前記第８の実施例と同様６０００枚通紙耐久を
したカートリッジにて測定したところ、露光量２．０μ
Ｊ／ｃｍ²において算出されたＶ_Lは−１４０．３Ｖであ
り、表面電位計で測定したＶ_L時の感光体表面電位−１
３９．９Ｖとわずかな差が認められただけである。更
に、前記第７の実施例１と同様に露光量を制御したとこ
ろ設定値通りの露光部電位Ｖ_Lを得ることができた。

【０２０８】従って、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定時は転写
ローラ５を感光体表面５から離して測定することで、転
写ローラ５による影響を受けずに精度良い測定が可能と
なり、露光部電位Ｖ_Lの検知、更にはこの電位Ｖ_Lを安定
して維持することが可能になった。

【０２０９】〈第１０の実施例〉本実施例は図１における転写部材５としてコロナ転写を
使用している場合においても、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを精度
良く測定するために、帯電ＤＣ電流Ｉ_DC測定の際には、
転写バイアスを常にオフする対策をとった方式である。

【０２１０】現在、コロナ転写はコロナ帯電同様、オゾ
ンの発生という問題のためローラ転写に移行しつつある
ものの、高速機、大型機等で安定した転写を保ちたい、
あるいはコロナ転写は５〜７ｋＶの電圧を印加するもの
のプラス放電の場合、同レベルの電圧を印加するマイナ
ス放電のコロナ転写ほどオゾンが発生しない等の理由の
ため、コロナ転写が行われている場合が多かった。

【０２１１】コロナ転写の場合には、転写時における放
電のために感光体２の表面電位が変化してしまい、Ｖco
ntrast（＝Ｖ_L）測定における誤測定の要因になってし
まう。この誤測定を回避するために露光部電位Ｖ_Lを検
知する際には転写バイアスを常にオフにすることによ
り、コロナ転写のプラス電荷による感光体ドラム表面の
マイナス電荷への影響を防止する。

【０２１２】実際に電位Ｖ_Lを検知する際に転写バイア
スをオンの状態とオフの状態でのＶcontrast（＝｜Ｖ_L
−Ｖ１｜）を前記（１）式よりもとめ、それより電位Ｖ
_Lを算出したところ、未使用時でのカートリッジによる
測定では露光量２．０μＪ／ｃｍ²のもとでは転写バイ
アスをオンにした状態でのＶ_Lは−１０１．７Ｖであっ
たのに対し、転写バイアスをオフにした状態でのＶ_Lは
−１２０．２Ｖと設定値通りの値を示した。

【０２１３】転写バイアスをオンにした状態でＶ_Lを検
知してしまうと露光量が大きすぎると読み取ってしま
い、設定値の−１２０Ｖにするには露光量を１．８４μ
Ｊ／ｃｍ²に変更せねばならなくなるが、その露光量の
もとでは真のＶ_Lは−１４３．２Ｖとなり、結果として
得られた画像の品質はラインの細り等が認められた。

【０２１４】しかし、転写バイアスをオフにした状態で
あれば真の露光部電位Ｖ_Lを常に安定して検知できるた
め、ラインの細り等といった画像品質の劣化は認められ
なくなり、Ｖ_L検知においては極めて有効な手段である
ことが確認された。

【０２１５】以上第７乃至第１０の実施例で説明したよ
うに、本発明においては感光体露光部電位Ｖ_Lに対して
接触ＡＣ帯電を行い、これを帯電する時に流れるＤＣ電
流を測定する際に転写部材による誤測定の影響を防止す
ることが可能になった。その結果、種々の要因でのＶ_L
変動によって発生する画像品質の劣化を防止するために
露光手段を制御し、どんな条件下でもＶ_Lをより一層精
度良く一定に保つことが可能になった。

【０２１６】これは、従来のように電位測定装置等Ｖ_L
を測定するための特別な手段を設けることなしに、帯電
ＤＣ電流の測定だけで信頼性の高い効果を得ることが可
能である。具体的には、電子写真装置本体設置時等に行
っていた露光量調整のメンテナンスが不要になり、カー
トリッジ方式のプロセスユニットでは、それぞれ感光体
感度を装置本体に伝えるために従来設けられていた所謂
「感度コマ」を廃止することが可能になった。

【０２１７】［ＩＶ］以下の第１１及び第１２の実施例
は前記特許請求の範囲の請求項２０乃至同２２に記載の
発明についての実施例である。

【０２１８】〈第１１の実施例〉（図１４〜図１８）画像形成装置としてのプリンターの構成は前述第１の実
施例の図１のものと同様である。

【０２１９】次に本実施例での感光体膜厚の検知方法に
ついて述べる。

【０２２０】感光体２の接触ＡＣ帯電を行うため、帯電
ローラ１にはＤＣオフセット電圧にＡＣ電圧を重畳す
る。ＤＣ電圧としては、所望する感光体の暗部電位に相
当するＶ３＝−７００Ｖを用いる。

【０２２１】ＡＣ電圧としては、電位の収束化のために
は放電開始電圧Ｖｔｈの２倍以上のピーク間電圧が必要
であるため、本実施例ではピーク間電圧が１８００Ｖの
定電圧を用いた。この電圧については、帯電部材１のイ
ンピーダンス変化による影響を除去するためにＡＣ定電
流制御を行うことも可能である。

