JP3201342B2 - 電気回路カード試験装置及び試験方法並びにその試験方法の制御プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は電気回路カード試験
装置及び試験方法並びに試験方法を実行させるためのプ
ログラムを記録した記録媒体に関し、特にコンピュータ
システムの本体系装置、周辺系装置の電気回路カード
（例えば制御カード）の故障を修理するため、及び修理
完了後の電気回路カードをシステムに組込むために、シ
ステムの電源がオンの状態で挿抜をおこなう活線挿抜電
気回路カードの試験装置及び試験方法並びに試験方法を
実行させるためのプログラムを記録した記録媒体に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、活線挿抜時における電気回路カー
ドの試験は、予め用意された試験プログラムを起動し、
その試験プログラムを実行した結果からその電気回路カ
ードの正常性を判断していた。

【０００３】ところで、この種の試験装置の一例が
（１）特開平５−１６５６６９号公報、（２）特開平７
−２４４５６３号公報及び（３）特開平８−１５３０４
８号公報（以下、夫々先行技術１，２，３という）に記
載されている。

【０００４】先行技術１は、活線挿抜パッケージが装置
に挿入されると、磁気ディスク内に格納された試験プロ
グラムがロードされ、活線挿抜パッケージがその試験プ
ログラムに従って試験される、というものである。

【０００５】先行技術２は、ディスクアレイ装置内のデ
ィスクに故障が発生すると、活線挿抜装置がその故障し
たディスクをシステム外に排出し、さらに新たなディス
クが設定された場合はディスク確認装置が適切か否かを
検査する、というものである。

【０００６】先行技術３は、交換用メモリカードの挿入
を挿入検出部が検出すると、活線挿抜制御部が交換用メ
モリカードにデータをコピーし、データ比較部がそのコ
ピー後のデータとコピー元のデータとを比較する、とい
うものである。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、これら従来技
術１〜３では機能試験を十分に行うため故障の内容に拘
らずどの被試験対象物に対しても同様の多機能試験を行
っていたため、試験に多大な時間を要するという欠点が
あった。

【０００８】そこで本発明の目的は、電気回路カードの
正常性の確認を従来よりも短時間で行うことが可能な電
気回路カード試験装置及び試験方法並びに試験方法を実
行させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供す
ることにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に第１の発明は、コンピュータシステムを構成する装置
に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カー
ド試験装置であって、前記電気回路カードの故障内容を
分析する故障内容分析手段と、前記電気回路カードの試
験プログラムが格納された試験プログラム格納手段と、
前記故障内容分析手段での分析結果に基づき前記試験プ
ログラム格納手段に格納された試験プログラムより必要
な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カード
の試験を行う試験実行手段とを含み、さらに前記試験実
行手段は前記コンピュータシステムに組込まれた電気回
路カードを識別する識別手段を含み、この識別手段によ
り電気回路カードが前記修理後の電気回路カードである
ことが判明した場合、前記試験プログラムより必要な試
験機能のみを選択して前記電気回路カードの試験を行
い、前記識別手段により電気回路カードが前記修理後の
電気回路カードと異なるカードであることが判明した場
合、前記試験プログラムの全試験機能の試験を行うこと
を特徴とする。

【００１０】第２の発明は、コンピュータシステムを構
成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電
気回路カード試験方法であって、前記電気回路カードの
故障内容を分析する第１処理と、この第１処理での分析
結果に基づき試験プログラムより必要な試験機能のみを
選択して修理後の前記電気回路カードの試験を行う第２
処理とを含み、さらに前記第２処理は前記コンピュータ
システムに組込まれた電気回路カードを識別する第３処
理と、この第３処理により電気回路カードが前記修理後
の電気回路カードであることが判明した場合、前記試験
プログラムより必要な試験機能のみを選択して前記電気
回路カードの試験を行う第４処理と、前記第３処理によ
り電気回路カードが前記修理後の電気回路カードと異な
るカードであることが判明した場合、前記試験プログラ
ムの全試験機能の試験を行う第５処理とからなることを
特徴とする。

