JP3223470B2 - 微粒子導入装置 - Google Patents

微粒子導入装置

Info

Publication number
JP3223470B2
JP3223470B2 JP30086699A JP30086699A JP3223470B2 JP 3223470 B2 JP3223470 B2 JP 3223470B2 JP 30086699 A JP30086699 A JP 30086699A JP 30086699 A JP30086699 A JP 30086699A JP 3223470 B2 JP3223470 B2 JP 3223470B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cassette
mounting means
chamber
filter
cassette mounting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP30086699A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000214094A (ja
Inventor
康弘 谷端
元明 岩崎
寿雄 高原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP30086699A priority Critical patent/JP3223470B2/ja
Publication of JP2000214094A publication Critical patent/JP2000214094A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3223470B2 publication Critical patent/JP3223470B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波誘導プラズ
マ(以下「MIP」という)を利用した元素分析計の、
プラズマ発生部に微粒子(パ―ティクル)を供給するた
めの微粒子導入装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】微粒子導入装置とは、MIPを利用した
元素分析計におけるプラズマ発生部に微粒子を供給する
装置であって、主たる構成はディスパ―サ及びアナライ
ザから構成されている。
【0003】前記ディスパ―サとしては、例えば、MI
Pを利用した元素分析計のプラズマ発生部に試料(微粒
子)を供給する微粒子導入装置(特開平4−5554号
公報参照)により、前記アナライザとしては、例えば、
MIPを利用して試料中の元素を分析する発光分光分析
計に検出器として装着される発光分光検出器(特開平4
−5555号公報参照)により知られている。
【0004】即ち、前記ディスパ―サは、アスピレ―
タ、表面に固体微粒子が付着されたフィルタを固定する
フィルタユニットが装着されたア―ム、第1モ―タの回
転を全ア―ムの水平方向回転運動に変換する固定軸、及
び第2モ―タの回転をア―ムの上下方向直線運動に変換
するボ―ルネジを設け、アスピレ―タの吸引口がフィル
タと一定距離に近づいた状態で、毎分略300mlの小
流量で流れるキャリアガスがアスピレ―タに供給された
とき、アスピレ―タによって固体微粒子を吸引して放電
管を用いてプラズマ発生部に供給するものとなってい
る。
【0005】又、前記アナライザは、例えば、ディスパ
―サ側に位置するディスチャージ管、マイクロ波を空洞
共鳴させてディスチャージ管の外管内にMIPを発生さ
せるキャビティ、外管の軸方向に取り出して集光する光
学系、及びこの光学系で集光された光を分光して信号処
理する信号処理部が設けられて、試料中の被測定元素を
検出するようになっている。
【0006】
【従来の技術】図6はこのような微粒子導入装置の従来
の技術の説明に供する図である。図6において、100
は微粒子導入装置であるディスパ―サ、101はArや
Heで成るキャリアガスを導入するキャリアガス導入
口、102は例えばArやHe等の置換ガスを導入する
置換ガス導入口、103a〜103eは開閉弁、10
4,105はガス排出口、106は吸引ポンプ、107
は表面に微粒子が付着されたフィルタ、108はアスピ
レ―タ、109は放電管、110はキャビティ、111
はマイクロ波誘導プラズマである。
【0007】このような構成において、キャビティ11
0の中心部にはマイクロ波発生器(図省略)からマイク
ロ波が照射されたとき、キャビティ110の中心部に挿
入されている放電管109内のキャリアガスを励起して
マイクロ波誘導プラズマ111が発生する。
【0008】測定時においては、開閉弁103a,10
3b,103d,103eが開で開閉弁103cが閉と
なる。従って、キャリアガスは、開閉弁103a→アス
ピレ―タ108→開閉弁103e→放電管109の流路
で流れる。一方、フィルタ107がアスピレ―タ108
の吸引口に一定距離近づく。これにより、フィルタの表
面に付着されている微粒子が吸引されて放電管109に
搬送される。
【0009】非測定時においては、開閉弁103a,1
03eを閉じる。これと共に、開閉弁103b〜103
dの開閉と吸引ポンプ106の駆動が操作される。従っ
て、ディスパ―サー100内のキャリアガスが置換ガス
(置換ガス導入口102から導入されるAr やHeな
ど)で置換される。
【0010】図7(イ),(ロ)はこのような微粒子導
入装置に用いられるディスパーサの要部を示すもので、
1はネジやシ―ル部材等によって外からの空気の漏れ込
みを防ぐように構成されているケ―ス、2はフィルタ
(図省略)上の微粒子を吸引して放電管(図6参照)に
供給するアスピレ―タ、2´はアスピレ―タの吸引口、
3はノズル閉塞部材、4は先端部にノズル閉塞部材3が
装着された第1ア―ム、5はガス置換部などを構成し吸
引口2´を介してアスピレ―タ2と連通するチャンバで
ある。
【0011】ノズル閉塞部材3は第1ア―ム4の先端付
近に取り付けられており、この第1アーム4は第2ア―
ム8と共に支柱6に取り付けられている。ノズル閉塞部
材3は支柱6の回転に基づく第1アーム4の昇降によ
り、吸引口2´に蓋をすることによって、この吸引口2
´とチャンバ―5の連通を遮断する。
【0012】微粒子を採取したフィルタ(図示省略)は
第2ア―ム8の先端付近に設けられたフィルタホルダ7
に装着されている。尚、フィルタホルダ7に装着された
フィルタとアスピレ―タ2の吸引口との間隔は例えば
0.1mm以下になるように制御されている。交換窓9
はフィルタホルダ7からフィルタを取外したりするとき
に使用する。
【0013】このような構成においてその動作は以下の
ようになる。はじめに図8に示すように第1,第2アー
ムを交換窓9の位置に配置させ、交換窓9を開いて微粒
子を採取したフィルタアセンブリ(図省略)をフィルタ
ホルダ―7に乗せる。次に支柱6を回転させて、第1ア
―ム4,第2ア―ム8を介してフィルタホルダ―7及び
ノズル閉塞部材3を下降させる。
【0014】その後に、第1ア―ム4,第2ア―ム8を
図8の太線矢印方向Fに回転させて図7(イ)の状態に
する。その状態で、支柱6を回転させてノズル閉塞部材
3を上昇させて吸引口2´をシ―ルする。
【0015】その後、図6における開閉弁103b,1
03dを閉として開閉弁103cを開とする。この状態
で吸引ポンプ106を駆動させてチャンバ5内の空気を
吸引してチャンバ内を真空とする。
【0016】チャンバ5内が一定の真空度に達したら、
開閉弁103cを閉じ、開閉弁103bを開にしてチャ
ンバ5内に置換ガスを充填する。置換ガスが充填されて
チャンバ5内が大気圧になったら開閉弁103dを開に
してチャンバ5内を大気解放にする。と同時に、図7
(ロ)の支柱6を回転させてノズル閉塞部材3を下降さ
せ、第1ア―ム4,第2ア―ム8を更に回転させて図9
の位置とする。
【0017】この後、支柱6を回転させて、フィルタホ
ルダ7を上昇させる。所定の位置でフィルタホルダ7の
上昇を停止させた後に微粒子の吸引を開始させる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の微粒子導入装置ではフィルタ交換に際しては、交
換窓9をはずして、上部からサンプルを載せたフイルタ
アセンブリ(サンプルユニット)をフィルタホルダ7に
セットするという作業を要するため、作業性に劣る上
に、内部にサンプルを落としてしまう恐れがあるという
問題があった。本発明は上記従来技術の問題点を解決す
るためになされたもので、作業性の向上と操作性の簡単
化を図った微粒子導入装置を提供することを目的とする
ものである。
【0019】
【課題を解決するための手段】チャンバ内に表面に固体
微粒子が付着したフィルタが固定されたカセットと、こ
のフィルタに付着した固体微粒子を吸引するアスピレー
タが配置され、前記チャンバ内にキャリアガスと置換ガ
スを導入、排出する手段を有し、前記アスピレータで吸
引した固体微粒子を微粒子放電ラインを介して放電管に
導くようにした微粒子導入装置において、カセット
を複数個装着可能なカセット装着手段(K)を前記チャ
ンバ内の所定位置へ移動させるカセット移動手段(B
e)と、該カセット移動手段上に前記カセット装着手段
の外周に接して配置される回転補助手段(R)と、前記
カセット移動手段のチャンバ内へのセット完了時まで前
記カセット装着手段の回転を固定しておくカセット位置
固定機構(LO)と、該カセット位置固定機構の固定手
段解除後に前記カセットの1つを選択するため前記カセ
ット装着手段を回転させるカセット回転手段(TU)
と、選択されたカセットのセット・リセットを操作する
カセット・セット・リセット手段(4’)とを具備した
ことを特徴としている。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の1例
について図を用いて詳細に説明する。図1は本発明の要
部を示す一部断面平面図、図2は図1の一部断面側面
図、図3,図4は図1を補足するための説明図である。
【0021】図1,図2は、サンプルユニットのカセツ
ト化を図るため、カセット(サンプルユニット)をスラ
イドさせる部分と、スライドしてきたそのカセットの必
要なものを選択するために回転させる部分とを備えたサ
ンプルユニット機構を示している。本実施例ではカセッ
トをスムースに回転させるためにローラを設け、又回転
させるための部分には駆動アームを設け、更に、カセッ
トを回転させるに際しては、そのカセットの位置の固定
を簡単に解除しロツクができる機構を有している。
【0022】図1,図2において、Kは、例えば最大4
つのサンプル用のサンプルユニット(カセット)S1〜
S4と、リファレンス用のユニット(カセット)L1とを
載せるように構成したカセット装着手段である。
【0023】カセツト装着手段Kは、カセット移動手段
(以下「ベース」という)Be上にセットされる。この
ベースBeは、例えば図3の2点鎖線で示す位置から矢
印Q方向の交換窓9部分にスライドされる。
【0024】ベースBeがチャンバ5内に収納された後
においては、図示しない扉で固定される構造となってい
る。又、このようにした場合は、必ずしも交換窓9を設
ける必要もないといえるが、メンテナンス時を配慮して
このまま設置しておいてもよい。
【0025】前記ベースBe上には、カセット装着手段
Kをスムースに回転させるため、その外周に接して一対
のローラR1,R2を有する回転補助手段Rが複数(図で
は4組)設けられている。
【0026】ところで、カセット装着手段Kはこのまま
では図4に示すように、フリーに動いてしまう恐れがあ
り、動いた場合は、図5に示す矢印Q方向にスライドさ
せることができなくなる。従って、このようなことを避
ける手段として、図1に示すように、カセット装着手段
Kの外周に、当該カセット装着手段の位置を簡単にロツ
ク又は解除ができるロック機構と解除機構とを兼ね備え
たカセット位置固定機構LOが組み付け可能な溝Mが形
成されている。
【0027】カセット位置固定機構LOは、図2に示す
ように、ロック解除ピンLKPと、このロック解除ピンL
KPに連動し前記溝Mに嵌合するロックピンLLPを有して
いる。
【0028】TUは矢印Q方向にスライドしてきたカセ
ット装着手段Kの切り欠き部分(案内溝)KT Aに嵌合し
て、カセット装着手段K上にセットされるカセットの1
つを所定の選択位置に固定するために回転させるカセッ
ト回転手段であり、回転駆動アームEと、案内溝KT A
嵌合したカセット装着手段Kを所定の選択位置に回転さ
せるため例えばステッピングモータ等の駆動手段(図省
略)に連結している回転軸Gを有している。
【0029】カセット位置固定機構LOは、図2に一点
鎖線で示すように、カセット装着手段Kがカセット回転
手段TUに嵌合った状態において、回転駆動アームEに
ロック解除ピンLKPが突き当たって矢印Wのように押し
戻されるので、溝Mに嵌合したロック解除ピンLKPの嵌
合が解除される。
【0030】その後、回転駆動アームEによりカセット
装着手段Kが回転し所定のカセットが選択される。4’
は上記回転駆動アームEによって回転され選択位置にき
たサンプルユニット(カセット)S1〜S4若しくはL
1をフイルタホルダー7(図7参照)にセットするよう
にアップ動作する(リセットする場合はダウン動作とな
る)サンプルユニット・セット・リセット手段である。
【0031】以下、サンプルユニットS1〜S4若しく
はL1をフイルタホルダ7にセットするまでの動作の概
要は次のようになる。
【0032】(イ)扉(図省略)を開としてカセットが
装着されたカセット装着手段KをベースBeにセットす
る。このときに、カセット装着手段Kの溝Mにロックピ
ンLL Pが嵌合し、カセット装着手段Kが固定される。
【0033】(ロ)カセット装着手段Kが載ったベース
Beを矢印Qのようにしてスライドさせてケース1内に
収納する。このときにスライドしてきたカセット装着手
段Kの案内溝KT Aと回転駆動アームEとが嵌合してセッ
トされ、ロック解除ピンLKPが回転駆動アームEに当た
って押され、これと連動しているロックピンLLPが溝M
から外れてカセット装着手段Kはフリー状態となる(こ
の状態で図示しない扉は閉じられる)。つまり、扉が閉
の状態でカセット装着手段Kは回転可能な状態とな
る)。
【0034】(ハ)このセット後において、カセット装
着手段K上の分析したい対象サンプルユニット(カセッ
ト)が選択される。即ち、回転軸Gが駆動手段によって
例えば120°回転すると、回転駆動アームEでカセッ
ト装着手段Kがその120°の選択位置まで回転させら
れる。このとき、カセット装着手段KはベースBeに組
付けられた回転補助手段Rでその外周が決められている
ので、回転軸Gを支点としてスムースに120°回転す
る。
【0035】
【発明の効果】以上、実施例を用いて詳しく説明したよ
う本発明によれば、微粒子導入装置において、チャンバ
内に複数のカセットを装着可能なカセット装着手段をチ
ャンバ内の所定位置へ移動させるカセット移動手段と、
該カセット移動手段上に前記カセット装着手段の外周に
接して配置される回転補助手段と、前記カセット移動手
段のチャンバ内へのセット完了時まで前記カセット装着
手段の回転を固定しておくカセット位置固定機構と、該
カセット位置固定機構の固定手段解除後にサンプルユニ
ットの1つを選択するため前記カセット装着手段を回転
させるカセット回転手段と、選択後のサンプルユニット
のセット・リセットを操作するサンプルユニット・セッ
ト・リセット手段とを具備したサンプルユニットをカセ
ット化したので、チャンバ内部にサンプルユニットを落
としてしまう恐れもなく作業性の効率化を図ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の要部を示す一部断面平面図である。
【図2】図1の一部断面側面図である。
【図3】本発明の説明に供する図である。
【図4】本発明の説明に供する図である。
【図5】従来の技術の説明に供する図である。
【図6】従来の技術の説明に供する図である。
【図7】従来の技術の説明に供する図である。
【図8】従来の技術の説明に供する図である。
【図9】従来の技術の説明に供する図である。
【符号の説明】
Be カセット移動手段 E 回転駆動アーム G 回転軸 K カセット装着手段 KTA 案内溝 LO カセット位置固定機構 LLP ロックピン LKP ロック解除ピン R 回転補助手段 S1〜S4,L1 カセット(サンプルユニット) TU カセット回転手段2 アスピレ―タ 2´ アスピレ―タの吸引口 3,113 ノズル閉塞手段 4,8 ア―ム 4´ サンプルユニット・セット・リセット手段 5 ガス置換部 7 フィルタホ―ルド 9 交換窓 100 デスパ―サ 103a〜103d 開閉弁 107 微粒子が付着されたフィルタ 108 アスピレ―タ 109 放電管 111 マイクロ波誘導プラズマ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−5554(JP,A) 特開 昭60−25519(JP,A) 特開 昭61−91539(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/62 - 21/74 G01N 1/00 101 JICSTファイル(JOIS)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】チャンバ内に表面に固体微粒子が付着した
    フィルタが固定されたカセットと、このフィルタに付着
    した固体微粒子を吸引するアスピレータが配置され、前
    記チャンバ内にキャリアガスと置換ガスを導入、排出す
    る手段を有し、前記アスピレータで吸引した固体微粒子
    を微粒子放電ラインを介して放電管に導くようにした微
    粒子導入装置において、カセットを複数個装着可能なカセット装着手段
    (K)を前記チャンバ内の所定位置へ移動させるカセッ
    ト移動手段(Be)と、該カセット移動手段上に前記カ
    セット装着手段の外周に接して配置される回転補助手段
    (R)と、前記カセット移動手段のチャンバ内へのセッ
    ト完了時まで前記カセット装着手段の回転を固定してお
    くカセット位置固定機構(LO)と、該カセット位置固
    定機構の固定手段解除後に前記カセットの1つを選択す
    るため前記カセット装着手段を回転させるカセット回転
    手段(TU)と、選択されたカセットのセット・リセッ
    トを操作するカセット・セット・リセット手段(4’)
    とを具備したことを特徴とする微粒子導入装置。
JP30086699A 1991-10-22 1999-10-22 微粒子導入装置 Expired - Fee Related JP3223470B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30086699A JP3223470B2 (ja) 1991-10-22 1999-10-22 微粒子導入装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30086699A JP3223470B2 (ja) 1991-10-22 1999-10-22 微粒子導入装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04101073A Division JP3084693B2 (ja) 1991-10-22 1992-04-21 微粒子導入装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000214094A JP2000214094A (ja) 2000-08-04
JP3223470B2 true JP3223470B2 (ja) 2001-10-29

Family

ID=17890061

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30086699A Expired - Fee Related JP3223470B2 (ja) 1991-10-22 1999-10-22 微粒子導入装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3223470B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100913986B1 (ko) 2007-05-31 2009-08-25 한국기초과학지원연구원 나노분말 제조용 플라즈마 장치의 시료 공급유닛

Also Published As

Publication number Publication date
JP2000214094A (ja) 2000-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6331890B1 (en) Thickness measuring apparatus, substrate processing method, and substrate processing apparatus
JP3166638B2 (ja) 蛍光x線分析装置
JP7449872B2 (ja) 試料取扱いシステム、質量分析計および関連方法
JP4554861B2 (ja) 可撓性記憶フォイルを読み取るための装置
US6735276B2 (en) Sample preprocessing system for a fluorescent X-ray analysis and X-ray fluorescence spectrometric system using the same
TWI627691B (zh) 可旋轉狀態檢出裝置及可旋轉狀態檢出方法以及使用其之基板處理裝置及基板處理方法
JP3223470B2 (ja) 微粒子導入装置
US20040206915A1 (en) Fluorescence measuring apparatus
KR101726716B1 (ko) 조합 컴퓨터 및 직접 방사선 촬영 시스템 및 방법
JPH05172750A (ja) 微粒子導入装置
JP5614837B2 (ja) 試料搬送装置、トレー、及びx線測定装置
JP2738128B2 (ja) 微粒子導入装置
JP3753222B2 (ja) サンプル供給装置
JP2513093B2 (ja) 蛍光x線分析装置
JP2594839B2 (ja) 微粒子導入装置
JPH09127023A (ja) ダスト計
JP4539311B2 (ja) レーザアブレーション装置、レーザアブレーション試料分析システム及び試料導入方法
JP2002236076A (ja) 光学特性測定装置及び光学薄膜成膜装置
JP3028661B2 (ja) 微粒子導入装置
JP2856937B2 (ja) 微粒子分析装置
US20070139732A1 (en) Movable part locking jig and image forming apparatus incorporating such movable part locking jig
JP2019056573A (ja) 基板汚染分析システム
JP3178201B2 (ja) 微粒子導入装置
US20230164901A1 (en) Method for using radiation source apparatus
JPS63281341A (ja) エネルギ−分散型x線分光器を備えたx線分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070824

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090824

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 9

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100824

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100824

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110824

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees