JP3215615U - 蛍光x線分析装置用治具 - Google Patents
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Description
Claims (4)
- 中央に試料が配置される凹部または孔を有するX線回折装置の試料ホルダをX線分析装置と共用する蛍光X線分析装置用治具であって、
前記試料ホルダの下面と当接する第1上面と、前記第1上面との間に段差を有するように形成された第2上面と、を有するベース部材と、
前記試料ホルダの外側側面及び前記段差が設けられた領域の外側側面が内側側面と当接する円筒部と、前記円筒部の下端部に設けられ前記第2上面と当接するフランジと、を有し、前記試料の表面を覆うフィルムを前記試料ホルダ及び前記ベース部材との間で挟み込むリングと、
を有することを特徴とする蛍光X線分析装置用治具。 - 前記試料ホルダ及び前記ベース部材は、互いに当接する部分に、互いの位置を固定する固定部がそれぞれ配置されることを特徴とする請求項1に記載の蛍光X線分析装置用治具。
- 前記固定部は、磁石であることを特徴とする請求項2に記載の蛍光X線分析装置用治具。
- 前記リングは、前記円筒部の内側及び前記平面部の下面に連結した内溝を有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の蛍光X線分析装置用治具。
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CN110082378A (zh) * | 2019-05-14 | 2019-08-02 | 海城海鸣矿业有限责任公司 | 一种耐火材料检测进样模具 |
CN110887856A (zh) * | 2019-11-04 | 2020-03-17 | 澳门大学 | 一种x射线衍射仪用样品台、其应用和x射线衍射仪 |
CN114813804A (zh) * | 2022-06-28 | 2022-07-29 | 浙江大学 | 一种一体式具有隔离功能的样品转移装置 |
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2017
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110082378A (zh) * | 2019-05-14 | 2019-08-02 | 海城海鸣矿业有限责任公司 | 一种耐火材料检测进样模具 |
CN110887856A (zh) * | 2019-11-04 | 2020-03-17 | 澳门大学 | 一种x射线衍射仪用样品台、其应用和x射线衍射仪 |
CN114813804A (zh) * | 2022-06-28 | 2022-07-29 | 浙江大学 | 一种一体式具有隔离功能的样品转移装置 |
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KR102620872B1 (ko) * | 2023-10-11 | 2024-01-04 | 주식회사 동서라인텍 | Xrf 분석기 플로우셀의 필름 변형 방지 구조 및 이를 가지는 xrf 분석기 |
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