【０２２２】電子写真プロセスでは、画像形成を行う前
処理として、感光体２の電位的な履歴を除去するために
前回転時に除電を行うことが一般的である。この除電手
段としては、前露光を行うことも可能であるが、接触Ａ
Ｃ帯電を行う場合、電位の収束性を利用し、ＤＣ電圧を
Ｖ２＝０としてＡＣ電圧を重畳することによって感光体
の電位を０Ｖにすることが可能である。

【０２２３】次に画像形成のため、図１４のシーケンス
に示すようにＤＣオフセット電圧を本実施例ではＶ３＝
−７００として帯電を行うわけであるが、この時、感光
体表面電位をＶcontrast上昇させるために必要なＤＣ帯
電電流が図１５に示すように感光体１周分の間流れる。
−７００Ｖにまで一旦帯電された後は、感光体表面電位
の変化が無い限り（画像露光を行わず、暗減衰等を無視
すると）、帯電ＤＣ電流は流れない。

【０２２４】しかしながら転写ローラ５が感光体２に接
しているため、この転写ローラ５に印加された電圧によ
り感光体ドラム２を帯電または除電することになり、感
光体表面電位を変化させてしまう。

【０２２５】そこで、転写ローラ５に印加する電圧を帯
電ＤＣ電流検出時に上記感光体１周分のみ制御する必要
がある。ここで転写ローラ５が感光体２を帯電または除
電しないようにするには転写ローラ５に印加する電圧Ｖ
ｔｒと、感光体２の表面電位Ｖ２との差を転写ローラ５
が感光体２に対して帯電を開始する電圧Ｖａ以下にすれ
ば良い。

【０２２６】転写ローラ５が１０⁸〜１０¹⁰Ωｃｍの比
抵抗率をもつ中抵抗材料で形成されている場合、Ｖａは
約８００Ｖであるので｜Ｖｔｒ−Ｖ１｜≦８００とな
り、Ｖ２＝０Ｖなので、−８００≦Ｖｔｒ≦＋８００と
なる。

【０２２７】以上の説明は、Ｖ２＝０ＶをＶ３＝−８０
０Ｖに帯電する時に流れるＤＣ電流を検出する場合につ
いて行ってきたが、Ｖ２＝−７００ＶをＶ３＝０Ｖに除
電する場合についても同様な検知が行える。その場合Ｖ
２＝−７００Ｖなので、−１５００≦Ｖｔｒ≦＋１００
となる。

【０２２８】ここでＶｔｒは上記どの値も実際の転写電
圧（約＋４ｋＶ）とかなり異なる値であるため、本発明
の検知のために別の電圧値を設定する必要がある。特
に、Ｖｔｒ＝０Ｖとすれば別に印加電圧値を設定する必
要がなく、単に出力をオフするか、またはフロートにす
ることでも良い。

【０２２９】以上、述べたことについて図１４のシーケ
ンス図を用いて説明すると、Ｖ２＝０，Ｖ３＝−７００
の帯電時の場合、転写ローラ５にはＤＣ電流検知開始時
より時間Ｔ１だけ早くＶｔｒを感光体１周分のみ印加す
る。ここでＴ１はドラム上のある位置が転写位置から帯
電位置へ移動するのにかかる時間である。Ｖ２＝−７０
０，Ｖ３＝０の除電時についても同様に考えることがで
きる。

【０２３０】これまで感光体電位を変化させるものとし
て転写ローラ５のみについて述べてきたが、感光体２〜
紙を分離させるための分離帯電器を有している時はこれ
についても同様の制御を行う必要がある。

【０２３１】前記（１）式について、本実施例ではε＝
３、ε０＝８．８５×１０^-12［Ｆ／ｍ］、Ｌ＝２３０
ｍｍ、Ｖ_P＝９５ｍｍ／ｓｅｃ、Ｖ_D＝７００［Ｖ］であ
るため、ｄ＝２５μｍの時、Ｉ＝１６μＡとなる。

【０２３２】実際に、膜厚が異なる感光体２を用いて、
Ｈ／Ｈ環境），Ｎ／Ｎ環境，Ｌ／Ｌ環境の各環境でｄ−
Ｉの関係を測定した結果を図１７に示す。これを見て
も、理論通りｄ−Ｉの関係は環境に依存しないことが判
る。

【０２３３】この結果に基づき、感光体２の寿命と考え
られる１５μｍのＣＴ膜厚に対応する電流量を越えた場
合にドラム寿命を警告する手段を設ける。

【０２３４】図１７において、各環境共に１５μｍの膜
厚時に帯電に必要な電流量Ｉは２７μＡであるため、図
１８に示すようにＩによって１０ｋΩの抵抗Ｒ１の両端
に発生する電圧Ｖが２７μＡに相当する０．２７Ｖを越
えたときに、これに連動したプリンター本体前面の警告
灯を点灯することとする。

【０２３５】具体的には、高圧回路の保護抵抗（１０ｋ
Ω）Ｒ１のの両端の電圧Ｖを基準電圧Ｖｒｅｆ＝０．２
７Ｖと比較し、コンパレータ１５の出力があった時にＤ
Ｃコントローラ１６にドラム寿命の信号を送る。

