JP3209623B2 - Mounter - Google Patents
MounterInfo
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- JP3209623B2 JP3209623B2 JP21672693A JP21672693A JP3209623B2 JP 3209623 B2 JP3209623 B2 JP 3209623B2 JP 21672693 A JP21672693 A JP 21672693A JP 21672693 A JP21672693 A JP 21672693A JP 3209623 B2 JP3209623 B2 JP 3209623B2
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- recognition mark
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- Die Bonding (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は密着型イメージセンサ
などに好適な基板上に多数のチップを正確に位置決めし
てマウントするマウンタに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounter for accurately positioning and mounting a large number of chips on a substrate suitable for a contact type image sensor or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】ファクシミリや複写機などOA機器の画
像入力装置に用いられる密着型イメージセンサは、図6
に示すように、長尺の回路基板1上にCCDやバイポー
ラICなどのイメージセンサの素子2を多数個直線状に
配列してマウントし、回路基板1の導体層3にワイヤボ
ンディングした後、ガラスキャップ4で気密封止したも
のである。2. Description of the Related Art A contact type image sensor used for an image input device of an OA device such as a facsimile or a copying machine is shown in FIG.
As shown in FIG. 1, a large number of image sensor elements 2 such as CCDs and bipolar ICs are linearly arrayed and mounted on a long circuit board 1, and wire-bonded to a conductor layer 3 of the circuit board 1. It is hermetically sealed with a cap 4.
【0003】かかる密着型イメージセンサにおいては、
各素子2を回路基板1上に正確な間隔を保って配列する
必要があり、従来より種々の工夫がなされている。In such a contact type image sensor,
It is necessary to arrange the respective elements 2 on the circuit board 1 at an accurate interval, and various devices have been conventionally devised.
【0004】例えば、図7は特開昭62−230048
の公報で開示された密着型イメージセンサの組立方法を
示すものである。この組立法は多数個一列状に収納する
溝5を形成した配列治具6を用い、この配列治具6の溝
5に素子2をフェイスダウンの状態に整列させて配置さ
せておき、長尺状の回路基板1の所定位置に接着剤7を
塗布したものを上記フェイスダウンして溝5の中に直列
状に収納した素子2の裏面に押圧し、接着剤6を硬化し
て組立る方法である。[0004] For example, FIG.
1 shows a method of assembling a contact type image sensor disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. H11-209,878. This assembling method uses an array jig 6 in which grooves 5 for accommodating a large number of pieces are arranged in a line, and the elements 2 are arranged in the grooves 5 of the array jig 6 in a face-down state, and are long. A method in which an adhesive 7 is applied to a predetermined position of a circuit board 1 having a shape like a face down and pressed against the back surface of the element 2 housed in series in the groove 5 to cure the adhesive 6 and assemble the same It is.
【0005】この組立法は配列治具6の溝5にフェイス
ダウンの状態で収納するのみで素子2が直列状に整列し
て配置できる。[0005] In this assembling method, the elements 2 can be arranged and arranged in series only by being housed face down in the grooves 5 of the array jig 6.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな配列治具6を用いて素子2を整列する組立法は、整
列時にフェイス面が配列治具6の溝5の底面でこすれ、
電極面や受光膜を損傷する危険性があった。また、半導
体ウエーハから高精度のダイシング技術で切削加工して
各片状に仕上げる時、外形寸法を完全に均一に形成する
ことが困難であり、回路基板1上に配列した素子2間の
位置精度は高々±0.1mm程度のものであった。この
ため、高精細、高解像度が得られる±数μm程度の位置
精度を得ることは望めないものであった。また、多数個
の素子2を整列するとき、個々の外形寸法のバラツキが
積算される上、素子2を自動で配列治具6に整列させる
ことが難しく、自動マウントが困難なものであった。However, in such an assembling method of aligning the elements 2 using the arrangement jig 6, the face surface is rubbed with the bottom surface of the groove 5 of the arrangement jig 6 at the time of alignment.
There was a risk of damaging the electrode surface and the light receiving film. In addition, when a semiconductor wafer is cut by a high-precision dicing technique to finish each piece, it is difficult to form the external dimensions completely uniformly, and the positional accuracy between the elements 2 arranged on the circuit board 1 is difficult. Was at most about ± 0.1 mm. For this reason, it has not been possible to obtain a positional accuracy of about ± several μm at which high definition and high resolution can be obtained. In addition, when arranging a large number of elements 2, variations in the individual external dimensions are accumulated, and it is difficult to automatically align the elements 2 on the array jig 6, and it is difficult to perform automatic mounting.
【0007】ここで、単一素子を基板上に位置決めして
自動マウントするものは、例えば、(イ)特開平2−9
4530、(ロ)特開平1−250004、(ハ)特開
平2−283042などに開示されている。Here, a device in which a single element is positioned on a substrate and automatically mounted is disclosed in, for example, (A) Japanese Patent Laid-Open No. 2-9 / 1990.
4530, (b) Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-250004, and (c) Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-280304.
【0008】即ち、半導体部品の自動組立技術は、素子
を供給位置からマウント位置まで移動する吸着ヘッド
と、マウント対象を撮像して配置位置や基板位置を位置
検出するテレビカメラが用いられ、検出した位置情報に
基づいて吸着ヘッドの移動量あるいはマウント位置を補
正する。That is, the automatic assembling technology of semiconductor components uses a suction head that moves an element from a supply position to a mounting position, and a television camera that captures an image of a mounting target and detects the arrangement position and the substrate position. The movement amount or the mount position of the suction head is corrected based on the position information.
【0009】そして、上記公報(イ)は、素子の供給位
置とマウント位置の間に画像認識手段を配設し、吸着し
た素子の裏面を撮像して搬送途中の素子のずれ量を検出
するものであり、また、公報(ロ)は、マウント位置上
で吸着された素子とマウントされる基板間に両者を撮像
する画像認識手段を配設し、両者間の相対的な位置ずれ
量を検出する。また、公報(ハ)のは、素子の供給位置
とマウント位置の間に中間ステージを配置させ、この中
間ステージ上に配置した画像認識手段で位置ずれ量を検
出し、供給位置における吸着時の素子の位置ずれに対処
する。The above publication (A) discloses a method in which an image recognizing means is provided between a supply position and a mount position of an element, and an image of the back surface of the adsorbed element is taken to detect a shift amount of the element being conveyed. Further, Japanese Patent Application Laid-Open (KOKAI) No. H11-27921 discloses that an image recognizing means for picking up an image of both is provided between an element adsorbed on a mounting position and a substrate to be mounted, and a relative displacement amount between the two is detected. . Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. H11-26086 discloses that an intermediate stage is disposed between a supply position of an element and a mounting position, and the amount of displacement is detected by image recognition means disposed on the intermediate stage. Address the misalignment.
【0010】しかしながら、上記自動組立技術は吸着ヘ
ッドやテレビカメラを含む画像認識手段を用いてマウン
ト位置の位置ずれを補正するものであり、単一素子を高
速かつ正確に位置決めして自動マウントが出来るもの
の、長尺の回路基板上に多数個の素子を所定間隔を保っ
て整列するものではなく、また、個々の外形寸法の補正
などはなし得ないものであった。However, the above-mentioned automatic assembling technique corrects the displacement of the mounting position by using an image recognition means including a suction head and a television camera, and can automatically mount a single element at high speed and accurately. However, a large number of elements are not aligned on a long circuit board at a predetermined interval, and individual external dimensions cannot be corrected.
【0011】従って、本発明は上記問題点に鑑みなされ
たものであり、チップ搬送用の吸着ヘッドとテレビカメ
ラを含む画像認識手段を用いて、チップを高速に自動マ
ウントし、かつ外形寸法が異なるチップや外形形状が微
細に異なるチップを多数個配列しても個々のチップの外
形寸法のバラツキが積算されず、チップ間が正確な間隔
を保ってマウントできるマウンタを提供することを目的
とする。Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and uses a suction head for transporting chips and an image recognizing means including a television camera to automatically mount chips at a high speed and have different external dimensions. It is an object of the present invention to provide a mounter in which even if a large number of chips or chips having slightly different external shapes are arranged, variations in the external dimensions of the individual chips are not integrated, and the chips can be mounted with an accurate spacing.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のマウンタは表面に認識マークを設けたチッ
プが用いられる。そして、回路基板上にチップを整列し
てマウントする時、マウント位置上において吸着ヘッド
に吸着されたチップと基板上にマウントされたマウント
済みのチップがテレビカメラを含む画像認識手段により
撮像されて、両チップの認識マークの位置が検出され、
これらの認識マークの位置を基準にして、吸着されたチ
ップの基板上へのマウント予定位置が設定される。即
ち、本発明のマウンタは、表面に認識マークを設けたチ
ップを吸着し、連動して水平動並びに上下動し、第1ポ
ジションから第2ポジションにチップを移動させる吸着
ヘッドと、第1ポジションのテーブル上のチップを撮像
し、チップのエッジ位置と認識マークの位置を検出する
第1のTVカメラを含む第1の画像認識手段と、第2ポ
ジションでチップがマウントされる基板を支持し、XY
方向に位置補正可能に移動するXYテーブルと、第2ポ
ジションで上方位置にある吸着ヘッドに吸着されたチッ
プの裏面からそのエッジの位置と、下方位置にあるXY
テーブル上の基板に先にマウントされたチップのエッジ
位置とその認識マークの位置とを同時に検出する第2の
TVカメラを含む第2の画像認識手段とを含み、前記第
1および第2の画像認識手段にて得られた位置情報に基
づいて、吸着されたチップの認識マークと先にマウント
されたチップの認識マークの位置を位置合わせしてXY
テーブルを制御し、吸着されたチップの基板上のマウン
ト位置を設定することを特徴としている。また、本発明
のマウンタは、前記チップはチップ表面の前記配列方向
に沿う両側に一対の認識マークが離間して配設され、前
記第1の画像認識手段でチップの一側のエッジ位置と一
側の認識マーク位置が検出され、前記第2の画像認識手
段で、吸着されたチップの一側のエッジ位置と、基板上
にマウントされたチップの他側のエッジ位置と他側の位
置を認識するマーク位置とを同時に検出し、前記第1お
よび第2の画像認識手段にて得られた位置情報に基づい
て、吸着されたチップの一側の認識マークと基板上にマ
ウントされたチップの他側の認識マークの位置を位置合
わせしてXYテーブルを制御し、吸着されたチップの基
板上のマウント位置を設定することを特徴としている。
また、本発明のマウンタは、第1ポジションのテーブル
は他のチップ供給ポジションより個別チップが位置決め
供給された中間ステージであることを特徴としている。In order to achieve the above object, a mounter of the present invention uses a chip provided with a recognition mark on its surface. Then, when aligning and mounting the chip on the circuit board, the chip adsorbed by the suction head on the mounting position and the mounted chip mounted on the substrate are imaged by image recognition means including a television camera, The positions of the recognition marks on both chips are detected,
Based on the positions of these recognition marks, the mounting positions of the sucked chips on the substrate are set. That is, the mounter of the present invention suctions a chip provided with a recognition mark on the surface, moves horizontally and vertically in conjunction with the suction head, and moves the chip from the first position to the second position. A first image recognition means including a first TV camera for imaging a chip on a table and detecting an edge position of the chip and a position of a recognition mark; a substrate on which the chip is mounted at a second position;
XY table that moves so that the position can be corrected in the direction, the position of the edge from the back surface of the chip sucked by the suction head at the second position at the upper position, and the XY table at the lower position.
A second image recognizing means including a second TV camera for simultaneously detecting an edge position of a chip previously mounted on a substrate on a table and a position of a recognition mark thereof, wherein the first and second images are provided. Based on the position information obtained by the recognizing means, the position of the recognition mark of the chip that has been sucked is aligned with the position of the recognition mark of the chip that has been mounted earlier, and XY
It is characterized in that the table is controlled and the mounting position of the sucked chip on the substrate is set. Further, in the mounter of the present invention, the chip is provided with a pair of recognition marks spaced apart on both sides of the chip surface in the arrangement direction, and the first image recognition means is provided with one edge position on one side of the chip. And the second image recognition means recognizes the edge position on one side of the sucked chip, the edge position on the other side of the chip mounted on the substrate, and the position on the other side. At the same time, and based on the position information obtained by the first and second image recognition means, the recognition mark on one side of the sucked chip and the other of the chip mounted on the substrate The position of the recognition mark on the side is aligned to control the XY table, and the mounting position of the sucked chip on the substrate is set.
Further, the mounter of the present invention is characterized in that the table at the first position is an intermediate stage in which individual chips are positioned and supplied from another chip supply position.
【0013】[0013]
【作用】マウントされたチップおよびマウント予定のチ
ップはそれぞれチップ表面に配設した認識マークの位置
が画像認識手段で検出され、検出された両チップの認識
マーク位置がマウント位置上で位置合わせされ、この位
置合わせした位置を基準としてマウント予定位置が設定
される。従って、基板上に整列してマウントされるチッ
プはそれぞれ各チップの認識マーク間が上記設定値で設
定された間隔でマウントされ、チップの外形寸法や外形
形状の差に関係なく所定間隔に設定してマウントされ
る。In the mounted chip and the chip to be mounted, the position of the recognition mark provided on the chip surface is detected by the image recognition means, and the detected recognition mark positions of both chips are aligned on the mounting position. The planned mounting position is set based on the aligned position. Therefore, the chips that are aligned and mounted on the substrate are mounted with the intervals between the recognition marks of the respective chips set at the intervals set by the above set values, and set at predetermined intervals regardless of the external dimensions and the differences in the external shapes of the chips. Mounted.
【0014】また、チップ表面に認識マークを配列方向
に沿う両側に一対形成したチップはマウント時、マウン
トされるチップは一側の認識マーク位置が検出され、基
板側にマウントされたチップは他側の認識マーク位置が
検出されて両者が位置合わせされる。従って、マウント
されるチップの外形寸法が基板側にマウントされたチッ
プの外形寸法と異なるパターンのチップの場合に於いて
も、各チップの認識マーク間が所定の設定された間隔で
マウントされる。In addition, when mounting a chip in which a pair of recognition marks are formed on both sides along the arrangement direction on the chip surface, the position of the recognition mark on one side of the mounted chip is detected, and the chip mounted on the substrate side is the other side. Are detected and the two are aligned. Therefore, even in the case of a chip having a pattern in which the outer dimensions of the mounted chip are different from the outer dimensions of the chip mounted on the substrate side, the chips are mounted at predetermined intervals between the recognition marks of each chip.
【0015】また、第1ポジションのテーブルを他のチ
ップ供給ポジションから個々のチップが位置決めされて
供給される中間ステージに設定すると、チップ供給ポジ
ションにおける吸着時のずれの補正が出来、テレビカメ
ラによる位置認識が確実になされる。Further, when the table at the first position is set to an intermediate stage in which individual chips are positioned and supplied from another chip supply position, a shift at the time of suction at the chip supply position can be corrected, and the position by the television camera can be corrected. Recognition is assured.
【0016】[0016]
【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照しつつ説明
する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0017】図1は本発明に係るマウンタの一例を示す
概略図であり、長尺のセラミック回路基板などで構成さ
れる基板8上にCCDやバイポーラICなどのチップ9
を多数個所定間隔に位置決めしてマウントするマウンタ
10の構成を示す。FIG. 1 is a schematic view showing one example of a mounter according to the present invention. A chip 9 such as a CCD or a bipolar IC is mounted on a substrate 8 composed of a long ceramic circuit substrate or the like.
1 shows a configuration of a mounter 10 that mounts a plurality of the motors at predetermined intervals.
【0018】また、図2はこのマウンタ10でマウント
されるチップ9の外形を示す正面図であり、図示しない
が、多数のチップ9を縦横のパターン状に形成したウェ
ーハから前記パターンに沿って各片状にダイシングして
得られたものであり、チップ9表面のパターン11には
チップ間隔を設定する認識マーク12が配設されてい
る。FIG. 2 is a front view showing the outer shape of the chip 9 mounted on the mounter 10. Although not shown, each of the chips 9 is formed along a line from a wafer having a large number of chips 9 formed in a vertical and horizontal pattern. It is obtained by dicing in a piece shape, and a recognition mark 12 for setting a chip interval is provided on a pattern 11 on the surface of the chip 9.
【0019】マウンタ10はチップ9を供給するチップ
供給ポジション13と、供給されたチップ9の表面を撮
像し、チップ表面の上記認識マーク12位置を検出する
第1ポジション14と、基板8上の所定位置にチップ9
をマウントする第2ポジション15とで構成されてい
る。The mounter 10 has a chip supply position 13 for supplying the chip 9, a first position 14 for imaging the surface of the supplied chip 9 and detecting the position of the recognition mark 12 on the chip surface, and a predetermined position on the substrate 8. Tip 9 in position
And a second position 15 for mounting the same.
【0020】チップ供給ポジション13における16は
チップ供給機構であり、多数個縦横にダイシングされた
チップ9がウェーハシート17に貼られて支持されてい
る。また、18はウェーハシート17に貼られたチップ
9を位置決めするためのチップ位置決め機構であり、ウ
ェーハシート17の上方に配置されたTVカメラ19、
TVカメラ19から取込んだチップ9の位置情報を認識
する認識部20、認識部20で判断された制御信号によ
りチップ供給機構16のX−Y−θ駆動部16aを駆動
制御するモータコントロール部21とで構成されてい
る。Reference numeral 16 in the chip supply position 13 denotes a chip supply mechanism, in which a plurality of vertically and horizontally diced chips 9 are adhered and supported on a wafer sheet 17. Reference numeral 18 denotes a chip positioning mechanism for positioning the chips 9 attached to the wafer sheet 17, and a TV camera 19 disposed above the wafer sheet 17,
A recognizing unit 20 for recognizing the positional information of the chip 9 taken from the TV camera 19, and a motor control unit 21 for driving and controlling the XY-θ driving unit 16a of the chip supply mechanism 16 based on the control signal determined by the recognizing unit 20. It is composed of
【0021】また、22はチップ供給ポジション13と
第1ポジション14間に配置され、ピックアップアーム
23の先端に取付けられた吸着ヘッドであり、連動して
水平動ならびに上下動して、ウェーハシート17上に位
置決めされたチップ9を吸着して第1ポジション14の
中間ステージ24上に移動する。Reference numeral 22 denotes a suction head which is disposed between the chip supply position 13 and the first position 14 and is attached to the tip of the pickup arm 23. The chip 9 positioned at the position is sucked and moved onto the intermediate stage 24 at the first position 14.
【0022】移動されたチップ9は中間ステージ24の
周辺四方に配置された爪25により所定位置に位置決め
される。これにより、チップ供給ポジション13におい
て、ウェーハシート17に貼られたチップ9を吸着ヘッ
ド22で吸着する際に生じるチップ9の位置ずれが修正
される。The moved chip 9 is positioned at a predetermined position by claws 25 arranged on all sides of the intermediate stage 24. This corrects the displacement of the chips 9 caused when the suction head 22 sucks the chips 9 attached to the wafer sheet 17 at the chip supply position 13.
【0023】26は中間ステージ24上に位置決めされ
たチップ9の表面画像を撮像し、チップ9のパターン1
1面に配設された認識マーク12の位置を検出するため
の第1の画像認識手段であり、中間ステージ24の上方
に配置された第1のTVカメラ27および第1のTVカ
メラ27から取込んだチップ9の位置情報を認識する認
識部28とで構成されている。即ち、認識部28は第1
のTVカメラ27により撮像さたチップ9の表面画像に
より、図2に示すように、チップ9のエッジEと認識マ
ーク12間の距離mが算出され、認識マーク12のエッ
ジEからの位置が検出される。Reference numeral 26 denotes an image of the surface of the chip 9 positioned on the intermediate stage 24, and a pattern 1 of the chip 9 is taken.
This is a first image recognition means for detecting the position of the recognition mark 12 provided on one surface, and is obtained from the first TV camera 27 and the first TV camera 27 disposed above the intermediate stage 24. And a recognition unit 28 for recognizing the position information of the inserted chip 9. That is, the recognition unit 28
As shown in FIG. 2, the distance m between the edge E of the chip 9 and the recognition mark 12 is calculated from the surface image of the chip 9 captured by the TV camera 27, and the position of the recognition mark 12 from the edge E is detected. Is done.
【0024】次に認識マーク12位置が検出されたチッ
プ9は、連動して水平動ならびに上下動する吸着ヘッド
29に吸着され、中間ステージ24から第2ポジション
15のXYテーブル30上に支持された基板8上へ移動
される。Next, the chip 9 at which the position of the recognition mark 12 is detected is sucked by the suction head 29 which moves horizontally and vertically in conjunction with it, and is supported on the XY table 30 at the second position 15 from the intermediate stage 24. It is moved onto the substrate 8.
【0025】31は吸着ヘッド29が第2ポジション1
5の上方位置にある時、吸着ヘッド29に吸着されたチ
ップ9の裏面側と、基板8上にマウントされたマウント
済みのチップ9aの表面側からその画像を取込んでチッ
プ9とチップ9aの認識マーク12と認識マーク12a
を検出するための第2の画像認識手段であり、吸着ヘッ
ド29とXYテーブル30間に移動自在に配設された上
下一対の反射手段32(32a、32b)と、これらの
反射手段32(32a、32b)で反射されたチップ9
とチップ9aの画像を撮像する上下一対の第2のTVカ
メラ33(33a、33b)及びそれらのチップ9およ
びチップ9aの位置情報を認識する認識部28とで構成
されている。Numeral 31 indicates that the suction head 29 is in the second position 1
5, the images are taken from the back side of the chip 9 sucked by the suction head 29 and the front side of the mounted chip 9 a mounted on the substrate 8, and the images of the chip 9 and the chip 9 a are taken. Recognition mark 12 and recognition mark 12a
And a pair of upper and lower reflectors 32 (32a, 32b) movably disposed between the suction head 29 and the XY table 30, and these reflectors 32 (32a). , 32b)
And a pair of upper and lower second TV cameras 33 (33a, 33b) for capturing an image of the chip 9a, and a recognition unit 28 for recognizing the chip 9 and the positional information of the chip 9a.
【0026】認識部28は前記第1のTVカメラ27に
より撮像さたチップ9の表面画像の位置情報と上記上下
一対の第2のTVカメラ33(33a、33b)により
撮像されたチップ9の裏面画像およびチップ9aの表面
画像の位置情報から、後述するように、チップ9の基板
8上へのマウント予定位置が算出され、その算出データ
をモータコントロール部34に与えてX−Y−θ駆動部
35を駆動制御し、XYテーブル30を所定量移動させ
て吸着ヘッド29に吸着されたチップ9を基板8上にマ
ウントする。The recognizing unit 28 is provided with position information of the front surface image of the chip 9 picked up by the first TV camera 27 and the back surface of the chip 9 picked up by the pair of upper and lower second TV cameras 33 (33a, 33b). As will be described later, the mounting position of the chip 9 on the substrate 8 is calculated from the position information of the image and the surface image of the chip 9a, and the calculated data is given to the motor control unit 34 to provide an XY-θ driving unit. The XY table 30 is moved by a predetermined amount, and the chip 9 sucked by the suction head 29 is mounted on the substrate 8.
【0027】図3に上記認識部28における第1のTV
カメラ27および第2のTVカメラ33(33a、33
b)による位置情報からチップ9のマウント予定位置を
算出する過程を示す。FIG. 3 shows the first TV in the recognition unit 28.
The camera 27 and the second TV camera 33 (33a, 33
The process of calculating the planned mounting position of the chip 9 from the position information according to b) is shown.
【0028】先ず、マウント予定のチップ9は第1ポジ
ション14において、第1のTVカメラ27によりその
チップ表面が撮像され、同図(イ)に示すように、チッ
プ9のエッジEと認識マーク12間の距離mが算出さ
れ、認識マーク12のエッジEからの位置が検出され
る。このチップ9は吸着ヘッド29で吸着され、第2ポ
ジション15の上方位置にある時、上側の第2のTVカ
メラ33aによりそのチップ裏面が撮像され、同図
(ロ)に示すように、チップ9のエッジEの位置が検出
される。これに第1のTVカメラ27により検出された
認識マーク12のエッジEよりの位置検出データmを取
込んで、第2ポジション15におけるマウント予定のチ
ップ9の認識マーク12の位置が、点線図示するように
検出される。First, the surface of the chip 9 to be mounted is imaged by the first TV camera 27 at the first position 14, and as shown in FIG. The distance m between them is calculated, and the position of the recognition mark 12 from the edge E is detected. When the chip 9 is sucked by the suction head 29 and is located above the second position 15, the back surface of the chip is imaged by the upper second TV camera 33a, and as shown in FIG. Of the edge E is detected. The position detection data m from the edge E of the recognition mark 12 detected by the first TV camera 27 is taken into this, and the position of the recognition mark 12 of the chip 9 to be mounted at the second position 15 is shown by a dotted line. Is detected as follows.
【0029】同時に、下側の第2のTVカメラ33bに
より基板8上にマウントされたマウント済みのチップ9
aの表面が撮像され、同図(ハ)に示すように、チップ
9aのエッジEaと認識マーク12a間の距離nが算出
され、第2ポジション15におけるマウント済みのチッ
プ9aの認識マーク12aのエッジEaからの位置が検
出される。At the same time, the mounted chip 9 mounted on the substrate 8 by the lower second TV camera 33b
(a), the distance n between the edge Ea of the chip 9a and the recognition mark 12a is calculated, and the edge of the recognition mark 12a of the mounted chip 9a at the second position 15 as shown in FIG. The position from Ea is detected.
【0030】認識部28は上記両認識マーク12、12
aの位置検出データm、nに基づいて、両チップ9、9
aの認識マーク12、12aの位置が位置合わせされ、
更に、所定のチップ間隔Wだけ位置をずらせ、XYテー
ブル30を移動させることにより、チップ9のマウント
予定位置を設定する。The recognizing section 28 controls the two recognizing marks 12, 12.
Based on the position detection data m, n of a, both chips 9, 9
The positions of the recognition marks 12 and 12a of a are aligned,
Further, by shifting the position by a predetermined chip interval W and moving the XY table 30, the mounting position of the chip 9 is set.
【0031】すると、同図(ニ)に示すように、チップ
9の認識マーク12の位置がマウント済みチップ9aの
認識マーク12aがあった位置に位置合わせされるよう
基板8が移動される。Then, as shown in FIG. 3D, the substrate 8 is moved so that the position of the recognition mark 12 of the chip 9 is aligned with the position of the recognition mark 12a of the mounted chip 9a.
【0032】このように設定されるチップ9はマウント
済みチップ9aと認識マーク12、12a間が設定され
たチップ間隔Wでマウントされ、ダイシングで生じる外
形寸法にかかわりなく、チップ間が正確な間隔を保って
マウントされる。The chips 9 set in this way are mounted at the set chip interval W between the mounted chip 9a and the recognition marks 12 and 12a, so that an accurate distance between the chips can be obtained irrespective of the external dimensions generated by dicing. Mounted while keeping.
【0033】図4は上記マウンタ10でマウントされる
他のチップ例を示す。FIG. 4 shows another example of a chip mounted by the mounter 10.
【0034】即ち、このチップ36はチップ表面のパタ
ーン37の基板8上への配列方向に沿う両側に一対の認
識マーク38、39が離間して配設されている。That is, in the chip 36, a pair of recognition marks 38 and 39 are arranged on both sides along the direction in which the pattern 37 on the chip surface is arranged on the substrate 8 with a space therebetween.
【0035】上記チップ36はマウント時、マウント予
定のチップ36は一側の認識マーク38位置pが、また
基板8上にマウントされたマウント済みのチップ36a
は他側の認識マーク39位置qが、それぞれ上記実施例
のチップ9と同様に位置検出され、検出した位置情報に
基づいて、マウント予定のチップ36がマウント済みの
チップ36aと位置合わせされ、両チップ36、36a
の認識マーク38、39間が所定間隔になるようにXY
テーブル30が制御されて、マウント位置が設定され
る。At the time of mounting the chip 36, the chip 36 to be mounted has the recognition mark 38 on one side at the position p, and the mounted chip 36a mounted on the substrate 8
The position q of the recognition mark 39 on the other side is detected in the same manner as the chip 9 of the above embodiment, and the chip 36 to be mounted is aligned with the mounted chip 36a based on the detected position information. Chips 36, 36a
XY so that the recognition mark 38, 39 between
The table 30 is controlled to set the mounting position.
【0036】図5は認識部28における上記チップ36
のマウント位置を算出する過程を示す。FIG. 5 shows the chip 36 in the recognition unit 28.
2 shows a process of calculating the mount position.
【0037】即ち、マウント予定のチップ36は第1ポ
ジション14において、第1のTVカメラ27によって
そのチップ表面が撮像され、同図(イ)に示すように、
チップ36の一側のエッジE1 と一側の認識マーク38
間の距離pが算出され、エッジE1 よりの認識マーク3
8の位置が検出される。次に、第2ポジション15の上
方位置において、上側の第2のTVカメラ33aによっ
てそのチップ裏面が撮像され、同図(ロ)に示すよう
に、チップ36の一側のエッジE1 の位置が認識され、
これに第1のTVカメラ27により検出された認識マー
ク38のエッジE1 よりの位置検出データpを取込ん
で、点線図示するように、一側の認識マーク38の位置
が検出される。That is, the chip 36 to be mounted is imaged at the first position 14 by the first TV camera 27, as shown in FIG.
One side edge E1 of the chip 36 and one side recognition mark 38
The distance p between them is calculated, and the recognition mark 3 from the edge E1 is obtained.
8 are detected. Next, the upper surface of the chip 36 is imaged by the upper second TV camera 33a at a position above the second position 15, and the position of the edge E1 on one side of the chip 36 is recognized as shown in FIG. And
The position detection data p from the edge E1 of the recognition mark 38 detected by the first TV camera 27 is taken into this, and the position of the recognition mark 38 on one side is detected as shown by a dotted line.
【0038】一方、基板8上にマウントされたマウント
済みのチップ36aは下側の第2のTVカメラ33bに
よってその表面が撮像され、同図(ハ)に示すように、
チップ36aの他側のエッジE2 と他側の認識マーク3
9a間の距離qが算出され、他側の認識マーク39aの
エッジE2 よりの位置が検出される。On the other hand, the surface of the mounted chip 36a mounted on the substrate 8 is imaged by the lower second TV camera 33b, and as shown in FIG.
Edge E2 on the other side of chip 36a and recognition mark 3 on the other side
The distance q between the reference marks 9a is calculated, and the position of the recognition mark 39a on the other side from the edge E2 is detected.
【0039】認識部28は上記認識マーク38、39a
の位置検出データp、qに基づいて、両チップ36、3
6aの認識マーク38、39aの位置が位置合わせさ
れ、更に、所定のチップ間隔Wだけ位置をずらせ、XY
テーブル30を移動させることにより、チップ36のマ
ウント予定位置を算出する。The recognizing section 28 is provided with the recognizing marks 38 and 39a.
Based on the position detection data p, q of the two chips 36, 3
The positions of the recognition marks 38 and 39a of 6a are aligned, and the positions are shifted by a predetermined chip interval W to obtain XY.
By moving the table 30, the mounting position of the chip 36 is calculated.
【0040】すると、同図(ニ)に示すように、チップ
36の一側の認識マーク38の位置がマウント済みチッ
プ36aの他側の認識マーク39aがあった位置に位置
合わせされるよう基板8が移動し、マウント予定のチッ
プ36の一側の認識マーク38がマウント済みのチップ
36aの他側の認識マーク39aから設定のチップ間隔
Wだけ離間して配置される。Then, as shown in FIG. 4D, the substrate 8 is positioned such that the position of the recognition mark 38 on one side of the chip 36 is aligned with the position of the recognition mark 39a on the other side of the mounted chip 36a. Is moved, and the recognition mark 38 on one side of the chip 36 to be mounted is separated from the recognition mark 39a on the other side of the mounted chip 36a by a set chip interval W.
【0041】この場合、マウント予定のチップ36はマ
ウント済みのチップ36aの他側の認識マーク39a位
置に一側の認識マーク38の位置を位置合わせしてチッ
プ間隔を設定するように構成したから、マウント済みの
チップ36aの外形寸法Lと異なる外形寸法Mのチップ
36を用いても、常にチップ間隔を一定に設定してマウ
ントすることができる。In this case, the chip 36 to be mounted is configured such that the chip interval is set by aligning the position of the recognition mark 38 on one side with the position of the recognition mark 39a on the other side of the mounted chip 36a. Even if a chip 36 having an outer dimension M different from the outer dimension L of the mounted chip 36a is used, the chip can always be mounted with the chip interval set constant.
【0042】[0042]
【発明の効果】以上のように、本発明はチップに認識マ
ークを配設し、これらの認識マークを基準にチップ間隔
を設定し、多数個のチップを基板上に整列してマウント
するように構成したから、各チップ間がチップの外形寸
法や外形形状の差に関係なく所定間隔に設定してマウン
トすることできる。このため、チップを±数μm程度の
位置精度で組立することができ、高精細、高解像度の密
着型イメージセンサを高速自動で組立ることができる。As described above, according to the present invention, a recognition mark is provided on a chip, a chip interval is set based on the recognition mark, and a number of chips are aligned and mounted on a substrate. With this configuration, the chips can be mounted at predetermined intervals regardless of the difference in the outer dimensions and the outer shape of the chips. Therefore, the chip can be assembled with a positional accuracy of about ± several μm, and a high-definition and high-resolution contact type image sensor can be automatically assembled at high speed.
【0043】尚、本発明は上記実施例において、チップ
表面の認識マーク位置を検出するポジション1を個別チ
ップが位置決め供給される中間ステージ上としたが、チ
ップ供給ポジションのウエーハシート上で直接検出する
こともできる。この場合、中間ステージを省略すること
ができる。また、第2の画像認識手段のTVカメラは上
下別体のTVカメラを用いたが、光学通路の反射手段を
画像切換えタイプとすることで、一体化することも可能
である。また、チップを長尺の基板上に一列状に配列し
たが、XYの2方向の平面状に配列することも可能であ
る。In the present invention, in the above embodiment, the position 1 for detecting the recognition mark position on the chip surface is set on the intermediate stage where the individual chips are positioned and supplied, but is directly detected on the wafer sheet at the chip supply position. You can also. In this case, the intermediate stage can be omitted. In addition, although the TV camera of the second image recognition means uses a vertically separate TV camera, the reflection means of the optical path may be of an image switching type to be integrated. Further, the chips are arranged in a line on a long substrate, but they may be arranged in a plane in two directions of XY.
【図1】本発明のマウンタの実施例を示す概略図。FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of a mounter according to the present invention.
【図2】図1のマウンタに適用するチップの正面図。FIG. 2 is a front view of a chip applied to the mounter of FIG. 1;
【図3】図2のチップを適用した図1の動作説明図。FIG. 3 is an operation explanatory diagram of FIG. 1 to which the chip of FIG. 2 is applied;
【図4】図1のマウンタに適用する他のチップの正面
図。FIG. 4 is a front view of another chip applied to the mounter of FIG. 1;
【図5】図4のチップを適用した図1の動作説明図。FIG. 5 is an operation explanatory diagram of FIG. 1 to which the chip of FIG. 4 is applied;
【図6】図1のマウンタが適用される密着型イメージセ
ンサの分解斜視図。6 is an exploded perspective view of a contact type image sensor to which the mounter of FIG. 1 is applied.
【図7】従来のマウンタ例を示す分解斜視図。FIG. 7 is an exploded perspective view showing an example of a conventional mounter.
8 基板 9,36 チップ 10 マウンタ 11 パターン 12 認識マーク 13 チップ供給ポジション 14 第1ポジション 15 第2ポジション 16 チップ供給機構 24 中間ステージ 26 第1の画像認識手段 27 第1のTVカメラ 28 認識部 29 吸着ヘッド 30 XYテーブル 31 第2の画像認識手段 33(33a,33b)第2のTVカメラ 37 パターン 38,39 認識マーク E エッジ 8 board 9,36 chip 10 mounter 11 pattern 12 recognition mark 13 chip supply position 14 first position 15 second position 16 chip supply mechanism 24 intermediate stage 26 first image recognition means 27 first TV camera 28 recognition unit 29 suction Head 30 XY table 31 Second image recognition means 33 (33a, 33b) Second TV camera 37 Pattern 38,39 Recognition mark E Edge
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/52 H01L 21/60 H01L 21/68 H05K 13/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/52 H01L 21/60 H01L 21/68 H05K 13/00
Claims (3)
ら第2ポジションに表面に認識マークを有するチップを
移動させる吸着ヘッドと、 第1ポジションで前記チップのエッジと認識マークの位
置を検出する第1の画像認識手段と、 第2ポジションで前記チップがマウントされる基板をX
Y方向に位置補正するXYテーブルと、 第2ポジションで上方位置にある吸着ヘッドに吸着され
た前記チップの裏面からそのエッジの位置と、下方位置
にあるXYテーブル上の基板に先にマウントされた別の
チップのエッジとその認識マークの位置とを検出する第
2の画像認識手段とを具備し、 前記第1および第2の画像認識手段で得られた位置情報
に基づいて、吸着された前記チップの認識マークと先に
マウントされた別のチップの認識マークの位置を位置合
わせしてXYテーブルを制御し、吸着されたチップの基
板上のマウント位置を設定することを特徴とするマウン
タ。1. A suction head for moving a chip having a recognition mark on its surface from a first position to a second position by moving horizontally and vertically, and detecting an edge of the chip and a position of the recognition mark at a first position. X is a substrate on which the chip is mounted at the second position.
An XY table for correcting the position in the Y direction, a position of an edge from the back surface of the chip sucked by the suction head at an upper position at the second position, and a chip mounted first on a substrate on the XY table at a lower position. A second image recognizing means for detecting an edge of another chip and a position of the recognition mark thereof, wherein the suctioned based on the position information obtained by the first and second image recognizing means. A mounter characterized in that a position of a recognition mark of a chip and a position of a recognition mark of another chip mounted earlier are aligned to control an XY table, and a mounting position of a sucked chip on a substrate is set.
ら第2ポジションに表面に認識マークを有するチップを
移動させる吸着ヘッドと、 第1ポジションで前記チップのエッジと認識マークの位
置を検出する第1の画像認識手段と、 第2ポジションで前記チップがマウントされる基板をX
Y方向に位置補正するXYテーブルと、 第2ポジションで上方位置にある吸着ヘッドに吸着され
た前記チップの裏面からそのエッジの位置と、下方位置
にあるXYテーブル上の基板に先にマウントされた別の
チップのエッジとその認識マークの位置とを検出する第
2の画像認識手段とを具備し、 前記チップはチップ表面の前記配列方向に沿う両側に一
対の認識マークが離間して配設され、前記第1の画像認
識手段でチップの一方側のエッジと一方側の認識マーク
の位置が検出され、前記第2の画像認識手段で、吸着さ
れたチップの一側のエッジと、基板上にマウントされた
チップの他側のエッジと他側の認識マークの位置とを検
出し、 前記第1および第2の画像認識手段で得られた位置情報
に基づいて、吸着されたチップの一方側の認識マークと
基板上にマウントされたチップの他方側の認識マークの
位置を位置合わせしてXYテーブルを制御し、吸着され
たチップの基板上のマウント位置を設定することを特徴
とするマウンタ。2. A suction head for moving a chip having a recognition mark on a surface from a first position to a second position by moving horizontally and vertically, and detecting a position of an edge of the chip and a position of the recognition mark at a first position. X is a substrate on which the chip is mounted at the second position.
An XY table for correcting the position in the Y direction, a position of an edge from the back surface of the chip sucked by the suction head at an upper position at the second position, and a chip mounted first on a substrate on the XY table at a lower position. A second image recognizing means for detecting an edge of another chip and a position of the recognition mark thereof, wherein the chip is provided with a pair of recognition marks spaced on both sides of the chip surface along the arrangement direction. One edge of the chip and the position of the recognition mark on one side are detected by the first image recognizing means, and the edge of the one side of the chip adsorbed on the substrate is detected by the second image recognizing means. The other side edge of the mounted chip and the position of the other side recognition mark are detected, and one side of the sucked chip is detected based on the position information obtained by the first and second image recognition means. Recognition Mounter, characterized in that aligning the position of the other side of the recognition marks of the mounted chip to click the substrate by controlling the XY table, set the mount position on the substrate of the chip that are adsorbed.
より個別チップが位置決め供給された中間ステージであ
ることを特徴とする請求項1および請求項2記載のマウ
ンタ。3. The mounter according to claim 1, wherein the first position is an intermediate stage to which individual chips are positioned and supplied from a chip supply position.
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