JP3233539B2 - 半導体装置及び半導体回路 - Google Patents
半導体装置及び半導体回路Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，電界効果トランジスタ
を単独、又は複数並列接続してなる半導体装置及び半導
体回路に関する。
を単独、又は複数並列接続してなる半導体装置及び半導
体回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】電界効果トランジスタ（以下ＦＥＴとい
う。）は比較的簡単な駆動回路で大きな電力を高周波で
スイッチングできるなどの理由から、負荷への電力を制
御する電力制御素子として用いられることが多い。単一
のＦＥＴチップでは所要の電力を扱えない場合には、図
４に示すように、例えば３つのＦＥＴチップ１〜３を単
一の基板上に搭載して並列接続してなるＦＥＴモジュー
ル１で負荷２への電力の制御を行う。このような一般的
なＦＥＴモジュール１は、主電流端子となるドレイン端
子Ｄとソース端子Ｓ，制御信号端子となるゲート端子Ｇ
とソース信号端子ＳG を有する。また、寄生振動を防止
するためにＦＥＴモジュール１の各ＦＥＴチップ１〜３
のゲート端子Ｇとゲート電極（図示せず）間それぞれに
直列に抵抗ＲG1、ＲG2、ＲG3を備えている。各ＦＥＴチ
ップのドレインは一緒にドレイン端子Ｄに接続され、ま
たソースは一緒にソース端子Ｓに接続される。実際のＦ
ＥＴモジュールでは、図示していないが、各ＦＥＴチッ
プのソース領域はソース電極パターン又はボンディング
ワイヤなどを通して一緒にソース端子Ｓに接続されてい
るので、比較的高い周波数では各ソース電流路に無視で
きない程度の浮遊インダクタンスＬ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 を有
すると共に、ソース電極間にもＬ4 ，Ｌ5 を有してい
る。ドレイン及びゲートについても同様であり、それぞ
れ浮遊インダクタンスを有するが、図示するのを省略し
ている。
う。）は比較的簡単な駆動回路で大きな電力を高周波で
スイッチングできるなどの理由から、負荷への電力を制
御する電力制御素子として用いられることが多い。単一
のＦＥＴチップでは所要の電力を扱えない場合には、図
４に示すように、例えば３つのＦＥＴチップ１〜３を単
一の基板上に搭載して並列接続してなるＦＥＴモジュー
ル１で負荷２への電力の制御を行う。このような一般的
なＦＥＴモジュール１は、主電流端子となるドレイン端
子Ｄとソース端子Ｓ，制御信号端子となるゲート端子Ｇ
とソース信号端子ＳG を有する。また、寄生振動を防止
するためにＦＥＴモジュール１の各ＦＥＴチップ１〜３
のゲート端子Ｇとゲート電極（図示せず）間それぞれに
直列に抵抗ＲG1、ＲG2、ＲG3を備えている。各ＦＥＴチ
ップのドレインは一緒にドレイン端子Ｄに接続され、ま
たソースは一緒にソース端子Ｓに接続される。実際のＦ
ＥＴモジュールでは、図示していないが、各ＦＥＴチッ
プのソース領域はソース電極パターン又はボンディング
ワイヤなどを通して一緒にソース端子Ｓに接続されてい
るので、比較的高い周波数では各ソース電流路に無視で
きない程度の浮遊インダクタンスＬ1 ，Ｌ2 ，Ｌ3 を有
すると共に、ソース電極間にもＬ4 ，Ｌ5 を有してい
る。ドレイン及びゲートについても同様であり、それぞ
れ浮遊インダクタンスを有するが、図示するのを省略し
ている。
【０００３】一般的に図４に示すような比較的大きな電
力を扱う電力制御回路では、制御パルス発生回路３から
の制御パルス信号で駆動される駆動回路４はＦＥＴモジ
ュール１のゲート端子Ｇとソース信号端子ＳG 間に至近
距離で接続されるのに対し、ソース端子Ｓが接続される
外部主電流配線Ｘは大きな電流を扱う関係で回路配置上
長くならざるを得ず、信号配線に比べて大きな浮遊イン
ダクタンスＬ6 をもつ上に、ゲート電流に比べてはるか
に大きなソース電流が流れることになる。このような回
路では、駆動回路４からの駆動信号によりＦＥＴモジュ
ール１がターンオンするとき、定常状態に至るまでドレ
イン電流ＩD はＦＥＴモジュール１及び回路のインダク
タンスによって直線的に増大する。このときゲート電流
ＩG は各ＦＥＴチップのゲートーソース間に形成される
キャパシタンスを充電する期間だけ流れる。そしてこの