【０２３６】なお、本実施例では電圧Ｖは本体のシーケ
ンスに同期させて、ＤＣオフセット電圧を０ＶからＶ_D
に上げた後の感光体一回転分の信号の平均化をした値を
用いている（図１５参照）。

【０２３７】実際に耐久試験を行なったところ、Ｖは耐
久通紙によって上昇し、各環境共に１０，０００枚通紙
して、ＣＴ層が１０μｍ削れ、残り１５μｍとなったと
きに警告を発し、過剰な削れによる画像不良の発生を未
然に防止することが可能になった。

【０２３８】また、本実施例は接触帯電方式であるの
で、帯電部材１に流れる電流がすべて感光体２を帯電
（除電）する電荷量となるため、この電流を測定するだ
けで帯電電流（除電電流）を直接検出することができ、
コロナ帯電器のようにシールド電流を分離したり、ある
いは現像・転写等を分離した感光体への流入電流を測定
したりする必要がなく、たいへん簡易である。

【０２３９】本実施例において転写装置として転写ロー
ラ５について述べたが、転写装置として、ブロック状の
もの、ベルト状のものを使用した場合についても同様で
ある。

【０２４０】〈第１２の実施例〉（図１９）前記第１１の実施例では接触転写方式について記述した
が、本実施例では図１９に示すように転写装置としてコ
ロナ転写帯電器５１を用いた場合について記述する。

【０２４１】本実施例においても感光体の膜厚を検知す
る方法は、前記第１１の実施例とほぼ同様にして行う。
前記実施例と異なる点は、帯電ＤＣ電流検出時のみコロ
ナ転写帯電器５１に印加する電圧Ｖｔｒをコロナ放電開
始電圧Ｖｂ以下とすることである。シーケンスは図１４
に示したものと同様である。また前記第１１の実施例と
同様に電流の検出時は帯電時でも除電時でも良い。

【０２４２】更に上記の電圧Ｖｔｒは０Ｖでも良く、こ
の場合は本発明の検知のために別の電圧を設定する必要
がなく、単に印加電圧をオフするだけで良い。

【０２４３】本実施例において、感光体電位を変化させ
るものとして、コロナ転写帯電器５１のみについて述べ
てきたが、感光体２から紙を分離するための分離帯電器
を有しているときは、これについても同様の制御を行う
必要があり、その場合は分離帯電器に印加する電圧ＶＳ
Ｐをコロナ放電開始電圧Ｖｂ以下とするか、またはグリ
ッドを有するときはグリッド電圧Ｖａを感光体２の表面
電位Ｖ２に等しくすることが望ましい。

【０２４４】以上第１１及び第１２の実施例に示したよ
うに、本発明においては接触ＡＣ帯電を行い、電圧が印
加される転写装置を有する画像形成装置において、被帯
電体の帯電電位を一定量Ｖcontrast帯電、または除電す
るときに接触帯電部材に流れるＤＣ電流を測定し、この
ＤＣ電流測定時の転写電圧を制御することにより感光体
の帯電電位を変化させることがないので正確に被帯電体
の膜厚を測定することができた。そしてこの膜厚がある
値以下になったときに警告を与えることによって、電子
写真における画像不良の発生を未然に防ぐことが可能に
なった。

【０２４５】この方法は従来のように感光体のアース側
に流れるＤＣ電流を測定する方法と異なり、帯電部材に
流れるＤＣ電流を測定するので帯電に寄与する電流のみ
を精度良く測定することができる。そして膜厚を測定す
るために特別な手段を設ける必要もないので、低コスト
で信頼性のある高い効果を得ることが可能である。

【０２４６】［Ｖ］以下に第1乃至第６の参考例を示
す。

【０２４７】〈第１の参考例〉（図２０）図２０は本参考例のプリンターの要部の該略図である。
本参考例では、帯電ローラ１にかかる一次バイアスの高
圧回路１Ａ中に、画像形成時に印加する高圧電源１Ａ₁
と、電流検知時に印加する高圧電源Ａ₂とを持ってい
る。

【０２４８】画像形成時には、一次バイアスの高圧回路
１Ａ中のスイッチＳがＡ側に入っており、Ａ側の高圧回
路１Ａ₁は現像バイアスと連動して、濃度ボリュームの
変更により帯電電圧Ｖ_D＝−６５０〜−７５０Ｖの範囲
で変化する。

【０２４９】一方、電流測定時には、１次バイアスの高
圧回路１Ａ中のスイッチＳをＢ側に切り換えて、帯電ロ
ーラ１にかかる電圧を一定の直流電圧Ｖ_Mにして、濃度
ボリュームの変更に関係なく、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定
できるようにした。

【０２５０】具体的に、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定には、
１次バイアスの高圧回路１Ａの保護抵抗Ｒ２の両端のＤ
Ｃ電流を測定する。また本参考例では誤差を少なくする
ために、測定は本体のシーケンスに同期させて、レーザ
露光後の露光部電位Ｖ_Lを直流定電圧Ｖ_M印加時の電位に
上げる際の、感光体回転分の信号を平均化した値を用い
る。

【０２５１】実際に帯電ＤＣ電流を測定してみたとこ
ろ、画像形成時の印加電圧で測定したときは濃度ボリュ
ームを変更することによってＩ_DC＝１１．６〜１３．９
μＡと変動していた帯電ＤＣ電流が、直流定電圧に切り
換えることによりＩ_DC＝１２．８μＡと、Ｆ値によらず
測定できた。

【０２５２】これより、本制御を行なうことによって、
Ｆ値の変更に影響されない簡易な測定装置の実現が可能
となり、濃度ボリュームの変更に対応するための測定装
置の複雑化やコストアップを除くことができた。

【０２５３】〈第２の参考例〉（図２１〜図２３）図２１は本参考例のプリンターの要部である濃度ボリュ
ームの概念図、図２２は濃度ボリュームを変えたとき
の、現像バイアス電圧Ｖ_DCと帯電電位Ｖ_Dの制御の概念
図である。

【０２５４】まず、ユーザが濃度ボリューム６０を変え
ると、その変化量がＡ／Ｄコンバータ６１により変換さ
れる。次に、その変化量に応じた現像バイアス電圧と帯
電電圧がＣＰＵ６２で計算され、制御信号がＤ／Ａコン
バータ６３を通じて各々の高圧電源１Ａ・４Ａに送られ
る。そして現像コントラストと反転コントラストが調整
された電圧が印加され、ユーザが望む画像濃度と画像ラ
イン幅になる。

【０２５５】一方、帯電電流を測定するため、画像形成
時に印加する電圧と測定時に印加する電圧を、ＣＰＵ６
２から出る制御信号を使って切り換える。

【０２５６】具体的には、画像形成時にはユーザの設定
した濃度ボリュームに従い、帯電ＤＣ電流測定時には１
次バイアス電源１Ａの帯電電圧を一定の直流電圧Ｖ_Mに
するようにＣＰＵの制御を行なう。

【０２５７】図２３に電流測定のシーケンスを示す。図
のように、画像信号の出ているときには一次ＤＣバイア
スを濃度ボリュームに合わせＶ_Dとし、非画像形成時で
は一定の帯電電圧Ｖ_Mとする。また、帯電ＤＣ電流の検
知期間は、除電後の電位０Ｖの感光体１に帯電電圧Ｖ_M
を印加し始めてからの感光体１周分とし、その間の測定
値の平均をとることにより精度を上げている。

【０２５８】実際に帯電電流を測定してみたところ、画
像形成時の印加電圧で測定したときは濃度ボリュームを
変更することによってＩ_DC＝１５．１〜１７．４μＡと
変動していた帯電ＤＣ電流が直流定電圧に切り換えるこ
とによりＩ_DC＝１６．２μＡと、Ｆ値のよらず測定でき
た。

【０２５９】これより本制御を行なうことによって、Ｆ
値の変更に影響されない測定装置の実現が可能となり、
濃度ボリュームの変更に対応するための測定装置の複雑
化やコストアップを除くことができた。

【０２６０】〈第３の参考例〉（図２４）本参考例では接触転写部材（転写ローラ）５を利用して
感光体の膜厚を検知しており、図２４はその要部図であ
る。

【０２６１】このプリンターはローラ形状の導電性接触
転写部材５にバイアスを印加し、加圧することによって
転写材にトナー像を転写している。この転写ローラ５は
転写財が介在しないときは感光体２に接触しているの
で、これを用いて感光体２の膜厚ｄを検知することが可
能である。

【０２６２】本参考例のプリンターでは、各種の転写材
によらずトナー像を良好転写するために、転写材の裏面
に一定以上の電荷を付与している。その方法として、転
写ローラ５にかけるバイアス条件を定電流制御としてい
る。また、転写電圧は反転現像なのでプラスであり、本
参考例で用いたＯＰＣ感光体２は負性なので正キャリア
を有するため、感光体２はプラス電圧に対して低抵抗に
なる。

【０２６３】従って、転写ローラ５、転写材の抵抗によ
って印加バイアスが変化するため前記（１）式中のＶco
ntrastが定まらず、さらに正バイアスでは（１）式にお
いてＩ＝Ｋ・Ｖcontrast／ｄの関係が成立しないため、
現状の転写バイアスのままでは膜厚の検知か不可能であ
った。

【０２６４】そこで本参考例では、感光体膜厚検知のた
めの電流測定時に、転写ローラ５にかける電圧を画像形
成時のプラス電流制御から切り換えマイナス定電圧と
し、測定を可能とした。

【０２６５】具体的に転写電流を測定するには、非画像
形成時に転写ローラ５のバイアスを電気的に定電圧側
（図２４中の高圧回路５ＡをスイッチＢ側）に切り替え
て行なう。また、転写ローラ５のバイアスは１次帯電と
同様にＡＣ＝１８００ｖｐｐ、５５０Ｈ_Z、ＤＣ＝−７
００ＶのＡＣ＋ＤＣ固定バイアスとし、高圧回路５Ａの
保護抵抗Ｒ１の両端のＤＣ電流を測定した。

【０２６６】実際に測定を行なったところ、本参考例の
制御を行なわなかった時（図２４中、スイッチＡ側）に
は測定不可能であったＤＣ電流が、上記の定電圧を印加
して制御することによって、Ｉ_DC＝１６．２μＡと測定
でき、前記（１）式より計算して膜厚ｄ＝２５μｍと計
算できた。この感光体１の膜厚を測定すると２５μｍあ
り、本参考例の制御による測定の正しいことがわかっ
た。

