JP3224696B2 - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

半導体装置及びその製造方法

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JP3224696B2 JP24599394A JP24599394A JP3224696B2 JP 3224696 B2 JP3224696 B2 JP 3224696B2 JP 24599394 A JP24599394 A JP 24599394A JP 24599394 A JP24599394 A JP 24599394A JP 3224696 B2 JP3224696 B2 JP 3224696B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数に分割されたアウ
タリード部の先端をサイドレール部により一体に連結し
ているリードフレーム上に、そのアウタリード部をアウ
タリードとしてチップマウント、ワイヤボンド、及びパ
ッケージ加工が順次なされ、次いでそのアウタリード部
に半田コーティングをした後、そのサイドレール部を切
断してなる半導体装置及びその製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図6は従来の半導体装置の一例を示す要
部平面図である。図6において、この半導体装置は、図
示せぬICチップとアウタリード部51との間を同じく
図示せぬワイヤでボンディングし、その後から樹脂モー
ルドにより封止されており、その樹脂モールドされた部
分がパッケージ部54として成り立っている。そして、
パッケージ部54の側面から複数(本実施例では片側9
本)のアウタリード部51が導出された構造になってい
る。
【0003】図7は、図6に示した半導体装置の製造工
程の一例を説明するための図である。図7において従来
の半導体装置の製造工程では、その製造途中において、
複数のアウタリード部51は、サイドレール部52によ
り一体に連結されてリボン状のリードフレーム53とし
て形成されている。そして、このリードフレーム53上
に、アウタリード部51をアウタリードとしてチップマ
ウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工が順次なさ
れて、中央にパッケージ部54が形成された状態が作ら
れる。なお、ここでのパッケージ部54からサイドレー
ル部52までの距離T、すなわちアウタリード部51の
長さは全て一定である。次いで、アウタリード部51の
変形防止対策として、リードフレーム53を溶融半田内
に浸漬し、アウタリード部51の表面に半田をコーティ
ングする。その後、カッティング線55の部分でサイド
レール部52を切断し、独立アウタリード部51として
形成する。すると、これにより長さSのアウタリード部
51を有した図6に示す半導体装置が形成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に、ア
ウタリード部51を溶融半田内に浸漬してコーティング
をする場合、浸漬から引き上げるときに、溶融半田の表
面張力の関係から、中央に位置するアウタリード部51
より半田が切れ出し、最後に両端の半田が切れる。した
がって、最後に半田が切れる両端側では、途中で溶融半
田が固体化して半田ブリッジが発生し易い。このため、
歩留まりが悪く問題となっている。また、このブリッジ
の発生を抑えるためには、両端側に位置するアウタリー
ド部の部分における半田の切れを良くし、中央に位置す
るアウタリード部51での切れと略同じとなるようにす
れば良いことになる。
【0005】本発明は、上記点に鑑みてなされたもので
あり、その目的はアウタリード部に半田を浸漬するとき
に半田ブリッジが発生することのないようにした半導体
装置及びその製造方法を提供することにある。さらに、
他の目的は、以下に説明する内容の中で順次明らかにし
て行く。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的は、複数に分割
されたアウタリード部の先端をサイドレール部により一
体に連結しているリードフレーム上に、前記アウタリー
ド部をアウタリードとしてチップマウント、ワイヤボン
ド、及びパッケージ加工がなされ、次いで前記リードフ
レームを溶融半田内に浸漬して前記アウタリード部を溶
融半田内に浸漬した後、前記サイドレール部を切断して
なる半導体装置及びその製造方法においては、前記サイ
ドレール部を切断する前の前記アウタリード部の各リー
ド長さを、前記アウタリード部毎に異ならせておき、前
記アウタリード部毎に溶融半田の切れ時間を調整するよ
うにして達成される。さらに、実施にあたっては、前記
サイドレール部を切断する前の前記アウタリード部の各
リード長さを、中央に位置する前記アウタリード部を短
くするとともに、端に位置するアウタリード部に成るに
従って連続的、若しくは段階的に長くなるように形成し
ても良い。
【0007】また、この目的は、前記アウタリード部よ
り切断される前の前記サイドレール部に、前記アウタリ
ード部のリード幅と同じ若しくは若干大きい幅の溝を設
けておき、前記リードフレームが溶融半田内に浸漬され
て引き上げられるときに、前記アウタリード部上の余剰
半田を前記サイドレール部側に流すようにしても達成す
ることができる。
【0008】
【作用】サイドレール部を切断する前のアウタリード部
の各リード長さを変えることにより、各アウタリード部
における溶融半田の切れ時間を調節することができる。
すなわち、中央に位置するアウタリード部を短く、端に
位置するアウタリード部を長く形成しておき、中央に位
置するアウタリード部での溶融半田の切れ時間と、端に
位置するアウタリード部での溶融半田の切れ時間を略同
じにさせて溶融半田内に浸漬するようにした場合では、
全てのアウタリード部において半田切れの良い、引き上
げタイミングを設定し易くなる。これに対して、薄い半
田コーティングをしたいアウタリード部は長く、厚い半
田コーティングをしたいアウタリード部は短く形成して
おくと、アウタリード部毎に半田コーティングの厚みを
簡単に変えることもできる。
【0009】また、アウタリード部より切断される前の
サイドレール部に、アウタリード部のリード幅と同じ若
しくは若干大きい幅の溝を設けておき、リードフレーム
が溶融半田内に浸漬されて引き上げられるときに、アウ
タリード部上の余剰半田をサイドレール部側に流すよう
にした場合では、全てのアウタリード部において半田切
れの良い、引き上げタイミングを設定し易くなる。さら
に、溶融半田への浸漬が終わって洗浄する場合にも、上
記溝を利用して洗浄液の除去を行わせることができ、洗
浄性が向上する。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。図2は本発明の一実施例に係る半導体
装置の要部平面図である。図2において、この半導体装
置は、図示せぬICチップとアウタリード部1との間を
同じく図示せぬワイヤでボンディングし、その後から樹
脂モールドにより封止されており、その樹脂モールドさ
れた部分がパッケージ部4として成り立っている。そし
て、パッケージ部4の側面から複数(本実施例では片側
9本)のアウタリード部1が導出された構造になってい
る。
【0011】図1は、図2に示した半導体装置の製造工
程の一例を説明するための図である。図1において図2
に示した本発明に係る半導体装置の製造工程では、その
製造途中において、複数のアウタリード部1は、サイド
レール部2により一体に連結されてリボン状のリードフ
レーム3として形成されている。そして、このリードフ
レーム3上に、アウタリード部1をアウタリードとして
チップマウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工が
順次なされて、中央にパッケージ部4が形成された状態
が作られる。なお、ここでのパッケージ部4からサイド
レール部2までの距離、すなわちアウタリード部1の長
さは全て一定ではなく、中央のアウタリード部1での距
離をTC 、端部のアウタリード部1での距離をTE とす
ると、距離TE の方が距離TC よりも大きく(TE >T
C )設定してある。さらに述べれば、本実施例では中央
のアウタリード部1から端部のアウタリード部1に進む
に従って連続して距離が長くなるように、パッケージ部
4と対向するサイドレール部2の幅寸法を変えている。
また、この各アウタリード部1における距離の設定は、
次工程でリードフレーム3を溶融半田内に浸漬し、次い
で引き上げるときに、各アウタリード部1上での半田の
流れが良く得られて略均一の時間で半田が切れ、アウタ
リード部1の全体に均一なコーティングができる状態に
して設定される。
【0012】そして、上記パッケージ部4が形成された
後は、アウタリード部1の変形防止対策として、上記リ
ードフレーム3を溶融半田内に浸漬し、アウタリード部
1の表面に半田をコーティングする。その後、カッティ
ング線5の部分でサイドレール部2を切断し、独立した
アウタリード部1として形成する。すると、これにより
長さSのアウタリード部1を有した図1に示す半導体装
置が形成される。
【0013】したがって、このように構成された半導体
装置では、サイドレール部2を切断する前のアウタリー
ド部1の各リード長さ(パッケージ部4からサイドレー
ル部2までの距離)を、中央に位置するアウタリード部
1を短く、端に位置するアウタリード部1となるに従っ
て長く形成しておき、中央に位置するアウタリード部1
での溶融半田の切れ時間と、端に位置するアウタリード
部1での溶融半田の切れ時間を略同じにさせて溶融半田
内に浸漬するようにしているので、半田コーティング処
理工程において、全てのアウタリード部1に対して半田
切れの良い、引き上げタイミングを設定し易くなる。こ
れにより、半田ブリッジを防ぎ、歩留まりを向上させる
ことができる。これに対して、薄い半田コーティングを
したいアウタリード部1は長く、厚い半田コーティング
をしたいアウタリード部1は短く形成しておくと、アウ
タリード部1毎に半田コーティングの厚みを簡単に変え
ることもできる。
【0014】なお、図1に示した上記実施例では、パッ
ケージ部4からサイドレール部2までの距離を、中央の
アウタリード部1から端部のアウタリード部1に進むに
従って連続して長くなるようにパッケージ部4と対向す
るサイドレール部2の幅寸法を変えた場合について説明
したが、上記距離は連続させずに例えば図3に示すよう
に段階的に変化させても差し支えないものである。すな
わち、図3では距離TC と距離TE とで段階的に変化し
ている。また、図3において、図1及び図2と同一符号
を付したものは図1及び図2と同一のものを示してい
る。
【0015】図4は本発明の第2の実施例として示す半
導体装置及びその製造工程を説明するための図で、図5
は図4のA−A線に沿う拡大断面図である。また、図4
及び図5において図1及び図2と同一符号を付したもの
は図5と同一のものを示している。図4において、リー
ドフレーム3は、複数のアウタリード部1と、これら複
数のアウタリード部1を一体に連結しているサイドレー
ル部2とでなり、後述するパッケージ部4からサイドレ
ール部2までの距離、すなわちアウタリード部1の長さ
は全て一定にして形成されている。また、サイドレール
部2上には、アウタリード部1,1間に位置する部分
に、サイドレール部2を横切る(アウタリード部1が延
びている方向)状態にして溝6が形成されている。な
お、本実施例では、アウタリード部1の幅W1 は50〜
100μm程度で、溝6の幅W2 はこの幅W1 と等しい
か、これよりも若干大きな(W2 ≧W1 )寸法で形成さ
れ、溝6の深さd(図5参照)は0.2 〜0.5 mm程度に
して作られる。また、この深さdは、次工程でリードフ
レーム3を溶融半田内に浸漬し、次いで引き上げるとき
に各アウタリード部1上での半田の流れが良く得られて
略均一の時間で半田が切れ、リード全体に均一なコーテ
ィングができる状態にして設定される。
【0016】そして、この第2の実施例の場合でも、上
記第2の実施例の場合と同様に、半導体装置の製造途中
において、複数のアウタリード部1は、サイドレール部
2により一体に連結されてリボン状のリードフレーム3
として形成される。また、このリードフレーム3上に、
アウタリード部1をアウタリードとしてチップマウン
ト、ワイヤボンド、及びパッケージ加工が順次なされ
て、中央にパッケージ部4が形成された状態が作られ
る。
【0017】そして、上記パッケージ部4が形成された
後は、アウタリード部1の変形防止対策として、上記リ
ードフレーム3を溶融半田内に浸漬し、アウタリード部
1の表面に半田をコーティングする。その後、カッティ
ング線5の部分でサイドレール部2を切断し、独立した
アウタリード部1として形成する。すると、これにより
長さSのアウタリード部1を有した図1に示す半導体装
置と同じ半導体装置が形成される。
【0018】したがって、このように構成された半導体
装置では、アウタリード部1より切断される前のサイド
レール部2に、アウタリード部1のリード幅W1 と同じ
若しくは若干大きい幅W2 の溝6を設けているので、リ
ードフレーム3が溶融半田内に浸漬されて引き上げられ
るときに、アウタリード部1上の余剰半田がサイドレー
ル部2側に流れることになり、全てのアウタリード部1
で半田切れが良くなる。これにより、半田ブリッジを防
ぎ、歩留まりを向上させることができる。また、溶融半
田への浸漬が終わって洗浄する場合にも、上記溝6を利
用して洗浄液の除去を行わせることができ、洗浄性が向
上する。
【0019】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
サイドレール部を切断する前のアウタリード部の各リー
ド長さを変えることにより、各アウタリード部における
溶融半田の切れ時間を調節することができる。すなわ
ち、中央に位置するアウタリード部を短く、端に位置す
るアウタリード部を長く形成しておき、中央に位置する
アウタリード部での溶融半田の切れ時間と、端に位置す
るアウタリード部での溶融半田の切れ時間を略同じにさ
せて溶融半田内に浸漬するようにした場合では、全ての
アウタリード部において半田切れの良い引き上げタイミ
ングを設定し易くなる。これにより、半田ブリッジを防
ぎ、歩留まりを向上させることができる。これに対し
て、薄い半田コーティングをしたいアウタリード部は長
く、厚い半田コーティングをしたいアウタリード部は短
く形成しておくと、アウタリード部毎に半田コーティン
グの厚みを簡単に変えることもできる。
【0020】また、アウタリード部より切断される前の
サイドレール部に、アウタリード部のリード幅と同じ若
しくは若干大きい幅の溝を設けておき、リードフレーム
が溶融半田内に浸漬されて引き上げられるときに、アウ
タリード部上の余剰半田をサイドレール部側に流すよう
にした場合では、全てのアウタリード部において半田切
れの良い、引き上げタイミングを設定し易くなる。これ
により、半田ブリッジを防ぎ、歩留まりを向上させるこ
とができる。また、溶融半田への浸漬が終わって洗浄す
る場合にも、上記溝を利用して洗浄液の除去を行わせる
ことができ、洗浄性が向上する等の効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る半導体装置及び製
造方法を説明するための要部平面図である。
【図2】本発明の第1の実施例に係る半導体装置の要部
平面図である。
【図3】本発明の第1の実施例に係る半導体装置及び製
造方法の一変形例を示す要部平面図である。
【図4】本発明の第2の実施例に係る半導体装置及び製
造方法を説明するための要部平面図である。
【図5】図4のA−A線に沿う部分拡大断面図である。
【図6】従来における半導体装置の要部平面図である。
【図7】従来における半導体装置及び製造方法を説明す
るための要部平面図である。
【符号の説明】
1 アウタリード部 2 サイドレール部 3 リードフレーム 4 パッケージ部(モールド部) 5 カッティング線 6 溝

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数に分割されたアウタリード部の先端
    をサイドレール部により一体に連結しているリードフレ
    ーム上に、前記アウタリード部をアウタリードとしてチ
    ップマウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工がな
    され、次いで前記アウタリード部を溶融半田内に浸漬し
    た後、前記サイドレール部を切断してなる半導体装置に
    おいて、 前記サイドレール部を切断する前の前記アウタリード部
    の各リード長さを、前記アウタリード部毎に異ならせた
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記サイドレール部を切断する前の前記
    アウタリード部の各リード長さを、中央に位置する前記
    アウタリード部を短く、端に位置するアウタリード部に
    成るに従って連続的に長くなるように形成した請求項1
    に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記サイドレール部を切断する前の前記
    アウタリード部の各リード長さを、中央に位置する前記
    アウタリード部を短く、端に位置するアウタリード部に
    成るに従って段階的に長くなるように形成した請求項1
    に記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 複数に分割されたアウタリード部の先端
    をサイドレール部により一体に連結しているリードフレ
    ーム上に、前記アウタリード部をアウタリードとしてチ
    ップマウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工がな
    され、次いで前記リードフレームを溶融半田内に浸漬し
    て前記アウタリード部に半田コーティングをした後、前
    記サイドレール部を切断してなる半導体装置の製造方法
    において、 前記サイドレール部を切断する前の前記アウタリード部
    の各リード長さを、中央に位置する前記アウタリード部
    の長さと、端に位置する前記アウタリード部の長さを変
    え、中央に位置する前記アウタリード部での溶融半田の
    切れ時間と端に位置する前記アウタリード部での溶融半
    田の切れ時間を前記アウタリード部の長さで調整するよ
    うにしたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 複数に分割されたアウタリード部の先端
    をサイドレール部により一体に連結しているリードフレ
    ーム上に、前記アウタリード部をアウタリードとしてチ
    ップマウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工がな
    され、次いで前記リードフレームを溶融半田内に浸漬し
    て前記アウタリード部に半田コーティングをした後、前
    記サイドレール部を切断してなる半導体装置の製造方法
    において、 前記サイドレール部を切断する前の前記アウタリード部
    の各リード長さを、中央に位置する前記アウタリード部
    を短く、端に位置する前記アウタリード部を長く形成し
    ておき、中央に位置する前記アウタリード部での溶融半
    田の切れ時間と、端に位置する前記アウタリード部での
    溶融半田の切れ時間を略同じにさせて前記溶融半田内に
    浸漬することを特徴とする半導体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 複数に分割されたアウタリード部の先端
    をサイドレール部により一体に連結しているリードフレ
    ーム上に、前記アウタリード部をアウタリードとしてチ
    ップマウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工がな
    され、次いで前記アウタリード部に半田コーティングを
    した後、前記サイドレール部を切断してなる半導体装置
    において、 前記アウタリード部より切断される前の前記サイドレー
    ル部に、前記アウタリード部のリード幅と同じ若しくは
    若干大きい幅の溝を設けたことを特徴とする半導体装
    置。
  7. 【請求項7】 前記溝を前記アウタリード部間毎に設け
    た請求項6に記載の半導体装置。
  8. 【請求項8】 複数に分割されたアウタリード部の先端
    をサイドレール部により一体に連結しているリードフレ
    ーム上に、前記アウタリード部をアウタリードとしてチ
    ップマウント、ワイヤボンド、及びパッケージ加工がな
    され、次いで前記リードフレームを溶融半田内に浸漬し
    て前記アウタリード部に半田コーティングをした後、前
    記サイドレール部を切断してなる半導体装置の製造方法
    において、 前記アウタリード部より切断される前の前記サイドレー
    ル部に、前記アウタリード部のリード幅と同じ若しくは
    若干大きい幅の溝を設けておき、前記リードフレームが
    溶融半田内に浸漬されて引き上げられるときに、前記ア
    ウタリード部上の余剰半田を前記サイドレール部側に流
    すようにしたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
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