直線的に増大するドレイン電流ＩD はソース電流ＩS と
なってソース端子Ｓから流れるのであるが、前記外部主
電流配線Ｘの浮遊インダクタンスＬ6 によって、そのイ
ンダクタンス値と増大するソース電流ＩS の時間変化分
（di/dt)とを乗じた電圧降下ＶL が生じる。この電圧降
下ＶL はゲート電流ＩG と信号路のインダクタンスとの
積に相当する電圧降下に比べて十分に大きく、かつ並列
に存在するので、それらの電圧降下が等しくなる程度ま
で、ソース電流からソース分流電流ＩSGが分流してソー
ス信号端子ＳG に流れる。したがって、ＦＥＴモジュー
ル１の信号路を流れる電流は、そのスイッチング時に本
来の駆動電流に加えてソース電流から分流したソース分
流電流ＩSGも流れることになる。しかしこのソース分流
電流ＩSGは、ソース電流がほぼ一定の定常状態に至る
と、浮遊インダクタンスＬ6 による電圧降下がほぼゼロ
になるので、やはりほぼゼロになる。特に単体のＦＥＴ
を並列接続した半導体回路では配線による浮遊インダク
タンスの影響が大きくなるため、このようなソース分流
電流ＩSGの増大が観察される。なお、５は主直流電源装
置、６は駆動用直流電源装置を示す。
力を扱う電力制御回路では、制御パルス発生回路３から
の制御パルス信号で駆動される駆動回路４はＦＥＴモジ
ュール１のゲート端子Ｇとソース信号端子ＳG 間に至近
距離で接続されるのに対し、ソース端子Ｓが接続される
外部主電流配線Ｘは大きな電流を扱う関係で回路配置上
長くならざるを得ず、信号配線に比べて大きな浮遊イン
ダクタンスＬ6 をもつ上に、ゲート電流に比べてはるか
に大きなソース電流が流れることになる。このような回
路では、駆動回路４からの駆動信号によりＦＥＴモジュ
ール１がターンオンするとき、定常状態に至るまでドレ
イン電流ＩD はＦＥＴモジュール１及び回路のインダク
タンスによって直線的に増大する。このときゲート電流
ＩG は各ＦＥＴチップのゲートーソース間に形成される
キャパシタンスを充電する期間だけ流れる。そしてこの
直線的に増大するドレイン電流ＩD はソース電流ＩS と
なってソース端子Ｓから流れるのであるが、前記外部主
電流配線Ｘの浮遊インダクタンスＬ6 によって、そのイ
ンダクタンス値と増大するソース電流ＩS の時間変化分
（di/dt)とを乗じた電圧降下ＶL が生じる。この電圧降
下ＶL はゲート電流ＩG と信号路のインダクタンスとの
積に相当する電圧降下に比べて十分に大きく、かつ並列
に存在するので、それらの電圧降下が等しくなる程度ま
で、ソース電流からソース分流電流ＩSGが分流してソー
ス信号端子ＳG に流れる。したがって、ＦＥＴモジュー
ル１の信号路を流れる電流は、そのスイッチング時に本
来の駆動電流に加えてソース電流から分流したソース分
流電流ＩSGも流れることになる。しかしこのソース分流
電流ＩSGは、ソース電流がほぼ一定の定常状態に至る
と、浮遊インダクタンスＬ6 による電圧降下がほぼゼロ
になるので、やはりほぼゼロになる。特に単体のＦＥＴ
を並列接続した半導体回路では配線による浮遊インダク
タンスの影響が大きくなるため、このようなソース分流
電流ＩSGの増大が観察される。なお、５は主直流電源装
置、６は駆動用直流電源装置を示す。
【０００４】また、前述でも簡単に触れたが、並列接続
されたＦＥＴ１のソースとＦＥＴ２のソース間には浮遊
インダクタンスＬ4 が存在し、並列接続されたＦＥＴ２
のソースとＦＥＴ３のソース間には浮遊インダクタンス
Ｌ5 が存在する。特にそれぞれ単体のＦＥＴ１〜ＦＥＴ
３が並列接続される場合には、それらソース端子間を接
続する配線それぞれの浮遊インダクタンスＬ4 、Ｌ5 が
大きくなり、スイッチング時にこれら浮遊インダクタン
スＬ4 、Ｌ5 をソース電流が流れるためにその電圧降下
が増大し、この電圧降下が後述のような影響を与える。
されたＦＥＴ１のソースとＦＥＴ２のソース間には浮遊
インダクタンスＬ4 が存在し、並列接続されたＦＥＴ２
のソースとＦＥＴ３のソース間には浮遊インダクタンス
Ｌ5 が存在する。特にそれぞれ単体のＦＥＴ１〜ＦＥＴ
３が並列接続される場合には、それらソース端子間を接
続する配線それぞれの浮遊インダクタンスＬ4 、Ｌ5 が
大きくなり、スイッチング時にこれら浮遊インダクタン
スＬ4 、Ｌ5 をソース電流が流れるためにその電圧降下