【０２６７】これより、転写ローラ５での膜厚測定が、
本参考例での制御を行なうことによって可能となった。

【０２６８】以上第１乃至第３の参考例に示したよう
に、接触帯電部材を用い、被帯電体の帯電電位を一定量
Ｖcontrast帯電、または除電する時に流れるＤＣ電流を
測定する際に、電子写真プロセスの諸設定に関わらず印
加電圧を一定とすることによって、プロセス設定の違い
に対応するための測定装置の複雑化を抑え、被帯電体の
露光部電位Ｖ_Lや膜厚ｄを低コストで測定することが可
能となった。

【０２６９】

【０２７０】〈第４の参考例〉（図２５）図２５は本参考例のプリンターの要部の概略図である。
本参考例では、帯電ローラ１にかかる一次バイアスの高
圧回路１Ａ中に帯電電位である直流電圧Ｖ_Dを測定する
回路と、帯電ＤＣ電位Ｉ_DCを測定する回路を合わせ持つ
ことを特徴としている。

【０２７１】一次バイアスの直流成分である電圧Ｖ_Dは
現像バイアスと連動して濃度ボリュームの変更にともな
い、Ｖ_D＝−６５０〜−７５０Ｖの範囲で変化する。こ
のため前記（１）式中のＶcontrastが定まらず、帯電Ｄ
Ｃ電流Ｉ_DCを測定するだけでは、感光体の膜厚ｄ・露光
部電位Ｖ_Lを正しく検知することはできなかった。

【０２７２】そこで画像測定時には一次バイアスの高圧
回路中のスイッチをＡ側に入れて、直流電圧Ｖ_Dを測定
しておき、電流測定時にはスイッチをＢ側に切り換え
て、一次バイアスの高圧回路の保護抵抗Ｒ３の両端の直
流電圧を測定し帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを算出する。こうして
測定したＶ_Dと帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを用いて前記（１）式
より感光体の膜厚ｄ・露光部電位Ｖ_Lを検知する。

【０２７３】実際に測定した一例として膜厚ｄを検知し
た例を示す。

【０２７４】膜厚のわかっている（ｄ＝２５μｍ）感光
体を用いて除電後の電位０ＶからＶ_D印加時の電位に上
げる際の帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを測定すると、濃度ボリュー
ムに応じてＩ_DC＝１５．１〜１７．４μＡと測定され
る。Ｖ_Dを検知しないで演算しようとするとＶ_Dの値がわ
からないので代表値Ｖ_D＝−７００Ｖで計算したところ
膜厚ｄ＝２３．３〜２６．９μｍと下値によって膜厚が
かわってしまった。そこで本制御を行ないＶ_Dを測定し
た後スイッチを切り換えて帯電電流Ｉ_DCを測定し、計算
したところ、膜厚ｄ＝２５μｍと下値によらず検知でき
た。

【０２７５】これより、本制御を行なうことによって、
濃度ボリュームの変更による電子写真プロセスの諸設定
の違いに合わせて感光体の状況検知を正しく行なうこと
が可能となった。

【０２７６】〈第５の参考例〉（図２６・図２７）図２６は本参考例のプリンターの要部の概略図である。
本参考例のプリンターでは接触ＡＣ帯電を用いている。
また現像バイアス高圧回路５Ａ中に直流電圧を測定する
回路を持つことを特徴としている。

【０２７７】画像形成時には現像バイアスの直流電圧Ｖ
_DCは一次バイアス高圧回路１Ａの直流電圧Ｖ_Dと連動し
て、濃度ボリュームの変更により現像電圧Ｖ_DC＝−４００〜−６００Ｖ、一次バイアス直流電圧Ｖ_D＝−６５０〜−７５０Ｖの範囲で図２７のように変化する。

【０２７８】一方、電流測定時には現像ローラ４１にか
かる現像バイアスの直流電圧Ｖ_DCを電圧計で測定し、
この現像電圧Ｖ_DCの測定値と図２７の関係からＶ_Dを検
知する。そして同時に電圧計で測定した一次バイアス
の保護抵抗Ｒ３の両端の電圧から帯電ＤＣ電流Ｉ_DCを算
出し、このＩ_DCとＶ_Dを用いて前記（１）式より感光体
の膜厚ｄ、露光部電位Ｖ_Lを検知する。

【０２７９】具体的に、帯電ＤＣ電流Ｉ_DCの測定には図
２６に示すように一次バイアスの高圧回路１Ａの保護抵
抗Ｒ３の両端の直流電圧を測定し算出する。また本参考
例では誤差を少なくするために、測定は本体のシーケン
スに同期させてレーザ露光後の露光部電位Ｖ_Lまたは除
電後の電位０Ｖから、Ｖ_D印加時の電位に上げる際の感
光体一回転分の信号を平均化した値を用いる。

【０２８０】実際に測定した一例として露光電位Ｖ_Lを
検知した例を示す。濃度ボリュームを変更するとそれに
応じて帯電ＤＣ電流Ｉ_DC＝１１．６〜１３．９μＡと測
定される。Ｖ_Dの値を代表値Ｖ_D＝−７００Ｖのままで計
算したところ、Ｖ_L＝−１００〜−２００ＶとＦ値によ
ってＶ_Lが変わってしまった。