【００１１】第３の発明は、コンピュータシステムを構
成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電
気回路カード試験方法を実行させるための制御プログラ
ムを記録した記録媒体であって、前記電気回路カードの
故障内容を分析する第１処理と、この第１処理での分析
結果に基づき試験プログラムより必要な試験機能のみを
選択して修理後の前記電気回路カードの試験を行う第２
処理とを含み、さらに前記第２処理は前記コンピュータ
システムに組込まれた電気回路カードを識別する第３処
理と、この第３処理により電気回路カードが前記修理後
の電気回路カードであることが判明した場合、前記試験
プログラムより必要な試験機能のみを選択して前記電気
回路カードの試験を行う第４処理と、前記第３処理によ
り電気回路カードが前記修理後の電気回路カードと異な
るカードであることが判明した場合、前記試験プログラ
ムの全試験機能の試験を行う第５処理とを含み、前記第
１処理から第５処理までを実行させるための制御プログ
ラムを記録したことを特徴とする。

【００１２】第１〜第３の発明によれば、電気回路カー
ドの故障内容を分析し、分析結果に基づき試験プログラ
ムより必要な試験機能のみを選択して電気回路カードの
試験を行うため、無駄な試験を排除することができ、も
って電気回路カードの正常性の確認を従来よりも短時間
で行うことが可能となる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て添付図面を参照しながら説明する。まず、第１の実施
の形態から説明する。図１は本発明に係る電気回路カー
ド試験装置の第１の実施の形態の構成図である。

【００１４】電気回路カード試験装置は、コンピュータ
システム内の電気回路カード、例えば制御カード１０に
故障が発生した時の制御カード１０の故障内容を記録す
る故障内容記録部１と、故障発生時にその制御カード１
０に対して試験プログラム２０を実行させた時のエラー
内容を記録するエラー内容記録部２と、これらの記録内
容を基に修理後の制御カード１０をシステムに組込み実
行する試験を選択する試験選択部３と、制御カード１０
がシステムに組込まれたことを検出する組込検出部４
と、試験プログラム２０が格納された試験プログラム格
納部５と、制御カード１０がシステムに組込まれた時に
試験プログラム２０を起動する試験起動部６と、組込ま
れた制御カード１０が以前にシステム内に実装されてい
たか否かを識別する制御カード識別部７とからなる。

【００１５】次に、動作の詳細について説明する。図２
は電気回路カードに故障が発生した時の動作を示すフロ
ーチャート、図３及び図４は電気回路カードの修理完了
後の動作を示すフローチャートである。

【００１６】なお、以下に説明する動作はコンピュータ
システムの不図示のＣＰＵ（中央処理装置）が予め用意
された電気回路カード試験装置制御用のプログラム３０
に従って制御する。

【００１７】本発明の動作は故障発生時と修理完了後の
動作とに２分される。まず、故障発生時の動作から説明
する。

【００１８】図２を参照して、コンピュータシステム内
の制御カード１０、例えば磁気ディスクの制御カード
や、コンピュータシステム間の通信制御カードが何らか
の原因で故障すると、ＣＰＵ（不図示）は電気回路カー
ド試験装置制御用のプログラム３０に従って制御カード
１０の異常を検出する（Ｓ１）。

【００１９】制御カード１０の異常が検出されると、故
障内容記録部１により、その故障の内容が記録される
（Ｓ２）。通常、本故障内容は、オペレーティングシス
テムが管理するファイルの形式で固定ディスク等の記憶
装置上に記録される。

【００２０】制御カード１０に故障が検出されると、こ
の故障した制御カード１０を修理する必要があるが、修
理する前に故障した制御カード１０に対して試験プログ
ラム格納部５に格納された試験プログラム２０を実行し
（Ｓ３）、その結果がエラー内容記録部２に記録され
る。本エラー記録は上記故障内容と同様に、固定ディス
ク等の記憶装置上にファイルの形式で保存される（Ｓ
４）。これで故障発生時の動作は終了となる。

【００２１】なお、故障内容の記録（Ｓ２）の次に試験
プログラム２０の実行（Ｓ３）及び結果をエラー内容記
録部に記録（Ｓ４）を行うよう構成したが、Ｓ３及びＳ
４の次にＳ２を行うよう構成してもよい。

【００２２】又、Ｓ３における試験プログラム２０の実
行をオペレータが行うようにしてもよい。

【００２３】又、試験プログラム２０は、制御カード１
０の故障箇所を識別するために、試験対象の制御カード
１０の全機能を詳細に試験するように作成されており、
試験実行には比較的長い時間がかかるような構造になっ
ている。

【００２４】又、オペレータ操作による試験プログラム
２０の起動時にも、故障箇所がどこかを切り分けるため
に、試験プログラム２０が有している全ての試験を実行
する。

【００２５】しかし試験プログラム２０は後述するよう
に、試験機能を選択実行できるような構成にしてあり、
試験を起動する際に部分的に試験を選択することが可能
である。

【００２６】さて、故障した制御カード１０の故障状態
が判明すると、コンピュータシステムからこの制御カー
ド１０を引き抜いて、この制御カード１０を修理する。

【００２７】次に、制御カード１０の修理完了後の動作
について説明する。図３を参照して、まず修理が完了し
た制御カード１０を元のコンピュータシステムに実装す
る（Ｓ１１）。

【００２８】修理が完了した制御カード１０がコンピュ
ータシステムに実装されると、割り込みが発生し（Ｓ１
２）、この割り込みを契機に組込検出部４によって制御
カード１０の組込みが認識される（Ｓ１３）。

【００２９】制御カード１０の組込みが認識されると、
試験起動部６によって試験プログラム２０が起動される
（Ｓ１４）。

【００３０】「試験プログラム２０の起動」とは、試験
プログラム２０が実行可能となるようにその試験プログ
ラム２０を例えば不図示のメモリに格納することをい
う。

【００３１】次に、図４を参照して、組込検出部４は、
制御カード識別部７を起動する（Ｓ１５）。

【００３２】制御カード識別部７は、組込まれた制御カ
ード１０のシリアル番号等を参照し、組込まれた制御カ
ード１０が以前システム内に実装されていたカードと同
一かどうかを識別し試験選択部３に通知する（Ｓ１
６）。

【００３３】試験選択部３００は制御カード識別部７か
らの通知を参照し、以前システム内に実装されていた制
御カード１０と同一の制御カード１０が組み込まれた場
合には、試験プログラム２０のうち、修理後の確認に必
要な試験のみを選択して実行する。

【００３４】そして、その試験結果をディスプレイ等の
出力装置に表示する（Ｓ１８）。

【００３５】なお、試験内容の選択は、故障内容記録部
１と、エラー内容記録部２によって記録された内容を基
にして行う。

【００３６】ここで選択される試験は、制御カード１０
が故障時に実行された試験プログラム２０の全試験（Ｓ
３参照）のうち、制御カード１０が故障したために不合
格になった試験（エラー内容記録部２に記録されてい
る）と、故障内容記録部１に記録された内容を解析した
結果、故障していると判断された機能に関する試験であ
る。

【００３７】一方、制御カード識別部７からの通知の結
果、以前システム内に実装されていたカード１０と異な
るカード１１が実装されたと判定された場合には、通常
の試験プログラム２０（例えば、全機能試験）を実行す
る（Ｓ２１）。

【００３８】そして、その試験結果をディスプレイ等の
出力装置に表示する（Ｓ２２）。これで、修理完了後の
動作は終了となる。

【００３９】なお、試験プログラムの起動（Ｓ１４）の
次に制御カード１０の識別（Ｓ１５）を行うよう構成し
たが、Ｓ１５の次にＳ１４を行うよう構成してもよい。

【００４０】次に、第２の実施の形態について説明す
る。図５は第２の実施の形態の構成図である。なお、図
１と同様の構成部分には同一番号を付し、その説明を省
略する。

【００４１】第２の実施の形態は前述した電気回路カー
ド試験装置制御用のプログラム３０が記録された記録媒
体に関するものである。

【００４２】この記録媒体を含む記録媒体駆動装置は、
コンピュータシステムのＣＰＵ１３と、メモリ１４と、
入力装置１５と、出力装置１６と、記録媒体１７と、前
述の故障内容記録部１と、エラー内容記録部２と、試験
プログラム格納部５と、制御カード１０とからなる。

【００４３】記録媒体１７には前述したＳ１〜Ｓ４（図
２参照）、Ｓ１１〜Ｓ１８及びＳ２１，Ｓ２２（図３，
４参照）の処理をコンピュータ（ＣＰＵ１３）に実行さ
せるためのプログラム３０が記録されている。

【００４４】いま、この記録媒体１７に記録されたプロ
グラム３０がＣＰＵ１３によって読込まれると、ＣＰＵ
１３はその読込んだプログラム３０をメモリ１４に書込
む。これでプログラム３０のロードは終了となる。

【００４５】次に、入力装置１５からの命令によりＣＰ
Ｕ１３はメモリ１４よりプログラム３０を読出し、その
プログラム３０に従って前述の処理Ｓ１〜Ｓ４（図２参
照）、Ｓ１１〜Ｓ１８及びＳ２１，Ｓ２２（図３，４参
照）を実行する。なお、試験の結果は出力装置１６に表
示される。

【００４６】次に、本発明の第１の実施の形態の実施例
について説明する。

【００４７】

【実施例】図６は制御カード１０が組込まれるコンピュ
ータシステムの全体構成図である。

【００４８】同図を参照して、コンピュータシステム
は、システムバス４１に接続されたＣＰＵ４２及び制御
カード１０と、制御カード１０に接続されたディスク装
置４５とからなる。

【００４９】又、制御カード１０はシステムバス４１に
存在するシステムポート１１３３のインタフェースレジ
スタ４６と、内部に設けられた不図示のＲＡＭ（Ｒａｎ
ｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）の読書き（リー
ド／ライト）を行うリード／ライト部４７と、ディスク
装置４５に対しデータのリード／ライトを行うデータリ
ード／ライト部４８とからなる。

【００５０】図７は試験プログラム２０の構成図であ
る。試験プログラム２０は試験対象の制御カード１０に
対応させて構成されている。

【００５１】即ち、同図を参照して試験プログラム２０
はインタフェースレジスタ４６をテストするためのイン
タフェースレジスタ・テスト５１と、ＲＡＭをテストす
るためのＲＡＭリード／ライト・テスト５２と、データ
リード／ライト部４８をテストするためのデータリード
／ライト・テスト５３とからなる。

【００５２】次に、故障内容記録部１に記録されるメッ
セージの一例について説明する。図８〜図１１は故障内
容記録部１に記録されるメッセージの一例を示す図であ
る。

【００５３】図８はシステムポート１１３３番でタイム
アウトになったことを示すメッセージ６１の一例を示す
図である。

【００５４】図９はインタフェースレジスタ４６の読出
しに失敗したことを示すメッセージ６２の一例を示す図
である。

【００５５】図１０は内部ＲＡＭのアクセスでパリティ
エラーが発生したことを示すメッセージ６３の一例を示
す図である。

【００５６】図１１はディスク装置４５のアクセスでパ
リティエラーが発生したことを示すメッセージ６４の一
例を示す図である。

【００５７】次に、エラー内容記録部２に記録されるメ
ッセージの一例について説明する。図１２〜図１４はエ
ラー内容記録部２に記録されるメッセージの一例を示す
図である。

【００５８】図１２はテスト１（インタフェースレジス
タ・テスト５１）のテスト結果を示すメッセージ７１の
一例を示す図である。

【００５９】これは、エラーアドレスがＣ１で期待値が
ＦＦであるが、テスト結果はＦＥであり期待値と異なる
ことを示している。

【００６０】図１３はテスト２（ＲＡＭリード／ライト
・テスト５２）のテスト結果を示すメッセージ７２の一
例を示す図である。

【００６１】これは、エラーアドレスがＤ２で期待値が
Ｆ２であるが、テスト結果はＦ１であり期待値と異なる
ことを示している。

【００６２】図１４はテスト３（データリード／ライト
・テスト５３）のテスト結果を示すメッセージ７３の一
例を示す図である。

【００６３】これは、エラーアドレスがＥ１で期待値が
Ｆ５であるが、テスト結果はＦ６であり期待値と異なる
ことを示している。

【００６４】次に、この制御カード１０の試験の具体的
内容について説明する。

【００６５】まず、故障発生時のフローチャート（図
２）に従って説明する。図２を参照して、制御カード１
０の異常が検出されると（Ｓ１）、故障内容記録部１に
内容が記録される（Ｓ２）。

【００６６】このとき、故障内容記録部１には図８〜図
１１に示すメッセージ６１〜６４のいずれかが記録され
る。

【００６７】次に、試験プログラム２０が試験選択部３
により実行される（Ｓ３）。この段階では試験プログラ
ム２０の全て（テスト１〜３の全て）が実行される。

【００６８】そして、試験の結果がエラー内容記録部２
に記録される。このとき、エラー内容記録部２にはメッ
セージ７１〜７３のいずれかが記録される。ここで、注
目すべきことはエラー内容記録部２に記録されるメッセ
ージ７１〜７３の方が故障内容記録部１に記録されるメ
ッセージ６１〜６４よりも情報が具体的であることであ
る。

【００６９】エラー内容記録部２に記録されるメッセー
ジ７１〜７３にはテスト結果の具体的数値が示されてい
るからである。

【００７０】次に、修理完了時のフローチャート（図３
及び図４）に従って説明する。まず、制御カード１０が
修理完了した制御カードである場合から説明する。

【００７１】まず、その修理完了した制御カード１０を
システムに実装する（Ｓ１１）。すると、割込みが発生
し（Ｓ１２）、組込み検出部４にて制御カード１０の組
込みが検出されると（Ｓ１３）、組込み検出部４は試験
プログラム２０を起動する（Ｓ１４）。

【００７２】次に、組込み検出部４は制御カード１０を
識別する。この制御カード１０は修理完了後の制御カー
ド、即ち、以前実装されていた制御カードであるから
（Ｓ１６）、試験選択部３は試験プログラム２０を選択
する（Ｓ１７）。

【００７３】次に、試験選択部３にてどのような試験プ
ログラム２０が選択されるかについて説明する。

【００７４】まず、故障内容記録部１にメッセージ６１
が記録され、エラー内容記録部２にメッセージ７１が記
録された場合について説明する。

【００７５】故障内容記録部１にメッセージ６１が記録
される場合は制御カード１０のインタフェースレジスタ
４６、ＲＡＭリード／ライト部４７及びデータリード／
ライト部４８のいずれかが故障しているがこれらのうち
のどれが故障しているのかまでは判断できないことを示
している。

【００７６】一方、エラー内容記録部２にメッセージ７
１が記録されている場合はインタフェースレジスタ４６
にエラーがあることを示している。

【００７７】この時、試験選択部３はインタフェースレ
ジスタ４６にエラーがある可能性が高いものの、故障内
容記録部１にメッセージ６１が記録されていることから
試験プログラム２０の全てのテスト（テスト１〜３の全
て）を選択しテストする（Ｓ１７）。

【００７８】そして、そのテスト結果を出力装置１６に
表示する（Ｓ１８）。

【００７９】一方、故障内容記録部１にメッセージ６１
が記録され、エラー内容記録部２にメッセージ７２又は
７３が記録されている場合もこれと同様の処理を行う。

【００８０】即ち、メッセージ７２が記録されている場
合はリード／ライト部４７にエラーがあることを示して
おり、メッセージ７３が記録されている場合はデータリ
ード／ライト部４８にエラーがあることを示している
が、念のため試験プログラム２０の全てのテストを実行
するのである。

【００８１】次に、故障内容記録部１にメッセージ６２
が記録され、エラー内容記録部２にメッセージ７１が記
録された場合について説明する。

【００８２】この場合、試験選択部３はインタフェース
レジスタ４６が故障と判断し、インタフェースレジスタ
・テスト５１を選択しテストする。

【００８３】そして、そのテスト結果を出力装置１６に
表示する（Ｓ１８）。

【００８４】次に、故障内容記録部１にメッセージ６３
が記録され、エラー内容記録部２にメッセージ７２が記
録された場合について説明する。

【００８５】この場合、試験選択部３はＲＡＭリード／
ライト部４７が故障と判断し、ＲＡＭリード／ライト・
テスト５２を選択しテストする。

【００８６】そして、そのテスト結果を出力装置１６に
表示する（Ｓ１８）。

【００８７】次に、故障内容記録部１にメッセージ６４
が記録され、エラー内容記録部２にメッセージ７３が記
録された場合について説明する。

【００８８】この場合、試験選択部３はデータリード／
ライト部４８が故障と判断し、データリード／ライト・
テスト５３を選択しテストする。

【００８９】そして、そのテスト結果を出力装置１６に
表示する（Ｓ１８）。

【００９０】一方、メッセージ６２〜６４とメッセージ
７１〜７３の他の組合わせも考えられるが、このような
場合は殆ど発生しないと考えられるため説明を省略す
る。

【００９１】仮にこのような組合わせが発生した場合
は、その組合わせの内容からどのテストを実行すべきか
をオペレータが判断するか、又は試験プログラム２０の
テスト１〜３の全てを実行すべきと考えられる。

【００９２】次に、処理Ｓ１６（図４参照）に戻り、制
御カード１０が修理完了した制御カードではない場合に
ついて説明する。

【００９３】このとき、試験選択部３は試験プログラム
２０の全て（テスト１〜３の全て）を実行する（Ｓ２
１）。

【００９４】そして、そのテスト結果を出力装置１６に
表示する（Ｓ２２）。

【００９５】

【発明の効果】第１の発明によれば、コンピュータシス
テムを構成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験
を行う電気回路カード試験装置であって、その電気回路
カード試験装置を前記電気回路カードの故障内容を分析
する故障内容分析手段と、前記電気回路カードの試験プ
ログラムが格納された試験プログラム格納手段と、前記
故障内容分析手段での分析結果に基づき前記試験プログ
ラム格納手段に格納された試験プログラムより必要な試
験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カードの試
験を行う試験実行手段とを含んで構成したため、電気回
路カードの故障内容を分析し、分析結果に基づき試験プ
ログラムより必要な試験機能のみを選択して電気回路カ
ードの試験を行うため、無駄な試験を排除することがで
き、もって電気回路カードの正常性の確認を比較的短時
間で行うことが可能な電気回路カード試験装置が得られ
る。

【００９６】第２の発明によれば、コンピュータシステ
ムを構成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を
行う電気回路カード試験方法であって、その電気回路カ
ード試験方法を前記電気回路カードの故障内容を分析す
る第１処理と、この第１処理での分析結果に基づき試験
プログラムより必要な試験機能のみを選択して修理後の
前記電気回路カードの試験を行う第２処理とを含んで構
成したため、第１の発明と同様の効果を奏する電気回路
カード試験方法が得られる。

【００９７】第３の発明によれば、コンピュータシステ
ムを構成する装置に挿抜自在な電気回路カードの試験を
行う電気回路カード試験方法を実行させるための制御プ
ログラムを記録した記録媒体であって、その記録媒体を
前記電気回路カードの故障内容を分析する第１処理と、
この第１処理での分析結果に基づき試験プログラムより
必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カ
ードの試験を行う第２処理とを実行させるためのプログ
ラムを記録した記録媒体で構成したため、第１の発明と
同様の効果を奏する記録媒体が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電気回路カード試験装置の第１の
実施の形態の構成図である。

【図２】電気回路カードに故障が発生した時の動作を示
すフローチャートである。

【図３】電気回路カードの修理完了後の動作を示すフロ
ーチャートである。

【図４】電気回路カードの修理完了後の動作を示すフロ
ーチャートである。

【図５】第２の実施の形態の構成図である。

【図６】制御カードが組込まれるコンピュータシステム
の全体構成図である。

【図７】試験プログラムの構成図である。

【図８】システムポート１１３３番でタイムアウトにな
ったことを示すメッセージ６１の一例を示す図である。

【図９】インタフェースレジスタ４６の読出しに失敗し
たことを示すメッセージ６２の一例を示す図である。

【図１０】内部ＲＡＭのアクセスでパリティエラーが発
生したことを示すメッセージ６３の一例を示す図であ
る。

【図１１】ディスク装置４５のアクセスでパリティエラ
ーが発生したことを示すメッセージ６４の一例を示す図
である。

【図１２】テスト１（インタフェースレジスタ・テスト
５１）のテスト結果を示すメッセージ７１の一例を示す
図である。

【図１３】テスト２（ＲＡＭリード／ライト・テスト５
２）のテスト結果を示すメッセージ７２の一例を示す図
である。

【図１４】テスト３（データリード／ライト・テスト５
３）のテスト結果を示すメッセージ７３の一例を示す図
である。

【符号の説明】

１ 故障内容記録部 ２ エラー内容記録部 ３ 試験選択部 ４ 組込検出部 ５ 試験プログラム格納部 ６ 試験起動部 ７ 制御カード識別部 １０ 制御カード １３ ＣＰＵ １４ メモリ １５ 入力装置 １６ 出力装置 １７ 記録媒体 ２０ 試験プログラム ３０ 装置制御用プログラム ４６ インタフェースレジスタ ４７ リード／ライト部 ４８ データリード／ライト部

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−165669（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−180872（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−289898（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−161949（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−277982（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−233789（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−219877（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−85848（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−34744（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−52073（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−211035（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−124740（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−67921（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06F 11/22 - 11/277 G01R 31/28 - 31/30 G06F 3/00

Claims (21)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 コンピュータシステムを構成する装置に
   挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カード
   試験装置であって、 前記電気回路カードの故障内容を分析する故障内容分析
   手段と、前記電気回路カードの試験プログラムが格納さ
   れた試験プログラム格納手段と、前記故障内容分析手段
   での分析結果に基づき前記試験プログラム格納手段に格
   納された試験プログラムより必要な試験機能のみを選択
   して修理後の前記電気回路カードの試験を行う試験実行
   手段とを含み、 さらに前記試験実行手段は前記コンピュータシステムに
   組込まれた電気回路カードを識別する識別手段を含み、
   この識別手段により電気回路カードが前記修理後の電気
   回路カードであることが判明した場合、前記試験プログ
   ラムより必要な試験機能のみを選択して前記電気回路カ
   ードの試験を行い、前記識別手段により電気回路カード
   が前記修理後の電気回路カードと異なるカードであるこ
   とが判明した場合、前記試験プログラムの全試験機能の
   試験を行う ことを特徴とする電気回路カード試験装置。
2. 【請求項２】 前記識別手段は前記電気回路カードに記
   録されたシリアル番号により前記電気回路カードを識別
   することを特徴とする請求項１記載の電気回路カード試
   験装置。
3. 【請求項３】 前記故障内容分析手段は、故障内容を記
   録する故障内容記録部と、前記電気回路カードを前記試
   験プログラムにより試験した結果を記録するエラー内容
   記録部とからなることを特徴とする請求項１又は２記載
   の電気回路カード試験装置。
4. 【請求項４】 前記エラー内容記録部には前記試験プロ
   グラムの全試験機能を試験した結果が記録されることを
   特徴とする請求項３記載の電気回路カード試験装置。
5. 【請求項５】 前記電気回路カードは入力データの送受
   信を仲介するインタフェース部と、内部メモリの読書き
   を行うリード／ライト部と、外部端末とのデータ送受信
   を行うデータ送受信部とを含むことを特徴とする請求項
   １〜４いずれかに記載の電気回路カード試験装置。
6. 【請求項６】 前記電気回路カードの試験プログラムは
   前記インタフェース部の試験を行う第１テストと、前記
   リード／ライト部の試験を行う第２テストと、前記デー
   タ送受信部の試験を行う第３テストとを含むことを特徴
   とする請求項５記載の電気回路カード試験装置。
7. 【請求項７】 前記電気回路カードは前記コンピュータ
   システムの電源がオンの状態で挿抜が可能な活性挿抜カ
   ードであることを特徴とする請求項１〜６いずれかに記
   載の電気回路カード試験装置。
8. 【請求項８】 コンピュータシステムを構成する装置に
   挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カード
   試験方法であって、 前記電気回路カードの故障内容を分析する第１処理と、
   この第１処理での分析結果に基づき試験プログラムより
   必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カ
   ードの試験を行う第２処理とを含み、 さらに前記第２処理は前記コンピュータシステムに組込
   まれた電気回路カードを識別する第３処理と、この第３
   処理により電気回路カードが前記修理後の電気回路カー
   ドであることが判明した場合、前記試験プログラムより
   必要な試験機能のみを選択して前記電気回路カードの試
   験を行う第４処理と、前記第３処理により電気回路カー
   ドが前記修理後の電気回路カードと異なるカードである
   ことが判明した場合、前記試験プログラムの全試験機能
   の試験を行う第５処理とからなることを特徴とする電気
   回路カード試験方法。
9. 【請求項９】 前記第３処理は前記電気回路カードに記
   録されたシリアル番号により前記電気回路カードを識別
   することを特徴とする請求項８記載の電気回路カード試
   験方法。
10. 【請求項１０】 前記第１処理は、故障内容を記録する
    第６処理と、前記電気回路カードを前記試験プログラム
    により試験した結果を記録する第７処理とからなること
    を特徴とする請求項８又は９記載の電気回路カード試験
    方法。
11. 【請求項１１】 前記第７処理には前記試験プログラム
    の全試験機能を試験した結果が記録されることを特徴と
    する請求項１０記載の電気回路カード試験方法。
12. 【請求項１２】 前記電気回路カードは入力データの送
    受信を仲介するイン タフェース部と、内部メモリの読書
    きを行うリード／ライト部と、外部端末とのデータ送受
    信を行うデータ送受信部とを含むことを特徴とする請求
    項８〜１１いずれかに記載の電気回路カード試験方法。
13. 【請求項１３】 前記電気回路カードの試験プログラム
    は前記インタフェース部の試験を行う第１テストと、前
    記リード／ライト部の試験を行う第２テストと、前記デ
    ータ送受信部の試験を行う第３テストとを含むことを特
    徴とする請求項１２記載の電気回路カード試験方法。
14. 【請求項１４】 前記電気回路カードは前記コンピュー
    タシステムの電源がオンの状態で挿抜が可能な活性挿抜
    カードであることを特徴とする請求項８〜１３いずれか
    に記載の電気回路カード試験方法。
15. 【請求項１５】 コンピュータシステムを構成する装置
    に挿抜自在な電気回路カードの試験を行う電気回路カー
    ド試験方法を実行させるための制御プログラムを記録し
    た記録媒体であって、 前記電気回路カードの故障内容を分析する第１処理と、
    この第１処理での分析結果に基づき試験プログラムより
    必要な試験機能のみを選択して修理後の前記電気回路カ
    ードの試験を行う第２処理とを含み、 さらに前記第２処理は前記コンピュータシステムに組込
    まれた電気回路カードを識別する第３処理と、この第３
    処理により電気回路カードが前記修理後の電気回路カー
    ドであることが判明した場合、前記試験プログラムより
    必要な試験機能のみを選択して前記電気回路カードの試
    験を行う第４処理と、前記第３処理により電気回路カー
    ドが前記修理後の電気回路カードと異なるカードである
    ことが判明した場合、前記試験プログラムの全試験機能
    の試験を行う第５処理とを含み、 前記第１処理から第５処理までを実行させるための制御
    プログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。
16. 【請求項１６】 前記第３処理は前記電気回路カードに
    記録されたシリアル番号により前記電気回路カードを識
    別することを特徴とする請求項１５記載の記録媒体。
17. 【請求項１７】 前記第１処理は、故障内容を記録する
    第６処理と、前記電気回路カードを前記試験プログラム
    により試験した結果を記録する第７処理とか らなること
    を特徴とする請求項１５又は１６記載の記録媒体。
18. 【請求項１８】 前記第７処理には前記試験プログラム
    の全試験機能を試験した結果が記録されることを特徴と
    する請求項１７記載の記録媒体。
19. 【請求項１９】 前記電気回路カードは入力データの送
    受信を仲介するインタフェース部と、内部メモリの読書
    きを行うリード／ライト部と、外部端末とのデータ送受
    信を行うデータ送受信部とを含むことを特徴とする請求
    項１５〜１８いずれかに記載の記録媒体。
20. 【請求項２０】 前記電気回路カードの試験プログラム
    は前記インタフェース部の試験を行う第１テストと、前
    記リード／ライト部の試験を行う第２テストと、前記デ
    ータ送受信部の試験を行う第３テストとを含むことを特
    徴とする請求項１９記載の記録媒体。
21. 【請求項２１】 前記電気回路カードは前記コンピュー
    タシステムの電源がオンの状態で挿抜が可能な活性挿抜
    カードであることを特徴とする請求項１５〜２０いずれ
    かに記載の記録媒体。