JP3226310B2 - レーザマーカ - Google Patents
レーザマーカInfo
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- JP3226310B2 JP3226310B2 JP34778891A JP34778891A JP3226310B2 JP 3226310 B2 JP3226310 B2 JP 3226310B2 JP 34778891 A JP34778891 A JP 34778891A JP 34778891 A JP34778891 A JP 34778891A JP 3226310 B2 JP3226310 B2 JP 3226310B2
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- Japan
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- laser
- mirror
- light
- polarization direction
- polarized
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Lasers (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ラスタ走査型のレーザ
マーカに関するものである。
マーカに関するものである。
【0002】
【従来の技術】ラスタ走査型のレーザマーカは、ピーク
パワーの高いレーザ光をマスク上で走査することによ
り、マスク面の光を透過する部分の形状を被印字面に焼
付けるようにしたものである。このようなレーザマーカ
にあっては、レーザ光を細く絞っているため、その単位
照射面積は小さかった。
パワーの高いレーザ光をマスク上で走査することによ
り、マスク面の光を透過する部分の形状を被印字面に焼
付けるようにしたものである。このようなレーザマーカ
にあっては、レーザ光を細く絞っているため、その単位
照射面積は小さかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のレーザマー
カでは単位照射光のエネルギは高く、刻印スレッショル
ドの比較的高い材料、例えば金属への印字では有効であ
るが、刻印スレッショルドの低い材料、例えばレジンに
おいては上記エネルギ(パワー)を低くして同一の照射
面積で印字している。このため、刻印スレッショルドが
低い材料であるにもかかわらず刻印スレッショルドが高
い材料と同じ刻印時間がかかってしまい、能率が悪かっ
た。上記刻印スレッショルドが低い材料に刻印する場
合、パワーを同一に保ってその照射面積を広くしてもよ
いが、従来のレーザマーカにおける光学系では照射面に
おける照射面積を広げると、その中心部と周囲部とでエ
ネルギ密度の分布が大きく異なってしまい、良好な印字
を行なうことができなかった。
カでは単位照射光のエネルギは高く、刻印スレッショル
ドの比較的高い材料、例えば金属への印字では有効であ
るが、刻印スレッショルドの低い材料、例えばレジンに
おいては上記エネルギ(パワー)を低くして同一の照射
面積で印字している。このため、刻印スレッショルドが
低い材料であるにもかかわらず刻印スレッショルドが高
い材料と同じ刻印時間がかかってしまい、能率が悪かっ
た。上記刻印スレッショルドが低い材料に刻印する場
合、パワーを同一に保ってその照射面積を広くしてもよ
いが、従来のレーザマーカにおける光学系では照射面に
おける照射面積を広げると、その中心部と周囲部とでエ
ネルギ密度の分布が大きく異なってしまい、良好な印字
を行なうことができなかった。
【0004】本発明は上記のことにかんがみなされたも
ので、レーザ光の被照射面における照射面積を、レーザ
光の強度分布をその中心部と周囲部とで略同一にした状
態で、略2倍にすることができ、刻印スレッショルドの
高い材料に印字するに足るレーザパワーを持った高出力
のレーザマーカを用いて、刻印スレッショルドの低い材
料を、上記材料の略2倍等の高い走査速度で印字するこ
とができると共にレーザパワーを有効に利用できるよう
にしたレーザマーカを提供することを目的とするもので
ある。
ので、レーザ光の被照射面における照射面積を、レーザ
光の強度分布をその中心部と周囲部とで略同一にした状
態で、略2倍にすることができ、刻印スレッショルドの