【０２８１】そこで本制御を行ない帯電電流測定と同時
に現像電圧Ｖ_DCを測定し、これより算定したＶ_Dを用い
て計算したところＶ_L＝−１５０ＶとＦ値によらず検知
できた。

【０２８２】これより本制御を行なうことによって濃度
ボリュームの変更による電子写真プロセスの諸設定の違
いに合わせた感光体の状況検知を正しく行なうことが可
能となった。

【０２８３】〈第６の参考例〉（図２８）図２８は本参考例のプリンターの要部である濃度ボリュ
ームの概念図を示している。

【０２８４】まず、ユーザが濃度ボリューム６０を変え
るとその変化量がＡ／Ｄコンバータ６１により変換され
る。次にその変化量に応じた現像バイアス電圧と帯電電
圧がＣＰＵ６２で計算され、制御信号がＤ／Ａコンバー
タ６３を通じて各々の高圧電源１Ａ・４Ａに送られる。
そして現像コントラストと反転コントラストの調整され
た電圧が印加され、ユーザが望む画像濃度と画像ライン
幅になる。

【０２８５】そこで本実施例では濃度ボリュームの変化
量をＡ／Ｄコンバータ６１からＣＰＵ６２に送る信号、
またはＣＰＵ６２からＤ／Ａコンバータ６３に送る制御
信号を読み取り、この値から帯電時に印加する直流電圧
Ｖ_Dを検知することを特徴とする。

【０２８６】ただし図２８に示したのはＡ／Ｄコンバー
タ６１からＣＰＵ６２に送る信号を読み取った例であ
る。

【０２８７】そしてこの直流電圧Ｖ_Dの値を用いて同時
に測定した帯電ＤＣ電流Ｉ_DCより感光体の膜厚ｄ、露光
部電位Ｖ_Lを検知する。

【０２８８】このような制御を行なうことによって前記
第４及び第５の参考例と同様に、濃度ボリュームの変更
による電子写真プロセスの諸設定に変化があっても、感
光体の状況検知を正しく行うことが可能となった。

【０２８９】以上第４乃至第６の参考例のように、接触
帯電部材を用い被帯電体の帯電電位を一定量Ｖcontrast
帯電または除電するときに流れる直流電流を測定する際
に、あらかじめ帯電電位に相当する接触帯電装置に印加
する直流電圧を検知し、その電圧値を用いて感光体膜
厚、露光部電位Ｖ_Lを演算する手段を設けることによ
り、電子写真プロセスの諸設定に変化があっても被帯電
体の膜厚や露光部電位Ｖ_Lを正しく測定することが可能
となった。

【０２９０】

【発明の効果】本発明においては、像担持体としての被
帯電体（感光体）の露光部電位Ｖ_Lに対して接触ＡＣ帯
電を行い、これを帯電、または除電するときに流れる帯
電ＤＣ電流を測定する事によって電位Ｖ_Lを検知する事
が可能になった。そして、種々の要因での電位Ｖ_L変動
によって発生する画像品質の劣化を防止するために露光
手段を制御し、どんな条件下でも電位Ｖ_Lを一定に保つ
事が可能になった。

【０２９１】これは、従来のように電位測定装置など電
位Ｖ_Lを測定するための特別な手段を設けることなし
に、帯電ＤＣ電流の測定でけで本発明を実現することが
可能なため、低コストで信頼性の高い効果を得ることが
可能である。具体的には電子写真装置本体設置時等に行
っていた露光量調整のメンテナンスが不要になり、カー
トリッジ方式のプロセスユニットでは、それぞれの感光
体感度を装置本体に伝えるために従来設けられていた、
いわゆる「感度コマ」を廃止する事が可能になった。

【０２９２】前述のように帯電ＤＣ電流Ｉ_DCより露光部
電位Ｖ_Lを知ることが可能であり、特に接触ＡＣ帯電を
行なうことにより電位Ｖ_Lから安定して瞬時に電位Ｖ_Dに
収束するため本手法は少ない誤差で測定を行うことがで
きる。

【０２９３】また接触帯電方式であるがゆえに、接触帯
電部材から出力される電流がすべて感光体を帯電（除
電）する電荷量となるから、この電流を測定するだけで
帯電電流（除電電流）を直接検出することができ、コロ
ナ帯電器のようにシールド電流を分離したり、あるいは
現像の転写等を分離した感光体への流入電流を測定した
りする必要がなく、たいへん簡易に帯電電流が測定でき
る。

【０２９４】本発明においては、感光体露光部電位Ｖ_L
に対して、接触帯電を行ない、これを帯電または除電す
るときに流れる帯電（除電）ＤＣ電流Ｉ_DCを測定するこ
とによりこの検知された帯電ＤＣ電流（除電）の値に応
じて種々の作像プロセス条件（電子写真プロセス条件）
を変化させることで種々の要因での露光部電位Ｖ_L変動
によって発生する画像品質の劣化防止を低コストで簡単
に実現可能となった。

【０２９５】本発明においては、感光体露光部電位Ｖ_L
に対して接触ＡＣ帯電を行い、これを帯電する時に流れ
るＤＣ電流を測定する際に転写部材による誤測定の影響
を防止することが可能になった。その結果、種々の要因
でのＶ_L変動によって発生する画像品質の劣化を防止す
るために露光手段を制御し、どんな条件下でもＶ_Lをよ
り一層精度良く一定に保つことが可能になった。

