JP3206517B2 - Semiconductor porcelain composition and semiconductor porcelain device using the same - Google Patents

Semiconductor porcelain composition and semiconductor porcelain device using the same

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JP3206517B2
JP3206517B2 JP27580997A JP27580997A JP3206517B2 JP 3206517 B2 JP3206517 B2 JP 3206517B2 JP 27580997 A JP27580997 A JP 27580997A JP 27580997 A JP27580997 A JP 27580997A JP 3206517 B2 JP3206517 B2 JP 3206517B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、負の抵抗温度特性
を有する半導体磁器組成物、及びそれを用いた特に突入
電流防止用やモーター起動遅延用として有用な半導体磁
器素子に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor porcelain composition having a negative resistance temperature characteristic, and a semiconductor porcelain element using the same, particularly useful for preventing inrush current and delaying motor start-up.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、初期の過電流を防止する素子
として、温度上昇とともに抵抗値が減少する負の抵抗温
度特性を有する半導体磁器素子(NTCサーミスタ素
子)が用いられている。この半導体磁器素子は室温での
抵抗値が高いため、初期の過電流を抑制し、その後、自
己発熱により昇温して低抵抗となり、定常状態では電力
消費量が減少する。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an element for preventing an initial overcurrent, a semiconductor ceramic element (NTC thermistor element) having a negative resistance temperature characteristic in which a resistance value decreases with a rise in temperature has been used. Since this semiconductor ceramic element has a high resistance value at room temperature, the initial overcurrent is suppressed, and then the temperature rises to a low resistance due to self-heating, and the power consumption decreases in a steady state.

【0003】例えばスイッチング電源では、スイッチを
入れた瞬間に過電流が流れることから、この初期の突入
電流を抑制する素子として、このような半導体磁器素子
を用いている。この半導体磁器素子は、室温での抵抗値
が高く、温度上昇とともに抵抗値が減少する機能を有し
ているため、初期の突入電流を抑制し、その後、自己発
熱により昇温して低抵抗となり、定常状態では電力消費
量を低減させることができる。
For example, in a switching power supply, an overcurrent flows at the moment when the switch is turned on. Therefore, such a semiconductor ceramic element is used as an element for suppressing the initial rush current. This semiconductor porcelain element has a high resistance value at room temperature and has a function of decreasing the resistance value as the temperature rises, so the initial rush current is suppressed, and then the temperature rises due to self-heating and the resistance becomes low. In a steady state, power consumption can be reduced.

【0004】そして、この種の半導体磁器素子には、従
来からスピネル型構造を持つ遷移金属複合酸化物からな
る半導体磁器組成物が用いられている。
[0004] In this type of semiconductor porcelain element, a semiconductor porcelain composition comprising a transition metal composite oxide having a spinel structure has been conventionally used.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体磁器
素子(NTCサーミスタ素子)を突入電流防止用として
用いるためには、自己発熱による昇温状態で、抵抗値が
十分に小さくならなければならない。しかしながら、従
来のスピネル型構造を持つ半導体磁器素子では、B定数
が3250K以上には大きくならないため、突入電流を
防止した状態から、昇温状態の抵抗値を十分小さくでき
ず、定常時の電力消費量が大きくなるという問題点があ
った。
By the way, in order to use a semiconductor ceramic element (NTC thermistor element) for preventing an inrush current, the resistance value must be sufficiently reduced in a state where the temperature rises due to self-heating. However, in the conventional semiconductor porcelain element having a spinel structure, the B constant does not increase to 3250 K or more, so that the resistance value in the temperature rising state cannot be sufficiently reduced from the state where the rush current is prevented, and the power consumption in the steady state is not increased. There was a problem that the amount became large.

【0006】又、従来の半導体磁器素子では、外気温度
の変化、特に0℃以下の低温環境下では、抵抗値の上昇
が大きく、電圧ドロップにより機器の立ち上がりが遅れ
るという問題点があった。これらの問題点を改善するた
めには、常温付近(―10〜60℃)でB定数が小さ
く、高温(140〜200℃)でB定数が大きくなる特
性が必要となる。
In addition, the conventional semiconductor porcelain element has a problem that the resistance value is largely increased under a change in the outside air temperature, particularly in a low-temperature environment of 0 ° C. or lower, and the rise of the device is delayed due to a voltage drop. In order to improve these problems, it is necessary to have a property that the B constant is small near normal temperature (−10 to 60 ° C.) and large at a high temperature (140 to 200 ° C.).

【0007】ところで、ランタンコバルト系酸化物磁器
のB定数が温度依存性を持ち、室温付近ではB定数が小
さく、高温になるほどB定数が大きくなるような、負の
抵抗温度特性を示すことは、ブイ.ジー.ブハイデ(V.
G.Bhide)及び ディー.エス.ラジョリア(D.S.Rajori
a)による文献(Phys.Rev.B6,[3]1021(1972))などに
記載されている。
However, the lanthanum-cobalt-based oxide ceramic has a temperature dependence of the B constant, a small B constant near room temperature, and a negative resistance temperature characteristic such that the B constant increases as the temperature increases. buoy. Gee. Buheide (V.
G. Bhide) and Dee. S. La Jolia (DSRajori)
a) (Phys. Rev. B6, [3] 1021 (1972)).