高い材料に印字するに足るレーザパワーを持った高出力
のレーザマーカを用いて、刻印スレッショルドの低い材
料を、上記材料の略2倍等の高い走査速度で印字するこ
とができると共にレーザパワーを有効に利用できるよう
にしたレーザマーカを提供することを目的とするもので
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るレーザマーカは、X方向に偏向するX
方向偏向ミラー、Y方向に偏向するY方向偏向ミラー、
フィールドレンズ、マスク等のラスタ走査系を介して被
印字面にラスタ走査してレーザ光を照射するレーザマー
カにおいて、上記両偏向ミラーの上流側に位置する偏向
ミラーとレーザ光源との間に、複像偏光プリズム12,
12′及びこれに付属するレンズ等の補助光学素子等か
らなるレーザ光を2つのレーザ光に分岐する2ビーム光
学系を介装した構成となっている。
に、本発明に係るレーザマーカは、X方向に偏向するX
方向偏向ミラー、Y方向に偏向するY方向偏向ミラー、
フィールドレンズ、マスク等のラスタ走査系を介して被
印字面にラスタ走査してレーザ光を照射するレーザマー
カにおいて、上記両偏向ミラーの上流側に位置する偏向
ミラーとレーザ光源との間に、複像偏光プリズム12,
12′及びこれに付属するレンズ等の補助光学素子等か
らなるレーザ光を2つのレーザ光に分岐する2ビーム光
学系を介装した構成となっている。
【0006】
【作 用】レーザ光源からのレーザ光は複像偏光プリズ
ム12,12′及び補助光学素子等からなる2ビーム光
学系にて分岐されて偏向ミラー系に入射され、被照射面
に上記2ビーム光学系を介装しない場合のレーザ光に比
べて強度が1/2で、照射面積が2倍のレーザ光となっ
て照射される。
ム12,12′及び補助光学素子等からなる2ビーム光
学系にて分岐されて偏向ミラー系に入射され、被照射面
に上記2ビーム光学系を介装しない場合のレーザ光に比
べて強度が1/2で、照射面積が2倍のレーザ光となっ
て照射される。
【0007】
【実 施 例】本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。図中1は光源であるYAGレーザ2からのレーザ光
であり、このレーザ光1はX方向偏向ミラー3、リレー
レンズ4、ポリゴンミラー5、フィールドレンズ6、液
晶マスク7、偏向ミラー8、対物レンス9を経て被印字
面10に照射されるようになっている。
る。図中1は光源であるYAGレーザ2からのレーザ光
であり、このレーザ光1はX方向偏向ミラー3、リレー
レンズ4、ポリゴンミラー5、フィールドレンズ6、液
晶マスク7、偏向ミラー8、対物レンス9を経て被印字
面10に照射されるようになっている。
【0008】すなわち、上記レーザ光1はX方向偏向ミ
ラー3の走査動作により、その反射光は順次被印字面に
おいてX方向に所定の角度ずつ偏向される。そしてこの
X方向偏向ミラー3の反射光はリレーレンズ4を経てポ
リゴンミラー5に照射され、このポリゴンミラー5の回
転に従って被印字面におけるY方向1行分のY方向走査
が行なわれる。この光はフィールドレンズ6にて所望の
大きさに集光されて液晶マスク7を通り、この液晶マス
ク7の模様に従って被印字面10に印字される。
ラー3の走査動作により、その反射光は順次被印字面に
おいてX方向に所定の角度ずつ偏向される。そしてこの
X方向偏向ミラー3の反射光はリレーレンズ4を経てポ
リゴンミラー5に照射され、このポリゴンミラー5の回
転に従って被印字面におけるY方向1行分のY方向走査
が行なわれる。この光はフィールドレンズ6にて所望の
大きさに集光されて液晶マスク7を通り、この液晶マス
ク7の模様に従って被印字面10に印字される。
【0009】上記構成におけるレーザマーカにおいて、
X方向偏向ミラー3とYAGレーザ2との間に、その上
流側からビームエキスパンダ11と複像偏光プリズム1
2とレンズ13が介装してある。
X方向偏向ミラー3とYAGレーザ2との間に、その上
流側からビームエキスパンダ11と複像偏光プリズム1
2とレンズ13が介装してある。
【0010】上記複像偏光プリズム12は入射した無偏
光の光を互いに垂直な方向に振動する2の直線偏光に分
離して取出すための素子であり、一般にウォラストンタ
イプ、ロションタイプ、セナルモンタイプ等がある。図
1に示す実施例はウォラストンタイプの複像偏光プリズ