【０２９６】これは、従来のように電位測定装置等Ｖ_L
を測定するための特別な手段を設けることなしに、帯電
ＤＣ電流の測定だけで信頼性の高い効果を得ることが可
能である。具体的には、電子写真装置本体設置時等に行
っていた露光量調整のメンテナンスが不要になり、カー
トリッジ方式のプロセスユニットでは、それぞれ感光体
感度を装置本体に伝えるために従来設けられていた所謂
「感度コマ」を廃止することが可能になった。

【０２９７】本発明においては、接触ＡＣ帯電を行い、
電圧が印加される転写装置を有する画像形成装置におい
て、被帯電体の帯電電位を一定量Ｖcontrast帯電、また
は除電するときに接触帯電部材に流れるＤＣ電流を測定
し、このＤＣ電流測定時の転写電圧を制御することによ
り感光体の帯電電位を変化させることがないので正確に
被帯電体の膜厚を測定することができた。そしてこの膜
厚がある値以下になったときに警告を与えることによっ
て、電子写真における画像不良の発生を未然に防ぐこと
が可能になった。

【０２９８】この方法は従来のように感光体のアース側
に流れるＤＣ電流を測定する方法と異なり、帯電部材に
流れるＤＣ電流を測定するので帯電に寄与する電流のみ
を精度良く測定することができる。そして膜厚を測定す
るために特別な手段を設ける必要もないので、低コスト
で信頼性のある高い効果を得ることが可能である。

【０２９９】本発明においては、接触帯電部材を用い、
被帯電体の帯電電位を一定量Ｖcontrast帯電、または除
電する時に流れるＤＣ電流を測定する際に、電子写真プ
ロセスの諸設定に関わらず印加電圧を一定とすることに
よって、プロセス設定の違いに対応するための測定装置
の複雑化を抑え、被帯電体の露光部電位Ｖ_Lや膜厚ｄを
低コストで測定することが可能となった。

【０３００】本発明においては、接触帯電部材を用い被
帯電体の帯電電位を一定量Ｖcontrast帯電または除電す
るときに流れる直流電流を測定する際に、あらかじめ帯
電電位に相当する接触帯電装置に印加する直流電圧を検
知し、その電圧値を用いて感光体膜厚、露光部電位Ｖ_L
を演算する手段を設けることにより、電子写真プロセス
の諸設定に変化があっても被帯電体の膜厚や露光部電位
Ｖ_Lを正しく測定することが可能となった。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施例の画像形成装置（レーザビーム
プリンター）の概略図

【図２】露光部電位検知、帯電ＤＣ電流測定シーケン
ス図

【図３】制御フローチャート

【図４】（ａ）はピンホールへのリーク電流の説明
図、（ｂ）は第２の実施例装置における帯電ＤＣ電流測
定要領説明図

【図５】測定のシーケンス図

【図６】測定のフローチャート

【図７】第３の実施例装置の感光体膜厚検知のフロー
チャート

【図８】第４の実施例装置の制御フローチャート

【図９】第５の実施例装置の制御フローチャート

【図１０】第６の実施例装置の制御フローチャート

【図１１】第７の実施例装置の要部の概略図

【図１２】第８の実施例装置の要部の概略図

【図１３】（ａ）及び（ｂ）は第９の要部の概略図

【図１４】第１１の実施例装置の制御シーケンス図

【図１５】膜厚検知に用いる一次ＤＣ電流波形

【図１６】電圧印加要領図

【図１７】感光体膜厚ｄと帯電ＤＣ電流Ｉの関係を表
わすグラフ

【図１８】一次ＤＣ電流検知構成回路の概念図

【図１９】第１２の実施例装置の概略構成図

【図２０】第１の参考例装置の要部の概略図

【図２１】第２の参考例装置の制御系のブロック図

【図２２】濃度ボリュームを変えたときの、現像バイ
アス電圧と帯電電位の制御の概念図

【図２３】制御のシーケンス図

【図２４】第３の参考例装置の要部の概略図

【図２５】第４の参考例装置の要部の概略図

【図２６】第５の参考例装置の要部の概略図

【図２７】濃度ボリュームを変えたときの、現像バイ
アスと帯電電圧の制御の概念図

【図２８】第６の参考例装置の制御系のブロック図

【符号の説明】

１接触帯電部材（帯電ローラ）２被帯電体（感光体）３レーザスキャナ４現像器５転写ローラ６クリーニング器７定着ローラ８プロセスカートリッジ１Ａ・４Ａ・５Ａバイアス印加電源

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者橋本典夫東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者渋谷卓史東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者古屋正東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (56)参考文献特開平４−9883（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G03G 15/00 G03G 15/02 G03G 15/04 G03G 15/043 G03G 15/06