が増大し、この電圧降下が後述のような影響を与える。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】先ず、このような図４
に示す従来の半導体装置又は半導体回路では，ＦＥＴモ
ジュール１のスイッチング時には外部主電流配線Ｘの浮
遊インダクタンスＬ6 による電圧降下のために、ＦＥＴ
モジュール１の信号路には本来の駆動電流に加えてソー
ス電流から分流した電流も流れることになるので、信号
路のボンディングワイヤなどが加熱されて断線したり、
電力損失が大きくなるなどの第１の課題を有する。
に示す従来の半導体装置又は半導体回路では，ＦＥＴモ
ジュール１のスイッチング時には外部主電流配線Ｘの浮
遊インダクタンスＬ6 による電圧降下のために、ＦＥＴ
モジュール１の信号路には本来の駆動電流に加えてソー
ス電流から分流した電流も流れることになるので、信号
路のボンディングワイヤなどが加熱されて断線したり、
電力損失が大きくなるなどの第１の課題を有する。
【０００６】また、配線の浮遊インダクタンスＬ4 、Ｌ
5 にはＦＥＴ２、ＦＥＴ３のゲート電流が流れると同時
に、ゲート電流よりも十分に大きなソース電流も流れる
ために、ソース電流と浮遊インダクタンスＬ4 、Ｌ5 に
起因する電圧降下の影響を受けることになる。つまり、
ＦＥＴ１のソースとＦＥＴ２のソースとの間には浮遊イ
ンダクタンスＬ4 とＦＥＴ１のソース電流の時間変化分
との積にほぼ等しい電圧降下が存在し、またＦＥＴ２の
ソースとＦＥＴ３のソースとの間には、浮遊インダクタ
ンスＬ5 とＦＥＴ１、ＦＥＴ２双方のソース電流の時間
変化分との積にほぼ等しい図示極性の電圧降下が存在す
ることになる。この結果、各ＦＥＴの特性及び浮遊イン
ダクタンスＬ1 〜Ｌ3 がほぼ同じであるとすると、ＦＥ
Ｔ１の実質的なゲート・ソース信号間電圧ＶGSが最も高
くなるので、ターンオンが最も遅れが小さく、次にＦＥ
Ｔ２で、ＦＥＴ３の実質的なゲート・ソース信号間電圧
ＶGSが最も低くなるので、ターンオンの遅れは最も大き
くなり、早くターンオンしたＦＥＴ１が最も大きな電流
を分担し、ＦＥＴ３の分担電流が最小になるという第２
の課題があった。このような問題点はＦＥＴの並列接続
個数が多くなればなるほど助長される。
5 にはＦＥＴ２、ＦＥＴ３のゲート電流が流れると同時
に、ゲート電流よりも十分に大きなソース電流も流れる
ために、ソース電流と浮遊インダクタンスＬ4 、Ｌ5 に
起因する電圧降下の影響を受けることになる。つまり、
ＦＥＴ１のソースとＦＥＴ２のソースとの間には浮遊イ
ンダクタンスＬ4 とＦＥＴ１のソース電流の時間変化分
との積にほぼ等しい電圧降下が存在し、またＦＥＴ２の
ソースとＦＥＴ３のソースとの間には、浮遊インダクタ
ンスＬ5 とＦＥＴ１、ＦＥＴ２双方のソース電流の時間
変化分との積にほぼ等しい図示極性の電圧降下が存在す
ることになる。この結果、各ＦＥＴの特性及び浮遊イン
ダクタンスＬ1 〜Ｌ3 がほぼ同じであるとすると、ＦＥ
Ｔ１の実質的なゲート・ソース信号間電圧ＶGSが最も高
くなるので、ターンオンが最も遅れが小さく、次にＦＥ
Ｔ２で、ＦＥＴ３の実質的なゲート・ソース信号間電圧
ＶGSが最も低くなるので、ターンオンの遅れは最も大き
くなり、早くターンオンしたＦＥＴ１が最も大きな電流
を分担し、ＦＥＴ３の分担電流が最小になるという第２
の課題があった。このような問題点はＦＥＴの並列接続
個数が多くなればなるほど助長される。
【０００７】したがって、本発明では，従来の半導体装
置及び半導体回路の欠点を除去し、信頼性の高い半導体
装置及び半導体回路素子をを提供することを主目的とし
ている。
置及び半導体回路の欠点を除去し、信頼性の高い半導体
装置及び半導体回路素子をを提供することを主目的とし
ている。
【０００８】
【解決するための手段】このような問題点を解決するた
め、第１の発明では、互いに並列配置された複数の電界
効果トランジスタを備え、主電流端子となるドレイン端
子とソース端子と、制御信号端子となるゲート端子とソ
ース信号端子とを有する半導体装置において、前記電界
効果トランジスタのソース電極と前記ソース信号端子と
の間に、前記ソース電極から前記ソース信号端子に分流
して流れる電流を制限するための抵抗手段を直列に備え
たことを特徴とする半導体装置を提供する。
