JP3231704B2 - データ消失防止機能付きディスクアレイ装置 - Google Patents
データ消失防止機能付きディスクアレイ装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータシス
テムのディスクアレイ装置に関し、特に、データ消失防
止機能付きのディスクアレイ装置に関する。
テムのディスクアレイ装置に関し、特に、データ消失防
止機能付きのディスクアレイ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディスクアレイ装置は、ディスクアレイ
装置を構成する１台の磁気ディスク装置に障害が発生
し、障害の発生した磁気ディスク装置を交換した際、全
データの復元を行う。復元の際、ディスクアレイ装置を
構成する他の磁気ディスク装置で１箇所でもデータを読
めないアドレスが発生すれば、そこの読み出せなかった
データは、復旧不可能な状態となり、交換した磁気ディ
スク装置に対してデータ復旧は不可能になってしまう。
データ消失防止機能付きディスクアレイ装置は、この問
題を防止するため考えられた機能である。従来のデータ
消失防止機能付きディスクアレイ装置の一例が特開平９
−６２４６１号公報に記載されている。
装置を構成する１台の磁気ディスク装置に障害が発生
し、障害の発生した磁気ディスク装置を交換した際、全
データの復元を行う。復元の際、ディスクアレイ装置を
構成する他の磁気ディスク装置で１箇所でもデータを読
めないアドレスが発生すれば、そこの読み出せなかった
データは、復旧不可能な状態となり、交換した磁気ディ
スク装置に対してデータ復旧は不可能になってしまう。
データ消失防止機能付きディスクアレイ装置は、この問
題を防止するため考えられた機能である。従来のデータ
消失防止機能付きディスクアレイ装置の一例が特開平９
−６２４６１号公報に記載されている。
【０００３】この公報に記載されたデータ消失防止機能
は、ディスクアレイ装置の負荷状態が低い状態の時に読
み出しテストを実施する機能である。負荷状態を確認す
るステップと、媒体面を検査するステップと、検査にて
異常が確認された場合、そのアドレスを不良交替領域に
割り当てるステップと、異常が確認されたデータを他デ
ータから復旧するステップで構成されている。ディスク
アレイ装置がホストシステムからのＩ／Ｏ命令に影響を
与えない程度の負荷であると判断すると磁気ディスク媒
体面検査手段により媒体面の検査を行う。媒体面の異常
によりデータの復旧が必要な場合、他の異常の発生して
いない磁気ディスク装置のデータを利用し、異常箇所の
データを復旧し、交替領域に復旧データを書き込む。こ
れにより、磁気ディスク装置の障害が発生する前のデー
タの冗長性がある段階で事前に媒体不良を検知し、デー
タの消失を防止する。
は、ディスクアレイ装置の負荷状態が低い状態の時に読
み出しテストを実施する機能である。負荷状態を確認す
るステップと、媒体面を検査するステップと、検査にて
異常が確認された場合、そのアドレスを不良交替領域に
割り当てるステップと、異常が確認されたデータを他デ
ータから復旧するステップで構成されている。ディスク
アレイ装置がホストシステムからのＩ／Ｏ命令に影響を
与えない程度の負荷であると判断すると磁気ディスク媒
体面検査手段により媒体面の検査を行う。媒体面の異常
によりデータの復旧が必要な場合、他の異常の発生して
いない磁気ディスク装置のデータを利用し、異常箇所の
データを復旧し、交替領域に復旧データを書き込む。こ
れにより、磁気ディスク装置の障害が発生する前のデー
タの冗長性がある段階で事前に媒体不良を検知し、デー
タの消失を防止する。
【０００４】しかし、この従来技術には、次のような問
題点があった。
題点があった。
【０００５】第１の問題点は、そのデータ消失防止機能
が一度起動した後、ホストシステムからのＩ／Ｏ命令で
ディスクアレイ装置の使用が始まると、ホストシステム
のＩ／Ｏ動作と検査のＩ／Ｏ動作が、同時に動作する
為、検査が終了するまで磁気ディスク装置は、高負荷状
態で動作する点である。
が一度起動した後、ホストシステムからのＩ／Ｏ命令で
ディスクアレイ装置の使用が始まると、ホストシステム
のＩ／Ｏ動作と検査のＩ／Ｏ動作が、同時に動作する
為、検査が終了するまで磁気ディスク装置は、高負荷状
態で動作する点である。
【０００６】その理由は、高負荷の時には検査を中断
し、再度、検査を再開する際には未検査のアドレスから
検査を再開する仕組みになっていないことである。
し、再度、検査を再開する際には未検査のアドレスから
検査を再開する仕組みになっていないことである。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、データの消
失を未然に防止するディスクアレイ装置の全磁気ディス
ク装置のデータ読み出しテストをホストコンピュータに
よるＩ／Ｏ動作の間隙を縫って逐次行うものである。す
なわち、データ消失防止テスト部は、ディスクアレイ装
置のＩ／Ｏ待ち時間を検出し、データ読み出しテストを
実行する。データ読み出しテストの処理単位は磁気ディ
スク装置のＩ／Ｏ単位であるレコード単位に行い、デー
タ読み出しテスト処理により磁気ディスク装置のＩ／Ｏ
動作時間を長時間保持してホストコンピュータ処理のＩ
／Ｏ動作に影響を及ぼさないものとする。データ消失防
止テスト部は、ホストコンピュータの業務処理に影響を
与えることなく、全磁気ディスク装置のデータを逐次実
行するものである。
失を未然に防止するディスクアレイ装置の全磁気ディス
ク装置のデータ読み出しテストをホストコンピュータに
よるＩ／Ｏ動作の間隙を縫って逐次行うものである。す
なわち、データ消失防止テスト部は、ディスクアレイ装
置のＩ／Ｏ待ち時間を検出し、データ読み出しテストを
実行する。データ読み出しテストの処理単位は磁気ディ
スク装置のＩ／Ｏ単位であるレコード単位に行い、デー
タ読み出しテスト処理により磁気ディスク装置のＩ／Ｏ
動作時間を長時間保持してホストコンピュータ処理のＩ
／Ｏ動作に影響を及ぼさないものとする。データ消失防
止テスト部は、ホストコンピュータの業務処理に影響を
与えることなく、全磁気ディスク装置のデータを逐次実
行するものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本願発明のデータ消失防
止機能付きディスクアレイ装置は、ホストコンピュータ
に接続されるディスクアレイ装置であって、前記ホスト
コンピュータのＩ／Ｏ動作を妨げないように読み出しテ
ストを行うデータ消失防止テスト部と、磁気ディスク装
置を並列に処理するディスクアレイ制御部と、前記磁気
ディスク装置を制御する磁気ディスク制御部と、第１の
論理ディスク装置から第ｎの論理ディスク装置までの並
列な論理ディスク装置として使用される前記磁気ディス
ク装置と、を備え、前記データ消失防止テスト部が、テ
スト開始時間を計測するテスト開始時間カウンタと、前
記ディスクアレイ制御部が前記ホストコンピュータから
のＩ／Ｏ命令を実行中であるか否かを確認し前記ディス
クアレイ制御部がＩ／Ｏ動作中でない場合にデータテス
ト部を作動させるホストＩ／Ｏチェック部と、データの
読み出しテストを行うデータテスト部と、直前にデータ
読み出しテストを実行したアドレスを記憶するテスト済
みデータアドレス記憶部と、前記テスト済みデータアド
レス記憶部に記憶しているアドレスが最終アドレスかど
うかを比較し最終アドレスと一致しないときは前記ホス
トＩ／Ｏチェック部に動作の開始を指示するアドレス比
較部と、を含み、前記アドレス比較部で最終アドレスと
一致したときにテスト時間の計測を終了し、テスト終了
の時間が定期にテストを実行する間隔のｎ時間を上回っ
ている場合には継続してテストを実行し、テスト終了の
時間が定期にテストを実行する間隔のｎ時間を下回って
いる場合にはテストを終了しテストの開始からｎ時間経
過後に前記テスト開始時間カウンタが起動しテストを自
動的に開始する、ことを特徴とする。
止機能付きディスクアレイ装置は、ホストコンピュータ
に接続されるディスクアレイ装置であって、前記ホスト
コンピュータのＩ／Ｏ動作を妨げないように読み出しテ
ストを行うデータ消失防止テスト部と、磁気ディスク装
置を並列に処理するディスクアレイ制御部と、前記磁気
ディスク装置を制御する磁気ディスク制御部と、第１の
論理ディスク装置から第ｎの論理ディスク装置までの並
列な論理ディスク装置として使用される前記磁気ディス
ク装置と、を備え、前記データ消失防止テスト部が、テ
スト開始時間を計測するテスト開始時間カウンタと、前
記ディスクアレイ制御部が前記ホストコンピュータから
のＩ／Ｏ命令を実行中であるか否かを確認し前記ディス
クアレイ制御部がＩ／Ｏ動作中でない場合にデータテス
ト部を作動させるホストＩ／Ｏチェック部と、データの
読み出しテストを行うデータテスト部と、直前にデータ
読み出しテストを実行したアドレスを記憶するテスト済
みデータアドレス記憶部と、前記テスト済みデータアド
レス記憶部に記憶しているアドレスが最終アドレスかど
うかを比較し最終アドレスと一致しないときは前記ホス
トＩ／Ｏチェック部に動作の開始を指示するアドレス比
較部と、を含み、前記アドレス比較部で最終アドレスと
一致したときにテスト時間の計測を終了し、テスト終了
の時間が定期にテストを実行する間隔のｎ時間を上回っ
ている場合には継続してテストを実行し、テスト終了の
時間が定期にテストを実行する間隔のｎ時間を下回って
いる場合にはテストを終了しテストの開始からｎ時間経
過後に前記テスト開始時間カウンタが起動しテストを自
動的に開始する、ことを特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態１について図
面を参照して詳細に説明する。
面を参照して詳細に説明する。
【００１０】図１を参照すると、本実施の形態１は、ホ
ストコンピュータ１とディスクアレイ装置２とで構成さ
れている。
ストコンピュータ１とディスクアレイ装置２とで構成さ
れている。
【００１１】ディスクアレイ装置２は、ホストコンピュ
ータ１のＩ／Ｏ動作を妨げないように読み出しテストを
行うデータ消失防止テスト部３と、磁気ディスク装置１
１を並列に処理するディスクアレイ制御部９と、磁気デ
ィスク装置１１を制御する磁気ディスク制御部１０と、
第１の論理ディスク装置から第ｎの論理ディスク装置ま
での並列な論理ディスク装置として使用される磁気ディ
スク装置１１とを備えている。
ータ１のＩ／Ｏ動作を妨げないように読み出しテストを
行うデータ消失防止テスト部３と、磁気ディスク装置１
１を並列に処理するディスクアレイ制御部９と、磁気デ
ィスク装置１１を制御する磁気ディスク制御部１０と、
第１の論理ディスク装置から第ｎの論理ディスク装置ま
での並列な論理ディスク装置として使用される磁気ディ
スク装置１１とを備えている。
【００１２】データ消失防止テスト部３は、テスト開始
時間カウンタ４と、ホストＩ／Ｏチェック部５と、デー
タテスト部６と、テスト済みデータアドレス記憶部７
と、アドレス比較部８とを含む。
時間カウンタ４と、ホストＩ／Ｏチェック部５と、デー
タテスト部６と、テスト済みデータアドレス記憶部７
と、アドレス比較部８とを含む。
【００１３】テスト開始時間カウンタ４は、読み出しテ
ストを定期的に行うため、前回のテスト開始からｎ時間
経過後に読み出しテストを起動できるように経過時間を
計測している。ホストＩ／Ｏチェック部５は、ディスク
アレイ制御部９がＩ／Ｏ動作を行っているかを確認し、
ディスクアレイ制御部９がＩ／Ｏ動作中ではない場合に
データテスト部６を作動させる。データテスト部６はテ
スト済みデータアドレス記憶部７のアドレスを基に、次
にテストを行うアドレスを決定し、ディスクアレイ制御
部９に読み出しの命令を出す。データを正常に読み出し
た場合、テスト済みアドレス記憶部７に今回テストした
アドレスを記憶させる。テスト済みデータアドレス記憶
部７は、データテスト部６がテストしたアドレスを格納
するための記憶部であり、次のアドレスが渡されるまで
格納したアドレスを記憶する。また、記憶したアドレス
はアドレス比較部８に渡される。アドレス比較部８は、
最終アドレスとテストしたアドレスを比較し、最終アド
レスと一致するまでテストを繰り返す。最終アドレスと
一致した場合、テスト開始時間カウンタ４にテストの終
了を知らせる。
ストを定期的に行うため、前回のテスト開始からｎ時間
経過後に読み出しテストを起動できるように経過時間を
計測している。ホストＩ／Ｏチェック部５は、ディスク
アレイ制御部９がＩ／Ｏ動作を行っているかを確認し、
ディスクアレイ制御部９がＩ／Ｏ動作中ではない場合に
データテスト部６を作動させる。データテスト部６はテ
スト済みデータアドレス記憶部７のアドレスを基に、次
にテストを行うアドレスを決定し、ディスクアレイ制御
部９に読み出しの命令を出す。データを正常に読み出し
た場合、テスト済みアドレス記憶部７に今回テストした
アドレスを記憶させる。テスト済みデータアドレス記憶
部７は、データテスト部６がテストしたアドレスを格納
するための記憶部であり、次のアドレスが渡されるまで
格納したアドレスを記憶する。また、記憶したアドレス
はアドレス比較部８に渡される。アドレス比較部８は、
最終アドレスとテストしたアドレスを比較し、最終アド
レスと一致するまでテストを繰り返す。最終アドレスと
一致した場合、テスト開始時間カウンタ４にテストの終
了を知らせる。
【００１４】ここで、ディスクアレイ装置の制御を簡単
に説明する。ディスクアレイ制御部９は、磁気ディスク
制御部１０を介して磁気ディスク装置１１を第１の論理
磁気ディスク装置から第ｎの論理磁気ディスク装置の構
成で並列に使用することで、ディスクアレイ装置として
使用するための制御を行う。ディスクアレイ制御部９
は、データに冗長データを持たせることで、１台の磁気
ディスク装置のデータの欠落が生じても他の磁気ディス
ク装置が持っている冗長データを使用することで欠落し
たデータを復元する事ができる。この欠落したデータに
関しては、ディスクアレイ制御部９が復元し、データを
磁気ディスク装置１１の代替領域に記録保存する。欠落
データを復元する為の冗長データの生成は、ホストコン
ピュータ１から渡されるデータを磁気ディスク装置１１
に記録する際、ディスクアレイ制御部９が渡されたデー
タからパリティ生成を行い、冗長データとして磁気ディ