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】感光体と、感光体と接触し直流成分と交
流成分が重畳した電圧が印加される帯電部材と、帯電部
材により帯電された感光体を、デジタル画素信号に対応
して変調した光により選択的に除電することで静電潜像
を形成する露光手段と、静電潜像を現像する現像手段
と、感光体上の現像像を転写材に転写する転写手段と、
を有し、帯電部材は転写後電位を除去されていない感光
体を帯電する画像形成装置において、前記帯電手段により表面を電位Ｖ_Dに帯電した感光体に
前記露光手段による露光で除電された露光部電位Ｖ_L部
を帯電部材により所定電位Ｖ１に帯電させるときに帯電
部材に流れる直流電流Ｉ_DCを測定し、この測定値を元に
電位Ｖ_Lを検知することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】電流Ｉ_DCの測定は、接触帯電部材に電力
を供給する電源に対して直接流入あるいは流出する電流
で行なわれることを特徴とする請求項１に記載の画像形
成装置。
【請求項３】検知した露光部電位Ｖ_Lを基にして露光
手段の条件を制御することを特徴とする請求項１に記載
の画像形成装置。
【請求項４】露光手段の制御対象が光量（光強度）で
あることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】あらかじめ接触帯電部材によって感光体
の表面電位を電位Ｖ２から電位Ｖ３に変化させるときに
流れる直流電流Ｉ_DC′を測定することによって感光体の
膜厚ｄを検知し、これに基づいて露光部電位Ｖ_Lを検知
することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項６】接触帯電部材に印加する電圧が、所望す
る感光体の電位に相当する直流成分と、感光体の帯電開
始電圧Ｖ_thの２倍以上のピーク間電圧を持つ交流成分を
重畳したものであることを特徴とする請求項１に記載の
画像形成装置。
【請求項７】接触帯電部材に印加する電圧の直流成分
を電圧Ｖ２と電圧Ｖ３に切り換える手段を有することを
特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項８】電圧Ｖ１＝０であることを特徴とする請
求項１に記載の画像形成装置。
【請求項９】接触帯電部材がローラ形状を成している
ことを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項１０】感光体と、感光体と接触し直流成分と
交流成分が重畳した電圧が印加される帯電部材と、帯電
部材により帯電された感光体を、デジタル画素信号に対
応して変調した光により選択的に除電することで静電潜
像を形成する露光手段と、静電潜像を現像する現像手段
と、感光体上の現像像を転写材に転写する転写手段と、
を有し、帯電部材は転写後電位を除去されていない感光
体を帯電する画像形成装置において、前記帯電手段により表面を電位Ｖ_Dに帯電した感光体に
前記露光手段による露光で除電された露光部電位Ｖ_L部
を帯電部材により所定電位Ｖ１に帯電させるときに帯電
部材に流れる直流電流Ｉ_DCを測定し、この測定値に応じ
て作像プロセス条件を制御することを特徴とする画像形
成装置。
【請求項１１】電流Ｉ_DCの測定は、接触帯電部材に電
力を供給する電源に対して直接流入あるいは流出する電
流で行なわれることを特徴とする請求項１０に記載の画
像形成装置。
【請求項１２】作像プロセス条件の変化対象が現像バ
イアス条件であることを特徴とする請求項１０に記載の
画像形成装置。
【請求項１３】作像プロセス条件の変化対象が帯電バ
イアスであることを特徴とする請求項１０に記載の画像
形成装置。
【請求項１４】電位Ｖ１＝０であることを特徴とする
請求項１０に記載の画像形成装置。
【請求項１５】像担持体としての被帯電体に帯電処理
工程を含む作像プロセスを適用して画像形成物を出力さ
せる画像形成装置において、表面が電位Ｖ_Dに帯電された被帯電体に、デジタル画素
信号に対応して変調した光により選択的に除電すること
で静電潜像を形成する露光手段による露光で除電された
露光部電位Ｖ_Lを接触帯電を行なうことによって電位Ｖ
１にまで帯電させる時に接触帯電部材に流れる直流電流
Ｉ_DCを測定し、これを基にして電位Ｖ_Lを検知する手段
と、被帯電体に形成された画像を転写材に転写する転写手段
とを有し、前記直流電流Ｉ_DC測定時は、前記被帯電体露
光部電位Ｖ_Lの転写部通過前後の電位変動が略０Ｖであ
るように前記転写手段を制御することを特徴とする画像
形成装置。
【請求項１６】電流Ｉ_DCの測定は、接触帯電部材に電
力を供給する電源に対して直流流入あるいは流出する電
流で行なわれることを特徴とする請求項１５に記載の画
像形成装置。
【請求項１７】転写手段の転写部材が被帯電体に接触
していることを特徴とする請求項１５に記載の画像形成
装置。
【請求項１８】露光部電位Ｖ_L検知時は、転写手段に
印加する電圧を帯電された被帯電体表面電位Ｖ_Dと０Ｖ
の間に制御することを特徴とする請求項１５に記載の画
像形成装置。
【請求項１９】露光部電位Ｖ_L検知時に電気回路上で
転写部材を電気的にフロートにすることを特徴とする請
求項１７に記載の画像形成装置。
【請求項２０】露光部電位Ｖ_L検知時には転写部材を
被帯電体表面から物理的に離し接触させないことを特徴
とする請求項１７に記載の画像形成装置。
【請求項２１】転写手段がコロナ放電を利用した手段
であることを特徴とする請求項１５に記載の画像形成装
置。
【請求項２２】露光部電位Ｖ_L検知時には転写バイア
スを０Ｖにすることを特徴とする請求項１７に記載の画
像形成装置。