め、第１の発明では、互いに並列配置された複数の電界
効果トランジスタを備え、主電流端子となるドレイン端
子とソース端子と、制御信号端子となるゲート端子とソ
ース信号端子とを有する半導体装置において、前記電界
効果トランジスタのソース電極と前記ソース信号端子と
の間に、前記ソース電極から前記ソース信号端子に分流
して流れる電流を制限するための抵抗手段を直列に備え
たことを特徴とする半導体装置を提供する。
【０００９】このような問題点を解決するため、第２の
発明では、互いに並列配置された複数の電界効果トラン
ジスタを備え、主電流端子となるドレイン端子とソース
端子と、制御信号端子となるゲート端子とソース信号端
子とを有する半導体装置、前記ゲート端子とソース信号
端子とに接続された駆動回路、及び前記ソース端子に接
続され、前記ソース信号端子にも電気的に接続された外
部主電流配線を備えた半導体回路において、前記ソース
信号端子は、前記ソース端子から前記ソース信号端子へ
分流する電流を制限するための抵抗手段を介して前記駆
動回路及び前記外部主電流配線に接続されたことを特徴
とする半導体回路を提供する。
発明では、互いに並列配置された複数の電界効果トラン
ジスタを備え、主電流端子となるドレイン端子とソース
端子と、制御信号端子となるゲート端子とソース信号端
子とを有する半導体装置、前記ゲート端子とソース信号
端子とに接続された駆動回路、及び前記ソース端子に接
続され、前記ソース信号端子にも電気的に接続された外
部主電流配線を備えた半導体回路において、前記ソース
信号端子は、前記ソース端子から前記ソース信号端子へ
分流する電流を制限するための抵抗手段を介して前記駆
動回路及び前記外部主電流配線に接続されたことを特徴
とする半導体回路を提供する。
【００１０】
【実施例】図１により本発明に係る半導体装置及び半導
体回路の一実施例について説明を行う。図１において、
図４に示した記号と同一の記号は相当する部材を示すも
のとする。この半導体装置及び半導体回路ではＦＥＴチ
ップ１〜３の各ソース端子とソース信号端子ＳG との間
に抵抗ＲS1，ＲS2，ＲS3をそれぞれ備えたことを特徴と
している。抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3は、前記第１の問
題点と第２の問題点の双方を解決するための手段であ
り、ＦＥＴチップがターンオン時に流れるソース電流Ｉ
S の増大分と浮遊インダクタンスＬ6 との積に等しい電
圧ＶL によって、ソース電流から分流してソース信号端
子に流れるソース分流電流ＩSGを制限するばかりでな
く、ソース電流による各ゲート電圧への影響を除去する
ことを可能にしている。
体回路の一実施例について説明を行う。図１において、
図４に示した記号と同一の記号は相当する部材を示すも
のとする。この半導体装置及び半導体回路ではＦＥＴチ
ップ１〜３の各ソース端子とソース信号端子ＳG との間
に抵抗ＲS1，ＲS2，ＲS3をそれぞれ備えたことを特徴と
している。抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3は、前記第１の問
題点と第２の問題点の双方を解決するための手段であ
り、ＦＥＴチップがターンオン時に流れるソース電流Ｉ
S の増大分と浮遊インダクタンスＬ6 との積に等しい電
圧ＶL によって、ソース電流から分流してソース信号端
子に流れるソース分流電流ＩSGを制限するばかりでな
く、ソース電流による各ゲート電圧への影響を除去する
ことを可能にしている。
【００１１】抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3は、浮遊インダ
クタンスＬ6 を有する外部主電流配線Ｘに対していずれ
も並列に配置されており、各ソース電流が分流してソー
ス信号端子ＳG に流れるのを制限する。それぞれのゲー
ト電流ＩG はドレイン電流又はソース電流に比べて十分
に小さいので、これら抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3をそれ
ぞれの信号路に接続してもそれらのゲート電流ＩG によ
る電圧降下は小さく、その電圧降下の影響はほぼ無視で
きる。また、ＦＥＴチップ１のゲート電流ＩGは浮遊イ
ンダクタンスＬ1 と抵抗ＲS1を通してソース信号端子Ｓ
