KR20160015609A - 샘플 홀더 - Google Patents

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KR20160015609A
KR20160015609A KR1020140098100A KR20140098100A KR20160015609A KR 20160015609 A KR20160015609 A KR 20160015609A KR 1020140098100 A KR1020140098100 A KR 1020140098100A KR 20140098100 A KR20140098100 A KR 20140098100A KR 20160015609 A KR20160015609 A KR 20160015609A
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fixed
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KR1020140098100A
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김소영
구자필
손세희
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주식회사 엘지화학
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/36—Embedding or analogous mounting of samples
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials

Abstract

본 발명은 샘플 홀더에 관한 것으로, 본 발명이 일 측면에 따르면, 1 면과 제1 면과 반대방향의 제2 면을 가지고, 비결정질 폴리머로 형성된 베이스 부재; 시료가 안착되도록 상기 베이스 부재의 제1 면에 마련되며, 소정각도 이하에서 회절 피크(peak)를 갖지 않는 결정질로 형성된 시료 안착층: 및 상기 시료를 고정시키기 위하여 상기 베이스 부재에 마련되는 복수 개의 고정 유닛을 포함하는 샘플 홀더가 제공된다.

Description

샘플 홀더{Sample holder}
본 발명은 샘플 홀더에 관한 것으로, 보다 구체적으로, XRD 측정을 위한 시료를 평평하게 고정시킬 수 있는 샘플 홀더에 관한 것이다.
고분자 필름을 XRD(X선 회절분석)로 측정할 경우, 샘플 홀더에 상기 고분자 필름을 고정시킨다.
여기서 고분자 필름의 측정면을 평평하게 유지하는 것이 중요하다. 한편 고분자 필름의 두께가 얇은 경우(예를 들어, 수백㎛), 상기 고분자 필름이 강한 힘으로 동그랗게 말리는 현상이 발생하며, 이에 따라 샘플 홀더에 고분자 필름의 측정면을 평평하게 유지하기 어려운 문제가 발생한다.
종래 접착 테이프를 이용하여 고분자 필름을 샘플 홀더에 고정시켰으나, 접착 테이프로는 고분자 필름의 측정면을 평평하게 유지하기 어려운 문제가 발생한다.
본 발명은 XRD 측정을 위한 시료를 평평하게 고정시킬 수 있는 샘플 홀더를 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
또한, 본 발명은 XRD 측정을 위한 빔 경로와 간섭되지 않도록 시료를 고정시킬 수 있는 샘플 홀더를 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 제1 면과 제1 면과 반대방향의 제2 면을 가지고, 비결정질 수지로 형성된 베이스 부재; 시료가 안착되도록 상기 베이스 부재의 제1 면에 마련되며, 소정각도 이하에서 회절 피크(peak)를 갖지 않는 결정질로 형성된 시료 안착층: 및 상기 시료를 고정시키기 위하여 상기 베이스 부재에 마련되는 복수 개의 고정 유닛을 포함하는 샘플 홀더가 제공된다.
또한, 상기 베이스 부재는 폴리메틸메탈크릴레이트(polymethyl methacrylate, PMMA), 에폭시 수지(epoxy resin) 및 스틸렌아크릴로니트릴 수지(Styrene-acrylonitrile resin)로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성될 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층은 결정성 재질로 형성될 수 있고, 상기 시료 안착층은 단결정 실리콘(Si), 단결정 게리마늄(Ge), 단결정 실리콘 카바이드(silicon carbide), 단결정 인화인듐(InP), 단결정 갈륨비소(GaAs) 및 단결정 인듐안티몬(InSn)으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성될 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층은 알루미늄 포일로 형성될 수 있다.
또한, 상기 베이스 부재의 제1 면에는 상기 시료 안착층을 수용하기 위한 홈부가 마련될 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층의 두께는 상기 홈부의 두께와 동일할 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층의 표면과 상기 베이스 부재의 제1 면은 동일 평면을 형성할 수 있다.
또한, 복수 개의 고정유닛은 시료를 측정하기 위한 빔 경로와 간섭되지 않도록 상기 빔 경로를 따라 소정 폭으로 이격 배치된 제1 고정 유닛과 제2 고정 유닛을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1 고정 유닛과 상기 제2 고정유닛은 상기 빔 경로를 기준으로 대칭될 수 있다.
또한, 각 고정유닛은, 상기 베이스 부재의 제1 면에 안착되며, 시료의 적어도 일부 영역을 가압하기 위한 고정 플레이트를 포함할 수 있다.
또한, 각 고정유닛은, 상기 고정 플레이트를 관통하여 상기 베이스 부재에 고정되는 복수 개의 체결부재를 포함할 수 있다.
또한, 상기 고정 플레이트는 금속 재질로 형성될 수 있다.
또한, 상기 고정 플레이트는 상기 베이스 부재의 두께 방향을 따라 적어도 일부 영역이 상기 시료 안착층과 중첩되도록 마련될 수 있다.
또한, 상기 체결부재는, 상기 체결부재는 헤드부 및 상기 헤드부로부터 연장되며, 적어도 일부영역에 나선부가 형성된 로드부를 포함할 수 있다.
또한, 상기 로드부는 상기 베이스 부재의 제1 면과 제2 면을 차례로 관통할 수 있다.
또한, 상기 나선부에 나선 결합되어 베이스 부재의 제2 면에 접촉되는 너트를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 상기 체결부재는, 상기 고정 플레이트를 관통하여 상기 베이스 부재에 체결될 수 있다.
또한, 각 고정유닛의 적어도 2개의 체결부재는, 상기 빔 경로와 평행한 가상의 선분 상에 각각 위치될 수 있다.
또한, 상기 베이스 부재의 제2 면에는 하나 이상의 돌출 지지부가 마련될 수 있다.
또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 제1 면과 제1 면과 반대방향의 제2 면을 가지고, 수지로 형성된 베이스 부재; 시료가 안착되도록 상기 베이스 부재의 제1 면에 마련되며, 소정각도 이하에서 회절 피크(peak)를 갖지 않는 결정질로 형성된 시료 안착층: 및 시료를 측정하기 위한 빔 경로와 간섭되지 않도록 상기 빔 경로를 따라 소정 폭으로 이격 배치되고, 상기 시료를 고정시키기 위하여 베이스 부재에 마련되는 복수 개의 고정 유닛을 포함하는 샘플 홀더가 제공된다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 적어도 하나의 실시예와 관련된 샘플 홀더는 다음과 같은 효과를 갖는다.
XRD 측정을 위한 시료를 평평하게 고정시킬 수 있다. 특히, 수백 ㎛의 두께를 갖는 고분자 필름 시료를 평평하게 고정시킬 수 있다.
또한, XRD 측정을 위한 빔 경로와 간섭되지 않도록 시료를 고정시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더의 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더에 시료가 안착된 상태를 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더의 사진이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더에 시료가 안착된 상태의 사진이다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 샘플 홀더를 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.
또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더(100)의 단면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더의 평면도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더에 시료가 안착된 상태를 나타내는 단면도이다.
또한, 도 4는 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더의 사진이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더에 시료가 안착된 상태의 사진이다.
X선을 결정에 부딪히게 하면 그중 일부는 회절을 일으키고 그 회절각과 강도는 물질 구조상 고유한 것으로서 이 회절 X선을 이용하여 시료에 함유된 결정성 물질의 종류와 양에 관계되는 정보를 알 수 있다.
이와 같이 결정성 물질의 구조에 관한 정보를 얻기 위한 분석방법이 X선 회절분석법(XRD)이다. 또한, 본 문서에서 시료라 함은 XRD 측정을 위한 다양한 재료를 모두 포함할 수 있다. 특히, 상기 시료는 고분자 필름일 수 있으며, 상기 고분자 필름은 수백 ㎛의 두께를 가질 수 있다.
본 발명의 일 실시예와 관련된 샘플 홀더(100)는 베이스 부재(110)와 시료 안착층(120) 및 복수 개의 고정 유닛(130, 130’)을 포함한다.
상기 베이스 부재(110)는 제1 면(111)과 제1 면(111)과 반대방향의 제2 면(112)을 갖는다. 본 문서에서 두께 방향이라 함은 제1 면과 제2 면을 수직으로 관통하는 방향을 의미하며, 특정 구성요소의 두께라 함은 상기 두께방향의 두께를 의미한다. 상기 제1 면(111)과 제2 면(112)은 원형 또는 타원형으로 형성될 수 있다. 일 실시태양으로, 상기 베이스 부재(110)는 원기둥 형상을 가질 수 있다.
상기 베이스 부재(110)는 비결정질 폴리머(polymer)로 형성될 수 있다. 일 실시예로, 상기 베이스 부재(110)는 폴리메틸메탈크릴레이트(polymethyl methacrylate, PMMA), 에폭시 수지(epoxy resin) 및 스틸렌아크릴로니트릴 수지(Styrene-acrylonitrile resin)로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성될 수 있다.
특히, 상기 베이스 부재(110)는 결정성 폴리머를 제외한 다양한 수지 재질로 형성될 수 있음은 물론이다.
한편, 상기 베이스 부재(110)는 내구성 및 가공성이 우수한 다양한 수지 재질로 형성될 수 있다. 또한, 상기 베이스 부재(110)는 비결정질 폴리머 또는 결정질 폴리머로도 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 베이스 부재(110)는 폴리메틸메탈크릴레이트(polymethyl methacrylate, PMMA), 폴리스틸렌(polystyrene, PS), 폴리카보네이트(polycarbonate, PC), 폴리에틸렌(polyethylene, PE), 폴리프로필렌(polypropylene, PP), 에폭시 수지(epoxy resin), 스틸렌아크릴로니트릴 수지(Styrene-acrylonitrile resin) 및 폴리아크릴로니트릴(polyacrylonitrile, PAN)로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성될 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층(120)은 시료(200)가 안착되도록 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)에 마련된다. 여기서, 상기 시료 안착층(120)은 소정각도 이하에서 회절 피크(peak)를 갖지 않는 결정질로 형성된다.
구체적으로, 상기 시료 안착층(120)은 저각(예를 들어 50°이하)에서 회전 피크를 보이지 않는 결정성 재질로 형성될 수 있다.
일 실시예로, 시료 안착층(120)은 결정성 실리콘으로 형성될 수 있다.
또한, 시료 안착층(120)은 단결정 실리콘(Si), 단결정 게리마늄(Ge), 단결정 실리콘 카바이드(silicon carbide), 단결정 인화인듐(InP), 단결정 갈륨비소(GaAs) 및 단결정 인듐안티몬(InSn)으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성될 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층은 알루미늄 포일(Al foil)로 형성될 수 있다.
한편, 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)에는 상기 시료 안착층(120)을 수용하기 위한 홈부(115)가 마련될 수 있다. 상기 홈부(115)는 상기 시료 안착층(120)의 형상에 대응하는 형상을 가질 수 있다. 상기 시료 안착층(120)의 두께는 상기 홈부(115)의 두께와 동일할 수 있다.
또한, 상기 시료 안착층(120)의 표면(시료가 안착되는 면)과 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)은 동일 평면을 형성할 수 있다.
상기 복수 개의 고정유닛(130, 130’)은 시료(200)를 측정하기 위한 빔 경로(P)와 간섭되지 않도록 상기 빔 경로(P)를 따라 소정 폭(W)으로 이격 배치된 제1 고정 유닛(130)과 제2 고정 유닛(130’)을 포함한다. 여기서, 상기 시료(200)가 상기 시료 안착층(120)에 안착되면, 상기 시료(200)는 상기 제1 고정유닛(130)과 제2 고정 유닛(130’) 사이의 공간을 통해 외부로 노출될 수 있다.
또한, 상기 제1 고정 유닛(130)과 상기 제2 고정유닛(130’)은 상기 빔 경로(P)를 기준으로 대칭되도록 마련될 수 있다.
각 고정유닛(130, 130’)은 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)에 안착되며, 시료(200)의 적어도 일부 영역을 가압하기 위한 고정 플레이트(140, 140’) 및 상기 고정 플레이트(140, 140’)를 관통하여 상기 베이스 부재(110)에 고정되는 복수 개의 체결부재(150, 150’)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 제1 고정유닛(130)은 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)에 안착되며, 시료(200)의 적어도 일부 영역을 가압하기 위한 제1 고정 플레이트(140) 및 상기 제1 고정 플레이트(140)를 관통하여 상기 베이스 부재에 고정되는 복수 개의 제1 체결부재(150)를 포함할 수 있다.
또한, 제2 고정유닛(130’)은 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)에 안착되며, 시료(200)의 적어도 일부 영역을 가압하기 위한 제2 고정 플레이트(140’) 및 상기 제2 고정 플레이트(140’)를 관통하여 상기 베이스 부재에 고정되는 복수 개의 제2 체결부재(150’)를 포함할 수 있다.
여기서, 제1 고정 플레이트(140)의 형상과 제2 고정 플레이트(140’)의 형상은 상기 빔 경로(P)를 기준으로 대칭되도록 마련될 수 있다.
또한, 제1 고정 플레이트(140)와 제2 고정 플레이트(140’)는 시료(200)를 측정하기 위한 빔 경로(P)와 간섭되지 않도록 상기 빔 경로(P)를 따라 소정 폭(W)으로 이격 배치된다. 이때, 상기 시료(200)는 상기 제1 고정 플레이트(140)과 제2 고정 플레이트(140’) 사이의 공간을 통해 외부로 노출될 수 있다.
여기서, 각 고정 플레이트(140, 140’)는 금속 재질로 형성될 수 있다. 또한, 상기 고정 플레이트(140, 140’)는 상기 베이스 부재의 두께 방향을 따라 적어도 일부 영역이 상기 시료 안착층(120)과 중첩되도록 마련될 수 있다.
구체적으로, 상기 제1 고정 플레이트(140)는 상기 베이스 부재(110)의 두께 방향을 따라 적어도 일부 영역이 상기 시료 안착층(120)과 중첩되도록 마련될 수 있다. 또한, 상기 제2 고정 플레이트(140’)는 상기 베이스 부재(110)의 두께 방향을 따라 적어도 일부 영역이 상기 시료 안착층(120)과 중첩되도록 마련될 수 있다.
제1 고정 플레이트(140)와 제2 고정 플레이트(140’)는 대칭된 형상으로 마련될 수 있고, 동일한 구조를 갖도록 마련될 수 있다. 이때, 상기 제1 고정 플레이트(140)에는 상기 제1 체결부재(150)를 통과시키 위한 관통홀(141)이 마련될 수 있다. 또한, 상기 제1 고정 플레이트(140)에는 복수 개의 제1 체결부재(150)를 각각 통과시키기 위한 복수 개의 관통홀(141)이 마련될 수 있다. 마찬가지로, 제2 고정 플레이트(140)에도 복수 개의 관통홀(미부호)이 마련될 수 있다.
이때, 제1 고정 플레이트(140)의 적어도 2개의 관통홀(141)은 상기 빔 경로(P)와 평행한 가상의 선분 상에 각각 위치될 수 있다. 구체적으로, 제1 고정 플레이트(140)의 적어도 2개의 관통홀(141)은 동축 상에 각각 위치되도록 마련될 수 있다. 또한, 제1 고정 플레이트(140)의 적어도 2개의 관통홀(141)은 동축 상에 위치되지 않도록 마련될 수 있다.
한편, 상기 베이스 부재(110)에는 복수 개의 결속홀(113)이 마련될 수 있다. 이때, 각 결속홀(113)은 대응하는 관통홀(141)의 위치에 마련될 수 있다. 따라서, 적어도 2개의 결속홀(113)은 동축 상에 각각 위치되도록 마련될 수 있다. 또한, 적어도 2개의 결속홀(113)은 동축 상에 위치되지 않도록 마련될 수 있다. 또한, 상기 결속홀(113)의 내부에는 나선부가 마련될 수도 있고, 나선부가 마련되지 않을 수도 있다.
여기서, 제1 체결부재(150)와 제2 체결부재(150’)는 동일한 구조를 가질 수 있다. 이하, 설명의 편의를 위하여, 제1 체결부재(150)를 예로 들어 설명한다. 상기 제1 체결부재(150)는 헤드부(151) 및 상기 헤드부(151)로부터 연장되며, 적어도 일부영역에 나선부(153)가 형성된 로드부(152)를 포함할 수 있다.
이때, 제1 체결부재(150)는 제1 고정 플레이트(140)의 관통홀(141)을 통과하고, 상기 베이스 부재(110)의 결속홀(113)로 삽입될 수 있다.
일 실시태양으로, 상기 로드부(152)는 상기 베이스 부재(110)의 제1 면(111)과 제2 면(112)을 차례로 관통할 수 있다. 이러한 경우, 상기 베이스 부재(110)의 결속홀(113)은 제1 면(111)과 제2 면(112)을 관통하는 관통홀로 형성될 수 있다.
또한, 상기 나선부(153)는 상기 로드부(152)의 자유단부에 마련될 수 있다. 또한, 상기 제1 체결부재(150)는 상기 관통홀(141)과 상기 결속홀(113)을 차례로 통과하여 상기 베이스 부재(110) 외부로 돌출될 수 있다.
이러한 구조에서, 상기 고정 유닛(130, 130’)은 상기 체결수단에 나선 결합되어 상기 베이스 부재(110)의 제2 면(112)에 접촉되는 너트(160, 160’)를 포함할 수 있다.
구체적으로, 제1 고정 유닛(130)은 상기 나선부(153)에 나선 결합되어 베이스 부재(110)의 제2 면(112)에 접촉되는 너트(160)를 추가로 포함할 수 있다.
상기 베이스 부재(110)의 제2 면(112)에는 하나 이상의 돌출 지지부(114, 116)가 마련될 수 있다.
또한, 상기 돌출 지지부(114, 116)는 상기 베이스 부재(110)의 제2 면(112)의 둘레방향을 따라 마련된 제1 돌출 지지부(114)와 상기 베이스 부재(110)의 제2 면(112)의 중앙부에 마련된 제1 돌출 지지부(116)를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 돌출 지지부(114, 116)의 두께는 상기 너트(160)의 두께보다 크게 형성될 수 있다. 또한, 상기 돌출 지지부(114, 116)는 상기 너트(160)가 샘플 홀더(100)의 설치면으로부터 이격시키는 기능을 수행한다.
이와는 다르게, 상기 체결부재(150, 150’)는, 상기 고정 플레이트를 관통하여 상기 베이스 부재(110)에 체결될 수 있다. 이러한 경우, 상기 베이스 부재(110)의 결속홀(113) 내주면에는 나선부가 마련될 수 있다.
또한, 각 고정유닛의 적어도 2개의 체결부재는, 상기 빔 경로(P)와 평행한 가상의 선분 상에 각각 위치될 수 있다. 구체적으로, 제1 고정 유닛(130)의 적어도 2개의 제1 체결부재(150)는 상기 빔 경로(P)와 평행한 가상의 선분 상에 각각 위치될 수 있다. 마찬가지로, 제2 고정 유닛(130’)의 적어도 2개의 제2 체결부재(150’)는 상기 빔 경로(P)와 평행한 가상의 선분 상에 각각 위치될 수 있다.
위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
100: 샘플 홀더
110: 베이스 부재
120: 시료 안착층
130: 고정 유닛
200: 시료

Claims (18)

  1. 제1 면과 제1 면과 반대방향의 제2 면을 가지고, 비결정질 수지로 형성된 베이스 부재;
    시료가 안착되도록 상기 베이스 부재의 제1 면에 마련되며, 소정각도 이하에서 회절 피크(peak)를 갖지 않는 결정질로 형성된 시료 안착층: 및
    상기 시료를 고정시키기 위하여 상기 베이스 부재에 마련되는 복수 개의 고정 유닛을 포함하는 샘플 홀더.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 베이스 부재는 폴리메틸메탈크릴레이트(polymethyl methacrylate, PMMA), 에폭시 수지(epoxy resin) 및 스틸렌아크릴로니트릴 수지(Styrene-acrylonitrile resin)로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 시료 안착층은 단결정 실리콘(Si), 단결정 게리마늄(Ge), 단결정 실리콘 카바이드(silicon carbide), 단결정 인화인듐(InP), 단결정 갈륨비소(GaAs) 및 단결정 인듐안티몬(InSn)으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나 이상으로 형성됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 시료 안착층은 알루미늄 포일로 형성됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 베이스 부재의 제1 면에는 상기 시료 안착층을 수용하기 위한 홈부가 마련됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 시료 안착층의 두께는 상기 홈부의 두께와 동일한 것을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 시료 안착층의 표면과 상기 베이스 부재의 제1 면은 동일 평면을 형성함을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  8. 제 1 항에 있어서,
    복수 개의 고정유닛은 시료를 측정하기 위한 빔 경로와 간섭되지 않도록 상기 빔 경로를 따라 소정 폭으로 이격 배치된 제1 고정 유닛과 제2 고정 유닛을 포함하며,
    상기 제1 고정 유닛과 상기 제2 고정유닛은 상기 빔 경로를 기준으로 대칭됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  9. 제 8 항에 있어서, 각 고정유닛은,
    상기 베이스 부재의 제1 면에 안착되며, 시료의 적어도 일부 영역을 가압하기 위한 고정 플레이트; 및
    상기 고정 플레이트를 관통하여 상기 베이스 부재에 고정되는 복수 개의 체결부재를 포함함을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 고정 플레이트는 금속 재질로 형성됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 고정 플레이트는 상기 베이스 부재의 두께 방향을 따라 적어도 일부 영역이 상기 시료 안착층과 중첩되도록 마련됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  12. 제 9 항에 있어서, 상기 체결부재는,
    상기 체결부재는 헤드부 및 상기 헤드부로부터 연장되며, 적어도 일부영역에 나선부가 형성된 로드부를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 로드부는 상기 베이스 부재의 제1 면과 제2 면을 차례로 관통함을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 나선부에 나선 결합되어 베이스 부재의 제2 면에 접촉되는 너트를 추가로 포함함을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 체결부재는, 상기 고정 플레이트를 관통하여 상기 베이스 부재에 체결됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  16. 제 9 항에 있어서,
    각 고정유닛의 적어도 2개의 체결부재는, 상기 빔 경로와 평행한 가상의 선분 상에 각각 위치됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  17. 제 1 항에 있어서,
    상기 베이스 부재의 제2 면에는 하나 이상의 돌출 지지부가 마련됨을 특징으로 하는 샘플 홀더.
  18. 제1 면과 제1 면과 반대방향의 제2 면을 가지고, 수지로 형성된 베이스 부재;
    시료가 안착되도록 상기 베이스 부재의 제1 면에 마련되며, 소정각도 이하에서 회절 피크(peak)를 갖지 않는 결정질로 형성된 시료 안착층: 및
    시료를 측정하기 위한 빔 경로와 간섭되지 않도록 상기 빔 경로를 따라 소정 폭으로 이격 배치되고, 상기 시료를 고정시키기 위하여 베이스 부재에 마련되는 복수 개의 고정 유닛을 포함하는 샘플 홀더.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20190118920A (ko) * 2018-04-11 2019-10-21 건국대학교 산학협력단 곤충 시편의 충격 저항력 계측 장치
WO2022043440A1 (en) * 2020-08-26 2022-03-03 Malvern Panalytical B.V. Sample holder for an x-ray analysis apparatus

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