スク装置１１に記録する。磁気ディスク制御部１０は、
ディスクアレイ制御部９の命令を磁気ディスク装置１１
に対して実行する。磁気ディスク装置１１は、磁気ディ
スク制御部１０からの命令を実行する。
に説明する。ディスクアレイ制御部９は、磁気ディスク
制御部１０を介して磁気ディスク装置１１を第１の論理
磁気ディスク装置から第ｎの論理磁気ディスク装置の構
成で並列に使用することで、ディスクアレイ装置として
使用するための制御を行う。ディスクアレイ制御部９
は、データに冗長データを持たせることで、１台の磁気
ディスク装置のデータの欠落が生じても他の磁気ディス
ク装置が持っている冗長データを使用することで欠落し
たデータを復元する事ができる。この欠落したデータに
関しては、ディスクアレイ制御部９が復元し、データを
磁気ディスク装置１１の代替領域に記録保存する。欠落
データを復元する為の冗長データの生成は、ホストコン
ピュータ１から渡されるデータを磁気ディスク装置１１
に記録する際、ディスクアレイ制御部９が渡されたデー
タからパリティ生成を行い、冗長データとして磁気ディ
スク装置１１に記録する。磁気ディスク制御部１０は、
ディスクアレイ制御部９の命令を磁気ディスク装置１１
に対して実行する。磁気ディスク装置１１は、磁気ディ
スク制御部１０からの命令を実行する。
【００１５】本実施の形態１の動作について、図１及び
図２を参照して詳細に説明する。
図２を参照して詳細に説明する。
【００１６】図１のデータ消失防止テスト部３は、テス
ト開始時間カウンタ４が前回のテスト開始からｎ時間計
測すると機能を開始する（図２のステップ２１）。テス
ト開始時間カウンタ４は、ホストＩ／Ｏチェック部５に
対し動作の開始を命令する（図２のステップ２１及び２
３）。また、この時、テスト開始カウンタ４は、テスト
時間の計測を開始する（図２のステップ２２）。ホスト
Ｉ／Ｏチェック部５は、テスト開始カウンタ４よりテス
ト動作の開始の命令を受け、ディスクアレイ制御部９に
Ｉ／Ｏの動作中であるかの確認を行う（図２のステップ
２３及び２４）。Ｉ／Ｏ動作がなければ、データテスト
部６を動作させる（図２のステップ２４及び２５）。デ
ータテスト部６は、テスト済みデータアドレス記憶部７
のアドレスを参照し、ディスクアレイ制御部９に対し、
参照したアドレスの次のアドレスのデータ読み出し命令
を実行する（図２のステップ２５）。ディスクアレイ制
御部９は、データテスト部６の命令を受け、そのアドレ
スに対して磁気ディスク制御部１０を介し、磁気ディス
ク装置１１に読み出し命令を実行する（図２のステップ
２５）。命令が正常に終了すれば、データテスト部６に
データ読み出し終了を報告する（図２のステップ２
９）。命令に対して、磁気ディスク制御部１０の何れか
の磁気ディスク制御部より異常の報告があった場合、他
の磁気ディスク装置のデータを利用し、データが正常に
読めなかった箇所のデータの復元を行う（図２のステッ
プ２７）。復元したデータは、正常に読めなかった磁気
ディスク装置の代替領域に記録する為、磁気ディスク制
御部１０を介して代替領域を割り当て復元したデータを
書き込む（図２のステップ２８）。データの書き込みが
終了した後、データテスト部６に命令終了の報告を行う
（図２のステップ２９）。データテスト部６は、ディス
クアレイ制御部９より命令終了の報告を受けた後、テス
ト済みデータアドレス記憶部７にテストしたアドレスを
渡し記憶させる（図２のステップ３０）。テスト済みデ
ータアドレス記憶部７は、新しいアドレスを記憶した
際、アドレス比較部８にアドレスを渡す（図２のステッ
プ３１）。アドレス比較部８は、テスト済みデータアド
レス記憶部７よりアドレスを渡された際、その渡された
データが最後のアドレスかどうかを最終アドレスと比較
する（図２のステップ３２）。最終アドレスと一致しな
い場合、ホストＩ／Ｏチェック部５に動作の開始を命令
する（図２のステップ３２）。最終アドレスと一致した
場合、テスト時間の計測を終了する（図２のステップ３
３）。テストが終了する時間が、定期にテストを実行す
る間隔のｎ時間を上回っているか下回っているかを調
べ、次のテストの開始を判断する（図２のステップ３
４）。上回っていれば、継続してテストを実行する（図
２の３４及び２２）。下回っていれば、テストを終了
し、テストの開始からｎ時間経過後、テスト開始時間カ
ウンタ４が起動し、同じ動作を繰り返し実行する。（図
２のステップ３４及び２１）。
ト開始時間カウンタ４が前回のテスト開始からｎ時間計
測すると機能を開始する（図２のステップ２１）。テス
ト開始時間カウンタ４は、ホストＩ／Ｏチェック部５に
対し動作の開始を命令する（図２のステップ２１及び２
３）。また、この時、テスト開始カウンタ４は、テスト
時間の計測を開始する（図２のステップ２２）。ホスト
Ｉ／Ｏチェック部５は、テスト開始カウンタ４よりテス
ト動作の開始の命令を受け、ディスクアレイ制御部９に
Ｉ／Ｏの動作中であるかの確認を行う（図２のステップ
２３及び２４）。Ｉ／Ｏ動作がなければ、データテスト
部６を動作させる（図２のステップ２４及び２５）。デ
ータテスト部６は、テスト済みデータアドレス記憶部７
のアドレスを参照し、ディスクアレイ制御部９に対し、
参照したアドレスの次のアドレスのデータ読み出し命令
を実行する（図２のステップ２５）。ディスクアレイ制
御部９は、データテスト部６の命令を受け、そのアドレ
スに対して磁気ディスク制御部１０を介し、磁気ディス
ク装置１１に読み出し命令を実行する（図２のステップ
２５）。命令が正常に終了すれば、データテスト部６に
データ読み出し終了を報告する（図２のステップ２
９）。命令に対して、磁気ディスク制御部１０の何れか
の磁気ディスク制御部より異常の報告があった場合、他
の磁気ディスク装置のデータを利用し、データが正常に
読めなかった箇所のデータの復元を行う（図２のステッ
プ２７）。復元したデータは、正常に読めなかった磁気
ディスク装置の代替領域に記録する為、磁気ディスク制
御部１０を介して代替領域を割り当て復元したデータを
書き込む（図２のステップ２８）。データの書き込みが
終了した後、データテスト部６に命令終了の報告を行う
（図２のステップ２９）。データテスト部６は、ディス
クアレイ制御部９より命令終了の報告を受けた後、テス
ト済みデータアドレス記憶部７にテストしたアドレスを
渡し記憶させる（図２のステップ３０）。テスト済みデ
ータアドレス記憶部７は、新しいアドレスを記憶した
際、アドレス比較部８にアドレスを渡す（図２のステッ
プ３１）。アドレス比較部８は、テスト済みデータアド
レス記憶部７よりアドレスを渡された際、その渡された
データが最後のアドレスかどうかを最終アドレスと比較
する（図２のステップ３２）。最終アドレスと一致しな
い場合、ホストＩ／Ｏチェック部５に動作の開始を命令
する（図２のステップ３２）。最終アドレスと一致した
場合、テスト時間の計測を終了する（図２のステップ３
３）。テストが終了する時間が、定期にテストを実行す
る間隔のｎ時間を上回っているか下回っているかを調
べ、次のテストの開始を判断する（図２のステップ３
４）。上回っていれば、継続してテストを実行する（図
２の３４及び２２）。下回っていれば、テストを終了
し、テストの開始からｎ時間経過後、テスト開始時間カ
ウンタ４が起動し、同じ動作を繰り返し実行する。（図
２のステップ３４及び２１）。
【００１７】次に、本発明の実施の形態２について図面
を参照して詳細に説明する。
を参照して詳細に説明する。
【００１８】図３を参照すると、本実施の形態２は、ホ
ストコンピュータ４１と、ディスクアレイ装置４２とで
構成されている。
ストコンピュータ４１と、ディスクアレイ装置４２とで
構成されている。
【００１９】ディスクアレイ装置４２は、ホストコンピ
ュータ４１のＩ／Ｏ動作を妨げないように読み出しテス
トを行うデータ消失防止テスト部４３と、磁気ディスク
装置５２を並列に処理するディスクアレイ制御部５０
と、磁気ディスク装置５２を制御する磁気ディスク制御
部５１と、第１の論理ディスク装置から第ｎの論理ディ
スク装置までの並列な論理ディスク装置として使用され
る磁気ディスク装置５２とを備えている。
ュータ４１のＩ／Ｏ動作を妨げないように読み出しテス
トを行うデータ消失防止テスト部４３と、磁気ディスク
装置５２を並列に処理するディスクアレイ制御部５０
と、磁気ディスク装置５２を制御する磁気ディスク制御
部５１と、第１の論理ディスク装置から第ｎの論理ディ
スク装置までの並列な論理ディスク装置として使用され
る磁気ディスク装置５２とを備えている。
【００２０】データ消失防止テスト部４３は、テスト開
始スイッチ４４と、テスト実施アドレス入力部４５と、
出力部４６と、データテスト部４７と、テスト済みデー
タアドレス記憶部４８と、アドレス比較部４９とを含
む。
始スイッチ４４と、テスト実施アドレス入力部４５と、
出力部４６と、データテスト部４７と、テスト済みデー
タアドレス記憶部４８と、アドレス比較部４９とを含
む。
【００２１】本実施の形態は、テストの開始をオペレー
タが介入し、オペレータが判断してデータのテストを実
施する方法であり、図１に示された実施の形態１におけ
るテスト開始カウンタ４の計測での約ｎ時間間隔後にデ
ータのテストを開始するテスト方法と開始方法が異な
る。
タが介入し、オペレータが判断してデータのテストを実
施する方法であり、図１に示された実施の形態１におけ
るテスト開始カウンタ４の計測での約ｎ時間間隔後にデ
ータのテストを開始するテスト方法と開始方法が異な
る。
【００２２】テスト開始スイッチ４４は、オペレータが
スイッチをＯＮさせることで出力部４６にテスト実施ア
ドレスの入力を要求する表示を行う。テスト実施アドレ
ス入力部４５でテストを実施するアドレスを入力する。
アドレスの指定方法として、１個のアドレスを指定する
単一形式，複数個のアドレスを指定するリスト形式，開
始アドレスと終了アドレスを指定する範囲形式が可能で
ある。オペレータはホストコンピュータのＩ／Ｏ負荷の
状態を判断して入力形式を選択する。出力部４６は、オ
ペレータへのテスト実施アドレスの入力要求、テストア
ドレスの表示、テスト終了の表示を行う。データテスト
部４７は、テスト実施アドレス入力部４５で入力された
アドレスでディスクアレイ制御部５０に読み出しの命令
を出す。データを正常に読み出した場合、テスト済みア
ドレス記憶部４８に今回テストしたアドレスを記憶させ
る。テスト済みデータアドレス記憶部４８は、データテ
スト部４７がテストしたアドレスを格納するための記憶
部であり、次のアドレスが渡されるまで格納したアドレ
スを記憶する。また、記憶したアドレスはアドレス比較
部４９に渡される。アドレス比較部４９は、最終アドレ
スとテストしたアドレスを比較する。
スイッチをＯＮさせることで出力部４６にテスト実施ア
ドレスの入力を要求する表示を行う。テスト実施アドレ
ス入力部４５でテストを実施するアドレスを入力する。
アドレスの指定方法として、１個のアドレスを指定する
単一形式，複数個のアドレスを指定するリスト形式，開
始アドレスと終了アドレスを指定する範囲形式が可能で
ある。オペレータはホストコンピュータのＩ／Ｏ負荷の
状態を判断して入力形式を選択する。出力部４６は、オ
ペレータへのテスト実施アドレスの入力要求、テストア
ドレスの表示、テスト終了の表示を行う。データテスト
部４７は、テスト実施アドレス入力部４５で入力された
アドレスでディスクアレイ制御部５０に読み出しの命令
を出す。データを正常に読み出した場合、テスト済みア
ドレス記憶部４８に今回テストしたアドレスを記憶させ
る。テスト済みデータアドレス記憶部４８は、データテ
スト部４７がテストしたアドレスを格納するための記憶
部であり、次のアドレスが渡されるまで格納したアドレ
スを記憶する。また、記憶したアドレスはアドレス比較
部４９に渡される。アドレス比較部４９は、最終アドレ
スとテストしたアドレスを比較する。
【００２３】本実施の形態２の動作について、図面を参
照して詳細に説明する。
照して詳細に説明する。
【００２４】図３のデータ消失防止テスト部４３は、テ
スト開始スイッチ４４がＯＮになった場合、機能を開始
する（図４のステップ６１）。テスト開始スイッチ４４
がＯＮになったことで出力部４６にテスト実施アドレス
の入力要求が表示される。その後、テスト実施アドレス
入力部４５で、テスト実施アドレスを入力する（図４の
ステップ６２）。データテスト部４７は指定されたアド
レスのデータのテストを実施する（図４のステップ６
３）。ディスクアレイ制御部５０は、データテスト部４
７の命令を受け、そのアドレスに対して磁気ディスク制
御部５１を介し、磁気ディスク装置５２に読み出し命令
を実行する（図２のステップ６３）。
スト開始スイッチ４４がＯＮになった場合、機能を開始
する（図４のステップ６１）。テスト開始スイッチ４４
がＯＮになったことで出力部４６にテスト実施アドレス
の入力要求が表示される。その後、テスト実施アドレス
入力部４５で、テスト実施アドレスを入力する（図４の
ステップ６２）。データテスト部４７は指定されたアド
レスのデータのテストを実施する（図４のステップ６
３）。ディスクアレイ制御部５０は、データテスト部４
７の命令を受け、そのアドレスに対して磁気ディスク制
御部５１を介し、磁気ディスク装置５２に読み出し命令
を実行する（図２のステップ６３）。
【００２５】図４のステップ６８〜７４は、図２に示さ
れた実施の形態１のステップ２６〜３２と同様なので説
明は省略する。
れた実施の形態１のステップ２６〜３２と同様なので説
明は省略する。
【００２６】今回テストしたアドレスと最終アドレスを
比較し、最終アドレスと一致しなかった場合、今回テス
トしたアドレスを出力部４６に表示する（図４のステッ
プ７５）。今回テストしたアドレスと最終アドレスが一
致した場合、出力部４６にテスト終了の表示を行う（図
４のステップ７６）。
比較し、最終アドレスと一致しなかった場合、今回テス
トしたアドレスを出力部４６に表示する（図４のステッ
プ７５）。今回テストしたアドレスと最終アドレスが一
致した場合、出力部４６にテスト終了の表示を行う（図
４のステップ７６）。
【００２７】本実施の形態２は、読み出しテストの実施
をディスクアレイ装置に自動的に判断させる方法ではな
く、オペレータの判断でシステムの負荷が低い時、読み
出しのテストを行う効果がある。
をディスクアレイ装置に自動的に判断させる方法ではな
く、オペレータの判断でシステムの負荷が低い時、読み
出しのテストを行う効果がある。
【００２８】
【発明の効果】第１の効果は、本発明のデータ消失防止
機能が、Ｉ／Ｏ動作の最小単位をその実行単位としてデ
ィスクアレイ装置内で逐次に実行することにより、ホス
トコンピュータのＩ／Ｏ制御処理に対しホストコンピュ
ータの負荷増大を招くことなく磁気ディスク装置のデー
タのテストおよび代替位置への移動を行うことである。
その理由は、アドレス単位でテストを行うため、長時
間、ディスクアレイ制御部を占有せず、常にホストコン
ピュータのＩ／Ｏ動作を優先することが可能になるため
である。
機能が、Ｉ／Ｏ動作の最小単位をその実行単位としてデ
ィスクアレイ装置内で逐次に実行することにより、ホス
トコンピュータのＩ／Ｏ制御処理に対しホストコンピュ
ータの負荷増大を招くことなく磁気ディスク装置のデー
タのテストおよび代替位置への移動を行うことである。
その理由は、アドレス単位でテストを行うため、長時
間、ディスクアレイ制御部を占有せず、常にホストコン
ピュータのＩ／Ｏ動作を優先することが可能になるため
である。
【００２９】第２の効果は、本発明のデータ消失防止機
能が、テスト開始時間カウンタを設けることにより、常
にテストを実行するのではなく、ある定期にテストを実
行することである。その理由は、ホストコンピュータの
Ｉ／Ｏ動作がないときに常にテストを行うことは、ディ
スクアレイ装置に常に何らかの負荷が発生する。このた
め、テストの実行を間隔を置いて行うことで、ディスク
アレイ装置に対しての負荷を軽減し、回路および磁気デ
ィスク装置の機構部の温度上昇を抑えるためためであ
る。
能が、テスト開始時間カウンタを設けることにより、常
にテストを実行するのではなく、ある定期にテストを実
行することである。その理由は、ホストコンピュータの
Ｉ／Ｏ動作がないときに常にテストを行うことは、ディ
スクアレイ装置に常に何らかの負荷が発生する。このた
め、テストの実行を間隔を置いて行うことで、ディスク
アレイ装置に対しての負荷を軽減し、回路および磁気デ
ィスク装置の機構部の温度上昇を抑えるためためであ
る。
【図１】実施の形態１の構成図
【図２】実施の形態１のフロー図
【図３】実施の形態２の構成図
【図４】実施の形態２のフロー図
１ ホストコンピュータ ２ ディスクアレイ装置 ３ データ消失防止テスト部 ４ テスト開始時間カウンタ ５ ホストＩ／Ｏチェック部 ６ データテスト部 ７ テスト済みデータアドレス記憶部 ８ アドレス比較部 ９ ディスクアレイ制御部 １０ 磁気ディスク制御部 １１ 磁気ディスク装置 ４１ ホストコンピュータ ４２ ディスクアレイ装置 ４３ データ消失防止テスト部 ４４ テスト開始スイッチ ４５ テスト実施アドレス入力部 ４６ 出力部 ４７ データテスト部 ４８ テスト済みデータアドレス記憶部 ４９ アドレス比較部 ５０ ディスクアレイ制御部 ５１ 磁気ディスク制御部 ５２ 磁気ディスク装置
Claims (8)
- 【請求項１】 ホストコンピュータに接続されるディス
クアレイ装置であって、 前記ホストコンピュータのＩ／Ｏ動作を妨げないように
読み出しテストを行うデータ消失防止テスト部と、磁気
ディスク装置を並列に処理するディスクアレイ制御部
と、前記磁気ディスク装置を制御する磁気ディスク制御
部と、第１の論理ディスク装置から第ｎの論理ディスク
装置までの並列な論理ディスク装置として使用される前
記磁気ディスク装置と、 を備え、 前記データ消失防止テスト部が、テスト開始時間を計測
するテスト開始時間カウンタと、前記ディスクアレイ制
御部が前記ホストコンピュータからのＩ／Ｏ命令を実行
中であるか否かを確認し前記ディスクアレイ制御部がＩ
／Ｏ動作中でない場合にデータテスト部を作動させるホ
ストＩ／Ｏチェック部と、データの読み出しテストを行
うデータテスト部と、直前にデータ読み出しテストを実
行したアドレスを記憶するテスト済みデータアドレス記
憶部と、前記テスト済みデータアドレス記憶部に記憶し
ているアドレスが最終アドレスかどうかを比較し最終ア
ドレスと一致しないときは前記ホストＩ／Ｏチェック部
に動作の開始を指示するアドレス比較部と、を含み、 前記アドレス比較部で最終アドレスと一致したときにテ
スト時間の計測を終了し、テスト終了の時間が定期にテ
ストを実行する間隔のｎ時間を上回っている場合には継
続してテストを実行し、テスト終了の時間が定期にテス
トを実行する間隔のｎ時間を下回っている場合にはテス
トを終了しテストの開始からｎ時間経過後に前記テスト
開始時間カウンタが起動しテストを自動的に開始する、 ことを特徴とするデータ消失防止機能付きディスクアレ
イ装置。 - 【請求項２】 前記データ消失防止テスト部が、オペレ
ータがスイッチをＯＮさせることでテスト実施アドレス
の入力要求を出力部に表示するテスト開始スイッチと、
テストを実施するアドレスを入力するテスト実施アドレ
ス入力部と、オペレータに対してテスト実施アドレスの
入力要求，テストしたアドレスの表示，およびテスト終
了の表示を行う出力部と、データの読み出しテストを行
うデータテスト部と、直前にデータ読み出しテストを実
行したアドレスを記憶するテスト済みデータアドレス記
憶部と、前記テスト済みデータアドレス記憶部に記憶し
ているアドレスが最終アドレスかどうかを比較し最終ア
ドレスと一致しないときは前記テスト実施アドレス入力
部に動作の開始を指示し最終アドレスと一致したときは
前記出力部にテスト終了の表示を行うアドレス比較部
と、 を含むことを特徴とする請求項１記載のデータ消失防止
機能付きディスクアレイ装置。 - 【請求項３】 前記データテスト部におけるデータの読
み出しテスト中に、前記磁気ディスク制御部の何れかの
磁気ディスク制御部より異常の報告があった場合、他の
磁気ディスク装置のデータを利用し、データが正常に読
めなかった箇所のデータの復元を行い、復元したデータ
を正常に読めなかった磁気ディスク装置の代替領域に記
録するために前記磁気ディスク制御部を介して代替領域
を割り当て、復元したデータを書き込むことを特徴とす
る請求項１または請求項２記載のデータ消失防止機能付
きディスクアレイ装置。 - 【請求項４】 前記ホストコンピュータのＩ／Ｏ命令が
発生しテストを中断した場合でも、前記テスト済みデー
タアドレス記憶部が記憶しているアドレスを基に未テス
トデータのアドレスからテストが行えることを特徴とす
る請求項１記載のデータ消失防止機能付きディスクアレ
イ装置。 - 【請求項５】 前記読み出しテストの１回の処理単位を
前記磁気ディスク装置のレコード単位に行うことを特徴
とする請求項１または請求項２記載のデータ消失防止機
能付きディスクアレイ装置。 - 【請求項６】 前記テスト実施アドレス入力部で入力す
るアドレスを単一形式で指定することを特徴とする請求
項２記載のデータ消失防止機能付きディスクアレイ装
置。 - 【請求項７】 前記テスト実施アドレス入力部で入力す
るアドレスをリスト形式で指定することを特徴とする請
求項２記載のデータ消失防止機能付きディスクアレイ装
置。 - 【請求項８】 前記テスト実施アドレス入力部で入力す
るアドレスを範囲形式で指定することを特徴とする請求
項２記載のデータ消失防止機能付きディスクアレイ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17912198A JP3231704B2 (ja) | 1998-06-25 | 1998-06-25 | データ消失防止機能付きディスクアレイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17912198A JP3231704B2 (ja) | 1998-06-25 | 1998-06-25 | データ消失防止機能付きディスクアレイ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000010736A JP2000010736A (ja) | 2000-01-14 |
| JP3231704B2 true JP3231704B2 (ja) | 2001-11-26 |
Family
ID=16060378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17912198A Expired - Fee Related JP3231704B2 (ja) | 1998-06-25 | 1998-06-25 | データ消失防止機能付きディスクアレイ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3231704B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4387968B2 (ja) | 2005-03-28 | 2009-12-24 | 富士通株式会社 | 障害検出装置および障害検出方法 |
| JP4891811B2 (ja) * | 2007-02-28 | 2012-03-07 | 東芝ストレージデバイス株式会社 | 制御装置および記憶装置 |
-
1998
- 1998-06-25 JP JP17912198A patent/JP3231704B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000010736A (ja) | 2000-01-14 |
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