G に流れ、ＦＥＴチップ２のゲート電流ＩG は浮遊イン
ダクタンスＬ2 と抵抗ＲS2を通してソース信号端子ＳG
に流れ、またＦＥＴチップ３のゲート電流ＩG は浮遊イ
ンダクタンスＬ3 と抵抗ＲS3を通してソース信号端子Ｓ
G に流れる。このようにＦＥＴチップ２、ＦＥＴチップ
３それぞれのゲート電流ＩG は浮遊インダクタンス
Ｌ4 、Ｌ5 を通して流れることがないから、ゲート・ソ
ース信号間電圧ＶGSがソース電流と浮遊インダクタンス
Ｌ4 、Ｌ5 とに起因する電圧降下に実質的に影響されな
いのは明らかである。なお、抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3
それぞれと直列に微小な浮遊インダクタンスが存在する
が、ゲート電流ＩG が小さいため影響を無視できるの
で、図示するのを省略している。この技術は個別のＦＥ
Ｔを導体で並列接続する場合にも全く同様に適用でき
る。
クタンスＬ6 を有する外部主電流配線Ｘに対していずれ
も並列に配置されており、各ソース電流が分流してソー
ス信号端子ＳG に流れるのを制限する。それぞれのゲー
ト電流ＩG はドレイン電流又はソース電流に比べて十分
に小さいので、これら抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3をそれ
ぞれの信号路に接続してもそれらのゲート電流ＩG によ
る電圧降下は小さく、その電圧降下の影響はほぼ無視で
きる。また、ＦＥＴチップ１のゲート電流ＩGは浮遊イ
ンダクタンスＬ1 と抵抗ＲS1を通してソース信号端子Ｓ
G に流れ、ＦＥＴチップ２のゲート電流ＩG は浮遊イン
ダクタンスＬ2 と抵抗ＲS2を通してソース信号端子ＳG
に流れ、またＦＥＴチップ３のゲート電流ＩG は浮遊イ
ンダクタンスＬ3 と抵抗ＲS3を通してソース信号端子Ｓ
G に流れる。このようにＦＥＴチップ２、ＦＥＴチップ
３それぞれのゲート電流ＩG は浮遊インダクタンス
Ｌ4 、Ｌ5 を通して流れることがないから、ゲート・ソ
ース信号間電圧ＶGSがソース電流と浮遊インダクタンス
Ｌ4 、Ｌ5 とに起因する電圧降下に実質的に影響されな
いのは明らかである。なお、抵抗ＲS1，ＲS2，及びＲS3
それぞれと直列に微小な浮遊インダクタンスが存在する
が、ゲート電流ＩG が小さいため影響を無視できるの
で、図示するのを省略している。この技術は個別のＦＥ
Ｔを導体で並列接続する場合にも全く同様に適用でき
る。
【００１２】このような半導体装置の具体的な構造の一
実施例について図２により説明する。同図はこの半導体
構造の一部分を示しているだけであるが、この図におい
て、図１に示した記号と同一の記号は相当する部材を示
すものとする。放熱板となる金属板７の上にはセラミッ
ク板８が張りつけられており、その上にはＦＥＴチップ
９Ａ，９Ｂなどがハンダ付けされている。図示していな
いが、一般的な構造として、セラミック基板８にはそれ
ぞれのＦＥＴチップのソース電極パッドとゲート電極パ
ッドが形成されており、各ＦＥＴチップのソース電極と
ゲート電極がそれぞれのボンディングワイヤでソース電
極パッドとゲート電極パッドに接続されている。Ｌ字形
の接続導体１０、１１は、そのようなソース電極パッド
とゲート電極パッドにそのＬ字形の低辺がハンダ付けさ
れている。
実施例について図２により説明する。同図はこの半導体
構造の一部分を示しているだけであるが、この図におい
て、図１に示した記号と同一の記号は相当する部材を示
すものとする。放熱板となる金属板７の上にはセラミッ
ク板８が張りつけられており、その上にはＦＥＴチップ
９Ａ，９Ｂなどがハンダ付けされている。図示していな
いが、一般的な構造として、セラミック基板８にはそれ
ぞれのＦＥＴチップのソース電極パッドとゲート電極パ
ッドが形成されており、各ＦＥＴチップのソース電極と
ゲート電極がそれぞれのボンディングワイヤでソース電
極パッドとゲート電極パッドに接続されている。Ｌ字形
の接続導体１０、１１は、そのようなソース電極パッド
とゲート電極パッドにそのＬ字形の低辺がハンダ付けさ
れている。
【００１３】Ｌ字形の接続導体１０、１１に支持される
電気絶縁性基板１２の一方の面には、ソース信号用導電
パターン１３及びゲート用導電パターン１４が形成され
ている。ソース信号用導電パターン１３の一端にはソー
ス信号用引出し端子１５を起立させ、これにハンダ付け
されるソース信号用端子部１３Ａが形成されている。ゲ
ート用導電パターン１４の一端にはゲート用引出し端子
（図示せず）を起立させ、これにハンダ付けされる共通
ゲート用端子部１４Ａが形成されている。また、電気絶
縁性基板１２の一方の面には、Ｌ字形の接続導体１０、
１１の頂部にそれぞれ接続されるソース用端子部１６、
個々のゲート用端子部１７が形成されている。Ｌ字形の
接続導体１０、１１の頂部は幅が狭くなっており、それ
ら頂部はそれぞれ個々のソース用端子部１６、個々のゲ
ート用端子部１７の中央部に形成された貫通孔１６Ａ，
１７Ａに挿入され、ハンダ付けされる。ソース信号用導
電パターン１３の導電パターン部１３Ｂと各ＦＥＴチッ
プのソース用端子部１６との間に抵抗器１８が接続され
る。また、ゲート用導電パターン１４の導電パターン部
１４Ｂと個々のゲート用端子部１７との間に抵抗器１９
が接続される。ここで、ＦＥＴチップ９Ａが図１に示し
たＦＥＴ１であるとすると、抵抗器１８は抵抗ＲS1に相
当し、抵抗器１９はゲート用抵抗ＲG1に相当する。同様
な構造が繰り返して形成される。
電気絶縁性基板１２の一方の面には、ソース信号用導電
パターン１３及びゲート用導電パターン１４が形成され
ている。ソース信号用導電パターン１３の一端にはソー
ス信号用引出し端子１５を起立させ、これにハンダ付け
されるソース信号用端子部１３Ａが形成されている。ゲ
ート用導電パターン１４の一端にはゲート用引出し端子
（図示せず）を起立させ、これにハンダ付けされる共通
ゲート用端子部１４Ａが形成されている。また、電気絶
縁性基板１２の一方の面には、Ｌ字形の接続導体１０、
１１の頂部にそれぞれ接続されるソース用端子部１６、
個々のゲート用端子部１７が形成されている。Ｌ字形の
接続導体１０、１１の頂部は幅が狭くなっており、それ
ら頂部はそれぞれ個々のソース用端子部１６、個々のゲ
ート用端子部１７の中央部に形成された貫通孔１６Ａ，
１７Ａに挿入され、ハンダ付けされる。ソース信号用導
電パターン１３の導電パターン部１３Ｂと各ＦＥＴチッ
プのソース用端子部１６との間に抵抗器１８が接続され
る。また、ゲート用導電パターン１４の導電パターン部
１４Ｂと個々のゲート用端子部１７との間に抵抗器１９
が接続される。ここで、ＦＥＴチップ９Ａが図１に示し
たＦＥＴ１であるとすると、抵抗器１８は抵抗ＲS1に相
当し、抵抗器１９はゲート用抵抗ＲG1に相当する。同様
な構造が繰り返して形成される。
【００１４】なお、この実施例において、一般的な構造
としてセラミック基板８にはそれぞれのＦＥＴチップの
ソース電極パッドとゲート電極パッドが形成されている
ので、これら各ソース電極パッドとゲート電極パッド上
に所定の抵抗値をもつ抵抗チップの一方の面をハンダ付
けし、これら抵抗チップの他方の面それぞれを各ボンデ
ィングワイヤでソース電極とゲート電極にボンディング
しても良い。
としてセラミック基板８にはそれぞれのＦＥＴチップの
ソース電極パッドとゲート電極パッドが形成されている
ので、これら各ソース電極パッドとゲート電極パッド上
に所定の抵抗値をもつ抵抗チップの一方の面をハンダ付
けし、これら抵抗チップの他方の面それぞれを各ボンデ
ィングワイヤでソース電極とゲート電極にボンディング
しても良い。
【００１５】次に図３により本発明に係る半導体回路の
一実施例について説明すると、ＦＥＴモジュール１のソ
ース信号端子ＳG と駆動回路４の出力端子との間に電流
制限用の抵抗ＲS を接続している。各ＦＥＴチップ１〜
３に対して共通に抵抗ＲS を接続しているので、前述の
原因で流れるソース分流電流ＩSGを制限制限することは
できるが、ＦＥＴモジュール１において浮遊インダクタ
ンスＬ4 、Ｌ5 をゲート電流とソース電流の双方が流れ
るために、前記第２の課題については解決できない。し
かし、単一の抵抗ＲS を接続するだけで良いという簡便
さは大きな効果である。なお、この実施例でも抵抗ＲS
をＦＥＴモジュール１内に接続しても勿論よい。
一実施例について説明すると、ＦＥＴモジュール１のソ
ース信号端子ＳG と駆動回路４の出力端子との間に電流
制限用の抵抗ＲS を接続している。各ＦＥＴチップ１〜
３に対して共通に抵抗ＲS を接続しているので、前述の
原因で流れるソース分流電流ＩSGを制限制限することは
できるが、ＦＥＴモジュール１において浮遊インダクタ
ンスＬ4 、Ｌ5 をゲート電流とソース電流の双方が流れ
るために、前記第２の課題については解決できない。し
かし、単一の抵抗ＲS を接続するだけで良いという簡便
さは大きな効果である。なお、この実施例でも抵抗ＲS
をＦＥＴモジュール１内に接続しても勿論よい。
【００１６】以上の実施例ではＦＥＴチップ又はＦＥＴ
を並列接続した場合について述べたが、前記第１の課題
を解決するためならば、単一のＦＥＴチップ又はＦＥＴ
の場合にも必要に応じて同様に適用できる。また、以上
の実施例ではＦＥＴチップ又はＦＥＴを３個並列接続し
た場合について述べたが、任意でよいことは勿論であ
る。
を並列接続した場合について述べたが、前記第１の課題
を解決するためならば、単一のＦＥＴチップ又はＦＥＴ
の場合にも必要に応じて同様に適用できる。また、以上
の実施例ではＦＥＴチップ又はＦＥＴを３個並列接続し
た場合について述べたが、任意でよいことは勿論であ
る。
【００１７】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、ソー
ス信号路に抵抗手段を備えたので、ソース電流の一部分
が分流してソース信号路に流れるのを大幅に制限でき、
したがって、信号路のボンディングワイヤなどが加熱さ
れて断線したり、電力損失が大きくなるなどの問題を解
決することができる。
ス信号路に抵抗手段を備えたので、ソース電流の一部分
が分流してソース信号路に流れるのを大幅に制限でき、
したがって、信号路のボンディングワイヤなどが加熱さ
れて断線したり、電力損失が大きくなるなどの問題を解
決することができる。
【００１８】また、並列接続したＦＥＴチップ又はＦＥ
Ｔのそれぞれのソース信号路に抵抗手段を備えることに
より、ソース電流と浮遊インダクタンスに起因する電圧
降下の影響を除去することにより、それら電圧降下の影
響で並列接続したＦＥＴチップ又はＦＥＴのターンオン
が不揃いになるのを防止することができる。
Ｔのそれぞれのソース信号路に抵抗手段を備えることに
より、ソース電流と浮遊インダクタンスに起因する電圧
降下の影響を除去することにより、それら電圧降下の影
響で並列接続したＦＥＴチップ又はＦＥＴのターンオン
が不揃いになるのを防止することができる。
【図１】本発明の一実施例を説明するための図面であ
る。
る。
【図２】本発明の他の一実施例を説明するための図面で
ある。
ある。
【図３】本発明にかかる他の一実施例を説明するための
図面である。
図面である。
【図４】従来例を説明するための図面である。
１・・・ＦＥＴモジュール ２・・・負荷 ３・・・制御パルス発生回路 ４・・・駆動回路 ５・・・主直流電源装置 ６・・・駆動用直
流電源装置 ７・・・金属板 ８・・・セラミッ
ク基板 ９・・・ＦＥＴチップ １０、１１・・・接
続導体 １２・・・電気絶縁基板 １３・・・ソース
信号用導電パターン １４・・・ゲート用導電パターン １５・・・ソース
信号用引出し端子 １６・・・ソース用端子部 １７・・・ゲート
用端子部 １８、１９・・・抵抗器 Ｌ・・・浮遊インダクタンス Ｒ・・・抵抗
流電源装置 ７・・・金属板 ８・・・セラミッ
ク基板 ９・・・ＦＥＴチップ １０、１１・・・接
続導体 １２・・・電気絶縁基板 １３・・・ソース
信号用導電パターン １４・・・ゲート用導電パターン １５・・・ソース
信号用引出し端子 １６・・・ソース用端子部 １７・・・ゲート
用端子部 １８、１９・・・抵抗器 Ｌ・・・浮遊インダクタンス Ｒ・・・抵抗
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−343972（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−259864（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−92111（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−62015（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−167813（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−17717（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−231511（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−86911（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03K 17/00 - 17/70
Claims (2)
- 【請求項１】 互いに並列配置された複数の電界効果ト
ランジスタを備え、 主電流端子となるドレイン端子とソース端子と、制御信
号端子となるゲート端子とソース信号端子とを有する半
導体装置において、 前記電界効果トランジスタのソース電極と前記ソース信
号端子との間に、前記ソース電極から前記ソース信号端
子に分流して流れる電流を制限するための抵抗手段を直
列に備えたことを特徴とする半導体装置。 - 【請求項２】 互いに並列配置された複数の電界効果ト
ランジスタを備え、主電流端子となるドレイン端子とソ
ース端子と、制御信号端子となるゲート端子とソース信
号端子とを有する半導体装置、前記ゲート端子とソース
信号端子とに接続された駆動回路、及び前記ソース端子
に接続され、前記ソース信号端子にも電気的に接続され
た外部主電流配線を備えた半導体回路において、 前記ソース信号端子は、前記ソース端子から前記ソース
信号端子へ分流する電流を制限するための抵抗手段を介
して前記駆動回路及び前記外部主電流配線に接続された
ことを特徴とする半導体回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33120794A JP3233539B2 (ja) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | 半導体装置及び半導体回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33120794A JP3233539B2 (ja) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | 半導体装置及び半導体回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08162935A JPH08162935A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3233539B2 true JP3233539B2 (ja) | 2001-11-26 |
Family
ID=18241100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33120794A Expired - Lifetime JP3233539B2 (ja) | 1994-12-08 | 1994-12-08 | 半導体装置及び半導体回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3233539B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000040948A (ja) * | 1998-07-23 | 2000-02-08 | Toshiba Corp | 電力変換装置 |
| JP2004096191A (ja) * | 2002-08-29 | 2004-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体スイッチ素子及び半導体スイッチ装置 |
| JP6868809B2 (ja) * | 2016-08-31 | 2021-05-12 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | スイッチング回路 |
-
1994
- 1994-12-08 JP JP33120794A patent/JP3233539B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08162935A (ja) | 1996-06-21 |
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