【0008】そして本発明者らは、ランタンコバルト系
酸化物からなる主成分に、Si、Zr、Hf、Ta、S
n、Sb、W、Mo、Te、Ceからなる群の中から選
択した少なくとも1種を添加することにより、室温付近
のB定数を3000K以下(従来、3250K以上)
に、高温のB定数を4000K以上(従来、3250K
以下)にして、突入電流防止特性をさらに高めることが
可能であることを見出した(特開平7―176406
号)。
The present inventors have found that a main component comprising a lanthanum-cobalt-based oxide is Si, Zr, Hf, Ta, S
By adding at least one selected from the group consisting of n, Sb, W, Mo, Te, and Ce, the B constant around room temperature can be reduced to 3000K or less (conventionally 3250K or more).
In addition, the high-temperature B constant is set to 4000K or more (conventionally, 3250K
In the following, it has been found that the inrush current prevention characteristic can be further enhanced (Japanese Patent Laid-Open No. 7-176406).
issue).

【0009】ランタンコバルト系酸化物からなる主成分
に、 Si、Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、M
o、Te、Ceからなる群の中から選択した少なくとも
1種を添加すると、室温の比抵抗とB定数は、その添加
量が増加するとともに大きくなる。これらの添加物は、
ランタンコバルト系酸化物中でドナーとして働き、ラン
タンコバルト系酸化物中に含まれる不純物(Ni、Ca
などのアクセプター群)の電荷を補償するためである。
従って、上記ドナー群の添加量がアクセプター群の不純
物量よりも多くなると、室温の比抵抗とB定数は、ドナ
ー群の添加量が増加するとともに小さくなる。
The main components of the lanthanum cobalt-based oxide include Si, Zr, Hf, Ta, Sn, Sb, W, M
When at least one selected from the group consisting of o, Te, and Ce is added, the resistivity at room temperature and the B constant increase as the amount of addition increases. These additives are
It acts as a donor in the lanthanum cobalt-based oxide, and contains impurities (Ni, Ca) contained in the lanthanum cobalt-based oxide.
This is for compensating the charge of the acceptor group.
Therefore, when the addition amount of the donor group is larger than the impurity amount of the acceptor group, the room temperature resistivity and the B constant decrease as the addition amount of the donor group increases.

【0010】ランタンコバルト系酸化物の室温の比抵抗
とB定数は、ドナー群の添加量がアクセプター群の不純
物量に等しくなった時に最も大きくなり、室温の比抵抗
として約20Ω・cm、B定数(25〜140℃)とし
て約4700Kが得られる。
The specific resistance and the B constant of the lanthanum cobalt-based oxide at room temperature become maximum when the amount of the donor group added becomes equal to the amount of the impurities of the acceptor group. About 4700 K is obtained as (25 to 140 ° C.).

【0011】ところで、突入電流の大きさやその抑制レ
ベルは回路により異なり、例えば、突入電流が大きい回
路や、大きな抑制レベルが要求される回路においては、
使用する半導体磁器の抵抗値を高くする必要がある。半
導体磁器の形状を変えずに、この抵抗値を高くするため
には、室温での比抵抗が高い半導体磁器組成物が必要で
ある。ところが、従来のランタンコバルト系酸化物組成
物の室温の比抵抗は、上述の通り20Ω・cmよりも高
くならなかったため、半導体磁器の形状を変えずにこれ
らの回路に対応できないという問題点を有していた。
By the way, the magnitude of the rush current and the suppression level thereof differ depending on the circuit. For example, in a circuit having a large rush current or a circuit requiring a large suppression level,
It is necessary to increase the resistance of the semiconductor porcelain used. In order to increase the resistance value without changing the shape of the semiconductor porcelain, a semiconductor porcelain composition having a high specific resistance at room temperature is required. However, since the specific resistance at room temperature of the conventional lanthanum cobalt-based oxide composition did not become higher than 20 Ω · cm as described above, there was a problem that these circuits could not be accommodated without changing the shape of the semiconductor porcelain. Was.

【0012】そこで本発明の目的は、昇温状態での抵抗
値が小さくて電力消費量を低減でき、又、室温付近にお
ける抵抗値の上昇を小さくして立ち上がりがよく、かつ
大電流にも対応できる負の抵抗温度特性を有する半導体
磁器組成物に関して、B定数を一定のままで、約10Ω
・cm〜100Ω・cmの間の任意の室温比抵抗を得る
ことができる半導体磁器組成物、及びそれを用いた半導
体磁器素子を提供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to reduce the power consumption by reducing the resistance value in a temperature rising state, and to reduce the rise in the resistance value near room temperature to achieve a good start-up and to cope with a large current. With respect to a semiconductor ceramic composition having a negative resistance-temperature characteristic that can be obtained, the B constant is kept constant and about 10Ω
An object of the present invention is to provide a semiconductor porcelain composition capable of obtaining an arbitrary room-temperature specific resistance in a range of from 1 cm to 100 Ωcm, and a semiconductor porcelain element using the same.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の負の抵抗温度特性を有する半導体磁器組成
物は、ランタンコバルト系酸化物からなる主成分に、副
成分としてFe及びAlの元素のうち少なくも1種の酸
化物と、Si、Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、M
o、Te、Ce、Nb、Mn、Th及びPの元素のうち
少なくとも1種の酸化物を含有していることを特徴とす
る。
In order to achieve the above object, a semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic according to the present invention comprises a lanthanum cobalt-based oxide as a main component and Fe and Al as subcomponents as subcomponents. At least one oxide of the elements, Si, Zr, Hf, Ta, Sn, Sb, W, M
It is characterized by containing at least one oxide among the elements of o, Te, Ce, Nb, Mn, Th and P.

【0014】又、本発明の半導体磁器素子は、負の抵抗
温度特性を有する半導体磁器と該半導体磁器に形成され
た電極を備えた半導体磁器素子において、前記半導体磁
器は、ランタンコバルト系酸化物からなる主成分に、副
成分としてFe及びAlの元素のうち少なくも1種の酸
化物と、Si、Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、M
o、Te、Ce、Nb、Mn、Th及びPの元素のうち
少なくとも1種の酸化物を含有していることを特徴とす
る。
Further, according to the present invention, there is provided a semiconductor ceramic device comprising a semiconductor ceramic having a negative resistance temperature characteristic and an electrode formed on the semiconductor ceramic, wherein the semiconductor ceramic is made of a lanthanum-cobalt-based oxide. At least one oxide of the elements Fe and Al as subcomponents, and Si, Zr, Hf, Ta, Sn, Sb, W, M
It is characterized by containing at least one oxide among the elements of o, Te, Ce, Nb, Mn, Th and P.

【0015】そして、前記Fe及びAlの元素のうち少
なくも1種の酸化物の含有量は、前記元素に換算して全
量で0.001〜30mol%であり、前記Si、Z
r、Hf、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、
Nb、Mn、Th及びPの元素のうち少なくとも1種の
酸化物の含有量は、前記元素に換算して全量で0.00
1〜10mol%であることを特徴とする。
The content of at least one oxide of the above-mentioned Fe and Al elements is 0.001 to 30 mol% in total in terms of the above-mentioned elements.
r, Hf, Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce,
The content of at least one oxide among the elements of Nb, Mn, Th and P is 0.000 in total in terms of the above elements.
1 to 10 mol%.

【0016】又、前記Fe及びAlの元素のうち少なく
も1種の酸化物の含有量は、前記元素に換算して全量で
0.1〜10mol%であり、前記Si、Zr、Hf、
Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、M
n、Th及びPの元素のうち少なくとも1種の酸化物の
含有量は、前記元素に換算して全量で0.1〜5mol
%であることを特徴とする。
The content of at least one oxide of the above-mentioned Fe and Al elements is 0.1 to 10 mol% in total in terms of the above-mentioned elements, and the above-mentioned Si, Zr, Hf,
Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce, Nb, M
The content of at least one oxide of the elements n, Th and P is 0.1 to 5 mol in total in terms of the above elements.
%.

【0017】又、前記ランタンコバルト系酸化物が、L
xCoO3(但し、0.60≦x≦0.99)であるこ
とを特徴とする。
Further, the lanthanum cobalt-based oxide is L
a x CoO 3 (where 0.60 ≦ x ≦ 0.99).

【0018】又、前記LaxCoO3のLaの一部がP
r、Nd及びSmのうちいずれか1種で置換されている
ことを特徴とする。
A part of La in the La x CoO 3 is P
It is characterized by being substituted by any one of r, Nd and Sm.

【0019】さらに、前記半導体磁器素子は突入電流防
止用又はモーター起動遅延用であることを特徴とする。
Further, the semiconductor porcelain element is for preventing inrush current or delaying motor starting.

【0020】このような組成により、B定数を一定値の
ままで、室温の比抵抗を約10Ω・cm〜100・cm
までシリーズ化できるため、突入電流が大きい回路や大
きな抑制レベルが要求される回路に磁器形状を変えずに
対応可能な負の抵抗温度特性を有する半導体磁器素子が
得られる。
With such a composition, the resistivity at room temperature can be increased to about 10 Ω · cm to 100 · cm while the B constant is kept at a constant value.
Therefore, a semiconductor porcelain element having a negative resistance temperature characteristic that can cope with a circuit having a large rush current or a circuit requiring a large suppression level without changing the porcelain shape can be obtained.

【0021】なお、Fe、Alのうち少なくとも1種の
含有量としては、元素に換算して0.001〜30mo
l%が好ましい。即ち、0.001mol%未満の場合
は、添加効果が小さすぎて室温の比抵抗が大きくなら
ず、30mol%を超えた場合は、室温の比抵抗が10
0Ω・cmよりも大きくなり、かつ、高温のB定数が小
さくなるため、昇温状態での抵抗値を十分小さくするこ
とができない。
The content of at least one of Fe and Al is 0.001 to 30 mol in terms of element.
1% is preferred. That is, when the amount is less than 0.001 mol%, the effect of addition is too small to increase the specific resistance at room temperature, and when it exceeds 30 mol%, the specific resistance at room temperature becomes 10%.
Since the resistance becomes larger than 0 Ω · cm and the high-temperature B constant decreases, the resistance value in the temperature rising state cannot be sufficiently reduced.

【0022】又、ランタンコバルト系酸化物を一般式L
xCoO3で表したとき、xは0.60≦x≦0.99
の範囲が好ましい。これは、xが0.60未満又は0.
99を超える場合には、高温でのB定数が3000K以
下となり、昇温状態での抵抗値を十分に小さくすること
ができないためである。
A lanthanum-cobalt-based oxide is represented by the general formula L
When represented by a x CoO 3 , x is 0.60 ≦ x ≦ 0.99
Is preferable. This means that x is less than 0.60 or 0.
If it exceeds 99, the B constant at a high temperature becomes 3000K or less, and the resistance value in a heated state cannot be sufficiently reduced.

【0023】又、本発明の負の抵抗温度特性を有する半
導体磁器素子は、突入電流防止用やモーター起動遅延用
として好適に用いられるが、これらの用途に限定される
ものではない。
The semiconductor porcelain element having a negative resistance temperature characteristic according to the present invention is preferably used for preventing inrush current and for delaying motor start-up, but is not limited to these uses.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を、実施
例に基づいて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below based on examples.

【0025】(実施例1)本実施例は、ランタンコバル
ト系酸化物がLa0.94CoO3の場合である。
(Embodiment 1) In this embodiment, the lanthanum cobalt-based oxide is La 0.94 CoO 3 .

【0026】まずCoに対するLaのモル比が0.94
となるように、La23とCo34の粉末を秤量した。
その後、この秤量粉末に、表1及び表2に示す添加元素
を酸化物などの化合物の形で所定量秤量して添加した。
なお、表1及び表2中の添加元素の量は各元素に換算し
た量である。
First, the molar ratio of La to Co is 0.94.
The powders of La 2 O 3 and Co 3 O 4 were weighed so that
Thereafter, a predetermined amount of the additive elements shown in Tables 1 and 2 was weighed and added to the weighed powder in the form of a compound such as an oxide.
In addition, the amounts of the additional elements in Tables 1 and 2 are the amounts converted into each element.

【0027】次に、得られた粉末に純水を加えてナイロ
ンボールを用いたボールミルで16時間湿式混合し、乾
燥後、1000℃で2時間仮焼した。仮焼した粉末を粉
砕した後、酢酸ビニル系のバインダーを3wt%加え、
純水を加えて再度ナイロンボールを用いたボールミルで
16時間湿式混合した。その後、乾燥、造粒し、円板状
に加圧成形して、1350℃で2時間、大気中で焼成し
て半導体磁器を得た。その後、この半導体磁器の両主面
に白金ペーストをスクリーン印刷して塗布した後、10
00℃で2時間、大気中で焼き付けて電極を形成し、半
導体磁器素子を得た。
Next, pure water was added to the obtained powder, wet-mixed in a ball mill using nylon balls for 16 hours, dried, and calcined at 1000 ° C. for 2 hours. After pulverizing the calcined powder, 3 wt% of a vinyl acetate binder is added,
Pure water was added and wet-mixed again in a ball mill using nylon balls for 16 hours. Thereafter, the resultant was dried, granulated, pressure-formed into a disk shape, and fired at 1350 ° C. for 2 hours in the air to obtain a semiconductor porcelain. Thereafter, a platinum paste is screen-printed and applied to both main surfaces of the semiconductor porcelain.
The electrodes were formed by baking in the air at 00 ° C. for 2 hours to obtain a semiconductor ceramic device.

【0028】このようにして得られた負の抵抗温度特性
を有する半導体磁器素子について、比抵抗ρとB定数の
各電気特性を測定した。結果を表1及び表2に示す。な
お、表1及び表2において、*印を付したものは本発明
の範囲外のものであり、その他は本発明の範囲内のもの
である。
With respect to the thus-obtained semiconductor ceramic element having a negative resistance temperature characteristic, the electrical characteristics of the specific resistance ρ and the B constant were measured. The results are shown in Tables 1 and 2. In Tables 1 and 2, those marked with * are out of the scope of the present invention, and others are within the scope of the present invention.

【0029】なお、比抵抗ρは25℃で測定した値であ
る。又、B定数は温度変化による抵抗変化を示す定数で
あり、温度T及びT0における比抵抗を、それぞれρ
(T)、及びρ(T0)、自然対数をlnとすると、次
式のように定義される。
The specific resistance ρ is a value measured at 25 ° C. The B constant is a constant indicating a resistance change due to a temperature change, and the specific resistance at the temperatures T and T 0 is ρ
Assuming that (T), ρ (T 0 ), and natural logarithm are ln, they are defined as follows.

【0030】 B定数 =〔lnρ(T0)−lnρ(T)〕/(1/T0−1/T) そして、このB定数の数値が大きいほど、温度による抵
抗変化が大きい。この式をもとに、今回求めたB定数
(―10℃)とB定数(140℃)はそれぞれ以下のよ
うに定義される。
B constant = [lnρ (T 0 ) −lnρ (T)] / (1 / T 0 −1 / T) As the value of the B constant increases, the resistance change due to temperature increases. Based on this equation, the B constant (−10 ° C.) and the B constant (140 ° C.) obtained this time are respectively defined as follows.

【0031】B(-10℃)=[lnρ(-10℃)−lnρ(25℃)]/[1/
(-10+273.15)−1/(25+273.15)] B(140℃)=[lnρ(140℃)−lnρ(25℃)]/[1/(140+273.15)
−1/(25+273.15)] B定数(-10℃)が小さい程、外気温による抵抗値変化
のばらつきが小さくなり、又、低温環境下での抵抗値上
昇が小さくなるため、電圧ドロップによる機器の立ち上
がりの遅れを抑制できる。
B (−10 ° C.) = [Lnρ (−10 ° C.) − Lnρ (25 ° C.)] / [1 /
(-10 + 273.15) −1 / (25 + 273.15)] B (140 ° C) = [lnρ (140 ° C) −lnρ (25 ° C)] / [1 / (140 + 273.15)
−1 / (25 + 273.15)] The smaller the B constant (−10 ° C.), the smaller the variation in resistance change due to outside air temperature, and the smaller the resistance rise in low-temperature environments. It is possible to suppress a delay in starting up the device.

【0032】又、B定数(140℃)が大きい程、昇温
状態での電力消費量を小さくできるので、大電流が流れ
る回路やスイッチング電源などの初期の突入電流抑制用
素子として優れている。
Further, the larger the B constant (140 ° C.), the smaller the power consumption in the temperature rising state, so that it is excellent as an initial rush current suppressing element such as a circuit in which a large current flows or a switching power supply.

【0033】[0033]

【表1】 [Table 1]

【0034】[0034]

【表2】 [Table 2]

【0035】表1及び表2から明らかなように、主成分
のLa0.94CoO3に、副成分としてFe及びAlの元
素のうち少なくも1種の酸化物と、Si、Zr、Hf、
Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te及びCeの元素のう
ち少なくとも1種の酸化物を含有させることにより、−
10℃及び140℃のB定数の変動を抑えながら、室温
での比抵抗ρを変化させた負の抵抗温度特性を有する半
導体磁器組成物を得ることができる。
As is clear from Tables 1 and 2, at least one oxide of the elements Fe and Al was added to La 0.94 CoO 3 as the main component and Si, Zr, Hf,
By containing at least one oxide among the elements of Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te and Ce,-
It is possible to obtain a semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic in which the specific resistance ρ at room temperature is changed while suppressing the fluctuation of the B constant at 10 ° C. and 140 ° C.

【0036】なお、 Fe及びAlの元素のうち少なく
も1種の酸化物の含有量が、元素に換算して全量で0.
001〜30mol%であり、Si、Zr、Hf、T
a、Sn、Sb、W、Mo、Te及びCeの元素のうち
少なくとも1種の酸化物の含有量が、元素に換算して全
量で0.001〜10mol%の場合には、B(―10
℃)が1820〜2850KでありB(140℃)が4
120〜4730Kであって、ρ(25℃)が15.4
〜99.4Ω・cmの値が得られ好ましい。
In addition, the content of at least one oxide of the elements of Fe and Al is equal to 0.
001 to 30 mol%, Si, Zr, Hf, T
When the content of at least one oxide of the elements a, Sn, Sb, W, Mo, Te and Ce is 0.001 to 10 mol% in total in terms of the element, B (−10
C) is 1820-2850K and B (140C) is 4
120-4730 K, and ρ (25 ° C.) is 15.4
A value of about 99.4 Ω · cm is preferable.

【0037】又、Fe及びAlのうち少なくも1種の元
素に換算した含有量が全量で0.1〜10mol%であ
り、Si、Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、Mo、
Te及びCeのうち少なくとも1種の元素に換算した含
有量が全量で0.1〜5mol%の場合には、B(―1
0℃)が1970〜2810KでありB(140℃)が
4310〜4730Kであって、ρ(25℃)が18.
9〜50.3Ω・cmの値が得られ、比抵抗ρの変化幅
は狭くなるもののB定数の変化をさらに押さえた半導体
磁器組成物が得られる。
The total content of at least one element of Fe and Al is 0.1 to 10 mol%, and Si, Zr, Hf, Ta, Sn, Sb, W, Mo,
When the total content of at least one element of Te and Ce is 0.1 to 5 mol%, B (-1
0 ° C) is 1970 to 2810K, B (140 ° C) is 4310 to 4730K, and ρ (25 ° C) is 18.
A value of 9 to 50.3 Ω · cm is obtained, and a semiconductor ceramic composition is obtained in which the change in the specific resistance ρ is narrowed but the change in the B constant is further suppressed.

【0038】なお、上記実施例において、ランタンコバ
ルト系酸化物がLa0.94CoO3の場合について説明し
たが、一般式LaxCoO3(但し、0.60≦x≦0.
99)で表される範囲の組成物について同様の効果を得
ることができる。
In the above embodiment, the case where the lanthanum cobalt-based oxide is La 0.94 CoO 3 has been described, but the general formula La x CoO 3 (where 0.60 ≦ x ≦ 0.
The same effect can be obtained for the composition in the range represented by 99).

【0039】又、上記実施例において、 Si、Zr、
Hf、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ceの代わ
りにNb、Mn、Th又はPを用いても同様の効果を得
ることができる。
In the above embodiment, Si, Zr,
Similar effects can be obtained by using Nb, Mn, Th or P instead of Hf, Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, and Ce.

【0040】(実施例2)本実施例は、ランタンコバル
ト系酸化物がLa0.85Pr0.09CoO3の場合である。
(Embodiment 2) In this embodiment, the lanthanum cobalt-based oxide is La 0.85 Pr 0.09 CoO 3 .

【0041】まずCoに対するLaとPrのモル比がそ
れぞれ0.85、0.09となるように、La23、P
611及びCo34の粉末を秤量した。その後、この
秤量粉末に、表3に示す添加元素を酸化物などの化合物
の形で所定量秤量して添加した。なお、表3中の添加元
素の量は各元素に換算した量である。
First, La 2 O 3 , P 2 were added such that the molar ratios of La and Pr to Co were 0.85 and 0.09, respectively.
The r 6 O 11 and Co 3 O 4 powders were weighed. Thereafter, a predetermined amount of an additive element shown in Table 3 was weighed and added to the weighed powder in the form of a compound such as an oxide. In addition, the amount of the additional element in Table 3 is the amount converted into each element.

【0042】次に、得られた粉末に純水を加えてナイロ
ンボールを用いたボールミルで16時間湿式混合し、乾
燥後、1000℃で2時間仮焼した。仮焼した粉末を実
施例1と同様に処理して負の抵抗温度特性を有する半導
体磁器素子を得た。
Next, pure water was added to the obtained powder, wet-mixed in a ball mill using nylon balls for 16 hours, dried, and calcined at 1000 ° C. for 2 hours. The calcined powder was treated in the same manner as in Example 1 to obtain a semiconductor porcelain element having a negative resistance temperature characteristic.

【0043】このようにして得られた半導体磁器素子に
ついて、実施例1と同様にして、比抵抗ρとB定数を求
めた。結果を表3に示す。
With respect to the semiconductor ceramic device thus obtained, the specific resistance ρ and the B constant were determined in the same manner as in Example 1. Table 3 shows the results.

【0044】[0044]

【表3】 [Table 3]

【0045】表3から明らかなように、ランタンコバル
ト系酸化物がLa0.85Pr0.09CoO3の場合にも、実
施例1に示すLa0.94CoO3の場合と同様に、−10
℃及び140℃のB定数の変動を抑えながら、室温での
比抵抗ρを変化させた負の抵抗温度特性を有する半導体
磁器組成物を得ることができる。
As is clear from Table 3, when the lanthanum cobalt-based oxide is La 0.85 Pr 0.09 CoO 3 , similarly to the case of La 0.94 CoO 3 shown in Example 1, −10 is used.
It is possible to obtain a semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic in which the specific resistance ρ at room temperature is changed while suppressing the fluctuations of the B constant at 140 ° C. and 140 ° C.

【0046】(実施例3)本実施例は、ランタンコバル
ト系酸化物が、La0.85Nd0.09CoO3の場合であ
る。
(Embodiment 3) In this embodiment, the lanthanum cobalt-based oxide is La 0.85 Nd 0.09 CoO 3 .

【0047】まずCoに対するLaとNdのモル比がそ
れぞれ0.85、0.09となるように、La23、N
23及びCo34の粉末を秤量した。その後、この秤
量粉末に、表4に示す添加元素を酸化物などの化合物の
形で所定量秤量して添加した。なお、表4中の添加元素
の量は各元素に換算した量である。
First, La 2 O 3 and N 2 were mixed such that the molar ratios of La and Nd to Co were 0.85 and 0.09, respectively.
The d 2 O 3 and Co 3 O 4 powders were weighed. Thereafter, a predetermined amount of an additive element shown in Table 4 was weighed and added to the weighed powder in the form of a compound such as an oxide. In addition, the amount of the additional element in Table 4 is the amount converted into each element.

【0048】次に、得られた粉末に純水を加えてナイロ
ンボールを用いたボールミルで16時間湿式混合し、乾
燥後、1000℃で2時間仮焼した。仮焼した粉末を実
施例1と同様に処理して負の抵抗温度特性を有する半導
体磁器素子を得た。
Next, pure water was added to the obtained powder, wet-mixed in a ball mill using nylon balls for 16 hours, dried, and calcined at 1000 ° C. for 2 hours. The calcined powder was treated in the same manner as in Example 1 to obtain a semiconductor porcelain element having a negative resistance temperature characteristic.

【0049】このようにして得られた半導体磁器素子に
ついて、実施例1と同様にして比抵抗ρとB定数を求め
た。結果を表4に示す。
With respect to the semiconductor ceramic device thus obtained, the specific resistance ρ and the B constant were obtained in the same manner as in Example 1. Table 4 shows the results.

【0050】[0050]

【表4】 [Table 4]

【0051】表4から明らかなように、ランタンコバル
ト系酸化物がLa0.85Nd0.09CoO3の場合にも、実
施例1に示すLa0.94CoO3の場合と同様に、−10
℃及び140℃のB定数の変動を抑えながら、室温での
比抵抗ρを変化させた負の抵抗温度特性を有する半導体
磁器組成物を得ることができる。
As is clear from Table 4, when the lanthanum-cobalt-based oxide is La 0.85 Nd 0.09 CoO 3 , similarly to the case of La 0.94 CoO 3 shown in Example 1, it is −10.
It is possible to obtain a semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic in which the specific resistance ρ at room temperature is changed while suppressing the fluctuations of the B constant at 140 ° C. and 140 ° C.

【0052】(実施例4)本実施例は、ランタンコバル
ト系酸化物が、La0.85Sm0.09CoO3の場合であ
る。
(Embodiment 4) In this embodiment, the lanthanum cobalt-based oxide is La 0.85 Sm 0.09 CoO 3 .

【0053】まずCoに対するLaとSmのモル比がそ
れぞれ0.85、0.09となるように、La23、S
23及びCo34の粉末を秤量した。その後、この秤
量粉末に、表5に示す添加元素を酸化物などの化合物の
形で所定量秤量して添加した。なお、表5中の添加元素
の量は各元素に換算した量である。
First, La 2 O 3 and S 2 are so adjusted that the molar ratios of La and Sm to Co are 0.85 and 0.09, respectively.
The powders of m 2 O 3 and Co 3 O 4 were weighed. Thereafter, predetermined amounts of the additional elements shown in Table 5 in the form of compounds such as oxides were weighed and added to the weighed powder. In addition, the amount of the additional element in Table 5 is the amount converted into each element.

【0054】次に、得られた粉末に純水を加えてナイロ
ンボールを用いたボールミルで16時間湿式混合し、乾
燥後、1000℃で2時間仮焼した。仮焼した粉末を実
施例1と同様に処理して負の抵抗温度特性を有する半導
体磁器素子を得た。
Next, pure water was added to the obtained powder, wet-mixed in a ball mill using nylon balls for 16 hours, dried, and calcined at 1000 ° C. for 2 hours. The calcined powder was treated in the same manner as in Example 1 to obtain a semiconductor porcelain element having a negative resistance temperature characteristic.

【0055】このようにして得られた半導体磁器素子に
ついて、実施例1と同様にして比抵抗ρとB定数を求め
た。結果を表5に示す。
With respect to the semiconductor ceramic device thus obtained, the specific resistance ρ and the B constant were determined in the same manner as in Example 1. Table 5 shows the results.

【0056】[0056]

【表5】 [Table 5]

【0057】表5から明らかなように、ランタンコバル
ト系酸化物がLa0.85Sm0.09CoO3の場合にも、実
施例1に示すLa0.94CoO3の場合と同様に、−10
℃及び140℃のB定数の変動を抑えながら、室温での
比抵抗ρを変化させた負の抵抗温度特性を有する半導体
磁器組成物を得ることができる。
As is clear from Table 5, when the lanthanum-cobalt-based oxide is La 0.85 Sm 0.09 CoO 3 , similarly to the case of La 0.94 CoO 3 shown in Example 1, it is −10.
It is possible to obtain a semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic in which the specific resistance ρ at room temperature is changed while suppressing the fluctuations of the B constant at 140 ° C. and 140 ° C.

【0058】なお、上記実施例1〜4では、ランタンコ
バルト系酸化物がLa0.94CoO3、La0.85Pr0.09
CoO3、La0.85Nd0.09CoO3及びLa0.85Sm
0.09CoO3の場合について説明したが、本発明はこれ
のみに限定されるものではない。Laの置換量は0.0
9に限定されることなく、又Laの一部をEu、Yなど
で置換したランタンコバルト系酸化物の場合についても
同様の効果が得られる。
In Examples 1-4, the lanthanum cobalt-based oxide was La 0.94 CoO 3 , La 0.85 Pr 0.09
CoO 3 , La 0.85 Nd 0.09 CoO 3 and La 0.85 Sm
Although the case of 0.09 CoO 3 has been described, the present invention is not limited to this. The replacement amount of La is 0.0
The same effect can be obtained also in the case of a lanthanum cobalt-based oxide in which La is partially substituted with Eu, Y, or the like, without being limited to 9.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、ランタン
コバルト系酸化物からなる主成分に、副成分としてFe
及びAlの元素のうち少なくも1種の酸化物と、Si、
Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、C
e、Nb、Mn、Th及びPの元素のうち少なくとも1
種の酸化物を含有させることにより、B定数を一定のま
まで、約10Ω・cm〜100Ω・cmの間の任意の室
温比抵抗を有した負の抵抗温度特性を有する半導体磁器
組成物を得ることができる。
As is apparent from the above description, the main component consisting of a lanthanum-cobalt-based oxide and the secondary component Fe
And at least one oxide of the elements Al and Si,
Zr, Hf, Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, C
at least one of the elements e, Nb, Mn, Th and P
By containing the seed oxide, a semiconductor ceramic composition having a negative resistance-temperature characteristic having an arbitrary room temperature specific resistance of about 10 Ω · cm to 100 Ω · cm is obtained while keeping the B constant constant. be able to.

【0060】したがって、この半導体磁器組成物を用い
ることにより、突入電流が大きい回路や高い電流抑制が
要求される回路に対応できる負の抵抗温度特性を有する
半導体磁器素子(NTCサーミスタ素子)を製造するこ
とができる。
Therefore, by using this semiconductor ceramic composition, a semiconductor ceramic element (NTC thermistor element) having a negative resistance temperature characteristic capable of coping with a circuit having a large inrush current or a circuit requiring high current suppression is manufactured. be able to.

【0061】すなわち、得られる半導体磁器素子は、ス
イッチング電源の突入電流防止用の他に、モーターの起
動遅延、レーザープリンタのドラム保護、ハロゲンラン
プ保護などの一般回路や電球など、電圧印加初期に、過
大な電流が流れる機器の突入電流防止用の素子として、
広く使用できるものである。
That is, the obtained semiconductor porcelain element is used not only for preventing inrush current of the switching power supply, but also at the beginning of voltage application, such as a general circuit for starting a motor, protection of a drum of a laser printer, protection of a halogen lamp, and a bulb. As an element for preventing inrush current of equipment where excessive current flows,
It can be used widely.

【0062】[0062]

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坂部 行雄 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株 式会社村田製作所内 審査官 武重 竜男 (56)参考文献 特開 平9−208310(JP,A) 特開 平7−37706(JP,A) 特開 平7−37705(JP,A) 特開 平1−290549(JP,A) 特開 昭55−71667(JP,A) 特開 平11−265803(JP,A) 特開 平7−176406(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C04B 35/495 C04B 35/50 CA(STN) REGISTRY(STN)──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of front page (72) Inventor Yukio Sakabe 2-26-10 Tenjin, Nagaokakyo-shi, Kyoto, Japan Examiner, Murata Manufacturing Co., Ltd. Tatsuo Takeshige (56) References JP-A-9-208310 (JP, A JP-A-7-37706 (JP, A) JP-A-7-37705 (JP, A) JP-A-1-290549 (JP, A) JP-A-55-71667 (JP, A) 265803 (JP, A) JP-A-7-176406 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) C04B 35/495 C04B 35/50 CA (STN) REGISTRY (STN)

Claims (11)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ランタンコバルト系酸化物からなる主成
分に、副成分としてFe及びAlの元素のうち少なくも
1種の酸化物と、Si、Zr、Hf、Ta、Sn、S
b、W、Mo、Te、Ce、Nb、Mn、Th及びPの
元素のうち少なくとも1種の酸化物を含有していること
を特徴とする、負の抵抗温度特性を有する半導体磁器組
成物。
1. A main component comprising a lanthanum-cobalt-based oxide, at least one oxide of Fe and Al as sub-components, and Si, Zr, Hf, Ta, Sn, S
A semiconductor ceramic composition having negative resistance temperature characteristics, characterized by containing at least one oxide among the elements b, W, Mo, Te, Ce, Nb, Mn, Th and P.
【請求項2】 前記Fe及びAlの元素のうち少なくも
1種の酸化物の含有量は、前記元素に換算して全量で
0.001〜30mol%であり、前記Si、Zr、H
f、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、
Mn、Th及びPの元素のうち少なくとも1種の酸化物
の含有量は、前記元素に換算して全量で0.001〜1
0mol%であることを特徴とする、請求項1記載の負
の抵抗温度特性を有する半導体磁器組成物。
2. The content of at least one oxide of the Fe and Al elements is 0.001 to 30 mol% in total in terms of the elements, and the Si, Zr, H
f, Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce, Nb,
The content of at least one oxide of the elements of Mn, Th and P is 0.001 to 1 in total in terms of the above elements.
The semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic according to claim 1, wherein the composition is 0 mol%.
【請求項3】 前記Fe及びAlの元素のうち少なくも
1種の酸化物の含有量は、前記元素に換算して全量で
0.1〜10mol%であり、前記Si、Zr、Hf、
Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、M
n、Th及びPの元素のうち少なくとも1種の酸化物の
含有量は、前記元素に換算して全量で0.1〜5mol
%であることを特徴とする、請求項1記載の負の抵抗温
度特性を有する半導体磁器組成物。
3. The content of at least one oxide of the Fe and Al elements is 0.1 to 10 mol% in total in terms of the elements, and the Si, Zr, Hf,
Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce, Nb, M
The content of at least one oxide of the elements n, Th and P is 0.1 to 5 mol in total in terms of the above elements.
%. The semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic according to claim 1.
【請求項4】 前記ランタンコバルト系酸化物が、La
xCoO3(但し、0.60≦x≦0.99)であること
を特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の負の抵
抗温度特性を有する半導体磁器組成物。
4. The lanthanum cobalt-based oxide is La
The semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic according to claim 1, wherein x CoO 3 (where 0.60 ≦ x ≦ 0.99). 5.
【請求項5】 前記LaxCoO3のLaの一部がPr、
Nd及びSmのうちいずれか1種で置換されていること
を特徴とする、請求項4記載の負の抵抗温度特性を有す
る半導体磁器組成物。
5. A method according to claim 5, wherein a part of La in said La x CoO 3 is Pr,
The semiconductor ceramic composition having a negative resistance temperature characteristic according to claim 4, wherein the semiconductor ceramic composition is substituted with any one of Nd and Sm.
【請求項6】 負の抵抗温度特性を有する半導体磁器と
該半導体磁器に形成された電極を備えた半導体磁器素子
において、前記半導体磁器は、ランタンコバルト系酸化
物からなる主成分に、副成分としてFe及びAlの元素
のうち少なくも1種の酸化物と、Si、Zr、Hf、T
a、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、Mn、
Th及びPの元素のうち少なくとも1種の酸化物を含有
していることを特徴とする、半導体磁器素子。
6. A semiconductor porcelain device comprising a semiconductor porcelain having a negative resistance temperature characteristic and an electrode formed on said semiconductor porcelain, wherein said semiconductor porcelain is composed mainly of a lanthanum-cobalt-based oxide and as a sub-component. At least one oxide of the elements Fe and Al, and Si, Zr, Hf, T
a, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce, Nb, Mn,
A semiconductor porcelain element comprising at least one oxide of Th and P elements.
【請求項7】 前記Fe及びAlの元素のうち少なくも
1種の酸化物の含有量は、前記元素に換算して全量で
0.001〜30mol%であり、前記Si、Zr、H
f、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、
Mn、Th及びPの元素のうち少なくとも1種の酸化物
の含有量は、前記元素に換算して全量で0.001〜1
0mol%であることを特徴とする、請求項6記載の半
導体磁器素子。
7. The content of at least one oxide of the Fe and Al elements is 0.001 to 30 mol% in total in terms of the elements, and the Si, Zr, H
f, Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce, Nb,
The content of at least one oxide of the elements of Mn, Th and P is 0.001 to 1 in total in terms of the above elements.
The semiconductor ceramic device according to claim 6, wherein the content is 0 mol%.
【請求項8】 前記Fe及びAlの元素のうち少なくも
1種の酸化物の含有量は、前記元素に換算して全量で
0.1〜10mol%であり、前記Si、Zr、Hf、
Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、M
n、Th及びPの元素のうち少なくとも1種の酸化物の
含有量は、前記元素に換算して全量で0.1〜5mol
%であることを特徴とする、請求項6記載の半導体磁器
素子。
8. The content of at least one oxide of the Fe and Al elements is 0.1 to 10 mol% in total in terms of the elements, and the Si, Zr, Hf,
Ta, Sn, Sb, W, Mo, Te, Ce, Nb, M
The content of at least one oxide of the elements n, Th and P is 0.1 to 5 mol in total in terms of the above elements.
%. The semiconductor porcelain element according to claim 6, wherein
【請求項9】 前記ランタンコバルト系酸化物が、La
xCoO3(但し、0.60≦x≦0.99)であること
を特徴とする、請求項6〜8のいずれかに記載の半導体
磁器素子。
9. The lanthanum cobalt-based oxide is La
The semiconductor ceramic device according to claim 6, wherein x CoO 3 (where 0.60 ≦ x ≦ 0.99).
【請求項10】 前記LaxCoO3のLaの一部がP
r、Nd及びSmのうちいずれか1種で置換されている
ことを特徴とする、請求項9記載の半導体磁器素子。
10. A part of La of the La x CoO 3 is P
The semiconductor ceramic device according to claim 9, wherein the semiconductor ceramic device is substituted with any one of r, Nd, and Sm.
【請求項11】 前記半導体磁器素子は突入電流防止用
又はモーター起動遅延用であることを特徴とする、請求
項6〜10のいずれかに記載の半導体磁器素子。
11. The semiconductor porcelain element according to claim 6, wherein said semiconductor porcelain element is for preventing inrush current or delaying motor start.
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