ム12を用いた例を示すもので、この場合図2に示すよ
うに複像偏光プリズム12にて分岐されたレーザ光1
a,1bはレンズ13にて平行光に偏向されてX方向偏
向ミラー3に入射される。なお上記複像偏光プリズム1
2の配置姿勢は、これの分岐光が被印字面10上におい
て、X方向に分岐するように配置する。
光の光を互いに垂直な方向に振動する2の直線偏光に分
離して取出すための素子であり、一般にウォラストンタ
イプ、ロションタイプ、セナルモンタイプ等がある。図
1に示す実施例はウォラストンタイプの複像偏光プリズ
ム12を用いた例を示すもので、この場合図2に示すよ
うに複像偏光プリズム12にて分岐されたレーザ光1
a,1bはレンズ13にて平行光に偏向されてX方向偏
向ミラー3に入射される。なお上記複像偏光プリズム1
2の配置姿勢は、これの分岐光が被印字面10上におい
て、X方向に分岐するように配置する。
【0011】上記本発明の実施例の構成において、YA
Gレーザ2はロッド径4mmのものが用いられ、かつ共
振器中にQスイッチが設けてあり、ピークパワーの高い
パルスレーザを発振できるようになっている。レーザ光
1はビームエキスパンダ11によりレーザ光1の径は縮
小されるが、ここで広がり角の補正を受け、印字光路長
内でのビームの広がりによる減衰が最小に抑えられる。
エキスパンダ11を通過した上記ビーム光1は複像偏光
プリズム12により、2つの互いに直交する直線偏光の
ビーム光1a,1bで被照射面でのX方向に分岐され
る。分岐されたレーザ光1a,1bの強度は分岐する前
のレーザ光1の強度の1/2で、それぞれの照射形状は
分岐前のレーザ光1の照射形状と同等であり、かつモー
ド分布も同一である。上記2つのビーム光1a,1bは
X方向偏向ミラー3に入射され、液晶マスク7の抑角に
合った方向に偏向される。その後、抑角に広がった光を
リレーレンズ4によりポリゴンミラー5の1点に集中さ
せる方向に集光させる。ポリゴンミラー5により走査を
行ない、液晶マスク7の画像情報のある部分をラスタ走
査する。このときフィールドレンズ6により画像情報を
所望の大きさに集光され、偏向ミラー8、対物レンズ9
を経て被印字面10に照射される。
Gレーザ2はロッド径4mmのものが用いられ、かつ共
振器中にQスイッチが設けてあり、ピークパワーの高い
パルスレーザを発振できるようになっている。レーザ光
1はビームエキスパンダ11によりレーザ光1の径は縮
小されるが、ここで広がり角の補正を受け、印字光路長
内でのビームの広がりによる減衰が最小に抑えられる。
エキスパンダ11を通過した上記ビーム光1は複像偏光
プリズム12により、2つの互いに直交する直線偏光の
ビーム光1a,1bで被照射面でのX方向に分岐され
る。分岐されたレーザ光1a,1bの強度は分岐する前
のレーザ光1の強度の1/2で、それぞれの照射形状は
分岐前のレーザ光1の照射形状と同等であり、かつモー
ド分布も同一である。上記2つのビーム光1a,1bは
X方向偏向ミラー3に入射され、液晶マスク7の抑角に
合った方向に偏向される。その後、抑角に広がった光を
リレーレンズ4によりポリゴンミラー5の1点に集中さ
せる方向に集光させる。ポリゴンミラー5により走査を
行ない、液晶マスク7の画像情報のある部分をラスタ走
査する。このときフィールドレンズ6により画像情報を
所望の大きさに集光され、偏向ミラー8、対物レンズ9
を経て被印字面10に照射される。
【0012】図3はロションタイプの複像偏光プリズム
12′と方解石プリズム14とを組合わせた光学素子で
ビーム光1を分岐する例を示すもので、この方式は2つ
のプリズム12′,14間の距離dを変化させることに
より2つのビーム1a′,1b′間距離Dが変化すると
いう利点がある。すなわち、複像偏光プリズム12′と
方解石プリズム14の常光線と異光線の屈折率が互いに
逆転しているところにこの原理が成立するものである。
なお図3において、常光線1a′は直進し、異光線1
b′が分離される。θはその分離角である。
12′と方解石プリズム14とを組合わせた光学素子で
ビーム光1を分岐する例を示すもので、この方式は2つ
のプリズム12′,14間の距離dを変化させることに
より2つのビーム1a′,1b′間距離Dが変化すると
いう利点がある。すなわち、複像偏光プリズム12′と
方解石プリズム14の常光線と異光線の屈折率が互いに
逆転しているところにこの原理が成立するものである。
なお図3において、常光線1a′は直進し、異光線1
b′が分離される。θはその分離角である。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、レーザ光の被照射面に
おける照射面積を、レーザ光の強度分布をその中心部と
周囲部とで略同一にした状態で、略2倍にすることがで
き、刻印スレッショルドの高い材料に印字するに足るレ
ーザパワーを持った高出力のレーザマーカを用いて、刻
印スレッショルドの低い材料を、上記材料の略2倍等の
高い走査速度で印字することができると共にレーザパワ
ーを有効に利用できる。
おける照射面積を、レーザ光の強度分布をその中心部と
周囲部とで略同一にした状態で、略2倍にすることがで
き、刻印スレッショルドの高い材料に印字するに足るレ
ーザパワーを持った高出力のレーザマーカを用いて、刻
印スレッショルドの低い材料を、上記材料の略2倍等の
高い走査速度で印字することができると共にレーザパワ
ーを有効に利用できる。
【図1】本発明の実施例を示す概略的な構成説明図であ
る。
る。
【図2】ウォラストンタイプの複像偏光プリズムの作用
説明図である。
説明図である。
【図3】ロションタイプの複像偏光プリズムの作用説明
図である。
図である。
1…レーザ光、1a,1b…分岐されたレーザ光、1
a′…常光線、1b′…異光線、2…YAGレーザ、3
…X方向偏向ミラー、4…リレーレンズ、5…ポリゴン
ミラー、6…フィールドレンズ、7…液晶マスク、8…
偏向ミラー、9…対物レンズ、10…被印字面、11…
ビームエキスパンダ、12,12′…複像偏光プリズ
ム、13…レンズ、14…方解石プリズム。
a′…常光線、1b′…異光線、2…YAGレーザ、3
…X方向偏向ミラー、4…リレーレンズ、5…ポリゴン
ミラー、6…フィールドレンズ、7…液晶マスク、8…
偏向ミラー、9…対物レンズ、10…被印字面、11…
ビームエキスパンダ、12,12′…複像偏光プリズ
ム、13…レンズ、14…方解石プリズム。
Claims (1)
- 【請求項1】 X方向に偏向するX方向偏向ミラー、Y
方向に偏向するY方向偏向ミラー、フィールドレンズ、
マスク等のラスタ走査系を介して被印字面にラスタ走査
してレーザ光1を照射するレーザマーカにおいて、上記
両偏向ミラーの上流側に位置する偏向ミラーとレーザ光
源との間に、複像偏光プリズム12,12′及びこれに
付属するレンズ等の補助光学素子等からなるレーザ光を
2つのレーザ光に分岐するビーム光学系を介装したこと
を特徴とするレーザマーカ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34778891A JP3226310B2 (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | レーザマーカ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34778891A JP3226310B2 (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | レーザマーカ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05160494A JPH05160494A (ja) | 1993-06-25 |
JP3226310B2 true JP3226310B2 (ja) | 2001-11-05 |
Family
ID=18392580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34778891A Expired - Fee Related JP3226310B2 (ja) | 1991-12-04 | 1991-12-04 | レーザマーカ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3226310B2 (ja) |
-
1991
- 1991-12-04 JP JP34778891A patent/JP3226310B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05160494A (ja) | 1993-06-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |